JPS60219793A - 厚膜回路描画方法 - Google Patents
厚膜回路描画方法Info
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- JPS60219793A JPS60219793A JP59076934A JP7693484A JPS60219793A JP S60219793 A JPS60219793 A JP S60219793A JP 59076934 A JP59076934 A JP 59076934A JP 7693484 A JP7693484 A JP 7693484A JP S60219793 A JPS60219793 A JP S60219793A
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- JP
- Japan
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- paste
- tank
- thick film
- substrate
- film circuit
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/12—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
- H05K3/1241—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by ink-jet printing or drawing by dispensing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/70—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
- H01L21/702—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof of thick-or thin-film circuits or parts thereof
- H01L21/705—Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof of thick-or thin-film circuits or parts thereof of thick-film circuits or parts thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/01—Tools for processing; Objects used during processing
- H05K2203/0104—Tools for processing; Objects used during processing for patterning or coating
- H05K2203/0126—Dispenser, e.g. for solder paste, for supplying conductive paste for screen printing or for filling holes
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ラジオ受信機、テレビ受像機、ビデオテープ
レコーダー、通信機器等に利用可能な、描画方式による
厚膜回路描画方法に関するものである。
レコーダー、通信機器等に利用可能な、描画方式による
厚膜回路描画方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点
従来の描画方式による厚膜回路形成方法は、第1図〜第
3図に示すように、1はペーストが充填された吐出孔を
有するタンクであり、2はペーストの吐出口、3は一般
に金属粉、樹脂バインダー。
3図に示すように、1はペーストが充填された吐出孔を
有するタンクであり、2はペーストの吐出口、3は一般
に金属粉、樹脂バインダー。
溶剤からなる厚膜ペースト、4は基板とタンクとの間隔
を一定に保つためのスタイラス、6は基板で6は基板上
に予じめ形成された導体であり、7は基板6を固定する
ステージであり、8は3軸直交ロボツトである。第1図
は描画装置の斜視図、第2図は描画する前の状態図であ
り、第3図は、基板上に描画をしている時の状態図であ
り、描画時には基板上にスタイラス4が接触し、圧縮空
気により矢印入方向に押圧されているためペースト3が
吐出口2より基板上に吐出されタンク1が矢印B方向に
移動して回路が形成される。又、描画終了後には、矢印
入方向の押圧が解除されタンク1は基板上から離れ第1
図の状態になる。ここで、問題になるのは、描画休止時
間が長くなると吐出口2で溶剤が揮散し部分的にペース
トの粘度が高くなり、いわゆるペーストの乾きが生じペ
ース]・つまり全発生し、しばしば、吐出口2を掃除し
なければならないために大へん煩わしく又、生産性が向
上しない問題があった。
を一定に保つためのスタイラス、6は基板で6は基板上
に予じめ形成された導体であり、7は基板6を固定する
ステージであり、8は3軸直交ロボツトである。第1図
は描画装置の斜視図、第2図は描画する前の状態図であ
り、第3図は、基板上に描画をしている時の状態図であ
り、描画時には基板上にスタイラス4が接触し、圧縮空
気により矢印入方向に押圧されているためペースト3が
吐出口2より基板上に吐出されタンク1が矢印B方向に
移動して回路が形成される。又、描画終了後には、矢印
入方向の押圧が解除されタンク1は基板上から離れ第1
図の状態になる。ここで、問題になるのは、描画休止時
間が長くなると吐出口2で溶剤が揮散し部分的にペース
トの粘度が高くなり、いわゆるペーストの乾きが生じペ
ース]・つまり全発生し、しばしば、吐出口2を掃除し
なければならないために大へん煩わしく又、生産性が向
上しない問題があった。
発明の目的
本発明は、上記問題を解決しペーストのつまりを防ぎ生
産性向上が図れる描画方式による厚膜回路形成方法を提
供するものである。
産性向上が図れる描画方式による厚膜回路形成方法を提
供するものである。
発明の構成
本発明の厚膜回路描画方法は吐出孔を有するタンクより
、圧縮空気を使用してペーストを吐出させ、基板上に厚
膜回路を形成する方法で、前記ペーストが充填された吐
出孔を有するタンクの描画休止時間が一定時間経過毎に
、前記基板外に設けられた捨て描き部に捨て描きを行な
うことによってタンク吐出孔でのペーストつまり會防止
するものである。
、圧縮空気を使用してペーストを吐出させ、基板上に厚
膜回路を形成する方法で、前記ペーストが充填された吐
出孔を有するタンクの描画休止時間が一定時間経過毎に
、前記基板外に設けられた捨て描き部に捨て描きを行な
うことによってタンク吐出孔でのペーストつまり會防止
するものである。
実施例の説明
第4図〜第6図に本発明の一実施例を示す。1はペース
トが充填された吐出孔を有するタンク、5は基板、7は
基板を固定するステージ、8は3軸直交ロボツト、9は
捨て描き用テープ、10は捨て描きテープの巻き取りリ
ール、11は捨て描き用テープ台、12は圧縮空気用ホ
ースである。
トが充填された吐出孔を有するタンク、5は基板、7は
基板を固定するステージ、8は3軸直交ロボツト、9は
捨て描き用テープ、10は捨て描きテープの巻き取りリ
ール、11は捨て描き用テープ台、12は圧縮空気用ホ
ースである。
第3図は、本発明の一実施例を示す装置の概略図である
。第4図は本発明の一実施例を示す工程図である。次に
、基板6に厚膜回路を描画するには、酸化ルテニウム粉
、樹脂バインダー、溶剤よりなる酸化ルテニウム抵抗ペ
ーストラ充填した吐出孔を有するタンク1を描き出し位
置1で、3軸の直交ロボット8のx−y駆動部により移
動し、又駆動部により基板上まで降下させた後、圧縮空
気によりペーストを押圧し描画を行なう。
。第4図は本発明の一実施例を示す工程図である。次に
、基板6に厚膜回路を描画するには、酸化ルテニウム粉
、樹脂バインダー、溶剤よりなる酸化ルテニウム抵抗ペ
ーストラ充填した吐出孔を有するタンク1を描き出し位
置1で、3軸の直交ロボット8のx−y駆動部により移
動し、又駆動部により基板上まで降下させた後、圧縮空
気によりペーストを押圧し描画を行なう。
このさい、吐出方法はプランジャ一方式でもよく圧縮空
気に限定するものではない。次に、タンク1が基板6か
ら上昇し、工程の描画が完了する。
気に限定するものではない。次に、タンク1が基板6か
ら上昇し、工程の描画が完了する。
次の描画までの間に於いて、生産のための準備。
調整及びトラブル等で描画が休止した場合、その時間が
長くなった時に、タンク1の吐出孔でペーストの溶剤が
揮散しペーストつまりが発生するため、本実施例では、
描画休止時間が3分間経過後に、捨て描き用テープ9上
までタンク1が移動しり捨て描きを行ない、その後原点
までタンク1がもどり、ペーストつまりを防止している
。これは、マイクロプロセッサ−を内蔵した制御部によ
り、一定時間経過毎に自動的に捨て描きを行なう。なお
、捨て描き用テープ9は捨て描き後巻き取りリール1Q
に巻き取られ、捨て描き用テープ台12上には未使用の
テープがセントされる。本実施例に於いては、描画休止
時間が3分経過後に捨て描きを行なうようにしたが、描
画休止時間はペーストの種類により異なり、3分間に限
定するものでこ はない。又、捨て描き部は基板外のrにでも設置可能で
あり、捨て描きに使用する材質としてテープ以外の紙、
金属薄板、樹脂板等でもよくテープに限定するものでは
ない。
長くなった時に、タンク1の吐出孔でペーストの溶剤が
揮散しペーストつまりが発生するため、本実施例では、
描画休止時間が3分間経過後に、捨て描き用テープ9上
までタンク1が移動しり捨て描きを行ない、その後原点
までタンク1がもどり、ペーストつまりを防止している
。これは、マイクロプロセッサ−を内蔵した制御部によ
り、一定時間経過毎に自動的に捨て描きを行なう。なお
、捨て描き用テープ9は捨て描き後巻き取りリール1Q
に巻き取られ、捨て描き用テープ台12上には未使用の
テープがセントされる。本実施例に於いては、描画休止
時間が3分経過後に捨て描きを行なうようにしたが、描
画休止時間はペーストの種類により異なり、3分間に限
定するものでこ はない。又、捨て描き部は基板外のrにでも設置可能で
あり、捨て描きに使用する材質としてテープ以外の紙、
金属薄板、樹脂板等でもよくテープに限定するものでは
ない。
発明の詳細
な説明したように、本発明によればペーストを充填した
吐出孔を有するタンクの描画休止時間が長くなっても、
一定時間番に捨て描きを行なうためにタンクの吐出孔で
ペーストつまりが発生することかなく、作業性及び生産
性向上式大きく貢献できるものである。
吐出孔を有するタンクの描画休止時間が長くなっても、
一定時間番に捨て描きを行なうためにタンクの吐出孔で
ペーストつまりが発生することかなく、作業性及び生産
性向上式大きく貢献できるものである。
、4、図面の簡単な説明
第1図は従来の描画装置の斜視図、第2図は同装置での
タンク部を拡大した描画前の断面図、第3図は同装置の
描画時の状態を示した断面図、第4図は本発明の一実施
例を示す装置の斜視図、第6図は本発明の一実施例の工
程図である。
タンク部を拡大した描画前の断面図、第3図は同装置の
描画時の状態を示した断面図、第4図は本発明の一実施
例を示す装置の斜視図、第6図は本発明の一実施例の工
程図である。
1・・・・・・タンク、2・・・・・吐出孔、3・・・
・・・ペースト、6・・・・・・基板、7・・・・・・
ステージ、8・・・・・・3軸直交ロボツト、9・・・
・・捨て描き用テープ。
・・・ペースト、6・・・・・・基板、7・・・・・・
ステージ、8・・・・・・3軸直交ロボツト、9・・・
・・捨て描き用テープ。
代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 ′/ 第3図
図 第2図 ′/ 第3図
Claims (1)
- 吐出孔を有するタンクより、ペーストを吐出させ、基板
上に厚膜回路を形成する方法であって、前記ペーストが
充填された吐出孔を有するタンクの描画休止時間が一定
時間経過毎に、前記基板外に設けられた捨て描き部に捨
て描きを行なう厚膜回路描画方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59076934A JPS60219793A (ja) | 1984-04-17 | 1984-04-17 | 厚膜回路描画方法 |
PCT/JP1985/000198 WO1990006041A1 (fr) | 1984-04-17 | 1985-04-15 | Procede et appareillage pour l'etirage de circuits a couche epaisse |
US06/817,856 US4743465A (en) | 1984-04-17 | 1985-04-15 | Method and apparatus for drawing thick film circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59076934A JPS60219793A (ja) | 1984-04-17 | 1984-04-17 | 厚膜回路描画方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60219793A true JPS60219793A (ja) | 1985-11-02 |
JPH0422358B2 JPH0422358B2 (ja) | 1992-04-16 |
Family
ID=13619551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59076934A Granted JPS60219793A (ja) | 1984-04-17 | 1984-04-17 | 厚膜回路描画方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4743465A (ja) |
JP (1) | JPS60219793A (ja) |
WO (1) | WO1990006041A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0417388A (ja) * | 1990-05-10 | 1992-01-22 | Mitsubishi Electric Corp | 直接描画装置 |
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KR910002998B1 (ko) * | 1987-02-09 | 1991-05-11 | 산요덴끼 가부시끼가이샤 | 접착제 도포장치 |
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AU3755189A (en) * | 1988-05-11 | 1989-11-29 | Ariel Electronics, Inc. | Circuit writer |
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JP3583462B2 (ja) * | 1993-04-05 | 2004-11-04 | フォード モーター カンパニー | 電子成分のための微小はんだ付け装置および方法 |
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-
1984
- 1984-04-17 JP JP59076934A patent/JPS60219793A/ja active Granted
-
1985
- 1985-04-15 WO PCT/JP1985/000198 patent/WO1990006041A1/ja unknown
- 1985-04-15 US US06/817,856 patent/US4743465A/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4743465A (en) | 1988-05-10 |
WO1990006041A1 (fr) | 1990-05-31 |
JPH0422358B2 (ja) | 1992-04-16 |
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