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JPS5942256B2 - 露点・霜点検出装置 - Google Patents

露点・霜点検出装置

Info

Publication number
JPS5942256B2
JPS5942256B2 JP6447577A JP6447577A JPS5942256B2 JP S5942256 B2 JPS5942256 B2 JP S5942256B2 JP 6447577 A JP6447577 A JP 6447577A JP 6447577 A JP6447577 A JP 6447577A JP S5942256 B2 JPS5942256 B2 JP S5942256B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frost
dew
temperature
detection
detection surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP6447577A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS53149374A (en
Inventor
隆志 古谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Hokushin Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Hokushin Electric Corp filed Critical Yokogawa Hokushin Electric Corp
Priority to JP6447577A priority Critical patent/JPS5942256B2/ja
Publication of JPS53149374A publication Critical patent/JPS53149374A/ja
Publication of JPS5942256B2 publication Critical patent/JPS5942256B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、露点・霜点検出装置に関するものである。
詳しくは検出面上に一定量の露または霜が30生じるよ
うに検出面の温度を制御しそのときの検出面の温度を露
点または霜点とする露点・霜点検出装置に関するもので
ある。この種の装置は検出面上にあらかじめ設定された
一定量の露または霜が生ずるようにするため検出面を冷
却または加熱35する装置を備えている。測定を開始す
ると、まず検出面を冷却して行き露または霜を生じさせ
、設定された一定量になるように検出面温度を調整する
。しかしながら、一般に検出面温度がO〜−40゜Cの
間で大なり小なり露の過冷却現象がみら法霜と過冷却の
露とが共存するような状態も生ずる。このため、検出面
温度が低温度を示しているときには、それが検出面上に
過冷却の露が付着しているときの温度なのか、霜が付着
しているときの温度なのか、過冷却の露と霜とが共存し
ているときの温度なのか、いいかえれば測定中の温度が
露点を示すものなのか、霜点なのかまたは露から霜への
相変化中の温度なのか判断する必要がある。本発明の目
的は、露から霜への変換または霜から露への変換が自動
的に行われる露点・霜点検出装置を提供するにある。本
発明に係る露点・霜点検出装置の動作概要は、次の通り
である。
霜点を測定する場合を例にとつて説明すると、まず、検
出面は、露量・霜量検出部→加熱・冷却器制御部→加熱
・冷却器→検出面のループで制御が行なわれており、検
出面には設定器で設定された量とほぼ等しい量の霜又は
露が付着しているとする。このような状態で被測定対象
の気体が変化して起動タイミング検出部からの信号によ
り露→霜変換シーケンスに起動がかかつたとする。その
結果、露→霜変換シーケンスから動作信号が加熱・冷却
器制御部へ出力され、この動作信号により検出面には霜
のみが付着するようになる。一方、霜点の測定は、検出
面に付着した霜の量が増加も減少もしない平衡状態にお
ける温度を測定することにほかならないから、以上の露
から霜への変換が得られたら前記平衡状態の温度を検出
するような制御ループで検出面の温度をコントロールす
る必要がある。そこで露から霜への変換が得られたら上
述した露量・霜量検出部→加熱・冷却器制御部→加熱・
冷却器→検出面の制御系に切り換え、設定器で設定した
霜の量と比較しながら上記制御を行ない霜の付着量の平
衡時の温度を測定するようにしている。以下、図面を用
いて本発明を詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示すプロツク図である。
1は検出部で、露または霜を生じさせる検出面11のみ
を斜視図で示している。
2は温度検出部で、この温度検出部2の検出端の熱電対
が検出面11に接している。
3は検出面11の温度を上昇または降下させるための加
熱または冷却を行う加熱・冷却器、4は検出面11上の
露または霜の量を検出する露量・霜量検出部である。
5は加熱・冷却器3を制御する加熱・冷却器制御部で、
露または霜の量を設定する設定器51と、この設定器5
1の設定信号と露量・霜量検出部4からの信号との偏差
を増幅する増幅器から成り加熱・冷却装置3に加熱また
は冷却の制御信号を与えるものである。
6は露から霜に変換するための変換シーケンス制御部で
、7は霜から露に変換するための変換シーケンス制御部
である。
変換シーケンス制御部6,7には露量・霜量検出部4よ
り露量・霜量信号が与えられている。8は起動タイミン
グ検出部で、温度設定器81,82、この温度設定器8
1,82がそれぞれ接続されるレベル検出器83,84
、フリツプフロツプ85、フリツプフロツプ85の出力
に接続される立ち上がり検出器86および立ち下がり検
出器87より成る。
レベル検出器83,84には温度検出部2からの検出面
温度Tに比例する信号がそれぞれ入力し、レベル検出器
83の入力に温度設定器81で設定された温度T1に比
例した信号が入力し、レベル検出器84の入力には温度
設定器82で設定された温度T2に比例した信号が入力
する。そして、レベル検出器83は、T>T1のとき論
理10”、T<T,のとき論理゛1”の信号を出力し、
レベル検出器84はT>T2のとき論理゛1−T<T2
のとき論理゛O”の信号を出力するものとする。ただし
T1〉T2である。レベル検出器83,84の出力端子
はNANDゲート2個で組まれたフリツプフロツプ85
のそれぞれに接続されている。ここでは、レベル検出器
83に接続されているNANDゲートの出力をQ1レベ
ル検出器に接続されているNANDゲ゛一トの出力をQ
とすると、フリツプフロツプ85は出力QとしてT>T
1のときに論理゛0゛、T<T2のときに論理゛1゛を
出力する。フリツプフロツプ85のQ出力端子は立ち上
がり検出器86および立ち下がり検出器87の入力端子
に接続されていて、Q出力が論理゛O゛から論理゛1゛
に反転すると立ち上がり検出器86はこれを検出して起
動信号を発し、論理゛1゛から論理゛0゛に反転すると
立ち下がり検出器87はこれを検出して起動信号を発す
る。立ち上がり検出器86の出力は露〜霜変換シーケン
ス制御部6に与えられ、立ち下がり検出器87の出力は
霜〜露変換シーケンス制御部7に与えられる。またフリ
ツプフロツプ85の状態から検出面11上には露が生じ
ているのかがわかる。ここでフリツプフロツプ85のQ
出力が617のとき露の状態を示し60゛のときは霜の
状態を示している。実際は、各変換シーケンス制御部6
,7が動作しているときは、動作期間中は、露か霜かの
判別信号は無視する〇以上のように構成された本発明装
置は、通常は、検出面11、露量・霜量検出部4、加熱
・冷却器制御部5および加熱・冷却器3により制御ルー
プが組まれ、露量・霜量設定器51により設定された一
定量の露または霜が検出面11上に生じるように制御さ
れている。
この状態で検出面11の温度が温度検出部2により露点
として求められる。ここで露〜霜変換シーケンス制御部
6または霜〜露変換シーケンス制御部7に起動がかかる
と、その出力は、加熱・冷却器制御部5の増幅器52の
入力に加えられ、その出力は変換シーケンス制御部6ま
たは7の出力に従つて加熱・冷却器3を制御することに
なる。露から霜への変換シーケンス制御部6は次の動作
を加熱・冷却器制御部5により加熱・冷却器3を制御す
る。まず、検出面11において、露か霜かの判別はでき
ないが、一定量の露又は霜が付着しその量が平衡した温
度(0℃以下である)状態からスタートする。
この状態で検出面11を加熱する。従つて平衡状態時よ
り温度が高くなるので、検出面11に付着していた露又
は霜の量は蒸発して減少する。次に一転して検出面11
を冷却する。しかし、検出面11の温度が上述した平衡
時の温度に戻るまでは、検出面11の表面に付着してい
た露又は霜は減少しつづける。そして検出面11の温度
が上述の平衡時の温度より低くなると検出面11に付着
する露又は霜の量は増加するようになる。更に検出面1
1の温度を冷却して行き、その温度が−41℃付近まで
下がると、検出面11に付着している露又は霜は、すべ
て霜になることが実,験的に知られている。一方、この
ように検出面11に付着した露が一旦霜に変化すると、
この霜の状態は非常に安定であり、検出面11の温度を
O′C以上にしない限り再び露に戻ることはない。従つ
て、次に検出面11を再び加熱して上述の平衡時の温度
(0゜C以下)に戻しても検出面11に付着しているも
のは霜のみとなる。このようにして検出面ノ11に付着
した霜の量は、加熱・冷却器制御部5の設定器51によ
り設定された量と等しくなるように温度制御され、その
後、変換シーケンス制御部6から加熱・冷却器制御部5
による通常の制御に切り換えられる。
また霜から露への変換シーケンス制御は、次のようにし
て行なう。
まず、検出面11を加熱して、この検出面11の温度を
O℃以上にする。従つて、検出面11に霜が付着してい
たとしても、これらの霜はすべて露となるが、或いは蒸
発して消失する。次に、変換シーケンス制御部6から加
熱・冷却器制御部5による通常の制御に切り換えられる
。この、通常の制御においては、0゜C〜−10℃の温
度範囲で検出面11に付着する露量の安定点を検出する
ように制御を行なつている。ここで、上述のように一旦
プラスの温度状態にして霜を消失させてから再び温度を
下げ、O℃〜−10℃の温度範囲に検出面11を設定し
た場合には、検出面11に霜が生ずることがないことを
出願人は実験的に確認した。さて、このような本発明装
置により、露点または霜点を測定するときの例を第1図
および第2図を用いて説明する。
第2図において、aは縦軸に検出面温度Tをとつたもの
、bはフリツプフロツプ85の状態を示すもので、いず
れも横軸に時間をとつたものである。まず、検出面11
の温度Tは、T>T,の状態では、フリツプフロツプ8
5のQ出力ば1”を出力して、一定量の露が検出面11
上に生じていることを示している。T1〉T〉T2の状
態では、レベル検出器83は反転するが、フリツプフロ
ツプ85は変わらず、依然として露が生じていることを
示している。T≦T2となると、直ちに、フリツプフロ
ツプ85のQ出力ばO”に反転し、またQ出力の立ち上
がりを立ち上がり検出器86が検出して露〜霜変換シー
ケンス制御部6に起動信号を与える。露〜霜変換シーケ
ンス制御部6が一連のシーケンス動作を行つたあと検出
面11上には一定量の霜が生じ、T<T,であるかぎり
、温度検出部2は霜点を求めていることになる。次に、
検出面11の温度Tが上昇してT≧T1となると、直ち
にフリツプフロツプ85のQ出力ばO゛から゛1゛に反
転しQ出力に接続された立ち下がり検出器87によりQ
出力の立ち下がりを検出して霜〜露変換シーケンス制御
部7に起動信号を与える。霜〜露変換シーケンス制御部
7が一連のシーケンス動作を行つたあと、検出面11上
には、一定量の露が生じT>T2であるかぎり温度検出
部2は露点を求めていることになる。第3図は、aはヒ
ステリシスを有するコンパレータを用いた起動タイミン
グ検出部の一実施例を示す図、bはコンパレータのヒス
テリシス特性の概略図を示したもので、横軸に入力(T
)、縦軸に出力をとつてある。第3図aにおいて、88
は正帰還をほどこしてヒステリシスを持たせたコンパレ
ータ、89は温度Tに比例する信号を出力する温度設定
器である。810,811はそれぞれ立ち下がり検出器
、立ち上がり検出器である。
(TO)は、設定温度T。に応じた基準設定電圧、V(
T)は検出面11の温度Tに応じた電圧である。コンパ
レータ88のヒステリシス電圧の幅を2Vh1また、前
述の設定温度Tl,T2に対応する電圧(T,),V(
T2)としてとなるように、V(TO)およびVhを決
めてやる。
そして、コンパレータ88の論理11゛に相当する出力
が、検出面11上に露が生じている状態、論理゛0゛に
相当する出力が検出面11上に霜が生じている状態を示
しているものとする。T≦T2のときにコンパレータ8
8の出力が論理81゛から゛O”に反転すれば、これを
立ち下がり検出器810で検出して露から霜への変換の
起動タイミングを得ることができる。またT≧T1のと
きコンパレータ88の出力が論理゛0”から81”に反
転すれば、これを立ち上がり検出器811で検出し霜か
ら露への変換起動タイミングを得ることができる。以上
のように、本発明装置は、露から霜への変換または霜か
ら露への変換を自動的に行い、また検出している温度が
露点なのか霜点なのかを区別することができるので非常
に便利である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施例を示す構成図である、第2
図は測定例を示す図、第3図は、起動タイミング検出部
の他の実施例を示す図である。 1・・・・・・検出部、11・・・・・・検出面、2・
・・・・・温度検出部、3・・・・・・加熱・冷却器、
4・・・・・・露量・霜量検出部、5・・・・・・加熱
・冷却器制御部、6・・・・・・露〜霜変換シーケンス
制御部、7・・・・・・霜〜露変換シーケンス制御部、
8・・・・・・起動タイミング検出部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 露または霜を生じさせる検出面と、この検出面の温
    度を検出する温度検出部と、前記検出面の温度を上昇ま
    たは降下させるための加熱・冷却器と、前記検出面上に
    生じた露または霜の量を検出する露量・露量検出部と、
    この露量・霜量検出部により知られる前記検出面上の露
    または霜の量が設定された一定量に等しくなるように前
    記加熱・冷却器を制御する加熱・冷却器制御部と、その
    起動時からその動作終了時までの間前記加熱・冷却器制
    御部に信号を与え前記検出面上に露から霜への変換また
    は霜から露への変換を行わせる露・霜変換シーケンス制
    御部と、この変換シーケンス制御部に起動信号を与える
    起動タイミング検出部とを具備し、前記起動タイミング
    検出部が、露から霜への変換シーケンス制御後は必ず露
    になるような温度T_1とし露から霜への変換シーケン
    ス制御後は必ず霜になるような前記検出面温度T_2と
    し(だだしT_1>T_2)前記検出面温度Tとして、
    T<T_2となると露から霜への変換シーケンス制御の
    起動信号を出力しT>T_1となると霜から露への変換
    シーケンス制御の起動信号を出力し、ひとたび霜になる
    とT>T_1になるまで、また露になるとT>T_2に
    なるまで起動信号を発しないようにした露点・霜点検出
    装置。 2 起動タイミング検出部が、フリップフロップと、こ
    のフリップフロップに検出面温度Tが設定温度T_1よ
    り高いときセット信号(またはリセット信号)を与える
    第1のコンパレータと、前記フリップフロップに検出面
    温度Tが設定温度T_2より低いときリセット信号(ま
    たはセット信号)を与える第2のコンパレータと、前記
    フリップフロップが第1のコンパレータのセット信号(
    またはリセット信号)により出力が反転したときこれを
    検出して霜から露への変換起動信号とし、第2のコンパ
    レータのリセット信号(またはセット信号)により出力
    が反転したときこれを検出して露から霜への変換起動信
    号とする検出回路とにより構成された特許請求の範囲第
    1項記載の露点・霜点検出装置。 3 起動タイミング検出部が、検出面温度Tに応じた信
    号が入力し上限基準電圧および下限基準電圧がそれぞれ
    温度T_1とT_2に対応するようなヒステリシスを有
    するコンパレータと、このコンパレータの出力がT≦T
    _2で反転したときこれを検出して露から霜への変換シ
    ーケンス制御の起動信号としてT≧T_1で反転したと
    きこれを検出して霜から露への変換シーケンス制御の起
    動信号とする検出回路とにより構成された特許請求の範
    囲第1項記載の露点・霜点検出装置。
JP6447577A 1977-06-01 1977-06-01 露点・霜点検出装置 Expired JPS5942256B2 (ja)

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JPS53149374A JPS53149374A (en) 1978-12-26
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012093218A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Yamatake Corp 鏡面冷却式センサ

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JP2012093218A (ja) * 2010-10-27 2012-05-17 Yamatake Corp 鏡面冷却式センサ

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