JPS63261664A - 光電子増倍管 - Google Patents
光電子増倍管Info
- Publication number
- JPS63261664A JPS63261664A JP62095874A JP9587487A JPS63261664A JP S63261664 A JPS63261664 A JP S63261664A JP 62095874 A JP62095874 A JP 62095874A JP 9587487 A JP9587487 A JP 9587487A JP S63261664 A JPS63261664 A JP S63261664A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dynode
- photocathode
- incident
- emission
- photoelectrons
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 12
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 abstract 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 18
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 16
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 11
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 9
- 238000003491 array Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J43/00—Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
- H01J43/04—Electron multipliers
- H01J43/045—Position sensitive electron multipliers
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
シンチレーション検出器に用いられる光電子増倍管に関
し、特に放射線の入射位置を検出するための光電子増倍
管に関する。
どの放射線の入射位置を検出する光電子増倍管が知られ
ている。
ン検出器の正面図、側面図である。第5図(a)。
ンマ線などの、放射線粒子の入射する2つのシンチレー
タlot、102と、シンチレータ101゜102の下
方に位置決めされている光電子増倍管103とを備えて
いる。
ム、オキサイド(a t 4c e 3012>からな
る発光物質で形成されている。シンチレータ101.1
02にガンマ線などの放射線粒子が入射すると、シンチ
レータ101,102は420ナノmの波長の光を発生
し、この光がシンチレータ101,102の下方に位置
決めされている光電子増倍管103によって電気信号に
変換され増倍されてパルス電流として出力されるように
なっている。また放射線粒子の入射位置検出は、シンチ
レータ101.102のいずれに放射線粒子が入射した
かを検出することによってなされるようなっている。
1に入射したのかあるいはシンチレータ102に入射し
たのかを検出するため、2つのシンチレータ101,1
02のそれぞれに対応した2つの分割された光電面10
4.105を備えている。光電面104.105は、角
形の気密管球106の上端に設けられている透明な入光
窓107の内面108,109にそれぞれ形成されてい
る。
05に対応させて、2つの集束電極110.111と、
2組のダイノード列112乃至118,120乃至12
6と、2つの網状のアノード電極127,128とが設
けられている。
04から放出される光電子は、集束電極110、ダイノ
ード列112乃至118.アノード電極127により増
倍されて出力される一方、光電面105に入射した光に
よって光電面105から放出される光電子は、集束電極
111.ダイノード列120乃至126.アノード電極
128により増倍されて出力されるようになっている。
の光電子をそれぞれに対応するダイノード列112乃至
118,120乃至126に確実に案内するためのもの
であり、集束電極110゜111の互いに隣接する部分
129.130は、2つの光電面104,105のいず
れか一方から放出された光電子を他方のダイノード列に
入射させないための隔壁として機能するようになってい
る。
6は、支持部材131,132に所定の形状に弯曲され
て取付け′られている。第5図(a)に示すように、ダ
イノード列112乃至118゜120乃至126の長手
方向に垂直な入光窓107の内面108,109の断面
形状、光電面104.105の断面形状は、所定の曲率
(曲率半径R1)を有しており、その曲率の中心がそれ
ぞれ集束電極tto、iiiの中心軸線A−A上、中心
軸線B−B上となるような設計されている。
至118,120乃至126の長手方向と平行な入光窓
107の内面108,109の断面形状、光電面104
,105の断面形状も、所定の曲率(曲率半径R2)を
有しており、その曲率中心が、集束電極110,111
の中心軸11A−A、B−B上となるように設計されて
いる。
ータ検出器100では、例えばシンチレータ101の方
にガンマ線γ1が入射すると、ガンマ線γ1はシンチレ
ータ101と衝突し、シンチレータ101は光j112
、j1□を発生する。光’ 11は光電子増倍管103
の光電面104に直接入射し、これにより光電面104
からは光電子P が放出される。また光’ 12はシン
チレータ101の側壁で反射されて光電子増倍管103
の光電面104に入射し、これにより光電面104から
は光電子P12が放出される。
光電面104の断面形状(曲率半径R1,R2)と集束
電[1110とによってダイノード列112乃至118
め最初のダイノード112に向かって集束され、ダイノ
ード112に入射する。
され、この二次電子はダイノード列112乃至118に
よって増倍されてアノード電極127の出力端子OTI
からパルス電流として取出される。
入射すると、ガンマ線γ2はシンチレータ102と衝突
し、シンチレータ102は光j21゜1 を発生する。
射し、これにより光電面105からは光電子P21が放
出される。また光重2□はシンチレータ101の側壁で
反射されて光電子増倍管103の光電面105に入射し
、これにより光電面105からは光電子P2□が放出さ
れる。
光電面104と同様な光電面105の断面形状(曲率半
径R1,R2)と集束電極111とによってダイノード
列120乃至126の最初のダイノード120に向かっ
て集束され、ダイノード120に入射する。これにより
ダイノード120からは二次電子が放出され、この二次
電子はダイノード列120乃至126によって増倍され
てアノード電極128の出力端子OT2がらパルス電流
として取出される。
子OTI、OT2から取出されたパルス電流は、図示し
ないが電流計あるいはパルス計数器に送られ、シンチレ
ータ101(または1o2)に入射したガンマ線γ1
(またはγ2)に対応する電流あるいはパルス数を検出
することができる。
れから何個取出されたがを検出することによって、ガン
マ線がシンチレータ101,102のいずれにどのくら
いの個数、入射したかを判別することができる。
03では、集束電極110,111の隔壁129.13
0によって、光電面1.04から放出される光電子が他
方のダイノード列120乃至126に入射したり、ある
いはこれと反対に光電面105から放出される光電子が
他方のダイノード列112乃至118に入射したりする
のを阻止するようになっている。しかしながら、従来の
光電子増倍管103では、入光窓107の2つの内面1
04,105がそれぞれ所定の曲率をもち互いに隣接し
て配置されているので、入光窓107の厚さは2つの光
電面104,105の境界で大きくなる。このために、
従来の光電子増倍管103では、一方のシンチレータ(
例えばシンチレータ101)から発生する光が、入光窓
107の内面104,105の境界付近を通過するとき
に、一方の光電面(例えば光電面104)ではなく、他
方の光電面(例えば光電面105)に向かう所謂光の混
入が生じて、入射位置の検出誤りを生じされる恐れがあ
った。
位置検出精度をさらに向上させたいという強い要請があ
る。入射位置検出精度をさらに高めるために、入光窓、
光電面の小さな小型の光電子増倍管を多数密集させて配
列したシンチレーション検出器や、第5図(a) 、
(b)に示す構造の光電子増倍管103を改良し、光電
面をさらに複数に分割した光電子増倍管を備えるシンチ
レーション検出器が提案された。
列した型式のシンチレーション検出器では、光電子増倍
管の所定の性能を維持しつつ光電子増倍管を小型化する
には限界があり、また光電面に対する光電子増倍管の外
形比が大きくなるので、シンチレータからの光を光電面
で受光する確率が減少し、入射位置検出精度を著しく高
めることは望めない、また第5図(a) 、 (b)に
示す構造を改良した型式の光電子増倍管を備えたシンチ
レ−ジョン検出器では、前述のように光の混入が生ずる
ことによって位置検出を確実に行なうには限界゛があり
、さらに光電面の分割数に応じた個数のダイノード列お
よびアノード電極を設ける必要があるので、構造が複雑
となり小型化するには適しないという問題があった。
精度をさらに向上させることが可能な小型でかつ構造の
簡単な光電子増倍管を提供することを目的としている。
て所定の間隔をへだてて形成されている複数の光電面と
、該複数の光電面のそれぞれに対応して設けられている
複数の集束電極と、前記複数の光電面に共通しており、
前記入射窓の長手方向に沿って長手方向部分が位置決め
されている複数のダイノード部材と、前記複数の光電面
のそれぞれに対応して設けられている複数のアノード電
極とを備え、前記長方形の入射窓はその長手方向に沿っ
て厚さが一様である一方、長手方向と垂直な方向に所定
の曲率をもって弯曲しており、前記複数のダイノード部
材の各々は、前記複数の光電面のそれぞれに対応させて
、分離手段により互いに分離されている複数の放出面を
備えていることを特徴とする光電子増倍管によって、上
記従来技術の問題点を改善しようとするものである。
、この入光窓を透過して、入光窓の長手方向に沿って形
成されている複数の光電面のうちの1つに入射する。な
お、長方形の入光窓の長手方向に沿った厚さは一様にな
っているので、光が対応する光電面以外の光電面に入射
するようなことはない、1つの光電面に入射した光によ
り光電面からは光電子が放出され、光電・子は、所定の
集束電極によって集束されて、複数の光電面に共通した
複数のダイノード部材に入射する。光電面は入光窓の長
手方向と垂直な方向に所定の曲率をもって弯曲している
ので、光電子を一層集束させてダイノード部材に入射さ
せることができる。光電面からの光電子はこの光電面に
対応した最初のダイノード部材の放出面に入射し、放出
面からは二次電子が放出される。ところで複数のダイノ
ード部材の各々の複数の放出面は、複数の光電面のそれ
ぞれに対応させて、分離手段により互いに分離されてい
るので、光電子および二次電子は、1つの光電面に対応
した複数のダイノード部材の放出面によって増倍され、
所定のアノード電極に到達する。すなわち複数のダイノ
ード部材の放出面間での光電子、二次電子の混入を生じ
させずに、入光窓の所定位置に入射した光を所定のアノ
ード電極から電流として取出すことができる。
1の実施例の光電子増倍管の正面図、側面図である。
4つに分割された光電N2乃至5を備えている。
ている長方形の透明な入光窓7の内面8に所定の間隔を
へだてて形成されている。入光窓7は、従来の光電子増
倍管103の入光窓107と異なり、光電面2乃至5が
並置されている方向すなわち長手方向に沿っては凹凸を
有しておらず、長手方向とは垂直な方向に所定の曲率(
曲率半径R3)で弯曲している。なお、入光窓7のこの
曲率の中心は、光電子増倍管の中心軸線D−Dよりも第
1ダイノード部材20側にずれた位置にある。
れに対応した4つの集束電極10乃至13と、光電面2
乃至5に対して共通の第1ダイノード部材20乃至第1
0ダイノード部材29と、光電面2乃至5のそれぞれに
対応した4つのアノード電l1i30乃至33とを備え
ている。
は、光電面2乃至5のいずれかから放出された光電子が
それに対応した集束電極以外の集束電極に混入するのを
阻止するための隔壁14乃至16が設けられている。各
隔壁14乃至16の上端部は、入光窓7の内面8に密接
し、下端部は集束電極10乃至13を載置している基板
17には接触せずスペーサ50乃至55を介して集束電
極10乃至13に固定されている。各集束電極10乃至
13は、各隔壁14乃至16にスペーサ50乃至55を
介して連結されており、これによ゛り各集束電極10乃
至13を各光電面2乃至5間の間隔とほぼ同じ間隔に保
持している。
おり、支持部材18.19には、第1ダイノード部材2
0乃至第10ダイノード部材29が取付けられている。
の各々を4つの光電面2乃至5に対して共通のものとす
るために、第1ダイノード部材20乃至第10ダイノー
ド部材29はこれらの長手方向部分が長方形の入光窓7
の長手方向と平行になるよう位置決めされて・いる。
ダイノード部材20が用いられている。
、所定の二次電子放出比をもつ放出面35乃至38が光
電面2乃至5のそれぞれに対応した位置に形成され、ま
た二次電子放出比の小さな(仕事関数の大きな)材料か
らなる帯状部分39乃至41が隔壁14乃至16に対応
した位置に形成されている。第2ダイノード部材21乃
至第10ダイノード部材29にも第1ダイノード部材2
0と同様の放出面、帯状部分がそれぞれ形成されている
。このような帯状部分39乃至41を各放出面35乃至
38間に形成することで、各光電面2乃至5からの光電
子およびこれにより第1ダイノード部材20から放出さ
れる二次電子を各光電面2乃至5G:対応したアノード
電極3o乃至33まで混入させずに確実に案内すること
ができるようになっている。
入光窓7の上方に4つのシンチレータ(図示せず)を光
電面2乃至5のそれぞれに対応させて配置し、光電子増
倍管1の光電面2乃至5、集束電極10乃至13.第1
ダイノード部材20乃至第10ダイノード部材29.ア
ノード電極30乃至33にそれぞれ、外部回路(図示せ
ず)から所定の接続用ピン、リード線(図示せず)を介
して所定の電圧を印加する。
粒子が入射すると、放射線粒子はシンチレータに衝突し
、シンチレータは光を発生する。
ンチレータの側壁で反射されて入射する。
凸を有しておらず、従来の光電子増倍管103と異なり
、長手方向に沿っては厚さが変化せず、厚さを一様に薄
くすることができるので、所定のシンチレータで発生し
た光をそのシンチレータに対応した光電面に確実に案内
することができる。これによって対応した光電面以外の
光電面に光が入射する所謂光の混入を有効に防止するこ
とができる。
面、例えば光電面2に入射すると、この光電面2からは
光電子が放出される。この光電子は集束電極10により
集束されて第1ダイノード部材20に入射する。ところ
で、本実施例では、入光窓7は、その長手方向と垂直な
方向に、所定の曲率で弯曲しており、その曲率中心が光
電子増倍管1の中心軸線D−Dよりも第1ダイノード部
材20側にずれた位置にあるので、光電子を第1ダイノ
ード部材20の放出面35に確実に入射させることがで
きる。なお、光電面2と光電面3との間、集束電極10
と集束電極11との間には隔壁14が設けられているの
で、光電面2がら放出された光電子が隣の集束を極11
の方に混入することはない、入光窓7の曲率すなわち光
電面2の曲率と集束電極11とによって集束された光電
子は、そのほとんどが第1ダイノード部材20の放出面
35に入射するが、一部のものは放出面35と放出面3
6との境界にも入射し、この境界がら放出される二次電
子が第2ダイノード部材21の対応しない放出面に入射
して混入を生じさせる恐れがある、ところで、第1の実
施例では、放出面35と放出面36との間には二次電子
放出比の小さ・な帯状部分39が形成されているので、
この帯状部分39に入射した光電子によっては二次電子
が放出されない、これにより、隣接する放出面間を分離
し、第1ダイノード部材20から放出される二次電子を
第2ダイノード部材21の対応した放出面に確実に向か
わせ、混入を有効に阻止することができる。第2ダイノ
ード部材21乃至第10ダイノード部材29にも、同様
の帯状部分が形成されているので、第1ダイノード部材
20の放出面35に入射した光電子によって放出面35
から放出される二茨電子は、混入を生ずることなく対応
したアノード電極30まで増倍されて到達する。
タ(図示せず)に入射した放射線粒子をこれに対応した
アノード電極30からパルス電流として確実に取出すこ
とができて、光電面2に対応したシンチレータに入射し
た放射線粒子が他のアノード電極30,32.33から
取出されることのないようにすることができる。
らに対応した第1ダイノード部材20の放出面36,3
7.38に入射するが、放出面36.37.38間には
二次電子放出比の小さな帯状部分40.41が形成され
、放出面36゜37.38間は互いに分離されているの
で、上述したと同様にして、混入を阻止することができ
て、光電面3.4.5から放出される光電子および放出
面36.37.38から放出される二次電子を、これら
に対応したアノード電極31,32.33まで確実に到
達させることができる。
例の第1ダイノード部材20のかわりに、第3図に示す
構造の第1ダイノード部材20’が用いられ、第1の実
施例の第2ダイノード部材21乃至第10ダイノード部
材29のかわりに第4図に示す構造の第2ダイノード部
材21′乃至第10ダイノード部材29′が用いられる
。なお、第2の実施例の光電子増倍管は、第1ダイノー
ド部材20′乃至第10ダイノード部材29′を除゛
いて、第1の実施例の光電子増倍管1と全く同じ構成を
しているので、その全体の構成は図示せず、また詳細な
説明は省略する。
には、所定の二次電子放出比をもつ放出面35′乃至3
8′が光電面2乃至5のそれぞれに対応した位置に形成
され、また隔壁14乃至16に対応した位置に金属の隔
壁43乃至45が設けられている。これらの金属の障壁
43乃至45は、プレス加工などにより第1ダイノード
部材20’の内面34′にしっかりと取付けられている
。
0ダイノード部材29′の内面にも隔壁14乃至16に
対応した位置に第4図に示すような金属の隔壁46乃至
48が取付けられている。
定の光電面から放出された光電子は、そのほとんどがそ
れに対応する第1ダイノード部材20’の放出面、例え
ば放出面35′に入射するが、一部のものは放出面35
′と放出面36′との境界にも入射し、この境界から放
出される二次電子が第2ダイノード部材21′の対応し
ない放出面に入射して混入を生じさせる恐れがある。と
ころで第2の実施例では、放出面35′と放出面36′
との間に、障壁43を設けているので、放出面35′と
放出面36′との境界に入射した光電子は障壁43によ
って対応する放出面35′に確実に入射する。また放出
面35′から放出される二次電子は障壁43によって第
2ダイノード部材21′の対応した放出面に確実に向か
うので、これにより隣接する放出面間を分離し、混入を
有効に阻止することができる。第2ダイノード部材21
′乃至第10ダイノード部材29′にも第4図に示すよ
うな障壁46が設けられているので、第1ダイノード部
材20′の放出面35′に入射した光電子によって放出
面35′から放出される二次電子は、障壁に遮られ混入
を生ずることなく対応したアノード電極まで増倍されて
到達する。
、37’または38′に入射する光電子は、障!!4
4.45によって対応する放出面36’ 、37’また
は38′に確実に到達する。
イノード部材20′の障壁44.45と、第2ダイノー
ド部材21′乃至第10ダイノード部材29′のそれぞ
れに設けられている第4図に示すような障壁47.48
とによって混入を生ずることなく、対応したアノード電
極まで増倍されて到達する。
した放射線粒子を対応したアノード電極からパルス電流
として確実に取出すことができて、対応したアノード電
極以外のアノード電極から取出されることのないように
している。
の光電面の形成される入光窓7の長手方向に沿った厚さ
を一様に薄くすることができるので、シンチレータから
の光を、混入を生じさせることなく対応する光電面に確
実に入射させることができる。また長手方向と垂直な方
向の曲率中心位置が、光電子増倍管1の中心軸aD−D
よりも第1ダイノード部材側にずれた位置にあるので、
所定の光電面から放出される光電子を所定の集束電極を
介して第1ダイノード部材20.20’の対応する放出
面に集束させて確実に入射させることができる。
電子放出比の小さな帯状部分、あるいは障壁の分離手段
を設けることによって、所定の光電面から放出された光
電子およびその光電面に対応したダイノード部材の放出
面からの二次電子を各放電面間で分離して所定のアノー
ド電極まで、確実に増倍させることができる。なお、ダ
イノード部材を複数の光電面に共通のものとしても、各
放出面間での二次電子の混入を阻止することができるの
で、従来の光電子増倍管103の構造に比べて、ダイノ
ードの個数、リード線の本数などを著しく減少させるこ
とが可能となる。このように、隣接する光電面間、放出
面間を分離することができるので、所定のシンチレータ
に入射した放射線粒子を対応したアノード電極から確実
に取出すことができて、入射位置検出精度を著しく向上
させることができる。
されているが、ライン形ダイノードのかわりにボックス
アンドグリッド形ダイノード、サーキュラゲージ形ダイ
ノードを用いても良い。
窓は長手方向に沿って厚さが一様で、また長手方向と垂
直な方向に所定の曲率で弯曲しており、複数のダイノー
ド部材には、複数の光電面のそれぞれに対応させて、分
離手段によって互いに分離された複数の放出面が形成さ
れているので、ガンマ線などの放射線粒子に基づいて入
光窓の所定位置に入射した光を所定のアノード電極から
確実に取出し、入射位置検出精度を著しく向上させるこ
とができるとともに、ダイノード部材は複数の光電面に
共通なものとなっているので、光電子増倍管の構造を簡
単にかつ小型にすることができる。
施例の光電子増倍管の正面図、側面図、第2図は第1の
実施例の光電子増倍管の第1ダイノード部材の斜視図、
第3図は第2の実施例の光電子増倍管の第1ダイノード
部材の斜視図、第4図は第2の実施例の光電子増倍管の
第2ダイノード部材乃至第10ダイノード部材の構造を
示す斜視図、第5図(a’) 、 (b)はそれぞれ従
来の光電子増倍管の正面図、側面図である。 1・・・光電子増倍管、2乃至5・・・光電面、7・・
・入光窓、10乃至13・・・集束電極、20乃至29
.20’乃至29′・・・ダイノード部材、30乃至3
3・・・アノード電極、34.34’・・・内面、 35乃至38.35’乃至38′・・・放出面、39乃
至41・・・帯状部分、 43乃至45.46乃至48・・・障壁特許出願人
浜松ホトニクス株式会社特許出願人 新技術開発事
業団 代理人 弁理士 植 本 雅 治(a) 二8,29 30.31,32.33・・・・・・・・・アノード電
極111図 (b) ・・・・・・ダイノード部材 第5 (a) (b)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)長方形の入光窓と、該入光窓の長手方向に沿い、所
定の間隔をへだてて形成されている複数の光電面と、該
複数の光電面のそれぞれに対応して設けられている複数
の集束電極と、前記複数の光電面に共通しており、前記
入光窓の長手方向に沿って長手方向部分が位置決めされ
ている複数のダイノード部材と、前記複数の光電面のそ
れぞれに対応して設けられている複数のアノード電極と
を備え、前記長方形の入光窓は長手方向に沿って厚さが
一様である一方、長手方向と垂直な方向に所定の曲率を
もって弯曲しており、前記複数のダイノード部材の各々
は、前記複数の光電面のそれぞれに対応させて、分離手
段により互いに分離されている複数の放出面を備えてい
ることを特徴とする光電子増倍管。 2)前記分離手段は、前記複数のダイノード部材の各々
の内面に形成される二次電子放出比の小さな帯状部分で
あることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光
電子増倍管。 3)前記分離手段は、前記複数のダイノード部材の各々
の内面に取付けられる金属の障壁であることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項に記載の光電子増倍管。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62095874A JPH0795437B2 (ja) | 1987-04-18 | 1987-04-18 | 光電子増倍管 |
GB8809074A GB2205438B (en) | 1987-04-18 | 1988-04-18 | A photomultiplier with plural photocathodes |
US07/182,517 US4881008A (en) | 1987-04-18 | 1988-04-18 | Photomultiplier with plural photocathodes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62095874A JPH0795437B2 (ja) | 1987-04-18 | 1987-04-18 | 光電子増倍管 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63261664A true JPS63261664A (ja) | 1988-10-28 |
JPH0795437B2 JPH0795437B2 (ja) | 1995-10-11 |
Family
ID=14149490
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62095874A Expired - Lifetime JPH0795437B2 (ja) | 1987-04-18 | 1987-04-18 | 光電子増倍管 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4881008A (ja) |
JP (1) | JPH0795437B2 (ja) |
GB (1) | GB2205438B (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5180943A (en) * | 1989-11-10 | 1993-01-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photomultiplier tube with dynode array having venetian-blind structure |
JPH0536372A (ja) * | 1990-11-19 | 1993-02-12 | Burle Technol Inc | 光電子増倍管 |
JPH0676785A (ja) * | 1992-08-27 | 1994-03-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光電子増倍管 |
JP2005116251A (ja) * | 2003-10-06 | 2005-04-28 | Nikon Corp | 受光器及び蛍光共焦点顕微鏡 |
WO2005091332A1 (ja) * | 2004-03-22 | 2005-09-29 | Hamamatsu Photonics K. K. | マルチアノード型光電子増倍管 |
US7489077B2 (en) | 2004-03-24 | 2009-02-10 | Hamamatsu Photonics K.K. | Multi-anode type photomultiplier tube |
JP2010262812A (ja) * | 2009-05-01 | 2010-11-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光電子増倍管 |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5061875A (en) * | 1990-06-20 | 1991-10-29 | Burle Technologies, Inc. | Focus electrode for elongated hexagonal photomultiplier tube |
US5336967A (en) * | 1992-06-22 | 1994-08-09 | Burle Technologies, Inc. | Structure for a multiple section photomultiplier tube |
JPH06150876A (ja) * | 1992-11-09 | 1994-05-31 | Hamamatsu Photonics Kk | 光電子増倍管及び電子増倍管 |
JP3598173B2 (ja) * | 1996-04-24 | 2004-12-08 | 浜松ホトニクス株式会社 | 電子増倍器及び光電子増倍管 |
US5880458A (en) * | 1997-10-21 | 1999-03-09 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photomultiplier tube with focusing electrode plate having frame |
US7285783B2 (en) * | 2003-06-11 | 2007-10-23 | Hamamatsu Photonics K.K. | Multi-anode type photomultiplier tube and radiation detector |
FR2875331A1 (fr) * | 2004-09-15 | 2006-03-17 | Photonis Sas Soc Par Actions S | Tube multiplicateur d'electrons a plusieurs voies |
FR2881874B1 (fr) * | 2005-02-09 | 2007-04-27 | Photonis Sas Soc Par Actions S | Tube photomultiplicateur a moindre ecarts de temps de transit |
WO2007003723A2 (fr) * | 2005-06-29 | 2007-01-11 | Photonis | Tube multiplicateur d'electrons a plusieurs voies |
CN101421816A (zh) * | 2006-04-14 | 2009-04-29 | 浜松光子学株式会社 | 光电子倍增管 |
US7990064B2 (en) * | 2006-10-16 | 2011-08-02 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photomultiplier |
US7449834B2 (en) * | 2006-10-16 | 2008-11-11 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photomultiplier having multiple dynode arrays with corresponding insulating support member |
US7659666B2 (en) * | 2006-10-16 | 2010-02-09 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photomultiplier |
US7821203B2 (en) * | 2006-10-16 | 2010-10-26 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photomultiplier |
FR2955427B1 (fr) * | 2010-01-20 | 2012-09-28 | Photonis France | Tube photomultiplicateur multivoie a moindres ecarts de temps de transit et a structure simplifiee |
FR2955426B1 (fr) * | 2010-01-20 | 2012-09-28 | Photonis France | Tube photomultiplicateur multivoie a moindres ecarts de temps de transit |
DE102013012609B4 (de) | 2013-07-26 | 2024-06-27 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optoelektronischer Detektor, insbesondere für hochauflösende Lichtrastermikroskope und Lichtrastermikroskop |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5323556A (en) * | 1976-08-16 | 1978-03-04 | Rca Corp | Electron multiplier |
JPS53108859U (ja) * | 1977-02-08 | 1978-08-31 | ||
JPS57194445A (en) * | 1981-05-26 | 1982-11-30 | Agency Of Ind Science & Technol | Photomultiplier tube |
JPS6216666A (ja) * | 1985-07-16 | 1987-01-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像情報読取装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3668388A (en) * | 1971-02-24 | 1972-06-06 | Gte Sylvania Inc | Multi-channel photomultiplier tube |
GB1490695A (en) * | 1974-10-21 | 1977-11-02 | Emi Ltd | Radiation detecting arrangements |
US3959680A (en) * | 1975-01-24 | 1976-05-25 | S.R.C. Laboratories, Inc. | Photomultiplier tube having a plurality of sensing areas |
JPS5856781B2 (ja) * | 1980-07-07 | 1983-12-16 | 日景 ミキ子 | 仲介材を使用したねじ止め工法 |
FR2549288B1 (fr) * | 1983-07-11 | 1985-10-25 | Hyperelec | Element multiplicateur d'electrons, dispositif multiplicateur d'electrons comportant cet element multiplicateur et application a un tube photomultiplicateur |
FR2604824A1 (fr) * | 1986-10-03 | 1988-04-08 | Radiotechnique Compelec | Tube photomultiplicateur segmente |
-
1987
- 1987-04-18 JP JP62095874A patent/JPH0795437B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1988
- 1988-04-18 GB GB8809074A patent/GB2205438B/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-04-18 US US07/182,517 patent/US4881008A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5323556A (en) * | 1976-08-16 | 1978-03-04 | Rca Corp | Electron multiplier |
JPS53108859U (ja) * | 1977-02-08 | 1978-08-31 | ||
JPS57194445A (en) * | 1981-05-26 | 1982-11-30 | Agency Of Ind Science & Technol | Photomultiplier tube |
JPS6216666A (ja) * | 1985-07-16 | 1987-01-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像情報読取装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5180943A (en) * | 1989-11-10 | 1993-01-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Photomultiplier tube with dynode array having venetian-blind structure |
JPH0536372A (ja) * | 1990-11-19 | 1993-02-12 | Burle Technol Inc | 光電子増倍管 |
JPH0559539B2 (ja) * | 1990-11-19 | 1993-08-31 | Baaru Tekunorojiisu Inc | |
JPH0676785A (ja) * | 1992-08-27 | 1994-03-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光電子増倍管 |
JP2005116251A (ja) * | 2003-10-06 | 2005-04-28 | Nikon Corp | 受光器及び蛍光共焦点顕微鏡 |
WO2005091332A1 (ja) * | 2004-03-22 | 2005-09-29 | Hamamatsu Photonics K. K. | マルチアノード型光電子増倍管 |
JP4756604B2 (ja) * | 2004-03-22 | 2011-08-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | マルチアノード型光電子増倍管 |
US7489077B2 (en) | 2004-03-24 | 2009-02-10 | Hamamatsu Photonics K.K. | Multi-anode type photomultiplier tube |
JP2010262812A (ja) * | 2009-05-01 | 2010-11-18 | Hamamatsu Photonics Kk | 光電子増倍管 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2205438B (en) | 1991-12-18 |
GB2205438A (en) | 1988-12-07 |
GB8809074D0 (en) | 1988-05-18 |
JPH0795437B2 (ja) | 1995-10-11 |
US4881008A (en) | 1989-11-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS63261664A (ja) | 光電子増倍管 | |
US5936348A (en) | Photomultiplier tube with focusing electrode plate | |
JP2009080124A (ja) | 蛍光体 | |
EP0597667B1 (en) | Photomultiplier and electron multiplier | |
JPH06103959A (ja) | 光電子増倍管の集合装置 | |
JPS63198251A (ja) | 光電子増倍管 | |
EP1089320B1 (en) | Electron tube | |
US2908840A (en) | Photo-emissive device | |
US4306171A (en) | Focusing structure for photomultiplier tubes | |
US3183390A (en) | Photomultiplier | |
EP0622824B1 (en) | Photomultiplier | |
JPH0864168A (ja) | 光電子増倍管 | |
US5453609A (en) | Non cross talk multi-channel photomultiplier using guided electron multipliers | |
US7495392B2 (en) | Electron multiplier unit including first and second support members and photomultiplier including the same | |
US3875441A (en) | Electron discharge device including an electron emissive electrode having an undulating cross-sectional contour | |
EP0495589B1 (en) | Photomultiplier tube | |
EP0515205B1 (en) | Radiation detecting device insensitive to high magnetic fields | |
US5914561A (en) | Shortened profile photomultiplier tube with focusing electrode | |
EP0722182A2 (en) | Photomultiplier | |
US4006376A (en) | Phototube having improved electron collection efficiency | |
JP2662346B2 (ja) | 光電子増倍管 | |
US4079282A (en) | Phototube having apertured electrode recessed in cup-shaped electrode | |
US8080806B2 (en) | Electron tube | |
USRE30249E (en) | Electron discharge device including an electron emissive electrode having an undulating cross-sectional contour | |
JPS6117097B2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071011 Year of fee payment: 12 |