JPS60209146A - 螢光スペクトル分析装置 - Google Patents
螢光スペクトル分析装置Info
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- JPS60209146A JPS60209146A JP59064496A JP6449684A JPS60209146A JP S60209146 A JPS60209146 A JP S60209146A JP 59064496 A JP59064496 A JP 59064496A JP 6449684 A JP6449684 A JP 6449684A JP S60209146 A JPS60209146 A JP S60209146A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（発明の技術分野）
本発明は単−光子計数法により、例えば体腔内表面の蛍
光分析を効果的に行い得る簡易で実用性の高い蛍光スペ
クトル分析装置に関する。
光分析を効果的に行い得る簡易で実用性の高い蛍光スペ
クトル分析装置に関する。
近時、レーザを用いた診断医療技術の開発が積極的に進
められている。例えば癌細胞に選択的に取込まれる色素
（ヘマトポルフィリン等）にレーザ光を照射して上記色
素を励起し、その光化学反応によって癌を治療すること
等が行われている。
められている。例えば癌細胞に選択的に取込まれる色素
（ヘマトポルフィリン等）にレーザ光を照射して上記色
素を励起し、その光化学反応によって癌を治療すること
等が行われている。
また上記癌細胞や、癌細胞に選択的に取込ませた色素を
、レーザ励起蛍光顕微鏡等を用いて分光分析して診断医
療に役立てようとすることが試みられている。
、レーザ励起蛍光顕微鏡等を用いて分光分析して診断医
療に役立てようとすることが試みられている。
ところで従来、上記レーザ励起蛍光顕微鏡を用いた癌細
胞等の分光分析は、励起用レーザ光を被測定部位に照射
し、このレーザ光照射により上記被測定部位に生じる蛍
光をモノクロメータによって分光し、これを光子チャン
ネル分析装置等に導いて行われている。ところが上記分
光器（モノクロメータ）は、大型で精密な調整を要する
光学機器である為、その操作性や可搬性が著しく悪く、
しかもその分光分析感度も低いと云う問題を有していた
。これ故、簡易に被測定部位の蛍光分析を行うことがで
きないと云う不具合があった。
胞等の分光分析は、励起用レーザ光を被測定部位に照射
し、このレーザ光照射により上記被測定部位に生じる蛍
光をモノクロメータによって分光し、これを光子チャン
ネル分析装置等に導いて行われている。ところが上記分
光器（モノクロメータ）は、大型で精密な調整を要する
光学機器である為、その操作性や可搬性が著しく悪く、
しかもその分光分析感度も低いと云う問題を有していた
。これ故、簡易に被測定部位の蛍光分析を行うことがで
きないと云う不具合があった。
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは、被測定部位の蛍光分析を高感度
に、且つ高精度に行い得る簡易な構成で実用性の高い蛍
光スペクトル分析装置を提供することにある。
の目的とするところは、被測定部位の蛍光分析を高感度
に、且つ高精度に行い得る簡易な構成で実用性の高い蛍
光スペクトル分析装置を提供することにある。
本発明は光パルスの照射により生じた被測定部位の蛍光
を光ファイバを介して伝送して受光検出し、この蛍光パ
ルスの受光タイミングと前記被測定部位に照射する光パ
ルスの発生タイミングとの時間間隔を測定して上記蛍光
の分析を行うようにしたものである。またこのとき、１
つの光パルスを被測定部位に照射したとき、これによっ
て受光検出される蛍光パルスの光子が高々１個となるよ
うな強度の高速繰返し発生される短パルス光を前記被測
定部位の励起光として用い、特にその長さが比較的長い
光ファイバを用いて前記蛍光パルスを伝送して蛍光分析
を行うようにしたものである。
を光ファイバを介して伝送して受光検出し、この蛍光パ
ルスの受光タイミングと前記被測定部位に照射する光パ
ルスの発生タイミングとの時間間隔を測定して上記蛍光
の分析を行うようにしたものである。またこのとき、１
つの光パルスを被測定部位に照射したとき、これによっ
て受光検出される蛍光パルスの光子が高々１個となるよ
うな強度の高速繰返し発生される短パルス光を前記被測
定部位の励起光として用い、特にその長さが比較的長い
光ファイバを用いて前記蛍光パルスを伝送して蛍光分析
を行うようにしたものである。
かくして本発明によれば、１つの励起パルス光により被
測定部位から光ファイバを介して受光検出される蛍光パ
ルスの光子が高々１個であり、また光フアイバ中を伝播
する上記蛍光パルスの伝播時間がその波長成分によって
異なるので、上記伝播時間を計測することによって上記
受光検出した蛍光パルスの波長をめることが可能となる
。従ってこれを高速繰返し発生される短パルス光を被測
定部位の励起光として用いて、その蛍光パルスの検出を
繰返し実行することにより、前記被測定部位の蛍光スペ
クトル分析を高感度に、・且つ高精度に行うことが可能
となる。また上述したように光ファイバを効果的に用い
て被測定部位の蛍光を分光分析するので、従来のように
大掛りな分光器が不要となり、装置構成の簡略化とその
小型化を図ることが可能となる等の実用上多大なる効果
が奏せられる。
測定部位から光ファイバを介して受光検出される蛍光パ
ルスの光子が高々１個であり、また光フアイバ中を伝播
する上記蛍光パルスの伝播時間がその波長成分によって
異なるので、上記伝播時間を計測することによって上記
受光検出した蛍光パルスの波長をめることが可能となる
。従ってこれを高速繰返し発生される短パルス光を被測
定部位の励起光として用いて、その蛍光パルスの検出を
繰返し実行することにより、前記被測定部位の蛍光スペ
クトル分析を高感度に、・且つ高精度に行うことが可能
となる。また上述したように光ファイバを効果的に用い
て被測定部位の蛍光を分光分析するので、従来のように
大掛りな分光器が不要となり、装置構成の簡略化とその
小型化を図ることが可能となる等の実用上多大なる効果
が奏せられる。
以下、図面を参照して本発明の一実施例につき説明する
。
。
第１図は実施例装置の概略構成図で、１は分析対象とし
ての被測定部位である。レーザ発振器２は、例えば繰返
し周波数が数十ＭＨ２、パルス幅が数ｐ ｓｅｃの高速
繰返しパルス光を前記被測定部位１の励起光として発生
するもので、このパルス光は第１の光ファイバ３を介し
て導かれて前記被測定部位１に照射される。このレーザ
・パルス光の照射を受けて被測定部材１が励起され、被
測定部位１はその物性に応じた蛍光をパルス的に発生す
る。この蛍光パルスは、例えば１ｏｏｏ′ｒｒＬ程度の
長尺で低損失の第２の光ファイバ４に導入され、この第
２の光ファイバ４を介して受光素子５に伝送される。こ
の受光素子５は、光電子増倍管等の高速で高感度な受光
特性を有するもので、この受光素子５により前記蛍光パ
ルスが受光検出されて電気信号に変換される。
ての被測定部位である。レーザ発振器２は、例えば繰返
し周波数が数十ＭＨ２、パルス幅が数ｐ ｓｅｃの高速
繰返しパルス光を前記被測定部位１の励起光として発生
するもので、このパルス光は第１の光ファイバ３を介し
て導かれて前記被測定部位１に照射される。このレーザ
・パルス光の照射を受けて被測定部材１が励起され、被
測定部位１はその物性に応じた蛍光をパルス的に発生す
る。この蛍光パルスは、例えば１ｏｏｏ′ｒｒＬ程度の
長尺で低損失の第２の光ファイバ４に導入され、この第
２の光ファイバ４を介して受光素子５に伝送される。こ
の受光素子５は、光電子増倍管等の高速で高感度な受光
特性を有するもので、この受光素子５により前記蛍光パ
ルスが受光検出されて電気信号に変換される。
しかして受光素子５により受光検出された蛍光パルスは
、コンスタント・フラクション弁別器６を介して上記受
光素子５の暗電流や雑音によるパルス成分が除去された
後、時間波高変換器７に入力されて前記被測定部材１に
照射されたパルス光の照射タイミングと上記受光素子５
による蛍光パルスの受光検出タイミングとの時間間隔が
められている。この時間波高変換器７は遅延回路８を介
して入力される前記レーザ発振器２の動作信号（参照信
号）と、前記受光検出された蛍光パルス信号とを入力し
てその時間差に相当した波高値の信号をめるものである
。具体的に゛は、この時間波高変換器７は前記蛍光パル
ス信号をスタート・パルスとして一定電流を積分し、前
記参照信号をストップ・パルスとして上記積分動作を停
止して、その時間間隔を積分値としてめるように構成さ
れる。尚、上記時間間隔をめる場合には、本来上記参照
信号で示されるパルス光照射タイミングをスタート・パ
ルスとし、蛍光パルスの受光検出のタイミングをストッ
プ・パルスとして測定されるべきものであるが、ここで
は前記パルス光照射が高速に、且つ周期的に行われてお
り、また受光素子５は後述するように前記蛍光パルスの
光子を高々１個だけ（単一光子）を受光検出するもので
あることを考慮して、前記受光素子５が光子を検出した
ときにだけ、前記参照信号を利用してその時間間隔を測
定するようにしている。
、コンスタント・フラクション弁別器６を介して上記受
光素子５の暗電流や雑音によるパルス成分が除去された
後、時間波高変換器７に入力されて前記被測定部材１に
照射されたパルス光の照射タイミングと上記受光素子５
による蛍光パルスの受光検出タイミングとの時間間隔が
められている。この時間波高変換器７は遅延回路８を介
して入力される前記レーザ発振器２の動作信号（参照信
号）と、前記受光検出された蛍光パルス信号とを入力し
てその時間差に相当した波高値の信号をめるものである
。具体的に゛は、この時間波高変換器７は前記蛍光パル
ス信号をスタート・パルスとして一定電流を積分し、前
記参照信号をストップ・パルスとして上記積分動作を停
止して、その時間間隔を積分値としてめるように構成さ
れる。尚、上記時間間隔をめる場合には、本来上記参照
信号で示されるパルス光照射タイミングをスタート・パ
ルスとし、蛍光パルスの受光検出のタイミングをストッ
プ・パルスとして測定されるべきものであるが、ここで
は前記パルス光照射が高速に、且つ周期的に行われてお
り、また受光素子５は後述するように前記蛍光パルスの
光子を高々１個だけ（単一光子）を受光検出するもので
あることを考慮して、前記受光素子５が光子を検出した
ときにだけ、前記参照信号を利用してその時間間隔を測
定するようにしている。
そしてこの時間波高変換器１にて検出された時間情報は
、多重チャンネルパルス波高分析器９に導かれて前記蛍
光の波長情報に変換された後、記録計１０によって記録
出力されるようになっている。
、多重チャンネルパルス波高分析器９に導かれて前記蛍
光の波長情報に変換された後、記録計１０によって記録
出力されるようになっている。
ところで前記レーザ発振器２は、１つのパルス光を被測
定部位１に照射したとき、これによって上記被測定部位
１が発生する蛍光が前記第２の光ファイバ４を介して前
記受光索子５に導かれて受光検出されるとき、その受光
検出される蛍光パルスの数（光子の数）が１個以下とな
るような強度の光パルスを高速に繰返して発生するよう
に構成される。これによって被測定部位１に照射したパ
ルス光による蛍光パルスの単−光子計数法を用いた分析
が実現されている。尚、このような光パルスを発生する
レーザ発振器２は、例えばＣＷモード同期レーザ（Ａｒ
レーザや色素レーザ等）により実現され、例えばパルス
幅が２００ｐＳｅｉＣ１繰返し周波数が８０Ｍ ＨＺの
短パルス光列を高速に繰返し発生するものとなっている
。
定部位１に照射したとき、これによって上記被測定部位
１が発生する蛍光が前記第２の光ファイバ４を介して前
記受光索子５に導かれて受光検出されるとき、その受光
検出される蛍光パルスの数（光子の数）が１個以下とな
るような強度の光パルスを高速に繰返して発生するよう
に構成される。これによって被測定部位１に照射したパ
ルス光による蛍光パルスの単−光子計数法を用いた分析
が実現されている。尚、このような光パルスを発生する
レーザ発振器２は、例えばＣＷモード同期レーザ（Ａｒ
レーザや色素レーザ等）により実現され、例えばパルス
幅が２００ｐＳｅｉＣ１繰返し周波数が８０Ｍ ＨＺの
短パルス光列を高速に繰返し発生するものとなっている
。
一方、前記第２の光ファイバ４は、例えばグレーティラ
ド・インデックス形の石英ファイバ等の低損失形のもの
からなる。そしてその光ファイバ４の長さは、蛍光パル
スの寿命（時間幅）τと、蛍光パルスが光フアイバ中を
伝播する場合の波長時間差６丁が、（ΔＴ〉τ）なる関
゛係となる長さ以上で、光ファイバの伝播損失によって
減衰し、検出できなくなる長さ以下の長さとする。
ド・インデックス形の石英ファイバ等の低損失形のもの
からなる。そしてその光ファイバ４の長さは、蛍光パル
スの寿命（時間幅）τと、蛍光パルスが光フアイバ中を
伝播する場合の波長時間差６丁が、（ΔＴ〉τ）なる関
゛係となる長さ以上で、光ファイバの伝播損失によって
減衰し、検出できなくなる長さ以下の長さとする。
即ち、第２の光ファイバ４は第２図に示すように広いス
ペクトル幅の蛍光を伝送するものであるが、その波長λ
に応じて異なった伝播時間特性を示す。従って、ある程
度の長さしを有する第２の光ファイバ４を介して前記蛍
光パルスを伝送して受光素子５に導けば、前記被測定部
位１にパルス光を照射して蛍光が発生してから、その蛍
光が第２の光ファイバ４を介して受光素子５により受光
検出されるまでの時間が、その波長成分によって大きく
異なることになる。従って、光ファイバの長さは、その
鍔間差Δ丁が蛍光パルスの時間幅よりも大きくなり、蛍
光の波長成分を時間的に分離して観測することが可能と
なる長さ以上でなければならない。然し乍ら、実際には
上記光ファイバ４の長さを極端に長くすると、光ファイ
バ４を介して伝送される蛍光パルスの伝送損失が問題と
なってくる。これ故、その伝送損失が問題とならないよ
うに光ファイバ４の長さを定めることが必要である。こ
の為、本装置に使用できる光ファイバの長さとしては、
１００ｍ以上、１００００ｍ以下のものが適当である。
ペクトル幅の蛍光を伝送するものであるが、その波長λ
に応じて異なった伝播時間特性を示す。従って、ある程
度の長さしを有する第２の光ファイバ４を介して前記蛍
光パルスを伝送して受光素子５に導けば、前記被測定部
位１にパルス光を照射して蛍光が発生してから、その蛍
光が第２の光ファイバ４を介して受光素子５により受光
検出されるまでの時間が、その波長成分によって大きく
異なることになる。従って、光ファイバの長さは、その
鍔間差Δ丁が蛍光パルスの時間幅よりも大きくなり、蛍
光の波長成分を時間的に分離して観測することが可能と
なる長さ以上でなければならない。然し乍ら、実際には
上記光ファイバ４の長さを極端に長くすると、光ファイ
バ４を介して伝送される蛍光パルスの伝送損失が問題と
なってくる。これ故、その伝送損失が問題とならないよ
うに光ファイバ４の長さを定めることが必要である。こ
の為、本装置に使用できる光ファイバの長さとしては、
１００ｍ以上、１００００ｍ以下のものが適当である。
しかし、単に蛍光の２つのピークのみを分離し、その相
対強度を測定するような場合はこの限りではなく、より
短い光ファイバを用いることも可能である。また逆に光
ファイバの伝播損失の小さい長波長域のスペクトルのみ
を詳細に測定しようとするときは、より長い光ファイバ
を用いることが可能である。
対強度を測定するような場合はこの限りではなく、より
短い光ファイバを用いることも可能である。また逆に光
ファイバの伝播損失の小さい長波長域のスペクトルのみ
を詳細に測定しようとするときは、より長い光ファイバ
を用いることが可能である。
尚、この第２の光ファイバ４に比して前記第１の光ファ
イバ３は、照射パルス光の伝播時間が無視できる程度の
短いものが用いられるが、この第１の光ファイバ３によ
る前記パルス光の伝播時間が無視できない場合には、前
記遅延回路８によってその時間を補正するようにすれば
良い。つまり、前述したように参照信号をストップ・パ
ルスとして用いて前記蛍光パルスの時間測定を行う場合
、上記ストップ・パルスの発生タイミングを遅延図 、
路８にて補正するが、このとき上記照射パルス光に対す
る時間補正も同時に行うようにすれば良い。
イバ３は、照射パルス光の伝播時間が無視できる程度の
短いものが用いられるが、この第１の光ファイバ３によ
る前記パルス光の伝播時間が無視できない場合には、前
記遅延回路８によってその時間を補正するようにすれば
良い。つまり、前述したように参照信号をストップ・パ
ルスとして用いて前記蛍光パルスの時間測定を行う場合
、上記ストップ・パルスの発生タイミングを遅延図 、
路８にて補正するが、このとき上記照射パルス光に対す
る時間補正も同時に行うようにすれば良い。
第３図は上記装置を用いた蛍光分析結果の一例を示すも
のであり、同図（ａ）はジオキサンに溶かしたヘマトポ
ルフィリン（蛍光寿命；２．３ｎ５ｅｃ）を試料（被測
定物質）としたときの蛍光パルス検出時間の分布を示し
ている。この測定実験に用いられた光ファイバは、前述
の条件を考慮してその長さを１０００ｍとした。この時
間分布を前記時間波高変換器７および多重チャンネルパ
ルス波高分析器９を介して波長変換した結果が第３図（
ｂ）である。これに対して第３図（Ｃ）は上記試料を従
来の分光器を用いて蛍光分析した結果である。これらを
対比して明らかなように、本装置は従来の大掛りな装置
に比較して何等遜色のない蛍光分析結果を得ることがで
きる。
のであり、同図（ａ）はジオキサンに溶かしたヘマトポ
ルフィリン（蛍光寿命；２．３ｎ５ｅｃ）を試料（被測
定物質）としたときの蛍光パルス検出時間の分布を示し
ている。この測定実験に用いられた光ファイバは、前述
の条件を考慮してその長さを１０００ｍとした。この時
間分布を前記時間波高変換器７および多重チャンネルパ
ルス波高分析器９を介して波長変換した結果が第３図（
ｂ）である。これに対して第３図（Ｃ）は上記試料を従
来の分光器を用いて蛍光分析した結果である。これらを
対比して明らかなように、本装置は従来の大掛りな装置
に比較して何等遜色のない蛍光分析結果を得ることがで
きる。
かくして上述の如く構成された本装置によれば、高速に
繰返し発生される短パルス光を被測定部位１に照射し、
このパルス光照射による上記被測定部位１の蛍光パルス
を第２の光ファイバ４を介して単一光子計数法により受
光検出してその蛍光の受光検出時間分布をめることによ
って、その蛍光のスペクトルを効果的にめることが可能
となる。しかも、従来のように大掛りな分光器を用いる
ことなしに、その蛍光分析を行うことができ、装置構成
の大幅な簡素化、小型化を図ることが可能となり、また
その取扱い性の容易化をも図り得る。また、前述したよ
うに数十ＭＨ２と云う高速繰返し短パルス光を用いて蛍
光パルス検出を繰返し実行してその蛍光分析を行うので
、短詩′間に精度良く、且つ高感度にその測定を行うこ
とができ、その実用的利点が多大である。
繰返し発生される短パルス光を被測定部位１に照射し、
このパルス光照射による上記被測定部位１の蛍光パルス
を第２の光ファイバ４を介して単一光子計数法により受
光検出してその蛍光の受光検出時間分布をめることによ
って、その蛍光のスペクトルを効果的にめることが可能
となる。しかも、従来のように大掛りな分光器を用いる
ことなしに、その蛍光分析を行うことができ、装置構成
の大幅な簡素化、小型化を図ることが可能となり、また
その取扱い性の容易化をも図り得る。また、前述したよ
うに数十ＭＨ２と云う高速繰返し短パルス光を用いて蛍
光パルス検出を繰返し実行してその蛍光分析を行うので
、短詩′間に精度良く、且つ高感度にその測定を行うこ
とができ、その実用的利点が多大である。
ところで、上述した装置を用いて胃内壁等の体−腔内の
生体蛍光や癌細胞等を観察する場合には内視鏡等を利用
するようにすれば良い。即ち、体腔内に挿入した内？Ｊ
！Ｉｔの鉗子口（図示せず）に第１の光ファイバ３を挿
入して励起レーザ光を被測定部位（患部）２に照射する
ようにし、このレーザ光照射による上記被測定部位２の
蛍光を上記内視鏡の鉗子口 （同じ鉗子口でも他の鉗子
口でもよい）、またはイメージバンドルに挿入された第
２の光ファイバ４を介して受光素子５に導くようにすれ
ば良い。このようにすれば、レーザ光を照射するに際し
て内？ｆｆｌで観察しながら所望の場所にレーザ光を照
射して、必要とする患部での蛍光パルスを取出すことが
できる。この場合、全波長域を同時に、しかも数秒と云
う短時間で測定が完了するため、患者の呼吸等で測定部
位が動いてもその動きを無視することができるので、測
定ミス等もなく精度の良い分析を行うことができる。こ
のようにして、内？Ｊ！鏡を用いて観察しながら鉗子口
から光ファイバを挿入するだけで患部の蛍光分析を行う
ことができるので、新たに装置を体腔内に挿入する必要
もないので、患者に苦痛を与えることなしに測定を行う
ことができる。しがも装置構成が簡単で、その取扱いが
容易であることと相俟って診断医療分野に大きく貢献す
ることが可能となる。尚、検出された蛍光の寿命を同時
に測定するには、例えば第３の光ファイバを用いるよう
にすれば良い。即ち、前記第２の光ファイバ４より十分
に短い第３の光ファイバを前記鉗子口に挿入しておき、
この第３の光ファイバを介して受光検出される前記蛍光
の受光タイミングと前記第２の光ファイバ４を介して受
光検出される蛍光の受光タイミングとを比較して、その
蛍光寿命を測定するようにすれば良い。またこのように
して第３の光ファイバを用いることに代えて、前記第２
の光ファイバ４の途中で前記蛍光パルスを分光検出して
上述した前記蛍光寿命の測定を行うことも可能である。
生体蛍光や癌細胞等を観察する場合には内視鏡等を利用
するようにすれば良い。即ち、体腔内に挿入した内？Ｊ
！Ｉｔの鉗子口（図示せず）に第１の光ファイバ３を挿
入して励起レーザ光を被測定部位（患部）２に照射する
ようにし、このレーザ光照射による上記被測定部位２の
蛍光を上記内視鏡の鉗子口 （同じ鉗子口でも他の鉗子
口でもよい）、またはイメージバンドルに挿入された第
２の光ファイバ４を介して受光素子５に導くようにすれ
ば良い。このようにすれば、レーザ光を照射するに際し
て内？ｆｆｌで観察しながら所望の場所にレーザ光を照
射して、必要とする患部での蛍光パルスを取出すことが
できる。この場合、全波長域を同時に、しかも数秒と云
う短時間で測定が完了するため、患者の呼吸等で測定部
位が動いてもその動きを無視することができるので、測
定ミス等もなく精度の良い分析を行うことができる。こ
のようにして、内？Ｊ！鏡を用いて観察しながら鉗子口
から光ファイバを挿入するだけで患部の蛍光分析を行う
ことができるので、新たに装置を体腔内に挿入する必要
もないので、患者に苦痛を与えることなしに測定を行う
ことができる。しがも装置構成が簡単で、その取扱いが
容易であることと相俟って診断医療分野に大きく貢献す
ることが可能となる。尚、検出された蛍光の寿命を同時
に測定するには、例えば第３の光ファイバを用いるよう
にすれば良い。即ち、前記第２の光ファイバ４より十分
に短い第３の光ファイバを前記鉗子口に挿入しておき、
この第３の光ファイバを介して受光検出される前記蛍光
の受光タイミングと前記第２の光ファイバ４を介して受
光検出される蛍光の受光タイミングとを比較して、その
蛍光寿命を測定するようにすれば良い。またこのように
して第３の光ファイバを用いることに代えて、前記第２
の光ファイバ４の途中で前記蛍光パルスを分光検出して
上述した前記蛍光寿命の測定を行うことも可能である。
このようにすれば蛍光分析による体腔内の状態観察によ
る診断医療において、更に大きな効果が期待できる。
る診断医療において、更に大きな効果が期待できる。
以上本発明に係る蛍光スペクトル分析装置について説明
したが、本発明は上記実施例に限定されるものではない
。例えば、被測定部位１に照射するパルス光を第１の光
ファイバ３を介することなしに、レーザ発振器２から直
接照射するようにしても良い。また励起用パルス光のパ
ルス幅や、その繰返し周波数等はその装置の仕様に応じ
て定めれば良いものである。更に上記蛍光スペクトル分
析装置の使用については、体腔内を例に挙げたが、顔等
の皮膚を測定したり、原子炉の中や、炭鉱等の離れた場
所の蛍光を測定する場合にも用いることができ、工業用
ファイバスコープ等と組合わせて使用するようにしても
良い。
したが、本発明は上記実施例に限定されるものではない
。例えば、被測定部位１に照射するパルス光を第１の光
ファイバ３を介することなしに、レーザ発振器２から直
接照射するようにしても良い。また励起用パルス光のパ
ルス幅や、その繰返し周波数等はその装置の仕様に応じ
て定めれば良いものである。更に上記蛍光スペクトル分
析装置の使用については、体腔内を例に挙げたが、顔等
の皮膚を測定したり、原子炉の中や、炭鉱等の離れた場
所の蛍光を測定する場合にも用いることができ、工業用
ファイバスコープ等と組合わせて使用するようにしても
良い。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の一実施例を示すもので、第１図は実施例装
置の概略構成図、第２図は光ファイバ４の蛍光伝送特性
を説明する為の図、第３図は蛍光分析結果の一例を示す
図である。 １・・・被測定部位、２・・・レーザ発振器、３・・・
第１の光ファイバ、４・・・第２の光ファイバ、５・・
・受光素子、６・・・コンスタント・フラクション弁別
器、−７・・・時間波高変換器、８・・・遅延回路、９
・・・多重チャンネルパルス波高分析器、１０・・・記
録計。 出願人代理人 弁理士 坪 井 淳
置の概略構成図、第２図は光ファイバ４の蛍光伝送特性
を説明する為の図、第３図は蛍光分析結果の一例を示す
図である。 １・・・被測定部位、２・・・レーザ発振器、３・・・
第１の光ファイバ、４・・・第２の光ファイバ、５・・
・受光素子、６・・・コンスタント・フラクション弁別
器、−７・・・時間波高変換器、８・・・遅延回路、９
・・・多重チャンネルパルス波高分析器、１０・・・記
録計。 出願人代理人 弁理士 坪 井 淳
Claims (3)
- （１） 被測定部位に光パルスを照射する光源と、この
光パルスの照射による上記被測定部位の蛍光を入力して
伝送する光ファイバと、この光ファイバを介して伝送さ
れた上記蛍光パルスを受光検出する受光器と、この受光
器による前記蛍光パルスの受光タイミングと前記光源が
発生する光パルスの発生タイミングとの時間間隔を測定
する手段とを具備したことを特徴とする蛍光スペクトル
分析装置。 - （２）光源は、１つの光パルスを被測定部位に照射した
とき、受光器が検出する蛍光パルスの光子が高々１個と
なる強度の短パルス光を高速に繰返して発生するもので
ある特許請求の範囲第１項記載の蛍光スペクトル分析装
Ｍ。 - （３）光ファイバは、光フアイバ中を伝播する蛍光パル
スの伝播時間が、その波長成分によって蛍光分析処理に
必要な差異を生じるに十分な長さを有するものである特
許請求の範囲第１項記載の蛍光スペクトル分析装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59064496A JPS60209146A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 螢光スペクトル分析装置 |
| US06/716,855 US4675529A (en) | 1984-03-31 | 1985-03-28 | Fluorescent spectral analysis apparatus |
| DE19853511758 DE3511758A1 (de) | 1984-03-31 | 1985-03-30 | Vorrichtung zur fluoreszenzspektralanalyse |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59064496A JPS60209146A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 螢光スペクトル分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60209146A true JPS60209146A (ja) | 1985-10-21 |
Family
ID=13259867
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59064496A Pending JPS60209146A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 螢光スペクトル分析装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4675529A (ja) |
| JP (1) | JPS60209146A (ja) |
| DE (1) | DE3511758A1 (ja) |
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