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JPS59129858A - Photoconductive material - Google Patents

Photoconductive material

Info

Publication number
JPS59129858A
JPS59129858A JP58005053A JP505383A JPS59129858A JP S59129858 A JPS59129858 A JP S59129858A JP 58005053 A JP58005053 A JP 58005053A JP 505383 A JP505383 A JP 505383A JP S59129858 A JPS59129858 A JP S59129858A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer region
layer
atoms
photoconductive
substance
Prior art date
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Granted
Application number
JP58005053A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0216914B2 (en
Inventor
Keishi Saito
恵志 斉藤
Kozo Arao
荒尾 浩三
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP58005053A priority Critical patent/JPS59129858A/en
Priority to US06/570,031 priority patent/US4569894A/en
Priority to DE19843401083 priority patent/DE3401083A1/en
Priority to FR8400579A priority patent/FR2539522B1/en
Publication of JPS59129858A publication Critical patent/JPS59129858A/en
Publication of JPH0216914B2 publication Critical patent/JPH0216914B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

PURPOSE:To obtain a long-lived a-Si insusceptible of an effect of the material of a substrate and good in photosensitivity characteristics in the side of long wavelengths by forming a specified photoconductive amorphous layer consisting of a 3-layer structure on the substrate. CONSTITUTION:An amorphous layer 102 is formed on a substrate 101 to prepare a photoconductive material 100. The layer 102 is composed of Ge or Ge and Si as a base material optionally contg. H or halogen when needed, and it consists of the first layer 106 at least a part of which crystallizes, the second layer 103 of amorphous Si (a-Si) contg. Ge, and the third photoconductive layer 104 of a-Si. Moreover, a conductivity governing substance, such as B or Ga for p type impurity, P or As for n type impurity, is added to at last one of the first and second layers 106, 103. A mark 105 stands for a free surface.

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光(ここでは広義の光で、紫外光線、可視光
線、赤外光線、X線、γ線等を示す)の様な電磁波に感
受性のある光導電部材に関するO 固体撮像装置、或いは像形成分野における電子写真用像
形成部材や原稿読取装置における光導電層を形成する光
導電材料としては、高感度で、SN比〔光電流(Ip)
/暗電流(■d)〕が高く、照射する電磁波のスペクト
ル特性にマツチングした吸収スペクトル特性を有するこ
と、光応り性が速く、所望の暗抵抗値を有すること、使
用時において人体に対して無公害であること、史には固
体撮像装置においては、残像を所定時間内に容易に処理
することができること等の特性が要求される。殊に、事
務機としてオフィスで使用される電子写真装置内建絹込
まれる電子写真用像形成部材の場合には、上記の使用時
における無公害性は重要な点である。
Detailed Description of the Invention The present invention relates to a photoconductive member that is sensitive to electromagnetic waves such as light (herein, light in a broad sense refers to ultraviolet rays, visible rays, infrared rays, X-rays, gamma rays, etc.). As a photoconductive material for forming a photoconductive layer in a solid-state imaging device, an electrophotographic image forming member in the image forming field, or a document reading device, it has high sensitivity and a high signal-to-noise ratio [photocurrent (Ip)].
/dark current (■d)], has absorption spectrum characteristics that match the spectrum characteristics of the electromagnetic waves to be irradiated, has fast photoresponsiveness, has the desired dark resistance value, and has low resistance to the human body during use. Solid-state imaging devices are required to have characteristics such as being non-polluting and being able to easily process afterimages within a predetermined time. Particularly in the case of an electrophotographic image forming member that is installed in an electrophotographic apparatus used in an office, the above-mentioned non-polluting property during use is an important point.

この様な点に立脚して最近注目されている光導電材料に
アモルファ′スシリコン(以後a−8iと表記す)があ
り、例えば、独国公開第2746967号公報、同第2
855718号公報には電子写真用像形成部材として、
独国公開第2933411号公報には光電変換読取装置
への応用が記載されている。
Based on this point, amorphous silicon (hereinafter referred to as a-8i) is a photoconductive material that has recently attracted attention.
Publication No. 855718 describes an image forming member for electrophotography,
DE 2933411 describes an application to a photoelectric conversion reader.

面乍ら、従来のa −S iで構成された光導電層を有
する光導電部材は、暗抵抗値、光感度、光応答性等の電
気的、光学的、光導電的特性、及び耐湿性等の使用環境
特性の点、更には経時的安定性の点において、総合的な
特性向上を図る必要があるという更に改良される可き点
が存するのが実情である。
On the other hand, photoconductive members having conventional photoconductive layers composed of a-Si have excellent electrical, optical, and photoconductive properties such as dark resistance, photosensitivity, and photoresponsiveness, as well as moisture resistance. The reality is that there are points that can be further improved in terms of usage environment characteristics such as, and furthermore, stability over time, which requires comprehensive improvement of characteristics.

例えば、電子写真用像形成部材に適、用した場合に、高
光感度化、高暗抵抗化を同時に図ろうとすると、従来に
おいては、その使用時において残留電位が残る場合が度
々観測され、この種の光導電部材は長時間繰返し使用し
続けると、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、残像
が生ずる所謂ゴースト現象を発する様になる、或いは、
高速で繰厚し使用すると応答性が次第釦低下する等の不
都合な点が生ずる場合が少橙くなかった。
For example, when applied to an electrophotographic image forming member, when trying to achieve high photosensitivity and high dark resistance at the same time, in the past, it has often been observed that residual potential remains during use. When a photoconductive member is used repeatedly for a long time, fatigue accumulates due to repeated use, and a so-called ghost phenomenon occurs in which an afterimage occurs, or
When used at high speeds, there are many cases where inconveniences such as a gradual decrease in button responsiveness occur.

更には、astは可視光領域の短波長側に較べて、長波
長側の波長領域よシも長い波長領域の吸収係数が比較的
小さく、現在実用化されている半導体レーザとのマツチ
ングに於いて、通常使用されているハロゲスランプや螢
光灯を光源とする場合、長波長側の光を有効に使用し得
ていないという点に於いて、夫々改良される余地が残っ
ている。
Furthermore, ast has a relatively smaller absorption coefficient in the long wavelength region than in the short wavelength region of the visible light region, which makes it difficult to match it with semiconductor lasers currently in practical use. However, when using a commonly used halogen lamp or fluorescent lamp as a light source, there is still room for improvement in that the light on the longer wavelength side cannot be used effectively.

又、別には、照射される光が光導電層中に於いて、充分
吸収されずに、支持体に到達する光の量が多くなると、
支持体自体が光導電層を透過して来る光に対する反射率
が高い場合には、干 光導電層内に於いて多重反射による泰渉が起って、画像
の「ボケ」が生ずる一要因となる。
In addition, if the irradiated light is not absorbed sufficiently in the photoconductive layer and the amount of light reaching the support increases,
If the support itself has a high reflectance for the light that passes through the photoconductive layer, multiple reflections occur within the photoconductive layer, which is one of the factors that causes "blurring" in the image. Become.

この影響は、解像度を上げる為に、照射スポットを小さ
くする程犬きくなシ、殊に半導体レーザを光源とする場
合には大きな問題となっている。
This effect becomes more serious as the irradiation spot becomes smaller in order to increase the resolution, and it becomes a serious problem especially when a semiconductor laser is used as the light source.

更に、a−St材料で光導電層を構成する場合には、そ
の電気的、光導電的特性の改良を図るために、水素原子
或いは弗素原子や塩素原子等のハロゲン原子、及び電気
伝導型の制御のために硼素原子や燐原子等が或いはその
他の特性改良のために他の原子が、各々構成原子として
光導電層中に含有されるが、これ等の構成原子の含有の
仕方如何によっては、形成した層の電気的或いは光導電
的特性に問題が生ずる場合があるO 即ち、例えば、形成した光導電層中に光照射によって発
生したフォトキャリアの核層中での寿命が充分でないこ
と、或いは暗部において、支持体側よりの電荷の注入の
阻止が充分でないこと等が生ずる場合が少なくない。
Furthermore, when forming a photoconductive layer using an a-St material, in order to improve its electrical and photoconductive properties, hydrogen atoms, halogen atoms such as fluorine atoms and chlorine atoms, and electrically conductive Boron atoms, phosphorus atoms, etc. are included for control purposes, and other atoms are included as constituent atoms in the photoconductive layer for the purpose of improving other properties, but depending on how these constituent atoms are contained, , problems may arise in the electrical or photoconductive properties of the formed layer. That is, for example, the lifetime of photocarriers generated in the formed photoconductive layer by light irradiation in the core layer is not sufficient; Alternatively, in dark areas, there are many cases where the injection of charge from the support side is not sufficiently prevented.

一方、半導体レーザとのマツチングを考慮して、支持体
上に少なくともゲルマニウム原子を含む非晶質材料で構
成された非晶質層を設けることが提案されているが9、
この場合、支持体と該非晶質層との密着性および支持体
から該非晶質層への不純物の拡散が問題となる場合があ
る。
On the other hand, in consideration of matching with a semiconductor laser, it has been proposed to provide an amorphous layer made of an amorphous material containing at least germanium atoms on a support9.
In this case, there may be problems with the adhesion between the support and the amorphous layer and the diffusion of impurities from the support into the amorphous layer.

従ってa−8t材料そのものの特性改良が図られる一方
で光導電部材を設計する際に、上記し光様杏問題の総て
が解決される様に工夫される必要がある。
Therefore, while efforts are being made to improve the properties of the A-8T material itself, it is necessary to take measures to solve all of the above-mentioned light-like problems when designing photoconductive members.

本発明は上記の諸点に鑑み成されたもので、a−8tに
就で電子写真用像形成部材・や固体撮像装置、読取装置
等に使用される光導電部材としての適用性とその応用性
という観点から総括的に鋭意研究検討を続けた結果、a
si、殊ににシリコン原子を母体とし、水素原子(6)
又はハロゲン原子(3)のいずれか一方を少なくとも含
有するアモルファス材料、所謂水素化アモルファスシリ
コン、ハロゲン化アモルファスシリコン、或いはハロゲ
ン含有水素化アモルファスシリコン〔以後これ等の総称
的表記として[a 5t(H+X)Jを使用する〕から
構成され1.光導電性を示す非晶質層を有する光導電部
材の層構成を以後に説明される様な特定化の下に設計さ
れて作成された光導電部材は実用上著しく優れた特性を
示すばかシでなく、従来の光導電部材と較べてみてもあ
らゆる点において凌駕していること、殊に電子写真用の
光導電部材として著しく優れた特性を有していること及
び長波長側に於ける吸収スペクトル特性に優れでいるこ
とを見出した点に基いている。
The present invention has been made in view of the above points, and has applicability and applicability to A-8T as a photoconductive member used in electrophotographic image forming members, solid-state imaging devices, reading devices, etc. As a result of continuing comprehensive research studies from the viewpoint of
si, especially silicon atoms as a host, hydrogen atoms (6)
or an amorphous material containing at least one of the halogen atoms (3), so-called hydrogenated amorphous silicon, halogenated amorphous silicon, or halogen-containing hydrogenated amorphous silicon [hereinafter referred to as these generically [a5t(H+X)] 1. A photoconductive member designed and produced with the layer structure of a photoconductive member having an amorphous layer exhibiting photoconductivity specified as explained below is a photoconductive member that exhibits extremely excellent properties in practical use. Moreover, when compared with conventional photoconductive materials, it is superior in every respect, and in particular, it has extremely excellent properties as a photoconductive material for electrophotography, and it has excellent absorption on the long wavelength side. This is based on the discovery that it has excellent spectral characteristics.

本発明は支持体の材料の影響を受けにくく、電気的、光
学的、光導電的特性が常時安定していて、殆んど使用環
境に制限を受けない全環境型であり、長波長側の光感度
特性に優れると共に耐光疲労に清しく長け、繰返し使用
に際しても劣化現象を起さず、残留電位が全く又は殆ん
ど観測されない光導電部Mを提供することを主たる目的
とする。
The present invention is not easily affected by the material of the support, has always stable electrical, optical, and photoconductive properties, and is applicable to all environments with almost no restrictions on the usage environment. The main object of the present invention is to provide a photoconductive part M which has excellent photosensitivity characteristics and good resistance to light fatigue, does not cause deterioration even after repeated use, and has no or almost no residual potential observed.

本発明の別の目的は、全可視光域に於いて光感度が高く
、殊に半導体レーザとのマツチングに優れ、且つ光応答
の速い光導電部材を提供することである。
Another object of the present invention is to provide a photoconductive member that has high photosensitivity in the entire visible light range, has excellent matching with semiconductor lasers in particular, and has fast photoresponse.

本発明の他の目的は、電子写真用の像形成部材として適
用させた場合、通°常の電子写真法が極めて有効に適用
され得る程度に1静電像形成の°為の帯電処理の−の電
荷保持能が充分ある光導電部材を提供することである。
Another object of the present invention is that when applied as an image forming member for electrophotography, the charging treatment for electrostatic image formation can be carried out to such an extent that ordinary electrophotography can be applied very effectively. It is an object of the present invention to provide a photoconductive member having sufficient charge retention ability.

本発明の更に他の目的は、濃度が高く、ハーフトーンが
鮮明に出て且つ解像度の高い、高品質画像を得る事が容
易に出来る電子写真用の光導電部材を提供することであ
る。
Still another object of the present invention is to provide a photoconductive member for electrophotography that can easily produce high-quality images with high density, clear halftones, and high resolution.

本発明の更にもう1つの、目的は、高光感度性、高SN
比特性を有する光導電部材を提供することでもある。
Yet another object of the present invention is high photosensitivity, high SN
It is also an object to provide a photoconductive member having specific properties.

本発明の光導電部材は、光導電部材用の支持体と少なく
ともゲルマニウム原子を含み、少なくとも一部が結晶化
している材料で構成された第1の層領域と、少なくとも
シリコン原子とゲルマニウム原子とを含む非晶質材料を
含有する第2の層領域と、少なくともシリコン原子を含
む非晶質材料を含み、光導電性を示す第3の層領域とが
前記支持体側よシ順に設けられた層構成の非晶質層とを
有し、前記第1の層領域及び第2の層領域の少なくとも
いずれか一方に伝導性を支配する物質が含有されている
事を特徴とする。
The photoconductive member of the present invention includes a support for the photoconductive member, a first layer region made of a material containing at least germanium atoms and at least partially crystallized, and at least silicon atoms and germanium atoms. and a third layer region containing an amorphous material containing at least silicon atoms and exhibiting photoconductivity are provided in order from the support side. an amorphous layer, and at least one of the first layer region and the second layer region contains a substance that controls conductivity.

上記した様な層構成を取る様にして設計された本発明の
光導電部材は、前記した諸問題の総てを解決し得、極め
て優れた電気的1、光学的、光導電的特性、耐圧性及び
使用環境特性を示す。
The photoconductive member of the present invention designed to have the above-mentioned layer structure can solve all of the above-mentioned problems, and has extremely excellent electrical, optical, and photoconductive properties, as well as high voltage resistance. characteristics and use environment characteristics.

殊に、電子写真用像形成部材として適用させた場合には
、画像形成への残留電位の影響が全くなく、その電気的
特性が安定しておシ高感度で、高SN比を有するもので
あって、耐光疲労、繰返し使用時°性に長け、濃度が高
く、ハーフトーンが鮮明に出て、与っ解像度の高い、高
品質の画像を安tして繰返し得ることができる。
In particular, when applied as an image forming member for electrophotography, there is no influence of residual potential on image formation, its electrical characteristics are stable, and it has high sensitivity and a high signal-to-noise ratio. Therefore, it has good resistance to light fatigue and repeated use, and can produce high-quality images with high density, clear halftones, and high resolution at a low cost.

更に、本発明の光導電部材は、全可視光域に於いて光感
度が高く、殊に半導体レーザとのマツチングに優れ、且
つ光応答が速い。
Further, the photoconductive member of the present invention has high photosensitivity in the entire visible light range, is particularly excellent in matching with semiconductor lasers, and has fast photoresponse.

以下、図面に従って、本発明の光導電部材に就で詳細に
説明す、る。
Hereinafter, the photoconductive member of the present invention will be explained in detail with reference to the drawings.

第1図は、本発明の第1の実施態様例の光導電部材の層
構成を説明するため釦模式的に示した模式的構成図であ
る。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram schematically showing a button for explaining the layer configuration of a photoconductive member according to a first embodiment of the present invention.

第1図に示す光導電部材100は、光導電部材用として
の支持体101の上に、非晶質層102を有し、該非晶
質層102は自由表面105を一方の端面に有している
。非晶質層102は、支持体101側よシゲルマニウム
原子のみ、またはゲルマニウム原子とシリコン原子とを
母体とし、必要に応じて水素原子又はハロゲン原子のい
ずれかを含んで1.構成された少なくとも一部が結晶化
した材料(゛以後[/J(!  Ge (S iHHH
X)Jと略記する)で構成された第1の層領域(C)と
、ゲルマニウム原子を含有するasi(H+X)(以後
「a−3t Ge(H,X)Jと略記する)で構成され
た第2の層領域(G) 103と、a −S i(H+
 X )で構成され、光導電性を有する第3の層領域(
S) 1 (J−4とが順に積層された層構造を有する
A photoconductive member 100 shown in FIG. 1 has an amorphous layer 102 on a support 101 for the photoconductive member, and the amorphous layer 102 has a free surface 105 on one end surface. There is. The amorphous layer 102, on the support body 101 side, has only sigermanium atoms or germanium atoms and silicon atoms as a matrix, and contains either hydrogen atoms or halogen atoms as necessary. A material composed of at least a part of crystallized material (゛hereinafter [/J(! Ge (S iHHH
The first layer region (C) is composed of ai (H+X) (hereinafter abbreviated as "a-3t Ge(H, second layer region (G) 103 and a −S i(H+
A third layer region (
S) 1 (J-4) has a layered structure stacked in order.

第1の層領域(C) 106がゲルマニウム原子とシリ
コン原子を母体とする材料で構成される場合、ゲルマニ
ウム原子とシリコイ原子とは該第1の層領域(C) 1
06の層厚方向及び支持体の表面と平行な面内方向に連
続的であって、且つ均一な分布状態となる様に含有され
る。
When the first layer region (C) 106 is composed of a material containing germanium atoms and silicon atoms, the germanium atoms and silicone atoms are the first layer region (C) 1
It is contained so as to be continuous and uniformly distributed in the layer thickness direction of 06 and in the in-plane direction parallel to the surface of the support.

第2の層領域(G) 103中に含有されるゲルマニウ
ム原子は、該第2の層領域■103の層厚方向及び支持
体101の表面と平行な面内方向に連続的で均一に分布
した状態となる様に前記第2の層領域(G) 103中
に含有される。
The germanium atoms contained in the second layer region (G) 103 are continuously and uniformly distributed in the layer thickness direction of the second layer region (G) 103 and in the in-plane direction parallel to the surface of the support 101. It is contained in the second layer region (G) 103 so as to form a state.

一 本発明の光導電部材100に於いては、第1の層領域(
C) 106と第2の層領域(G) 103の少なくと
もいずれかに伝導特性を支配する物質(ハ)が含有され
、特に第2の層領域(G) 103に所望の伝導特性を
与える物質を含有させるのが好ましい。
In the photoconductive member 100 of the present invention, the first layer region (
C) At least one of the layer region (G) 103 and the second layer region (G) 103 contains a substance (c) that controls the conduction properties, and in particular, the second layer region (G) 103 contains a substance that imparts the desired conduction properties. It is preferable to include it.

本発明に於゛いては、第1の層領域(C) 106又は
第2の層領域(G) 103に含有される伝導特性を支
配する物質(ハ)は、第1の層領域(C) 106又は
第2の層領域(G) 103の全層領域に万遍なく均一
に含有されても良く、第1の層6.領域(C) 106
又は第2の層領域(G) 103の一部の層領域に偏在
する様に含有されても良い。
In the present invention, the substance (c) that controls the conductive properties contained in the first layer region (C) 106 or the second layer region (G) 103 is 106 or the second layer region (G) 103 may be evenly and uniformly contained in the entire layer region of the first layer 6. Area (C) 106
Alternatively, it may be contained unevenly in a part of the layer region of the second layer region (G) 103.

本発明に於いて伝導特性を制御する物質(ハ)を特に第
2の層領域(G)の一部の層領域に偏在する様に第2の
層領域(G)中に含有させる場合には、前記物質(ハ)
の含有される層領域(PN)は、第20層領域の)の端
部層領域として設けられるのが望ましいものである。殊
に、第2の層領域(G)の支持体側の端部層領域として
前記層領域(PN)が°設けられる場合には、該層領域
(PN)中に含有゛される前記物質(D)の種類及びそ
の含有量を所望に応じて適宜選択することによって支持
体から非晶質層中への特定の極性の、電荷の注入を効果
的に阻止することが出来る。
In the present invention, when the substance (c) that controls conduction characteristics is contained in the second layer region (G) so as to be unevenly distributed in a part of the second layer region (G), , the substance (c)
It is desirable that the layer region (PN) containing PN is provided as an end layer region of the 20th layer region. In particular, when the layer region (PN) is provided as an end layer region on the support side of the second layer region (G), the substance (D) contained in the layer region (PN) ) and its content as desired, it is possible to effectively prevent charge injection of a specific polarity from the support into the amorphous layer.

本発明の光導電部材に於いては、伝導特性を制御するこ
との出来る物質(ハ)を1、非晶質層の一部を構成する
第2の層領域G)中に、前記した様に該゛層領域−の全
域に万遍なく、或いは層厚方向に偏在する様に含有させ
るものであるが、更には、第2の層領域(G)上に設け
られる第3の層領域(0中にも前記物質(ハ)を含有さ
せても良いも第3の層領域(S)中に前記物質(1))
を含有させる場合には、第゛2の層領域(G)中に含有
される前記物質(D)の種類やその含有量及びその、含
有の仕方に応じて、第3の層領域(S)中に含有させる
物質(D)の種類やその含有量、及びその含有の仕方が
適宜決められる。
In the photoconductive member of the present invention, the substance (c) capable of controlling the conduction properties is contained in the second layer region G) constituting a part of the amorphous layer as described above. It is contained in the entire area of the layer region (G), or evenly distributed in the layer thickness direction. The substance (1) may also be contained in the third layer region (S).
When the substance (D) is contained in the second layer region (G), the third layer region (S) The type of substance (D) to be contained therein, its content, and the manner in which it is contained are determined as appropriate.

本発明に於いては、第3の層領域(S)甲に前記物質(
D)を含有させる場合、好ましくは、少なくとも第2の
層領域(G)との接触界面を含む層領域中に前記物質を
含有させるのが望ましいものである。
In the present invention, the substance (
When D) is contained, it is preferable that the substance is contained in at least the layer region including the contact interface with the second layer region (G).

本発明に於いては、前記物質(D)は第3のj―層領域
S)の全層領域に万遍なく含有させても良いし、或いは
、その一部の層領域に均一に含有させても良いものであ
る。
In the present invention, the substance (D) may be contained uniformly in the entire layer area of the third J-layer area S), or may be contained uniformly in a part of the layer area. It's a good thing.

第2の層領域(G)と第3の層領域(S)の両方に伝導
特性を支配する物質(D)を含有させる場合、第2の層
領域(G)に於ける前記物i (D)が含有されている
層領域と、第2の層領域(8)に於ける前記物質(D)
が含有されている層領域とが、互いに接触する様に設け
るの慟(望ましい〇又、第1の層領域(0)と第2の層
領域(G)と第3の層領域(S)とに前記物質(D)を
含有させる場合、前記物質(D)は第1の層領域(0)
と第2の層領域(G)と第3の層領域(S)とに於いて
同種類でも異種類であっても良く、又、その含有量は各
層領域に於いて、同じでも異っていても良い。
When both the second layer region (G) and the third layer region (S) contain a substance (D) that controls conduction characteristics, the substance i (D) in the second layer region (G) ) in the second layer region (8) and the substance (D) in the second layer region (8).
(desirable) Also, the first layer region (0), the second layer region (G), and the third layer region (S) When the substance (D) is contained in the first layer region (0), the substance (D) is contained in the first layer region (0).
may be the same or different types in the second layer region (G) and third layer region (S), and the content may be the same or different in each layer region. It's okay.

面乍ら、本発明に於いては、各層領域に含有される前記
物質(D)が3者に於いて同種類である場合には、第2
の層領域(G)中の含有量を充分多くするか、又は、電
気的特性の異なる種類の物質(D)を、所望の各層領域
に夫々含有させるのが好ましいものである。
However, in the present invention, when the substance (D) contained in each layer region is the same in the three regions, the second
It is preferable that the content in the layer region (G) is sufficiently increased, or that substances (D) of different electrical characteristics are contained in each desired layer region.

本発明に於いては、少なくとも非晶質層を構成する第2
の層領域(G)中に、伝導特性を支配する物質(D)を
含有させることによシ、該物質(D)の含有される層領
域〔第2の層領域(G)の一部又は全部の層領域のいず
れでも良い〕の伝導特性を所望に従って任意に制御する
ことが出来るものであるが、この様な物質としては、所
謂、半導体分野で云われる不純物を挙げることが出来、
本発明に於いては、形成される非晶質層を構成するa 
−8iGe (H、X )に対して、P型伝導特性を与
えるP型不純物及びn型伝導特性を与えるn型不純物を
挙げることが出来る。
In the present invention, at least the second layer constituting the amorphous layer
By containing a substance (D) that controls the conductive properties in the layer region (G), the layer region containing the substance (D) [a part of the second layer region (G) or It is possible to arbitrarily control the conduction properties of any of the layer regions as desired, and examples of such substances include so-called impurities in the semiconductor field.
In the present invention, a constituting the amorphous layer to be formed is
For -8iGe (H,

具体的には、P型不純物としては周期律表第■族に属す
る原子(第■族原子)、例えば、B(硼素)、A/’(
アルミニウム) 、 Ga、 (ガリウム)。
Specifically, P-type impurities include atoms belonging to Group ■ of the periodic table (Group ■ atoms), such as B (boron), A/'(
Aluminum), Ga, (Gallium).

In (インジウム) 、 Tl(メリウム)等があり
、殊に好適に用いられるのはB、Gaである。
Examples include In (indium) and Tl (merium), and B and Ga are particularly preferably used.

nm不純物としては、周期律表第■族に属する原子(第
■族原子)、例えば、P(燐)、As(砒素)、8b’
(アンチモン)、Bi(ビスマス)等テあ”す、殊に好
適に用いられるのはs P r Asである0 本発明に於いて、伝導特性を制御する物質が含有される
層領域(PN)に於けるその含有量は、該層領域(PN
)に要求される伝導特性、或いは、該層領域(PN)が
支持体に直に接触して設けられる場合には、その支持体
との接触界1面に於ける特性との関係等、有機的関連性
に於いて、適宜選択することが出来る。
As nm impurities, atoms belonging to Group Ⅰ of the periodic table (Group Ⅰ atoms), such as P (phosphorus), As (arsenic), 8b'
(antimony), Bi (bismuth), etc., but sPrAs is particularly preferably used. In the present invention, a layer region (PN) containing a substance that controls conduction properties is Its content in the layer area (PN
) or, if the layer region (PN) is provided in direct contact with the support, the relationship with the characteristics at the contact interface with the support, etc. It can be selected as appropriate depending on the relationship.

又、前記層領域(PN)に直に接触して設けられる他の
層領域や、該他の層領域との接触界面に於ける特性との
関係も考慮されて、伝導特性を制御する物質の含有量が
適宜選択される。
In addition, the relationship with other layer regions provided in direct contact with the layer region (PN) and the characteristics at the contact interface with the other layer regions is also considered, and the material that controls the conduction characteristics is determined. The content is selected appropriately.

本発明に於いて、層領域(PN)中に含有される伝導特
性を制御する物’j!j CD>の含有量としては、好
ましくはO,O1〜5 X 10  atomic p
pm 、より好適には0.5〜I X 10 atom
ic ppm、最適には1〜5 x 10  atom
ic 11p+1とされル+7)7%望’Jシイ4(7
)テある。
In the present invention, there is a substance contained in the layer region (PN) that controls the conduction properties! j CD> content is preferably O, O1~5 X 10 atomic p
pm, more preferably 0.5 to I x 10 atoms
ic ppm, optimally 1-5 x 10 atoms
ic 11p + 1 + 7) 7% desired'J 4 (7
) There is.

本発明に於いて、伝導特性を支配する物質(D)が含有
される層領域(PN)に於ける一該物質(D)の含有量
を、好ましくは30 atomic 1+p111以上
1よシ好適にはs o atomic p−以上、最適
には100atomi100ato以上とすることによ
って、例えば該含有させる物質(D)が前記のP型不純
物の場合には、非晶質層の自由表面が■極性に帯電処理
を受けた際に支持体側から少なくとも第2の層領域(U
)を通って第3の層領域(S)中への電子の注入を勺果
的に阻止することが出来、又、前記含有させる物質(D
)が前記のn型不純物の場合には、非晶質層の自由表面
がe極性に帯電処理を受けた際に、支持体側から少なく
とも第2の層領域CG)を通って第3の層領域(8)中
への正孔の注入を効果的に阻止することが出来る。
In the present invention, the content of the substance (D) in the layer region (PN) containing the substance (D) that controls conduction properties is preferably 30 atomic 1+p111 or more, preferably 1 or more. By setting so atomic p- or more, optimally 100 atoms or more, for example, when the substance (D) to be contained is the above-mentioned P-type impurity, the free surface of the amorphous layer can be charged to polarity. At least the second layer region (U
) into the third layer region (S), and the substance to be contained (D
) is the above-mentioned n-type impurity, when the free surface of the amorphous layer is charged to e polarity, it passes through at least the second layer region CG) from the support side to the third layer region. (8) Injection of holes into the structure can be effectively prevented.

上記の様な場合には、前述した様に、前記層領域(PN
)を除いた部分の層領域(Z)には、層領域(PN)に
含有される伝導特性を支配する物質の伝導型の極性とは
別の伝導型の極性の伝導特性を支配する物質を含有させ
ても良いし、或いは、同極性の伝導型を有する伝導特性
を支配する物質を、層領域(PN)に含有させる実際の
量よシも一段と少ない量にして含有させても良いもので
ある。
In the above case, as mentioned above, the layer region (PN
) in the layer region (Z) excluding the layer region (PN) contains a substance that controls the conduction characteristics of a conduction type polarity different from the conduction type polarity of the substance that governs the conduction characteristics contained in the layer region (PN). Alternatively, a substance having the same polar conductivity type and controlling the conduction characteristics may be contained in a much smaller amount than the actual amount contained in the layer region (PN). be.

この様な場合、前記層領域(Z)中に含有される前記伝
導特性を支配する物質の含有量としては、1組領域(P
N)に含有される前記物質の極性や含有量に応じて所望
に従って適宜決定されるものであるが、好ましくは0.
001〜1000 atomic酵、よシ好適には0.
05〜500 atomic PPm、最適には0.1
〜200  atomic PIXIとされるのが望ま
しいものである。
In such a case, the content of the substance controlling the conductive properties contained in the layer region (Z) is set to 1 set region (P
It is suitably determined as desired depending on the polarity and content of the substance contained in N), but preferably 0.
001-1000 atomic fermentation, preferably 0.001-1000.
05-500 atomic PPm, optimally 0.1
~200 atomic PIXI is desirable.

本発明に於いて、層領域(1’N)及び層領域(Z)に
同槓の伝導性を支配する物質(D)を含有させる場合に
は、層領域(Z)に於ける含有量としては、好ましくは
30 atomic 11m以下とするのが望ましいも
のである。
In the present invention, when the layer region (1'N) and the layer region (Z) contain a substance (D) that controls the conductivity of the layer, the content in the layer region (Z) is preferably 30 atomic 11 m or less.

本発明に於いては、非晶質層中に%−力の極性の伝導型
を有する伝導性を支配する物質を含有させた層領域と、
他方の極性の伝導型を有する伝導性を支配する物質を含
有させfCNII@域とを直に接触する様に設けて、該
接触領域に所謂空乏層を設けることも出来る。
In the present invention, a layer region containing a substance controlling conductivity having a conductivity type of %-force polarity in an amorphous layer;
A so-called depletion layer can also be provided in the contact region by containing a substance controlling conductivity having the conductivity type of the other polarity and providing it in direct contact with the fCNII@ region.

詰シ、例えば、非晶質層中に、前記のP型不純物を含有
する層領域と前記のn型不純物を含有する層領域とを直
に接触する一様に設けて所謂P −n接合を形成して、
空乏層を設けることが衣発明に於いては、第2の層領域
(G)上に設けられる第3の層領域(8)中には、ゲル
マニウム原子は含有されておらず、この様な層構造に非
晶質層を形成することによって、比較的可視光領域を含
む、短波長から比較的長波長迄の全領域の波長の光に対
して光感度が優れている光導電部材とし得るものである
For example, the layer region containing the P-type impurity and the layer region containing the N-type impurity are uniformly provided in direct contact with each other in the amorphous layer to form a so-called P-n junction. form,
In the invention in which a depletion layer is provided, germanium atoms are not contained in the third layer region (8) provided on the second layer region (G); By forming an amorphous layer in the structure, a photoconductive member can be made that has excellent photosensitivity to light in the entire wavelength range from short wavelengths to relatively long wavelengths, including the relatively visible light region. It is.

又、第1の層領域(0)中に於けるゲルマニウム原子の
分布状態は、全層領域にゲルマニウム原子が連続的に分
布しているので、第1の層領域(0)と第2の層領域(
G)との間に於ける親和性に優れ、半導体レーザ等を使
用した場合の、第2の層領域(S)では吸収し切れない
長波長側の光を第1の層領域(0) K於いて、実質的
に完全に吸収することが出来、支持体面からの反射によ
る干渉を防止することが出来る。
In addition, the distribution state of germanium atoms in the first layer region (0) is such that germanium atoms are continuously distributed in the entire layer region, so that the distribution state of germanium atoms in the first layer region (0) and the second layer region is different. region(
When a semiconductor laser or the like is used, the first layer region (0) K In this case, substantially complete absorption can be achieved, and interference due to reflection from the support surface can be prevented.

又、本発明の光導電部材に於いては、第1の層領域(G
)と第2の層領域(8)とを構成する材料の夫々がシリ
コン原子とゲルマニウム原子という共通の構鍼衆素を有
しているので、積層を面に於いて化学的な安定性の確保
が充分成されている。
Further, in the photoconductive member of the present invention, the first layer region (G
) and the second layer region (8) each have the common constituent elements of silicon atoms and germanium atoms, ensuring chemical stability in terms of lamination. has been sufficiently accomplished.

本発明に於いて、第1の層領域((J)中に含有される
ゲルマニウム原子の含有量としては、本発明の目的が効
果的に達成される様に所望に従って適宜決められるが、
好ましくは1〜i x i o’atom ic pi
ll 、より好ましくは100〜I X 10 ato
mic解、最適には500〜I X 10 atom、
+c卿とされるのが望ましいものである。
In the present invention, the content of germanium atoms contained in the first layer region ((J) is appropriately determined as desired so that the object of the present invention is effectively achieved.
Preferably 1 to i x i o' atom ic pi
ll, more preferably 100 to I x 10 ato
mic solution, optimally 500 ~ I x 10 atoms,
It is desirable to be designated as Lord +c.

第2の層領域(G)甲に含有されるゲルマニウム原子の
含有量としては、本発明の目的が効果的に達成される様
に所望に従って適宜決められるが、好ましくは1〜9.
5 x 10’atomic ppl、よシ好ましくは
100〜8 x 10 atomxc ppl、最、適
には500〜7 X 10 atomlc Waとされ
るのが望ましいものである。
The content of germanium atoms contained in the second layer region (G) is appropriately determined as desired so as to effectively achieve the object of the present invention, but is preferably 1 to 9.
It is desirable that the amount is 5 x 10' atomic ppl, more preferably 100 to 8 x 10 atom x c ppl, and most suitably 500 to 7 x 10 atom x c ppl.

本発明に於いて、第1の層領域(0)と第2の層領域(
G)との層厚は、゛本発明の目的を効果的に達成させる
為の重要な因子の1つであるので形成される光導電部材
に所望の特性が充分与えられる様に、光導電部材の設計
の際に充分なる注意が払われる必要がある0 本発明に於いて、第1の層領域(0)の層厚は、好まし
くは30λ〜50μ、よ多好ましくは、40λ〜40μ
、最適には50λ〜30μとされるのが望ましい。
In the present invention, the first layer region (0) and the second layer region (
The layer thickness of G) is one of the important factors for effectively achieving the object of the present invention. In the present invention, the layer thickness of the first layer region (0) is preferably 30λ to 50μ, more preferably 40λ to 40μ.
, the optimum value is preferably 50λ to 30μ.

又、第2の層領域(G)の層厚TBは、好ましくは30
λ〜50μ、よシ好まし、くけ40λ〜40μ、最適に
は50λ〜30μとされるのが望ましい。
Further, the layer thickness TB of the second layer region (G) is preferably 30
It is desirable that the depth be λ to 50μ, preferably 40λ to 40μ, most preferably 50λ to 30μ.

又、第3の層領域(S)の層厚Tは、好ましくは0.5
〜90μ、よシ好ましくは1〜80μ、最適には2〜5
0μとされるのが望ましい。第2の層領域(G)の層厚
′rBと第3の層領域(S)の層厚Tの和(TB+T)
としては、両層領域に要求される特性と非晶質層全体に
要求される特性との相互間の有機的関連性に基いて、光
導電部材の層設計の際に所望に従って、適宜決定される
Further, the layer thickness T of the third layer region (S) is preferably 0.5
~90μ, preferably 1-80μ, optimally 2-5
It is desirable that it be 0μ. The sum of the layer thickness 'rB of the second layer region (G) and the layer thickness T of the third layer region (S) (TB+T)
The characteristics are appropriately determined as desired when designing the layers of the photoconductive member, based on the mutual organic relationship between the characteristics required for both layer regions and the characteristics required for the entire amorphous layer. Ru.

本発明の光導電部材に於いては、上記の(TB+T)の
数値範囲としては、好ましくは1〜100μ、よ殴好適
には1〜80μ、最適には2〜50μとされるのが望ま
しい。
In the photoconductive member of the present invention, the numerical range of (TB+T) is preferably 1 to 100μ, more preferably 1 to 80μ, and most preferably 2 to 50μ.

本発明のよシ好ましい実施態様例yc於いては、上記の
層厚′rB及び層厚Tとしては、好ましくは’l’B/
 T≦1なる関係を満足する際に、夫々に対して適宜適
切な数値が選択されるのが望ましい。
In a highly preferred embodiment example yc of the present invention, the above layer thickness 'rB and layer thickness T are preferably 'l'B/
When satisfying the relationship T≦1, it is desirable that appropriate numerical values be selected for each.

上記の場合に於ける層厚TB及び層厚Tの数値の選択に
於いて、よシ好ましくはTB/T≦0.9、最適にはT
B/’l’≦0.8なる関係が満足される様に層厚TB
及び層厚Tの値が決定されるのが望ましいものである。
In selecting the numerical values of layer thickness TB and layer thickness T in the above case, preferably TB/T≦0.9, optimally T
The layer thickness TB is adjusted so that the relationship B/'l'≦0.8 is satisfied.
It is desirable that the values of and the layer thickness T be determined.

本発明に於いて、第1の層領域(0)中に含有されるゲ
ルマニウム原子の含有量がI X 105105ato
解以上の場合には、第1の層領域(0)の層厚としては
、可成り薄くされるのが望ま、シく、好ましくは30μ
以下、よシ好ましくは25μ以下、最適には20μ以下
とされるのが望ましいものである。
In the present invention, the content of germanium atoms contained in the first layer region (0) is I x 105105ato
In this case, it is desirable that the layer thickness of the first layer region (0) be made considerably thinner, preferably 30 μm.
Hereinafter, the thickness is preferably 25μ or less, most preferably 20μ or less.

本発明に於いて、必要に応じて第1の層領域(0)、第
2の層領域(G)及び第3の層領域(S)中に含有され
るハロゲン原子(X)としては、具体的にはフッ素、塩
素、臭素、ヨウ素が挙けられ、殊にフッ素、塩素を好適
なものとして挙げることが出来る。
In the present invention, the halogen atoms (X) contained in the first layer region (0), second layer region (G), and third layer region (S) as necessary include specific examples. Examples include fluorine, chlorine, bromine, and iodine, with fluorine and chlorine being particularly preferred.

本発明において、pc−(je(Si 、 H,X’)
 テ構成される第1の層領域(0)を形成するには例え
ばクロー放電法、スパッタリング法、或いはイオンブレ
ーティング法等の放電現象を利用する真空堆積法、およ
び真空蒸着法によって成される。
In the present invention, pc-(je(Si, H, X')
The first layer region (0) having the above structure is formed by, for example, a vacuum deposition method using a discharge phenomenon such as a claw discharge method, a sputtering method, or an ion blating method, and a vacuum evaporation method.

例えは、グロー放電法によって、ttc−Ge(Si、
 H,X )で構成される第1の層領域(0)を形成す
るには、基本的にはゲルマニウム原子(Ge )を供給
し得るGe供給用の原料ガスと、必要に応じてシリコン
原子(Si )を供給し得る8i供給用の原料ガス。
For example, ttc-Ge (Si,
In order to form the first layer region (0) composed of H, A raw material gas for supplying 8i that can supply Si ).

水素原子(H)導入用の原料ガス欠は/及びハロゲン原
子(X)導入用の原料ガスを、内部が減圧にし得る堆積
室内に所望のガス圧状態で導入して、該堆積室内にグロ
ー放電を生起させ、予め所定位置に設置されである所定
の支持体表面上にμc−Ge(Si 、 H、X )か
らなる層を形成させれは良い。又、スパッタリング法で
形成する場合には、例えばAr 、 He等の不活性ガ
ス又はこれ等のガスをベースとした混合ガスの雰囲気中
で、Geで構成されたターゲットの1枚およびSiで構
成されたターゲット、或いは、該ターゲットとGeで構
成されたターゲットの二枚を使用して、又は、SNとG
eの混合されたターゲットを使用して、必要に応じてH
e 、 Ar等の稀釈ガスで稀釈された山供給用の原料
ガスを必要に応じて、水素原子(H)又は/及びハロゲ
ン原子(X)導入用のガスをスパッタリング用の堆積室
に導入し、所望のガスプラズマ雰囲気を形成して前記の
ターゲットをスパッタリングしてやれは良い。
When there is a shortage of raw material gas for introducing hydrogen atoms (H), the raw material gas for introducing halogen atoms (X) is introduced at the desired gas pressure into a deposition chamber whose interior can be reduced in pressure, and a glow discharge is generated in the deposition chamber. It is preferable to cause a layer of μc-Ge (Si, H, In addition, when forming by sputtering, one target made of Ge and one made of Si are formed in an atmosphere of an inert gas such as Ar or He or a mixed gas based on these gases. or by using two targets consisting of the target and Ge, or by using SN and G.
H as needed using a mixed target of e.
e, a gas for introducing hydrogen atoms (H) and/or halogen atoms (X) is introduced into a deposition chamber for sputtering, as necessary, a raw material gas for supplying a pile diluted with a diluent gas such as Ar, It is preferable to sputter the target by forming a desired gas plasma atmosphere.

イオンブレーティング法の場合には、例えば多結晶シリ
コン又は単結晶シリコンと多結晶ゲルマニウム又は単結
晶ゲルマニウムとを芙々蒸発源として蒸着ボートに収容
し、この蒸発源を抵抗加熱法、或いはエレクトロンビー
ム法(EB法)等によって加熱蒸発させ飛翔″蒸発物を
所望のガスプラズマ雰囲気中を通過させる以外はスパッ
タリングの場合と同様にする事で行う事が出来る。
In the case of the ion blating method, for example, polycrystalline silicon or single crystal silicon and polycrystalline germanium or single crystal germanium are housed in a deposition boat as evaporation sources, and this evaporation source is used by resistance heating method or electron beam method. This can be carried out in the same manner as in the case of sputtering, except that the evaporated material is heated and evaporated by (EB method) or the like and the flying evaporated material is passed through a desired gas plasma atmosphere.

また第1の層領域(C)の形成の際には支持体温度を第
2の層領域(G)作製時の支持体温度よシ50℃〜20
0℃高゛くすることが必要である。
In addition, when forming the first layer region (C), the support temperature is 50°C to 20°C higher than the support temperature when forming the second layer region (G).
It is necessary to raise the temperature by 0°C.

a−8iGe (H,X)で構成される第2の層領域(
G)を形成するには例えばグロー放電法、スパッタリン
グ法、或いはイオンプレーディング法等の放電現象を利
用する真空堆積法によって成される。例えば、グロー放
電法によって、a−8iGe(H,X)で構成される第
2の層領域(G)を形成するには、基本的にはシリコン
原子(Si)を供給し得るS1供給用の原料ガスとゲル
マニウム原子(Ge)を供給し得るGe供給用の原料ガ
スと、必要に応じて水素原子(H)導入用の原料ガス又
は/及びハロゲン原子(X)導入用の原料ガスを、内部
が減圧にし得る堆積室内に所望のガス圧状態で導入して
、該堆積室内にグロー放電を生起させ、予め所定位置に
設置されである所定の支持体表面上にa  S iGe
 (H9X )からなる層を形成させれば良い。又、ス
パッタリング法で形成する場合には、例えはAr、 H
e等の不活性ガス又はこれ等のガスをペースとした混合
ガスの雰囲気中でGeで構成されたターゲットの1枚お
よびStで構成されたターゲット、或いは、該ターゲッ
トとGeで構成されたターゲットの二枚を使用して、又
は、StとGeの混合されたターゲット5を使用して、
必要に応じてHe、 Ar等の稀釈ガスで稀釈されたG
e供給用の原料ガスを、必要に応じて、水素原子(H)
又は/及びハロゲン原子(X)導入用のガスをスパッタ
リング用の堆積室に導入し、所望のガスプラズマ雰囲気
を形成して前記のターゲットをスパッタリングしてやれ
ば良い。
The second layer region (
G) is formed by, for example, a glow discharge method, a sputtering method, or a vacuum deposition method that utilizes a discharge phenomenon such as an ion plating method. For example, in order to form the second layer region (G) composed of a-8iGe (H, A source gas for Ge supply that can supply source gas and germanium atoms (Ge), and a source gas for introducing hydrogen atoms (H) and/or a source gas for introducing halogen atoms (X) as necessary, are is introduced at a desired gas pressure into a deposition chamber that can be evacuated to cause a glow discharge in the deposition chamber, and a SiGe is deposited on a predetermined support surface that has been placed in a predetermined position in advance.
(H9X) may be formed. In addition, when forming by sputtering method, for example, Ar, H
One of the targets made of Ge and the target made of St, or the target and the target made of Ge in an atmosphere of an inert gas such as E or a mixed gas based on these gases. Using two pieces or using a mixed target of St and Ge,
G diluted with diluent gas such as He or Ar as necessary
eThe raw material gas for supply is converted into hydrogen atoms (H) as necessary.
Alternatively, a gas for introducing halogen atoms (X) may be introduced into a deposition chamber for sputtering, a desired gas plasma atmosphere may be formed, and the target may be sputtered.

イオンブレーティング法の場合には、例えば多結晶シリ
コン゛又は単結晶シリコンと多結晶ゲルマニウム又は単
結晶ゲルマニウムとを夫々蒸発源として蒸着1ボートに
収容し、この蒸発源を抵抗加熱法、或いはエレクトロン
ビーム法(EB法)等によって加熱蒸発させ飛翔蒸発物
を所望のガスプラズマ雰囲気中を通過させる以外はスパ
ッタリングの場合と同様にする事で行う事が出来る。
In the case of the ion blating method, for example, polycrystalline silicon or single crystal silicon and polycrystalline germanium or single crystal germanium are housed in one evaporation boat as evaporation sources, and this evaporation source is heated by resistance heating or electron beam. This can be carried out in the same manner as in the case of sputtering, except that the flying evaporates are heated and evaporated by a method such as the EB method and passed through a desired gas plasma atmosphere.

本発明において使用されるSi供給用の原料ガスと成シ
得る物質としては、SiH,、SiJム、 St、山。
Substances that can be used as the raw material gas for supplying Si used in the present invention include SiH, SiJ, St, and Mt.

3i4H,、等のガス状態の又はガス化し得る水素化硅
素(シラン類)が有効に使用されるものとして挙げられ
、殊に、層作成作業時の取扱い易き、St供給効率の良
さ等の点でSiH4+ 5itHaが好ましいものとし
て挙げられる。
Silicon hydride (silanes) in a gaseous state or that can be gasified, such as 3i4H, etc., can be used effectively, especially in terms of ease of handling during layer creation work and good St supply efficiency. SiH4+ 5itHa is preferred.

Ge供給用の原料ガスと成り得る物質としては、GeH
,、GetHs 、Ge+Ha ハに4H,。、 Ge
、H,、、Ge5H14、Ge、H,、。
As a material that can be a source gas for supplying Ge, GeH
,,GetHs,Ge+Ha 4H,. , Ge
,H, ,Ge5H14,Ge,H, .

Ge5H14s Ge+H*。等のガス状態の又はガス
化し得る水素化ゲルマニウムが有効に使用されるものと
して挙げられ、殊に、層作成作業時の取扱い易さ、Ge
供給効率の良さ等の点で、GeH4、Ge、Ha 。
Ge5H14s Ge+H*. Germanium hydride in a gaseous state or which can be gasified, such as
GeH4, Ge, Ha, etc. in terms of supply efficiency.

Ge、H,が好ましいものとして挙げられる。Preferable examples include Ge and H.

本発明において使用されるハロゲン原子導入用の原料ガ
スとして有効なのは、多くのノ・ロゲン化合物が挙けら
れ、例えばノ・ロゲンガス、ノ・ロゲン化物、ハロゲン
間化合物、ハロゲンで置換されたシラン誘導体等のカス
状態の又はガス化し得るハロゲン化合物が好ましく挙げ
られる。
Many halogen compounds are effective as the raw material gas for introducing halogen atoms used in the present invention, such as halogen gas, halogen compounds, interhalogen compounds, halogen-substituted silane derivatives, etc. Preferred examples include halogen compounds in the form of scum or which can be gasified.

又、史には、シリコン原子とハロゲン原子とを構成要素
とするガス状態の又はガス化し得る、ハロゲン原子を含
む水素化硅素化合物も有効なものとして本発明において
は挙げることが出来る0 本発明において好適に使用し得るノ・ロゲン化合物とし
ては、具体的には、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素のハロ
ゲンガス°、BrF、 CI!F、 CeFB 。
In addition, in the present invention, silicon hydride compounds containing halogen atoms, which are in a gaseous state or can be gasified and have silicon atoms and halogen atoms as constituent elements, can also be mentioned as effective compounds in the present invention. Examples of suitable halogen compounds include halogen gases such as fluorine, chlorine, bromine, and iodine, BrF, and CI! F, CeFB.

BrF、 、 BrF5. IF3. IFy 、 I
ce 、 IBr等の/%(lゲン間化合物を挙けるこ
とが出来る。
BrF, , BrF5. IF3. IFy, I
/% (intergen compounds such as ce, IBr, etc.) can be mentioned.

ハロゲン原子を含む硅素化合つ、所謂、)10ゲン原子
で置換されたシラン誘導体としては、具体的には例えば
SiF4. Si、F、 、 SiC/4. SiBr
4等のハロゲン化硅素が好ましいものとして挙けること
が出来る。
Examples of silicon compounds containing halogen atoms (so-called) silane derivatives substituted with 10 gen atoms include, for example, SiF4. Si, F, , SiC/4. SiBr
Preferred examples include silicon halides such as No. 4.

この様なハロゲン原子を含む硅素化合物を採用してグロ
ー放電法によって本発明の特徴的な光導電部利を形成す
る場合には、Ge供給用の原料カスと共にStを供給し
得る原料ガスとしての水素化硅素ガスを使用しなくとも
、所望の支持体上にハロゲン原子を含む第1の層領域(
C)及び第2の層領域(G)を形成する事が出来る。
When a silicon compound containing such a halogen atom is employed to form the characteristic photoconductive part of the present invention by a glow discharge method, a raw material gas capable of supplying St together with raw material waste for supplying Ge may be used. The first layer region containing halogen atoms (
C) and a second layer region (G) can be formed.

グロー放電法に従って、ノ・ロゲン原子を含む第1の層
領域(C)および第2の層領域(G)を作成する場合、
基本的には、例えばSi供給用の原料ガスとなるハロゲ
ン化硅素とGe供給用の原料ガスとなる水素化ゲルマニ
ウムとAr 、 H2、He等のガス等を所定の混合比
とガス流量になる様にして第1の層領域(C)および第
2の層領域(G)を形成する堆積室に導入し、グロー放
電を生起してこれ等のガスのプラズマ雰囲気を形成する
ことに−よって、79f望の支持体上に第1の層領域(
C)゛および第2の層領域(G)を形成し得るものであ
るが、水素原子の導入割合の制御を一層容易になる様に
図る為にこれ等のガスに更に水素ガス又は水素原子を含
む硅素化合物のガスも所望量混合して層形成しても良い
When creating a first layer region (C) and a second layer region (G) containing nitrogen atoms according to the glow discharge method,
Basically, for example, silicon halide, which will be the raw material gas for Si supply, germanium hydride, which will be the raw material gas for Ge supply, and gases such as Ar, H2, He, etc., are mixed at a predetermined mixing ratio and gas flow rate. 79f into a deposition chamber forming a first layer region (C) and a second layer region (G) and generating a glow discharge to form a plasma atmosphere of these gases. A first layer region (
C)" and the second layer region (G), but in order to more easily control the introduction ratio of hydrogen atoms, hydrogen gas or hydrogen atoms may be added to these gases. A desired amount of silicon compound gas may also be mixed to form a layer.

又、各カスは単独種のみでなく所定の混合比で複数種混
合して使用しても差支えないものである。
Moreover, each type of waste may be used not only as a single type but also as a mixture of multiple types at a predetermined mixing ratio.

更に第1の層領域(C)を形成する際には支持体温度を
、第2の層領域(G)を形成する支持体温度より50〜
200℃高温にする必要がある。
Furthermore, when forming the first layer region (C), the support temperature is set to 50 to 50°C lower than the support temperature for forming the second layer region (G).
It is necessary to raise the temperature to 200°C.

スパッタリング法、イオンブレーティング法の何れの場
合にも形成される層中にハロゲン原子を導入するには、
前記のハロゲン化合物又は前記のハロゲン原子を含む硅
素化合物のガスを堆積室中に導入して該ガスのプラズマ
雰囲気を形成してやれば良いものである。
In order to introduce halogen atoms into the layer formed by either the sputtering method or the ion blating method,
What is necessary is to introduce a gas of the above-mentioned halogen compound or a silicon compound containing the above-mentioned halogen atoms into the deposition chamber to form a plasma atmosphere of the gas.

又、水素原子を導入する場合には、水素原子導入用の原
料ガス、例えば、Hい或いは前記したシラン類又は/及
び水素化ゲルマニウム等のガス類をスパッタリング用の
堆積室中に導入して該ガス類のプラズマ雰囲気を形成し
てやれば良い。
In addition, when introducing hydrogen atoms, a raw material gas for introducing hydrogen atoms, such as H or the above-mentioned silanes and/or germanium hydride, is introduced into the deposition chamber for sputtering. It is sufficient to form a gaseous plasma atmosphere.

本発明においては、ハロゲン原子導入用の原料ガスとし
て上記されたハロゲン化合物或いはハロゲンを含む硅素
化合物が有効なものとして使用されるものであるが、そ
の他に、HF 、 HCe 。
In the present invention, the above-mentioned halogen compounds or halogen-containing silicon compounds are effectively used as raw material gases for introducing halogen atoms, but in addition, HF, HCe, etc.

HBr 、 HI等ノハロゲン化水素、SiH,F2 
、・SiH,I、。
Hydrogen halides such as HBr, HI, SiH, F2
,・SiH,I,.

SiH,C/2.5iHC/3. SiH,Br、 、
 5iHBr8等のハロゲン置換水素化硅素、及びGe
HF5 l GeH,F、 、 GeHsF 。
SiH,C/2.5iHC/3. SiH, Br, ,
Halogen-substituted silicon hydride such as 5iHBr8, and Ge
HF5lGeH,F, , GeHsF.

GeHCe、 +’ GeH,C/、 、 GeHsC
e、 GeHBr8. GeH,Br2 、 GeルB
r。
GeHCe, +'GeH,C/, , GeHsC
e, GeHBr8. GeH, Br2, GeH, Br2
r.

GeHIs 、 GeH,I、 、 GeH,I等の水
素化ハロゲン化ゲルマニウム、等の水素原子全構成要素
の1つとする・・ロゲ/化物、GeF、 、 GeCe
4. GeBr4 、 GeI4 。
GeHIs, GeH, I, , GeH, I, etc. are hydrogenated germanium halides, etc., as one of all hydrogen atom constituents...Rogge/Cide, GeF, , GeCe
4. GeBr4, GeI4.

GeF2 、 GeC1t、 ’GeBr、 、 Ge
11等のハロゲン化ゲルマニウム、等々のガス状態の或
いはガス化し得る物質も有効な第1の層領域(C)およ
び第2の層領域(G)形成用の出発物質として挙げる事
が出来る。
GeF2, GeClt, 'GeBr, , Ge
Gaseous or gasifiable substances such as germanium halides such as 11, etc. may also be mentioned as useful starting materials for the formation of the first layer region (C) and the second layer region (G).

これ等の物質の中、水素原子を含むハロゲン化物は、第
1の層領域(C)および第2の層領域(G)形成の際に
層中にハロゲン原子の導入と同、時に電気的或いは光電
的特性の制御に極めて有効な水素原子も導入されるので
、本発明においては好適なハロゲン導入用の原料として
使用される。
Among these substances, halides containing hydrogen atoms are sometimes introduced electrically or Since hydrogen atoms, which are extremely effective in controlling photoelectric properties, are also introduced, they are used as a suitable raw material for introducing halogen in the present invention.

水素原子を第1の層領域(C)および第2の層領域(G
)中に構造的に導入するには、上記の他に鵬、或いはS
iH,、St、H,、St、H,、5i4H,、等の水
素化硅素をGeを供給すあ為のゲルマニウム又はゲルマ
ニウム化合物と、或いは、GeH,、Ge、H,。
Hydrogen atoms are added to the first layer region (C) and the second layer region (G
) In addition to the above, Peng or S
With germanium or a germanium compound for supplying Ge to silicon hydride such as iH,, St, H,, St, H,, 5i4H, or GeH,, Ge, H,.

GeBH@ 、 Ge4H46、Ge、、H,、Ge4
H46Ge@山。等の水素化ゲルマニウムとSiを供給
する為のシリコン又はシリコン化合物と、を堆積室中に
共存させて放電を生起させる事でも行う事が出来る。
GeBH@, Ge4H46, Ge,,H,,Ge4
H46Ge@Mountain. This can also be carried out by causing germanium hydride such as the like and silicon or a silicon compound for supplying Si to coexist in the deposition chamber to generate a discharge.

本発明の好ましい例において、形成される光導電部材の
第1の層領域(C)中に含有される水素原子(H)の量
又はハロゲン原子(X)の量又は水素原子とハロゲン原
子の量の和(H十X )は好ましくは0.000 ト4
0 at’omi c%、より好適には0.005〜3
0 atomic%、最適には0.01〜25atom
ic%とされるのが望ましい。
In a preferred example of the present invention, the amount of hydrogen atoms (H) or the amount of halogen atoms (X) or the amount of hydrogen atoms and halogen atoms contained in the first layer region (C) of the photoconductive member to be formed The sum (H x ) is preferably 0.000 t4
0 at'omic%, more preferably 0.005-3
0 atomic%, optimally 0.01-25 atoms
It is desirable to set it as ic%.

第1の層領域(C)中に含有される水素原子(Iわ又は
/及びハロゲン原子(X)の量を制御するには、例えば
支持体温度又は/及び水素原子(H)、或いはハロゲン
原子(X)を含有させる為に使用される出発物質の堆積
装置系内に導入する量、放電々力等を制御してやれば良
い。
In order to control the amount of hydrogen atoms (I) and/or halogen atoms (X) contained in the first layer region (C), for example, the support temperature and/or hydrogen atoms (H) or halogen atoms The amount of the starting material used to contain (X) introduced into the deposition system, the discharge force, etc. may be controlled.

本発明の好ましい例において、形成される光導電部材の
第2の層領域(G)中に含有される水素原子(I(>の
量又はハロゲン原子(X)の量又は水素原子とハロゲン
原子の量の和(、H+X)は好ましくは0.01〜40
 atomic%、より好適には0.05〜30 at
omic%、最適にはO11〜25 atomicチと
されるΩが望ましい。
In a preferred example of the present invention, the amount of hydrogen atoms (I) or the amount of halogen atoms (X) or the amount of hydrogen atoms and halogen atoms contained in the second layer region (G) of the photoconductive member to be formed is The sum of the amounts (H+X) is preferably 0.01 to 40
atomic%, more preferably 0.05-30 at
omic%, most preferably O11 to 25 atomic%.

第2の層領域(G)中に含有される水素原子(■()又
は/及びハロゲン原子(X)の量を制御するには、例え
ば支持体温度又は/及び水素原子(H)、或いは−・ロ
ゲン原子(X)を含有させる為に使用される出発物質の
堆積装置系内へ導入する量、放電々力等を制御してやれ
ば良い。
In order to control the amount of hydrogen atoms () or/and halogen atoms (X) contained in the second layer region (G), for example, the support temperature or/and the hydrogen atoms (H) or - - The amount of the starting material used to contain the rogen atoms (X) introduced into the deposition system, the discharge force, etc. may be controlled.

本発明に於いて、a−8t(H,X)で構成される第3
の層領域(S)を形成するには、前記した第2の層領域
(G)形成用の出発物質(I)の中より、Ge供給用の
原料ガスとなる出発物質を除いた出発物質〔第3の層領
域(S)形成用の出発物質(■)〕を使用して、第2の
層領域(G)を形成・する場合と、同様の方法と条件に
従って行うことが出来る。
In the present invention, the third
[ The starting material (■) for forming the third layer region (S) can be used to form the second layer region (G) using the same method and conditions.

即ち、本発明において、a−8t (H,X)で構成さ
れる第3の層領域(S)を形成するには例えばグロー放
電法、スパッタリング法、或いはイオンブレーティング
法等の放電現象を利用する真空堆積法によって成される
。例えば、グロー放電法によって、a−8t(H,X)
で構成される第3の層領域(S)を形成するには、基本
的には前記したシリコン原子(St)を供給し得るSi
供給用の原料ガスと共に、必要に応じて水素原子(I(
)導入用の又は/及びハロゲン原子(X)導入用の原料
ガスを、内部が減圧にし得゛る堆積室内に導入して、該
堆積室内にグロー放電を生起させ、予め所定位置に設置
されである所定の支持体表面上にa 5i(H+ X)
からなる層を形成させれば良い。
That is, in the present invention, to form the third layer region (S) composed of a-8t (H, It is made by a vacuum deposition method. For example, by glow discharge method, a-8t(H,X)
In order to form the third layer region (S) consisting of
Along with the raw material gas for supply, hydrogen atoms (I(
) A raw material gas for introduction and/or for introduction of halogen atoms (X) is introduced into a deposition chamber whose interior can be reduced in pressure, and a glow discharge is generated in the deposition chamber. a 5i(H+X) on a given support surface
What is necessary is to form a layer consisting of.

又、スパッタリング法で形成する場合には、例えばAr
、He等の不活性ガス又はこれ等のガスをベースとした
混合ガスの雰囲気中でStで構成されたターゲットをス
パッタリングする際、水素原子(H)又は/及びハロゲ
ン原子(X)導入用のガスをスパッタリング用の堆積室
に導入しておけば良い。
In addition, when forming by sputtering method, for example, Ar
, a gas for introducing hydrogen atoms (H) and/or halogen atoms (X) when sputtering a target composed of St in an atmosphere of an inert gas such as He or a mixed gas based on these gases. may be introduced into the deposition chamber for sputtering.

本発明に於いて、形成される非晶質層を構成する第3の
層領域(S)中に含有される水素原子(H)の量又は八
・ロゲン原子(X)の量又は水素原子・とハロゲン原子
の量の和(H+X)は、好ましくは、1〜40 ato
micチ、よシ好適には5〜30 atomic%、最
適には5〜25 atomic%とされるのが望ましい
In the present invention, the amount of hydrogen atoms (H) or the amount of hydrogen atoms (X) or hydrogen atoms contained in the third layer region (S) constituting the amorphous layer to be formed is The sum of the amount of halogen atoms (H+X) is preferably 1 to 40 ato
The mic ratio is preferably 5 to 30 atomic%, most preferably 5 to 25 atomic%.

非晶質層を構成する層領域中に、伝導特性を制御する物
質(D)、例えば、第■族原子或いは第V族原子を構造
的に導入して前記物質(D)の含有された層領域(PN
)を形成するには、層形成′の際に、第■族原子導入用
の出発物質或いは第V族原子導入用の出発物質をカス状
態で堆積室中に、非晶質層を形成する為の他の出発物質
と共に導入してやれば良い。この様な第1II族原子導
入用の出発物質と成り得るものとしては、常温常圧でガ
ス状の又は、少なくとも層形成条件下で容易にガス化し
得るものが採用されるのが望ましい。その様な第■族原
子導入用の出発物質として具体的には硼素原子導入用と
しては、BtHa −B4HIOツBIIIイB+Hu
 IB!IHIOνBsH+z tBllHI4等、の
水素化硼素、BF、 、 Be/1 、 BBrs等の
/%ロゲン化硼素等が挙げられる。この他、AeCIB
 、 GaCIB +Ga(CH,)、 、 InC/
3. TeCIB等も挙げることが出来る。
A layer containing the substance (D) by structurally introducing a substance (D) that controls conduction characteristics, for example, a group II atom or a group V atom, into the layer region constituting the amorphous layer. Area (PN
), in order to form an amorphous layer, a starting material for introducing group I atoms or a starting material for introducing group V atoms is placed in a deposition chamber in a dregs state during layer formation. It may be introduced together with other starting materials. As a starting material for such introduction of Group 1 II atoms, it is desirable to employ a material that is gaseous at room temperature and pressure, or that can be easily gasified at least under layer-forming conditions. Specifically, as a starting material for introducing a group Ⅰ atom, for introducing a boron atom, BtHa -B4HIO BIIIB+Hu
IB! Examples include boron hydride such as IHIOνBsH+z tBllHI4, and /% boron hydride such as BF, Be/1, BBrs, etc. In addition, AeCIB
, GaCIB +Ga(CH,), , InC/
3. TeCIB and the like can also be mentioned.

第V族原子導入用の出発物質として、本発明において有
効に使用されるのは、燐原子導入用としては、Pus 
、PtHa等の水素北隣、PH,I 、 PF、 。
In the present invention, as a starting material for introducing a group V atom, Pus is effectively used for introducing a phosphorus atom.
, hydrogen north neighbors such as PtHa, PH,I, PF, .

PFs + PCI!s + PC1* r PBrl
 l PBrs、 PIS等のノ10ゲン化燐が挙げら
れる。この他、A3H8、AsFl 。
PFs + PCI! s + PC1* r PBrl
Examples include 10genated phosphorus such as lPBrs and PIS. In addition, A3H8, AsFl.

A8(l!、 、 A3Br、 、 A8F、 l S
bH,、SbF3.8bF、 、 SbC/、 。
A8(l!, , A3Br, , A8F, l S
bH,, SbF3.8bF, , SbC/, .

SbC/、 、 SiH,、SiC/4 、 B1Br
、等も第■族原子導入用の出発物質の有効なものとして
挙げることが出来る。
SbC/, , SiH,, SiC/4, B1Br
, etc. can also be mentioned as effective starting materials for the introduction of Group I atoms.

本発明において使用される支持体としては、導電性でも
電気絶縁性であっても良い。導電性支持体としては、例
えば、NiCr、ステンレス。
The support used in the present invention may be electrically conductive or electrically insulating. Examples of the conductive support include NiCr and stainless steel.

At 、 Cr 、 Mo 、 Au 、 Nb 、 
Ta 、 V 、 Ti 、 Pt 、 Pd等の金属
又はこれ等の合金が挙けられる。
At, Cr, Mo, Au, Nb,
Examples include metals such as Ta, V, Ti, Pt, and Pd, and alloys thereof.

電気絶縁性支持体としては、ポリエステル。Polyester is used as an electrically insulating support.

ポリエチレン、ポリカーボネート、セルローズアセテー
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
Polyethylene, polycarbonate, cellulose acetate, polypropylene, polyvinyl chloride.

ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合
成樹脂のフィルム又はシート、ガラス。
Films or sheets of synthetic resins such as polyvinylidene chloride, polystyrene, polyamide, etc., and glass.

セラミック、紙等が通常使用される。これ等の電気絶縁
性支持体は、好適には少なくともその一方の表面を導電
処理され、該導電処理された表面側に他の層が設けられ
るのが望ましい0例えば、ガラスであれば、その表面に
、NiCr 。
Ceramic, paper, etc. are commonly used. These electrically insulating supports preferably have at least one surface conductively treated, and it is desirable that another layer is provided on the conductively treated surface side.For example, if the support is made of glass, the surface and NiCr.

Ae 、Cr 、Mo 、Au 、 Ir 、Nb 、
Ta 、V、Ti 、Pt 、Pd。
Ae, Cr, Mo, Au, Ir, Nb,
Ta, V, Ti, Pt, Pd.

In、O,、SnO,、ITO(In、0.+SnO,
)等から成る薄膜を設けることによって導電性が付与さ
れ、或いはポリエステルフィルム等の合成樹脂フィルム
であれは、NiCr1A7?、Ag、Pb、Zn、Ni
 、Au 。
In, O,, SnO,, ITO (In, 0.+SnO,
), etc., or a synthetic resin film such as a polyester film, NiCr1A7? , Ag, Pb, Zn, Ni
, Au.

Cr 、Mo 、 Ir 、Nb 、Ta 、V、Ti
 、Pt等の金属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、
スパッタリング等でその表面に設け、又は前記金属でそ
の表面をラミネート処理して、その表面に導電性が付与
される。支持体の形状としては、円筒状。
Cr, Mo, Ir, Nb, Ta, V, Ti
, vacuum evaporation of metal thin films such as Pt, electron beam evaporation,
Conductivity is imparted to the surface by sputtering or the like, or by laminating the surface with the metal. The shape of the support is cylindrical.

ベルト状、板状等任意の形状とし得、所望によって、そ
の形状は決定されるが、例えば、第1図の光導電部材1
00を電子写真用像形成部材として使用するのであれば
連続高速複写の場合に形成される様に適宜決定されるが
、光導電部材として可撓性が要求される場合には、支持
体としての機能が充分発揮される範囲内であれば可能な
限シ薄くされる。面乍ら、この様な場合支持体の製造上
及び取扱い上、機械的強度等の点から、通常は、10μ
以上とされる。
The photoconductive member 1 shown in FIG.
If 00 is used as an electrophotographic image forming member, it is determined as appropriate so that it can be formed in the case of continuous high-speed copying, but if flexibility is required as a photoconductive member, it may be used as a support. It is made as thin as possible within the range that allows the function to be fully demonstrated. However, in such cases, from the viewpoint of manufacturing and handling of the support, mechanical strength, etc., it is usually 10μ.
This is considered to be the above.

次に本発明の光導電部材の製造方法の一例の概略につい
て説明する。
Next, an outline of an example of the method for manufacturing a photoconductive member of the present invention will be explained.

第2図に光導電部材の製造装置の一例を示す。FIG. 2 shows an example of a photoconductive member manufacturing apparatus.

図中の202〜206のガスボンベには、本発明の光導
電部材を形成するための原料ガスが密封されており、そ
の1例としてたとえば202は、Heテ稀釈されたSi
H,ガス(純度99.999%。
Gas cylinders 202 to 206 in the figure are sealed with raw material gas for forming the photoconductive member of the present invention.
H, gas (purity 99.999%.

以下5iI(4/Heと略す。)ボンベ、203はHe
で希釈されたGeH,ガス(純度99.999%、以下
GeI(4/Heと略す。)ボンベ、2o4は臣で希釈
されたSiF4ガス(純度99.99%、以下SiF4
/1(eと略す。)ボンベ、205はHeで稀釈された
B、H,ガス(純度99.999X、以下、  B、H
6/Heと略す。)ボンベ、206はH,ガス(純度9
9.999%)ボンベである。
Hereinafter, 5iI (abbreviated as 4/He) cylinder, 203 is He
GeH, gas (purity 99.999%, hereinafter referred to as GeI (4/He)) cylinder, 2o4 is SiF4 gas (purity 99.99%, hereinafter referred to as SiF4) diluted with
/1 (abbreviated as e) cylinder, 205 is B, H, gas diluted with He (purity 99.999X, hereinafter referred to as B, H
Abbreviated as 6/He. ) cylinder, 206 is H, gas (purity 9
9.999%) cylinder.

これらのガスを反応室201に流入させるにはガスボン
ベ202〜206のパルプ222〜226、リークパル
プ235が閉じられていることを確認し、又、流入パル
プ212〜216、fi出パルプ217〜2211補助
パルプ232. 233が開かれていることを確認して
、先ずメインパルプ234を開いて反応室201、及び
各カス配管内を排気する。次に真空計236の読みが約
5 X 10 torr Kなった時点で補助パルプ2
32 、 233 、流出パルプ217〜221を閉じ
る。
In order to allow these gases to flow into the reaction chamber 201, make sure that the pulps 222-226 and leak pulp 235 of the gas cylinders 202-206 are closed. Pulp 232. After confirming that the main pulp 233 is opened, the main pulp 234 is first opened to exhaust the inside of the reaction chamber 201 and each waste pipe. Next, when the reading on the vacuum gauge 236 reaches approximately 5 x 10 torr K, the auxiliary pulp 2
32, 233, close the outflow pulps 217-221.

次にシリンダー状基体237上に第1の層領域を形成す
る場合の1例をあげると、ガスボンベ202よりSiH
4/Heガス、ガスボンへ203ヨリGeH。
Next, to give an example of forming the first layer region on the cylindrical substrate 237, SiH
4/He gas, 203 to GeH to the gas cylinder.

/Heガス、ガスボンベ205よりB2H,/He i
 スをパルプ222. 223,225  を夫々間い
て出口圧ゲージ227 、228 、230の圧をl 
Kg/ caに調整し、流入パルプ212 、213 
、215を徐々に開けて、マスフロコントローラ207
 、208 、210 内に夫々を流入させる。引き続
いて流出パルプ217.218.220、補助パルプ2
32を徐々に開すて夫々のガスを反応室201に流入さ
せる。このときの5L1(4/Heガス流量とGeH,
/Heガス流量とB2H6/He ガス流量との比が所
望の値になるように流出パルプ217゜218、 22
0を調整し、又、反応室201内の圧力が所望の値にな
るように真空計236の読みを見ながらメインバルブ2
34の開口を調整する。そして基体237の温度が加熱
ヒーター238により400℃〜600℃の範囲の温度
に設定されていることを確認された後、電源240を所
望の電力に設定して反応室201内にグロー放電を生起
させて基体237上に第1の層領域(C)を形成する。
/He gas, B2H from gas cylinder 205, /He i
Pulp 222. 223, 225 respectively to check the pressure of the outlet pressure gauges 227, 228, 230.
Adjusted to Kg/ca, inflow pulp 212, 213
, 215 gradually open, and the mass flow controller 207
, 208 and 210, respectively. Subsequently, outflow pulp 217.218.220, auxiliary pulp 2
32 is gradually opened to allow each gas to flow into the reaction chamber 201. At this time, 5L1 (4/He gas flow rate and GeH,
/He gas flow rate and B2H6/He gas flow rate to the desired value.
0 of the main valve 2 while checking the reading of the vacuum gauge 236 so that the pressure inside the reaction chamber 201 reaches the desired value.
Adjust the aperture of 34. After confirming that the temperature of the substrate 237 is set to a temperature in the range of 400°C to 600°C by the heater 238, the power source 240 is set to the desired power to generate glow discharge in the reaction chamber 201. In this way, a first layer region (C) is formed on the base body 237.

所望の層厚に第1の層領域(C)が形成された時点に於
いて、加熱ヒーター238により基体237の温度を5
0〜400℃に設定し、必要に応じて放電条件を変える
こと以外は、同様な条件と手順に従って、所望時間グロ
ー放電を維持することで、前記の第1の層領域(C)上
に第2の層領域(G)を形成することが出来る。
At the time when the first layer region (C) is formed to a desired layer thickness, the temperature of the base body 237 is increased to 50% by the heating heater 238.
The glow discharge is maintained on the first layer region (C) for a desired time under the same conditions and procedures except for setting the temperature at 0 to 400°C and changing the discharge conditions as necessary. Two layer regions (G) can be formed.

所望の層厚に第2の層領域(G)が形成された時点に於
いて、流出パルプ21’8を完全に閉じること及び必要
に応じて放電条件を変えること以・外は、同様な条件と
手順に従って、所望時間グロー放電を維持することで、
前記の第、2の層領域CG)上にゲルマニウム原子が涜
質的に含有されてない第3の層領域(S)を形成するこ
とが出来る。
Similar conditions were applied, except that at the time when the second layer region (G) was formed to the desired layer thickness, the outflow pulp 21'8 was completely closed and the discharge conditions were changed as necessary. By following the steps and maintaining the glow discharge for the desired time,
A third layer region (S) containing no germanium atoms can be formed on the second layer region CG).

第3の層領域(8)中に、伝導性を支配する物質(D)
を含有きせるには、第3の層領域(S)の形成の際に、
例えば82H,、PH,等のガスを堆積室201の中に
導入する他のガスに加えてやれば良い。
In the third layer region (8), a substance (D) that controls conductivity
When forming the third layer region (S), in order to contain
For example, gases such as 82H, PH, etc. may be added to other gases introduced into the deposition chamber 201.

この様にして、第1の層領域(C)第2の層領域(G)
と第3の層領域(S)とで構成された非晶質層が基体2
37上に形成される。
In this way, the first layer region (C) and the second layer region (G)
and a third layer region (S) are formed on the base 2.
37.

層形成を行っている間は層形成の均一化を図るだめ基体
237はモータ239により一定速度で回転させてやる
のが望ましい。
During layer formation, it is desirable that the substrate 237 be rotated at a constant speed by a motor 239 in order to ensure uniform layer formation.

以下実施例について説明する。Examples will be described below.

実施例1 第2図に示した製造装置により、シリンダー状のM基体
上に、第1表に示す条件で層形成を行って電子写真用像
形成部材を得た。
Example 1 Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 2, layers were formed on a cylindrical M substrate under the conditions shown in Table 1 to obtain an electrophotographic image forming member.

こうして得られた像形成部材を、帝−1露光実験装置に
設置し■5. OKVで0.3 f1間コロナ帯電を行
い、直ちに光像を照射した尻像はタングステンランプ光
源を用い、21uX一式  の光量を透過型のテストチ
ャートを通して照射させた。
The image forming member obtained in this way is installed in the Tei-1 exposure experiment apparatus; 5. Corona charging was performed for 0.3 f1 with OKV, and the butt image was immediately irradiated with a light image using a tungsten lamp light source and a light amount of 21 uX was irradiated through a transmission type test chart.

その後直ちに、O荷電性の現像剤(トナーとキャリアー
を含む)を像形成部材表面をカスケードすることによっ
て、像形成部材表面上に良好なトナー画像を得た。像形
成部材上のトナー画像を、■5.OKVのコロナ帯電で
転写紙−Hに転写した所、解像力に優れ、8M4再現性
のよい鮮明な高濃度の画像が得られた。
Immediately thereafter, a good toner image was obtained on the imaging member surface by cascading an O-charged developer (including toner and carrier) over the imaging member surface. The toner image on the image forming member is processed by 5. When transferred to Transfer Paper-H using OKV corona charging, a clear, high-density image with excellent resolution and good 8M4 reproducibility was obtained.

実施例2 第2図に示した製造装置により、第2表に示す条件にし
た以外は実施例1と同様にして、層形成を行って電子写
真用像形成部材を得た。
Example 2 An electrophotographic image forming member was obtained by forming layers in the same manner as in Example 1 using the manufacturing apparatus shown in FIG. 2, except that the conditions shown in Table 2 were used.

こうして得られた1層形成部材に就いて帯電極性と現像
剤の荷電極性の夫々を実施例1と反対にした以外は実施
例1と同様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成した
ところ極めて鮮明な画質が得られた。
An image was formed on a transfer paper using the thus obtained one-layer forming member under the same conditions and procedures as in Example 1, except that the charging polarity and the charging polarity of the developer were respectively opposite to those in Example 1. Clear image quality was obtained.

実施例3 第2図に示した製造装置により、第3表に示す条件にし
た以外は実施例1と同様に1〜で、層形成を行って電子
写真用像形成部材を得た。
Example 3 Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 2, layer formation was carried out in the same manner as in Example 1 except that the conditions shown in Table 3 were used to obtain an electrophotographic image forming member.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例4 実施例1に於いて、GeH4/Heガスと5il(4/
Heガスのガス流量比を変えて第1層中に含有されるゲ
ルマニウム原子の含有量を第4表に示す様に変えた以外
は、実施例1と同様にして電子写真用像形成部材を夫々
作成した。
Example 4 In Example 1, GeH4/He gas and 5il (4/
Electrophotographic image forming members were prepared in the same manner as in Example 1, except that the content of germanium atoms contained in the first layer was changed as shown in Table 4 by changing the gas flow rate ratio of He gas. Created.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ第4
表に示す結果が得られた。
Regarding the image forming member thus obtained, an image was formed on a transfer paper under the same conditions and procedures as in Example 1.
The results shown in the table were obtained.

実施例5 実施例1に於いて第1層の層厚を第5表に示す様に変え
る以外は、実施例1と同様にして各電子写真用像形成部
材を作成した。
Example 5 Electrophotographic image forming members were prepared in the same manner as in Example 1 except that the thickness of the first layer was changed as shown in Table 5.

こうして得られた各僧形成部材に就いて、実施例1と同
様の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ第
5表に示す結果が得られた。
Images were formed on transfer paper for each of the thus-obtained image-forming members under the same conditions and procedures as in Example 1, and the results shown in Table 5 were obtained.

実施例6 第2図に示しだ製造装置により、シリンダー状のM基体
上に、第6表に示す条件で層形成を行って電子写真用像
形成部材を得た。
Example 6 Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 2, layers were formed on a cylindrical M substrate under the conditions shown in Table 6 to obtain an electrophotographic image forming member.

こうして得られた像形成部材を、帯1!露光実験装置に
設置し■5. OKVでQ、3sec間コロナ帯電を行
い、直ちに光像を照射した。光像はタングステンランプ
光源を用い、2/ux−就の光量を透過型のテストチャ
ートを通して照射させた。
The image-forming member thus obtained was used as band 1! Install it in the exposure experiment equipment ■5. Corona charging was performed using OKV for Q, 3 seconds, and a light image was immediately irradiated. A light image was generated using a tungsten lamp light source, and a light amount of 2/ux was irradiated through a transmission type test chart.

その後直ちに、e荷電性の現像剤(トナーとキャリアー
を含む)を像形成部材表面をカスケードすることによっ
て、像形成部材表面上に良好なトナー画像を得た。像形
成部材上のトナー画像を、■5. OKVのコロナ帯電
で転写紙上に転写した所、解像力に優れ、階調再現性の
よい鮮明な高濃度の画像が得られた。
Immediately thereafter, a good toner image was obtained on the imaging member surface by cascading an e-chargeable developer (including toner and carrier) over the imaging member surface. The toner image on the image forming member is processed by 5. When transferred onto transfer paper using OKV's corona charging, a clear, high-density image with excellent resolution and good gradation reproducibility was obtained.

実施例7 第2図に示した製造装置により、シリンダー状のM基体
上に、第7表に示す条件で層形成を行って電子写真用像
形成部材を得だ。
Example 7 Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 2, layers were formed on a cylindrical M substrate under the conditions shown in Table 7 to obtain an electrophotographic image forming member.

こうして得られた像形成部材を、帯電露光実験装置に設
置しe 5. OKvで0.3 Sec間コロナ帯電を
行い、直ちに光像を照射した。光像はタングステンラン
プ光源を用い、2/ux−xの光量を透過型のテストチ
ャートを通して照射させた。
The image forming member thus obtained was placed in a charging exposure experiment device.5. Corona charging was performed for 0.3 Sec at OKv, and a light image was immediately irradiated. A light image was generated using a tungsten lamp light source, and a light intensity of 2/ux-x was irradiated through a transmission type test chart.

その後直ちに、■荷電性の現像剤(トナーとキャリアー
を含む)を像形成部材表面をカスケードすることによっ
て、像形成部材表面上に良好なトナー画像を得た。像形
成部材上のトナー画イ象を、eo、5KVのコロナ帯電
で転写紙上に転写した所、解像力に優れ、階調再現性の
よい鮮明な高濃度の画像が得られた。
Immediately thereafter, a good toner image was obtained on the surface of the image forming member by cascading a charged developer (including toner and carrier) over the surface of the image forming member. When the toner image on the image forming member was transferred onto a transfer paper by corona charging at EO, 5 KV, a clear, high density image with excellent resolution and good gradation reproducibility was obtained.

実施例8 第2図に示した製造装置により、シリンダー状のM基体
上に、第8表に示す条件“で層形成を行って電子写真用
僧形成部材を得た。
Example 8 Using the manufacturing apparatus shown in FIG. 2, layers were formed on a cylindrical M substrate under the conditions shown in Table 8 to obtain a layer-forming member for electrophotography.

こうして得られた像形成部材を、帯電露光実験装置に設
置しe 5. OKVでQ、3 see間コロナ帯電を
行い、直ちに光像を照射した。光像はタングステンラン
プ光源を用い、2 /ux−(8)の光量を透過型のテ
ストチャートを通して照射させた。
The image forming member thus obtained was placed in a charging exposure experiment device.5. Corona charging was performed for Q and 3 see with OKV, and a light image was immediately irradiated. A light image was generated using a tungsten lamp light source, and a light intensity of 2/ux-(8) was irradiated through a transmission type test chart.

その後直ちに、■荷電性の現像剤(トナーとキャリアー
を含むりを像形成部材表面をカスケードすることによっ
て、像形成部材表面上に良好なトナー画像を得た。像形
成部材上のトナー画像を、e5.OKVのコロナ帯電で
転写紙上に転写した所、解像力に優れ、階調再現性のよ
い鮮明な高濃度の画像が得られた。
Immediately thereafter, a good toner image was obtained on the surface of the image forming member by cascading a charged developer (containing toner and carrier) over the surface of the image forming member. When transferred onto transfer paper using e5.OKV corona charging, a clear, high-density image with excellent resolution and good gradation reproducibility was obtained.

実施例9 第2図に示しだ製造装置により、第9表に示す条件にし
た以外は実施例1と同様にして、J@層形成行って電子
写真用像形成部材を得だ。
Example 9 A J@ layer was formed using the manufacturing apparatus shown in FIG. 2 in the same manner as in Example 1 except that the conditions shown in Table 9 were used to obtain an electrophotographic image forming member.

こうして得られた像形成部材に就すて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例1O 第2図に示した製造装置により、第10表に示す条件に
した以外は実施例1と同様にして、層形成を行って電子
写真用像形成部材を得た。
Example 1O Layer formation was performed using the manufacturing apparatus shown in FIG. 2 in the same manner as in Example 1 except that the conditions shown in Table 10 were used to obtain an electrophotographic image forming member.

こうして得られた像形成部材に就いて、実施例1と同様
の条件及び手順で転写紙上に画像を形成したところ極め
て鮮明な画質が得られた。
When an image was formed on a transfer paper using the image forming member thus obtained under the same conditions and procedures as in Example 1, an extremely clear image quality was obtained.

実施例11 実施例1に於いて光源をタングステンランフ。Example 11 In Example 1, the light source was a tungsten lamp.

の代りに810nmのGaAs系半導体レーザ(10m
W)を用いて、静電像の形成を行った以外は、実施例1
と同様のトナー画像形成条件にして、実施例1と同様の
条件で作成した電子写真用像形成部材に就いてトナー転
写画像の画質評価を行ったところ、解像力に優れ、階調
再現性の良い鮮明な高品位の画像が得られた。
Instead of 810 nm GaAs semiconductor laser (10 m
Example 1 except that the electrostatic image was formed using W)
When the image quality of the toner transfer image was evaluated on an electrophotographic image forming member prepared under the same toner image forming conditions as in Example 1, it was found that it had excellent resolution and good gradation reproducibility. Clear, high-quality images were obtained.

以上の本発明の実施例に於ける共通のj−作成条件を以
下に示す。
Common j-creation conditions in the above embodiments of the present invention are shown below.

放電周波数: 13.56M)lz 反反応及反応室内圧 0.3 ’J’orr”Discharge frequency: 13.56M) lz Reaction and reaction chamber pressure 0.3’J’orr”

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

′?Jj1図は、本発明の光導電部材の14構成を説明
する為の模式的層構成図、第2図は、実施例に於いて本
発明の光導電部材を作製する為に使用された装置の漢式
的説明図である。 100・・・光導電部材 101・・・支持体 102・・・非晶質層 出願人  キャノン株式会社
′? Figure Jj1 is a schematic layer configuration diagram for explaining the 14 configurations of the photoconductive member of the present invention, and Figure 2 is a diagram of the apparatus used to produce the photoconductive member of the present invention in Examples. It is a Chinese-style explanatory diagram. 100...Photoconductive member 101...Support 102...Amorphous layer Applicant: Canon Inc.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)光導電部材用の支持体と、該支持体上に少なくと
、もゲル、マニウム原子を含み、少なくとも一部結晶化
している第1の層領域と、少なくともシリコン原子とゲ
ルマニ・ウヘ原子とを含む非晶質材料を含有す全相2の
層領域と、少なくともシリコン原子を含む非晶質材料を
含有し、光導電性を示す第3の層領域とが前記支持体側
よシ順に設けられた層構成の非晶質層とを有し、前記第
1の層領域及び前記第2の層領域の少なくともいずれか
一方に伝導性を支配する物質が含有され゛ている事を特
徴とする光導電部材。
(1) A support for a photoconductive member, a first layer region on the support that contains at least gel and manium atoms and is at least partially crystallized, and at least silicon atoms and germanium atoms. and a third layer region containing an amorphous material containing at least silicon atoms and exhibiting photoconductivity are provided in order from the support side. and an amorphous layer having a layered structure, and at least one of the first layer region and the second layer region contains a substance that controls conductivity. Photoconductive member.
(2)第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域の
いずれかに水素原子が含有されている特許請求の範囲第
1項に記載の光導電部材。
(2) The photoconductive member according to claim 1, wherein hydrogen atoms are contained in any one of the first layer region, the second layer region, and the third layer region.
(3)第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域い
ずれかにハロゲン原子が含有されている特許請求の範囲
第1項及び第2項に記載の光導電部材。
(3) The photoconductive member according to claims 1 and 2, wherein any of the first layer region, the second layer region, and the third layer region contains halogen atoms.
(4)伝導性を支配する物質が周期律表第1族に属する
原子である特許請求の範囲第1項に記載の光導電部材。
(4) The photoconductive member according to claim 1, wherein the substance that controls conductivity is an atom belonging to Group 1 of the periodic table.
(5)伝導性を支配する物質が周期律表第■族に属する
原子である特許請求の範囲第1項に記載の光導電部材。
(5) The photoconductive member according to claim 1, wherein the substance that controls conductivity is an atom belonging to Group Ⅰ of the periodic table.
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