JPS5973701A - Cubic material measuring device - Google Patents
Cubic material measuring deviceInfo
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- JPS5973701A JPS5973701A JP18494982A JP18494982A JPS5973701A JP S5973701 A JPS5973701 A JP S5973701A JP 18494982 A JP18494982 A JP 18494982A JP 18494982 A JP18494982 A JP 18494982A JP S5973701 A JPS5973701 A JP S5973701A
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- movable
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
- G01B5/004—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
- G01B5/008—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、立体物測定機に関するものでおる。[Detailed description of the invention] The present invention relates to a three-dimensional object measuring device.
今まで、立体物の寸法等を高精度、高能率で測定するも
のとしては、三次元測定機が広く知られている。Until now, three-dimensional measuring machines have been widely known as devices that measure the dimensions of three-dimensional objects with high precision and high efficiency.
一般の三次元測定機は、テーブルに対して測定子を三次
元方向へ移動可能に構成するとともに、その各軸方向に
設けられた直線型エンコーダにより各軸方向の移動変位
量を検出し、これをデータ処理することにより、テーブ
ル上の被測定物の寸法や形状を測定できるように構成さ
れている。従って、このものは、ψ1j定範非の全域に
測定子を移動可能に伺戟しなければならないため、装置
全体が大皺かつ面側となるばかりか、取扱いに特殊技能
を必要とする問題の・ある。A general three-dimensional measuring machine is configured so that the measuring head can be moved in three-dimensional directions with respect to a table, and linear encoders installed in each axis direction detect the amount of movement displacement in each axis direction. By processing the data, the size and shape of the object on the table can be measured. Therefore, with this device, the probe must be movable over the entire range of ψ1j, which not only makes the entire device wrinkled and faces the surface, but also causes problems that require special skills to handle. be.
このような問題から、壕だ現場的袂求から、比軟的小型
、釉呈の仮0jす建物にあっては、ハイドゲージなどを
用いて簡易に測定を行う場合が多い。Due to these problems, for on-site inspections of relatively small and glazed buildings, measurements are often carried out simply using a hide gauge or the like.
しかしながら、ハイドゲージのような一次元的測定依で
は、゛被測定物の測定箇所を測定するたびにallll
定休全体動と被測定物の姿勢変更を必要とする結果、作
業能率が低く、かつ必ずしも所望の測定精度が得られな
い場合が多い。However, when using a one-dimensional measurement system such as a hydraulic gauge, ``every time the measurement point of the object to be measured is measured, all
As a result of requiring the entire body to move during regular holidays and changing the posture of the object to be measured, work efficiency is low and the desired measurement accuracy is often not always achieved.
本発明の目的は、このような在来の測定様の欠点を解決
すべくなされたもので、安価かつ取扱いが容易な上、高
能率、高精度の測定が期待できる立体物測定機を提供す
ることにある。The purpose of the present invention was to solve these drawbacks of conventional measurement methods, and to provide a three-dimensional object measuring machine that is inexpensive, easy to handle, and can be expected to perform highly efficient and highly accurate measurements. There is a particular thing.
そのため、本発明では、基台に少なくとも互いに直交す
る2軸方向へ移動可能な載物テーブルを設けるとともに
、支柱を立設し、この支柱に沿ってスライダを移動可能
に設け、このスライダに支持軸を前記支柱に対して直角
に取付け、この支持軸に沿ってサブスライダを移動可能
に設け、このサブスライダに測定子等を着脱自在に設け
、更に前記載物テーブルの移動変位量および前記スライ
ダの移動変位量を読取るだめの変位量読取装置を設ける
ことによシ、つまシ被測定物と測定子婢とを相対移動さ
せる構成によシ、上記目的を達成しようとするものであ
る。Therefore, in the present invention, a support table is provided on the base which is movable in at least two axes orthogonal to each other, a support is provided upright, a slider is provided movably along the support, and a support shaft is attached to the slider. is mounted perpendicularly to the supporting column, a sub-slider is provided movably along this support axis, a measuring element, etc. is detachably provided on this sub-slider, and the amount of displacement of the object table and the slider are The above object is achieved by providing a displacement amount reading device for reading the amount of displacement, and by using a configuration in which the object to be measured and the measurement object are moved relative to each other.
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described based on the drawings.
第1図は本実施例の立体物測定機の全体を示している。FIG. 1 shows the entire three-dimensional object measuring device of this embodiment.
同図において、略正方形状に形成された基台としての定
盤1の上面には、その上面と平行で互いに直交する2軸
方向くX軸方向およびY軸方向)へ移動可能に構成され
た載物テーブル2が設けられているとともに、−隅部に
ハイドゲージ3が設けられている。In the figure, the top surface of a surface plate 1 as a base formed in a substantially square shape is configured to be movable in two axes parallel to the top surface and orthogonal to each other (X-axis direction and Y-axis direction). A loading table 2 is provided, and a hide gauge 3 is provided at the negative corner.
前記載物テーブル2は、第2図および第3図にも示す如
く、前記定11の上面にベアリングユニット11を介し
て略正方形状に形成された可動テーブル12が載置され
ている。前記ベアリングユニット11は、リテイーナ1
3に複数のボール14が回転自在に保持式れて構成され
ている。また、前記可動テーブル12のv4接する2つ
の側面には、保持溝15,1.6がそれぞれの側面に沿
って形成され、これらの保持溝“xs、i6の内部に互
いに直交する案内[17,18の両端部がそれぞれ保持
されている。一方の案内軸17には、前記可動テーブル
12のY軸方向への移動を許容し、かつ可動テーブル1
2をX軸方向へ移動させる可動機構1?が連結されてい
る。可動機構19は、前記定盤1の一側部に前記案内軸
17と対向して支持ブロック20が固定され、この支持
ブロック20の両端側に、内端部間に前記案内軸17に
摺動自在に係合する保合子21を有する一対の摺動軸2
2がX軸方向へ進退自在に設けられているとともに、支
持ブロック20の略中火に可動部が前記保合子21に連
結されたマイクロメータヘッド23が設けられている。As shown in FIGS. 2 and 3, in the document table 2, a movable table 12 formed in a substantially square shape is placed on the upper surface of the table 11 via a bearing unit 11. The bearing unit 11 includes a retainer 1
3, a plurality of balls 14 are rotatably held. In addition, holding grooves 15, 1.6 are formed along the two side surfaces of the movable table 12 that are in contact with v4, and guides [17, Both ends of the movable table 18 are held respectively.One guide shaft 17 allows the movable table 12 to move in the Y-axis direction, and
Movable mechanism 1 that moves 2 in the X-axis direction? are connected. In the movable mechanism 19, a support block 20 is fixed to one side of the surface plate 1 facing the guide shaft 17, and a movable mechanism 19 has a support block 20 fixed to one side of the surface plate 1 opposite to the guide shaft 17. A pair of sliding shafts 2 having retainers 21 that freely engage with each other
A micrometer head 23 whose movable part is connected to the retainer 21 is provided at approximately the middle of the support block 20 so as to move forward and backward in the X-axis direction.
マイクロメータヘッド23は、シンプル24を回転させ
ると、保合子21に連結されたスピンドル25が直線的
にかつ比較的高速度で進退畑れ、同時にスピンドル25
の移動量つまシ可動テーブル12のX軸方向の移動量が
ダイヤル26に表示されるようになっている。When the micrometer head 23 rotates the simple 24, the spindle 25 connected to the retainer 21 advances and retreats linearly and at a relatively high speed, and at the same time, the spindle 25
The amount of movement of the movable table 12 in the X-axis direction is displayed on the dial 26.
前記他方の案内軸18には、前記可動テーブル12のX
軸方向への移動を許容し、かつ可動テーブル12をY軸
方向へ移動させる可動機構27が連結されてい石。可動
機構27は、前記定盤1の後側部に前記案内軸18と対
向して支持ブロック28が固定され、この支持ブロック
28の両端側に、内端部間に前記案内軸18に対して摺
動自在に係合する保合子29を肩する一対の摺動軸30
がY軸方向へ進退自在に設けられているとともに、支持
ブロック28の略中火に可動部が前記係合子29に連結
されたマイクロメータヘッド31が設けられている。マ
イクロメータヘッド31は、シンプル32を回転させる
と、保合子29に連結されたスピンドル33が直線的゛
にかつ比較的高速度で進退され、同時にスピンドル33
の移動量つまシ可動テーブル12のY軸方向への移動量
がタイヤル34に表示されるようになっている。The other guide shaft 18 has an X of the movable table 12.
A movable mechanism 27 that allows movement in the axial direction and moves the movable table 12 in the Y-axis direction is connected. In the movable mechanism 27, a support block 28 is fixed to the rear side of the surface plate 1 facing the guide shaft 18, and a support block 28 is fixed at both ends of the support block 28 between the inner ends thereof. A pair of sliding shafts 30 shouldering the retainers 29 that are slidably engaged
is provided so as to be movable forward and backward in the Y-axis direction, and a micrometer head 31 whose movable portion is connected to the engaging element 29 is provided at approximately the middle of the support block 28 . In the micrometer head 31, when the simple 32 is rotated, the spindle 33 connected to the retainer 29 is moved forward and backward linearly and at a relatively high speed, and at the same time, the spindle 33 is moved back and forth linearly at a relatively high speed.
The amount of movement of the movable table 12 in the Y-axis direction is displayed on the tire wheel 34.
一方、前記ハイドゲージ3は、第4図および第5図にも
示す如く、前記定盤1の一隅部に短円柱状の取付台41
が固定され、この取付台41に回動台42が前記定盤1
に対して直角方向(2軸方向)の軸線を中心に回動可能
かつクランプねじ43によって固定可能に設けられ、こ
の回動台44の回動角度を読み取る角度読取器45が設
けられている。角度読取器45は、取付台410周面に
角度目盛45Aが、回動台42の周面所定位置に基#4
5Bがそれぞれ刻設され、これにより回動台42を回動
したとき、支柱44の2@を中心とする回動角度を基線
45Bと対応する角度目盛45Aから読み取ることがで
きるようになっている。また、前記支柱44は、上端部
間が連結部材47によシ連結されかつZ軸方向へ互いに
平行に配置された断面円形の一対の棒状部材48.49
により構成されている。これらの棒状部材48゜49に
は、その対向する内面長手方向−に沿ってラック48A
、49Aが設けられているとともに、スライダ50が昇
降自在に設けられている。On the other hand, as shown in FIGS. 4 and 5, the hide gauge 3 is mounted on a short cylindrical mounting base 41 at one corner of the surface plate 1.
is fixed, and a rotary table 42 is mounted on this mounting table 41.
An angle reader 45 is provided to read the rotation angle of the rotation table 44, which is rotatable about an axis perpendicular to the rotation table (biaxial direction) and fixed by a clamp screw 43. The angle reader 45 has an angle scale 45A on the periphery of the mounting base 410 and a base #4 on the periphery of the rotating base 42 at a predetermined position.
5B are respectively engraved, so that when the rotating table 42 is rotated, the rotation angle of the support 44 about 2@ can be read from the base line 45B and the corresponding angle scale 45A. . The support column 44 also includes a pair of rod-like members 48 and 49 having a circular cross section and whose upper ends are connected by a connecting member 47 and which are arranged parallel to each other in the Z-axis direction.
It is made up of. These rod-shaped members 48 and 49 have racks 48A along the longitudinal direction of their opposing inner surfaces.
, 49A are provided, and a slider 50 is provided so as to be movable up and down.
前記スライダ50には、その正面側にスライダ50の高
さ位負を表示するアナログ表示器51およびデジタル表
示器52と、スライダ50を支柱44の任意の高さ位置
に固定するクランプねじ53とが、背面側に前記他方の
ラック49AK噛合した図示しないピニオンを回転させ
てスライダ50を昇降させる操作ノーンドル54がそれ
ぞれ設けられているとともに、一端面に短円筒状の取付
台55?介して支持軸56が前記支柱44と直角にかつ
その軸線を中心に回動自在に取付けられている。前記表
示器51.52は、前記一方のラック48Aと噛合した
図示し力いビニオンの回転によって駆動されるカウンタ
によって構成されている。また、前記取付台55には、
その周面に沿って角度目盛5’7’Aが刻設されている
とともに、外周面所定位置に前記支持軸56と直角にそ
の支持軸560回動を規制するクランプねじ58が螺合
されている。The slider 50 has an analog display 51 and a digital display 52 that display the height of the slider 50 on its front side, and a clamp screw 53 that fixes the slider 50 at an arbitrary height position on the support 44. , an operating nodle 54 for raising and lowering the slider 50 by rotating a pinion (not shown) engaged with the other rack 49AK is provided on the rear side, and a short cylindrical mounting base 55 is provided on one end surface. A support shaft 56 is attached to the support shaft 44 at right angles therebetween and rotatable about its axis. The indicators 51, 52 are constituted by counters driven by the rotation of the illustrated pinion meshed with the one rack 48A. Further, the mounting base 55 includes:
An angle scale 5'7'A is engraved along the circumferential surface, and a clamp screw 58 for regulating the rotation of the support shaft 560 is screwed into the outer circumferential surface at a predetermined position at right angles to the support shaft 56. There is.
前記支持軸56には、第6図に示す如く、上側長手方向
に沿って廻シ止め用溝61が、下側長手方向に沿ってラ
ック62が、前側長手方向に沿ってスケール63がそれ
ぞれ設けられているとともに、基端側に固定された回動
リング64と先端側の抜は止めリング65との間にサブ
スライダ66が支持軸56に沿って移動可能に設けられ
ている。As shown in FIG. 6, the support shaft 56 is provided with a rotation stopper groove 61 along the upper longitudinal direction, a rack 62 along the lower longitudinal direction, and a scale 63 along the front longitudinal direction. A sub-slider 66 is provided movably along the support shaft 56 between a rotating ring 64 fixed on the proximal end side and a retaining ring 65 on the distal end side.
前記回動リング64の外周面所定位置には、前記取付台
55の角度目盛57Aとともに角度読取器57を構成す
る基#i!57Bが刻設されている。これによシ、回動
リング64を把持して支持軸56をその軸線を中心とし
て回動したとき、支持軸56の回動角度を基線57Bと
対応する角度目盛57Aかも読み取ることができるよう
になっている6また、前記サブ−スライダ66には、そ
の前側面に前記ラック62と噛合した図示しないビニオ
ンを回転させてサブスライダ66を支持軸56に沿って
移動させる操作ハンドル68が設けられているとともに
、上下面に丸棒状のロッド69が前記支持軸56と直交
方向へ向って摺動自在にかつロックつまみ70により任
意の位置に固定可能に貫A−されている。ロッド69に
は、その周面長手方向に沿って前記サブスライダ66に
対するロッド69の摺動位置を表わす目盛71が刻設さ
れているとともに、一端に測定子等としてのスクライバ
72が、他端にボンチア3がそれぞれ設けられている。At a predetermined position on the outer circumferential surface of the rotary ring 64, there is a base #i! 57B is engraved. With this, when the rotation ring 64 is gripped and the support shaft 56 is rotated around its axis, the rotation angle of the support shaft 56 can be read from the base line 57B and the corresponding angle scale 57A. Further, the sub-slider 66 is provided with an operating handle 68 on its front side for rotating a binion (not shown) meshed with the rack 62 to move the sub-slider 66 along the support shaft 56. At the same time, a round rod 69 is inserted through the upper and lower surfaces so as to be slidable in a direction perpendicular to the support shaft 56 and can be fixed at any position by a lock knob 70. The rod 69 has a scale 71 engraved along its circumferential longitudinal direction to indicate the sliding position of the rod 69 with respect to the sub-slider 66, and a scriber 72 as a measuring point etc. is provided at one end, and a scriber 72 is provided at the other end. Bonchia 3 is provided respectively.
なお、前記サブスライダ66の内部には、前記支持軸5
6に刻設されたスケール63を光学的に読み取り、スラ
イダ66の支持軸56に対する移動量11を図示しない
表示器へ表示するエンコーダ74が設けられている。Note that the support shaft 5 is provided inside the sub-slider 66.
An encoder 74 is provided for optically reading a scale 63 engraved on the slider 6 and displaying the amount of movement 11 of the slider 66 relative to the support shaft 56 on a display (not shown).
次に、本実施例の測定方法を説明する。測定作業は、可
動テーブル12の上面に被揃定物を固定した後、その被
測定物の測定箇所とスクライバ72とを順次当接させ、
その当接した位置をマイクロメータヘッド23,31、
表示器51.52等から読み取る。Next, the measurement method of this example will be explained. The measurement work involves fixing the object to be aligned on the top surface of the movable table 12, and then sequentially bringing the measurement point of the object into contact with the scriber 72.
The micrometer heads 23, 31,
Read from the display 51, 52, etc.
この場合、まずロッド69が支柱44と平行になるよう
に、回動リング64により支持軸56をその軸線を中心
として回動させた後、クランプねじ58によシスライダ
50に固定する。絖いて、スクライバ72が被測定物の
測定@所近傍に位置するように、サブスライダ66を支
持軸56の長手方向へ沿って移動させるとともに、支柱
44を2軸を中心として回動させ、サブスライダ66を
ロックつまみ70によシ支持軸56に、支柱44をクラ
ンプねじ43によシ定盤lにそれぞれ固定する。この後
、操作ハンドル54の操作によシスライダ50を支柱4
4に沿ってZ軸方向へ、マイクロメータヘッド23の操
作にょシ可動テーブル12をX軸方向へ、マイクロメー
タヘッド31の操作によシ司動テーブル12をY軸方向
へそれぞれ移動させ、被測定物の測定箇所とスクライバ
72とを当接させ、その当接しだX、Y、Z軸方向の位
置を求める。In this case, first, the support shaft 56 is rotated about its axis by the rotation ring 64 so that the rod 69 is parallel to the support column 44, and then fixed to the syslider 50 by the clamp screw 58. Then, the sub-slider 66 is moved along the longitudinal direction of the support shaft 56, and the column 44 is rotated about two axes so that the scriber 72 is located near the measuring point of the object to be measured. The slider 66 is fixed to the support shaft 56 by the lock knob 70, and the column 44 is fixed to the surface plate l by the clamp screw 43. After that, by operating the operating handle 54, the system slider 50 is moved to the support column 4.
4 in the Z-axis direction, the micrometer head 23 is operated to move the movable table 12 in the X-axis direction, and the micrometer head 31 is operated to move the movable table 12 in the Y-axis direction. The measurement point of the object is brought into contact with the scriber 72, and the position in the X, Y, and Z axis directions of the point of contact is determined.
これには、サブスライダ66の移動量っまシ支柱44の
回動中心からサブスライダ66までの距離をサブスライ
ダ66内のエンコーダ74に接続された表示器から読み
取るとともに、支柱44のZ軸を中心とする回動角度を
角度読取器45がら読み取る。ここで、例えば第7図に
示す如く、支柱44の回動中心からサブスライダ66ま
での距離が!□、支柱44の回動角度がθ1であったト
スると、支柱440回動中心を原点とするスクライバ7
2のX軸方向の位置X′は!1・画θ、Y軸方向の位置
y’ ViRx・可θで求めることができる。従って、
スクライバ72と測定箇所との当接しfcXa方向の位
置をマイクロメータヘッド23に表示された可動テーブ
ル12のX軸方向への移動量Xと前記lとから、Y軸方
向の位置をマイクロメータヘッド31に表示された可動
テーブル12のY軸方向への移動量yと前記lとから、
Z軸方向の位置を前記表示器51.52に表示されたス
ライダ50の昇降it zとロッド69の目盛71によ
って統み取られたロッド69の昇降量2′とからそれぞ
れ求める。To do this, the amount of movement of the sub-slider 66 and the distance from the center of rotation of the column 44 to the sub-slider 66 are read from a display connected to the encoder 74 inside the sub-slider 66, and the Z-axis of the column 44 is read. The angle of rotation around the center is read using the angle reader 45. Here, as shown in FIG. 7, for example, the distance from the center of rotation of the support column 44 to the sub-slider 66! □, when the rotation angle of the support 44 is θ1, the scriber 7 whose origin is the rotation center of the support 440
The position X' in the X-axis direction of 2 is! 1. Image θ, position y′ in the Y-axis direction can be determined by ViRx・possible θ. Therefore,
The position in the fcXa direction of the contact between the scriber 72 and the measurement point is determined by the movement amount X of the movable table 12 in the X-axis direction displayed on the micrometer head 23 and the above l, and the position in the Y-axis direction is determined by the micrometer head 31. From the movement amount y of the movable table 12 in the Y-axis direction displayed in and the above l,
The position in the Z-axis direction is determined from the elevation it z of the slider 50 displayed on the indicators 51 and 52 and the elevation amount 2' of the rod 69, which is controlled by the scale 71 of the rod 69.
これによL −11」定箇所についての測定が終了した
わけであるが、以下他の測定箇所についても、上記と同
様にしてスクライバ72を測定箇所近傍へ順次位置させ
た後、スライダ50を2軸方向へ、可動テーブル12を
XおよびY軸方向へそれぞれ移動させ、スクライバ72
と測定箇所とが当接した位置を求める。以上が基本的な
測定手順である。With this, the measurement at the fixed point "L-11" was completed, but for the other measurement points as well, after sequentially positioning the scriber 72 near the measurement point in the same way as above, the slider 50 was moved 2. In the axial direction, the movable table 12 is moved in the X and Y axis directions, and the scriber 72 is
Find the position where the and measurement point abut. The above is the basic measurement procedure.
ところで、被測定物の測定箇所とスクライバ72とを当
接させるに際しては、スライダ50を支柱50の所定高
さ位置に固矩した状態において、ロッド69をサブスラ
イダ66に対して垂直に昇鳴させれば、比較的簡易な測
定が可能である。また、支持軸56をその軸線を中心と
して回動させることによシ、ロッド69を支柱44に対
して傾斜させた状態でも測定することができる。この場
合、例えば第8図に示す如く、支持軸56の回動角度つ
まシ支柱44に対するロッド69の傾斜角層θ2を角度
読取器57によυ、支持@56からスクライバ72まで
の距離j!2をロッド69の目盛71からそれぞれ読み
取ることができるから、これらの角度θ2および距離p
2に基づいてスクライバ72のX、Yおよび2軸方向の
位置を換算すれば、上記と同様にスクライバ72と測定
箇所との当接位置を求めることができる。更に、測定i
M P)fの向きに合せてロッド69をその軸線を中心
にして回動させれば、スクライバ72の向きを測定箇所
に対向させることができる。By the way, when bringing the scriber 72 into contact with the measuring point of the object to be measured, the rod 69 is raised perpendicularly to the sub-slider 66 while the slider 50 is fixed at a predetermined height position of the support 50. If so, relatively simple measurement is possible. Furthermore, by rotating the support shaft 56 about its axis, measurement can be performed even when the rod 69 is tilted relative to the support column 44. In this case, for example, as shown in FIG. 8, the rotation angle of the support shaft 56 and the tilted angle layer θ2 of the rod 69 with respect to the column 44 are measured by the angle reader 57 υ, and the distance j from the support @56 to the scriber 72! 2 can be read from the scale 71 of the rod 69, so these angles θ2 and distance p
By converting the positions of the scriber 72 in the X, Y, and two-axis directions based on 2, the contact position between the scriber 72 and the measurement location can be determined in the same manner as described above. Furthermore, the measurement i
By rotating the rod 69 about its axis in accordance with the direction of M P)f, the direction of the scriber 72 can be made to face the measurement location.
このほか、けがき作業を行う場合でも、前述した測定作
業と同様にして行うことができる。この際、スクライバ
72をニードル状の通常のけかき針とすれば、支持軸5
6を回動させることによシ円弧状のけかき線を描くこと
ができ、また支持軸56を180度回動してポンチ73
を下方へ向けれは、ロッド69をハンマリングすること
によシボフチ孔をあけることも可能である。In addition, even when performing marking work, it can be performed in the same manner as the measurement work described above. At this time, if the scriber 72 is a normal scriber, the support shaft 5
By rotating the support shaft 56, an arcuate line can be drawn, and by rotating the support shaft 56 by 180 degrees, the punch 73 can be drawn.
It is also possible to make a grained edge hole by hammering the rod 69 downward.
従って、本実施例によれば、定盤1に、XおよびY軸方
向へ移動可能な載物テーブル2を設けるとともに、支柱
4゛4を立設し、この支柱44に沿ってスライダ50を
zII11方向へ移動可能に設け、このスライダ50に
支持軸56を前記支柱44と直角に取付け、この支持軸
56に沿ってスクライバ72を有するサブスライダ66
を移動可能に設け、更に前記載物テーブル2のX軸方向
の移動変位量をマイクロメータヘッド23によシ、載物
テーブル2のY軸方向への移動変位量をマイクロメータ
ヘッド31によシ、前記スライダ50のZ軸方向への移
動変位蓋を表示器51.52によシ読み取るようにした
ので、従来の三次元測定機のように測足子を三次元方向
の全ての軸方向へ移動させる構造のものに較べ、小型、
軽量かつ安価に構成できる。しかも、測定に際しては、
載物テーブル2の上面に被測定物を固定した後、載物テ
ーブル2をXおよびY軸方向へ、またスライダ50をZ
軸方向へ移動させることによシ、被測定物とスクライバ
72とを順次当接させればよいので、例えば従来のノ・
イトケージのように測定機全体の移動や被測定物の姿勢
変更を必要とせず、その結果取扱いが容易でかつ能率的
な土、三次元測定機と同等な精度での測定が期待できる
。Therefore, according to this embodiment, the table 2 movable in the X and Y axis directions is provided on the surface plate 1, and the support 4 is also erected, and the slider 50 is moved along the support 44. A sub-slider 66 is provided so as to be movable in the direction, a support shaft 56 is attached to the slider 50 at right angles to the pillar 44, and a scriber 72 is provided along the support shaft 56.
is provided movably, and furthermore, the amount of displacement of the document table 2 in the X-axis direction is determined by a micrometer head 23, and the amount of displacement of the document table 2 in the Y-axis direction is determined by a micrometer head 31. Since the movement of the slider 50 in the Z-axis direction is read by the display 51, 52, the measuring foot can be moved in all three-dimensional axial directions like a conventional three-dimensional measuring machine. Smaller than those with a movable structure,
It can be constructed lightweight and inexpensively. Moreover, when measuring,
After fixing the object to be measured on the upper surface of the loading table 2, move the loading table 2 in the X and Y axis directions and move the slider 50 in the Z direction.
By moving the scriber 72 in the axial direction, the object to be measured and the scriber 72 can be successively brought into contact with each other.
Unlike the light cage, it does not require moving the entire measuring device or changing the posture of the object to be measured, and as a result, it is easy to handle and efficient, and can be expected to measure soil with the same accuracy as a three-dimensional measuring device.
また、載物テーブル2は、定盤1の上面に移動自在に載
置された可動テーブル12と、この可動テーブル12の
隣接する2側面に互いに直角に設けられた案内軸17.
18と、この各案内軸17゜18に摺動自在に係合され
その案内軸17.18を軸線方向と直交する方向へ向っ
て移動させる可動機構19.27とから構成されている
ので、例えば2枚のテーブルを直交方向へ移動可能に積
み重ねた従来のクロステーブルと比較して、軽量かつ簡
易に構成できる。しかも、可動テーブル12と定盤1と
の間にベアリングユニット11を介在させたので、可動
テーブル12を軽い力でかつ円滑に移動させることがで
きる。The loading table 2 includes a movable table 12 movably placed on the upper surface of the surface plate 1, and guide shafts 17 provided on two adjacent sides of the movable table 12 at right angles to each other.
18, and a movable mechanism 19.27 that is slidably engaged with each guide shaft 17.18 and moves the guide shaft 17.18 in a direction perpendicular to the axial direction. Compared to a conventional cross table in which two tables are stacked so as to be movable in orthogonal directions, the structure is lighter and simpler. Furthermore, since the bearing unit 11 is interposed between the movable table 12 and the surface plate 1, the movable table 12 can be moved smoothly with a light force.
また、支柱44は定盤1に対してその軸線を中心として
回動自在に設けられているので、支柱44をその軸線を
中心として回動させるとともに、サブスライダ66を支
持軸56に沿って移動させれば、スクライバ72を支柱
44の回動範囲およびサブスライダ66の移動範囲内の
任意の位置へ移動させることができるから、載物テーブ
ル2のXおよびY軸方向への移動量を大きくしなくても
広い有効測定範囲を得ることができる。このことは、載
物テーブル2の移動量を例えば直111ji型変位検出
器で検出するような場合、比較的短かい構成でよいから
高和度の検出器を得ることができる。Further, since the support 44 is rotatably provided around the axis of the surface plate 1, the support 44 can be rotated around the axis and the sub-slider 66 can be moved along the support shaft 56. By doing so, the scriber 72 can be moved to any position within the rotation range of the column 44 and the movement range of the sub-slider 66, so the amount of movement of the loading table 2 in the X and Y axis directions can be increased. A wide effective measurement range can be obtained even without this. This means that when the amount of movement of the workpiece table 2 is detected using, for example, a straight 111ji type displacement detector, a relatively short configuration is sufficient, and a high-performance detector can be obtained.
しかも、支柱44の回動角度を角度読取器45によって
読み取ることができるため、その角度読取器450角度
とエンコーダ74によって検出される支柱44の中心か
らサブスライダ66までの距離とからスクライバ72の
XおよびY軸方回の位tit換算すれば、スクライバ7
2と被測定物とが当接したX、YおよびZ軸方向の位置
を正確に求めることができる。Moreover, since the rotation angle of the support column 44 can be read by the angle reader 45, the angle of rotation of the scriber 72 is calculated from the angle of the angle reader 450 and the distance from the center of the support column 44 to the sub-slider 66 detected by the encoder 74. And if you convert it to the Y-axis direction, the scriber 7
It is possible to accurately determine the position in the X, Y, and Z axis directions where the object to be measured contacts the object.
また、支持軸56はスライダ50に対してその軸線を中
心に回動自在に支持されているので、ロッド69を支持
軸56の軸線を中心とする任意の角度に傾けて使用する
ことができ、つまりスクライバ72やポンチ73を任意
の方向へ向けて使用することができ、従って測定!i
Parやけかき箇所の向きがさまざまなものにあっても
それらの箇所にスクライバ72やポンチ73を対応させ
ることができ、その上円弧状のけかき線をも描くことか
でさる。この際、支持軸56の回動角度を角度読取器5
7によって読み取ることができるため、その角度読取器
57の角度とロッド69の目盛71によって表示される
支持軸56からスクライバ72までの長さとからスクラ
イバ72のX、Y、Z軸方向の位置を換算すれば、スク
ライバ72と被測定物とが当接したX、YおよびZ軸方
向の位置を正確に求めることができる。Further, since the support shaft 56 is rotatably supported by the slider 50 around its axis, the rod 69 can be tilted at any angle around the axis of the support shaft 56 when used. In other words, you can point the scriber 72 and punch 73 in any direction and use it to measure! i
Even if there are various orientations of pars or raked parts, the scriber 72 and punch 73 can be applied to those parts, and it is also possible to draw arcuate raked lines. At this time, the rotation angle of the support shaft 56 is measured by the angle reader 5.
7, the position of the scriber 72 in the X, Y, and Z axis directions can be converted from the angle of the angle reader 57 and the length from the support shaft 56 to the scriber 72 indicated by the scale 71 of the rod 69. Then, the positions in the X, Y, and Z axis directions where the scriber 72 and the object to be measured come into contact can be accurately determined.
更に、載物テーブル2のXおよびY軸方向への移動量を
マイクロメータヘッド23.31により、スライダ50
のZ軸方向への移動、躊゛を機械的カウンタによって構
成したので、簡易にかつ安価に構成することができる。Furthermore, the amount of movement of the loading table 2 in the X and Y axis directions is measured by the slider 50 using the micrometer head 23.31.
Since the movement and the hesitation in the Z-axis direction are configured by mechanical counters, the configuration can be simple and inexpensive.
なお、実施に当り、載物テーブル2は、互いに直交する
2軸方向へ移動可能に構成されているものであれば、上
記実施例の構造のものに限定されるものではない。例え
ば、第9図に示す如く、定盤1の上面にベアリングユニ
ット81を介して隣接する2側面82A、82Bが直角
に成形された可動テーフtル82を全方向へ移動自在に
載置するとともに、各1tlt11面82A、82Bに
対向する定盤1の上面に、それぞれの側面82A、82
Bに当接する保合部84A、84Bをそれと直角方向へ
進退自在に支持しかつマイクロメータヘッド85A、8
5Bの作動によって進出させる可動機構86A、86B
を設け、更に可動テーブル83をその側面82A、 8
2Bが前記可動機m 86A、 86Bの係合部84A
、 84Bにそれぞれ当接う°る方向へ向って付勢する
付勢手段としての引張ばね87を設けた構造のものであ
ってもよい。In addition, in practice, the loading table 2 is not limited to the structure of the above embodiment as long as it is configured to be movable in two axes directions perpendicular to each other. For example, as shown in FIG. 9, a movable table 82 having two adjacent side surfaces 82A and 82B formed at right angles is placed on the upper surface of the surface plate 1 via a bearing unit 81 so as to be movable in all directions. , on the upper surface of the surface plate 1 facing each 1tlt11 surface 82A, 82B, each side surface 82A, 82
micrometer heads 85A, 8.
Movable mechanisms 86A and 86B that are advanced by the operation of 5B
Furthermore, a movable table 83 is provided on its side surfaces 82A, 8
2B is the engaging portion 84A of the movable machine m 86A, 86B.
, 84B may have a structure in which a tension spring 87 is provided as a biasing means for biasing in the direction in which they abut, respectively.
また、前記支柱44は、上記実施例のように2本の棒状
部材48.49によって構成するほか、例えば長尺な平
板部材或いは1または3本以上の棒状部材から構成して
もよい。更に、支持軸56は、スライダ50に対して回
動自在としたが、スライダ50に対して固定的に取利け
でもよい。ただ、この場合には、サブスライダ66が支
持軸56に対して回動自在に構成する必要がおる。この
ほか、上記実施例では、サブスライダ66にロッド69
を介してスクライバ72を移動可能に取付けたが、スク
ライバ25はサブスライダ66に固定的に取付けてもよ
い。このような場合にあっても、サブスライダ66が支
持軸56に移動可能に取付けられているため、測定に何
ら支障がない。In addition to being constituted by the two rod-shaped members 48 and 49 as in the above embodiment, the support column 44 may be constituted by, for example, a long flat plate member or one or more rod-shaped members. Further, although the support shaft 56 is rotatable relative to the slider 50, it may be fixedly attached to the slider 50. However, in this case, the sub-slider 66 needs to be configured to be rotatable with respect to the support shaft 56. In addition, in the above embodiment, the rod 69 is attached to the sub-slider 66.
Although the scriber 72 is movably attached to the sub-slider 66, the scriber 25 may be fixedly attached to the sub-slider 66. Even in such a case, since the sub-slider 66 is movably attached to the support shaft 56, there is no problem in measurement.
また、上記実施例では、載物テーブル2のXおよびY軸
方向の移動変位量をマイクロメータヘッド23.31に
よって、スライダ50のZ軸方向への移動変位量を機械
的なカウンタで検出するようにしだが、これらまたは全
ての測定手段を光電型の変位検出装置によって検出した
後、これらの変位検出装置からのデータを演算処理装置
へ入力させ、この演算処理装置において、変位検出装置
から与えられるテークを演算し、その結果を表示装置へ
表示させるように構成してもよい。このようにすると、
測屋筒所の位置データが自動的に表示されるため、換算
のだめの演算を必要としない利点がめる。この場合、ス
クライバ72に代えて、測定子としてタッチ信号プロー
ブを用いれば、よシ高精度で能率的な測定を行うことが
できる。Further, in the above embodiment, the amount of displacement of the workpiece table 2 in the X- and Y-axis directions is detected by the micrometer head 23.31, and the amount of displacement of the slider 50 in the Z-axis direction is detected by a mechanical counter. However, after these or all of the measurement means are detected by a photoelectric displacement detection device, the data from these displacement detection devices is input to a processing unit, and this processing unit processes the take given by the displacement detection device. may be configured to calculate and display the result on a display device. In this way,
Since the location data of the survey shop is automatically displayed, there is an advantage that no additional calculations are required. In this case, if a touch signal probe is used as the measuring element instead of the scriber 72, highly accurate and efficient measurement can be performed.
以上の通υ、本発明によれば、安価かつ取扱いが容易な
上、高能率、高精・度の測建が期待できる立体物測定機
を提供することができる。In summary, according to the present invention, it is possible to provide a three-dimensional object measuring machine that is inexpensive, easy to handle, and can be expected to perform measurement and construction with high efficiency and high accuracy.
第1図は本発明の一笑施例の全体を示す斜視図、第2図
はその載物テーブルの一部を切欠いた平面図、第3図は
第2図のト」線断面図、第4図はそのハイドケージを示
す正面図、第5図はハイドゲージを示す背面図、第6図
はハイドケージの要部を示す斜視図、揖7図および第8
図は測定時の説明図、第9図は載物テーブルの変形例を
示す平面図でおる。
1・・・基台としての定盤、2・・・載物テーブル、1
2.83・・・可動テーブル、17.18川案内軸、1
9.31,86A、86B・・・可動機檜、23.31
・・・マイクロメータヘッド、44・・・支柱、45.
57・・・角度読取器、48A・・・ラック、50・・
・スライダ、51.52・・・表示器、56・・・支持
軸、66・・・サブスライダ、72・・・測定子として
のスクライバ、74・・・エンコーダ、87・・・付勢
手段としての引張ばね。
代理人 弁理士 木 下 貢 三
(1!’ 6’嘔)
第1図
7
第2図
第 3 図
第4図 第5図
第6図
第7図
第8濶
第9図
1ゝFIG. 1 is a perspective view showing the entire embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partially cutaway plan view of the loading table, FIG. 3 is a sectional view taken along the line T in FIG. 2, and FIG. The figure is a front view showing the hide cage, Fig. 5 is a rear view showing the hide cage, Fig. 6 is a perspective view showing the main parts of the hide cage, Figs.
The figure is an explanatory diagram at the time of measurement, and FIG. 9 is a plan view showing a modified example of the loading table. 1... Surface plate as a base, 2... Loading table, 1
2.83...Movable table, 17.18 River guide shaft, 1
9.31, 86A, 86B...Movable cypress, 23.31
...Micrometer head, 44...Strut, 45.
57... Angle reader, 48A... Rack, 50...
・Slider, 51.52...Display device, 56...Support shaft, 66...Sub-slider, 72...Scriber as measuring head, 74...Encoder, 87...As biasing means tension spring. Agent Patent Attorney Mitsuzo Kinoshita (1!'6') Figure 1 7 Figure 2 3 Figure 4 Figure 5 Figure 6 Figure 7 Figure 8 Figure 9 Figure 1
Claims (1)
交する2軸方向へ移動可能に構成された載物テーブルと
、前記基台に前記載物テーブルの移動方向に対して直交
する方向へ向って立設された支柱と、この支柱に沿って
移動可能に設けられたスライダと、このスライダに前記
支柱に対して直角に取付けられた支持軸と、この支持軸
に沿って移動可能に設けられたサブスライダと、このサ
ブスライダに着脱自在に設けられた測定子等と、少なく
とも前記載物テーブルの移動変位量および前記スライダ
の移動変位量を読取るための変位量読取装置とを具備し
たことを特徴とする立体物測定機。 (2、特許請求の範囲第1項において、前記載物テーブ
ルは、前記基台の上面にその上面と平行な方向へ移動自
在に載置された可動テーブルと、−この可動テーブルの
隣接する2側面に互いに直角に設けられた案内軸と、こ
の各案内軸式それぞれ摺動自在に係合されかつ前記基台
にその案内軸と直交する方向へ進退自在に設けられた可
動機構とから構成されていることを特徴とする立体物測
定機。 (3) 特許請求の範囲第1項において、前記載物テ
ーブルは、前記基台の上面にその上面と平行な方向へ移
動自在に載置されかつ隣接する2つの側面が互いに直角
に成形された可動テーブルと、前記基台に前記可動テー
ブルの各側面と直交する方向へ進退自在に設けられかつ
先端にその各側面に当接する係合部を有する可動機構と
、前記可動テーブルの直交する各側面が前記可動梳構の
係合部にそれぞれ当接する方向へ向って可動テーブルを
付勢する付勢手段とから構成されていることを特徴とす
る立体物測定機。 (4) 特許請求の範囲第1項ないし第3項のいずれ
かにおいて、前記支柱は、前記基台に支柱の軸線を中心
として回動自在に設けられていることを特徴とする立体
物測定機。 (5)特許請求の範囲第4項において、前記基台と支柱
との間には、支柱の回動角1を読取る角度読取器が設け
られていることを特徴とする立体物測定機。 (6)特許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれかに
おいて、前記サブスライダは、前記支持軸のt’rt+
Mを中心として回動可能に設けられていることを%徴
とする立体物測定機。 (力 特許請求の範囲第6項において、前記支持軸は、
前記スライダに支持軸の@脚を中心として回動自在に設
けられていることを特徴とする立体物測定機。 (8)特許請求の範囲第7狽において、前記スライダと
支持軸との間にね、支持軸の回動角度を読取る角度読取
器が設けられていることを特徴とする立体物測定機。 (9)特許請求の範囲第1項ないし第8項のいずれかに
おいて、前記変位量読取装置は、前記基台と載物テーブ
ルとの相対変位%、を検出するマイクロメータヘッドと
、前記支柱に刻設されたラックによシ作動されその支柱
とスライダとの相対変位量を検出するカウンタとから構
成されていることを特徴とする立体物測定機。 α0)特許請求の範囲第1項ないし第8項のいずれかに
おいて、前記変位量読取装置は、少なくとも前記基台と
載物テーブルとの相対変位量および前記支柱とスライダ
との相対変位量を検出する変位量検出装置と、この変位
量検出装置からの出力を処理しそれを表示する表示装置
とから構成されていること′f:%徴とする立体物測定
機。 ■ 特許請求の範囲第10項において、前記変位量検出
装置は、前記基台と載物テーブルとの相対移動量を検出
する第1の変位量検出器と、前記支柱とスライダとの相
対変位量を検出する第2の変位量検出器と、前記支持軸
とサブスライダとの相対変位量を検出する第3の変位量
検出器とから構成されていることを特徴とする立体物6
11j定機。[Scope of Claims] (1) A base, a material table provided on the base and configured to be movable in at least two axes perpendicular to each other; a support column erected in a direction perpendicular to the support column; a slider movably provided along the support column; a support shaft attached to the slider at right angles to the support column; a sub-slider that is movable along the sub-slider, a measuring element etc. that is detachably attached to the sub-slider, and a displacement reading device for reading at least the amount of displacement of the object table and the amount of displacement of the slider. A three-dimensional object measuring device characterized by comprising: (2. In claim 1, the object table includes a movable table placed on the upper surface of the base so as to be movable in a direction parallel to the upper surface thereof, and - two adjacent movable tables of the movable table. It is composed of guide shafts provided on the side surfaces at right angles to each other, and a movable mechanism that is slidably engaged with each guide shaft type and is provided on the base so as to be movable forward and backward in a direction perpendicular to the guide shafts. (3) In claim 1, the object table is placed on the top surface of the base so as to be movable in a direction parallel to the top surface. A movable table having two adjacent side surfaces formed at right angles to each other; and an engaging portion provided on the base so as to be movable back and forth in a direction perpendicular to each side surface of the movable table, and an engaging portion abutting each side surface at the tip. A three-dimensional object comprising a movable mechanism and a biasing means for biasing the movable table in a direction in which each orthogonal side surface of the movable table abuts the engaging portion of the movable comb structure. Object measuring device. (4) In any one of claims 1 to 3, the support is provided on the base so as to be rotatable about the axis of the support. Three-dimensional object measuring device. (5) The three-dimensional object measuring device according to claim 4, characterized in that an angle reader for reading the rotation angle 1 of the support is provided between the base and the support. Object measuring device. (6) In any one of claims 1 to 5, the sub-slider is configured to measure t'rt+ of the support shaft.
A three-dimensional object measuring device characterized by being rotatable around M. (Force) In claim 6, the support shaft is
A three-dimensional object measuring device, characterized in that the slider is rotatably provided around the legs of a support shaft. (8) The three-dimensional object measuring device according to claim 7, further comprising an angle reader provided between the slider and the support shaft to read the rotation angle of the support shaft. (9) In any one of claims 1 to 8, the displacement amount reading device includes a micrometer head that detects a relative displacement percentage between the base and the workpiece table, and a micrometer head that detects a relative displacement percentage between the base and the object table; A three-dimensional object measuring device comprising a counter that is operated by a carved rack and detects the amount of relative displacement between the column and the slider. α0) In any one of claims 1 to 8, the displacement amount reading device detects at least the relative displacement amount between the base and the object table and the relative displacement amount between the support column and the slider. A three-dimensional object measuring device comprising a displacement detecting device and a display device processing the output from the displacement detecting device and displaying it. (1) In claim 10, the displacement detection device includes a first displacement detector that detects the relative displacement between the base and the work table, and a first displacement detector that detects the relative displacement between the support and the slider. and a third displacement detector that detects the relative displacement between the support shaft and the sub-slider.
11j fixed machine.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18494982A JPS5973701A (en) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | Cubic material measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18494982A JPS5973701A (en) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | Cubic material measuring device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5973701A true JPS5973701A (en) | 1984-04-26 |
Family
ID=16162168
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18494982A Pending JPS5973701A (en) | 1982-10-20 | 1982-10-20 | Cubic material measuring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5973701A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100939224B1 (en) | 2009-04-07 | 2010-02-01 | 주식회사 일성에프에이 | Jig for testing high temperature of electronic components |
US8028430B2 (en) * | 2008-06-26 | 2011-10-04 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Height measurement apparatus |
KR20180047369A (en) * | 2016-10-31 | 2018-05-10 | 창원대학교 산학협력단 | A compound profile meter |
-
1982
- 1982-10-20 JP JP18494982A patent/JPS5973701A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8028430B2 (en) * | 2008-06-26 | 2011-10-04 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Height measurement apparatus |
KR100939224B1 (en) | 2009-04-07 | 2010-02-01 | 주식회사 일성에프에이 | Jig for testing high temperature of electronic components |
KR20180047369A (en) * | 2016-10-31 | 2018-05-10 | 창원대학교 산학협력단 | A compound profile meter |
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