JPS6161643A - 触媒組成物 - Google Patents
触媒組成物Info
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- JPS6161643A JPS6161643A JP59183882A JP18388284A JPS6161643A JP S6161643 A JPS6161643 A JP S6161643A JP 59183882 A JP59183882 A JP 59183882A JP 18388284 A JP18388284 A JP 18388284A JP S6161643 A JPS6161643 A JP S6161643A
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Landscapes
- Catalysts (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
- Low-Molecular Organic Synthesis Reactions Using Catalysts (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明の触媒は表面積の小さい粒状の坦体または基体と
、このノ、(体−Lにスパッタされた薄膜複合付着物を
含む。
、このノ、(体−Lにスパッタされた薄膜複合付着物を
含む。
坦体物質は小さな表面積を有し、使用反応条件で安定で
ある。耐火物質、例えば5in2. AIユ0□TiO
2、MgO、Sin: 、及びS r s N+のよう
な酸化物。
ある。耐火物質、例えば5in2. AIユ0□TiO
2、MgO、Sin: 、及びS r s N+のよう
な酸化物。
窒化物及び炭化物が好ましい、安定性の要求を満足する
ガラスも使用できる。特に好ましいものはAl2O,及
び5in2Lである。粒状坦体の表面積は好ましくはl
Om”/g以下である0粒子寸法は重要でないが、製造
の容易さから、以下に記載するように100gm以上で
あることが好ましい。
ガラスも使用できる。特に好ましいものはAl2O,及
び5in2Lである。粒状坦体の表面積は好ましくはl
Om”/g以下である0粒子寸法は重要でないが、製造
の容易さから、以下に記載するように100gm以上で
あることが好ましい。
スパッタされた薄膜複合付着物は、Pt、 Pd、Ag
、Au、Re、 Rh、 Ru及びIrc7)ような1
またはそれ以上の触媒的活性金属及び共スパッタ坦体物
質を含む。共スパッタ坦体物質は好ましくは酸化物、窒
化物または炭化物であり、更に好ましくは基体への良好
な結合及び付着を得るために粒状坦体物質と同一物質で
ある。共スパッタ坦体物質及び坦体物質として特に好ま
しいものは酸化物A1□0.及びSiO□である。
、Au、Re、 Rh、 Ru及びIrc7)ような1
またはそれ以上の触媒的活性金属及び共スパッタ坦体物
質を含む。共スパッタ坦体物質は好ましくは酸化物、窒
化物または炭化物であり、更に好ましくは基体への良好
な結合及び付着を得るために粒状坦体物質と同一物質で
ある。共スパッタ坦体物質及び坦体物質として特に好ま
しいものは酸化物A1□0.及びSiO□である。
複合スパッタコーティング、即ち付着物は、金属及び共
スパッタ坦体物質の単一ターゲットからの、または金属
または合金及び共スパッタ坦体物質の別々のターゲ”/
トからの同時または後続的なスパッタリングにより生
成される。複合スパッタ付a物が2個の金属及び共スパ
ッタ坦体物質を含む場合について説明すれば、l、2、
または3個のターゲットを使用できる。1ターゲツトは
全3物質から製造される。2ターゲツトは1個の・くと
1個の共スパッタ坦体物質、または 1個の金属−強
スパフタ坦体物質と 1個の他の金属とからなる。3タ
ーゲツトは各金属と共スパッタ坦体物質の夫々のターゲ
ットからなる。
スパッタ坦体物質の単一ターゲットからの、または金属
または合金及び共スパッタ坦体物質の別々のターゲ”/
トからの同時または後続的なスパッタリングにより生
成される。複合スパッタ付a物が2個の金属及び共スパ
ッタ坦体物質を含む場合について説明すれば、l、2、
または3個のターゲットを使用できる。1ターゲツトは
全3物質から製造される。2ターゲツトは1個の・くと
1個の共スパッタ坦体物質、または 1個の金属−強
スパフタ坦体物質と 1個の他の金属とからなる。3タ
ーゲツトは各金属と共スパッタ坦体物質の夫々のターゲ
ットからなる。
複合スパッタ付着物は各成分の均一な混合物であること
が好ましい。これは全成分を単一ターゲットから発生さ
せることにより容易に達成できる。この場合1粒状用体
はスパッタの間振動または回転させて混合できる0例え
ば、圧電気ドライバーまたはオーディオスピーカーに連
結した血中の粒子を振動させることにより、または皿に
連結した操作アームにより手で攪拌することにより粒子
を混合でき、若しくはスパッタリングを中断してスパッ
タリング室の外で粒子を混合してもよい、複数のターゲ
ットから同時に/後続的にスパッタリングする場合、ス
パッタリングは数回中断し、粒子は室外で混合される。
が好ましい。これは全成分を単一ターゲットから発生さ
せることにより容易に達成できる。この場合1粒状用体
はスパッタの間振動または回転させて混合できる0例え
ば、圧電気ドライバーまたはオーディオスピーカーに連
結した血中の粒子を振動させることにより、または皿に
連結した操作アームにより手で攪拌することにより粒子
を混合でき、若しくはスパッタリングを中断してスパッ
タリング室の外で粒子を混合してもよい、複数のターゲ
ットから同時に/後続的にスパッタリングする場合、ス
パッタリングは数回中断し、粒子は室外で混合される。
複数ターゲラI・の場合、スパッタ成分の良好な混合物
を与えるために、坦体粒子の乗っているテーブルを回転
することが必要である。テーブルの毎分の回転速度は各
成分の良好な混合の為に十分な速さである。かかる回転
を伴なって製造されたAg/SiO□複合物の場合複合
線回折及び透過電子マイクロスコピーにより、複合フィ
ルムはアモルファス5iOzマトリツクス中に分散した
直径100五 以下のAg粒子からなることが確認され
た。好ましい坦体粒子の寸法は100 ルm以上であ
る。これ以下では粒子の混合及び十分な被覆が困難であ
る。上限寸法は使用する装置及び方法での触媒坦体とし
ての有用性により制限されるのみである。
を与えるために、坦体粒子の乗っているテーブルを回転
することが必要である。テーブルの毎分の回転速度は各
成分の良好な混合の為に十分な速さである。かかる回転
を伴なって製造されたAg/SiO□複合物の場合複合
線回折及び透過電子マイクロスコピーにより、複合フィ
ルムはアモルファス5iOzマトリツクス中に分散した
直径100五 以下のAg粒子からなることが確認され
た。好ましい坦体粒子の寸法は100 ルm以上であ
る。これ以下では粒子の混合及び十分な被覆が困難であ
る。上限寸法は使用する装置及び方法での触媒坦体とし
ての有用性により制限されるのみである。
特にRFスパッタリングは好ましい共スパッタ坦体物質
ターゲットに適合する。@初に1通常の真空ポンプによ
りスパッタリング室を 10〜10トルに排気する。少
量のアルゴンガスを供給し、スパッタされるべきターゲ
ット物質と坦体テーブルとの間に13.58 MHzの
イオン化RFフィールドを適用する。正にチャージした
アルゴンイオンが負の電位のターゲットに向って加速さ
れる。アルゴンイオンがターゲットの金属種を打出し、
これが坦体上に付着する。アルゴンの圧力は通常は5×
1O〜20XlOトルであるが、他の圧力も使用できる
。ネオン、クリプトン、キセノンのような他の不活性ガ
スも使用できるが、アルゴンが安価で容易に人手でき且
つスパッタリング収率が良いので好ましい0本方法はR
Fスパッタリングに限定されず、他のスパッタリング、
例えば別の加速イオン源を使用するイオンビーム スパ
ッタリング、またはRFまたはDOマグネトロン(増強
された磁気フィールド)スパッタリングのいずれかによ
り実施できる。
ターゲットに適合する。@初に1通常の真空ポンプによ
りスパッタリング室を 10〜10トルに排気する。少
量のアルゴンガスを供給し、スパッタされるべきターゲ
ット物質と坦体テーブルとの間に13.58 MHzの
イオン化RFフィールドを適用する。正にチャージした
アルゴンイオンが負の電位のターゲットに向って加速さ
れる。アルゴンイオンがターゲットの金属種を打出し、
これが坦体上に付着する。アルゴンの圧力は通常は5×
1O〜20XlOトルであるが、他の圧力も使用できる
。ネオン、クリプトン、キセノンのような他の不活性ガ
スも使用できるが、アルゴンが安価で容易に人手でき且
つスパッタリング収率が良いので好ましい0本方法はR
Fスパッタリングに限定されず、他のスパッタリング、
例えば別の加速イオン源を使用するイオンビーム スパ
ッタリング、またはRFまたはDOマグネトロン(増強
された磁気フィールド)スパッタリングのいずれかによ
り実施できる。
複数ターゲットからのスパッタリングの利点は各ターゲ
ットの電圧を変更することにより共スパッタされた触媒
の組成を変え得ることである。
ットの電圧を変更することにより共スパッタされた触媒
の組成を変え得ることである。
例えば、溶融シリカ粒子上に八g/5iO2Lの組成を
形成する場合、5iOzターゲツトの約1500Vに対
して1g9−ゲyト(1)電圧を100V、 250V
、 500V、750v及び100OVに’dJfDし
た同一持続時間の実験において、八8のC度は各0.0
38%、0.175%、0.83%、1.22%及び1
.87%(基体及びスパッタ複合物の全重量に基すいて
)に制御された。この電圧範囲において、スパッタ付着
物中のAgの容積濃度は4%(100V) カラ70%
(100OV ) 、残部(fsi02.、 マチ変化
した。
形成する場合、5iOzターゲツトの約1500Vに対
して1g9−ゲyト(1)電圧を100V、 250V
、 500V、750v及び100OVに’dJfDし
た同一持続時間の実験において、八8のC度は各0.0
38%、0.175%、0.83%、1.22%及び1
.87%(基体及びスパッタ複合物の全重量に基すいて
)に制御された。この電圧範囲において、スパッタ付着
物中のAgの容積濃度は4%(100V) カラ70%
(100OV ) 、残部(fsi02.、 マチ変化
した。
別々の金属ターゲット及び非金属ターゲットからの複数
金属触媒のスパッタリング、例えば5iOL上のAg/
Au/5iO1,においては、金属の割合もターゲット
電圧によってM制御できる。 Ag/Au/5i01フ
イルムはAg/Au原子比が3515.88/12 、
75/25 、85/35及び60ハ0で製造できた。
金属触媒のスパッタリング、例えば5iOL上のAg/
Au/5iO1,においては、金属の割合もターゲット
電圧によってM制御できる。 Ag/Au/5i01フ
イルムはAg/Au原子比が3515.88/12 、
75/25 、85/35及び60ハ0で製造できた。
これらの比は、(式中、Rはスパッタリング速度及びV
はスパッタリング電圧である)に従って予測できる方法
(例えば、Handobook of Th1n fi
lm Technology、Maissel and
Gland )でスパッタリング電圧に依存する。非
金属に対する全金属の相対濃度は共スパッタ非金属ター
ゲット(SiO2,)に対する全金属ターゲット電圧(
VA、 + −)を調節することにより制御できる。
はスパッタリング電圧である)に従って予測できる方法
(例えば、Handobook of Th1n fi
lm Technology、Maissel and
Gland )でスパッタリング電圧に依存する。非
金属に対する全金属の相対濃度は共スパッタ非金属ター
ゲット(SiO2,)に対する全金属ターゲット電圧(
VA、 + −)を調節することにより制御できる。
Ag/Au/Sin□複合VI膜はAg/Au合金ター
合金タープントO□ターゲットからスパッタリングによ
り製造できる。溶融シリカを原子比130 AgハOA
uの合金ターゲット及び5j02ターゲツトからのスパ
ッタにより被覆した。約1500Vの5i02に対し合
金ターゲット電圧を500v、750v及びtooov
とした同一持続時1#J1のスパッタリング実験におい
て、金属濃度は重量で0.46−1.15−1.79%
に変化した。全ケースにおいてフィルム中のAg/A
u原子比は原子吸収分析によりターゲットと同一の80
Ag/40 Auであることが確認された。
合金タープントO□ターゲットからスパッタリングによ
り製造できる。溶融シリカを原子比130 AgハOA
uの合金ターゲット及び5j02ターゲツトからのスパ
ッタにより被覆した。約1500Vの5i02に対し合
金ターゲット電圧を500v、750v及びtooov
とした同一持続時1#J1のスパッタリング実験におい
て、金属濃度は重量で0.46−1.15−1.79%
に変化した。全ケースにおいてフィルム中のAg/A
u原子比は原子吸収分析によりターゲットと同一の80
Ag/40 Auであることが確認された。
Ag/5i02またはAg/^u/5s02コーチング
は単一の複合ターゲットから製造することもできる0例
えば、Ag/SiO□ターゲットは微粉砕したAg及び
S r 02粉末を88/12の重量比でボールミル中
で混合して製造できる。混合粉末は10,0001bg
で直径2インチの円板に圧縮され、空気中640℃で1
6時間焼成される。得られた円板はターゲットとして複
合触媒の製造に使用される。これらのターゲットから得
られた薄膜のX線回折はアモルファス シリカマトリッ
クス中に分散した直径約55λのAg微粒子を確認した
。これらの結果は回転する基体上に別々のAg及びSi
O□ターゲットからのスパッタリングにより得られたも
のと類似している。
は単一の複合ターゲットから製造することもできる0例
えば、Ag/SiO□ターゲットは微粉砕したAg及び
S r 02粉末を88/12の重量比でボールミル中
で混合して製造できる。混合粉末は10,0001bg
で直径2インチの円板に圧縮され、空気中640℃で1
6時間焼成される。得られた円板はターゲットとして複
合触媒の製造に使用される。これらのターゲットから得
られた薄膜のX線回折はアモルファス シリカマトリッ
クス中に分散した直径約55λのAg微粒子を確認した
。これらの結果は回転する基体上に別々のAg及びSi
O□ターゲットからのスパッタリングにより得られたも
のと類似している。
スパッタされた複合付着物の表面積は、フィルムあ厚さ
に無関係な平滑な蒸着またはスパッタ金属フィルムの表
面積とは対象的に、コーティングフィルムの厚さの増加
に従って増加する。このことは回転基体テーブルLの#
融シリカ粒子に別々のAg及びSiO□ターゲットから
スパッタリングして製造したAg/SiO2複合付着物
についての第1表に説明されている。
に無関係な平滑な蒸着またはスパッタ金属フィルムの表
面積とは対象的に、コーティングフィルムの厚さの増加
に従って増加する。このことは回転基体テーブルLの#
融シリカ粒子に別々のAg及びSiO□ターゲットから
スパッタリングして製造したAg/SiO2複合付着物
についての第1表に説明されている。
1−±−1
銀ターゲット電圧 スパッタ時間 表面積V ポ
ルト −エ旭、ニー 工11□500
3 0.112500
8 0.1837
50 3 0.
124750 8
0.2451000 3
0.1491000
fi 0.313溶融シリ力
粒子自体の表面積は無視できる程度(< 0.03+a
”/g )であるので、コーティング粒子の表面積は付
着物に帰する。実際の金属量の測定から、第1表におけ
る金属のみの表面積は約20m”/gであると3f価さ
れた。
ルト −エ旭、ニー 工11□500
3 0.112500
8 0.1837
50 3 0.
124750 8
0.2451000 3
0.1491000
fi 0.313溶融シリ力
粒子自体の表面積は無視できる程度(< 0.03+a
”/g )であるので、コーティング粒子の表面積は付
着物に帰する。実際の金属量の測定から、第1表におけ
る金属のみの表面積は約20m”/gであると3f価さ
れた。
木発IJJの触媒の作用は多数の特定の方法により立証
された。
された。
小表面積の溶融シリカ上にスパッタしたAg/SiO2
触媒は、同−坦体粒子上にスパッタしたAg単独触媒よ
りも酸化脱水素によるメタノールからのホルムアルデヒ
ド合成について活性であり、バルクAgのたんに1/1
00のAgM)なのにメタノールの高転化で少なくとも
同等の収量及び低転化で1〜2%増の収量を与える。溶
融シリカ粒子上のAg/MgO及びAg/Au/SiO
□付着物も商用の流速で高い活性度、選択性及び安定性
が得られる。
触媒は、同−坦体粒子上にスパッタしたAg単独触媒よ
りも酸化脱水素によるメタノールからのホルムアルデヒ
ド合成について活性であり、バルクAgのたんに1/1
00のAgM)なのにメタノールの高転化で少なくとも
同等の収量及び低転化で1〜2%増の収量を与える。溶
融シリカ粒子上のAg/MgO及びAg/Au/SiO
□付着物も商用の流速で高い活性度、選択性及び安定性
が得られる。
小表面積の溶融シリカ上にスパッタしたPd/!Jim
zフィルムの触媒は過酸化物合成における水素添加触媒
として高い安定性を示す。
zフィルムの触媒は過酸化物合成における水素添加触媒
として高い安定性を示す。
[実施例]
支ム亘ユニ」
溶融シリカしたへglsioz複合物からなる触媒をA
gと5i02.の別々のターゲットからの同時RFスパ
ッタリングにより製造した。溶融シリカ粒子(平均寸法
約2鵬−)をターゲット下方の回転基体 ・テーブル
上の数個のパイレックス皿に入れ、スパッタされた付着
物で被覆した。実施例1〜3では約1m2/gの及び実
施例4では約14gの溶融シリカを使用した。各ターゲ
ットに与えられた電圧を第2表に示す。
gと5i02.の別々のターゲットからの同時RFスパ
ッタリングにより製造した。溶融シリカ粒子(平均寸法
約2鵬−)をターゲット下方の回転基体 ・テーブル
上の数個のパイレックス皿に入れ、スパッタされた付着
物で被覆した。実施例1〜3では約1m2/gの及び実
施例4では約14gの溶融シリカを使用した。各ターゲ
ットに与えられた電圧を第2表に示す。
庇−ヱー1
実施例 銀ターゲット電圧 シリカターゲット−煕よ
VA ポルト IL菫ん(L口4
1000 140G各実
施例において、アルゴン圧は8XlO=トルに維持され
及び粒状坦体は5回転/分で回転させた。スパッタリン
グ室の外で定期的に粒子を混合しながら6時間スパッタ
リングを続けた。
VA ポルト IL菫ん(L口4
1000 140G各実
施例において、アルゴン圧は8XlO=トルに維持され
及び粒状坦体は5回転/分で回転させた。スパッタリン
グ室の外で定期的に粒子を混合しながら6時間スパッタ
リングを続けた。
これらの触媒はその後メタノールからのホルムアルデヒ
ドの合成に使用した。方法及び実験技術は米国特許第4
21.9509号(Rao及びN1elsen )に記
載されている。メタノールからホルムアルデヒドへの所
定の転化に関して、複合触媒を使用した収量はバルク銀
の場合よりも低転化で大きく及び高転化で少なくとも同
じであったが、Ag6度はバルクAg触媒の 1/+0
0にすぎなかった。「メタノール転化」とは供給メタノ
ールのモル当り他の生成物に転化したメタノールのモル
数を意味する。
ドの合成に使用した。方法及び実験技術は米国特許第4
21.9509号(Rao及びN1elsen )に記
載されている。メタノールからホルムアルデヒドへの所
定の転化に関して、複合触媒を使用した収量はバルク銀
の場合よりも低転化で大きく及び高転化で少なくとも同
じであったが、Ag6度はバルクAg触媒の 1/+0
0にすぎなかった。「メタノール転化」とは供給メタノ
ールのモル当り他の生成物に転化したメタノールのモル
数を意味する。
「ホルムアルデヒド選択性」とは転化されたメタノール
のモル当り形成されたホルムアルデヒドのモル数を意味
する0重量%金属(例えば、WtXAg)とは金属の重
量を坦体及びスパッタ付着物の合計重量で除して100
倍した値を意味する。結果をバルク銀の結果と併せて第
3表に示す。
のモル当り形成されたホルムアルデヒドのモル数を意味
する0重量%金属(例えば、WtXAg)とは金属の重
量を坦体及びスパッタ付着物の合計重量で除して100
倍した値を意味する。結果をバルク銀の結果と併せて第
3表に示す。
笈五皇」
AgとにgOの別々のターゲットからのRFスパッタリ
ングにより、溶融シリカ上にスパッタされたAg/Mg
O複合物から成る触媒を製造した0回転テーブル上の数
個のパイレックス皿に分道された約17gの溶融シリカ
(平均寸法的2 as)がスパッタ被覆された。スパッ
タ電圧はAg上で500V及びMgO上で1200Vで
あった。アルゴンの圧力は3X10 )ルに維持し及
び粒状坦体は5回転1分で回転した。
ングにより、溶融シリカ上にスパッタされたAg/Mg
O複合物から成る触媒を製造した0回転テーブル上の数
個のパイレックス皿に分道された約17gの溶融シリカ
(平均寸法的2 as)がスパッタ被覆された。スパッ
タ電圧はAg上で500V及びMgO上で1200Vで
あった。アルゴンの圧力は3X10 )ルに維持し及
び粒状坦体は5回転1分で回転した。
スパッタリング時間は8時間であり、定期的にスパッタ
リング室外で粒子を混合した。
リング室外で粒子を混合した。
この触媒はホルムアルデヒドの合成に使用し、その結果
を第3表に示した。
を第3表に示した。
支庭携」
Ag/5i02重量比88/12のAgとSiOユとを
均質に混合した複合固体ターゲットからのRFスパッタ
リングによりAg/S iO1複合触媒を製造した。1
個のパイレックス血中の約m2/gの溶融シリカ粒子(
平均寸法的2mm )をスパッタ被覆した。スパッタリ
ングの間、真空室中に在るアームを取り付けた皿を機械
的に動かして粒子を混合した。ターゲット電圧は220
0 Vであり、アルゴン圧は8×10 であり及びス
パッタリングしかんは2時間であった。
均質に混合した複合固体ターゲットからのRFスパッタ
リングによりAg/S iO1複合触媒を製造した。1
個のパイレックス血中の約m2/gの溶融シリカ粒子(
平均寸法的2mm )をスパッタ被覆した。スパッタリ
ングの間、真空室中に在るアームを取り付けた皿を機械
的に動かして粒子を混合した。ターゲット電圧は220
0 Vであり、アルゴン圧は8×10 であり及びス
パッタリングしかんは2時間であった。
ホルムアルデヒドの合成に使用した詩の結果を第3表に
示す。
示す。
1五M1
Ag/Au合金ターゲットと5iOzターゲツトからの
同時RFバッタリングにより、45重丑%金屈を含むA
g/Au/SiO□複合触奴を製造した0合金ターゲツ
トの組成はAg130原子%及びAu40原子%であっ
た。ターゲットの下方の回転テーブルL二の数個のパイ
レックス皿に分配された約10gの溶融シリカ粒子をス
パッタ付着物で被覆した。スパッタリング電圧は1合金
ターゲツトで500V及びSiO□で1700Vであっ
た。アルゴン圧は8X10 )ルに維持し及び粒子は
5回転/分で回転させた。スパッタリング時間は4時間
であり、定期的にスパッタリング室外で粒子を混合した
。実施例7(a)は触媒として60/40 Ag/Au
合金触奴を使用したコントロールである。
同時RFバッタリングにより、45重丑%金屈を含むA
g/Au/SiO□複合触奴を製造した0合金ターゲツ
トの組成はAg130原子%及びAu40原子%であっ
た。ターゲットの下方の回転テーブルL二の数個のパイ
レックス皿に分配された約10gの溶融シリカ粒子をス
パッタ付着物で被覆した。スパッタリング電圧は1合金
ターゲツトで500V及びSiO□で1700Vであっ
た。アルゴン圧は8X10 )ルに維持し及び粒子は
5回転/分で回転させた。スパッタリング時間は4時間
であり、定期的にスパッタリング室外で粒子を混合した
。実施例7(a)は触媒として60/40 Ag/Au
合金触奴を使用したコントロールである。
触媒はホルムアルデヒドの合成に使用した。結果を第3
表に示す。
表に示す。
出願友代理人弁収1:鈴江武彦
実施例 重量%Ag、 Ag/Au モル比−
籾一 、・ −、F−瓦乙五ヱヱニ上A バ
ルク(Ag) 0.2800.360 1 0、180 0.284(
Ag/5iOa) 0.3032
0.63 0.28(Ag/SiO
□) 0.3803 1
.2 0.285(Ag/S
iO□) a、3854
2.05 0.288(Ag
/Sin□) 0.3515
0.58 0.284
(Ag/MgO) 6 2.0
0.23B(Ag/Sin□) 7 4.5
0.258(Ag/^u/SiO□) 7(a) /<ルク(Ag/Au)
0.236〜−じL−一人一 床温度 転化メタノール ホルムアルデヒド選択
性℃ −一原一一一一〇 84.0 75.2 92.4
700 91.0 92.7f
19Q 6[f、9 94.
170G 77.8 93.
8895 75.4
93.071G 94.3
92.0695 7[1,79
3,070090,192,8
籾一 、・ −、F−瓦乙五ヱヱニ上A バ
ルク(Ag) 0.2800.360 1 0、180 0.284(
Ag/5iOa) 0.3032
0.63 0.28(Ag/SiO
□) 0.3803 1
.2 0.285(Ag/S
iO□) a、3854
2.05 0.288(Ag
/Sin□) 0.3515
0.58 0.284
(Ag/MgO) 6 2.0
0.23B(Ag/Sin□) 7 4.5
0.258(Ag/^u/SiO□) 7(a) /<ルク(Ag/Au)
0.236〜−じL−一人一 床温度 転化メタノール ホルムアルデヒド選択
性℃ −一原一一一一〇 84.0 75.2 92.4
700 91.0 92.7f
19Q 6[f、9 94.
170G 77.8 93.
8895 75.4
93.071G 94.3
92.0695 7[1,79
3,070090,192,8
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、表面積10m^2/g以下及び粒径100μm以上
の粒状坦体と、スパッタされその表面上に密接に付着し
た触媒活性な金属及び共スパッタ坦体物質とを含み、該
触媒活性金属は全触媒の0.01〜5.0重量%であり
及びスパッタされた付着物の3〜80容積%である複合
触媒。 2、共スパッタ坦体物質は粒状坦体と同一組成を有する
ことを特徴とする、特許請求の範囲第1項の触媒。 3、粒状坦体が耐火物であることを特徴とする、特許請
求の範囲1第2項の触媒。 4、粒状坦体が酸化物、窒化物、または炭化物であるこ
とを特徴とする、特許請求の範囲第3項の触媒。 5、粒状坦体がSiO_2、Al_2O_3、TiO_
2、SiCまたはSi_3N_4であることを特徴とす
る、特許請求の範囲第4項の触媒。 6、触媒活性金属がPt、Pd、Ag、Au、Re、R
h、RuまたはIr、若しくはこれらの混合物であるこ
とを特徴とする、特許請求の範囲第5項の触媒。 7、粒状坦体がAl_2O_3、SiO_2またはMg
Oであることを特徴とする、特許請求の範囲第6項の触
媒。 8、触媒活性金属がAg、Ag/Au、Pd、またはp
tであることを特徴とする、特許請求の範囲第7項の触
媒。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59183882A JPS6161643A (ja) | 1984-09-04 | 1984-09-04 | 触媒組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59183882A JPS6161643A (ja) | 1984-09-04 | 1984-09-04 | 触媒組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6161643A true JPS6161643A (ja) | 1986-03-29 |
Family
ID=16143474
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59183882A Pending JPS6161643A (ja) | 1984-09-04 | 1984-09-04 | 触媒組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6161643A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6057812A (en) * | 1992-02-20 | 2000-05-02 | Hitachi, Ltd. | Image display apparatus which both receives video information and outputs information about itself |
JP2010012437A (ja) * | 2008-07-06 | 2010-01-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 金属ナノ粒子担持無機酸化物触媒による環境調和型酸素酸化法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5220990A (en) * | 1975-06-10 | 1977-02-17 | Atomic Energy Authority Uk | Catalysts* its manufacture and catalytic gas phase reactions using same |
-
1984
- 1984-09-04 JP JP59183882A patent/JPS6161643A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5220990A (en) * | 1975-06-10 | 1977-02-17 | Atomic Energy Authority Uk | Catalysts* its manufacture and catalytic gas phase reactions using same |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6057812A (en) * | 1992-02-20 | 2000-05-02 | Hitachi, Ltd. | Image display apparatus which both receives video information and outputs information about itself |
JP2010012437A (ja) * | 2008-07-06 | 2010-01-21 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 金属ナノ粒子担持無機酸化物触媒による環境調和型酸素酸化法 |
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