JPS63116348A - 電子線装置の視野対応装置 - Google Patents
電子線装置の視野対応装置Info
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- JPS63116348A JPS63116348A JP26144186A JP26144186A JPS63116348A JP S63116348 A JPS63116348 A JP S63116348A JP 26144186 A JP26144186 A JP 26144186A JP 26144186 A JP26144186 A JP 26144186A JP S63116348 A JPS63116348 A JP S63116348A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は電子線装置の視野対応装置に関し、更に詳しく
は、試料面装置を効率よく正確に設定できるようにした
電子線装置の視野対応装置に関する。
は、試料面装置を効率よく正確に設定できるようにした
電子線装置の視野対応装置に関する。
(従米の技術)
試料に電子線を照射して発生する反射線(例えば2次電
子9反射電子、X線等)を検出して電子線像を得る装置
がある。この種の電子線装置の中で、電子線マイクロア
ナライザ(EPMAと称される)は、試料から発生した
特性X線をX線分光器で受け、プラグの法則を満足する
波長のX線のみをX線検出器で検出し、元素を分析する
ものである。
子9反射電子、X線等)を検出して電子線像を得る装置
がある。この種の電子線装置の中で、電子線マイクロア
ナライザ(EPMAと称される)は、試料から発生した
特性X線をX線分光器で受け、プラグの法則を満足する
波長のX線のみをX線検出器で検出し、元素を分析する
ものである。
この種の71線マイクロアナライザにおいては、X線分
光器に対してX線の発生源装置(とりもなおさず試料面
装置)を正確に設定する(光学顕微鏡で焦点を合わせる
)必要がある。このため、別途焦点深度の浅い光学顕微
tAを用いて試料面を観察し、X線を発生する試料面装
置を定めている。
光器に対してX線の発生源装置(とりもなおさず試料面
装置)を正確に設定する(光学顕微鏡で焦点を合わせる
)必要がある。このため、別途焦点深度の浅い光学顕微
tAを用いて試料面を観察し、X線を発生する試料面装
置を定めている。
この光学顕微鏡による像く光学像)は、例えばテレビカ
メラとCRT表示HWを用いて表示される。
メラとCRT表示HWを用いて表示される。
そして、電子線マイクロアナライブから離れた場所でも
観察できるようになっている。しかしながら、電子線に
よる走査像(電子線像)とこの光学像を有効に結びつけ
て観察する手段はなかった。
観察できるようになっている。しかしながら、電子線に
よる走査像(電子線像)とこの光学像を有効に結びつけ
て観察する手段はなかった。
(発明が解決しようとする問題点)
従来の装置では、光学顕微鏡による光学像は試料面装置
を決めるためにのみ用いられていたため、以下に示すよ
うな不具合があった。即ち、光学顕微鏡の視野と、電子
線像の視野との対応関係が不明確である。特に光学顕微
鏡の倍率と電子線像の倍率が大幅に異なる場合や、試料
を移動させずに電子線を一定量だけ偏向させて視野を変
える観察や分析の場合に光学像と電子線像との対応が困
難である。
を決めるためにのみ用いられていたため、以下に示すよ
うな不具合があった。即ち、光学顕微鏡の視野と、電子
線像の視野との対応関係が不明確である。特に光学顕微
鏡の倍率と電子線像の倍率が大幅に異なる場合や、試料
を移動させずに電子線を一定量だけ偏向させて視野を変
える観察や分析の場合に光学像と電子線像との対応が困
難である。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであって、
その目的は、光学顕微鏡による光学像と電子線像との視
野対応を確実にとることができるようにした電子線装置
の視野対応装置を実現することにある。
その目的は、光学顕微鏡による光学像と電子線像との視
野対応を確実にとることができるようにした電子線装置
の視野対応装置を実現することにある。
(問題点を解決するための手段)
前記した問題点を解決する本発明は、試料上において電
子線を走査し、発生する信号を検出して電子線走査像を
得る電子線′iA置の視野対応装置であって、前記試料
面装置を測定するための光学顕微鏡を設け、該光学顕微
鏡による光学像の倍率と電子線像の倍率とを比較して、
倍率の小さい方の像の表示画面内に倍率の大きい方の像
の視野範囲を対応させてマーカ表示をするように構成し
たことを特徴とするものである。
子線を走査し、発生する信号を検出して電子線走査像を
得る電子線′iA置の視野対応装置であって、前記試料
面装置を測定するための光学顕微鏡を設け、該光学顕微
鏡による光学像の倍率と電子線像の倍率とを比較して、
倍率の小さい方の像の表示画面内に倍率の大きい方の像
の視野範囲を対応させてマーカ表示をするように構成し
たことを特徴とするものである。
(作用)
光学像と電子t@像において、倍率の小さい方の像の表
示画面内に倍率の大きい方の像の視野範囲を対応させて
マーカ表示する。
示画面内に倍率の大きい方の像の視野範囲を対応させて
マーカ表示する。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例を示す構成ブロック図である
。図において、1は試料面(図示せず)からの反射線(
例えば2次電子9反射電子、透過電子、吸収電子、カソ
ードルミネセンス、X線等)を検出する検出器、2は該
検出器1の出力を増幅する増幅器、3は該増幅器2の出
力を映像信号として受けて表示する第1の表示装置であ
る。第1の表示装置3には電子線による走査像(電子線
@)が表示される。
。図において、1は試料面(図示せず)からの反射線(
例えば2次電子9反射電子、透過電子、吸収電子、カソ
ードルミネセンス、X線等)を検出する検出器、2は該
検出器1の出力を増幅する増幅器、3は該増幅器2の出
力を映像信号として受けて表示する第1の表示装置であ
る。第1の表示装置3には電子線による走査像(電子線
@)が表示される。
4は光学顕微yt(図示せず)により得られた試料面の
光学像を踊影するビデオカメラ、5は該ビデオカメラ4
の出力を増幅する増幅器、6は該増幅器5の出力を映像
信号として受けて表示する第2の表示装置である。第2
の表示装置6には光学顕微鏡による光学像が表示される
。表示装置3゜6どしては、例えばCRTが用いられる
。
光学像を踊影するビデオカメラ、5は該ビデオカメラ4
の出力を増幅する増幅器、6は該増幅器5の出力を映像
信号として受けて表示する第2の表示装置である。第2
の表示装置6には光学顕微鏡による光学像が表示される
。表示装置3゜6どしては、例えばCRTが用いられる
。
7【よ電子線像の倍率の設定や像の移#J用の設定をす
る操作部、8は該操作部7の出力を解読して種々の制御
を行う制御部、9は該制御部8の出力信号を受けて電子
線像の倍率及び移vJ聞を表示する表示部である。表示
部9に与えられる信号は第1の表示装置3にも与えられ
、電子線像に加えてイの倍率と移動量が表示される。
る操作部、8は該操作部7の出力を解読して種々の制御
を行う制御部、9は該制御部8の出力信号を受けて電子
線像の倍率及び移vJ聞を表示する表示部である。表示
部9に与えられる信号は第1の表示装置3にも与えられ
、電子線像に加えてイの倍率と移動量が表示される。
10は倍率を変えずに試料面〈図示せず)上に照q1さ
れる電子線の装置を変える鍮移動用コイル、11は制御
部8からの制御信号を受けて像移動用コイル10を駆動
する駆動回路である。12は電子線を走査する走査コイ
ル、13は該走査コイル12を駆動する駆動回路である
。14は走査信号を発生する走査イΔ号発生器、15は
該走査信号発生器14の出力及び制御部8からの信号を
受け、電子、腺の加速電圧や作動距離、操作部7で設定
した電子線像倍率等に応じて走査信号の振幅を変化させ
る倍率設定部である。走査信号発生器14の出力は又第
1の表示装置3の偏向部にも走査信号として加えられて
いる。
れる電子線の装置を変える鍮移動用コイル、11は制御
部8からの制御信号を受けて像移動用コイル10を駆動
する駆動回路である。12は電子線を走査する走査コイ
ル、13は該走査コイル12を駆動する駆動回路である
。14は走査信号を発生する走査イΔ号発生器、15は
該走査信号発生器14の出力及び制御部8からの信号を
受け、電子、腺の加速電圧や作動距離、操作部7で設定
した電子線像倍率等に応じて走査信号の振幅を変化させ
る倍率設定部である。走査信号発生器14の出力は又第
1の表示装置3の偏向部にも走査信号として加えられて
いる。
16は制御部8から与えられるコード信号を解読し一〇
倍率及び移動距離に対応した所定の電位を求め、走査信
号電位と比較しである特定の電位の区間だけ第1の表示
装置S上にマーカを表示するだめの信号を出力するコン
パレータである。17は第2の表示装置6の偏向部に加
える走査信号を発生する走査信号発生器、18は制御部
8からのコード信号を解読して倍率及び移動距離に対応
した所定の電位を求め、この電位と走査信号の電位とを
比較しである特定の電位の区間だけ第2の表示装置6上
にマーカを表示するための信号を出力するコンパレータ
である。尚、走査信号発生器14.17は互いに同期し
ているものとする。このように構成された装置の動作を
説明すれば、以下の通りである。
倍率及び移動距離に対応した所定の電位を求め、走査信
号電位と比較しである特定の電位の区間だけ第1の表示
装置S上にマーカを表示するだめの信号を出力するコン
パレータである。17は第2の表示装置6の偏向部に加
える走査信号を発生する走査信号発生器、18は制御部
8からのコード信号を解読して倍率及び移動距離に対応
した所定の電位を求め、この電位と走査信号の電位とを
比較しである特定の電位の区間だけ第2の表示装置6上
にマーカを表示するための信号を出力するコンパレータ
である。尚、走査信号発生器14.17は互いに同期し
ているものとする。このように構成された装置の動作を
説明すれば、以下の通りである。
光学顕微鏡による光学像の倍率MO、1!子線走査によ
る電子線像の倍率をMe、試料装置を変えずに電子線照
射装置を変えることによる電子線像の移動量をDe
(但し試料面上での移動量に換算した値とする)とする
。
る電子線像の倍率をMe、試料装置を変えずに電子線照
射装置を変えることによる電子線像の移動量をDe
(但し試料面上での移動量に換算した値とする)とする
。
<1 )Mo <Meの時
この時には光学像の倍率MOが電子線像の倍率Meより
も小さいので、図に示すように光学像の方が倍率が小さ
い分だけ広い視野が表示される。
も小さいので、図に示すように光学像の方が倍率が小さ
い分だけ広い視野が表示される。
そして、第2の表示装置6の表示画面上に第1の表示装
置3に表示されている電子線像の輪郭がマーカMとして
表示されているので、光学顕微鏡による光学像と電子線
像との視野対応を確実にとることができる。
置3に表示されている電子線像の輪郭がマーカMとして
表示されているので、光学顕微鏡による光学像と電子線
像との視野対応を確実にとることができる。
第2図はこの時の各表示画面を示す図である。
(イ)は倍率MOの光学像を、(ロ)は倍率Meの電子
meをそれぞれ示す。(イ)のMが(ロ)の表示画面に
対応したマーカである。このマーカMの縦と横の比は、
電′子線装置の電子線に対する垂直方向(Y方向)走査
旦と水平方向(Y方向)走査mの比に等しく設定する。
meをそれぞれ示す。(イ)のMが(ロ)の表示画面に
対応したマーカである。このマーカMの縦と横の比は、
電′子線装置の電子線に対する垂直方向(Y方向)走査
旦と水平方向(Y方向)走査mの比に等しく設定する。
次に、このマーカ表示を実現する方法について第3図を
用いて説明する。コンパレータ18は、制御部8から1
Vle、[)eに対応したコード信号を受けて水平方向
の対応する電位VXI、VX4(VXI >VX4 )
と、垂直方向の対応する電位VY+ 、VY4 (V
YI >VY4 )を第3図に示すように定める。次に
マーカMの垂直方向及び水平方向の幅に相当する幅を八
Vとして、第3図に示t?t2位VX2 、VX3 、
VY2 、VY3を以下のように定める。
用いて説明する。コンパレータ18は、制御部8から1
Vle、[)eに対応したコード信号を受けて水平方向
の対応する電位VXI、VX4(VXI >VX4 )
と、垂直方向の対応する電位VY+ 、VY4 (V
YI >VY4 )を第3図に示すように定める。次に
マーカMの垂直方向及び水平方向の幅に相当する幅を八
Vとして、第3図に示t?t2位VX2 、VX3 、
VY2 、VY3を以下のように定める。
VX2 =VXt−ΔV
VX3−VXI +ΔV
V Y 2− V Y t−ΔV
V Y s ” V Y 4 + ΔV次に、コンパレ
ータ18は、前述の方法により設定した各電位と走査信
り発生器17から出力される走査信号の電位とを比較す
る。垂直走査信号の電位VY(t)、水平走査信号の電
位VX (t )として V Y 1≧V Y ≧V Y 2 (7) 時ハ■X
I≧vX≧V×4 VY2 >VY>VY3の時は V X 1≧V X ≧V X 2 。
ータ18は、前述の方法により設定した各電位と走査信
り発生器17から出力される走査信号の電位とを比較す
る。垂直走査信号の電位VY(t)、水平走査信号の電
位VX (t )として V Y 1≧V Y ≧V Y 2 (7) 時ハ■X
I≧vX≧V×4 VY2 >VY>VY3の時は V X 1≧V X ≧V X 2 。
V X s≧■X≧VX4
VY3 ≧VY≧VY4 (7)時は
VXI ≧VX≧VX4
−(: アッテ、VX2 >VXs 、VY2 >VY
3の時だけマーカM枠が現われるようにする。
3の時だけマーカM枠が現われるようにする。
ここで、Meが大きくなれば、MOに反比例しT I
VXI VX41 、l VYt−VY41は小さな
値どなって、第2の表示装置6のCRT上で小さな枠に
なる。又、[)eが大きくなれば、Deに反比例してC
RT中心とマーカ枠の中心との距離が大きくなる。
VXI VX41 、l VYt−VY41は小さな
値どなって、第2の表示装置6のCRT上で小さな枠に
なる。又、[)eが大きくなれば、Deに反比例してC
RT中心とマーカ枠の中心との距離が大きくなる。
(2)Mo>Meの時
この時には光学像の倍率Moが電子II像の倍率Meよ
りも大ぎいので、電子線像の方が倍率が小さい分だけ広
い視野が表示される。そこで、この場合には、第4図に
示すように、今度は電子線像の表示画面にマーカMが表
示される。第4図において、(イ)は倍率Moの光学像
を、(ロ)は倍率Meの電子線像をそれぞれ示す。(ロ
)のMが(イ)の表示画面に対応したマーカである。
りも大ぎいので、電子線像の方が倍率が小さい分だけ広
い視野が表示される。そこで、この場合には、第4図に
示すように、今度は電子線像の表示画面にマーカMが表
示される。第4図において、(イ)は倍率Moの光学像
を、(ロ)は倍率Meの電子線像をそれぞれ示す。(ロ
)のMが(イ)の表示画面に対応したマーカである。
次に、このマーカ表示を実現する方法について、(1)
の場合と同じく第3図を用いて説明する。
の場合と同じく第3図を用いて説明する。
コンパレータ16は、制御部8からMe、Deに対応し
たコード信号を受りて水平方向の対応する電位VX+
、VX4 (VXI >VXn ) と、垂直方向の
対応する電位VYL 、VY4 (VYI >VY4
)を第3図に示すように定める。以下MO<Meの場合
と同様にしてコンパレータ16は電位VX+ 、VX4
、VYI 、VY4からVX2.VX3.VY2 、
VY3を求め、これら電位と水平方向、垂直方向走査信
号の電位VY(t)、VX(1)との比較によってマー
カ枠を表示するための信号をつくる。
たコード信号を受りて水平方向の対応する電位VX+
、VX4 (VXI >VXn ) と、垂直方向の
対応する電位VYL 、VY4 (VYI >VY4
)を第3図に示すように定める。以下MO<Meの場合
と同様にしてコンパレータ16は電位VX+ 、VX4
、VYI 、VY4からVX2.VX3.VY2 、
VY3を求め、これら電位と水平方向、垂直方向走査信
号の電位VY(t)、VX(1)との比較によってマー
カ枠を表示するための信号をつくる。
この場合において、光学像倍率MOはある一定の値に定
められているので、電子線像倍率Meを変えてもマーカ
M枠内の領域は常に第2の表示装置6に表示された像に
対応している。仮にMOを変える場合でもMOと連動し
てVXr 、VX4 、VYr 、VY4を変化させれ
ば同様のことが言える。
められているので、電子線像倍率Meを変えてもマーカ
M枠内の領域は常に第2の表示装置6に表示された像に
対応している。仮にMOを変える場合でもMOと連動し
てVXr 、VX4 、VYr 、VY4を変化させれ
ば同様のことが言える。
従って、Meが大きくなればMeに比例して1vXi
VX4 1.IVYI −VY4 14に大きな値と
なり、第1の表示装置3のCRT上で大きな枠になる。
VX4 1.IVYI −VY4 14に大きな値と
なり、第1の表示装置3のCRT上で大きな枠になる。
又、Deが大きくなれば[)eに比例して第1の表示装
置3のCRT中心とマーカ枠の中心との距離が大きくな
る。
置3のCRT中心とマーカ枠の中心との距離が大きくな
る。
上述の実施例においては、第1及び第2の表示1Hi3
,6のうち何れか一方にのみマーカ枠を表示する場合を
例にとって説明したが、第1及び第2の表示装置3,6
には常時マーカー枠を表示しておき、Me≧MOの時は
第2の表示装置6のマーカ枠が変化し、MO>Meの時
は第1の表示装置3のマーカ枠が変化するようにしても
よい。この場合、マーカ枠内の領域は互いに対応してい
る。
,6のうち何れか一方にのみマーカ枠を表示する場合を
例にとって説明したが、第1及び第2の表示装置3,6
には常時マーカー枠を表示しておき、Me≧MOの時は
第2の表示装置6のマーカ枠が変化し、MO>Meの時
は第1の表示装置3のマーカ枠が変化するようにしても
よい。この場合、マーカ枠内の領域は互いに対応してい
る。
又、上述の説明では表示装置を2個設けたが、表示装置
を1個にし、CRTを縦方向乃至は横方向に2分割し、
それぞれに対して光学像表示部、電子線像表示部として
共用化してもよい。
を1個にし、CRTを縦方向乃至は横方向に2分割し、
それぞれに対して光学像表示部、電子線像表示部として
共用化してもよい。
又、像の移動団Deが大きく、第1及び第2の表示装置
3,6のCRT上にマーカ枠のどの部分も表示されない
時や、両者の倍率M13 、MOが極端に異なってマー
カ枠が現われない時は、コンパレータ16.18から第
1及び第2の表示装置3゜6に信号を送り、CRT上に
適当にメツセージを表示するようにすればよい。更に、
電子線順を回転させる場合には、走査信号発生器14.
17の出力走査信号に対して回転補正を行ったものを倍
率設定部15及びコンパレータ16,18に加えてやれ
ばよい。
3,6のCRT上にマーカ枠のどの部分も表示されない
時や、両者の倍率M13 、MOが極端に異なってマー
カ枠が現われない時は、コンパレータ16.18から第
1及び第2の表示装置3゜6に信号を送り、CRT上に
適当にメツセージを表示するようにすればよい。更に、
電子線順を回転させる場合には、走査信号発生器14.
17の出力走査信号に対して回転補正を行ったものを倍
率設定部15及びコンパレータ16,18に加えてやれ
ばよい。
又、走査信号発生器14.17を同期させないで実施す
ることもできる。
ることもできる。
(発明の効果〉
以上詳細に説明したように、本発明によれば、電子線像
倍率Meと光学像の倍率MOとの大小比較により倍率の
小さい方の表示画面に倍率の大きい方の像の視野範囲を
対応させてマーカ表示することにより、光学像と電子線
像との視野対応を確実にとることができる電子線装欝の
視野対応装置を実現することができる。本発明によれば
、以下のよう−な効果が得られる。
倍率Meと光学像の倍率MOとの大小比較により倍率の
小さい方の表示画面に倍率の大きい方の像の視野範囲を
対応させてマーカ表示することにより、光学像と電子線
像との視野対応を確実にとることができる電子線装欝の
視野対応装置を実現することができる。本発明によれば
、以下のよう−な効果が得られる。
■光学像と電子線順の比較が容易になる。
■広い視野の中で、現在どの部分を観察又は分析してい
るのかの装置付けが容易になる。
るのかの装置付けが容易になる。
0作の移@J伍はCRTの中心とマーカ枠の中心との距
離で表わされるため、現在の移動はが一目でわかる。
離で表わされるため、現在の移動はが一目でわかる。
第1図は本発明の一実施例を示す構成ブロック図、第2
図、第4図は本発明による表示画像例を示す図、第3図
はマーカ表示を実現する方法の説明図である。 1・・・検出器 2,5・・・増幅器3・・
・第1の表示装置 4・・・ビデオカメラ6・・・第
2の表示装置 7・・・走査部8・・・制御部
9・・・表示部10・・・像移動コイル 11
.13・・・駆動回路12・・・走査コイル 14.17・・・走査信号発生器 15・・・倍率設定部 16.18・・・コンパレータ
図、第4図は本発明による表示画像例を示す図、第3図
はマーカ表示を実現する方法の説明図である。 1・・・検出器 2,5・・・増幅器3・・
・第1の表示装置 4・・・ビデオカメラ6・・・第
2の表示装置 7・・・走査部8・・・制御部
9・・・表示部10・・・像移動コイル 11
.13・・・駆動回路12・・・走査コイル 14.17・・・走査信号発生器 15・・・倍率設定部 16.18・・・コンパレータ
Claims (1)
- 試料上において電子線を走査し、発生する信号を検出し
て電子線走査像を得る電子線装置の視野対応装置であつ
て、前記試料面装置を測定するための光学顕微鏡を設け
、該光学顕微鏡による光学像の倍率と電子線像の倍率と
を比較して、倍率の小さい方の像の表示画面内に倍率の
大きい方の像の視野範囲を対応させてマーカ表示をする
ように構成したことを特徴とする電子線装置の視野対応
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26144186A JPS63116348A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 電子線装置の視野対応装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26144186A JPS63116348A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 電子線装置の視野対応装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63116348A true JPS63116348A (ja) | 1988-05-20 |
Family
ID=17361935
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26144186A Pending JPS63116348A (ja) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | 電子線装置の視野対応装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63116348A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0393140A (ja) * | 1989-09-05 | 1991-04-18 | Jeol Ltd | 走査電子顕微鏡像と光学顕微鏡像の対応装置 |
JP2011107257A (ja) * | 2009-11-13 | 2011-06-02 | Olympus Corp | 顕微鏡装置 |
JP2012018818A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Keyence Corp | 拡大観察装置及び拡大観察方法、拡大観察用プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
EP3654360A2 (en) | 2018-11-15 | 2020-05-20 | Jeol Ltd. | Scanning electron microscope and image processing method |
-
1986
- 1986-10-31 JP JP26144186A patent/JPS63116348A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0393140A (ja) * | 1989-09-05 | 1991-04-18 | Jeol Ltd | 走査電子顕微鏡像と光学顕微鏡像の対応装置 |
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US9122070B2 (en) | 2009-11-13 | 2015-09-01 | Olympus Corporation | Microscope device |
US10317664B2 (en) | 2009-11-13 | 2019-06-11 | Olympus Corporation | Microscope device |
JP2012018818A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Keyence Corp | 拡大観察装置及び拡大観察方法、拡大観察用プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 |
EP3654360A2 (en) | 2018-11-15 | 2020-05-20 | Jeol Ltd. | Scanning electron microscope and image processing method |
US10964510B2 (en) | 2018-11-15 | 2021-03-30 | Jeol Ltd. | Scanning electron microscope and image processing method |
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