JPS62222181A - Apparatus for measuring radioactive rays - Google Patents
Apparatus for measuring radioactive raysInfo
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- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、ガイガーミューラ管もしくはシンチレーショ
ンカウンタを使用した放射線測定装置におけるエネルギ
ー分解性を補正する技術に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a technique for correcting energy resolution in a radiation measuring device using a Geiger-Mueller tube or a scintillation counter.
(従来技術)
ガイガーミューラ管やシンチレーションカウンタの放射
線検出器は、放射線を検出することのできる面積、いわ
ゆる有効検出面積か大きく しかも取扱いが簡単なこと
から大きな探査領域を測定対象とする携帯用サーベイメ
ータやフ・ント丑ニターの検出部に使用されでいるが、
放射線エネルギーに対する計数率の変動、いわゆるエネ
ルギ依存°iか大きいため(第2図へ)2、線源のエネ
ルギーを考慮して測定値を補正しなければならないとい
う不便さがあった。(Prior art) Radiation detectors such as Geiger-Mueller tubes and scintillation counters have a large area that can detect radiation, the so-called effective detection area, and are easy to handle. It is used in the detection part of Funto Ushi Monitor,
Since the variation of the counting rate with respect to the radiation energy, so-called energy dependence °i, is large (see Fig. 2)2, there is an inconvenience that the measured value must be corrected in consideration of the energy of the radiation source.
このような問題を解決するため、放射!!検出器の検出
領域外周にアルミニュウムや鉛等の金属板を配設して放
射線エネルギーに対する計数率を均一化することも提案
されでいるが、検出器の構造か複雑化したつ大型化した
つするという新たな問題を招く。To solve such problems, use radiation! ! It has also been proposed to equalize the count rate for radiation energy by arranging a metal plate made of aluminum, lead, etc. around the detection area of the detector, but this would make the detector structure more complicated and larger. This brings about a new problem.
一方、半導体を用いた放射線検出器は、優れたエネルギ
ー分解性を備えている関係上、放射線エネルギーに対す
る計数率の補正を比較的簡単な回路構成により実現する
ことか可能である反面、有効検出面積か極めて小さいた
め、広い面積を測定対象にするサーへイメータやフット
モニター等の放射線測定装置の検出器には不向きである
という問題かある。On the other hand, since radiation detectors using semiconductors have excellent energy resolution, it is possible to correct the count rate for radiation energy with a relatively simple circuit configuration, but on the other hand, the effective detection area is limited. However, because it is extremely small, it is unsuitable for use as a detector in radiation measuring devices such as radiation meters and foot monitors that measure large areas.
(目的)
本発明はこのような事情に鑑みでなされたものであって
、その目的とするところはガイガーミューラ管やシンチ
レーションカウンタの長所と半導体検出器の長所を積極
的に利用して、大型化や槽雑化を招くことのない計数率
時゛注が均一でしかも検出領域か大きい新規な放射線測
定装置を提供することにある。(Purpose) The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to actively utilize the advantages of Geiger-Mueller tubes and scintillation counters and the advantages of semiconductor detectors to increase the size of the detector. The object of the present invention is to provide a new radiation measuring device which has a uniform counting rate and a large detection area without causing clutter or tank clutter.
(構成)
そこで以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づいて
説明する。(Structure) The details of the present invention will be described below based on illustrated embodiments.
第1図は本発明の一実施例を示すものであって、図中符
号1は、放射線jiを検出する主検出器をなすガイガー
ミューラ管で、陽極1aは高電圧発生回路2からの高電
圧か印加され、陰極1bは負荷抵抗R1を介して接地さ
れ、接続点がコンデンサCを介して分周器3に接続され
でいる。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, in which reference numeral 1 is a Geiger-Mueller tube that serves as a main detector for detecting radiation ji, and an anode 1a is a high voltage generator 2 that generates a high voltage. is applied, the cathode 1b is grounded via the load resistor R1, and the connection point is connected to the frequency divider 3 via the capacitor C.
4は、少なくともガイガーミューラ管]の感度領域では
放射線エネルギーに対して出力信号のレベルか単調に変
化する半導体放射線検出器で(第2図8)、ガイガーミ
ューラ管]の検出領域の近傍に配設されでいるとともに
、これのアノードは接地され、カンートは増幅器5を介
して後述するエネルギー分析回路6に接続されている。4 is a semiconductor radiation detector whose output signal level changes monotonically with respect to radiation energy at least in the sensitivity region of the Geiger-Mueller tube (Fig. 2, 8), and is placed near the detection region of the Geiger-Mueller tube. In addition, its anode is grounded, and its anode is connected via an amplifier 5 to an energy analysis circuit 6, which will be described later.
6は、前述のエネルギー分析回路で、入力端子か増幅器
5からの信号を、比較端子か基準信号Vs、、Sフ、V
S3を受けるコンパレータ6a、6b、6cからなり、
各基準信号■S1、VS2、VS3は、ガイガーミュー
ラ管]の計数率が放射線エネルギーにより変動する領域
にあける半導体放射線検出器5の出力レベルに合わせて
設定されでいる。7は、エネルギー分析回路6からの出
力信号によって出力すべきクロック信号の緑つ返し周波
数を変えてサンプリング時間を変更する可変周波発振回
路で、直列接続した2つのインバータ7a、7bの入出
力端問ヲコンデンサ7C及び抵抗7dの直列回路により
正帰還をかけるとともに、2つのインバータ7a、7b
の接続点と帰還路の間にコンパレータ6a、6b、6c
からの信号により作動するアナログスイッチ7e、7f
、79を介して抵抗7h、7j、7kを選択的に接続可
能とされた帰還型発振回路から構成されでいる。これら
各抵抗7h、ア〕、7には、領域工〜mでの発振周波数
か基準計数率領域■の周波数に対しで反比例する値に設
定されている。8は、サンブリジグゲートで、一方の入
力端子が分周器3の出力端子に、他方の入力端子か可変
周波発振回路7の出力端子に接続されている。9は、カ
ウンタで、サシブリングゲート8がら出力されたパルス
信号を計数しで、その計数内容を表示回路10を介して
表示器11に出力する一方、サンプリングゲート8が開
となる直前に計数内容をクリアするように構成されてい
る。6 is the energy analysis circuit described above, which inputs the signal from the input terminal or the amplifier 5 to the comparison terminal or the reference signal Vs, S, V.
Consisting of comparators 6a, 6b, and 6c receiving S3,
Each of the reference signals S1, VS2, and VS3 is set in accordance with the output level of the semiconductor radiation detector 5 in a region where the counting rate of the Geiger-Mueller tube varies depending on the radiation energy. Reference numeral 7 denotes a variable frequency oscillation circuit that changes the sampling time by changing the green repetition frequency of the clock signal to be output according to the output signal from the energy analysis circuit 6. Positive feedback is applied by a series circuit of a capacitor 7C and a resistor 7d, and two inverters 7a and 7b are connected.
Comparators 6a, 6b, 6c are connected between the connection point and the return path.
Analog switches 7e and 7f operated by signals from
, 79 to which resistors 7h, 7j, and 7k can be selectively connected. Each of these resistors 7h, A], 7 is set to a value that is inversely proportional to the oscillation frequency in the regions 1 to 2 or the frequency in the reference count rate region 3. Reference numeral 8 denotes a sunbrush gate, one input terminal of which is connected to the output terminal of the frequency divider 3, and the other input terminal connected to the output terminal of the variable frequency oscillation circuit 7. 9 is a counter that counts the pulse signals output from the subsibling gate 8, and outputs the counted content to the display 11 via the display circuit 10, and also outputs the counted content to the display 11 immediately before the sampling gate 8 is opened. is configured to clear.
12は、エネルギー特′1表示回路で、エネルギー分析
回路6からの出力に対応させて表示器13に大略のエネ
ルギーを表示させるものである。なお図中符号R,,R
2、日3は、基準信号を発生するための分圧抵抗を示す
。Reference numeral 12 denotes an energy characteristic display circuit for displaying the approximate energy on the display 13 in correspondence with the output from the energy analysis circuit 6. In addition, the symbols R,,R in the figure
2. Day 3 shows a voltage dividing resistor for generating a reference signal.
この実施例においで、装置を放射線源に近づけて基準計
数率でのパルスを生しるエネルギー領域(第2図N)の
放射線かガイガーミューラ管1と半導体放射線検出器4
に入射すと、ガイガーミューラ管1は、基準計数率でも
って放電を王じてパルスを分周器3に出力する。同時に
半導体放射線検出器4は、入射した放射線のエネルギー
に比例して極めで高い波高値を持つパルスを出力する。In this embodiment, when the device is brought close to the radiation source, a Geiger-Mueller tube 1 and a semiconductor radiation detector 4 are used to detect radiation in the energy range (N in FIG. 2) that produces pulses at a reference count rate.
, the Geiger-Mueller tube 1 generates a discharge at a reference counting rate and outputs a pulse to the frequency divider 3. At the same time, the semiconductor radiation detector 4 outputs a pulse having an extremely high peak value in proportion to the energy of the incident radiation.
このパルスは増幅器5で増幅された後、エネルギー分析
回路6に入力して各基準信号Vs、、VS2.VS3と
比較される。今の場合には入射したパルスの波高値が極
めで高いため、コンパレータ6a〜6Cのいづれからも
信号か出力される。これにより、可変周波発振回路7は
、基準周波数のクロック信号をサンプリングゲート8に
出力する。サンプリングゲート8は、可変周波発振回路
6からの周波数に対応した時間T1をもっで分周器3か
ら信号をカウンタ9に出力する(第3図工)。これによ
つ、カウンタ9に入力する1サンプリングサイクル当り
のパルス数か補正を受けることなく放射線量に一敗した
測定結果か表示器11に表示されることになる。After this pulse is amplified by an amplifier 5, it is input to an energy analysis circuit 6 for each reference signal Vs, VS2 . Compare with VS3. In this case, since the peak value of the incident pulse is extremely high, a signal is output from each of the comparators 6a to 6C. Thereby, the variable frequency oscillation circuit 7 outputs a clock signal of the reference frequency to the sampling gate 8. The sampling gate 8 outputs the signal from the frequency divider 3 to the counter 9 with a time T1 corresponding to the frequency from the variable frequency oscillation circuit 6 (Fig. 3). As a result, the number of pulses per sampling cycle inputted to the counter 9 is not corrected, and the measurement result that is determined by the radiation dose is displayed on the display 11.
一方、計数率か極めて大きくなるエネルギー領域(第2
図工)の放射線がガイガーミューラ管]と半導体放射線
検出器4に入射すと、ガイガーミューラ管1は、この入
射した放射線のエネルギーに対応した計数率でもって放
電を生じて繰り返し周波数の高いパルスを分周器3に出
力する。On the other hand, the energy region (second
When the radiation of the radiation source (Fig. Output to frequency generator 3.
同時に半導体放射線検出器4は、入射した放射線のエネ
ルギーに比例しで極めて低い波高値を持つパルスを出力
する。このパルスは増幅器5で増幅された後、エネルギ
ー分析回路6に入力して各基準信号VSt 、VS2
、VS3と比較される。今の場合には入射したパルスの
波高値が極めて低いため、コンパレータ6a〜6Cのい
づれからも信号は出力されないにれにより、可変周波発
振回路7は、計数率の増加に見合う高い周波数のクロッ
ク信号をサンプリングゲート8に出力する。At the same time, the semiconductor radiation detector 4 outputs a pulse having an extremely low peak value in proportion to the energy of the incident radiation. After this pulse is amplified by an amplifier 5, it is inputted to an energy analysis circuit 6 to provide each reference signal VSt, VS2.
, compared with VS3. In this case, since the peak value of the incident pulse is extremely low, no signal is output from any of the comparators 6a to 6C, and the variable frequency oscillation circuit 7 receives a high frequency clock signal commensurate with the increase in the counting rate. is output to the sampling gate 8.
サシブリングゲート8は、可変周波発振回路6がらの周
波数に対応した時間T2をもって分周器3から信号をカ
ウンタ9に出力する(第3図II )。これにより、カ
ウンタ9に入力する1サンプリングサイクル当りのパル
ス数か抑制され、ガイガーミューラ管]ての計数率の上
昇に関わりなく放射線量に一敗した測定結果が表示器1
1に表示されることになる。The sustaining gate 8 outputs the signal from the frequency divider 3 to the counter 9 at a time T2 corresponding to the frequency of the variable frequency oscillation circuit 6 (FIG. 3 II). As a result, the number of pulses per sampling cycle input to the counter 9 is suppressed, and regardless of the increase in the counting rate of the Geiger-Mueller tube, the measurement result that is completely defeated by the radiation dose is displayed on the display 1.
1 will be displayed.
以下、このようにして半導体放射線検出器4から出力さ
れる信号の波高値を逐一検出しなから可変周波発振回路
7の周波数を変更させてサンプリングサイクルを制御し
、単位数it線量に対するカウンタ9の計数値を一定に
調整していく。Hereinafter, the peak value of the signal output from the semiconductor radiation detector 4 is detected one by one in this way, and the frequency of the variable frequency oscillation circuit 7 is changed to control the sampling cycle, and the counter 9 is calculated for the unit number of doses. Adjust the counted value to a constant value.
また、エネルギー特牲表示回路]2は、エネルギー分析
回路6からの信号に対応して、入射した放射線の大略の
エネルギーを表示器]3に表示させて、オペレータに放
射線源の種類についでの情報を提供する。In addition, the energy characteristic display circuit] 2 displays the approximate energy of the incident radiation on the display] 3 in response to the signal from the energy analysis circuit 6 to provide the operator with information about the type of radiation source. I will provide a.
第4図は、本発明の第2の実施例を示すものであって、
図中符号20は、分周比可変型分周器であって、その入
力端子にはガイガーミューラ管1からの出力パルスが、
また制御端子には前述したエネルギー分析回路6からの
信号か入力しでいて、放射線のエネルギに対応させて分
局比を変更するように構成されている。2]は、一定の
繰り返し周波数のクロック発振器で、一方の入力端子に
分周比可変型分周器20からの信号か入力しているサン
プリングゲート8の他方の入力端子に一定時間幅のサン
プリングパルスを出力するものである。FIG. 4 shows a second embodiment of the present invention,
Reference numeral 20 in the figure represents a frequency divider with a variable division ratio, and the output pulse from the Geiger-Mueller tube 1 is input to the input terminal of the frequency divider.
Further, a signal from the energy analysis circuit 6 described above is input to the control terminal, and the branching ratio is changed in accordance with the energy of the radiation. 2] is a clock oscillator with a constant repetition frequency, and one input terminal receives a signal from the variable division ratio frequency divider 20, and the other input terminal of the sampling gate 8 receives a sampling pulse with a constant time width. This outputs the following.
この実施例においで、ガイガーミューラ管1か基準計数
率でパルスを出力するエネルギー(第2図■)を持った
放射線がガイガーミューラ管1に入射すると、半導体放
射線検出器4から波高値の低いパルスが出力される。エ
ネルギー分析回路6は、このパルスの波高値に基づいて
可変分周器2oの分周比を基準値に保持させ、サンプリ
ングゲート8に入力するガイガーミューラ管1からのパ
ルス数を基準値に保持させる。In this embodiment, when the Geiger-Mueller tube 1 receives radiation having the energy (■ in Figure 2) to output a pulse at the standard count rate, the semiconductor radiation detector 4 outputs a pulse with a low peak value. is output. The energy analysis circuit 6 maintains the frequency division ratio of the variable frequency divider 2o at a reference value based on the peak value of this pulse, and maintains the number of pulses from the Geiger-Mueller tube 1 input to the sampling gate 8 at the reference value. .
一方、ガイガーミューラ管]の計数率を上昇せしめるエ
ネルギーを持った放射線(第2図工)かガイガーミュー
ラ菅1に入射すると、半導体放射線検出器4から波高値
の高いパルスが出力される。エネルギー分析回路6は、
このパルスの波高値に基づいて分周器20の分周比を上
昇させ、サンプリングゲート8に入力するガイガーミュ
ーラ管1からのパルスの繰り返し周波数を減少ざぜる。On the other hand, when radiation (see Fig. 2) having the energy to increase the counting rate of the Geiger-Mueller tube enters the Geiger-Mueller tube 1, the semiconductor radiation detector 4 outputs a pulse with a high peak value. The energy analysis circuit 6 is
Based on the peak value of this pulse, the frequency division ratio of the frequency divider 20 is increased, and the repetition frequency of the pulse from the Geiger-Mueller tube 1 input to the sampling gate 8 is decreased.
これにより、計数率が高いエネルギー帯の放射線に対し
では一定時間内にカウンタ9に入力するパルス数を減少
させ、また計数率が落るエネルギー帯に対してはパルス
数を増加させて放射線のエネルギーに関わりなく一定の
計数率でもって表示を行わせる。As a result, the number of pulses input to the counter 9 within a certain time is reduced for radiation in an energy band where the counting rate is high, and the number of pulses is increased for an energy band where the counting rate is low, thereby increasing the energy of the radiation. To perform display at a constant counting rate regardless of the
第5図は、本発明の第3の実施例を示すものであって、
図中符号22は電圧可変型高電圧発生回路で、出力端子
かガイガーミューラ管]の陽極1aに、また電圧制御端
子はエネルギー分析回路6の出力端子に接続され、ガイ
ガーミューラ管1のからのパルスは、分周器3で一定比
率で分局されたのち、クロック発振器21からの一定周
波数で開閉されるサンプリングゲート8を通ってカウン
タ9に入力するように構成されている。FIG. 5 shows a third embodiment of the present invention,
Reference numeral 22 in the figure is a voltage variable type high voltage generation circuit, whose output terminal is connected to the anode 1a of the Geiger-Mueller tube, and whose voltage control terminal is connected to the output terminal of the energy analysis circuit 6. is divided at a constant ratio by a frequency divider 3, and then inputted to a counter 9 through a sampling gate 8 which is opened and closed at a constant frequency from a clock oscillator 21.
この実施例によれば、エネルギー分析回路6からの信号
により電圧可変型高電圧発生回路22の出力電圧を調整
して、入射した放射線に対応させでガイガーミューラ管
1自体の計数率を調整してエネルギ依存性を補正するこ
とができる。According to this embodiment, the output voltage of the variable voltage high voltage generation circuit 22 is adjusted by the signal from the energy analysis circuit 6, and the counting rate of the Geiger-Mueller tube 1 itself is adjusted in accordance with the incident radiation. Energy dependence can be corrected.
なあ、この実施例においては、ガイガーミューラ管の感
度領域を4つに分割しでいるか、感度領域の分割数は主
検出器のエネルギー依存性や必要とする精度との兼ね合
いにより定まる設計的事項であって、これに限られるも
のではない。In this example, the sensitivity region of the Geiger-Mueller tube is divided into four, or the number of divisions of the sensitivity region is a design matter determined by the energy dependence of the main detector and the required accuracy. Yes, but it is not limited to this.
なお、この実施例においては、半導体放射線検出器をガ
イガーミューラ管に対して独立しで設けでいるか、ガイ
ガーミューラ管の内部に収容することにより検出部の小
型化を図ることかできる。In this embodiment, the semiconductor radiation detector can be provided independently of the Geiger-Mueller tube, or it can be housed inside the Geiger-Mueller tube, thereby reducing the size of the detection section.
ざらに、上述した実施例においではガイガーミューラ管
における計数率のエネルギー依存性を補正する場合に例
を採って説明したが、計数率か放射線エネルギーに依存
する他の放射線検出器、例えばシンチレーションカウン
タ等を用いた放射線測定装置に適用しても同様の作用を
奏することは明らかである。Briefly, in the above-mentioned embodiment, the case where the energy dependence of the count rate in a Geiger-Mueller tube is corrected was taken as an example, but other radiation detectors that depend on the count rate or radiation energy, such as scintillation counters It is clear that the same effect can be achieved even when applied to a radiation measuring device using
(効果)
以上、説明したように本発明によれば、エネルギー分解
性のない放射線検出器の近傍に半導体放射線検出器を並
設しで、半導体放射線掲出器からの出力により入射した
放射線のエネルギーを検出しで、これに基づいて主検出
器の計数率を電気的な手法によって制御するようにした
ので、構造の簡素化を維持しつつ広い検出領域と一定な
計数率特性を持った放射線測定装置を実現することがで
きる。(Effects) As explained above, according to the present invention, a semiconductor radiation detector is installed in parallel near a radiation detector with no energy resolving property, and the energy of incident radiation is absorbed by the output from the semiconductor radiation display device. Based on this, the count rate of the main detector is controlled electrically, resulting in a radiation measurement device that maintains a simple structure and has a wide detection area and constant count rate characteristics. can be realized.
第1図は本発明の一実施例を示す装置のブロック図、第
2図は同上装置に使用するガイガーミューラ管における
計数率のエネルギ依存性及び半導体放射線検出器のエネ
ルギに対する出力レベルの変化を示す特性図、第3図は
同上装置の動作を示す説明図、第4.5図はそれぞれ本
発明の他の実施例を示すブロック図である。
] ・・・・ガイガーミューラ管
4・・・・半導体放射線検出器
6・・・・エネルギー分析回路
8・・・・サンプリングゲート
出願人 オリエント時計株式会社
代理人 弁理士 西 川 慶 治
同 木村勝彦
第2図
第3図Fig. 1 is a block diagram of a device showing an embodiment of the present invention, and Fig. 2 shows the energy dependence of the count rate in the Geiger-Mueller tube used in the same device and the change in output level with respect to energy of the semiconductor radiation detector. A characteristic diagram, FIG. 3 is an explanatory diagram showing the operation of the same device, and FIG. 4.5 is a block diagram showing another embodiment of the present invention. ] ...Geiger-Mueller tube 4 ...Semiconductor radiation detector 6 ...Energy analysis circuit 8 ...Sampling gate Applicant Orient Watch Co., Ltd. Agent Patent attorney Haruto Nishikawa Katsuhiko Kimura Figure 2 Figure 3
Claims (1)
からなる主検出器と、該検出器の検出領域近傍に配設さ
れた半導体放射線検出器と、該半導体検出器からの出力
レベルに基づいて放射線のエネルギーを判定する手段と
、該手段の判定結果に基づいて主検出器の計数率を制御
する手段を備えてなる放射線測定装置。A main detector consisting of a Geiger-Mueller tube or a scintillation counter, a semiconductor radiation detector disposed near the detection area of the detector, and means for determining radiation energy based on the output level from the semiconductor detector. , a radiation measuring device comprising means for controlling the counting rate of the main detector based on the determination result of the means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6695386A JPS62222181A (en) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | Apparatus for measuring radioactive rays |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6695386A JPS62222181A (en) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | Apparatus for measuring radioactive rays |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62222181A true JPS62222181A (en) | 1987-09-30 |
Family
ID=13330893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6695386A Pending JPS62222181A (en) | 1986-03-24 | 1986-03-24 | Apparatus for measuring radioactive rays |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62222181A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013101095A (en) * | 2011-10-12 | 2013-05-23 | Rigaku Corp | Radiation measurement device, data communication system therefrom, and radiation anomaly identification system |
-
1986
- 1986-03-24 JP JP6695386A patent/JPS62222181A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013101095A (en) * | 2011-10-12 | 2013-05-23 | Rigaku Corp | Radiation measurement device, data communication system therefrom, and radiation anomaly identification system |
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