JPS5930081A - 校正用多線源選択型照射装置 - Google Patents
校正用多線源選択型照射装置Info
- Publication number
- JPS5930081A JPS5930081A JP13919382A JP13919382A JPS5930081A JP S5930081 A JPS5930081 A JP S5930081A JP 13919382 A JP13919382 A JP 13919382A JP 13919382 A JP13919382 A JP 13919382A JP S5930081 A JPS5930081 A JP S5930081A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray source
- radiation
- calibration
- irradiation
- rack
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K5/00—Irradiation devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は校正用多線源選択型照射装置に関する。
詳しくは本発明は電離箱型ザーベイメータやポケット１
％！量計などの放射線校正に用いる照射装置に関する。
％！量計などの放射線校正に用いる照射装置に関する。
従来、電離箱型ザーベイメータなどの放射）１（メ校正
に用いる照射装置に〔は第１図に示すようＣ（、比較的
放射線強度の強い単一なγ線源Ｓを用い、電離箱７％ｌ
Ｊサーベイメータなどの各測定レンジに対応する校正は
、逆二乗則全利用して校正距Ｒａｄ’ｒ：決め、被校正
測定器Ｍをそのつど大きく移動させて実維した。したか
って、測定器のレンジに応じて校正台車全頻繁に移「の
しなければならないこと、及び校正距離がレンジに、ｒ
、ｐ長（なるので大きな校正室を必要とする欠点が認め
られていた。
に用いる照射装置に〔は第１図に示すようＣ（、比較的
放射線強度の強い単一なγ線源Ｓを用い、電離箱７％ｌ
Ｊサーベイメータなどの各測定レンジに対応する校正は
、逆二乗則全利用して校正距Ｒａｄ’ｒ：決め、被校正
測定器Ｍをそのつど大きく移動させて実維した。したか
って、測定器のレンジに応じて校正台車全頻繁に移「の
しなければならないこと、及び校正距離がレンジに、ｒ
、ｐ長（なるので大きな校正室を必要とする欠点が認め
られていた。
本発明の目的は、このような欠点のない放躬線校正に用
いる照射装置を提供することである。
いる照射装置を提供することである。
本願発明者等はこの目的全達成するため、照射装置内に
測定器のレンジに対応した放射線強度の易なる複数個の
γ線源を格納し、任意にその線源を選択して照射するこ
と、および照射野の変更と４π照別が可能なこと等５目
的として鋭意研究の結果、放芽１線強区が異なる複数個
のγ線源を格納する線源格納部と、照射野の変更が容易
にでき、４πｊ１α別も可能な照射部、および線源を任
意に選択し、これを格納部から照射部へ移動させる駆動
部より成る線源突上］ｊ式校正用多＆！源選択型照射装
置を開発した。
測定器のレンジに対応した放射線強度の易なる複数個の
γ線源を格納し、任意にその線源を選択して照射するこ
と、および照射野の変更と４π照別が可能なこと等５目
的として鋭意研究の結果、放芽１線強区が異なる複数個
のγ線源を格納する線源格納部と、照射野の変更が容易
にでき、４πｊ１α別も可能な照射部、および線源を任
意に選択し、これを格納部から照射部へ移動させる駆動
部より成る線源突上］ｊ式校正用多＆！源選択型照射装
置を開発した。
本発明の装置は、放射線強度が異なるγ線源を任意に自
動的に選択するこ七ができるので、８２ケット線量計等
全−反に多量に校正できると共ＶＣ１′甲離箱型サーベ
イメータなどの各測定（レンジの校正を行う際、ｒ線源
と被校正測定器の校正距離をそのつど太き（移動させる
ことなく大略一定の校正距離で行うことができる。した
がって、校正作業が能率的に実施できる。また、校正距
離全短縮することもできるので、校正室を小型化するこ
とか可能になる。
動的に選択するこ七ができるので、８２ケット線量計等
全−反に多量に校正できると共ＶＣ１′甲離箱型サーベ
イメータなどの各測定（レンジの校正を行う際、ｒ線源
と被校正測定器の校正距離をそのつど太き（移動させる
ことなく大略一定の校正距離で行うことができる。した
がって、校正作業が能率的に実施できる。また、校正距
離全短縮することもできるので、校正室を小型化するこ
とか可能になる。
次に、本発明の装置全図面について具体的に説明する。
本照射装置の断面しを第２図に示す。また図のＡ −Ａ
’水平面断面図を第３図に示す。これらの図において斜
線部は鉛などの遮蔽材である。
’水平面断面図を第３図に示す。これらの図において斜
線部は鉛などの遮蔽材である。
第２図の１．２，３．４はそれぞれ線源格納部、照４＝
Ｊ部、線源駆動部および線源昇降用ラックである。５は
線源格納ローターである。第３図の６は線源格納孔に収
納された線源を示す。
Ｊ部、線源駆動部および線源昇降用ラックである。５は
線源格納ローターである。第３図の６は線源格納孔に収
納された線源を示す。
この照射装置は以下のように動作する。線源格納ロータ
ーを３の駆動機構ＶＣ、Ｊ：り回転させ、使用すべき線
源をラック軸上に停止させる。次に、３の、駆動機構に
エクジソンを上昇させ線源全照射部７のコリメーター遮
蔽ブロックの位置で停止させ照をを行う。この逆の動作
により線源を元の状態に収納する。安全対策としては、
■電源が消失した時、ラックおよび線源ｂ−自重落下し
格納状態となる方式としたこと、Ｑ）駆動機構には全て
メカニカルトルクテンダーを用い、線源の破損を防止す
る機構としたこと、および■照射部８のプラグを抜き、
替りにチーノミ−プラグを入れ線源を安全に装荷できる
機構としたこと等である。また、照ヰｊ部は全てブロッ
ク組立方式とし、照射計が簡単に変更でき、ブロックを
撤去することにより４π照射ができる構造とした。
ーを３の駆動機構ＶＣ、Ｊ：り回転させ、使用すべき線
源をラック軸上に停止させる。次に、３の、駆動機構に
エクジソンを上昇させ線源全照射部７のコリメーター遮
蔽ブロックの位置で停止させ照をを行う。この逆の動作
により線源を元の状態に収納する。安全対策としては、
■電源が消失した時、ラックおよび線源ｂ−自重落下し
格納状態となる方式としたこと、Ｑ）駆動機構には全て
メカニカルトルクテンダーを用い、線源の破損を防止す
る機構としたこと、および■照射部８のプラグを抜き、
替りにチーノミ−プラグを入れ線源を安全に装荷できる
機構としたこと等である。また、照ヰｊ部は全てブロッ
ク組立方式とし、照射計が簡単に変更でき、ブロックを
撤去することにより４π照射ができる構造とした。
実施例
本照月−１装置全試作し線源として１３７０８ ｆ ０
．３ ＋３＋３０Ｏｒ４装荷した。この場合校正距購０
８〜３ｎ〕で］、 ＯｍＲ／１１〜１５ Ｒ／ Ｉ＋の
線量率が得られ、放射線管理に使用している市販の電離
箱サーベイメータの校正全校正距離約１．０ｍで迅速り
こ実；Ｉｒｌできた。
．３ ＋３＋３０Ｏｒ４装荷した。この場合校正距購０
８〜３ｎ〕で］、 ＯｍＲ／１１〜１５ Ｒ／ Ｉ＋の
線量率が得られ、放射線管理に使用している市販の電離
箱サーベイメータの校正全校正距離約１．０ｍで迅速り
こ実；Ｉｒｌできた。
本装置は、■大略一定の校正距ｎ出で能率的に校正作業
ができること＠照射野の変更か容易で・１π照則が可能
なこと■校正距離が短縮できること■照射８＋＋と線源
格納部が分離されているため、照射時に制御源間の干渉
がないこと、■線源格納ロータが小型化できるのでじゃ
へい体重量を軽くすることができること、および■線源
を安全に装荷できること等の特徴を備えていることが挙
げられる。
ができること＠照射野の変更か容易で・１π照則が可能
なこと■校正距離が短縮できること■照射８＋＋と線源
格納部が分離されているため、照射時に制御源間の干渉
がないこと、■線源格納ロータが小型化できるのでじゃ
へい体重量を軽くすることができること、および■線源
を安全に装荷できること等の特徴を備えていることが挙
げられる。
第１図は従来の校正方法の一例を示す概略図である。
第２図は本発明の照射線量測定器の放射線校正に用いる
照射装置の一実施例の概略を示す部分断面図である。 第３図は第２図のＡ−Ａ’における断面図である。 図において、 １・・・鉛の遮蔽体を有する線源格納部２・・・照射計
の変更が容易な照射部 ：３・・・線源全格納から照射状態に移行する４２％
９の部４・・・線源昇降用ラック ５・・・線源格納ローター ６・・・線θ星格納孔に収納された線源７、・・・コリ
メータ遮蔽ブロック 特許出願人 日本原子力研究所 奉２ 図 ε ４３１− ′＃３ 図
照射装置の一実施例の概略を示す部分断面図である。 第３図は第２図のＡ−Ａ’における断面図である。 図において、 １・・・鉛の遮蔽体を有する線源格納部２・・・照射計
の変更が容易な照射部 ：３・・・線源全格納から照射状態に移行する４２％
９の部４・・・線源昇降用ラック ５・・・線源格納ローター ６・・・線θ星格納孔に収納された線源７、・・・コリ
メータ遮蔽ブロック 特許出願人 日本原子力研究所 奉２ 図 ε ４３１− ′＃３ 図
Claims (1)
- 放射線強度が異なる複数個のγ線源を格納した線源格納
部と、照射野の変更が容易にでき４π照躬も可能な照射
部より構成された線源格納部の線源を任意に選択して照
射することを特徴とする校正用多線源選択型照射装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13919382A JPS5930081A (ja) | 1982-08-12 | 1982-08-12 | 校正用多線源選択型照射装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13919382A JPS5930081A (ja) | 1982-08-12 | 1982-08-12 | 校正用多線源選択型照射装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5930081A true JPS5930081A (ja) | 1984-02-17 |
Family
ID=15239716
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13919382A Pending JPS5930081A (ja) | 1982-08-12 | 1982-08-12 | 校正用多線源選択型照射装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5930081A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6383681A (ja) * | 1986-09-29 | 1988-04-14 | Hitachi Ltd | 半導体装置の試験方法 |
| JP2013186014A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Hitachi Ltd | 放射線検出器の校正方法および放射線監視装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4730720U (ja) * | 1971-04-26 | 1972-12-07 |
-
1982
- 1982-08-12 JP JP13919382A patent/JPS5930081A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4730720U (ja) * | 1971-04-26 | 1972-12-07 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6383681A (ja) * | 1986-09-29 | 1988-04-14 | Hitachi Ltd | 半導体装置の試験方法 |
| JP2013186014A (ja) * | 2012-03-09 | 2013-09-19 | Hitachi Ltd | 放射線検出器の校正方法および放射線監視装置 |
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