JPS62261970A - 診断装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は模擬信号を用いて被試験装置の性能や特性を
診断する診断装置に関する。

〔従来の技術〕

第２図は従来の模擬信号を用いて被試験装置を診断する
診断装置を示すブロック接続図であり、図において、１
は模擬信号を用いて診断のための演算をする中央処理装
置としてのＣＰＵカード。

２はディジタル出力カード、３は各種信号処理回路を有
する被試験装置、４はディジタル入力カードである。

矢に動作について説明する。ＣＰＵカード１はテストモ
ードになった場合、信号出力器としてのディジタル出力
カード２から被試験装置３に対して、模擬信号を入力す
る。一方、この模擬信号の入力によって、被試験装置３
から出力された出力信号は信号入力器としてのディジタ
ル入力カード４に入力されて、読み込まれる。そこで、
ＣＰＵカード１は、被試験装置３が入力した模擬信号と
。

被試験装置３の出力信号との関係が、所定のとおりにな
っているかどうかを検査する。つまり、被試験ｉ置３が
正常に動作しているか否かを診断および確認する。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来の診断装置は以上のように構成されているので、模
擬信号の信号の種類や数が増加すると。

ディジタル出力カード２やディジタル入力カード４のカ
ード枚数を増加する必要が生じ１診断装置が大形化する
ほか高価になるという問題点があった。

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ディジタル出力カードおよびディジタル入力
カードのカード枚数が少なくても。

多種類の模擬信号の被試験装置への入力を可能にする診
断装置を得ることを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明にかかる診断装置は、シリアル状態の模擬信号
をシリアル／パラレル変換器を通して被試験装置に入力
するとともに、被試験装置が出力するパラレル状態の出
力信号とパラレル／シリアル変換器を通して出力し、中
央処理装置に取り込むように構成し虎ものである。

〔作用〕

この発明におけるシリアル／パラレル変換器は多種類の
模擬信号ｔ−ｔｔｙ分割状態で受けてパラレル変換する
とともに、パラレル／シリアル変換器は多種類のパラレ
ルの出力信号を時分割状態で出力するように作用するの
で、ディジタル出力カードおよびディジタル入力カード
の使用枚数を少なくすることができる。

〔実施例〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、１は中央処理装置としてのＣＰＵカード、
２はディジタル出力カード、３は被試験装置、４はディ
ジタル入力カード、５はシリアル／パラレル変換器とし
てのシフトレジスタ。

６はパラレル／シリアル変換器としてのシフトレジスタ
、７は出力バッファ、８は入力バッファ。

９はシリアルデータ、１０．１１はクロック用パルス信
号、１２はシリアルデータである。

次に動作について説明する。ＣＰＵカード１はテストモ
ードになった場合、ディジタル出力カード２からシリア
ルデータ９とクロック用パルス信号１０を出力する。シ
フトレジスタ５はこれに入力された一連の模擬信号であ
るシリアルデータ９ヲクロツク用パルス信号１０により
一定のタイミングでパラレルデータに変換し、これを出
力バツ７ア７を経由して被試験装置３に入力する。

一方、被試験装置３から出力され食出力信号は。

入力バッファ８を介してシフトレジスタ６に入力さｎ、
このシフトレジスタ６によりシリアルデータ１２に変換
された後、ディジタル入力カード４に入力される。この
ときシフトレジスタ６が使用するクロック用パルス信号
１１はディジタル出力カード２より出力される。

このようにして、ディジタル入力カード４に得られた出
力信号は、既述の模擬信号とともに、ＣＰＵカード１内
に取り込まれる。このＣＰ［Ｊカード１内では、これら
両信号が所定の検査値に合致するか否かを判定すること
によって、被試験装置３が正常であるか異常であるかを
診断し、必要に応じその結果をＣＲＴ表示器などに表示
する。

なお、上記実施例では、シフトレジスタ５．シフトレジ
スタ６、出力バツファ７．入力バッファ８をひとまとめ
にして独立した１個の装置としているが、これらと被試
験装置３の一部に組込んでおい工もよい。

〔発明の効果〕 以上のように、この発明によｎば、シリアル状態の模擬
・１３号をシリアル／パラレル変換器を通して披試、憤
装訛に入力するとともに、被試験装置が出力するパラレ
ル状態の出力信号全パラレル／シリアル変換ｄＱ？通し
て出力し、中央処理装置に取９込むように構成したので
、模擬信号が多数ある場合でも、ディジタル入力カード
およびディジタル出力カードの使用枚数の削減を図るこ
とができるとともに、接続用ケーブルの使用量を削減で
き。

これにより診断装置の小形化並びにローコスト化が図れ
るものが得られる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例による診断装置のブロック
接続図、第２図は従来の診断装置のブロック接続図であ
る。 １はＣＰＵカード、２はディジタル出力カード。 ３は被試験装置、４はディジタル入力カード、５はシリ
アル／パラレル変換用シフトレジスタ、６はパラレル／
シリアル変換用シフトレジスタ％　７は出力バッファ、
８は入力バッファＳ９はシリアルデータ、１０．１１は
クロック用パルス、１２はシリアルデータ。 なお１図中、同一符号は同一、″または相当部分を示す
。 第１図

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）中央処理装置が信号出力器から模擬信号を被試験
   装置に入力し、この被試験装置から得られる出力信号を
   信号入力器に取り込んで、この出力信号と上記模擬信号
   との演算結果にしたがつて、上記被試験装置を診断する
   診断装置において、上記模擬信号はシリアル／パラレル
   変換器を通して上記被試験装置に入力するとともに、上
   記出力信号はパラレル／シリアル変換器を通して、上記
   中央処理装置に取り込むようにしたことを特徴とする診
   断装置。
2. （２）中央処理装置がカード上に設けられていることを
   特徴とする特許請求の範囲第１項記載の診断装置。
3. （３）信号入力器がディジタル入力カードであることを
   特徴とする特許請求の範囲第１項記載の診断装置。
4. （４）信号出力器がディジタル出力カードであることを
   特徴とする特許請求の範囲第１項記載の診断装置。
5. （５）シリアル／パラレル変換器およびパラレル／シリ
   アル変換器がシフトレジスタであることを特徴とする特
   許請求の範囲第１項記載の診断装置。