JPS62266775A - 磁気デイスク装置の欠陥処理方式 - Google Patents
磁気デイスク装置の欠陥処理方式Info
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- JPS62266775A JPS62266775A JP10840186A JP10840186A JPS62266775A JP S62266775 A JPS62266775 A JP S62266775A JP 10840186 A JP10840186 A JP 10840186A JP 10840186 A JP10840186 A JP 10840186A JP S62266775 A JPS62266775 A JP S62266775A
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- magnetic disk
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims description 20
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 34
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000006247 magnetic powder Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野Ｊ
本発明は、磁気ディスク装置の欠陥処理方式に関し、特
に磁気ディスク媒体の欠陥部分の位置および欠陥長の算
出処理を省略できる磁気ディスク装置の媒体欠陥処理方
式に関するものである。
に磁気ディスク媒体の欠陥部分の位置および欠陥長の算
出処理を省略できる磁気ディスク装置の媒体欠陥処理方
式に関するものである。
各種データを記録する磁気ディスクにはデータを読出／
書込みのできない欠陥部位の存在が不可避であるとされ
ている。！Ｒ造過程における磁性膜の磁性粉の配合不均
一や異物の混入等を主たる理由とする。
書込みのできない欠陥部位の存在が不可避であるとされ
ている。！Ｒ造過程における磁性膜の磁性粉の配合不均
一や異物の混入等を主たる理由とする。
そこで、一般に磁気ディスク装置における磁気ディスク
読出／書込み動作において、欠陥部位の存・在するセク
タには、予備のセクタが交替セクタとして割当てられ、
この割当情報がＩＤ情報として書込まれる。したがって
、ＩＤ情報が読出不能となると当該セクタの処理が実行
できなくなるため、ＩＤ情報を確実に欠陥部位以外のセ
クタに書込む欠陥処理が不可欠である。
読出／書込み動作において、欠陥部位の存・在するセク
タには、予備のセクタが交替セクタとして割当てられ、
この割当情報がＩＤ情報として書込まれる。したがって
、ＩＤ情報が読出不能となると当該セクタの処理が実行
できなくなるため、ＩＤ情報を確実に欠陥部位以外のセ
クタに書込む欠陥処理が不可欠である。
他方、近時の磁気ディスクの小型化・大容量化に伴い、
これによる記録密度の増大により、媒体の欠陥部位の総
数は増大の傾向にある。したがって、磁気ディスク装置
の初期設定処理のうちで。
これによる記録密度の増大により、媒体の欠陥部位の総
数は増大の傾向にある。したがって、磁気ディスク装置
の初期設定処理のうちで。
欠陥部位のあるセクタの欠陥処理も増大している。
ところで、第３図は従来のＩＤ情報書込フォーマットの
説明図である。
説明図である。
同図（Ａ）は１セクタ単位での一般的な書込様式であり
、インデックスもしくはセクタ信号２１とセクタ信号２
２間に書込まれるＩＤ情報等のフォーマット例を示すも
のである。
、インデックスもしくはセクタ信号２１とセクタ信号２
２間に書込まれるＩＤ情報等のフォーマット例を示すも
のである。
さて従来は、同図（Ａ）のＩＤ情報の書込位置２４に欠
陥がある場合、同図（Ｂ）に示すように、ＩＤ情報２４
の書込位置をスキップして、ＩＤ部のギャップ２７・Ｉ
Ｄ情報２４および無効ギャップ２８の順で書込む所謂ス
キュー書込みをして、ＩＤ情報２４の書込／読出しを保
証していた。すなはち、欠陥部位のあるフォーマット書
込時には。
陥がある場合、同図（Ｂ）に示すように、ＩＤ情報２４
の書込位置をスキップして、ＩＤ部のギャップ２７・Ｉ
Ｄ情報２４および無効ギャップ２８の順で書込む所謂ス
キュー書込みをして、ＩＤ情報２４の書込／読出しを保
証していた。すなはち、欠陥部位のあるフォーマット書
込時には。
欠陥部位の場所を算出し、欠陥部位がデータ部２６の場
合には同図（Ａ）、またｒＤＤ２４であれば同図（Ｂ）
の様式で書込みを行なうのが従来の方式であった。
合には同図（Ａ）、またｒＤＤ２４であれば同図（Ｂ）
の様式で書込みを行なうのが従来の方式であった。
このように従来は、欠陥部分のあるセクタに対するＩｆ
）情報を１個しか書込まなかった。このため、欠陥部位
の位置および欠陥長を判定して、しかも欠陥部分がＩＤ
部なら同図Ｂのフォーマットで書込むという判定処理が
必須となり、欠陥処理時間が増大するという問題があっ
た。
）情報を１個しか書込まなかった。このため、欠陥部位
の位置および欠陥長を判定して、しかも欠陥部分がＩＤ
部なら同図Ｂのフォーマットで書込むという判定処理が
必須となり、欠陥処理時間が増大するという問題があっ
た。
なおこの種の装置として関連するものには例えば特開昭
５９−２１１１５８号広報記載のものがある。
５９−２１１１５８号広報記載のものがある。
本発明の目的は、以上のような従来の問題を解消し、磁
気ディスク媒体の欠陥処理において、欠陥部位の位置・
欠陥長の算出処理を省略できる磁気ディスク装置の欠陥
処理方式を提供することにある。
気ディスク媒体の欠陥処理において、欠陥部位の位置・
欠陥長の算出処理を省略できる磁気ディスク装置の欠陥
処理方式を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明は、ａ気ディスク媒体
のセクタ中に欠陥部位のあるときは当該セクタの使用不
可および代用として割当られた予備セクタのアドレス等
を示すＩＤ情報を発行し。
のセクタ中に欠陥部位のあるときは当該セクタの使用不
可および代用として割当られた予備セクタのアドレス等
を示すＩＤ情報を発行し。
前記欠陥部位の場所および欠陥長を算出し当該欠陥部位
以外に前記ＩＤ情報を書込む制御装置を備えて、セクタ
単位での読出／書込みを行なう磁気ディスク装置におい
て、前記ＩＤ情報の書込個数を格納するＩＤカウンタと
、該ＩＤカウンタのカウント値が２個以上のときは各Ｉ
Ｄ書込箇所間の間隔を格納する間隔カウンタを具備して
、前記制御装置により、予め定めた個数および間隔で前
記ＩＤ情報を同一セクタ上楊複数個書込むことにより、
前記欠陥部位の場所および欠陥長の算出処理を省略する
ことに特徴がある。
以外に前記ＩＤ情報を書込む制御装置を備えて、セクタ
単位での読出／書込みを行なう磁気ディスク装置におい
て、前記ＩＤ情報の書込個数を格納するＩＤカウンタと
、該ＩＤカウンタのカウント値が２個以上のときは各Ｉ
Ｄ書込箇所間の間隔を格納する間隔カウンタを具備して
、前記制御装置により、予め定めた個数および間隔で前
記ＩＤ情報を同一セクタ上楊複数個書込むことにより、
前記欠陥部位の場所および欠陥長の算出処理を省略する
ことに特徴がある。
以下本発明の実施例を図面により詳細に説明する。
第２図は本発明の適用される磁気ディスク制御装置のブ
ロック構成図である。
ロック構成図である。
同図において、１は処理装置等からの命令解析および各
回路への情報セットおよび指令を行なう制御回路、２は
磁気ディスクへの書込／読出しを制御する磁気ディスク
制御回路、３は書込／読出し時のＩＤ情報を格納するＩ
Ｄバッファ、４は■Ｄ情情報書待時箇所を格納するＩＤ
カウンタ、５はＩＤカウンタ４が２箇所以上のとき各Ｉ
Ｄ書込箇所間のギャップ長を格納するギャップカウンタ
。
回路への情報セットおよび指令を行なう制御回路、２は
磁気ディスクへの書込／読出しを制御する磁気ディスク
制御回路、３は書込／読出し時のＩＤ情報を格納するＩ
Ｄバッファ、４は■Ｄ情情報書待時箇所を格納するＩＤ
カウンタ、５はＩＤカウンタ４が２箇所以上のとき各Ｉ
Ｄ書込箇所間のギャップ長を格納するギャップカウンタ
。
６は書込／読出し時の位置を計数するクロックカウンタ
ある。
ある。
第１図は、本発明の一実施例を示す磁気ディスク装置の
欠陥処理方式下におけるフォーマット図である。
欠陥処理方式下におけるフォーマット図である。
同図（Ａ）は、欠陥部位のないセクタのインデックスも
しくはセクタ信号２１とセクタ信号２２間に書込まれる
通常のＩＤ情報等のフォーマットを示す図である。
しくはセクタ信号２１とセクタ信号２２間に書込まれる
通常のＩＤ情報等のフォーマットを示す図である。
先ず、欠陥部位のないセクタに対するＩＤ情報等のフォ
ーマット書込について説明する。制御回路ｌにより、Ｗ
込むべきＩＤ情報がＩＤバッファ３にセラ１−され、か
つＩＤカウンタ４へは１箇所のカウンタ値がセットされ
る。このセット条件で磁気ディスク制御回路２が制御回
路１により動作起動される。
ーマット書込について説明する。制御回路ｌにより、Ｗ
込むべきＩＤ情報がＩＤバッファ３にセラ１−され、か
つＩＤカウンタ４へは１箇所のカウンタ値がセットされ
る。このセット条件で磁気ディスク制御回路２が制御回
路１により動作起動される。
起動された磁気ディスク制御回路２は、ＩＤカウンタの
値が１箇所であることから、第１図（Ａ）の書込フォー
マットであると認識し、クロックカウンタ６の値を随時
計数して、１０部のギャップ２３、ＩＤ情報２４、デー
タ部のギャップ２５およびデータ部２６の順で書込みを
行なう。
値が１箇所であることから、第１図（Ａ）の書込フォー
マットであると認識し、クロックカウンタ６の値を随時
計数して、１０部のギャップ２３、ＩＤ情報２４、デー
タ部のギャップ２５およびデータ部２６の順で書込みを
行なう。
第１図（Ｃ）は欠陥部位の存在するセクタに対するＩＤ
情報等のフォーマット図である。
情報等のフォーマット図である。
同図において、ＩＤ情報２４は、同一セクタ内に、２４
ａと２４ｂの２箇所に書込まれている。
ａと２４ｂの２箇所に書込まれている。
以下、欠陥部位のあるセクタに対してのＩＤ情報の書込
について説明する。
について説明する。
制御回路Ｉにより、１０情報がＩＤバッファ３へ、２箇
所のカウント値がＩＤカウンタ４へ、かつＩＤ情報間の
ギャップ長２９がギャップカウンタ５にセットされる。
所のカウント値がＩＤカウンタ４へ、かつＩＤ情報間の
ギャップ長２９がギャップカウンタ５にセットされる。
このようにして、制御回路１より起動された磁気ディス
ク制御回路２は、ＩＤカウンタ４への値が２箇所である
ことから、第１図（Ｃ）の書込みフォーマントと認識し
、クロックカウンタ６の値を随時計数して、ＩＤ部のギ
ャップ２３、ＩＤ情報２４ａ、１０情報情報間のギャッ
プ２９．２箇所目のＩＤ情報２４ｂおよび無効ギャップ
２８の順で書込みを行なう。
ク制御回路２は、ＩＤカウンタ４への値が２箇所である
ことから、第１図（Ｃ）の書込みフォーマントと認識し
、クロックカウンタ６の値を随時計数して、ＩＤ部のギ
ャップ２３、ＩＤ情報２４ａ、１０情報情報間のギャッ
プ２９．２箇所目のＩＤ情報２４ｂおよび無効ギャップ
２８の順で書込みを行なう。
次に読出し時においては、第１図（Ｃ）様式の値が、υ
制御回路１により各カウンタにセットさ九る。
制御回路１により各カウンタにセットさ九る。
制御回路ｌにより出し動作起動をうけた磁気ディスク制
御回路２は、初めに１箇所目のＩＤ情報２４ａを読出し
チェックし、正常に読出しできた場合には１箇所目のＩ
Ｄ情報２４ａをＩＤバッファ３にセットして、制御回路
ｌへ読出し正常を報告する。
御回路２は、初めに１箇所目のＩＤ情報２４ａを読出し
チェックし、正常に読出しできた場合には１箇所目のＩ
Ｄ情報２４ａをＩＤバッファ３にセットして、制御回路
ｌへ読出し正常を報告する。
また、ＩＷＩ所目のＩ ＤｆｉｆｆｆＪ ２４ ａが正
常ニ読出せない場合、磁気ディスク制御回路２は、ギャ
ップカウンタ５の値とクロックカウンタ６の値とを計数
し、２箇所目のＩＤ情報２４ｂの読出し動作を行なう。
常ニ読出せない場合、磁気ディスク制御回路２は、ギャ
ップカウンタ５の値とクロックカウンタ６の値とを計数
し、２箇所目のＩＤ情報２４ｂの読出し動作を行なう。
このように、ＩＤ情報を２ｇ！込むことにより、欠陥部
位の存在するセクタに対する書込フォーマットは、欠陥
部位の位置がＩＤ部２４がデータ部２６かの判定が不要
となり、しかもＩＤ情報２４ａとＩＤ情報２４ｂ間のギ
ャップ２９は欠陥ビット長の最大長以上に指定されこと
により、ＩＤ情報２４の前後どちらか１箇所は必ず欠陥
部位のない場所への書込みが保証される。したがって、
！！！条件に第１図（Ｃ）様式の書込みを行なうことが
でき、処理の簡略化および効率向上が図れる。
位の存在するセクタに対する書込フォーマットは、欠陥
部位の位置がＩＤ部２４がデータ部２６かの判定が不要
となり、しかもＩＤ情報２４ａとＩＤ情報２４ｂ間のギ
ャップ２９は欠陥ビット長の最大長以上に指定されこと
により、ＩＤ情報２４の前後どちらか１箇所は必ず欠陥
部位のない場所への書込みが保証される。したがって、
！！！条件に第１図（Ｃ）様式の書込みを行なうことが
でき、処理の簡略化および効率向上が図れる。
なお、本実施例においては欠陥部位のセクタに対して２
個のＩＤ情報を書込む場合を示したが、さらにＩＤ情報
を増加して書込むことももとより可能である。
個のＩＤ情報を書込む場合を示したが、さらにＩＤ情報
を増加して書込むことももとより可能である。
以上説明したように１本発明によれば、欠陥部位のある
セクタに対するＩＤ情報等のフォーマット書込処理が、
欠陥部位の位置および欠陥長を考慮することなく無条件
に実行可能となり、欠陥処理の簡略化および効率向上の
効果がある。
セクタに対するＩＤ情報等のフォーマット書込処理が、
欠陥部位の位置および欠陥長を考慮することなく無条件
に実行可能となり、欠陥処理の簡略化および効率向上の
効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示す磁気ディスク装置の欠
陥処理方式下におけるＩＤ情報書込みフォーマット図、
第２図は本発明の摘要される書込／読出し制御部のブロ
ック構成図、第３図は従来のフォーマット図である。 ！：ＩＩＪ御回路、２：磁気ディスク制御回路、３：Ｉ
Ｄバッファ、４：ＩＤカウンタ、５：ギヤップカウンタ
、６：クロックカウンタ、７：磁気ディスク装置、２１
：インデックス信号（セクタ信号）、２２：セクタ信号
、２３：ＩＤ部のギャップ、２４：ＩＤ情報（ＩＤ情報
）、２５：データ部のギャップ、２６：データ部、２７
：スキユウーされたＩＤ部のギャップ、２８：、！［効
ギャップ。 第１図 第２図 第 ３ 図
陥処理方式下におけるＩＤ情報書込みフォーマット図、
第２図は本発明の摘要される書込／読出し制御部のブロ
ック構成図、第３図は従来のフォーマット図である。 ！：ＩＩＪ御回路、２：磁気ディスク制御回路、３：Ｉ
Ｄバッファ、４：ＩＤカウンタ、５：ギヤップカウンタ
、６：クロックカウンタ、７：磁気ディスク装置、２１
：インデックス信号（セクタ信号）、２２：セクタ信号
、２３：ＩＤ部のギャップ、２４：ＩＤ情報（ＩＤ情報
）、２５：データ部のギャップ、２６：データ部、２７
：スキユウーされたＩＤ部のギャップ、２８：、！［効
ギャップ。 第１図 第２図 第 ３ 図
Claims (1)
- １、磁気ディスク媒体のセクタ中に欠陥部位のあるとき
は当該セクタの使用不可および代用として割当られた予
備セクタのアドレス等を示すＩＤ情報を発行して、前記
欠陥部位の場所および欠陥長を算出し当該欠陥部位以外
に前記ＩＤ情報を書込む制御装置を備えて、セクタ単位
での読出／書込みを行なう磁気ディスク装置において、
前記ＩＤ情報の書込個数を格納するＩＤカウンタと、該
ＩＤカウンタのカウント値が２個以上のときは各ＩＤ書
込箇所間の間隔を格納する間隔カウンタを具備して、前
記制御装置により、予め定めた個数および間隔で前記Ｉ
Ｄ情報を同一セクタ上に複数個書込むことにより、前記
欠陥部位の場所および欠陥長の算出処理を省略すること
を特徴とする磁気ディスク装置の欠陥処理方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10840186A JPS62266775A (ja) | 1986-05-14 | 1986-05-14 | 磁気デイスク装置の欠陥処理方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10840186A JPS62266775A (ja) | 1986-05-14 | 1986-05-14 | 磁気デイスク装置の欠陥処理方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62266775A true JPS62266775A (ja) | 1987-11-19 |
Family
ID=14483821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10840186A Pending JPS62266775A (ja) | 1986-05-14 | 1986-05-14 | 磁気デイスク装置の欠陥処理方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62266775A (ja) |
-
1986
- 1986-05-14 JP JP10840186A patent/JPS62266775A/ja active Pending
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