JPS61140041A - マルチスペクトルx線発生管 - Google Patents
マルチスペクトルx線発生管Info
- Publication number
- JPS61140041A JPS61140041A JP59261435A JP26143584A JPS61140041A JP S61140041 A JPS61140041 A JP S61140041A JP 59261435 A JP59261435 A JP 59261435A JP 26143584 A JP26143584 A JP 26143584A JP S61140041 A JPS61140041 A JP S61140041A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- deflection
- rays
- generating tube
- ray generating
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/06—Cathodes
- H01J35/065—Field emission, photo emission or secondary emission cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/14—Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
- H01J35/153—Spot position control
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/22—X-ray tubes specially designed for passing a very high current for a very short time, e.g. for flash operation
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は単一のX線発生管で複数の特性X線を発生する
ことのできるマルチスペクトルX線発生管に関する。
ことのできるマルチスペクトルX線発生管に関する。
本発明によるマルチスペクトルX線発生管は結晶回折に
よる結晶構造の時間的変化の解析とか、高時間分解の計
測等に利用できる。
よる結晶構造の時間的変化の解析とか、高時間分解の計
測等に利用できる。
(従来の技術)
通常のX線発生装置はカソードをヒータで加熱し、熱電
子を発生させ、静電集束系で細い電子ビームを形成し、
ターゲットを照射してX線を発生させるように構成され
ている。
子を発生させ、静電集束系で細い電子ビームを形成し、
ターゲットを照射してX線を発生させるように構成され
ている。
熱陰極形の電極は高い周波数応答に通していないので鋭
いパルス状のX線を得たいという要請に応えることがで
きない。
いパルス状のX線を得たいという要請に応えることがで
きない。
この要請に応えるために本件発明者は光電陰極を電子源
とするX線発生管(特願昭58−153663)をすで
に提案している。
とするX線発生管(特願昭58−153663)をすで
に提案している。
この提案によれば、光電子銃から発生した電子ビームは
、光電子銃に対向した他端側に配置されたX線ターゲッ
トに衝突させられ、そのターゲット材料から固有の特性
X線を発生させる。チタン(T i )をターゲ・ノド
としたときに発生する特性X線の例を第4図に示す。
、光電子銃に対向した他端側に配置されたX線ターゲッ
トに衝突させられ、そのターゲット材料から固有の特性
X線を発生させる。チタン(T i )をターゲ・ノド
としたときに発生する特性X線の例を第4図に示す。
前記提案に係るX線発生管は、光電子銃(光電陰極)を
使用しているから、前記光電陰極をレーザ光源等によっ
て励起することにより、鋭いパルス伏の特性X線を得る
ことができるという優れた特徴がある。
使用しているから、前記光電陰極をレーザ光源等によっ
て励起することにより、鋭いパルス伏の特性X線を得る
ことができるという優れた特徴がある。
ところが近時、数種類の特性X線を利用して測定を行い
たいという要請があり、そのような場合にはクーゲット
のf!類の異なる前記X線発生管を複数本用意する必要
がある。
たいという要請があり、そのような場合にはクーゲット
のf!類の異なる前記X線発生管を複数本用意する必要
がある。
(発明の目的)
本発明の目的は、一本のX線発生管で多数の特性X線を
発生できるようにしたマルチスペクトルX線発生管を提
供することにある。
発生できるようにしたマルチスペクトルX線発生管を提
供することにある。
(発明の構成)
前記目的を達成するために、本発明によるマルチスペク
トルX線発生管は、真空容器と、前記真空容器内に形成
された光電子放出層と、前記光電子放出層の発生した光
電子を収束して、電子ビームとして一定方向に投射する
電子レンズと、前記電子ビームの到来する方向に向けて
複数種類のターゲット要素金属を配列して形成したX線
ターゲットと、前記電子ビームの投射方向を制御して前
記X線ターゲットの任意の要素金属を照射するように前
記電子ビームを偏向する偏向器とから構成されている。
トルX線発生管は、真空容器と、前記真空容器内に形成
された光電子放出層と、前記光電子放出層の発生した光
電子を収束して、電子ビームとして一定方向に投射する
電子レンズと、前記電子ビームの到来する方向に向けて
複数種類のターゲット要素金属を配列して形成したX線
ターゲットと、前記電子ビームの投射方向を制御して前
記X線ターゲットの任意の要素金属を照射するように前
記電子ビームを偏向する偏向器とから構成されている。
(実施例)
以下、図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する
。
。
第1図は本発明によるマルチスペクトルX線発生管の第
1の実施例を示す断面図、第2図は前記実 1
施例の偏向電極とターゲット要素金属との関係を示す断
面図である。
1の実施例を示す断面図、第2図は前記実 1
施例の偏向電極とターゲット要素金属との関係を示す断
面図である。
直空容器1の内面には光電子放出層2が形成されている
。
。
光電子放出層照射光源からの光束10で照射されて、前
記光電子放出層2から放出された光電子は、集束電極4
によって発生させられている集束電界により集束されて
偏向空間に進む。前記光電子放出層2の形成されている
面に対向する面にX線を透過させるベリリウム(Be)
Niのマルチターゲツト面5が設けられている。
記光電子放出層2から放出された光電子は、集束電極4
によって発生させられている集束電界により集束されて
偏向空間に進む。前記光電子放出層2の形成されている
面に対向する面にX線を透過させるベリリウム(Be)
Niのマルチターゲツト面5が設けられている。
この面にはターゲット要素金属6a、6b、5cが図示
のように1列に配列されている。
のように1列に配列されている。
偏向電極3a、3b間には偏向電圧源7から偏向電圧が
印加されている。集束電極4によって集束された電子ビ
ームは、偏向電極3a、3b間で偏向させられる。
印加されている。集束電極4によって集束された電子ビ
ームは、偏向電極3a、3b間で偏向させられる。
偏向電圧源7の偏向電圧を変更することにより、任意の
要素金属に電子ビームを向けることができる。電子ビー
ムで照射された要素金属はその金属固有の特性X線を放
出する。
要素金属に電子ビームを向けることができる。電子ビー
ムで照射された要素金属はその金属固有の特性X線を放
出する。
この実施例は以下の金属中から3種類を選んで使用して
いる。それぞれの金属の特性X線のエネルギーを示しで
ある。
いる。それぞれの金属の特性X線のエネルギーを示しで
ある。
チタン(Ti) 4.5 KeVバナジュウム
(V) 4.96KeVクロム(Cr) 5
.42KeV鉄(Fe) 6.40KeV コバルト (Co) 6.92KeV二y’rル
(Ni) 7.47KeVail (Cu)
8.04KeVこの特性X線の時間幅は、光電
子放出層を照射する光のパルス幅の程度に短くできる。
(V) 4.96KeVクロム(Cr) 5
.42KeV鉄(Fe) 6.40KeV コバルト (Co) 6.92KeV二y’rル
(Ni) 7.47KeVail (Cu)
8.04KeVこの特性X線の時間幅は、光電
子放出層を照射する光のパルス幅の程度に短くできる。
したがって、超短レーザ光を使った場合の超短X線パル
スから、直流光を照射した時の直流X線まで、任意にコ
ントロールが可能である。
スから、直流光を照射した時の直流X線まで、任意にコ
ントロールが可能である。
第3図は本発明によるマルチスペクトルX線発生管の第
2の実施例の偏向電極と金属ターゲット要素との関係を
示す断面図である。
2の実施例の偏向電極と金属ターゲット要素との関係を
示す断面図である。
この実施例は垂直偏向電極3a、3bと、水平偏向電極
3c、3dを用い、電子ビームを2次元的に偏向できる
ようにしたものである。
3c、3dを用い、電子ビームを2次元的に偏向できる
ようにしたものである。
X線を透過させるヘリリウム(Be)板のマルチターゲ
ツト面5には要素金属6e〜6pが図示のように平面的
に配列されている。
ツト面5には要素金属6e〜6pが図示のように平面的
に配列されている。
偏向電極33〜3d間には図示を省略した偏向電圧源7
から偏向電圧が印加されており、電子ビームは2次元的
に偏向させられる。
から偏向電圧が印加されており、電子ビームは2次元的
に偏向させられる。
これにより、任意の要素金属を逐次選択して異なる特性
X線を得ることができる。
X線を得ることができる。
(変形例)
以上詳しく説明した実施例につき本発明の範囲内で種々
の変形を施すことができる。
の変形を施すことができる。
前記各実施例は、静電偏向形の偏向器を用いたが、良く
知られている電磁偏向形の偏向器を用いることもできる
。
知られている電磁偏向形の偏向器を用いることもできる
。
(発明の効果)
以上詳しく説明したように、本発明によるマルチスペク
トルX線発生管では、多数の異なった特性X線が、一本
のX線管で得られる。
トルX線発生管では、多数の異なった特性X線が、一本
のX線管で得られる。
偏向器により逐次界なる要素金属を高速で選択すること
ができるから、従来不可能であった高い時間分解の計測
が可能゛となる。
ができるから、従来不可能であった高い時間分解の計測
が可能゛となる。
また結晶回折による結晶構造の時間的変化の解析等にも
利用できる。
利用できる。
第1図は本発明によるマルチスペクトルX線発生管の第
1の実施例を示す断面図である。 第2図は前記実施例の偏向電極とターゲット要素金属と
の関係を示す断面図である。 第3図は本発明によるマルチスペクトルX線発生管の第
2の実施例の偏向電極とターゲット要素金属との関係を
示す断面図である。 第4図は特性X線スペクトルの1例を示すグラフである
。 1・・・真空容器 2・・・光電子放出層 3・・・偏向器 3a、3b、3d、3e−−・偏向電極
14・・・集束電極 5・・・マルチターゲツト面 6a−c、5 e −p・・・ターゲット要素金属7・
・・偏向電源
1の実施例を示す断面図である。 第2図は前記実施例の偏向電極とターゲット要素金属と
の関係を示す断面図である。 第3図は本発明によるマルチスペクトルX線発生管の第
2の実施例の偏向電極とターゲット要素金属との関係を
示す断面図である。 第4図は特性X線スペクトルの1例を示すグラフである
。 1・・・真空容器 2・・・光電子放出層 3・・・偏向器 3a、3b、3d、3e−−・偏向電極
14・・・集束電極 5・・・マルチターゲツト面 6a−c、5 e −p・・・ターゲット要素金属7・
・・偏向電源
Claims (4)
- (1)真空容器と、前記真空容器内に形成された光電子
放出層と、前記光電子放出層の発生した光電子を収束し
て、電子ビームとして一定方向に投射する電子レンズと
、前記電子ビームの到来する方向に向けて複数種類のタ
ーゲット要素金属を配列して形成したX線ターゲットと
、前記電子ビームの投射方向を制御して前記X線ターゲ
ットの任意の要素金属を照射するように前記電子ビーム
を偏向する偏向器とから構成したマルチスペクトルX線
発生管。 - (2)前記偏向器は静電偏向器または電磁偏向器である
特許請求の範囲第1項記載のマルチスペクトルX線発生
管。 - (3)前記偏向器は1次元または2次元偏向器である特
許請求の範囲第1項記載のマルチスペクトルX線発生管
。 - (4)前記ターゲット要素金属はTi、V、Cr、Fe
、Co、Ni、Cuから選択されたものである特許請求
の範囲第1項記載のマルチスペクトルX線発生管。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59261435A JPS61140041A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | マルチスペクトルx線発生管 |
DE19853543598 DE3543598A1 (de) | 1984-12-11 | 1985-12-10 | Multispektrum-roentgenstrahler |
FR858518314A FR2574591B1 (fr) | 1984-12-11 | 1985-12-11 | Tube a rayons x a spectres multiples |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59261435A JPS61140041A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | マルチスペクトルx線発生管 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61140041A true JPS61140041A (ja) | 1986-06-27 |
Family
ID=17361843
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59261435A Pending JPS61140041A (ja) | 1984-12-11 | 1984-12-11 | マルチスペクトルx線発生管 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61140041A (ja) |
DE (1) | DE3543598A1 (ja) |
FR (1) | FR2574591B1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6516048B2 (en) | 2001-02-01 | 2003-02-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | X-ray generator |
JP2009277462A (ja) * | 2008-05-14 | 2009-11-26 | Bruker Axs Kk | X線発生装置 |
WO2012063379A1 (ja) * | 2010-11-08 | 2012-05-18 | 株式会社ライフ技術研究所 | 電界放射装置及び携帯型非破壊検査装置 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE202005017496U1 (de) * | 2005-11-07 | 2007-03-15 | Comet Gmbh | Target für eine Mikrofocus- oder Nanofocus-Röntgenröhre |
DE102011079179A1 (de) * | 2011-07-14 | 2013-01-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Monochromatische Röntgenquelle |
DE102020134487A1 (de) | 2020-12-21 | 2022-06-23 | Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik | Röntgenquelle und Betriebsverfahren hierfür |
DE102020134488A1 (de) | 2020-12-21 | 2022-06-23 | Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik | Röntgenquelle und Betriebsverfahren hierfür |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52142984A (en) * | 1976-05-24 | 1977-11-29 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | X-ray generator |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2298335A (en) * | 1940-09-10 | 1942-10-13 | Gen Electric X Ray Corp | Multiple target anode |
BE475842A (ja) * | 1942-04-25 | |||
US3033984A (en) * | 1959-02-17 | 1962-05-08 | United States Steel Corp | Apparatus for increasing the energy of x-rays |
FR2076604A5 (ja) * | 1970-01-21 | 1971-10-15 | Commissariat Energie Atomique | |
US4048496A (en) * | 1972-05-08 | 1977-09-13 | Albert Richard D | Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method |
GB2133208B (en) * | 1982-11-18 | 1986-02-19 | Kratos Ltd | X-ray sources |
-
1984
- 1984-12-11 JP JP59261435A patent/JPS61140041A/ja active Pending
-
1985
- 1985-12-10 DE DE19853543598 patent/DE3543598A1/de active Granted
- 1985-12-11 FR FR858518314A patent/FR2574591B1/fr not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS52142984A (en) * | 1976-05-24 | 1977-11-29 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | X-ray generator |
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JP2009277462A (ja) * | 2008-05-14 | 2009-11-26 | Bruker Axs Kk | X線発生装置 |
WO2012063379A1 (ja) * | 2010-11-08 | 2012-05-18 | 株式会社ライフ技術研究所 | 電界放射装置及び携帯型非破壊検査装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2574591A1 (fr) | 1986-06-13 |
DE3543598C2 (ja) | 1987-07-16 |
DE3543598A1 (de) | 1986-06-12 |
FR2574591B1 (fr) | 1990-01-19 |
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