JPWO2015098870A1 - 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法 - Google Patents
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Description
本実施形態の感光性樹脂組成物は、(A)成分:(メタ)アクリル酸に由来する構造単位、スチレン又はα−メチルスチレンに由来する構造単位及び炭素数が1〜12のヒドロキシアルキル基を有する(メタ)アクリル酸ヒドロキシアルキルエステルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、(B)成分:エチレンオキシ基の構造単位数が1〜20であり、前記プロピレンオキシ基の構造単位数が0〜7であるビスフェノール型ジ(メタ)アクリレートを含む光重合性化合物と、(C)成分:光重合開始剤と、を含有する。感光性樹脂組成物は、必要に応じて更にその他の成分を含んでいてもよい。
感光性樹脂組成物は、(A)成分として、少なくとも、(メタ)アクリル酸に由来する構造単位の少なくとも1種、スチレン又はα−メチルスチレンに由来する構造単位、及び炭素数が1〜12のヒドロキシアルキル基を有する(メタ)アクリル酸ヒドロキシアルキルエステルに由来する構造単位の少なくとも1種を有するバインダーポリマー(以下、「特定バインダーポリマー」ともいう)を含む。(A)成分は、必要に応じて特定バインダーポリマー以外のバインダーポリマーを更に含んでいてもよい。
次に、光重合性化合物(以下「(B)成分」ともいう。)について説明する。(B)成分である光重合性化合物は、エチレンオキシ基の構造単位数が1〜20であり、プロピレンオキシ基の構造単位数が0〜7であるビスフェノール型ジ(メタ)アクリレート(以下、「特定重合性化合物」ともいう)の少なくとも1種を必須成分として含む。(B)成分は、必要に応じてビスフェノール型ジ(メタ)アクリレート以外の光重合性化合物を更に含んでいてもよい。
(XO)m1、(XO)m2、(YO)n1、及び(YO)n2は、それぞれ(ポリ)エチレンオキシ基又は(ポリ)プロピレンオキシ基を示す。m1、m2、n1及びn2はそれぞれ独立に、0〜20の数値を採り得る。XOがエチレンオキシ基、YOがプロピレンオキシ基である場合、m1+m2は1〜20であり、n1+n2は0〜7である。XOがプロピレンオキシ基、YOがエチレンオキシ基の場合、m1+m2は0〜7であり、n1+n2は1〜20である。m1、m2、n1及びn2は構造単位の構造単位数を示す。従って単一の分子においては整数値を示し、複数種の分子の集合体としては平均値である有理数を示す。以下、構造単位の構造単位数については同様である。
感光性樹脂組成物は、(C)成分として光重合開始剤の少なくとも1種を含む。(C)成分である光重合開始剤としては、特に制限はなく、通常用いられる光重合開始剤から適宜選択することができる。光重合開始剤としては、ベンゾフェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン−1、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルホリノ−プロパノン−1等の芳香族ケトン;アルキルアントラキノン等のキノン化合物;ベンゾインアルキルエーテル等のベンゾインエーテル化合物;ベンゾイン、アルキルベンゾイン等のベンゾイン化合物;ベンジルジメチルケタール等のベンジル誘導体;2−(2−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(2−フルオロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体;9−フェニルアクリジン、1,7−(9,9’−アクリジニル)ヘプタン等のアクリジン誘導体などが挙げられる。これらは1種単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
感光性樹脂組成物は、(D)成分として増感色素の少なくとも1種を含むことが好ましい。増感色素は、露光に用いる活性光線の吸収波長を有効に利用できるものであり、極大吸収波長が340nm〜420nmである化合物が好ましい。
感光性樹脂組成物は、露光部分と未露光部分とのコントラスト(「イメージング性」ともいう)を良好にするため、(E)成分として露光部分の反応時に光重合開始剤に対して水素を与えることができる水素供与体の少なくとも1種を含有することが好ましい。水素供与体としては、ビス[4−(ジメチルアミノ)フェニル]メタン、ビス[4−(ジエチルアミノ)フェニル]メタン、ロイコクリスタルバイオレット等が挙げられる。これらは1種単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
感光性樹脂組成物は、必要に応じて、分子内に少なくとも1つのカチオン重合可能な環状エーテル基を有する光重合性化合物(オキセタン化合物等)、カチオン重合開始剤、マラカイトグリーン、ビクトリアピュアブルー、ブリリアントグリーン、メチルバイオレット等の染料、トリブロモフェニルスルホン、ジフェニルアミン、ベンジルアミン、トリフェニルアミン、ジエチルアニリン、2−クロロアニリン等の光発色剤、熱発色防止剤、4−トルエンスルホンアミド等の可塑剤、顔料、充填剤、消泡剤、難燃剤、安定剤、密着性付与剤、レベリング剤、剥離促進剤、酸化防止剤、香料、イメージング剤、熱架橋剤などを含有してもよい。これらは、1種単独で又は2種以上を組み合わせて使用される。感光性樹脂組成物がその他の成分を含む場合、これらの含有量は、(A)成分及び(B)成分の総量100質量部に対して、それぞれ0.01質量部〜20質量部程度とすることが好ましい。
本実施形態の感光性樹脂組成物は、さらに必要に応じて、粘度を調整するために、有機溶剤の少なくとも1種を更に含んでいてもよい。有機溶剤としては、メタノール、エタノール等のアルコール溶剤;アセトン、メチルエチルケトン等のケトン溶剤;メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、プロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル溶剤;トルエン等の芳香族炭化水素溶剤;N,N−ジメチルホルムアミド等の非プロトン性極性溶剤などが挙げられる。これらは1種単独でも、2種以上を併用してもよい。感光性樹脂組成物に含まれる有機溶剤の含有量は目的等に応じて適宜選択することができる。例えば、感光性樹脂組成物は、固形分が30質量%〜60質量%程度となる溶液として用いることができる。以下、有機溶剤を含む感光性樹脂組成物を「塗布液」ともいう。
本発明の感光性エレメントは、支持体と、該支持体上に設けられた上記感光性樹脂組成物から形成される感光性樹脂組成物層とを備える。なお、前記感光性樹脂組成物層は塗膜であってもよい。本明細書でいう塗膜とは感光性樹脂組成物が未硬化状態のものである。感光性エレメントは、必要に応じて保護層等のその他の層を有していてもよい。
上記感光性樹脂組成物を用いて、レジストパターンを形成することができる。本実施形態のレジストパターンの形成方法は、(i)基板上に、上記感光性樹脂組成物を用いて感光性樹脂組成物層を形成する感光層形成工程と、(ii)前記感光性樹脂組成物層の少なくとも一部の領域に活性光線を照射して、前記領域を光硬化させて硬化物領域を形成する露光工程と、(iii)前記感光性樹脂組成物層の前記硬化物領域以外の領域を前記基板上から除去して、前記基板上に前記硬化物領域であるレジストパターンを形成する現像工程と、を有する。レジストパターンの形成方法は、必要に応じて更にその他の工程を有していてもよく、感光層形成工程における感光性樹脂組成物層は塗膜であってもよい。
まず、上記感光性樹脂組成物を用いて感光性樹脂組成物層を基板上に形成する。基板としては、絶縁層と該絶縁層上に形成される導体層とを備える基板(回路形成用基板)を用いることができる。
露光工程では、上記のようにして基板上に形成された感光性樹脂組成物層の少なくとも一部の領域に活性光線を照射することで、活性光線が照射された露光部分が光硬化して、潜像が形成される。この際、感光性樹脂組成物層上に存在する支持体が活性光線に対して透明である場合には、支持体を通して活性光線を照射することができる。一方、支持体が活性光線に対して遮光性を示す場合には、支持体を除去した後に感光性樹脂組成物層に活性光線を照射する。
現像工程では、感光性樹脂組成物層の未硬化部分が回路形成用基板上から現像処理により除去されることで、感光性樹脂組成物層が光硬化した硬化物であるレジストパターンが基板上に形成される。感光性樹脂組成物層上に支持体が存在している場合には、支持体を除去してから、未露光部分の除去(現像)を行う。現像処理には、ウェット現像とドライ現像とがあるが、ウェット現像が広く用いられている。
本発明のプリント配線板の製造方法は、絶縁層と該絶縁層上に形成された導体層とを備える基板(回路形成用基板)の該導体層上に、上記レジストパターンの形成方法によりレジストパターンが形成された基板をエッチング処理及びめっき処理の少なくとも一方を行って、導体パターンを形成する工程を含む。プリント配線板の製造方法は、必要に応じてレジスト除去工程等のその他の工程を含んでいてもよい。基板のエッチング処理又はめっき処理は、形成されたレジストパターンをマスクとして、基板の導体層等に対して行われる。
また、より好適な実施形態は、前記感光性樹脂組成物の高密度パッケージ基板の製造への応用であり、前記感光性樹脂組成物のセミアディティブ工法への応用である。以下に、セミアディティブ工法による配線板の製造工程の一例について図面を参照しながら説明する。
(感光性樹脂組成物の溶液の調製)
表2及び表3に示す(A)〜(E)成分及び染料を同表に示す配合量(g単位)で、アセトン9g、トルエン5g及びメタノール5gとともに混合することにより、実施例1〜3及び比較例1〜3の感光性樹脂組成物の溶液をそれぞれ調製した。表2及び表3に示す(A)成分の配合量は不揮発分の質量部(固形分量)である。表2及び表3に示す各成分の詳細については、以下のとおりである。なお、「−」は未配合を意味する。
[バインダーポリマー(A−1)の合成]
重合性単量体(モノマ)であるメタクリル酸81g、メタクリル酸2−ヒドロキシエチル15g、スチレン135g及びメタクリル酸ベンジル69g(質量比27/5/45/23)と、アゾビスイソブチロニトリル1.5gとを混合して得た溶液を「溶液a」とした。
ポンプ:日立 L−6000型((株)日立製作所)
カラム:以下の計3本、カラム仕様:10.7mmφ×300mm
Gelpack GL−R440
Gelpack GL−R450
Gelpack GL−R400M(以上、日立化成(株))
溶離液:テトラヒドロフラン(THF)
試料濃度:固形分が41.2質量%のバインダーポリマー溶液を120mg採取し、5mLのTHFに溶解して試料を調製した。
測定温度:40℃
注入量:200μL
圧力:49Kgf/cm2(4.8MPa)
流量:2.05mL/分
検出器:日立 L−3300型RI((株)日立製作所)
重合性単量体(モノマ)として、表1に示す材料を同表に示す質量比で用いたほかは、バインダーポリマー(A−1)の溶液を得るのと同様にしてバインダーポリマー(A−2)、(A−3)の溶液を得た。
重合性単量体(モノマ)であるメタクリル酸81g、メタクリル酸メチル15g、スチレン135g及びメタクリル酸ベンジル69g(質量比27/5/45/23)と、アゾビスイソブチロニトリル1.0gとを混合して得た溶液を「溶液c」とし、溶液aの代わりに溶液cを用いたほかは、バインダーポリマー(A−1)の溶液を得るのと同様にして、比較のバインダーポリマー(A−4)の溶液を得た。
重合性単量体(モノマ)であるメタクリル酸72g、メタクリル酸ブチル15g、スチレン135g及びメタクリル酸ベンジル78g(質量比24/5/45/26)と、アゾビスイソブチロニトリル1.5gとを混合して得た溶液を「溶液d」とし、溶液aの代わりに溶液dを用いたほかは、バインダーポリマー(A−1)の溶液を得るのと同様にして、比較のバインダーポリマー(A−5)の溶液を得た。
・FA−324M:2,2−ビス(4−(メタクリロキシジエトキシ)フェニル)プロパン(日立化成(株)、「FA−324M」)
・FA−3200MY:2,2−ビス(4−(メタクリロキシポリエトキシポリプロポキシ)フェニル)プロパン(エチレンオキシ基平均12mol及びプロピレンオキシ基平均4mol付加物)(日立化成(株)、「FA−3200MY」)
・FA−023M:(EO)(PO)(EO)変性ポリプロピレングリコール#700ジメタクリレート(日立化成(株)、「FA−023M」、比較の光重合性化合物)
・B−CIM:2,2’−ビス(2−クロロフェニル)−4,4’,5,5’−テトラフェニルビスイミダゾール[2−(2−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体](Hampford社、「B−CIM」)
・PYR−1:1−フェニル−3−(4−メトキシスチリル)−5−(4−メトキシフェニル)ピラゾリン((株)日本化学工業所、「PYR−1」)
・LCV:ロイコクリスタルバイオレット(山田化学(株)、「LCV」)
・MKG:マラカイトグリーン(大阪有機化学工業(株)、「MKG」)
上記で得られた感光性樹脂組成物の溶液を、それぞれ厚さ16μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(東レ(株)、「FB−40」)(支持体)上に均一に塗布し、70℃及び110℃の熱風対流式乾燥器で順次乾燥処理して、乾燥後の膜厚が25μmである感光性樹脂組成物層を形成した。この感光性樹脂組成物層上にポリプロピレンフィルム(王子製紙(株)、「E−200K」)(保護層)を貼り合わせ、支持体と、感光性樹脂組成物層と、保護層とが順に積層された感光性エレメントをそれぞれ得た。
ガラスエポキシ材と、その両面に形成された銅箔(厚さ16μm)とを有する銅張積層板(日立化成(株)、「MCL−E−679F」)(以下、「基板」という。)を加熱して80℃に昇温させた後、実施例1〜3及び比較例1〜3に係る感光性エレメントを用いて、各々、基板の銅表面上に感光性樹脂組成物層を形成(ラミネート)した。ラミネートは、保護層を除去しながら、各感光性エレメントの感光性樹脂組成物層が基板の銅表面に密着するようにして、温度120℃、ラミネート圧力4kgf/cm2(0.4MPa)の条件下で行った。このようにして、基板の銅表面上に感光性樹脂組成物層及び支持体が積層された積層基板を得た。
露光後、積層基板から支持体を剥離し、感光性樹脂組成物層を露出させ、30℃の1質量%炭酸ナトリウム水溶液を60秒間スプレーすることにより現像処理し、未露光部分を除去した。このようにして、基板の銅表面上に感光性樹脂組成物の硬化物であるレジストパターンを形成した。レジストパターン(硬化膜)として得られたステップタブレットの残存段数(ステップ段数)を測定することにより、感光性樹脂組成物の感度を評価した。感度は、上記ステップ段数により示され、この段数が高いほど感度が良好であることを意味する。結果を表4及び表5に示す。
ライン幅(L)/スペース幅(S)(以下、「L/S」と記す。)が3/3〜30/30(単位:μm)である描画パターンを用いて、41段ステップタブレットの残存段数が16段となるエネルギー量で上記積層基板の感光性樹脂組成物層に対して露光(描画)を行った。露光後、上記感度の評価と同様の現像処理を行った。
感光性樹脂組成物層の現像性は、以下のようにして最短現像時間(秒)を測定することで評価した。上記積層基板を5cm四方に切断し、現像性評価用の試験片とした。試験片から支持体を剥離した後、30℃の1質量%炭酸ナトリウム水溶液を用いて、露光していない感光層を0.15MPaの圧力でスプレー現像し、1mm以上の未露光部分が除去されたことを目視で確認できる最短の時間を、最短現像時間とした。ノズルは、フルコーンタイプを使用した。上記試験片とノズル先端の距離は6cmであり、試験片の中心とノズルの中心が一致するように配置した。最短現像時間は、この時間が短いほど現像性が良好であることを意味する。結果を表4及び表5に示す。
レジストパターンの屈曲性を以下のようにして評価した。FPC(Flexible Printed Circuit)基板(ニッカン工業(株)、「F−30VC1」、基板厚:25μm、銅厚:18μm)を用いた。FPC基板を80℃に加温した後、実施例1〜3及び比較例1〜3に係る感光性エレメントを用いて、各々、FPC基板上の銅表面にラミネートすることで、FPC基板上に感光性樹脂組成物層を形成した。ラミネートは、保護層を剥がしながら、各感光性エレメントの感光性樹脂組成物層がFPC基板側に対向するようにして、ヒートロール温度110℃、ラミネート速度1.5m/分、ラミネート圧力4kgf/cm2(0.4MPa)の条件下で行った。このようにして得られた感光性樹脂組成物層及び支持体が積層されたFPC基板を、屈曲性を評価するための試験片とした。上記試験片には、405nmの青紫色レーザダイオードを光源とする直描露光機(日立ビアメカニクス(株)、「DE−1UH」)を使用して、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数で16段となるエネルギー量で全面露光し、感光性樹脂組成物層を光硬化させた。次いで、支持体を剥離した後で、上記感度の評価と同様に現像処理して、FPC基板の一面上に硬化レジストが積層された屈曲性評価用基板を得た。
本明細書に記載された全ての文献、特許出願、および技術規格は、個々の文献、特許出願、および技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。
Claims (5)
- (メタ)アクリル酸に由来する構造単位、スチレン又はα−メチルスチレンに由来する構造単位及び炭素数が1〜12のヒドロキシアルキル基を有する(メタ)アクリル酸ヒドロキシアルキルエステルに由来する構造単位を有するバインダーポリマーと、
エチレンオキシ基の構造単位数が1〜20であり、プロピレンオキシ基の構造単位数が0〜7であるビスフェノール型ジ(メタ)アクリレートを含む光重合性化合物と、
光重合開始剤と、
を含有する感光性樹脂組成物。 - 支持体と、
前記支持体上に設けられた請求項1に記載の感光性樹脂組成物から形成される感光性樹脂組成物層と、
を備える感光性エレメント。 - 基板上に、請求項1に記載の感光性樹脂組成物を用いて感光性樹脂組成物層を形成する感光層形成工程と、
前記感光性樹脂組成物層の少なくとも一部の領域に活性光線を照射して、前記領域を光硬化させて硬化物領域を形成する露光工程と、
前記感光性樹脂組成物層の前記硬化物領域以外の領域を前記基板上から除去して、前記基板上に前記硬化物領域であるレジストパターンを形成する現像工程と、
を有するレジストパターンの形成方法。 - 前記活性光線の波長が340nm〜430nmの範囲内である請求項3に記載のレジストパターンの形成方法。
- 請求項3又は請求項4に記載のレジストパターンの形成方法によりレジストパターンが形成された基板をエッチング処理及びめっき処理の少なくとも一方を行なう工程を含むプリント配線板の製造方法。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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CN108027559B (zh) * | 2015-09-11 | 2021-10-26 | 旭化成株式会社 | 感光性树脂组合物 |
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WO2018008376A1 (ja) * | 2016-07-06 | 2018-01-11 | 富士フイルム株式会社 | 感光性組成物、転写フィルム、硬化膜、並びに、タッチパネル及びその製造方法 |
CN107490934A (zh) * | 2017-09-29 | 2017-12-19 | 陈超 | 一种uv阴图感光液的组合物 |
JP7246615B2 (ja) * | 2017-12-20 | 2023-03-28 | 住友電気工業株式会社 | プリント配線板の製造方法及び積層体 |
CN109195341A (zh) * | 2018-09-12 | 2019-01-11 | 安捷利(番禺)电子实业有限公司 | 一种提高线路铜层厚度和宽度的精密印制电路板的制备方法 |
CN109856912A (zh) * | 2019-03-11 | 2019-06-07 | 浙江福斯特新材料研究院有限公司 | 一种高附着力感光性树脂组合物 |
US11479027B2 (en) * | 2020-09-24 | 2022-10-25 | Cambrios Film Solutions Corporation | Photosensitive electrically conductive structure and touch sensor |
WO2022174211A1 (en) * | 2021-02-09 | 2022-08-18 | Dupont Electronics, Inc. | Photosensitive composition and photoresist dry film made |
JP2022127486A (ja) * | 2021-02-19 | 2022-08-31 | トヨタ自動車株式会社 | 配線基板の製造方法 |
KR20230154733A (ko) * | 2021-03-09 | 2023-11-09 | 가부시끼가이샤 레조낙 | 감광성 필름, 감광성 엘리먼트, 및, 적층체의 제조 방법 |
WO2024142487A1 (ja) * | 2022-12-26 | 2024-07-04 | 株式会社レゾナック | 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、及び配線基板の製造方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006035807A1 (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-06 | Fujifilm Corporation | パターン形成材料、並びにパターン形成装置及びパターン形成方法 |
JP2006178083A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The | 感光性樹脂組成物及びそれを用いたフォトレジストフィルム、レジストパターン形成方法 |
JP2006293094A (ja) * | 2005-04-12 | 2006-10-26 | Mitsubishi Chemicals Corp | 光重合性組成物、画像形成材料及び画像形成材 |
JP2008152285A (ja) * | 2003-09-26 | 2008-07-03 | Mitsubishi Chemicals Corp | 青紫レーザー感光性組成物 |
JP2012198573A (ja) * | 2006-12-27 | 2012-10-18 | Hitachi Chem Co Ltd | 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法 |
JP2013246387A (ja) * | 2012-05-29 | 2013-12-09 | Asahi Kasei E-Materials Corp | 感光性樹脂組成物 |
JP2015060120A (ja) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物及び感光性樹脂積層体 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3732110B2 (ja) * | 2001-04-25 | 2006-01-05 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | 光重合性樹脂積層体 |
JP4493385B2 (ja) | 2004-04-15 | 2010-06-30 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物及びその用途 |
JP4535851B2 (ja) * | 2004-11-19 | 2010-09-01 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 光重合性樹脂組成物 |
JP4931533B2 (ja) | 2005-09-28 | 2012-05-16 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物およびその積層体 |
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JP2008152285A (ja) * | 2003-09-26 | 2008-07-03 | Mitsubishi Chemicals Corp | 青紫レーザー感光性組成物 |
WO2006035807A1 (ja) * | 2004-09-28 | 2006-04-06 | Fujifilm Corporation | パターン形成材料、並びにパターン形成装置及びパターン形成方法 |
JP2006178083A (ja) * | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Nippon Synthetic Chem Ind Co Ltd:The | 感光性樹脂組成物及びそれを用いたフォトレジストフィルム、レジストパターン形成方法 |
JP2006293094A (ja) * | 2005-04-12 | 2006-10-26 | Mitsubishi Chemicals Corp | 光重合性組成物、画像形成材料及び画像形成材 |
JP2012198573A (ja) * | 2006-12-27 | 2012-10-18 | Hitachi Chem Co Ltd | 感光性樹脂組成物、感光性エレメント、レジストパターンの形成方法及びプリント配線板の製造方法 |
JP2013246387A (ja) * | 2012-05-29 | 2013-12-09 | Asahi Kasei E-Materials Corp | 感光性樹脂組成物 |
JP2015060120A (ja) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物及び感光性樹脂積層体 |
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