JPS6044856A - ベ−パ・センサ - Google Patents
ベ−パ・センサInfo
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- JPS6044856A JPS6044856A JP12769284A JP12769284A JPS6044856A JP S6044856 A JPS6044856 A JP S6044856A JP 12769284 A JP12769284 A JP 12769284A JP 12769284 A JP12769284 A JP 12769284A JP S6044856 A JPS6044856 A JP S6044856A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はベーパや・センサ(vapour 5enso
r) K関1〜&例えば濁度センサに関する。
r) K関1〜&例えば濁度センサに関する。
べ−・母感応型コンデンサ、特に湿度感応型コンデンサ
が知られている。しかしながら、それらの装置は1周囲
ベー、e分圧の変化によって惹起される容量の変化が小
さいので、その装置に関連して用いられる電気回路内に
発生しうる浮遊容量を除去するために相当な注意を要I
〜、さもないと検知されるべき効果がその浮遊容量によ
りマスクされてしまうという難点がある。
が知られている。しかしながら、それらの装置は1周囲
ベー、e分圧の変化によって惹起される容量の変化が小
さいので、その装置に関連して用いられる電気回路内に
発生しうる浮遊容量を除去するために相当な注意を要I
〜、さもないと検知されるべき効果がその浮遊容量によ
りマスクされてしまうという難点がある。
従って1本発明は上述した従来のものとは全く異なる形
式のベーパ・センサを提供することを目的とする。
式のベーパ・センサを提供することを目的とする。
本発明によりば、選択でれた種類の周囲ベーパのうちの
選択された1つまたは任意の1つを吸収しうる材料より
なる層をダート電極とダート絶縁物との間に有する絶縁
ダート型電界効果トランジスタよシなり、前記ダート電
極が前記層をベーパに露呈させうるようになされており
、前記材料が。
選択された1つまたは任意の1つを吸収しうる材料より
なる層をダート電極とダート絶縁物との間に有する絶縁
ダート型電界効果トランジスタよシなり、前記ダート電
極が前記層をベーパに露呈させうるようになされており
、前記材料が。
前記吸収の結果、バルク誘電率の変化管受け、それによ
り前記トランジスタのドレイ・ソースチャンネル内に導
電率の検知可能な変化を生じさせるようになされている
ことを特徴とするベーパ4・センサが提供される。
り前記トランジスタのドレイ・ソースチャンネル内に導
電率の検知可能な変化を生じさせるようになされている
ことを特徴とするベーパ4・センサが提供される。
ベーパの吸収により惹起されるバルク誘電率(bulk
dielectric constant )の変化
により、ダート容量の変化が生じ、このダート容量の変
化により、ケゝ−ト電圧が一定の場合、ドレン電流のそ
れに対応した変化が生ずる。このドレン電流の変化は吸
収されるベーパの量に依存し、そのペー・ぐの量はイー
29分圧とそのベー・母に対する吸収材の親和力に依存
する。
dielectric constant )の変化
により、ダート容量の変化が生じ、このダート容量の変
化により、ケゝ−ト電圧が一定の場合、ドレン電流のそ
れに対応した変化が生ずる。このドレン電流の変化は吸
収されるベーパの量に依存し、そのペー・ぐの量はイー
29分圧とそのベー・母に対する吸収材の親和力に依存
する。
従って、ある種のセンサの場合には、ドレン電流がベー
パ分圧の表示を与えることができる。
パ分圧の表示を与えることができる。
ベーパ・センサの一例としては、ダート電極とダート絶
縁物との間における吸収層が周囲の水蒸気に応答する湿
度センサがある。しかしながら。
縁物との間における吸収層が周囲の水蒸気に応答する湿
度センサがある。しかしながら。
本発明は湿度センサ以外のセンサをも包含するものであ
って、吸収材は所望のベーパまたは所望のクラスのベー
パに応答するように選択されうろことが理解されるであ
ろう。
って、吸収材は所望のベーパまたは所望のクラスのベー
パに応答するように選択されうろことが理解されるであ
ろう。
湿度センサの場合には、ダート電極とゲート絶縁物との
間における吸収層は、例えば親水重合体のような親水物
質で形成されうる。このような重合体はヒドロゲルの形
態をなしつるものであり。
間における吸収層は、例えば親水重合体のような親水物
質で形成されうる。このような重合体はヒドロゲルの形
態をなしつるものであり。
本発明者等は、特に有効なヒドロゲルがポリアクリル酸
塩から作成されうろことを確認した。
塩から作成されうろことを確認した。
ポリアクリル酸塩とドロケ8ルは適当々ヒドロオキシア
ルキル・アクリル酸塩またはメタクリル酸−塩を重合す
ることにより作成されうる。その結果得られる重合体の
親水性の程度は、高い親水性が必要とされる場合にはN
−ビニル・ピロリドンのような親水性の高い単量体で、
低い親水性が必要とされる場合にはスチレンのような疎
水単量体でヒドロオキシアルキル・メタクリル酸塩を共
重合することによって変化これうる。適当なヒドロオキ
シアルキル・メタクリル酸塩の一例として、ヒドロオキ
シメチル・メタクリル酸塩がある。
ルキル・アクリル酸塩またはメタクリル酸−塩を重合す
ることにより作成されうる。その結果得られる重合体の
親水性の程度は、高い親水性が必要とされる場合にはN
−ビニル・ピロリドンのような親水性の高い単量体で、
低い親水性が必要とされる場合にはスチレンのような疎
水単量体でヒドロオキシアルキル・メタクリル酸塩を共
重合することによって変化これうる。適当なヒドロオキ
シアルキル・メタクリル酸塩の一例として、ヒドロオキ
シメチル・メタクリル酸塩がある。
湿度センサに用いうる他のヒドロゲルの例としては、ア
セチルセルロースおよびN−ビニル・ピロリドンとポリ
アクリルアミPの交さ結合重合体がある。
セチルセルロースおよびN−ビニル・ピロリドンとポリ
アクリルアミPの交さ結合重合体がある。
例えばベンゼンのような炭化水素ベー/4’に応答する
ために用いられるぺ−ie・センサの場合には。
ために用いられるぺ−ie・センサの場合には。
それの吸収層は例えば交さ結合ポリスチレンのような疎
水重合体で形成されうる。
水重合体で形成されうる。
例えばメチルアミンのよう々塩基性べ−ieに応答する
ために用いられるベー・ξ・センサの場合には、それの
吸収層は1例えば交さ結合ポリアクリム酸のような酸性
重合体で形成されうる。
ために用いられるベー・ξ・センサの場合には、それの
吸収層は1例えば交さ結合ポリアクリム酸のような酸性
重合体で形成されうる。
例えば酢酸のような酸性ベーパに応答するために用いら
れるべ−i4・センサの場合には、それの吸収層は例え
ばポリCツメチルアミノエチル・メタクリル酸塩)のよ
うな塩基性重合体で形成されうる。
れるべ−i4・センサの場合には、それの吸収層は例え
ばポリCツメチルアミノエチル・メタクリル酸塩)のよ
うな塩基性重合体で形成されうる。
以下図面を参照して本発明の実施例について説明しよう
。なお、図面は1本発明を一実施例と1゜て湿度センサ
に適用した場合におけるそのセンサの横断面を示してい
る。
。なお、図面は1本発明を一実施例と1゜て湿度センサ
に適用した場合におけるそのセンサの横断面を示してい
る。
本発明をその実施例としての湿度センサに関して説明す
るが、本発明は水蒸気以外のベー□・平に応答するセン
サをも包含するものであることが理解されるであろう。
るが、本発明は水蒸気以外のベー□・平に応答するセン
サをも包含するものであることが理解されるであろう。
本発明の実施例による湿度センサは、ダート絶縁物とダ
ート電極との間に親水材料よりなる層を有する絶縁ダー
ト型電界効果トランジスタ(IGFET)よりなる。前
記親水材料が水蒸気を吸収すると、バルク誘電率の変化
を受ける。
ート電極との間に親水材料よりなる層を有する絶縁ダー
ト型電界効果トランジスタ(IGFET)よりなる。前
記親水材料が水蒸気を吸収すると、バルク誘電率の変化
を受ける。
周知のように、ドレン電流対ドレン電圧(ID−VD)
特性の飽、相領域でのIGFETの動作に対応した一定
値にドレン電圧VD?保持した場合、ドレン電流IDは
次の近似式によってダート電圧VDに関係づけられる。
特性の飽、相領域でのIGFETの動作に対応した一定
値にドレン電圧VD?保持した場合、ドレン電流IDは
次の近似式によってダート電圧VDに関係づけられる。
ただしWおよびLはそれぞれ伝導チャンネルの幅および
長さであって、VDの値に依存するものであり、μは伝
導チャンネル内の電荷キャリア移動度、Cはケゝ−ト容
量、vTは閾値電圧である。
長さであって、VDの値に依存するものであり、μは伝
導チャンネル内の電荷キャリア移動度、Cはケゝ−ト容
量、vTは閾値電圧である。
水蒸気の吸収によって惹起されるバルク誘電率の変化に
より、ダート容量Cの変化が生じ、そしてこのケ゛−ト
容量の変化によシドレン電流の変化が生ずる。この容量
変化の程度は吸収される水蒸気の量に依存し、その吸収
される水蒸気の量は。
より、ダート容量Cの変化が生じ、そしてこのケ゛−ト
容量の変化によシドレン電流の変化が生ずる。この容量
変化の程度は吸収される水蒸気の量に依存し、その吸収
される水蒸気の量は。
周囲水蒸気分圧および吸収層を形成している材料の親水
性の程度の関数である。IGFETが交流の一定ケ゛−
ト電圧で動作する場合には、ドレン電流IDは周囲水蒸
気分圧の表示を与える。
性の程度の関数である。IGFETが交流の一定ケ゛−
ト電圧で動作する場合には、ドレン電流IDは周囲水蒸
気分圧の表示を与える。
図面を参照すると、このセンサは1通常はシリコンであ
る半導体材料の基体】0よりなっている。
る半導体材料の基体】0よりなっている。
この基体10は1つの導電形式゛(通常p型)にドープ
され、互いに離間]〜た2つの領域11.12は他の導
電形式(通常n型)にドープされている。
され、互いに離間]〜た2つの領域11.12は他の導
電形式(通常n型)にドープされている。
これらの領域はドレンとソースを構成し、それぞれソー
スおよびドレン電極り、S’r設けられている。ケゝ−
ト絶縁物13は二酸化シリコン、窒化シリコンあるいは
オキシ窒化物よりなる層で通常形成され、7かつ親水材
料よりなる層14を担持している。この実施例では、そ
の親水材料はポリアクリル酸塩ヒトロケ9ル、ヒドロオ
キシエチル・メタクリル酸塩である。この材料は親水性
の程□度を制御できるので特に適していることが立証さ
れている。すなわち、高い親水性が必要な場合には、ヒ
ドロオキシメチル・メタクリル酸塩?、N−ビニル・ピ
ロリドンのような親水性の高い単量体で重合すればよく
、他方、低い親水性が必要ときれる場合には、ヒドロオ
キシエチル・メタクリル酸塩をスチレンのような疎水単
量体で共重合すればよい。
スおよびドレン電極り、S’r設けられている。ケゝ−
ト絶縁物13は二酸化シリコン、窒化シリコンあるいは
オキシ窒化物よりなる層で通常形成され、7かつ親水材
料よりなる層14を担持している。この実施例では、そ
の親水材料はポリアクリル酸塩ヒトロケ9ル、ヒドロオ
キシエチル・メタクリル酸塩である。この材料は親水性
の程□度を制御できるので特に適していることが立証さ
れている。すなわち、高い親水性が必要な場合には、ヒ
ドロオキシメチル・メタクリル酸塩?、N−ビニル・ピ
ロリドンのような親水性の高い単量体で重合すればよく
、他方、低い親水性が必要ときれる場合には、ヒドロオ
キシエチル・メタクリル酸塩をスチレンのような疎水単
量体で共重合すればよい。
ざらに、重合のだめの適当な触媒としては、2゜2′−
アゾ−ビス(2−メチル・プロビオニトリルラのような
ホト・ビニルエータ(photo ini tiato
r )があり、必要に応じて、その重合体をダート絶縁
物の表面上にホトリトグラフ法によってパターン化する
ことができる。
アゾ−ビス(2−メチル・プロビオニトリルラのような
ホト・ビニルエータ(photo ini tiato
r )があり、必要に応じて、その重合体をダート絶縁
物の表面上にホトリトグラフ法によってパターン化する
ことができる。
ダート電極15は、金または銅を層14の上面に蒸着す
ることにより形成される。吸収材料を周囲の水蒸気に露
呈はせるために、ダート電極は適当な形状のシャドウマ
スクによりあるいは例えばイオンビーム・ミリング法を
用いて蒸着膜をエツチングすることにより、パターン化
されつる。あるいは、電極が十分に薄くなされた場合に
は、その電極は所望の程度の露呈?与えるのに十分なだ
け多孔質となるであろう。そのためには、電極は通常1
ooXと50OAとの間の厚さ、好ましくは約200^
の厚さとなこれるべきである。
ることにより形成される。吸収材料を周囲の水蒸気に露
呈はせるために、ダート電極は適当な形状のシャドウマ
スクによりあるいは例えばイオンビーム・ミリング法を
用いて蒸着膜をエツチングすることにより、パターン化
されつる。あるいは、電極が十分に薄くなされた場合に
は、その電極は所望の程度の露呈?与えるのに十分なだ
け多孔質となるであろう。そのためには、電極は通常1
ooXと50OAとの間の厚さ、好ましくは約200^
の厚さとなこれるべきである。
このセンサの動作時には、適当なダートおよびドレン電
圧VG、VDが各電極に印加され、周囲水蒸気分圧を表
わすドレン電流IDがモニタされる。
圧VG、VDが各電極に印加され、周囲水蒸気分圧を表
わすドレン電流IDがモニタされる。
湿度センサの特定の例においては、IGFET’(i−
交流で(通常1 kHzの周波数で)動作させて、吸収
層に電荷漏れが生ずる傾向を打消すようにすることが望
ましい。
交流で(通常1 kHzの周波数で)動作させて、吸収
層に電荷漏れが生ずる傾向を打消すようにすることが望
ましい。
水分吸収層14はヒドロオキシエチル・メタクリル酸塩
以外のポリアクリル酸塩ヒドロゲル、例えばヒドロオキ
シプロピル−メタクリル酸塩で形成きれつる。さらに1
例えばアセチルセルロースおよびN−ビニル・ピロリド
ンまたはポリアクリルアミドの交さ結合重合体のような
他の形式のヒトロケ゛ルを用いてもよい。
以外のポリアクリル酸塩ヒドロゲル、例えばヒドロオキ
シプロピル−メタクリル酸塩で形成きれつる。さらに1
例えばアセチルセルロースおよびN−ビニル・ピロリド
ンまたはポリアクリルアミドの交さ結合重合体のような
他の形式のヒトロケ゛ルを用いてもよい。
水蒸気以外のイー・ぐに応答するために用いられるセン
サの場合には、吸収層14は所望のベーパまたは所望の
クラスのべ一ノPに応答するように選択された材料で形
成される。そのセンサがベンゼンのよう々炭化水素ベー
パに応答すZために用いられる場合には、吸収層14は
例えば交さ結合ポリスチレンのような疎水重合体で形成
されうる。
サの場合には、吸収層14は所望のベーパまたは所望の
クラスのべ一ノPに応答するように選択された材料で形
成される。そのセンサがベンゼンのよう々炭化水素ベー
パに応答すZために用いられる場合には、吸収層14は
例えば交さ結合ポリスチレンのような疎水重合体で形成
されうる。
このセンサが例えばメチルアミンのような塩基性ベーパ
に応答するために用いられる場合には、吸収層14は例
えばポリメタクリル酸のような酸性−重合体で形成され
うる。
に応答するために用いられる場合には、吸収層14は例
えばポリメタクリル酸のような酸性−重合体で形成され
うる。
このセンサが例えば酢酸のような酸性イー・ぞに応答す
るために用いられる場合には、吸収層は例えばポリCジ
エチルアミノエチル・メタクリル酸塩)のような塩基性
重合体で形成されうる。
るために用いられる場合には、吸収層は例えばポリCジ
エチルアミノエチル・メタクリル酸塩)のような塩基性
重合体で形成されうる。
吸収層内で電荷漏れが生じない場合には、水蒸気以外の
ベーパに応答するセンサは直流捷たは交流で動作しつる
。
ベーパに応答するセンサは直流捷たは交流で動作しつる
。
図面は本発明の一実施例によるベーパ・センサを示す断
面図である。 図面において、10は半導体基体、Dはドレン電極、S
はソース電極、13はダート絶縁物、14は吸収層、1
5はゲート電極をそれぞれ示す。 特許出願人 イーエムアイ リミテッド代理人 弁理士
山元俊仁
面図である。 図面において、10は半導体基体、Dはドレン電極、S
はソース電極、13はダート絶縁物、14は吸収層、1
5はゲート電極をそれぞれ示す。 特許出願人 イーエムアイ リミテッド代理人 弁理士
山元俊仁
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、選択された種類の周囲ぺ−・母のうちの選択された
1つまたは任意の1つを吸収しうる材料よりなる層をダ
ート電極とダート絶縁物との間に有する絶縁ダート型電
界効果トランジスタよりなり。 前記ダート電極が前記層をベーノfに露呈させうるよう
になされており、前記材料が、前記吸収の結果、バルク
誘電率の変化を受け、それにより前記トランジスタのP
レイ・ソースチャンネル内に導電率の検知可能な変化を
生じさせるようになされていることを特徴とするペーノ
e・センサ。 2、特許請求の範囲第1項記載のべ一ノや・センサにお
いて、前記層が親水性の材料よりなる前記ペーノや中セ
ンサ。 3、特許請求の範囲第2項記載のペー・ぐ・センサにお
いて、前記親水性の材料がヒドロゲルである前記ペーパ
・センサ。 4、特許請求の範囲第3項記載のべ一ノや・センサにお
いて、前記ヒドロゲルがプリアクリル酸塩である前記ぺ
−i?・センサ。 5、特許請求の範囲第3項記載のペーパ・センサにおい
て、前記ヒドロゲルがアセチルセルロースあるいはN−
ビニルピロリジンまたはポリアクリルアミドの交さ結合
重合体である前記ベーパ・センサ。 6、特許請求の範囲第4項記載のベーパ・センサにおい
て、前記プリアクリル酸塩が、ヒドロオキシアルキル・
メタクリル酸塩を親水単量体で重合することにより形成
されたものである前記ぺ一ノや・センサ。 7、%許請求の範囲第6項記載のベーパ・センサにおい
て、前記親水単量体がN−ビニル・ピロリドンである前
記ペーパ・センサ。 8、特許請求の範囲第4項記載のペー・ぐ・センサにお
いて、前記ポリアクリル酸塩がヒドロオキシアルキル・
メタクリル酸塩を疎水単量体で重合することにより形成
されたものである前記ペー/P・センサ。 9.特許請求の範囲第8項記載のベーパ・センサにおい
て、前記疎水単量体がスチレンである前記ベーパ自セン
サ。 10、特許請求の範囲第6〜9項のいずれかに記載きレ
タべ−i!・センサにおいて、前記ヒドロオキシアルキ
ル・メタクリル酸塩がヒドロオキシエチル・メタクリル
酸塩である前記ベーパ・センサ。 11、特許請求の範囲第6〜9項のいずれかに記載すれ
たベーパ・センサにおいて、前記ヒドロオキシアルキル
・メタシリル酸塩がヒドロオキシプロピル・メタクリル
酸塩である前記ベーパ・センサ。 12、特許請求の範囲第1項記載のベーパ・センサにお
いて、前記層が疎水重合体である前記ベーパぐ・センサ
。 13、特許請求の範囲第12項記載のベー・母・センサ
において、前記疎水重合体が交さ結合?リスチレンであ
る前記ベー/l・センサ。 14、特許請求の範囲第1項記載のベーパ・センサにお
いて、前記層が酸性重合体である前記ベーパ・センサ。 15、特許請求の範囲第14項記載のべ一ノe・センサ
Kbいて、前記酸性重合体が交さ結合ポリメタクリル酸
である前記ベーパぐ・センサ。 16、%許請求の範囲第1項記載のベー・ぐ・センサに
おいて、前記層が塩基性重合体である前記ベーパ・セン
サ。 17、特許請求の範囲第16項記載のべ一ノ?・センサ
において、前記塩基性重合体がポリ(ジエチルアミノエ
チル・メタクリル酸塩)である前記ベーパ・センサ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB08322419A GB2145280B (en) | 1983-08-19 | 1983-08-19 | Vapour sensor |
GB8322419 | 1983-08-19 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6044856A true JPS6044856A (ja) | 1985-03-11 |
Family
ID=10547591
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12769284A Pending JPS6044856A (ja) | 1983-08-19 | 1984-06-22 | ベ−パ・センサ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6044856A (ja) |
DE (1) | DE3424129A1 (ja) |
GB (1) | GB2145280B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0210146A (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-12 | Nok Corp | 感湿素子およびその動作回路 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9705278D0 (en) * | 1997-03-14 | 1997-04-30 | Aromascan Plc | Gas sensor |
DE10006237A1 (de) * | 2000-02-11 | 2001-08-23 | Siemens Ag | Gassensitiver FET |
DE10335163B3 (de) * | 2003-07-30 | 2005-03-03 | Micronas Gmbh | Gassensor |
DE102006047928A1 (de) * | 2006-10-10 | 2008-04-17 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren zur Herstellung mindestens einer porösen Schicht |
GB2516247A (en) * | 2013-07-16 | 2015-01-21 | Nokia Corp | An apparatus and associated methods |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5270884A (en) * | 1975-12-09 | 1977-06-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Moisture sensitive element |
JPS55164348A (en) * | 1979-06-08 | 1980-12-22 | Kuraray Co Ltd | Comparison electrode consisting of field effect transistor |
JPS5740641A (en) * | 1980-08-25 | 1982-03-06 | Kuraray Co Ltd | Gas sensor |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4020830A (en) * | 1975-03-12 | 1977-05-03 | The University Of Utah | Selective chemical sensitive FET transducers |
US4158807A (en) * | 1977-04-25 | 1979-06-19 | Massachusetts Institute Of Technology | Gapped gate charge-flow transistor with a thin film sensor having two modes of conduction within the gapped gate used to sense a property of the ambient environment |
JPS57197456A (en) * | 1981-05-29 | 1982-12-03 | Toshiba Corp | Metallic ion detector |
-
1983
- 1983-08-19 GB GB08322419A patent/GB2145280B/en not_active Expired
-
1984
- 1984-06-22 JP JP12769284A patent/JPS6044856A/ja active Pending
- 1984-06-30 DE DE19843424129 patent/DE3424129A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5270884A (en) * | 1975-12-09 | 1977-06-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Moisture sensitive element |
JPS55164348A (en) * | 1979-06-08 | 1980-12-22 | Kuraray Co Ltd | Comparison electrode consisting of field effect transistor |
JPS5740641A (en) * | 1980-08-25 | 1982-03-06 | Kuraray Co Ltd | Gas sensor |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0210146A (ja) * | 1988-06-28 | 1990-01-12 | Nok Corp | 感湿素子およびその動作回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB8322419D0 (en) | 1983-09-21 |
DE3424129A1 (de) | 1985-03-07 |
GB2145280A (en) | 1985-03-20 |
GB2145280B (en) | 1987-12-02 |
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