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JPS6150007A - 表面形状測定用トレ−サ - Google Patents

表面形状測定用トレ−サ

Info

Publication number
JPS6150007A
JPS6150007A JP59172143A JP17214384A JPS6150007A JP S6150007 A JPS6150007 A JP S6150007A JP 59172143 A JP59172143 A JP 59172143A JP 17214384 A JP17214384 A JP 17214384A JP S6150007 A JPS6150007 A JP S6150007A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slider
reference position
stylus
base
tracer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP59172143A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0347688B2 (ja
Inventor
Hideo Morita
英夫 森田
Kenji Abiko
安孫子 賢二
Tetsuo Nakamura
哲夫 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd filed Critical Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority to JP59172143A priority Critical patent/JPS6150007A/ja
Priority to US06/765,953 priority patent/US4611403A/en
Priority to DE3529320A priority patent/DE3529320C2/de
Priority to DE3546889A priority patent/DE3546889C2/de
Priority to GB08520629A priority patent/GB2163256B/en
Publication of JPS6150007A publication Critical patent/JPS6150007A/ja
Publication of JPH0347688B2 publication Critical patent/JPH0347688B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/28Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/004Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
    • G01B7/008Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B7/012Contact-making feeler heads therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明(ま表面形状測定用トレーサ、特にワーク表面へ
の追従性に優れた高精度の表面形状測定用トレーサ°に
関するものである。
[従来の技術] ワークの表面形状を連続的に追従測定1゛る接触式表面
形状測定装置が周知であり、CNC三次元測定礪等に表
面形状測定用トレーサを装着し、このトレーサの触針を
ワークに接触させながら、このときの触針の三次元移動
座標を検出することによって、ワーク表面をトレースし
ながらその形状を知ることができ、複雑な形状のワーク
測定に極めて有用である。
従来において、この種のトレーサとしては例えば米国特
訂第3869799号が周知であり、三軸方向に自由に
検出ピンが移動可能であり、このピンをワークに沿って
追従させることによって所望の表面形状トレースを行う
ことがで″ぎる。この種の表面形状測定用トレーサは触
針が常時ワークに接触しており、このときの触釧の変位
mを測定しトレーづ自体の移動位置と前記測定された各
軸方向の胤針郡動蚤とを演算して所ソの表面座標が求め
られ、あるいは触針の変り′l昂をj:1時一定値に保
つようにトレーサ自体の8動を制御し、これによって1
〜レ一ザ自体の移動座標から表面の座標が記録される。
従って、いずれの場合にJ3いても触針は所定の押圧力
でワークに接触しており、特に触針の押圧力を全方向に
わたって一定に保つように基台に対して触針が況持・さ
れなければならず、このような安定した押圧力を19る
ためには各部における摩擦抵抗あるいはばね等のヒステ
リシス特性を著しく減少させなければならない。
首記従来装置においては、各軸方向に対して平行ばねを
用いて接触時の押圧力を確保し、また原点基準位置への
戻り力をりえているが、このような従来装置では板ばね
の固定時の位置精度のばらつき非線形特性、変形の程度
により発生°ツ°るZ軸゛    方向誤着等によって
トレーサの測定値に方向性が出てしまうという欠点があ
った。
また、従来においても、更に他の各種の表面形状測定用
トレー1すが!2案されていたが、これらはいずれも粘
動部の摩擦損失その池によって表面の追従性が−悪く、
形状測定「、rにトレーりを移動づる速度に限界が外じ
てしまい、良好な形状■す定を行うことができないとい
う問題があった。
[発明が解決しようとする問題点] 本発明は上記従来の課題に鑑み為されたものであり、そ
の目的は、触針のあるゆる方向への接触に対しても一定
の安定した測定圧で測定でき、また原点基準位置への戻
り特性に優れた追従性の良い表面形状測定用トレーサを
提供することにある。
[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するために、本発明は、基台に対してそ
れぞれ直交方向に移動自在なX、Y、Zスライダを有し
、それらのスライダ群は基台に対して吊りばねにで吊下
げ支持されている。
前記基台は実際上基台ブロックから支持脚によって垂下
した軸受を為し、Zスイラダがこの軸受に上下方向移動
自在に支持され、このZスライダに順次Yスライダ及び
Xスライダがそれぞれ直交方向に移動できるように各ス
ライダ間に設けたスライドd1Sにて係合している。そ
して、最下位置にあるXスライダにはワークに接触する
ための触針が連結固定されている。
そして、前記X、Yスライダの原点JJ tlt位百を
定めるため、Xスライダにはロンド状の戻しばねの下端
が固定され、この戻しばねの上端は面記塁台に上下方向
に摺動自在に支持されている。
従って、前)ホした吊りばね及び戻しばねの両省ににっ
て触針がその原点基準位置が定められることとなる。
更に、本発明においては、前記各スライダの摺動面に加
圧空気が導入され空気軸受を形成し、各スライダは浮上
状態で軸支されていることを特徴とし、これによって、
各スライダは摩擦損失のない戻り特性のにれだ移動作用
を行うことができる。
[実施例] 以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する。
基台ブロック10は図示していないが周知のCNC三次
元測定典のプローブホルダにその上面が固定可能であり
、三次元測定機によって手動あるいは自動的にトレー勺
自体を任意の座標位置に移動することができる。
11a記基台ブロック10には固定脚12.14を介し
て基台16が固定されており、Xスライダ18、Yスラ
イダ20及びXスライダ22を介して触1124を任意
の方向に移動自在に支持づ−ることかできる。
前記基台16は第3図から明らかなように、角筒形状か
らなり、その内周スライド而16aに7スライダ18の
角柱状の2スライド’kit 18 aが上下方向(Z
軸)にI9動自在に装着されている。
そして、Xスライダ18は、第2図に示されるように、
Yスライダ20のYスライドJ 2 Q aと係合する
ガイド軸18bを右する。従って、Yスライダ20はX
スライダ18に対してY軸方向に自由に粘動拶動するこ
とができる。
更に、Yスライダ20は、第1図に示されるJ:うに、
スライド溝20bを有し、このスライド11420bl
こはXスライダ20のXスライド中1l122aが)S
動自在に係合しており、この結果、Xスライダ22はY
スライダ20に対してX軸方向に自由に摺動することが
できる。
前述した各スライダ18.20.22は基台側に対して
吊り下げ支持されてj5つ、第1図にd’3いて、Zス
ライダ18のガイド軸18bの両端に突出して設けられ
たばね1卦け26.28にはそれぞれ吊りばね30,3
2の下端が係止され、両吊りばね30,32の上端は基
台ブロック10に固定されており、この結果、スライダ
組立体は触針24を含む全lff1が吊りばね30,3
2の引張り力と釣合う位置にて吊り下げ支持されること
となる。
前記吊りばね30,32はその上端が、実施例において
ばね掛け34.36を介してばね位置調整板38に固定
されており、このばね調整板38を上下方向に移動する
ことによって、前記吊りばね30.32によるスライダ
8工の保持位置を調整することができる。すなわら、ば
hA整(反38はそのナラ1一部38aが基台ブロック
10の上下に軸支されたねじ軸40とねじ結合しており
、このねじfall 40を回転することによって、ば
ね調整板38の上下!12iδを任意に選択することが
できる。
なJ3、ばね調整板38はストッパビン42によって回
り止めされており、ねじ!PIl140どともに回転す
ることはない。
実施例において、前記ねじ軸4oを回転づ°るために、
該ねじ1lIlh40には傘歯屯44が固定されており
、これと噛み合う命歯車46の軸48を外部から回転す
ることによって1狗記ばね位置の調整が行われる。基台
ブロック10の側面には作業孔10aが設けられてi1
5つ、外部からドライバ等によって前記軸48を回転す
ることができる。
以上のようにして、本発明によれば、上下刃向ずなわち
X軸方向に対してはスライダ群が吊りばね30.32に
よって吊り下げ支持され、その原点基準位置が定められ
るが、X、Y軸平面における原点基準位置を定めるため
、本発明においては、戻しばね50が設けられている。
戻しばね50は円形断面の線ばねからなり、その下端は
コレラ1〜チヤツク52によってXスライダ22に固定
され、このコレットチャック52は締めねじ54を回転
することによって強固に戻しばね50を掴み固定するこ
とができる。
そして、前記戻しばね5oの上端は基台16に対して上
下移動自在に支持され、実施例にJ5いては、戻しばね
50の上端は基台16に直接支持されることなり、基台
16内で上下方向に摺動する前述したZスライド軸18
aに固定された軸受56内で摺切自在に支持されている
。すなわち、戻しばね50の上端にはスライド溝58が
固定されており、このスライド軸58が前記軸受56内
でX軸方向に摺動自在に支持される。
従って、戻しばね50の上端はそのXY平面において基
準の位置をとり、一方他端はXスライダ22に固定され
ているので、触針24のXY平面に沿った移動に対して
全方向に戻り付勢力を与え、これにJ:って、XY平面
の原点基準位置を定めることができる。
そして、スライド軸58は軸受56内でZIIll11
方向に摺動できるため、XY平而面沿った移動によって
その位置が変化しても上下方向の変位が吸収される。
戻しばね50のばね特性を変えるため、本実施例によれ
ば、11a記コレツトチヤツク52による戻しば勾50
の下端掴み位置を変えることによって行うことができ、
戻しばね50の上端が2軸方向に摺動自在に支持される
ことによって、前記コレットチャック52による戻しば
ね50の下端1國み位置変更を容易に行うことが可能ど
なる。
以上のJ二うにして、XYZスライダ群tよ単一の原点
基準位置が定められ、更に各軸方向に均一の押圧力で移
動でさ・ることが理解さ杭る。
そして、11a記Xスライダ22には触2124が固定
保持され、図示していないワークに触釧24を接触させ
ると、各軸方向に均一な押圧力で触針24が、多りJで
きることとなる。
実施例において、触針24は触針ホルダ60に首脱自在
に固定されており、この触針ホルダ60は振動子62を
介して1)な記Xスライダ22に連結されており、振動
子62は触剣ボルダG○ど振動子ホルダ64との間に挟
持固定されている。そして、この電歪型振動子62の梃
械的な微小振動によって、触針24はワーク表面に振動
しながら接触することどなり、これによって触針24と
ワークの表面との接触摩擦を低減ざ凶、触1124の追
従性を著しく改善している。
oa記各スライド軸18,20.22の原点基県位置か
らの移動mを測定するために、各軸毎にスケールが配置
され、光学センサによって各スライダの移動量が検出さ
れる。
Z軸スケール66はZスライダ18から立上がり、これ
に隣接対向して前記基台16にはZセンサ68が設けら
れており、両者の相対移動によって触針24の7@方向
の移動りを知ることができる。
Y軸スケール70は、第2図に示されるようにYスライ
ダ20に設けられてJ3す、これど隣接対向配置された
2スライダ18に設けられたYセンザ72どの協5jに
よってY軸方向の移動量が測定される。
同様に、XIr1lIスケール74が第1図に示され、
Xセンザ7Gと協1動してYスライダ24に対ツるXス
ライダ22の移動が検出される。
本実施例においては、前記各軸方向に対して任意に移動
できるとともに、いずれかに選択された軸方向移動禁止
覆ることも可能であり、ソレノイドによって係止ピンを
相対移動部に押し当てて所定軸の移動を禁止している。
Z軸の移動禁止は第2.3図に示されるZスライダ18
の満18Gと基台16に設けられている17Iff16
Cとの間で行なわれ、これら両溝18C216cに対向
する位跨でストッパビン78がソレノイド80から突出
可能に設りられてJ5す、ソレノイド8oを励磁するこ
とによってストッパピン78を前記溝18G、16Cに
向かって突出さゼ、この状態でZスライダ18の駆動を
停止することができる。
同様に、Yスライダ20(1)停止はRS 20 dと
Zスライダ18のf?218 dとにより行なわれ、前
述したと同様にソレノイド82で駆動されるストッパビ
ン84にてYスライダ20の移動が禁止される。
そして、Xスライダに対しては8422 eどYスライ
ダ20に設けられた11°Ll!Oeとの間で行なわれ
、このためにソレノイド86で駆動されるスl−ツバピ
ン88が設けられている。
本発明にJ3いては、前記各スライダ18.20゜22
の4多動を低淳凛で行うために各スライダのスライド面
すなりち16a、20a、20bには加圧空気が供給さ
れている。
寸なわら、第2図において、基台ブロック10内に設け
られた加圧空気分配器90に【ま図示していないが外部
からコンプレッサにJ:つて加圧空気が供給され、ここ
からダクト92.94を介して前記各摺動面に加圧空気
が供給され空気軸受が形成されている。
Z軸方向のIS動而面6aに加圧空気を供給するために
、前記ダクト92は導入孔94から基台16内に設けら
れた図示していない空気溝に尋かれ、摺動面16aの所
定の複数個所に設けられた小孔から加圧空気が吹出され
、この空気軸受によって、Zスライド軸18aは基台1
6内にJ3いて浮上軸受されることとなる。
一方、1iilf記ダクト94からの加圧空気は導入部
98からYスライダ20に導かれ、このYスライダ20
はYスライダIM 20 a及びスラ、イドR1′12
0bを0するので、ここから図示していない空気11°
4を通って各21’520a、20bに前述したど同(
];ノの複数の小孔から加圧空気を送出し、この空気軸
受によって、Yスライダ20及びXスイラダ22も同様
に浮上支持することができる。
従って、本発明によれば、各スライダ間の摩擦を著しく
小さくすることができ・、その原点戻り特性を改善可能
である。
実施例において、前記基台ブロック10内部には前記各
セン+:I68,72.76から1けられる電気的な信
号を順次増幅り゛るプリアンプ98,100,102が
内蔵されており、これによって電気的な特性に(至)れ
た信号を取出すことが可能どなる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、XYZの三軸方
向に安定した接触圧あるいは移動特性を与えまた原点基
準位置への復帰が極めて容易に行なわれ、ワーク表面へ
の追従性に優れた畠精度の表面形状測定用トレーサを提
供することができ、特にワーク表面の自動測定笠に極め
て有用なトレーサを提供可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る表面形状測定用トレーサの好適な
実施例を示す縦断面図、 第2図は第1図のII−II断面図、 第3図は第2図の■−■断面図である。 10 ・・・ 基台ブロック、 16 ・・・基台、 18 ・・・ 2スライダ、 20 ・・・ Yスライダ、 22 ・・・ ×スライダ、 24 ・・・ 触釧、 30.32  ・・・ 吊りばね、 50 ・・・ 戻しばね、 62 ・・・ 振動子、 92.9’4  ・・・ 加圧空気ダクト。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基台に対してZスライダ、Yスライダ及びXスラ
    イダが順次互いに直交方向に摺動自在に支持され、前記
    Xスライダにワークと接触する触針が連結固定され、触
    針をワークの表面に沿って摺動させ、表面形状を電気的
    な信号として検出する表面形状測定用トレーサにおいて
    、前記スライダ群は吊りばねによって基台から吊下げ支
    持され、前記触針を担持するXスライダにはXY平面に
    対して基準位置戻り力を与える戻しばねの一端が固定さ
    れ、前記戻しばねの他端は基台に対して軸方向に摺動自
    在に支持され、前記各スライダのスライド面には加圧空
    気が供給され空気軸受を構成することを特徴とする表面
    形状測定用トレーサ。
JP59172143A 1984-08-18 1984-08-18 表面形状測定用トレ−サ Granted JPS6150007A (ja)

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DE3529320A DE3529320C2 (de) 1984-08-18 1985-08-16 Tastvorrichtung für Oberflächen
DE3546889A DE3546889C2 (de) 1984-08-18 1985-08-16 Tastervorrichtung für Oberflächen
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GB (1) GB2163256B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4899456A (en) * 1987-08-24 1990-02-13 Mitutoyo Corporation Surface contour measuring tracer
JP2009536325A (ja) * 2006-05-10 2009-10-08 カール ツァイス インドゥストリーレ メステクニーク ゲーエムベーハー 加工品の表面点に接触するための方法および装置

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1206842B (it) * 1987-01-15 1989-05-11 Fidia Spa Dispositivo tastatore particolarmente per macchina a copiare
US5212646A (en) * 1987-12-19 1993-05-18 Renishaw Plc Method of using a mounting for surface-sensing stylus
US5152072A (en) * 1988-02-18 1992-10-06 Renishaw Plc Surface-sensing device
WO1990004149A1 (en) * 1988-10-11 1990-04-19 Renishaw Plc Measurement probe for position determining apparatus
DE3842151A1 (de) * 1988-12-15 1990-06-21 Zeiss Carl Fa Tastkopf vom schaltenden typ
GB8908854D0 (en) * 1989-04-19 1989-06-07 Renishaw Plc Method of and apparatus for scanning the surface of a workpiece
US5189806A (en) * 1988-12-19 1993-03-02 Renishaw Plc Method of and apparatus for scanning the surface of a workpiece
US4907894A (en) * 1988-12-20 1990-03-13 Bnf Metals Technology Centre Surface-temperature sensing method and apparatus
US5209131A (en) * 1989-11-03 1993-05-11 Rank Taylor Hobson Metrology
GB2238126A (en) * 1989-11-03 1991-05-22 Rank Taylor Hobson Ltd Metrology
GB9001682D0 (en) * 1990-01-25 1990-03-28 Renishaw Plc Position sensing probe
US5390424A (en) * 1990-01-25 1995-02-21 Renishaw Metrology Limited Analogue probe
US5390423A (en) * 1991-01-22 1995-02-21 Renishaw Plc Analogue probe
DE4216215A1 (de) * 1992-05-06 1994-01-20 Max Hobe Tastfühler
JP3000819B2 (ja) * 1993-03-15 2000-01-17 松下電器産業株式会社 三次元測定用プローブ及び形状測定方法
US6640459B1 (en) * 2001-02-15 2003-11-04 Fast Forward Devices, Llc Multidimensional contact mechanics measurement system
GB0201845D0 (en) * 2002-01-26 2002-03-13 Renishaw Plc Analogue probe
US7538960B2 (en) * 2006-03-14 2009-05-26 Quality Vision International, Inc. Air bearing guided zoom lens for metrological measurements
CN101339083B (zh) * 2007-07-06 2010-09-29 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 接触式测量装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3798779A (en) * 1972-07-05 1974-03-26 Ferranti Packard Ltd Probe inspection system
DE2242355C2 (de) * 1972-08-29 1974-10-17 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Elektronischer Mehrkoordinatentaster
US3855901A (en) * 1973-10-15 1974-12-24 Babcock & Wilcox Co Broaching machine
GB1551218A (en) * 1975-05-13 1979-08-22 Rolls Royce Probe for use in displacement measuring apparatus
DE2718438A1 (de) * 1977-04-26 1978-12-14 Heinrich Prof Dr Ing Frohne Taster zur messung raeumlicher koordinaten
DE3135495C2 (de) * 1981-09-08 1983-11-10 Mauser-Werke Oberndorf Gmbh, 7238 Oberndorf Meßkopf für Meßeinrichtungen, Mehrkoordinatenmeßgeräte und Bearbeitungsmaschinen
DE3234471C1 (de) * 1982-09-17 1983-08-25 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Mehrkoordinaten-Tastkopf

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4899456A (en) * 1987-08-24 1990-02-13 Mitutoyo Corporation Surface contour measuring tracer
JP2009536325A (ja) * 2006-05-10 2009-10-08 カール ツァイス インドゥストリーレ メステクニーク ゲーエムベーハー 加工品の表面点に接触するための方法および装置

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GB2163256A (en) 1986-02-19
DE3529320C2 (de) 1994-02-10

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