JPS60227458A - 半導体集積回路装置における熱遮断装置 - Google Patents
半導体集積回路装置における熱遮断装置Info
- Publication number
- JPS60227458A JPS60227458A JP59085334A JP8533484A JPS60227458A JP S60227458 A JPS60227458 A JP S60227458A JP 59085334 A JP59085334 A JP 59085334A JP 8533484 A JP8533484 A JP 8533484A JP S60227458 A JPS60227458 A JP S60227458A
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- JP
- Japan
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- transistor
- collector
- base
- whose
- resistor
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/20—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D23/00—Control of temperature
- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/1906—Control of temperature characterised by the use of electric means using an analogue comparing device
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Protection Of Static Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は半導体集積回路装置において、装置が熱破壊す
るのを防止する熱遮断装置に関するものである。
るのを防止する熱遮断装置に関するものである。
従来のこの種の装置の一例を第1図に示し説明すると、
図において、1は定電流回路、3は定電流用PNP )
ランジスタ、6は出力用pNP )ランジスタ、8は感
熱用NPN )ランジスタ、2,5.7は電流制限用抵
抗、4は基準電圧設定用抵抗である。
図において、1は定電流回路、3は定電流用PNP )
ランジスタ、6は出力用pNP )ランジスタ、8は感
熱用NPN )ランジスタ、2,5.7は電流制限用抵
抗、4は基準電圧設定用抵抗である。
そして、定電流用PNP )ランジスタ3のベースは定
電流回路1に接続され、エミッタは抵抗2を介して電源
端子100に接続され、コレクタは抵抗4を介して接地
端子300に接続されている。また、感熱用NPN )
ランラスタ80ペースは上記PNP )ランジスタ3の
コレクタに接続され、コレクタは抵抗7.5を直列に介
して電源端子100に接続され、エミッタは接地端子3
00に接続されている。
電流回路1に接続され、エミッタは抵抗2を介して電源
端子100に接続され、コレクタは抵抗4を介して接地
端子300に接続されている。また、感熱用NPN )
ランラスタ80ペースは上記PNP )ランジスタ3の
コレクタに接続され、コレクタは抵抗7.5を直列に介
して電源端子100に接続され、エミッタは接地端子3
00に接続されている。
また、出力用PNP )ランジスタロのベースは抵抗5
、γの接続点に接続され、エミッタは電源端子100に
接続され、コレクタは出力端子200に接続されている
。
、γの接続点に接続され、エミッタは電源端子100に
接続され、コレクタは出力端子200に接続されている
。
このように構成された回路において、定電流回路1で作
られた定電流をカレントミラー回路で定電流用の円卯ト
ランジスタ3のコレクタ電流を定電流化し、基準電圧設
定用抵抗4を通して感熱用のNPN )ランジスタ8の
ベースに定電圧を作シ出す。ここで、1.は定電流を示
す。そして、この感熱用NPN )ランジスタ8のベー
ス・エミッタ間電圧VtVの温度変化によシ定電圧よシ
ベース・エミッタ間電圧VBICが低くなったとき感熱
用のNPNトランジスタ8がオン状態となシ、出力用P
NP )ランジスタロをオンさせ、出力端子200に接
続された回路の動作を遮断させる。
られた定電流をカレントミラー回路で定電流用の円卯ト
ランジスタ3のコレクタ電流を定電流化し、基準電圧設
定用抵抗4を通して感熱用のNPN )ランジスタ8の
ベースに定電圧を作シ出す。ここで、1.は定電流を示
す。そして、この感熱用NPN )ランジスタ8のベー
ス・エミッタ間電圧VtVの温度変化によシ定電圧よシ
ベース・エミッタ間電圧VBICが低くなったとき感熱
用のNPNトランジスタ8がオン状態となシ、出力用P
NP )ランジスタロをオンさせ、出力端子200に接
続された回路の動作を遮断させる。
しかしながら、このような熱遮断装置においては、遮断
設定温度が一点になっているため、集積回路の温度は遮
断温度が持続してしまう。そして、この遮断設定温度は
通常、高温に設定しであるため、長時間持続した場合に
は特性劣化するおそれがある。このように、半導体集積
回路で過熱保護する場合、長時間保護する場合には、高
熱で特性劣化するおそれがあるという欠点があった。
設定温度が一点になっているため、集積回路の温度は遮
断温度が持続してしまう。そして、この遮断設定温度は
通常、高温に設定しであるため、長時間持続した場合に
は特性劣化するおそれがある。このように、半導体集積
回路で過熱保護する場合、長時間保護する場合には、高
熱で特性劣化するおそれがあるという欠点があった。
本発明は以上の点に鑑み、このような問題を解決すると
共にかかる欠点を除去すべくなされたもので、その目的
は比較的簡単な回路構成によって高温状態が持続する場
合でも半導体回路装置を安全に保護することができ、低
温になるまで再動作を防止することができる半導体集積
回路装置における熱遮断装置を提供することにある。
共にかかる欠点を除去すべくなされたもので、その目的
は比較的簡単な回路構成によって高温状態が持続する場
合でも半導体回路装置を安全に保護することができ、低
温になるまで再動作を防止することができる半導体集積
回路装置における熱遮断装置を提供することにある。
このような目的を達成するため、本発明は、ベースが定
電流回路に接続されエミッタがそれぞれ抵抗を介して電
源に接続された定電流用の第1および第2のトランジス
タと、コレクタとベースが上記第1のトランジスタのコ
レクタに接続されエミッタが抵抗を介して接地されるカ
レントミラー用の第3のトランジスタと、この第3のト
ランジスタのベースにベースが接続されコレクタが上記
第2のトランジスタのコレクタに接続されエミッタが抵
抗を介して接地される第4のトランジスタと、この第4
のトランジスタのコレクタと接地間に接続された基準電
圧設定用の抵抗と、上記第4のトランジスタのコレクタ
にベースが接続されコレクタが2つの抵抗を直列に介し
て上記電源に接続されエミッタが接地される感熱用の第
5のトランジスタと、ベースが上記直列に接続された抵
抗の接続点に接続されエミッタが上記電源に接続されマ
ルチコレクタの一方が出力端子に接続される出力用の第
6のトランジスタと、ベースが抵抗を介して上記第6の
トランジスタのマルチコレクタの他方に接続されコレク
タが前記第3のトランジスタのベースに接続されエミッ
タが接地されるヒステリシス用の第7のトランジスタと
を備えて構成するようにしたものである。
電流回路に接続されエミッタがそれぞれ抵抗を介して電
源に接続された定電流用の第1および第2のトランジス
タと、コレクタとベースが上記第1のトランジスタのコ
レクタに接続されエミッタが抵抗を介して接地されるカ
レントミラー用の第3のトランジスタと、この第3のト
ランジスタのベースにベースが接続されコレクタが上記
第2のトランジスタのコレクタに接続されエミッタが抵
抗を介して接地される第4のトランジスタと、この第4
のトランジスタのコレクタと接地間に接続された基準電
圧設定用の抵抗と、上記第4のトランジスタのコレクタ
にベースが接続されコレクタが2つの抵抗を直列に介し
て上記電源に接続されエミッタが接地される感熱用の第
5のトランジスタと、ベースが上記直列に接続された抵
抗の接続点に接続されエミッタが上記電源に接続されマ
ルチコレクタの一方が出力端子に接続される出力用の第
6のトランジスタと、ベースが抵抗を介して上記第6の
トランジスタのマルチコレクタの他方に接続されコレク
タが前記第3のトランジスタのベースに接続されエミッ
タが接地されるヒステリシス用の第7のトランジスタと
を備えて構成するようにしたものである。
以下、図面に基づき本発明の実施例を詳細に説明する。
第2図は本発明による半導体集積回路装置における熱遮
断装置の一実施例を示す回路図である。
断装置の一実施例を示す回路図である。
この第2図において第1図と同一符号のものは相当部分
を示し、10.12は定電流用のPNP )ランジスタ
、13.16はカレントミラー用のNPN )ランジス
タ、18はヒステリシス用のNPNトランジスタである
。なお、6はマルチコレクタの出力用のPNP )ラン
ジスタである。
を示し、10.12は定電流用のPNP )ランジスタ
、13.16はカレントミラー用のNPN )ランジス
タ、18はヒステリシス用のNPNトランジスタである
。なお、6はマルチコレクタの出力用のPNP )ラン
ジスタである。
そして、PNP )ランジスタ10.12のベースは定
電流回路1に接続され、エミッタはそれぞれ抵抗9,1
0を介して電源端子100に接続されている。また、N
PN)ランジスタ13のコレクタおよびベースはPNP
)ランジスタ10のコレクタに接続され、NPNトラ
ンジスタ13のエミッタは抵抗14を介して接地端子3
00に接続されている。
電流回路1に接続され、エミッタはそれぞれ抵抗9,1
0を介して電源端子100に接続されている。また、N
PN)ランジスタ13のコレクタおよびベースはPNP
)ランジスタ10のコレクタに接続され、NPNトラ
ンジスタ13のエミッタは抵抗14を介して接地端子3
00に接続されている。
また、NPN )ランジスタ16のベースはNPN )
ランジスタ13のベースに接続され、とのNPN )ラ
ンジスタ16のコレクタはPNP )ランジスタ12の
コレクタに接続されると共に基準電圧設定用の抵抗4を
介して接地端子300に接続され、NPN )ランジス
タ16のエミッタは抵抗15を介して接地端子300に
接続されている。また、感熱用のNPN )ランジスタ
8のベースはNPN )ランジスタ16のコレクタに接
続されている。また、NPN)ランジスタ18のベース
は抵抗17を介してPNPトランジスタ6のマルチコレ
クタの他方に接続され、とのNPN )ランジスタ18
のコレクタはNPNトランジスタ13のベースに接続さ
れ、NPNトランジスタ18のエミッタは接地端子30
0に接続されている。そして、上記PNP )ランジス
タロのマルチコレクタの一方は出力端子20Gに接続さ
れている。
ランジスタ13のベースに接続され、とのNPN )ラ
ンジスタ16のコレクタはPNP )ランジスタ12の
コレクタに接続されると共に基準電圧設定用の抵抗4を
介して接地端子300に接続され、NPN )ランジス
タ16のエミッタは抵抗15を介して接地端子300に
接続されている。また、感熱用のNPN )ランジスタ
8のベースはNPN )ランジスタ16のコレクタに接
続されている。また、NPN)ランジスタ18のベース
は抵抗17を介してPNPトランジスタ6のマルチコレ
クタの他方に接続され、とのNPN )ランジスタ18
のコレクタはNPNトランジスタ13のベースに接続さ
れ、NPNトランジスタ18のエミッタは接地端子30
0に接続されている。そして、上記PNP )ランジス
タロのマルチコレクタの一方は出力端子20Gに接続さ
れている。
つぎにこの第2図に示す実施例の動作を説明する。
まず、第1図に示す従来の回路で一定となっていた定電
流工0を定電流用の2つのPNP )ランジスタ10.
12によって定電流i、 l I2の2つの定電流を作
シ、カレントミラー回路を形成するNPN )ランジス
タ13.16によって通常の場合、l0=I、−I2と
なるような構成とする。
流工0を定電流用の2つのPNP )ランジスタ10.
12によって定電流i、 l I2の2つの定電流を作
シ、カレントミラー回路を形成するNPN )ランジス
タ13.16によって通常の場合、l0=I、−I2と
なるような構成とする。
そして、温度が上昇し、感熱用NPN )ランジスタ8
がオン状態に移行するまでは第1図に示す従来の回路動
作と同様である。
がオン状態に移行するまでは第1図に示す従来の回路動
作と同様である。
ここで、従来と異なるのは、感熱用のNPN )ランジ
スタ8が一度オンになると、出力用のpNP )ジンジ
スタロを通して感熱用NPN )ランジスタ8がオンす
るため、カレントミラー回路を形成するNPN )ラン
ジスタ13.16が遮断してしまい、■2=0となシ、
Io=I、となる。よって、感熱用のNPN )ランジ
スタ8のベースに印加する基準電圧が最初の値よシ高く
なシ、ベース・エミッタ間電圧vexがその電圧になる
まで出力用のPNP )ランジスタロはオン状態を持続
する。っまシ、温度が第2の設定温度になるまで出力端
子200に接続された回路動作を遮断している状態とな
る。なお、出力用のPNP )ランジスタロがオンする
と、ヒステリシス用のNPN )ランジスタ18にはベ
ース電流が流れるのでオン状態に移行する。
スタ8が一度オンになると、出力用のpNP )ジンジ
スタロを通して感熱用NPN )ランジスタ8がオンす
るため、カレントミラー回路を形成するNPN )ラン
ジスタ13.16が遮断してしまい、■2=0となシ、
Io=I、となる。よって、感熱用のNPN )ランジ
スタ8のベースに印加する基準電圧が最初の値よシ高く
なシ、ベース・エミッタ間電圧vexがその電圧になる
まで出力用のPNP )ランジスタロはオン状態を持続
する。っまシ、温度が第2の設定温度になるまで出力端
子200に接続された回路動作を遮断している状態とな
る。なお、出力用のPNP )ランジスタロがオンする
と、ヒステリシス用のNPN )ランジスタ18にはベ
ース電流が流れるのでオン状態に移行する。
かくして、上記熱的ヒステリシス動作によシ高温動作を
防止することができる。
防止することができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、複雑な手段を用
いることなく、熱的ヒステリシスを保護回路に入れ低温
になるまで再動作を防止するようにした比較的簡単な回
路構成によって、高温状態が長時間持続する場合でも半
導体集積回路装置を安全に保護することができるので、
実用上の効果は極めて大である。
いることなく、熱的ヒステリシスを保護回路に入れ低温
になるまで再動作を防止するようにした比較的簡単な回
路構成によって、高温状態が長時間持続する場合でも半
導体集積回路装置を安全に保護することができるので、
実用上の効果は極めて大である。
第1図は従来の半導体集積回路装置における熱遮断装置
の一例を示す回路図、第2図は本発明による半導体集積
回路装置における熱遮断装置の一実施例を示す回路図で
ある。 6・・・・出力用PNP )ランジスタ、8・・−・感
熱用NPN )ランジスタ、13.16・・・・カレン
トミラー用NPN )ランジスタ、18・・・・ヒステ
リシス用NPN )ランジスタ、4,5,7,9゜11
.14,15.17・−・・抵抗、100・・・・電源
端子、200・・・・出力端子、300・・・・接地端
子。 代理人大岩増雄
の一例を示す回路図、第2図は本発明による半導体集積
回路装置における熱遮断装置の一実施例を示す回路図で
ある。 6・・・・出力用PNP )ランジスタ、8・・−・感
熱用NPN )ランジスタ、13.16・・・・カレン
トミラー用NPN )ランジスタ、18・・・・ヒステ
リシス用NPN )ランジスタ、4,5,7,9゜11
.14,15.17・−・・抵抗、100・・・・電源
端子、200・・・・出力端子、300・・・・接地端
子。 代理人大岩増雄
Claims (1)
- ベースが定電流回路に接続されエミッタがそれぞれ抵抗
を介して電源に接続された定電流用の第1および第2の
トランジスタと、コレクタとベースが前記第1のトラン
ジスタのコレクタに接続されエミッタが抵抗を介して接
地されるカレントミラー用の第3のトランジスタと、こ
の第3のトランジスタのベースにベースが接続されコレ
クタが前記第2のトランジスタのコレクタに接続されエ
ミッタが抵抗を介して接地される第4のトランジスタと
、この第4のトランジスタのコレクタと接地間に接続さ
れた基準電圧設定用の抵抗と、前記第4のトランジスタ
のコレクタにベースが接続されコレクタが2つの抵抗を
直列に介して前記電源に接続されエミッタが接地される
感熱用の第5のトランジスタと、ベースが前記直列に接
続された抵抗の接続点に接続されエミッタが前記電源に
接続されマルチコレクタの一方が出力端子に接続される
出力用の第6のトランジスタと、ベースが抵抗を介して
前記第6のトランジスタのマルチコレクタの他方に接続
されコレクタが前記第3のトランジスタのベースに接続
されエミッタが接地されるヒステリシス用の第7のトラ
ンジスタとを備えたことを特徴とする半導体集積回路装
置における熱遮断装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59085334A JPS60227458A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 半導体集積回路装置における熱遮断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59085334A JPS60227458A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 半導体集積回路装置における熱遮断装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60227458A true JPS60227458A (ja) | 1985-11-12 |
Family
ID=13855738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59085334A Pending JPS60227458A (ja) | 1984-04-25 | 1984-04-25 | 半導体集積回路装置における熱遮断装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60227458A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07161920A (ja) * | 1993-12-08 | 1995-06-23 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4887338U (ja) * | 1972-01-26 | 1973-10-22 | ||
JPS4995235U (ja) * | 1972-12-12 | 1974-08-16 | ||
JPS5673501U (ja) * | 1979-11-07 | 1981-06-16 |
-
1984
- 1984-04-25 JP JP59085334A patent/JPS60227458A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4887338U (ja) * | 1972-01-26 | 1973-10-22 | ||
JPS4995235U (ja) * | 1972-12-12 | 1974-08-16 | ||
JPS5673501U (ja) * | 1979-11-07 | 1981-06-16 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07161920A (ja) * | 1993-12-08 | 1995-06-23 | Nec Corp | 半導体集積回路 |
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