JPS60262249A - Microprocessor applying device - Google Patents
Microprocessor applying deviceInfo
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- JPS60262249A JPS60262249A JP59117917A JP11791784A JPS60262249A JP S60262249 A JPS60262249 A JP S60262249A JP 59117917 A JP59117917 A JP 59117917A JP 11791784 A JP11791784 A JP 11791784A JP S60262249 A JPS60262249 A JP S60262249A
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- microprocessor
- test
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、マイクロプロセッサ応用装置に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a microprocessor application device.
従来、マイクロプロセッサ応用装置の試験または検査は
、特別に製造された検査装置を使用したり、あるいは汎
用テスタ、たとえばマイクロプロセッサ・アナライザや
インサーキット・エミュレータ（ＩＣＥ）等を使用して
いた。これらの試験又は検査では、第２図に示すように
通常、被試験装置１の中央処理装置（ＣＰ［Ｊ）ソケッ
トからＣＰＵすなわちマイクロプロセッサを取り外し、
そこに上述のテスク２をインタフェースケーブル３を介
して接続してテスタ側からＣＰＵボードや装置をコント
ロールし、ソフトウェアとハードウェアとを統合して試
験を行なうものであった。Traditionally, microprocessor-based devices have been tested or inspected using specially manufactured test equipment or using general-purpose testers such as microprocessor analyzers and in-circuit emulators (ICE). In these tests or inspections, the CPU or microprocessor is usually removed from the central processing unit (CP[J) socket of the device under test 1, as shown in FIG.
The tester 2 described above was connected to the tester via an interface cable 3, and the CPU board and equipment were controlled from the tester side, and the software and hardware were integrated to perform the test.
上述のようなテスターを用いた試験の場合には、マイク
ロプロセッサを取り付ける組立作業を行なう必要がある
ため、一般の使用者が直接マイクロプロセッサ一応用装
置の試験を行なうことは極めて困難であった。そこで一
般の使用者がマイクロプロセッサの故障を検出しても、
即時に検査することができない。またたとえ、マイクロ
プロセッサ応用装置の製造会社のサービスマンがその故
障を診断したとしても、その故障診断後初めて不良部品
の取寄せ等の修理の準備を行なうこととなるのでマイク
ロプロセッサ応用装置の使用停止期間が非常に長くなっ
てしまうことになる。さらにインクフェースケーブル３
を通じて診断を行なうため、異常モードと全く同一状況
でテストすることが不可能である。In the case of testing using the tester as described above, it is necessary to perform assembly work to attach the microprocessor, so it is extremely difficult for general users to directly test microprocessor-applied devices. Therefore, even if a general user detects a malfunction in the microprocessor,
cannot be inspected immediately. Furthermore, even if a service person from a manufacturer of microprocessor-applied equipment diagnoses the malfunction, preparations for repairs such as ordering defective parts must be made only after the failure is diagnosed, so the period during which the microprocessor-applied equipment will be out of use must be prepared. will become very long. Furthermore, ink face cable 3
Because the diagnosis is performed through the system, it is impossible to test under exactly the same conditions as the abnormal mode.
〔問題点を解決するための手段及び作用〕上述の問題点
を解決するため、本発明のマイクロプロセッサ応用装置
は、装置の異常を検出する異常検出器と、予じめ決めら
れたテストプログラムが書込まれた消去・プログラム可
能なリードオンリメモリと、診断結果を表示する表示器
と、前、：１１′ 記異常検出器からの信号により前記
テストプログラムに従って診断動作を開始する中央処理
装置とで構成され、これによって故障発生時または異常
検出時に即時に診断動作が行なわれてその診断結果が表
示される。[Means and operations for solving the problems] In order to solve the above problems, the microprocessor application device of the present invention includes an abnormality detector that detects abnormalities in the device and a predetermined test program. A read-only memory that can be erased and programmed, a display that displays diagnostic results, and a central processing unit that starts a diagnostic operation according to the test program based on the signal from the abnormality detector described in item 11' above. As a result, when a failure occurs or an abnormality is detected, a diagnostic operation is performed immediately and the diagnostic results are displayed.
本発明のマイクロプロセッサ応用装置の実施例を第１図
に示す。第１図において、ＣＰＵすなわちマイクロプロ
セッサ１０には、通常動作用としてリードオンメモリ（
ＲＯＭ）１１、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ＞１２
、表示装置１３、複数個の入出カポ−） （Ｉｌｏ）１
４が接続されている。さらにこのＣＰＵｌ０には書き換
え可能なリードオンリメモリすなわち消去・プログラム
可能なリードオンリメモリ（ＥＰ−ＲＯＭ＞１５も′接
続されており、また電源の異常を検出する電圧センサ１
６、装置内の温度を検出する温度センサ１７、磁気ディ
スクの回転数を検出する回転数センサ１８等の各センサ
からの検出信号がオアゲート１９を介して割込み要求信
号ａとして人力されている。An embodiment of the microprocessor application device of the present invention is shown in FIG. In FIG. 1, a CPU or microprocessor 10 includes a read-on memory (
ROM) 11, random access memory (RAM>12)
, display device 13, multiple input/output capos) (Ilo) 1
4 is connected. Furthermore, a rewritable read-only memory, that is, an erasable/programmable read-only memory (EP-ROM>15') is also connected to this CPU10, and a voltage sensor 1 that detects abnormalities in the power supply is also connected.
6. Detection signals from each sensor, such as a temperature sensor 17 that detects the temperature inside the device and a rotation speed sensor 18 that detects the rotation speed of the magnetic disk, are manually inputted as an interrupt request signal a via an OR gate 19.
次に第１図のマイクロプロセッサ応用装置の動作につい
て説明する。Next, the operation of the microprocessor application device shown in FIG. 1 will be explained.
まず、第１図において温度センサ１６、電圧センサ１７
、回転数センサ１８のいずれかが装置内の異常を検出す
ると、ｃｐｕ ｉ ｏに対して割込み要求信号ａが出さ
れる。ＣＰＵ １０は、割込み要求信号ａを介しで割込
み要求を受け入れた時点で書き換え可能なＥＰ−ＲＯＭ
１５のアドレスヘジャンプする。書き換え可能なＥＰ
−ＲＯＭは、各メモリ１１．１２あるいはＩ１０ポート
１４に対応するテストプログラムを有しており、予じめ
決められた手順に従がい、診断動作を開始する。First, in FIG. 1, a temperature sensor 16, a voltage sensor 17
, rotation speed sensor 18 detects an abnormality within the device, an interrupt request signal a is issued to the CPU IO. The CPU 10 has an EP-ROM that can be rewritten upon accepting an interrupt request via the interrupt request signal a.
Jump to address 15. Rewritable EP
- The ROM has a test program corresponding to each memory 11, 12 or I10 port 14, and starts a diagnostic operation according to a predetermined procedure.
ここで各メモリ１１．１２あるいは■／○ポート１４の
試験中に何らかの異常が発見された場合は、ＥＰ−ＲＯ
Ｍ中に書かれた表示ルーチンヘジャンプし、その試験内
容とエラー状態を表示する。If any abnormality is found during the test of each memory 11.12 or ■/○ port 14, please
Jump to the display routine written in M and display the test contents and error status.
また試験が正常に終了した場合には、その旨表示装置１
３へ出力する。In addition, if the test has been successfully completed, the display device 1 to that effect
Output to 3.
本発明によれば、マイクロプロセッサ応用装置の試験に
テスクが不要となるので、試験時間が短縮されかつ試験
費用の低減が図られる。また、ボード上のアイクロプロ
セッサを使用して試験又は検査を行なうため、汎用テス
タを用いた時に生ずるような厳密なタイミングの相違に
よる誤検査を回避することが可能となる。さらに書き換
え可能なＥＰ−ＲＯＭを使用しているのでテストプログ
ラムの書き変え、変更が簡単に行なえる。また、決めら
れたテストプログラムにより診断動作が実行されるため
に試験者による誤りが生じないことや、エラーを表示装
置に出力するため初心者でも操作可能であるという効果
も得られる。According to the present invention, no test is required for testing a microprocessor application device, so that testing time and testing costs can be reduced. Furthermore, since the microprocessor on the board is used to perform the test or inspection, it is possible to avoid erroneous inspections due to exact timing differences that occur when a general-purpose tester is used. Furthermore, since a rewritable EP-ROM is used, test programs can be easily rewritten and changed. Further, since the diagnostic operation is executed according to a predetermined test program, there are no errors by the tester, and since errors are output to the display device, even beginners can operate the system.
第１図は本発明によるマイクロプロセッサ応用装置の実
施例を示すブロック図、第２図は、マイクロプロセッサ
応用装置の従来方式における試験例を示すブロック図で
ある。
１ マイクロプロセッサ応用装置（被試験装置）２ イ
ンサーキット・エミュレータ（テスタ）、３ インタフ
ェースケーブル、１０ マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）
、１１ リードオンリメモリ、１２ ランダムアクセス
メモリ、１３ 表示装置１４− Ｉ １０ポート、１５
書き換え可能なＥＰ−ＲＯＭ、１６ 温度センサ、１
７ 電圧センサ、１８ 回転数センサ、１９ オアゲー
ト。
ｌ′
第２図FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a microprocessor application device according to the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing an example of a conventional test method for a microprocessor application device. 1 Microprocessor application device (device under test) 2 In-circuit emulator (tester), 3 Interface cable, 10 Microprocessor (CPU)
, 11 read-only memory, 12 random access memory, 13 display device 14-I 10 port, 15
Rewritable EP-ROM, 16 Temperature sensor, 1
7 voltage sensor, 18 rotation speed sensor, 19 OR gate. l' Figure 2
Claims (1)
テストプログラムが書込まれた消去・ブロク゛ラム可能
なリードオンリメモリと、診断結果を表示する表示器と
、前記異常検出器からの信号により前記テストプログラ
ムに従って診断動作を開始するマイクロプロセッサとを
具備するマイクロプロセッサ応用装置。An abnormality detector that detects abnormalities in the device, a read-only memory that can be erased and programmed in which a predetermined test program is written, a display that displays diagnostic results, and a A microprocessor application device comprising: a microprocessor that starts a diagnostic operation according to the test program in response to a signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59117917A JPS60262249A (en) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | Microprocessor applying device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59117917A JPS60262249A (en) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | Microprocessor applying device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60262249A true JPS60262249A (en) | 1985-12-25 |
Family
ID=14723375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59117917A Pending JPS60262249A (en) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | Microprocessor applying device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60262249A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62272330A (en) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Nec Corp | Defect analyzing circuit of microprocessor |
| JPH01121945A (en) * | 1987-11-05 | 1989-05-15 | Nec Corp | Single chip microcomputer |
| JPH03144742A (en) * | 1989-10-30 | 1991-06-20 | Mitsubishi Electric Corp | Microcomputer |
-
1984
- 1984-06-08 JP JP59117917A patent/JPS60262249A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62272330A (en) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Nec Corp | Defect analyzing circuit of microprocessor |
| JPH01121945A (en) * | 1987-11-05 | 1989-05-15 | Nec Corp | Single chip microcomputer |
| JPH03144742A (en) * | 1989-10-30 | 1991-06-20 | Mitsubishi Electric Corp | Microcomputer |
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