JPS59211284A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS59211284A JPS59211284A JP58086149A JP8614983A JPS59211284A JP S59211284 A JPS59211284 A JP S59211284A JP 58086149 A JP58086149 A JP 58086149A JP 8614983 A JP8614983 A JP 8614983A JP S59211284 A JPS59211284 A JP S59211284A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resistance
- negative
- junction
- negative resistance
- oscillation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
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- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 4
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 241000277269 Oncorhynchus masou Species 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
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- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D8/00—Diodes
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置に関する。
従来の増幅、発振、演算装置の多くは複雑な回路を構成
することか必要であり、又動作周波数もあまり高くなか
った。本発明はこれらのり点に対処するものである。
することか必要であり、又動作周波数もあまり高くなか
った。本発明はこれらのり点に対処するものである。
本発明は、半導体1′・N接合に逆方向高電猶をかけた
場合に、雪崩現象によって生じたキャリアが高エネルギ
ー状態において印加高電界に垂直な方向に負の有効質量
を有し、キャリアの走行中における印加高電界に垂直な
方向の有効質量の平均イ直が負となる場合、同方向に負
抵抗を生じる現象に基づく半導体装置である。
場合に、雪崩現象によって生じたキャリアが高エネルギ
ー状態において印加高電界に垂直な方向に負の有効質量
を有し、キャリアの走行中における印加高電界に垂直な
方向の有効質量の平均イ直が負となる場合、同方向に負
抵抗を生じる現象に基づく半導体装置である。
以下実施例につき図面に従馴て説明する。
第1図はシリコン半導体P−N接合の接合面を結晶の(
100)面に平行な平面接合としP型半導体部分に設け
た2個の平行な電極4−5間に負抵抗を有するようにし
である。更に電極6を設は負抵抗をより効果的に起すよ
うにしである。
100)面に平行な平面接合としP型半導体部分に設け
た2個の平行な電極4−5間に負抵抗を有するようにし
である。更に電極6を設は負抵抗をより効果的に起すよ
うにしである。
第2図は、上に述べた実施例による回路例を示し、2個
の等しい祇抗R+を端子8−9間に並列に連結すること
にまり印加高電界に垂直な方向に存在する負抵抗及び発
振、双安定状態等の負抵抗による特性を得ている。
の等しい祇抗R+を端子8−9間に並列に連結すること
にまり印加高電界に垂直な方向に存在する負抵抗及び発
振、双安定状態等の負抵抗による特性を得ている。
第3図は、端子8−9間に存在する負抵抗(−RN)に
並列に存在する止折抗RPを示し面抵抗による作用は次
に示すようになる。
並列に存在する止折抗RPを示し面抵抗による作用は次
に示すようになる。
P−N接合における雪崩現象によって生じた電流Iが増
加するに従い負抵抗(−RN)の絶対値RNは減少しミ
正折抗Rpと同じ値(RN=Rp )になったとき双安
定状態が生じ端子8及び9の電圧は正又は負の値をとる
。なおこの状熊においては、第4図に示すように電極1
2゜13を設けることによりフリップフロップとしても
作用させることができる。
加するに従い負抵抗(−RN)の絶対値RNは減少しミ
正折抗Rpと同じ値(RN=Rp )になったとき双安
定状態が生じ端子8及び9の電圧は正又は負の値をとる
。なおこの状熊においては、第4図に示すように電極1
2゜13を設けることによりフリップフロップとしても
作用させることができる。
更に電流■が増加すると、偵抵抗(−RN)の絶対値R
Nは正抵抗R,pより小さくなI)(RN<Rp)発振
可能な状態が生じる。
Nは正抵抗R,pより小さくなI)(RN<Rp)発振
可能な状態が生じる。
以上の実施例において、E=78vで雪崩現象が開始さ
れる試料について、R+、=IKΩ、R2=aoonの
ときE=11.8V、I = 5.3 m Aで双安定
状態が開始され、双安定状態における端子8−9間の電
圧はEの増加に伴って1.0vから1.7Vまて、端子
8−9を短絡したときの電流は2.5 m Aから4.
4 m Aまで増加した。更にE=18.7V、I =
10.8 +n Aて発振状1gが生じ、発振出力約
201nW、効率約10%、最高発振周波数約250M
I(Zが得られた。
れる試料について、R+、=IKΩ、R2=aoonの
ときE=11.8V、I = 5.3 m Aで双安定
状態が開始され、双安定状態における端子8−9間の電
圧はEの増加に伴って1.0vから1.7Vまて、端子
8−9を短絡したときの電流は2.5 m Aから4.
4 m Aまで増加した。更にE=18.7V、I =
10.8 +n Aて発振状1gが生じ、発振出力約
201nW、効率約10%、最高発振周波数約250M
I(Zが得られた。
以上に述べたように本発明によると従来より簡単な回路
で負抵抗による双安定、発振等の動作を高周波で行うこ
とができる。
で負抵抗による双安定、発振等の動作を高周波で行うこ
とができる。
第1図は実施例の斜視図、第2図は実施例による回路図
、第3図は負抵抗と正抵抗1の関係図、第4図はフリッ
プフロップの実施例である。 1・・・P型半導体部分、2・N型半導体部分、3 、
、、 P −N接合境界線、4,5,6,7,12゜1
3・・電極、8,9,10,11,14.15端子、E
電源、R1,R2,R3,RN、 RP・抵抗。 [相] 出願人 増 1)遼 治
、第3図は負抵抗と正抵抗1の関係図、第4図はフリッ
プフロップの実施例である。 1・・・P型半導体部分、2・N型半導体部分、3 、
、、 P −N接合境界線、4,5,6,7,12゜1
3・・電極、8,9,10,11,14.15端子、E
電源、R1,R2,R3,RN、 RP・抵抗。 [相] 出願人 増 1)遼 治
Claims (1)
- 半導体P、N接合における雪崩」象を利用した印加逆方
向高電界に垂直な方向のキャリアの負の有効質量による
負抵抗を有する半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58086149A JPS59211284A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58086149A JPS59211284A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59211284A true JPS59211284A (ja) | 1984-11-30 |
JPH0550149B2 JPH0550149B2 (ja) | 1993-07-28 |
Family
ID=13878678
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58086149A Granted JPS59211284A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59211284A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5229636A (en) * | 1987-09-01 | 1993-07-20 | Tatsuji Masuda | Negative effective mass semiconductor device and circuit |
WO1999003204A1 (en) * | 1997-07-08 | 1999-01-21 | Tatsuji Masuda | Sr flip flop |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4834467A (ja) * | 1971-09-07 | 1973-05-18 |
-
1983
- 1983-05-16 JP JP58086149A patent/JPS59211284A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4834467A (ja) * | 1971-09-07 | 1973-05-18 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5229636A (en) * | 1987-09-01 | 1993-07-20 | Tatsuji Masuda | Negative effective mass semiconductor device and circuit |
WO1999003204A1 (en) * | 1997-07-08 | 1999-01-21 | Tatsuji Masuda | Sr flip flop |
US6239638B1 (en) | 1997-07-08 | 2001-05-29 | Tatsuji Masuda | SR flip flop |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0550149B2 (ja) | 1993-07-28 |
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