JPS61110079A - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器Info
- Publication number
- JPS61110079A JPS61110079A JP59230260A JP23026084A JPS61110079A JP S61110079 A JPS61110079 A JP S61110079A JP 59230260 A JP59230260 A JP 59230260A JP 23026084 A JP23026084 A JP 23026084A JP S61110079 A JPS61110079 A JP S61110079A
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- Japan
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- scintillator
- scintillator element
- light
- absorption rate
- radiation
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20185—Coupling means between the photodiode and the scintillator, e.g. optical couplings using adhesives with wavelength-shifting fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
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- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は、放射線検出器に関し、特にコンピュータ断層
撮影装置に使用される放射線検出器に関する。
撮影装置に使用される放射線検出器に関する。
放射線断層撮影装置例えば第3世代あるいは第4世代の
XICT装置は、複数の検出素子を高密度に1次元配列
してなるX線検出器を有している。
XICT装置は、複数の検出素子を高密度に1次元配列
してなるX線検出器を有している。
X線検出器としては、従来主流を占めていたガス電離箱
の代りに、近年、シンチレータとフォトダイオードを組
合せた固体シンチレーション検出器が汎用されてきた。
の代りに、近年、シンチレータとフォトダイオードを組
合せた固体シンチレーション検出器が汎用されてきた。
これは、固体シンチレーション検出器に使用されるフォ
トダイオードは高密度実装が可能であるので、高分解能
のCTi1@を得るためには検出素子の配列ピッチをで
きるだけ小さくしなければならいという要請に応するこ
とができるからである。従来より知られているシンチレ
ーション検出器のI造を以下に示す。第3図は複数のシ
ンチレータ素子1をコリメータ板2を介して順次接着し
て形成した多ヂャンネル型シンチレータ素子体3を示す
。コリメータ板2は通常X線吸収率の大きい重金属1例
えば鉛やタングステンの薄板が用いられ、その両面には
シンチレータ素子1で発生した光を効率よく反射するた
め光反射剤が塗布されている。
トダイオードは高密度実装が可能であるので、高分解能
のCTi1@を得るためには検出素子の配列ピッチをで
きるだけ小さくしなければならいという要請に応するこ
とができるからである。従来より知られているシンチレ
ーション検出器のI造を以下に示す。第3図は複数のシ
ンチレータ素子1をコリメータ板2を介して順次接着し
て形成した多ヂャンネル型シンチレータ素子体3を示す
。コリメータ板2は通常X線吸収率の大きい重金属1例
えば鉛やタングステンの薄板が用いられ、その両面には
シンチレータ素子1で発生した光を効率よく反射するた
め光反射剤が塗布されている。
第4図は多チヤンネル型フォトダイオード4を示してお
り、1枚の半導体基板5上に複数の半導体光検出素子た
るフォトダイオード亀子6が形成されている。各フォト
ダイオード素子6は信号取り出し用の端子7が設けられ
、この端子7から絶縁基板8上の印刷配線端子上へ図示
しないワイヤボンディング等で電気的に接続されている
。
り、1枚の半導体基板5上に複数の半導体光検出素子た
るフォトダイオード亀子6が形成されている。各フォト
ダイオード素子6は信号取り出し用の端子7が設けられ
、この端子7から絶縁基板8上の印刷配線端子上へ図示
しないワイヤボンディング等で電気的に接続されている
。
このような構成による多チヤンネル型フォトダイオード
4は第5図に示すように、透明接着剤例えばガラス用接
着剤を用いて各チャンネルが一致するように接着接合さ
れて、多チャンネル望放射線検出ブロック9を得ること
ができる。
4は第5図に示すように、透明接着剤例えばガラス用接
着剤を用いて各チャンネルが一致するように接着接合さ
れて、多チャンネル望放射線検出ブロック9を得ること
ができる。
ところで上記構成による放射線検出器において、シンチ
レータ素子として要求される特性には以下のものがある
。
レータ素子として要求される特性には以下のものがある
。
■ X線吸収率が大きいこと。
■ 吸収したX線を光へ変換する効率が大きいこと。
■ 光透過率が大きいこと。
■ 温度変化によって発光量が変化しないこと。(発光
効率の温度係数が小さい こと)。
効率の温度係数が小さい こと)。
■ 残光が少なく、減衰が卑いこと。
■ 発光スペクトルが光半導体素子の
感度波長域に合致すること。
これらの特性を満足するシンチレータ材料としてGd2
O2S:Pr蛍光体がある。特にこの蛍光体は、発光効
率の温度係数が非常に小さく、放射線断B撮影装置の検
出器のシンチレータとして使用した場合に、周囲温度変
化に伴う各チャンネル間の信号Qの不均一な変化が無く
なり、良好な画像を得ることが期待できる。
O2S:Pr蛍光体がある。特にこの蛍光体は、発光効
率の温度係数が非常に小さく、放射線断B撮影装置の検
出器のシンチレータとして使用した場合に、周囲温度変
化に伴う各チャンネル間の信号Qの不均一な変化が無く
なり、良好な画像を得ることが期待できる。
しかしこの材料は、単結晶育成技術が困難であり、まだ
良好な単結晶が得られないため、粉末を熱間静水圧加圧
法(Hot l5ostatic Pressina
Hethod以下HIP法と略す)により焼結する方法
が試みられている。この方法で作ったGdz 02 S
:prシンチレータは、光透過率が悪い。その理由は
、■材料が光を吸収する。■焼結体中にボイドが存在し
光が散乱される。■不純物混入により着色するなどであ
る。
良好な単結晶が得られないため、粉末を熱間静水圧加圧
法(Hot l5ostatic Pressina
Hethod以下HIP法と略す)により焼結する方法
が試みられている。この方法で作ったGdz 02 S
:prシンチレータは、光透過率が悪い。その理由は
、■材料が光を吸収する。■焼結体中にボイドが存在し
光が散乱される。■不純物混入により着色するなどであ
る。
光透過率が悪いシンチレータを用いて作成した検出器を
X線CT装置に使用した場合には、検出器としての感度
とS/Nが低下する。また検出する信号中に、入射X線
の低エネルギー成分が少なくなり、画像にした場合には
低コントラストにおける空間解像度が悪くなる。
X線CT装置に使用した場合には、検出器としての感度
とS/Nが低下する。また検出する信号中に、入射X線
の低エネルギー成分が少なくなり、画像にした場合には
低コントラストにおける空間解像度が悪くなる。
そこで光透過率の悪いシンチレータ素子を使用する場合
は、シンチレータ素子内で発生した光を有効に光半導体
素子まで導くようなm造が必要であり、特にGd2O2
S:Prをト11P法で焼結したシンチレータに前記構
造を適用できれば、X線CT用検出器として最良のもの
ができる。
は、シンチレータ素子内で発生した光を有効に光半導体
素子まで導くようなm造が必要であり、特にGd2O2
S:Prをト11P法で焼結したシンチレータに前記構
造を適用できれば、X線CT用検出器として最良のもの
ができる。
[発明の目的1
本発明の目的は、光透過率の良くないシンチレータ素子
内で発生した光を有効に光半導体素子に導くような構造
にし、検出器と−での性能を向上させることである。
内で発生した光を有効に光半導体素子に導くような構造
にし、検出器と−での性能を向上させることである。
[発明の概要]
本発明の放射線検出器は、光透過率が大きく、かつ、X
線吸収率の大きい物質をシンチレータ素子の光半導体素
子と接する側の面に、HIP法などにより接合し、シン
チレータ素子内で発生した光を自己吸収を極力少なくし
て、光半導体素子まで導き検出器としての感度、S/N
、低コントラストにおける空間解像度の向上を可能にし
たことを特徴とするものである。
線吸収率の大きい物質をシンチレータ素子の光半導体素
子と接する側の面に、HIP法などにより接合し、シン
チレータ素子内で発生した光を自己吸収を極力少なくし
て、光半導体素子まで導き検出器としての感度、S/N
、低コントラストにおける空間解像度の向上を可能にし
たことを特徴とするものである。
[発明の実施例]
第1図は本発明の放射線検出器の一実施例構造の横断面
図である。シンチレータ素子10のフオトダイオード1
1と接する側の面に光透過率が大きく、かつ、X線吸収
率の大きい物質12を接合しである。これらはコリメー
タ板13を介して順次接着して多チヤンネル型シンチレ
ータ素子体をフォトダイオード11に透明接着剤14を
介して接着している。
図である。シンチレータ素子10のフオトダイオード1
1と接する側の面に光透過率が大きく、かつ、X線吸収
率の大きい物質12を接合しである。これらはコリメー
タ板13を介して順次接着して多チヤンネル型シンチレ
ータ素子体をフォトダイオード11に透明接着剤14を
介して接着している。
次にこのような検出器を製造する場合の一例について説
明する。第2図は、シンチレータ素子と光透過率が大き
く、かつ、X線吸収率の大きい物質を一体化して形成す
るHIP装置の炉本体の断面図を示すものである。15
が炉本体、16が原料を充填するカプセル、そのカプセ
ルの中にシンチレータ素子の原料17と光透過率が大き
く、かつ、X線吸収率の大きい物質の原料18とを交互
に充填している。これを所定の圧力と温度をかけて焼結
して第1図の構造を得る。
明する。第2図は、シンチレータ素子と光透過率が大き
く、かつ、X線吸収率の大きい物質を一体化して形成す
るHIP装置の炉本体の断面図を示すものである。15
が炉本体、16が原料を充填するカプセル、そのカプセ
ルの中にシンチレータ素子の原料17と光透過率が大き
く、かつ、X線吸収率の大きい物質の原料18とを交互
に充填している。これを所定の圧力と温度をかけて焼結
して第1図の構造を得る。
以下、シンチレータ素子としてGd2O2S :Prを
、また光透過率とX線吸収率の大きい物質としてPbF
2 (フッ化鉛)とした場合に、従来の構造と本発明の
構造の性能比較を表1に示す。
、また光透過率とX線吸収率の大きい物質としてPbF
2 (フッ化鉛)とした場合に、従来の構造と本発明の
構造の性能比較を表1に示す。
このように光吸収率の大きいシンチレータは、その厚み
を薄くし、X線吸収率を低下させないように、光透過率
が大きく、かつ、X[l吸収率の大きい物質を接合させ
ることにより、検出可能光量を増すことができる。
を薄くし、X線吸収率を低下させないように、光透過率
が大きく、かつ、X[l吸収率の大きい物質を接合させ
ることにより、検出可能光量を増すことができる。
前記シンチレータ素子の一例としては、Gd2O3:
Eu、CdWO4,Zn Won等を苧げることができ
、前記物質の他制としては、PbF2゜BaF2.La
F3を誉げることができ、これらを適宜組合せたものが
考えられる。
Eu、CdWO4,Zn Won等を苧げることができ
、前記物質の他制としては、PbF2゜BaF2.La
F3を誉げることができ、これらを適宜組合せたものが
考えられる。
(以下余白)
[発明の効果]
以上詳述した本発明によれば、シンチレータ素子内で発
生した光を有効に光半導体素子まで導くことにより、@
度、S/N、空間分屏能(特に低コントラストにおける
空間分解能)が向上する検出器を提供することができる
。
生した光を有効に光半導体素子まで導くことにより、@
度、S/N、空間分屏能(特に低コントラストにおける
空間分解能)が向上する検出器を提供することができる
。
第1図は本発明に係る検出器の一実施例を示す断面図、
第2図は本発明に係る検出器を製造するための装置の一
例を承す断面図、第3図は従来の多チヤンネル型シンチ
レータ素子体を示す斜視図、第4図は従来の多チヤンネ
ル型フォトダイオード素子体を示す斜視図、第5図は前
記第3図及び第4図の素子体を組合せた検出器を示す斜
視図である。 10・・・シンチレータ素子、 11・・・フォトダイオード、 12・・・光透過率及びX線吸収率の大きい物質、13
・・・コリメータ、14・・・透明接着剤。 代理人 弁理士 則近憲佑(ばか1名)第1図 第 2 図 第3図 第4図
第2図は本発明に係る検出器を製造するための装置の一
例を承す断面図、第3図は従来の多チヤンネル型シンチ
レータ素子体を示す斜視図、第4図は従来の多チヤンネ
ル型フォトダイオード素子体を示す斜視図、第5図は前
記第3図及び第4図の素子体を組合せた検出器を示す斜
視図である。 10・・・シンチレータ素子、 11・・・フォトダイオード、 12・・・光透過率及びX線吸収率の大きい物質、13
・・・コリメータ、14・・・透明接着剤。 代理人 弁理士 則近憲佑(ばか1名)第1図 第 2 図 第3図 第4図
Claims (3)
- (1)放射線により発光可能なシンチレータ素子と、こ
のシンチレータ素子の光を電気信号に変換する半導体光
検出素子とを組合せてなる放射線検出器において、シン
チレータ素子における半導体光検出素子に接する側の面
に、光透過率及び放射線吸収率の大きい物質を接合した
ことを特徴とする放射線検出器。 - (2)シンチレータ素子と光透過率及び放射線吸収率の
大きい物質の接合は、それぞれ原料を熱間静水圧加圧法
により、一体化して焼結し形成することを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の放射線検出器。 - (3)シンチレータ素子Gd_2 O_2S;Pr、Gd_2O_3:Eu、CdWO_4
、ZnWO_4とし、光透過率及び放射線吸収率の大き
い物質を、PbF_2、BaF_2、LaF_3とした
とき、これらの組合せからなり、より好ましくは、Gd
_2O_2S:PrとPbF_2であることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項又は第2項記載の放射線検出器
。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59230260A JPS61110079A (ja) | 1984-11-02 | 1984-11-02 | 放射線検出器 |
US06/793,860 US4694177A (en) | 1984-11-02 | 1985-11-01 | Radiation detector having high efficiency in conversion of absorbed X-rays into light |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59230260A JPS61110079A (ja) | 1984-11-02 | 1984-11-02 | 放射線検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61110079A true JPS61110079A (ja) | 1986-05-28 |
Family
ID=16905012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59230260A Pending JPS61110079A (ja) | 1984-11-02 | 1984-11-02 | 放射線検出器 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4694177A (ja) |
JP (1) | JPS61110079A (ja) |
Cited By (2)
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-
1984
- 1984-11-02 JP JP59230260A patent/JPS61110079A/ja active Pending
-
1985
- 1985-11-01 US US06/793,860 patent/US4694177A/en not_active Expired - Fee Related
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