JPS61235562A - マグネトロンスパツタ装置 - Google Patents
マグネトロンスパツタ装置Info
- Publication number
- JPS61235562A JPS61235562A JP7790985A JP7790985A JPS61235562A JP S61235562 A JPS61235562 A JP S61235562A JP 7790985 A JP7790985 A JP 7790985A JP 7790985 A JP7790985 A JP 7790985A JP S61235562 A JPS61235562 A JP S61235562A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- substrate
- sputtering
- magnet
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
マグネットが内蔵されたターゲット支持体に支持された
ターゲットと対向配置した基板上に、スパッタリング法
により薄膜を形成するマグネトロンスパッタ装置におい
て、上記ターゲットとマグネット間に磁気シールド板を
挿脱可能に設置した構成とし、成膜に先立ち、前記ター
ゲットとマグネット間に磁気シールド板を挿入した状態
でスパッタを行って、該ターゲツト面を清浄化した後、
該磁気シールド板を逆に取り去って本スパッタを行い、
ターゲットからの堆積物の飛散がない状態で良品質な薄
膜を形成可能にしたものである。
ターゲットと対向配置した基板上に、スパッタリング法
により薄膜を形成するマグネトロンスパッタ装置におい
て、上記ターゲットとマグネット間に磁気シールド板を
挿脱可能に設置した構成とし、成膜に先立ち、前記ター
ゲットとマグネット間に磁気シールド板を挿入した状態
でスパッタを行って、該ターゲツト面を清浄化した後、
該磁気シールド板を逆に取り去って本スパッタを行い、
ターゲットからの堆積物の飛散がない状態で良品質な薄
膜を形成可能にしたものである。
本発明は各種磁気記録媒体や半導体集積回路素子等の製
造に用いられるマグネトロンスパッタ装置の改良に係り
、特に反応性マグネトロンスパッタ法により基板上に薄
膜を形成する際に、ターゲット表面の非スバフタ部分に
付着された反応物である堆積物が基板上に飛散付着して
膜欠陥が生じることを防止したターゲット支持体の構造
に関するものである。
造に用いられるマグネトロンスパッタ装置の改良に係り
、特に反応性マグネトロンスパッタ法により基板上に薄
膜を形成する際に、ターゲット表面の非スバフタ部分に
付着された反応物である堆積物が基板上に飛散付着して
膜欠陥が生じることを防止したターゲット支持体の構造
に関するものである。
マグネトロンスパッタ装置は、アルゴン(Ar)ガスな
どの不活性ガス及び酸素(02)ガス等からなる反応性
ガス雰囲気中に対向配置された薄膜を形成すべき基板側
電極と、裏面側にマグネットを具備した平板状のターゲ
ット間に高電圧を印加して、発生したプラズマ状のスパ
ッタガスイオンを前記マグネットによる磁界で集束して
、密度の高いプラズマにより励起されたAr粒子により
ターゲットをスパッタさせて前記基板上に大きな成膜堆
積速度で薄膜形成を行うものである。
どの不活性ガス及び酸素(02)ガス等からなる反応性
ガス雰囲気中に対向配置された薄膜を形成すべき基板側
電極と、裏面側にマグネットを具備した平板状のターゲ
ット間に高電圧を印加して、発生したプラズマ状のスパ
ッタガスイオンを前記マグネットによる磁界で集束して
、密度の高いプラズマにより励起されたAr粒子により
ターゲットをスパッタさせて前記基板上に大きな成膜堆
積速度で薄膜形成を行うものである。
このようにマグネトロンスパッタ装置では成膜堆積速度
が、従来より用いられている各種蒸着装置や一般的なス
パッタ装置等の堆積速度に比べて速く、また発生するプ
ラズマが磁界によりターゲット側で集束されるため、基
板温度の上昇が少ない等の特徴を有し、近来、各種磁気
記録媒体や半導体集積回路素子等の製造用の薄膜形成装
置として広く採用されている。
が、従来より用いられている各種蒸着装置や一般的なス
パッタ装置等の堆積速度に比べて速く、また発生するプ
ラズマが磁界によりターゲット側で集束されるため、基
板温度の上昇が少ない等の特徴を有し、近来、各種磁気
記録媒体や半導体集積回路素子等の製造用の薄膜形成装
置として広く採用されている。
しかし、上記装置によって反応性スパッタ法により基板
上に薄膜を形成する場合、前記マグネットによるターゲ
ット表面の強磁界領域でスパッタがなされ、それ以外の
領域ではスパッタがなされず、しかも逆に反応スパッタ
物質が堆積され、この堆積物が剥離飛散して基板上に異
物として付着し、これが生成薄膜の欠陥となるといった
問題があり、このような問題を解消することが要望され
ている。
上に薄膜を形成する場合、前記マグネットによるターゲ
ット表面の強磁界領域でスパッタがなされ、それ以外の
領域ではスパッタがなされず、しかも逆に反応スパッタ
物質が堆積され、この堆積物が剥離飛散して基板上に異
物として付着し、これが生成薄膜の欠陥となるといった
問題があり、このような問題を解消することが要望され
ている。
第3図は従来のマグネトロンスパッタ装置を示す要部断
面図であり、排気装置2が付設された真空容器1内に、
ターゲット3が支持され、かつヨークによって磁気的に
結合された円環状マグネットと中心円柱状マグネットか
らなるマグネット4が内蔵されたターゲット支持体5と
、これに対向して薄膜を形成すべき基板6を支持した基
板支持体7が回転機構8により回動可能に配置されてい
る。9はシャッタである。
面図であり、排気装置2が付設された真空容器1内に、
ターゲット3が支持され、かつヨークによって磁気的に
結合された円環状マグネットと中心円柱状マグネットか
らなるマグネット4が内蔵されたターゲット支持体5と
、これに対向して薄膜を形成すべき基板6を支持した基
板支持体7が回転機構8により回動可能に配置されてい
る。9はシャッタである。
このような装置を用いて基板支持体7上に支持された基
板6表面に薄膜を形成するには、前記真空容器1内をア
ルゴン(Ar)ガスなどのガス雰囲気にした状態で、基
板支持体7とターゲット3間に高置圧電s10により所
定電圧を印加すると共に、シャフタ9をターゲット3上
より開ける。
板6表面に薄膜を形成するには、前記真空容器1内をア
ルゴン(Ar)ガスなどのガス雰囲気にした状態で、基
板支持体7とターゲット3間に高置圧電s10により所
定電圧を印加すると共に、シャフタ9をターゲット3上
より開ける。
この時、発生したプラズマ状のスパッタガスイオンは、
前記マグネット4によりターゲット3表面に円弧状に磁
力線11が発生される磁界よって集束され、密度の高い
プラズマにより励起されたスパッタガスイオンが該ター
ゲット3に衝突する。
前記マグネット4によりターゲット3表面に円弧状に磁
力線11が発生される磁界よって集束され、密度の高い
プラズマにより励起されたスパッタガスイオンが該ター
ゲット3に衝突する。
この際、その表面よりスパッタ物質がスパッタされて前
記基板6上に大きな成膜堆積速度で薄膜を形成している
。
記基板6上に大きな成膜堆積速度で薄膜を形成している
。
ところでこのようなマグネトロンスパッタ装置において
は、前記マグネット4により第4図に示すようにターゲ
ット3の表面上に発生される円弧状の磁力線11によっ
て集束され、高密度化されたプラズマ状のスパッタガス
イオンが選択的にターゲット3の磁界付与領域21に衝
突してスパッタされることから、その領域21が削られ
た状態に浸食され、このエロージョン領域21以外の領
域は殆どスパッタがなされない不機能領域22となって
いる。
は、前記マグネット4により第4図に示すようにターゲ
ット3の表面上に発生される円弧状の磁力線11によっ
て集束され、高密度化されたプラズマ状のスパッタガス
イオンが選択的にターゲット3の磁界付与領域21に衝
突してスパッタされることから、その領域21が削られ
た状態に浸食され、このエロージョン領域21以外の領
域は殆どスパッタがなされない不機能領域22となって
いる。
ところが上記の如きスパッタ装置により、基板6上に反
応性スパッタ法によってWl膜を被着形成する場合、ス
パッタされたターゲット物質の大部分は基板6上に被着
されるが、その一部の反応スパッタ粒子はプラズマ中の
ガスイオンと衝突して、ターゲット3の前記不機能領域
22に被着し、反応物が堆積する現象がある。
応性スパッタ法によってWl膜を被着形成する場合、ス
パッタされたターゲット物質の大部分は基板6上に被着
されるが、その一部の反応スパッタ粒子はプラズマ中の
ガスイオンと衝突して、ターゲット3の前記不機能領域
22に被着し、反応物が堆積する現象がある。
そしてこの場合、上記堆積物は付着力が不安定であるの
みならず、一般に高抵抗であるがために次第に帯電して
いって、更には異常放電等を起こし、剥離して第5図に
示すように粗大粒子31となって飛散し、基板6の生成
膜32に付着して膜面に突起欠陥を形成する。
みならず、一般に高抵抗であるがために次第に帯電して
いって、更には異常放電等を起こし、剥離して第5図に
示すように粗大粒子31となって飛散し、基板6の生成
膜32に付着して膜面に突起欠陥を形成する。
また上記粗大粒子31はスパッタ粒子に比べて生成膜3
2に対する付着力が弱く、当該スパッタ工程後の諸工程
中に容易に離脱して、ピンホール欠陥が生じる等の欠点
があった。
2に対する付着力が弱く、当該スパッタ工程後の諸工程
中に容易に離脱して、ピンホール欠陥が生じる等の欠点
があった。
本発明は上記のような問題点に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、簡単な構成により成膜に先立
って前記不機能領域22を含むターゲット3面を清浄化
し、その後、本スパッタを行って膜欠陥のない薄膜形成
を可能とした新規なマグネトロンスパッタ装置を提供す
ることにある。
その目的とするところは、簡単な構成により成膜に先立
って前記不機能領域22を含むターゲット3面を清浄化
し、その後、本スパッタを行って膜欠陥のない薄膜形成
を可能とした新規なマグネトロンスパッタ装置を提供す
ることにある。
(問題点を解決するための手段〕
本発明は上記目的を達成するため、第1図に示すように
、基板支持体7に支持した基板6と対向配置されたター
ゲット3と、ターゲット支持体5に内蔵されたマグネッ
ト4との間に磁気シールド板41を挿脱可能に設置して
、ターゲット3面に対する磁界付与を変化させるように
構成されている。
、基板支持体7に支持した基板6と対向配置されたター
ゲット3と、ターゲット支持体5に内蔵されたマグネッ
ト4との間に磁気シールド板41を挿脱可能に設置して
、ターゲット3面に対する磁界付与を変化させるように
構成されている。
(作用〕
このような装置構成においては、反応性スパッタ法によ
り薄膜を形成する際に、成膜に先立って、ターゲット3
とマグネット4間に駆動機構42によって磁気シールド
板41を挿入し、該ターゲット3に対する磁界付与を遮
蔽した状態でスパッタを行い、該ターゲット3の全表面
を清浄化した後、前記磁気シールド板41を逆に引き出
してターゲット3に磁界を付与した状態で本スパッタを
行うことにより、膜欠陥のない良品質なff1l!!を
得ることが可能となる。
り薄膜を形成する際に、成膜に先立って、ターゲット3
とマグネット4間に駆動機構42によって磁気シールド
板41を挿入し、該ターゲット3に対する磁界付与を遮
蔽した状態でスパッタを行い、該ターゲット3の全表面
を清浄化した後、前記磁気シールド板41を逆に引き出
してターゲット3に磁界を付与した状態で本スパッタを
行うことにより、膜欠陥のない良品質なff1l!!を
得ることが可能となる。
以下図面を用いて本発明の実施例について詳細に説明す
る。
る。
第1図は本発明に係るマグネトロンスパッタ装置の一実
施例を示す要部断面図である。
施例を示す要部断面図である。
図において、lは排気装置2が付設された真空容器であ
り、該真空容器1内に薄膜を形成すべき基板6を支持し
た基板支持体7が回転機構8により回動可能に配置され
、これに対向してターゲット3が支持され、かつヨーク
により磁気的に結合された円環状マグネットと中心円柱
状マグネットからなるマグネット4が図示のように内蔵
されたターゲット支持体5が配置されている。
り、該真空容器1内に薄膜を形成すべき基板6を支持し
た基板支持体7が回転機構8により回動可能に配置され
、これに対向してターゲット3が支持され、かつヨーク
により磁気的に結合された円環状マグネットと中心円柱
状マグネットからなるマグネット4が図示のように内蔵
されたターゲット支持体5が配置されている。
また上記ターゲット3とターゲット支持体5に内蔵され
た前記マグネット4との間には、該マグネット4の磁界
を遮蔽する軟磁性材料からなるパーマロイ(Ni−Fe
)などの透磁率の大きい磁気シールド板41が駆動機構
42により挿脱可能に設置された構成となっている さて、このような装置を用いて基板支持体7上の基板6
表面に反応性スパッタ法により*X*を形成するには、
前記真空容器1内を10”’ torr程度の真空度に
排気装置2により排気した後、その真空容器1内にアル
ゴン(Ar)ガスと酸素(02)ガスが所定容積比で混
合されたスパッタ用ガスを導入する。
た前記マグネット4との間には、該マグネット4の磁界
を遮蔽する軟磁性材料からなるパーマロイ(Ni−Fe
)などの透磁率の大きい磁気シールド板41が駆動機構
42により挿脱可能に設置された構成となっている さて、このような装置を用いて基板支持体7上の基板6
表面に反応性スパッタ法により*X*を形成するには、
前記真空容器1内を10”’ torr程度の真空度に
排気装置2により排気した後、その真空容器1内にアル
ゴン(Ar)ガスと酸素(02)ガスが所定容積比で混
合されたスパッタ用ガスを導入する。
次に基板6を支持した基板支持体7を回転機構8により
回転し、前記ターゲット3とマグネット4との間に例え
ば回動駆動機構42(このような構成図例に限定されな
い)により前記磁気シールド板41を回動挿入する。こ
の挿入状態ではマグネット4からの磁力線11が該磁気
シールド板41内を通る閉回路を構成している。
回転し、前記ターゲット3とマグネット4との間に例え
ば回動駆動機構42(このような構成図例に限定されな
い)により前記磁気シールド板41を回動挿入する。こ
の挿入状態ではマグネット4からの磁力線11が該磁気
シールド板41内を通る閉回路を構成している。
更に該ターゲット3上をシャッタ9で覆った状態にして
、基板6とターゲット3間に電源10により所定高電圧
を印加する。
、基板6とターゲット3間に電源10により所定高電圧
を印加する。
この時、前記ターゲツト3にはマグネット4による磁界
が磁気シールド板41により遮蔽されているので、発生
したプラズマ状のスパッタガスイオンは集束されずにタ
ーゲツト3全面に衝突してスパッタされ、以前の成膜工
程においてターゲット3面の不機能領域(非スパツタ領
域)に堆積された膜欠陥の原因となる堆積物がシャッタ
9側へ飛散除去されると共に、清浄化される。
が磁気シールド板41により遮蔽されているので、発生
したプラズマ状のスパッタガスイオンは集束されずにタ
ーゲツト3全面に衝突してスパッタされ、以前の成膜工
程においてターゲット3面の不機能領域(非スパツタ領
域)に堆積された膜欠陥の原因となる堆積物がシャッタ
9側へ飛散除去されると共に、清浄化される。
その後、第2図に示すように該ターゲット3とマグネッ
ト4間に挿入された前記磁気シールド板41を駆動機構
42により回動して引出し、該ターゲット3に対する磁
界付与がなされた状態でシャッタ9を開き、引続き従来
と同様の反応性スパッタリングを行って、前記基板6上
に薄膜を形成する。
ト4間に挿入された前記磁気シールド板41を駆動機構
42により回動して引出し、該ターゲット3に対する磁
界付与がなされた状態でシャッタ9を開き、引続き従来
と同様の反応性スパッタリングを行って、前記基板6上
に薄膜を形成する。
このような成膜操作を行うことにより、基板6上にター
ゲット3面の不機能領域からの反応堆積物の飛散が解消
され、膜欠陥のない薄膜を得ることができる。
ゲット3面の不機能領域からの反応堆積物の飛散が解消
され、膜欠陥のない薄膜を得ることができる。
更に、基板6上に薄膜を比較的厚く形成する場合には、
上記したようにターゲット3とマグネット4間に磁気シ
ールド板41を挿入した状態でのスパッタと、引出した
状態でのスパッタを交互に繰り返して成膜を行うことに
より、同様に膜欠陥のない比較的厚い薄膜を容易に得る
ことができる。
上記したようにターゲット3とマグネット4間に磁気シ
ールド板41を挿入した状態でのスパッタと、引出した
状態でのスパッタを交互に繰り返して成膜を行うことに
より、同様に膜欠陥のない比較的厚い薄膜を容易に得る
ことができる。
以上の説明から明らかなように、本発明に係るマグネト
ロンスパッタ装置によれば、成膜に先立って、簡単な操
作によりターゲツト面の清浄化を行うことが出来るので
、基板上の生成膜に対するターゲット側からの堆積粗大
粒子の飛散がなくなり、異物突起やピンホール等の膜欠
陥のない良品質の薄膜を容易に得ることが可能となる。
ロンスパッタ装置によれば、成膜に先立って、簡単な操
作によりターゲツト面の清浄化を行うことが出来るので
、基板上の生成膜に対するターゲット側からの堆積粗大
粒子の飛散がなくなり、異物突起やピンホール等の膜欠
陥のない良品質の薄膜を容易に得ることが可能となる。
従って、磁気記録媒体の製造、或いは半導体集積回路素
子等の製造に通用して優れた効果を奏する。
子等の製造に通用して優れた効果を奏する。
第1図及び第2図は本発明に係るマグネトロンスパッタ
装置の一実施例を示す要部断 面図、 第3図は従来のマグネトロンスパッタ装置を説明するた
めの要部断面図、 第4図は従来のマグネトロンスパッタ装置におけるター
ゲットの表面現象を説明する ための斜視図、 第5図は従来のマグネトロンスパッタ装置によって形成
されたWI膜の状態を説明するための要部断面図である
。 第1図及び第2図において lは真空容器、3はターゲット、4はマグネット、5は
ターゲット支持体、6は基板、7は基板支持体、41は
磁気シールド板、42は駆動機構をそれぞれ示す。 率更姥例侮説づts’A1績凝輸■ 第1図 本欠軒りyi % *LgJ4t $ :に置楕灰牌面
図第21!1 第3図 従来−7−Y−/I−をt克明力回 第4図 イB/1主戎1!*gl辷日すStシdブトi図第5図
装置の一実施例を示す要部断 面図、 第3図は従来のマグネトロンスパッタ装置を説明するた
めの要部断面図、 第4図は従来のマグネトロンスパッタ装置におけるター
ゲットの表面現象を説明する ための斜視図、 第5図は従来のマグネトロンスパッタ装置によって形成
されたWI膜の状態を説明するための要部断面図である
。 第1図及び第2図において lは真空容器、3はターゲット、4はマグネット、5は
ターゲット支持体、6は基板、7は基板支持体、41は
磁気シールド板、42は駆動機構をそれぞれ示す。 率更姥例侮説づts’A1績凝輸■ 第1図 本欠軒りyi % *LgJ4t $ :に置楕灰牌面
図第21!1 第3図 従来−7−Y−/I−をt克明力回 第4図 イB/1主戎1!*gl辷日すStシdブトi図第5図
Claims (1)
- 真空容器(1)内に、ターゲット(3)を支持し、かつ
マグネット(4)が内蔵されたターゲット支持体(5)
と、これに対向して薄膜を形成すべき基板(6)を支持
した基板支持体(7)が配置され、該真空容器(1)内
をスパッタ用ガス雰囲気にした状態で該基板(6)上に
ターゲット(3)物質をスパッタリングにより被着形成
する装置構成において、上記ターゲット(3)とマグネ
ット(4)との間に磁気シールド板(41)を挿脱可能
に設けて、ターゲット(3)面に対する磁界付与を変化
させるようにしたことを特徴とするマグネトロンスパッ
タ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7790985A JPS61235562A (ja) | 1985-04-11 | 1985-04-11 | マグネトロンスパツタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7790985A JPS61235562A (ja) | 1985-04-11 | 1985-04-11 | マグネトロンスパツタ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61235562A true JPS61235562A (ja) | 1986-10-20 |
Family
ID=13647198
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7790985A Pending JPS61235562A (ja) | 1985-04-11 | 1985-04-11 | マグネトロンスパツタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61235562A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002047566A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-15 | Nec Kyushu Ltd | スパッタ装置 |
JP2007077493A (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | Applied Materials Gmbh & Co Kg | コーティング機及びコーティング機の動作方法 |
CN103866250A (zh) * | 2012-12-13 | 2014-06-18 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 磁控溅射源驱动装置及磁控溅射加工设备 |
JP2020019989A (ja) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | キヤノントッキ株式会社 | 成膜装置、および、電子デバイスの製造方法 |
-
1985
- 1985-04-11 JP JP7790985A patent/JPS61235562A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002047566A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-15 | Nec Kyushu Ltd | スパッタ装置 |
JP4519286B2 (ja) * | 2000-07-27 | 2010-08-04 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | スパッタ装置 |
JP2007077493A (ja) * | 2005-09-15 | 2007-03-29 | Applied Materials Gmbh & Co Kg | コーティング機及びコーティング機の動作方法 |
CN103866250A (zh) * | 2012-12-13 | 2014-06-18 | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 | 磁控溅射源驱动装置及磁控溅射加工设备 |
JP2020019989A (ja) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | キヤノントッキ株式会社 | 成膜装置、および、電子デバイスの製造方法 |
CN110777339A (zh) * | 2018-07-31 | 2020-02-11 | 佳能特机株式会社 | 成膜装置以及电子器件的制造方法 |
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