JPS6242996B2 - - Google Patents
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Description
本発明は切削工具および高速度工具などの耐摩
耗性、耐溶着性を要求されるものの表面コーテイ
ング方法に関するものである。
従来、例えばHfC皮膜の製造方法は、メタン、
水素、四塩化ハフニウム(HfCl4)を化学的蒸着
法(Chemical Vapor Deposition法、CVD法)に
よつて形成する試みがなされている。しかし、こ
のようなコーテイングは基体を1500℃以上の温度
で行つている。したがつて、このようなコーテイ
ングは基体に悪影響を及ぼすことが多いばかり
か、応用範囲が限定されるという問題がある。ま
た、分解原料であるHfCl4などのハフニウムハロ
ゲン化物は非常に加水分解しやすい欠点があり、
作業性が悪い問題がある。
そこで、低温でハフニウム化合物をコーテイン
グする方法(特開昭52−36585)として、例えば
ハフニウムと塩化水素および塩酸ガスを反応させ
て、低級のハロゲン化ハフニウム(HfCl3、
HfCl2、HfCl)を生成して、これに炭化水素、窒
素ガス及び水素、ヘリウム、アルゴンから成る群
からの選択される少なくとも1種のガスに拡散し
て、900〜1300℃の温度で熱分解して、ハフニウ
ム化合物を生成するものである。しかしながら、
この方法で例えばハロゲンとしてヨウ素を用い、
ハフニウムカーバイドを形成させる場合、低級な
ヨウ化ハフニウムの生成が困難であるばかりでな
く化学量論的ハフニウムカーバイドが生成し難
く、十分な硬度を示す皮膜が得られない欠点があ
る。また、反応領域内の全域に亘つて均一な組成
のハフニウムカーバイド膜あるいは、均一にコー
テイングされた膜が得られない欠点がある。
一方、本発明者らは低級ハロゲン化物を用いな
いでも、十分低い温度で、かつ導入するガスは炭
化水素のみで化学量論的に近い、緻密なハフニウ
ムカーバイド皮膜を製造できることを発見した。
また、本発明者らは、このコーテイングを減圧下
で行うことにより、全面均一コーテイングができ
ることをみいだした。
本発明の目的は、上記の欠点のない、例えば
HfCの生成において、ヨウ素とハフニウム金属と
を反応させて、高級ヨウ化ハフニウムである四ヨ
ウ化ハフニウムを先成させ、それに炭化水素を導
入して、低温で基体上につきまわりがよく密着性
のある、耐摩耗性皮膜を製造する方法の提供であ
る。
上記の目的を達成するために本発明はハフニウ
ム化合物皮膜の製造方法において、同一反応系内
でヨウ素とハフニウム金属とを反応させ、四ヨウ
化ハフニウムを生成し、それに炭化水素、窒素、
アンモニアガスの1種あるいは2種を導入して、
前記ガスの混合物をコーテイングする基本上に通
して800〜1250℃の温度範囲で減圧熱分解する方
法である。
本発明に使用する装置を第1図に示す。反応系
は2段構造になつており、したがつて加熱体も2
ケ所ある構造になつている。第1段の反応はハフ
ニウム金属とヨウ素とが反応して、四ヨウ化ハフ
ニウムの生成、第2段はハフニウムヨウ化物と例
えば炭化水素(例えばブタン、C4H10)が反応し
て、HfCの生成である。第1段の加熱は200〜600
℃、第2段は800〜1250℃である。加熱方法は、
抵抗加熱および高周波加熱のどちらでもよい。こ
のましくは、第1段加熱は抵抗、第2段加熱は高
周波方式がよい。生成された四ヨウ化ハフニウム
の経路とC4H10経路は別になつており、ヨウ素蒸
気とC4H10とが反応しない2重構造になつてい
る。また、生成した四ヨウ化ハフニウムはガスの
状態で、かつ分解されない温度で保たれ、第2段
の反応系に流れるように、加熱できる構造になつ
ている。また、四ヨウ化ハフニウムは、ハフニウ
ムを200〜600℃に加熱されたところに、ヨウ素蒸
気を流しこんで生成する。用いるハフニウム金属
はスポンジ、チツプ、粒状のどの形状でもよい
が、好ましくはスポンジ状がよい。ヨウ素の供給
方式は、温度により、その蒸気圧をコントロール
することにより制御する構造になつている。ヨウ
素容器としては、第2図に示すように、ヨウ素の
供給量が常に一定になるよう、ヨウ素蒸気の出口
はオリフイス型の構造にする必要がある。また、
第3図に示すように、ヨウ素容器を一定の温度
(蒸気圧)にして、その中にアルゴンガスを流し
こみ、アルゴンガスの流量をコントロールして、
ヨウ素量を制御する方法もある。このようにして
コントロールされたヨウ素蒸気は、リボンヒータ
などで一定の温度で加熱され経路を通つてハフニ
ウム容器にはこばれるようになつている。以上の
ような構造を持つたハフニウム化合物皮膜の製造
装置である。そこで、本装置を用いてHfCを生成
した場合の条件および得られたHfCの生成速度の
例を示す。
The present invention relates to a method for coating the surface of cutting tools, high-speed tools, and other objects that require wear resistance and adhesion resistance. Conventionally, for example, the manufacturing method of HfC film was made using methane,
Attempts have been made to form hydrogen and hafnium tetrachloride (HfCl 4 ) by a chemical vapor deposition method (CVD method). However, such coatings are performed at substrate temperatures of 1500°C or higher. Therefore, such coatings often have a negative effect on the substrate, and also have a problem in that the range of application is limited. In addition, hafnium halides such as HfCl 4 , which are raw materials for decomposition, have the disadvantage of being extremely easy to hydrolyze.
There is a problem with poor workability. Therefore, as a method for coating hafnium compounds at low temperatures (Japanese Unexamined Patent Publication No. 52-36585), for example, hafnium is reacted with hydrogen chloride and hydrochloric acid gas to form lower hafnium halides (HfCl 3 ,
HfCl 2 , HfCl), which is diffused into hydrocarbons, nitrogen gas, and at least one gas selected from the group consisting of hydrogen, helium, and argon, and thermally decomposed at a temperature of 900 to 1300°C. This produces a hafnium compound. however,
In this method, for example, using iodine as the halogen,
When forming hafnium carbide, it is difficult not only to form lower-grade hafnium iodide but also to form stoichiometric hafnium carbide, which has the disadvantage that a film exhibiting sufficient hardness cannot be obtained. Another disadvantage is that a hafnium carbide film having a uniform composition or a film coated uniformly throughout the reaction region cannot be obtained. On the other hand, the present inventors have discovered that it is possible to produce a dense hafnium carbide film with close stoichiometry at sufficiently low temperatures and by introducing only hydrocarbon gas without using lower halides.
Furthermore, the present inventors have discovered that by performing this coating under reduced pressure, uniform coating can be achieved over the entire surface. The object of the invention is to avoid the above-mentioned disadvantages, e.g.
In the production of HfC, iodine and hafnium metal are reacted to preform hafnium tetraiodide, which is a higher hafnium iodide, and hydrocarbons are introduced into it to form a material that spreads and adheres well on the substrate at low temperatures. , a method for producing a wear-resistant coating is provided. In order to achieve the above object, the present invention provides a method for producing a hafnium compound film, in which iodine and hafnium metal are reacted in the same reaction system to produce hafnium tetraiodide, which contains hydrocarbons, nitrogen,
By introducing one or two types of ammonia gas,
In this method, the mixture of gases is passed over a coating base and pyrolyzed under reduced pressure at a temperature in the range of 800 to 1250°C. The apparatus used in the present invention is shown in FIG. The reaction system has a two-stage structure, so there are also two heating elements.
It has a structure in several places. In the first stage, hafnium metal and iodine react to form hafnium tetraiodide, and in the second stage, hafnium iodide reacts with a hydrocarbon (e.g., butane, C 4 H 10 ) to produce HfC. It is generation. The first stage heating is 200-600
°C, the second stage is 800-1250 °C. The heating method is
Either resistance heating or high frequency heating may be used. Preferably, the first stage heating is performed using a resistance, and the second stage heating is performed using a high frequency method. The path of the generated hafnium tetraiodide and the C 4 H 10 path are separate, forming a double structure in which iodine vapor and C 4 H 10 do not react. Furthermore, the hafnium tetraiodide produced is kept in a gaseous state at a temperature at which it will not be decomposed, and the structure is such that it can be heated so that it flows into the second stage reaction system. Furthermore, hafnium tetraiodide is produced by pouring iodine vapor into hafnium heated to 200-600°C. The hafnium metal used may be in any shape such as sponge, chip, or granule, but preferably sponge. The iodine supply system is structured to control its vapor pressure by controlling the temperature. As shown in FIG. 2, the iodine container must have an orifice-type outlet for the iodine vapor so that the amount of iodine supplied is always constant. Also,
As shown in Figure 3, the iodine container is kept at a constant temperature (vapor pressure), argon gas is poured into it, and the flow rate of the argon gas is controlled.
There are also ways to control the amount of iodine. The iodine vapor controlled in this way is heated to a constant temperature using a ribbon heater or the like, and is blown into the hafnium container through a path. This is an apparatus for producing a hafnium compound film having the structure described above. Therefore, we will show examples of the conditions for generating HfC using this device and the resulting HfC generation rate.
【表】
これから明らかなように、生成速度はヨウ素の
温度(蒸気圧)によつてコントロールされること
がわかる。次に生成温度の変化を示す。[Table] As is clear from this, the production rate is controlled by the temperature (vapor pressure) of iodine. Next, the change in formation temperature is shown.
【表】
これから明らかなように、生成速度はヨウ素の
温度を一定にした場合、反応温度によつてもかわ
ることがわかる。そこで、ヨウ素温度を30、35℃
として、HfCの生成速度と生成温度との関係をプ
ロツトした結果を第4図に示す。これから明らか
なように、HfCの生成速度と生成温度との間には
直接関係があり、ヨウ素温度でHfCの生成速度を
コントロールできることがわかる。
また、これらの生成条件で得られた皮膜は
SEMで観察したところ、緻密であり、かつ格子
定数は4.643Åであることから、組成としては
HfC1.0に近いものが得られていることを確認し
た。
HfC皮膜は反応温度800℃以上で生成し、800℃
以下の場合生成しません。また、反応温度1250℃
以上の場合、基体である超硬合金(WC−Co合
金)の性質が変化する。何故ならば、WC−Coの
液相温度が1270℃ですので、1270℃以上になりま
すとWC−Coの反応が起こり、基体自身の物性が
変化し、もろくなります。したがつて、反応温度
は1250℃以下にする必要がある。
また反応を大気圧で行なつた場合は、皮膜の生
成速度は速いが、得られる皮膜がポーラスなもの
になり易く、かつ密着性、耐摩耗性のない皮膜が
得られる。さらに、基体の全面にコーテイングす
ることができず、つきまわりが悪い問題がある。
しかし、反応を減圧下にすることにより、上記問
題は解決できる。本発明の例であるHfC皮膜の生
成方法は、H2、Arなどのキヤリヤガスを用いて
いないため、反応系内の圧力を高くする場合は、
ブタンの導入量を多くしなければいけない。この
ように、ブタンの導入量により、圧力を10Torr
以上にした場合、得られる皮膜の組成は化学量論
的組成(HfC1.0)よりずれ、HfC+Cの組成なも
のが得られ、耐摩耗性にとぼしいHfC皮膜が得ら
れる。また、ブタンの導入量を一定にして、反応
系内の圧力を高くする方法としては、油回転ポン
プの能力を低下せてる方法がある。このような方
法で、反応系内の圧力を10Torr以上にして生成
した場合、生成速度は速くなるが、得られた皮膜
はポーラスなものになり易い欠点がある。そこで
本発明では10Torr以下の減圧下で反応させる必
要がある。
次に、超硬チツプの上に下記に示すコーテイン
グ条件[Table] As is clear from the table, when the temperature of iodine is kept constant, the production rate varies depending on the reaction temperature. Therefore, the iodine temperature was set at 30, 35℃.
Figure 4 shows the results of plotting the relationship between HfC production rate and production temperature. As is clear from this, there is a direct relationship between the HfC production rate and the production temperature, and it can be seen that the HfC production rate can be controlled by the iodine temperature. Furthermore, the film obtained under these conditions is
When observed with SEM, it is dense and has a lattice constant of 4.643Å, so the composition is
It was confirmed that HfC close to 1.0 was obtained . HfC film is formed at a reaction temperature of 800℃ or higher;
It will not be generated in the following cases. In addition, the reaction temperature is 1250℃
In the above case, the properties of the cemented carbide (WC-Co alloy) that is the base material change. This is because the liquidus temperature of WC-Co is 1270℃, so if the temperature exceeds 1270℃, a WC-Co reaction will occur, changing the physical properties of the substrate itself and making it brittle. Therefore, the reaction temperature needs to be 1250°C or lower. When the reaction is carried out at atmospheric pressure, the film formation rate is fast, but the resulting film tends to be porous and lacks adhesion and abrasion resistance. Furthermore, there is a problem that the entire surface of the substrate cannot be coated, resulting in poor coverage.
However, the above problem can be solved by conducting the reaction under reduced pressure. The method for producing an HfC film, which is an example of the present invention, does not use a carrier gas such as H 2 or Ar, so when increasing the pressure in the reaction system,
The amount of butane introduced must be increased. In this way, the pressure can be increased to 10 Torr depending on the amount of butane introduced.
In the above case , the composition of the film obtained deviates from the stoichiometric composition (HfC 1.0 ), and a composition of HfC+C is obtained, resulting in an HfC film with poor wear resistance. Furthermore, as a method of increasing the pressure within the reaction system while keeping the amount of butane introduced constant, there is a method of reducing the capacity of the oil rotary pump. When produced using this method at a pressure of 10 Torr or more in the reaction system, the production rate becomes faster, but the resulting film tends to be porous. Therefore, in the present invention, it is necessary to carry out the reaction under reduced pressure of 10 Torr or less. Next, coat the carbide chips with the coating conditions shown below.
【表】
で5時間コーテイングした結果、超硬チツプ内
(表裏面も含む)の膜厚のバラツキは±10%以内
にはいつており、均一コーテイングが出来ること
を確認した。
また、前述の超硬チツプを用い導入ガスとして
窒素ガスを用い下記に示すコーテイング条件[Table] As a result of coating for 5 hours, the variation in film thickness within the carbide chip (including the front and back surfaces) was within ±10%, confirming that uniform coating was possible. In addition, using the aforementioned carbide tip and using nitrogen gas as the introduced gas, coating conditions were applied as shown below.
【表】
で7時間コーテイングした結果、淡い金色のHfN
が超硬チツプに均一にコーテイング出来ることを
確認した。
同様に導入ガスとして、メタンガス及び窒素ガ
スの混合ガスを用い、下記に示すコーテイング条
件[Table] As a result of coating for 7 hours, a pale golden HfN
It was confirmed that the material could be coated uniformly on carbide chips. Similarly, a mixed gas of methane gas and nitrogen gas was used as the introduced gas, and the coating conditions were as shown below.
【表】
で4時間コーテイングした結果、ハフニウムカー
ボナイトライド(HfCN)が均一にコーテイング
できることも確認した。
以上記述した通り、本発明の製造方法によれ
ば、800〜1250℃の低い反応温度の場合でも、密
着性が良く化学量論的組成に近い充分に耐摩耗性
のあるハフニウム化合物皮膜を反応領域内の全域
にわたり均一に製造することができる。このこと
は工業的大容量生産を可能にするものであり、均
一な品質で特性の優秀な製品を比較的に安価に提
供することができるものとなる。[Table] As a result of coating for 4 hours, it was confirmed that hafnium carbonitride (HfCN) could be coated uniformly. As described above, according to the manufacturing method of the present invention, even at low reaction temperatures of 800 to 1250°C, a sufficiently wear-resistant hafnium compound film with good adhesion and close to stoichiometric composition can be applied to the reaction area. can be manufactured uniformly over the entire area. This makes industrial large-scale production possible, and it becomes possible to provide products with uniform quality and excellent characteristics at a relatively low cost.
第1図は本発明の方法を適用する装置のフロー
ト図、第2図および第3図はヨウ素蒸気コントロ
ール装置の概略図、第4図はHfC生成速度と生成
温度との関係を示す図である。
1:ストツプバルブ、2:真空計、4:マスフ
ローコントローラ、8:ウオータバス、9:ヨウ
素、10:ヨウ素容器、11:電子恒温槽、1
4:電気炉、15:ハフニウム、19:試料、2
0:オリフイス型ヨウ素容器。
Fig. 1 is a float diagram of an apparatus to which the method of the present invention is applied, Figs. 2 and 3 are schematic diagrams of an iodine vapor control apparatus, and Fig. 4 is a diagram showing the relationship between HfC production rate and production temperature. . 1: Stop valve, 2: Vacuum gauge, 4: Mass flow controller, 8: Water bath, 9: Iodine, 10: Iodine container, 11: Electronic thermostat, 1
4: Electric furnace, 15: Hafnium, 19: Sample, 2
0: Orifice type iodine container.
Claims (1)
一反応系内でヨウ素とハフニウム金属とを反応さ
せ、高級ヨウ化ハフニウムである四ヨウ化ハフニ
ウム(HfI4)を生成し、それに炭化水素、窒素又
はアンモニアの少なくとも1つを導入して、前記
ガス混合物をコーテイングする基体上に通して
800〜1250℃の温度範囲でハフニウムカーバイド
(HfC)、ハフニウムナイトライド(HfN)および
ハフニウムカーボナイトライド(HfCN)ののハ
フニウム化合物皮膜を、反応系内の圧力を
10Torr以下の減圧下で反応させて製造すること
を特徴とするハフニウム化合物皮膜の製造方法。 2 特許請求の範囲の第1項において、ヨウ素の
供給量をその蒸気圧でコントロールして、ハフニ
ウム化合物皮膜の生成速度を制御することを特徴
とするハフニウム化合物皮膜の製造方法。 3 特許請求の範囲の第1項又は第2項におい
て、前記四ヨウ化ハフニウムの反応系路を200℃
以上で、かつその熱分解温度以下に加熱した状態
で、コーテイングする基体上に通すことを特徴と
するハフニウム化合物皮膜の製造方法。 4 特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれか
において、緻密な皮膜を得るために、反応系内の
圧力が1Torr以下の減圧下でコーテイングするこ
とを特徴とするハフニウム化合物皮膜の製造方
法。[Claims] 1. In a method for producing a hafnium compound film, iodine and hafnium metal are reacted in the same reaction system to produce hafnium tetraiodide (HfI 4 ), which is a higher hafnium iodide, and a hydrocarbon, introducing at least one of nitrogen or ammonia and passing said gas mixture over the substrate to be coated;
hafnium compound coatings of hafnium carbide (HfC), hafnium nitride (HfN) and hafnium carbonitride (HfCN) in the temperature range of 800-1250℃, and the pressure in the reaction system.
A method for producing a hafnium compound film, characterized in that the film is produced by reaction under reduced pressure of 10 Torr or less. 2. The method for producing a hafnium compound film according to claim 1, characterized in that the amount of iodine supplied is controlled by its vapor pressure to control the production rate of the hafnium compound film. 3. In paragraph 1 or 2 of the claims, the hafnium tetraiodide reaction path is heated to 200°C.
A method for producing a hafnium compound film, characterized in that the film is passed over a substrate to be coated in a state where the film is heated to a temperature below its thermal decomposition temperature. 4. A method for producing a hafnium compound film according to any one of claims 1 to 3, characterized in that coating is carried out under reduced pressure within the reaction system of 1 Torr or less in order to obtain a dense film. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP1613478A JPS54109098A (en) | 1978-02-15 | 1978-02-15 | Method of manufacturing hafnium compound |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP1613478A JPS54109098A (en) | 1978-02-15 | 1978-02-15 | Method of manufacturing hafnium compound |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPS54109098A JPS54109098A (en) | 1979-08-27 |
JPS6242996B2 true JPS6242996B2 (en) | 1987-09-10 |
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ID=11908012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP1613478A Granted JPS54109098A (en) | 1978-02-15 | 1978-02-15 | Method of manufacturing hafnium compound |
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JP (1) | JPS54109098A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH09150398A (en) * | 1995-11-27 | 1997-06-10 | Tohoku Shoji Kk | Cutter |
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Citations (1)
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JPS5236585A (en) * | 1975-09-15 | 1977-03-19 | Westinghouse Canada Ltd | Process for preparing coating of hafnium compound |
-
1978
- 1978-02-15 JP JP1613478A patent/JPS54109098A/en active Granted
Patent Citations (1)
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JPS5236585A (en) * | 1975-09-15 | 1977-03-19 | Westinghouse Canada Ltd | Process for preparing coating of hafnium compound |
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JPH09150398A (en) * | 1995-11-27 | 1997-06-10 | Tohoku Shoji Kk | Cutter |
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JPS54109098A (en) | 1979-08-27 |
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