JPS59112487A - Manufacture of bubble memory device - Google Patents
Manufacture of bubble memory deviceInfo
- Publication number
- JPS59112487A JPS59112487A JP57222078A JP22207882A JPS59112487A JP S59112487 A JPS59112487 A JP S59112487A JP 57222078 A JP57222078 A JP 57222078A JP 22207882 A JP22207882 A JP 22207882A JP S59112487 A JPS59112487 A JP S59112487A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solution
- pdas
- hydrogen chloride
- organic solvent
- prepolymer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/14—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using thin-film elements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(1)技術分野
本発明は配線層間絶縁材料および/または保護膜として
シリコーン樹脂溶液を塗布し硬化させる、バブルメモリ
装置の製法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (1) Technical Field The present invention relates to a method for manufacturing a bubble memory device in which a silicone resin solution is applied and cured as an interlayer insulation material and/or a protective film.
(2)技術の背景
バブルメモリ装置は高度の信頼性を長期にわたって要求
するものであるが、これに使用する絶縁材料または保護
膜に微量の電解質が存在すると電食による不良を生じて
寿命を短縮する。(2) Background of the technology Bubble memory devices require a high level of reliability over a long period of time, but if a small amount of electrolyte is present in the insulating material or protective film used for them, defects due to electrolytic corrosion will occur and the lifespan will be shortened. do.
(3)従来技術と問題点
パルプメモリ装置の絶縁材料または保護膜としては、テ
トラアルコキシシランの加水分解重縮合物であるPDA
Sの溶液を塗布し、加熱して5IO2膜を形成すること
が行なわれている。(3) Prior art and problems PDA, which is a hydrolyzed polycondensate of tetraalkoxysilane, is used as an insulating material or protective film for pulp memory devices.
A 5IO2 film is formed by applying a solution of S and heating it.
テトラアルコキシシラン5i(oa)4 (式中、R
ハCnH2n+4、たとえばメチル、エチル、プロピル
、ブチルなどである)は反応促進剤の酸の存在で、加水
分解、重縮合を次式のように行う。Tetraalkoxysilane 5i(oa)4 (wherein, R
(CnH2n+4, such as methyl, ethyl, propyl, butyl, etc.) is hydrolyzed and polycondensed in the presence of a reaction accelerator acid as shown in the following formula.
5l(OR)4+2H20→81(OR)2(OH)2
+2ROH(1)n S 1 (OR) 2 (OH)
2→HO’ES i (OR) 209n H+ (
n−1)H2O(2)式(2)の反応の他に、脱アルコ
ールし、ミ5i(OH)基に変化してゲル化する反応が
おき易い。5l(OR)4+2H20→81(OR)2(OH)2
+2ROH(1)n S 1 (OR) 2 (OH)
2→HO'ES i (OR) 209n H+ (
n-1) H2O (2) In addition to the reaction of formula (2), reactions such as dealcoholization, conversion to mi 5i (OH) groups, and gelation tend to occur.
PDASはグル化を防止するために、常に有機溶剤に溶
解して、反応させたり、保存する。PDAS is always dissolved in an organic solvent for reaction or storage in order to prevent gluing.
反応促進剤の酸は塩酸とし、モノマーの重量に対して塩
化水素0.05〜0.5チを加えることが多い。塩化水
素は塗膜の加熱硬化において揮化除去できることを利用
するためである。然し、長期にわたるバイアス試験にお
いては、アルミニウム配線、およびパーマロイ膜を電食
するらしく、これによる不良がおきる。これは微量の塩
化水素が残留するためと考えられる。The reaction accelerator acid is hydrochloric acid, and 0.05 to 0.5 g of hydrogen chloride is often added to the weight of the monomer. This is to take advantage of the fact that hydrogen chloride can be removed by volatilization during heat curing of the coating film. However, in long-term bias tests, the aluminum wiring and permalloy film appear to be electrolytically corroded, resulting in defects. This is thought to be due to a trace amount of hydrogen chloride remaining.
塩化水素の除去は、一般に水洗によって可能である。し
かしPDASは、ミ5i(OR)基が=st(oH)基
に変化し易く、これが多くなるとグル化したり、洗浄水
相にPDASが分配される。アルコール類を溶剤とすれ
ば、洗浄水相に移行して損失するので、アルコールは塩
化水素の除去に利用できない。Removal of hydrogen chloride is generally possible by washing with water. However, in PDAS, the mi5i (OR) group is easily converted to =st (oH) group, and when this group increases, it may be glued or PDAS may be distributed to the washing water phase. If alcohol is used as a solvent, it will be lost in the washing aqueous phase, so alcohol cannot be used to remove hydrogen chloride.
なお揮発性の塩化水素は、蒸留分離することが可能であ
るが、蒸留温度を高くすれば、PDASがグル化するの
で実施できない。Note that volatile hydrogen chloride can be separated by distillation, but this is not possible because PDAS will be glued if the distillation temperature is increased.
表面保護材用の塗布液としては、PDAS単独のみでな
く、仙のシリコーン樹脂との混合溶液を使用することも
できる。混合するシリコーン樹脂は、たとえばアルキル
トリアルコキシシランの加水分解生成物(特開昭48−
81928号および特開昭48−26822号参照)、
ポリシルセスキオキサンプレポリマー(特開昭54−1
71005号参照)があシ、後者はバブルメモリの保護
または配としては、ブチルセロソルブアセテート、エチ
ルセロソルブアセテート、メチルセロソルブアセテート
n−ブチルアルコール(特開昭55−158114号
参照)を使用することによって均一な塗膜をうることを
本発明者らが開示している。As the coating liquid for the surface protection material, not only PDAS alone but also a mixed solution with Sen's silicone resin can be used. The silicone resin to be mixed is, for example, a hydrolyzed product of alkyltrialkoxysilane (Japanese Patent Application Laid-Open No. 1989-1999).
81928 and JP-A-48-26822),
Polysilsesquioxane prepolymer (Unexamined Japanese Patent Publication No. 54-1
71005), the latter can be uniformly protected or coated by using butyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, methyl cellosolve acetate, n-butyl alcohol (see JP-A-55-158114). The present inventors disclose that a coating film can be applied.
(4)発明の目的
本発明の目的は、長期間にわたって電食不良をおこすこ
とのない保護膜および/または配線層間絶縁材料を形成
するバブルメモリ装置の製法を提供することである。(4) Purpose of the Invention An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a bubble memory device in which a protective film and/or an interlayer insulation material for wiring are formed without causing electrolytic corrosion defects over a long period of time.
(5)発明の構成
本発明の上記目的は、シリコーン樹脂を配線層間絶縁材
料および/または保護膜とする・ぐプルメモリ装置の製
法であって、テトラアルコキシシランを塩化水素の存在
下で加水分解し重縮合させてポリジアルコキシシランプ
レポリマー(PDAS) トし、このPDASを沸点1
10℃以上の有機溶剤に溶解し、得た溶液を温度40℃
以下かつ圧力5朋Hg以下の減圧として塩化水素を逐出
し、得出PDAS溶液単独、またはこの溶液にポリシル
セスキオキサンプレポリマーを混合した溶液を、ガーネ
ット基板上の金属膜に塗布し、硬化させ、シリコーン樹
脂の絶縁材料および/または保護膜を形成することを特
徴とする、バブルメモリ装置の製法によって達成するこ
とができる。(5) Structure of the Invention The above-mentioned object of the present invention is to provide a method for manufacturing a group memory device using a silicone resin as an interlayer insulation material and/or a protective film, which comprises hydrolyzing tetraalkoxysilane in the presence of hydrogen chloride. Polycondensation is performed to form a polydialkoxysilane prepolymer (PDAS), and this PDAS has a boiling point of 1
Dissolve in an organic solvent at a temperature of 10°C or higher, and heat the resulting solution to a temperature of 40°C.
Hydrogen chloride is removed by reducing the pressure to a pressure of 5 Hg or less, and the obtained PDAS solution alone or a solution obtained by mixing polysilsesquioxane prepolymer with this solution is applied to the metal film on the garnet substrate and cured. This can be achieved by a method for manufacturing a bubble memory device characterized by forming an insulating material and/or a protective film of silicone resin.
この有機溶剤に溶解したPDASは0.5〜3.0朋七
の減圧下で塩化水素を逐出すことが有利である。The PDAS dissolved in the organic solvent is advantageously freed from hydrogen chloride under a reduced pressure of 0.5 to 3.0 mm.
このとき温度5〜28℃で塩化水素を逐出すことが好ま
しい。At this time, it is preferable to expel hydrogen chloride at a temperature of 5 to 28°C.
使用する有機溶剤は、メチルセロソルブアセテート、エ
チルセロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセテー
ト、n−ブチルアルコールまたはそのいずれかを含む混
合有機溶剤を使用することが便宜である。As the organic solvent used, it is convenient to use methyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, butyl cellosolve acetate, n-butyl alcohol, or a mixed organic solvent containing any of them.
0.2チHC1,15チPDASのエチルアルコール溶
液100重量部にメチルセロソルブアセテート、エチル
セロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセテートを
それぞれ150.130.100重景金量合した3種類
の溶液を、圧力3.0 mxHg、温度25℃で減圧蒸
留し、硝酸銀で塩素イオン検出できない押液とした。残
ったセロソルブアセテートの量はそれぞれ初めに加えた
1゛の48チ、76チ、98チであった。これらのセロ
ソルブアセテートの沸点はそれぞれ144.5〜145
.1℃、1563℃、191.5℃であり、従来知られ
たPDASの溶剤である。なお沸点117.7℃のれ一
ブチルアルコールを溶剤とした場合に、硝酸銀で塩素イ
オン検出できなくなるまで減圧蒸留した後の残量は45
%であp、本発明において使用することが可能である。Three types of solutions were prepared by combining 100 parts by weight of an ethyl alcohol solution of 0.2% HC1, 15% PDAS with 150.130.100 parts of methyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, and butyl cellosolve acetate, respectively, at a pressure of 3.0. It was distilled under reduced pressure at mxHg and 25°C to obtain a push liquid in which chloride ions could not be detected with silver nitrate. The remaining amounts of cellosolve acetate were 48, 76, and 98, respectively, of 1 inch added at the beginning. The boiling points of these cellosolve acetates are 144.5 to 145, respectively.
.. 1°C, 1563°C, and 191.5°C, and is a conventionally known PDAS solvent. When using butyl alcohol with a boiling point of 117.7°C as a solvent, the remaining amount after vacuum distillation with silver nitrate until chloride ions can no longer be detected is 45%.
% p can be used in the present invention.
しかし沸点107.9℃のイソブチルアルコールは同様
な処理において残量は25%に減少するので、適当では
ない。However, isobutyl alcohol, which has a boiling point of 107.9° C., is not suitable because the residual amount decreases to 25% in the same treatment.
沸点110℃以上の有機溶剤として、上記アルコール系
、セロソルブアセテート系の他、セロソルブ系、ケトン
系の溶剤がPDASを溶解する。ポリシルセスキオキサ
ンプレポリマーと混合するときはケトン系溶剤は斧のプ
リマーとの相溶性に問題があるので、上記の他はセロソ
ルブ系溶剤を使用することが好ましい。なおPDAS単
独処理の場合にはケトン系および、アルコール系と混合
した芳香族炭化水素を使用することができる。As organic solvents with a boiling point of 110° C. or higher, in addition to the above-mentioned alcohol-based and cellosolve acetate-based solvents, cellosolve-based and ketone-based solvents dissolve PDAS. When mixed with the polysilsesquioxane prepolymer, it is preferable to use cellosolve solvents in addition to the above, since ketone solvents have a problem in compatibility with the ax primer. Note that in the case of PDAS treatment alone, aromatic hydrocarbons mixed with ketones and alcohols can be used.
本発明において、PDASと混合して使用できるポリセ
スキオキサンプレポリマーには特に限定はない。このプ
レポリマーはR’ S ICZ3をたとえばメチルイソ
ブチルケトンに溶解し、トリエチルアミンのような塩酸
受容体を加えた後、水を加えてR’5i(OH)3を得
る。R′5I(OH)3は加熱して重縮合させ、水洗後
濃縮し、メチルアルコ−kf)ような沈殿剤を加えれば
、白色粉末のHO+R’S i Ot 5+nHを得る
。R’5I(OR)3の重縮合は塩酸を加えて促進する
が、R’ S i Cl3から出発するときはHct
を含むのでその必要はない。In the present invention, there are no particular limitations on the polysesquioxane prepolymer that can be used in combination with PDAS. This prepolymer is prepared by dissolving R' S ICZ3 in, for example, methyl isobutyl ketone, adding a hydrochloric acid acceptor such as triethylamine, and then adding water to give R'5i(OH)3. R'5I(OH)3 is polycondensed by heating, washed with water, concentrated, and a precipitant such as methyl alcohol (kf) is added to obtain a white powder of HO+R'S i Ot 5+nH. The polycondensation of R'5I(OR)3 is promoted by adding hydrochloric acid, but when starting from R' S i Cl3, Hct
There is no need to do so as it includes
ポリシルセスキオキサンプレポリマーの分子構造は、R
’ S I C13から出発すると、式(3)のように
比較的完全な梯子構造を有しく特開昭53−88099
号参照)、R’5i(OR)3から出発すると、式(4
)のように部分的な梯子構造を有する(武田志部仙、日
本化学会第44回秋厚年会予稿集It、582頁、昭和
56年)。The molecular structure of polysilsesquioxane prepolymer is R
' Starting from S I C13, it has a relatively complete ladder structure as shown in formula (3).
), and starting from R'5i(OR)3, the formula (4
) (Shibe Takeda, Proceedings of the 44th Autumn Annual Meeting of the Chemical Society of Japan, It, p. 582, 1982).
式中、Rは低級アルキル基または一部水素基であシ%
R’は低級アルキル基まkはフェニル基である。ms
nは正の整数であり、mは0を含む10以下であること
が多い。In the formula, R is a lower alkyl group or a partially hydrogen group.
R' is a lower alkyl group, and k is a phenyl group. ms
n is a positive integer, and m is often 10 or less, including 0.
本発明においては、これらのポリシルセスキオキサンプ
レポリマーをPDASと混合することができ、その混合
比に限定は々い。いずれにしてもPOASに塩化水素が
含まれている。従って、バブルメモリー装置の保護膜ま
たは配線層間絶縁材料とするには、重縮合中に塩化水素
を逐出す必要がある。なお他の気相成長法による無機酸
化膜と併用することが望ましい。たとえば、アルミニウ
ム配線上に本発明の樹脂層を形成し、その土建気相成長
酸化膜を形成するか、またはその逆としてもよい。ある
いはリフトオフ法によって気相成長膜を配線層間に形成
した上に本発明の樹脂層を形成することもできる。In the present invention, these polysilsesquioxane prepolymers can be mixed with PDAS, and there are many limitations on the mixing ratio. In any case, POAS contains hydrogen chloride. Therefore, in order to use it as a protective film for a bubble memory device or as an interlayer insulation material for wiring, it is necessary to drive out hydrogen chloride during polycondensation. Note that it is desirable to use it in combination with an inorganic oxide film formed by other vapor phase growth methods. For example, the resin layer of the present invention may be formed on aluminum wiring, and a civil vapor phase growth oxide film may be formed thereon, or vice versa. Alternatively, the resin layer of the present invention can be formed on a vapor-phase growth film formed between wiring layers by a lift-off method.
(6)実施例および比較例
重量平均分子量(グル・や−ミエーションクロマトグラ
フによる標準ポリスチレンへの換算値以下Mwという)
が5400、官能基がエトキシ基と水酸基であって、そ
のモル比が約1:1であるPDAS15.5重量%およ
びHCl O,2重量%を含む、エチルアルコールとイ
ソブチルアルコールの重量比的3:2の混合溶液(以下
PDAS溶液−■という)100gを、500ゴ用ナス
型フラスコに採b、ブチルセロソルブアセテート84.
5gを加えた。(6) Examples and Comparative Examples Weight average molecular weight (hereinafter referred to as Mw, the value converted to standard polystyrene by glu-ya-meation chromatography)
is 5400, the functional groups are ethoxy groups and hydroxyl groups, and the molar ratio thereof is about 1:1. 15.5% by weight of PDAS and 2% by weight of HClO, in a weight ratio of 3: 100g of the mixed solution of 2 (hereinafter referred to as PDAS solution-■) was placed in a 500 g eggplant-shaped flask, and 100 g of the mixed solution of 84.
Added 5g.
このフラスコを傾斜45°に設置し、ロータリーエバポ
レータに接続して60 rpmで回転させた。The flask was set at a 45° inclination, connected to a rotary evaporator, and rotated at 60 rpm.
次にフラスコを浴温25℃の水槽に入れ、真空ポンプで
2.0朋Hgに減圧し、4時間減圧処理した。Next, the flask was placed in a water bath with a bath temperature of 25° C., and the pressure was reduced to 2.0 Hg using a vacuum pump, and the pressure was reduced for 4 hours.
ドライアイス・エチルアルコールのトラップに、溶剤s
6. i gが捕集され、残留溶液は98.4Fであ
シ、これにn−ブチルセロソルブアセテート1.6Iを
加えてPDAS溶液−■を得た。Add solvent s to the dry ice/ethyl alcohol trap.
6. The residual solution was collected at 98.4 F, and 1.6 I of n-butyl cellosolve acetate was added thereto to obtain a PDAS solution-■.
このPDAS溶液−111,Fを試験管にとシ、0.1
重量%硝酸銀水溶液2gを加えて振盪したところ、やが
て有機相の管壁に白色グル化物が付着し、水相は銀の茶
褐色を帯びたが、白色沈殿を生じなかった。また残シの
PDAS溶液−■を水で抽出洗浄し、フラスコ中で燃焼
させたあとチオシアン酸第二水銀法によって塩素を検出
しようとしたが、検出限界の10 ppm以下であった
。Pour this PDAS solution-111,F into a test tube and add 0.1
When 2 g of a wt % silver nitrate aqueous solution was added and the mixture was shaken, a white gluide eventually adhered to the tube wall of the organic phase, and the aqueous phase became silvery brown, but no white precipitate was formed. Further, the remaining PDAS solution (1) was extracted and washed with water, burned in a flask, and an attempt was made to detect chlorine using the mercuric thiocyanate method, but the detection limit was 10 ppm or less.
仙方PDAS溶液−11gを試験管にとり、0.1重量
%硝酸銀1滴を加えて振盪したところ、白濁した。さら
に水とn−ブチルセロソルブアセテートを3gずつ加え
たところ、白濁はほとんど水相に移行し、PDASグル
化物は有機相に移行した。When 11 g of Senga PDAS solution was placed in a test tube and 1 drop of 0.1% by weight silver nitrate was added and shaken, it became cloudy. Furthermore, when 3 g each of water and n-butyl cellosolve acetate were added, most of the cloudiness was transferred to the aqueous phase, and the PDAS glumate was transferred to the organic phase.
エピタキシャル層の形成されたガーネット基板上に10
0OXのSjO□層を形成し、さらに4000Xのアル
ミニウム配線層を形成したウェハ上に、PDAS溶液−
112000rpm、30秒間回転塗布し、300℃、
60分間窒素中で熱処理した。次に800Xの5I02
層をスパッタリング形成し、さらに4000 Xの/’
P−マロイ膜を形成してパターニングし、この上に再び
PDAS溶液−■を同様に回転塗布した上、10000
Xの5i02層をスミ4ツタリング形成し、電極取出し
用窓をあけてバブルメモリ装置を得た。この装置は温度
80℃、相対湿度95%において電圧24Vを印加した
バイアス試験を1000時間継続したが、動作不良は生
じなか−た。10 on the garnet substrate on which the epitaxial layer was formed.
A PDAS solution was applied to the wafer on which a 0OX SjO□ layer and a 4000X aluminum wiring layer were formed.
Spin coating at 112,000 rpm for 30 seconds, 300°C,
Heat treated in nitrogen for 60 minutes. Next is 800X 5I02
The layer was sputtered and further heated at 4000 x/'
A P-malloy film was formed and patterned, and then a PDAS solution -■ was again spin-coated in the same manner, and then 10000
A bubble memory device was obtained by forming a 5i02 layer of X in four zigzag shapes and opening a window for taking out the electrodes. This device was subjected to a bias test at a temperature of 80° C. and a relative humidity of 95% with a voltage of 24 V applied for 1000 hours, but no malfunction occurred.
比較例I
PDAS溶液−■の代わシにPDAS溶液−■を300
Orpm、30秒間回転塗布した他は、実施例1と同様
にしてバブルメモリ装置を得た。Comparative Example I 300% of PDAS solution -■ instead of PDAS solution -■
A bubble memory device was obtained in the same manner as in Example 1, except that spin coating was performed using Orpm for 30 seconds.
このバブルメモリ装置を実施例1と同様にしてバイアス
試験したところ、・り−マロイの変質が原因と思われる
動作不良を起こした。また配線層間のみにPDAS溶液
−■を塗布、熱処理したバブルメモリ装置は、同様のバ
イアス試験500時間後に動作不良を起こした。When this bubble memory device was subjected to a bias test in the same manner as in Example 1, a malfunction occurred, which was thought to be caused by the deterioration of the l-rimalloy. In addition, a bubble memory device in which PDAS solution -2 was applied and heat-treated only between wiring layers exhibited malfunction after 500 hours of a similar bias test.
実施例2
Mwが3100、官能基がメチル基と水酸基でそのモル
比が約2:1であるPDAS 11.4重:!i!−チ
、HCl 0.05重量%を含む、メチルエチルケトン
とメチルアルコールの重量比的7:3の混合溶液である
PDAS溶液−I[1100gに、n−ブチルセロソル
ブアセテート20g、n−ブチルアルコール6gを加え
、実施例1と同様に減圧蒸留してPDAS溶液■溶液穴
。Example 2 PDAS with Mw of 3100 and functional groups of methyl group and hydroxyl group in a molar ratio of about 2:1 11.4 times:! i! PDAS solution-I, which is a mixed solution of methyl ethyl ketone and methyl alcohol at a weight ratio of 7:3 containing 0.05% by weight of HCl [20 g of n-butyl cellosolve acetate and 6 g of n-butyl alcohol were added to 1100 g; The PDAS solution was distilled under reduced pressure in the same manner as in Example 1.
この溶液に、Mw 10600の式(4)で表わされる
、R′がメチル基、Rがエチル基と水酸基で、そのモル
比が約1:1、mの平均値が2.1であるポリセスキオ
キサンプレポリマー11.4.!i+と、n−ブチルア
ルコール5.8gを加して溶解させ、混合シリコーン溶
液−■を得た。この液は実施例1と同様なチオシアン酸
第二水銀法による試験によって塩素イオンを検出できな
かった。Into this solution was added a polysesquinone having a Mw of 10,600 and represented by the formula (4), where R' is a methyl group, R is an ethyl group and a hydroxyl group, the molar ratio is about 1:1, and the average value of m is 2.1. Oxane prepolymer 11.4. ! i+ and 5.8 g of n-butyl alcohol were added and dissolved to obtain a mixed silicone solution -■. No chloride ions were detected in this liquid when tested using the same mercuric thiocyanate method as in Example 1.
(13)
この混合シリコーン溶液を使用して、6000rpm
s 90秒回転塗布したことの他は、実施例1と同様に
してバブルメモIJ@Ffを得、実施例1のバイアス試
験1000時間後も不良は発生しなかった。(13) Using this mixed silicone solution, 6000 rpm
Bubble memo IJ@Ff was obtained in the same manner as in Example 1, except that spin coating was performed for 90 seconds, and no defects occurred even after 1000 hours of the bias test of Example 1.
比較例2
PDAS溶液−■の代わシに、PDAS溶液−■を使用
した他は、実施例2と同様にしてポリセスキオキサンプ
レポリマーを混合した混合シリコーン溶液−■を使用し
た。この溶液はチオシアン酸第二水銀法による試験によ
って塩素イオンを検出できなかった如実施例2と同様な
バブルメモリ装置を製造し、実施例1のバイアス試験を
行なったところ、120時間後に電食不良が発生した。Comparative Example 2 A mixed silicone solution -■ in which a polysesquioxane prepolymer was mixed was used in the same manner as in Example 2, except that PDAS solution -■ was used instead of PDAS solution -■. No chloride ions could be detected in this solution when tested using the mercuric thiocyanate method.A bubble memory device similar to that in Example 2 was manufactured and subjected to the bias test of Example 1, and electrolytic corrosion was observed after 120 hours. There has occurred.
(14)(14)
Claims (1)
保護膜とするパルプメモリ装置の製法であって、テトラ
アルコキシシランを塩化水素の存在下で加水分解し重縮
合させてポリジアルコキシシランプレポリマー(以下P
DASという )とし、とのPDASを沸点110℃以
上の有機溶剤に溶解し、得た溶液を温度40℃以下かつ
圧力5+n+nHg以下の減圧として塩化水素を逐出し
、得たPDAS溶液単独、またはこの溶液にポリシルセ
スキオキサンプレポリマーを混合した溶液をガーネット
基板上の金属膜に塗布し、便化させ、シリコーン樹脂の
絶縁材料および/または保護膜を形成することを特徴と
する、バブルメモリ装置の製法。 2、前記有機溶剤に溶解したPDAS O,5〜3.0
mHHの減圧下で塩化水素を逐、出す、特許請求の範囲
第1項記載の製法。 3、温度5〜28℃で塩化水素を逐出す、特許請求の範
囲第1項または第2項記載の製法。 4、有機溶剤は、メチルセロソルブアセテート、エチル
セロソルブアセテート、n−ブチルセロソルブアセテー
ト、メチルセロソルブ、エチルセ日ソルプ、またはn−
ジチルアルコールである、特許請求の範囲第1項ないし
第3項のいずれかに記載の製法。[Scope of Claims] 1. A method for manufacturing a pulp memory device using silicone resin as an interlayer insulation material and a protective film, which comprises hydrolyzing and polycondensing tetraalkoxysilane in the presence of hydrogen chloride. Alkoxysilane prepolymer (hereinafter P
PDAS (referred to as DAS) is dissolved in an organic solvent with a boiling point of 110°C or higher, and the resulting solution is reduced to a temperature of 40°C or lower and a pressure of 5+n+nHg or less to remove hydrogen chloride, and the resulting PDAS solution alone or this solution is A method for manufacturing a bubble memory device, characterized in that a solution containing a polysilsesquioxane prepolymer is applied to a metal film on a garnet substrate, and the solution is applied to a metal film on a garnet substrate to form an insulating material and/or a protective film of silicone resin. . 2. PDAS O dissolved in the organic solvent, 5-3.0
2. The method according to claim 1, wherein hydrogen chloride is removed under reduced pressure of mHH. 3. The manufacturing method according to claim 1 or 2, wherein hydrogen chloride is expelled at a temperature of 5 to 28°C. 4. The organic solvent is methyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, n-butyl cellosolve acetate, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, or n-
The manufacturing method according to any one of claims 1 to 3, which is dithyl alcohol.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57222078A JPS59112487A (en) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | Manufacture of bubble memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57222078A JPS59112487A (en) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | Manufacture of bubble memory device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59112487A true JPS59112487A (en) | 1984-06-28 |
JPS6228511B2 JPS6228511B2 (en) | 1987-06-20 |
Family
ID=16776772
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57222078A Granted JPS59112487A (en) | 1982-12-20 | 1982-12-20 | Manufacture of bubble memory device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59112487A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8992806B2 (en) | 2003-11-18 | 2015-03-31 | Honeywell International Inc. | Antireflective coatings for via fill and photolithography applications and methods of preparation thereof |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5495132A (en) * | 1978-01-13 | 1979-07-27 | Hitachi Ltd | Production of magnetic bubble memory unit |
JPS5522293A (en) * | 1978-08-07 | 1980-02-16 | Hitachi Ltd | Magnetic bubble memory element |
JPS5545159A (en) * | 1978-09-27 | 1980-03-29 | Hitachi Ltd | Magnetic bubble memory element |
JPS57122508A (en) * | 1981-01-23 | 1982-07-30 | Nec Corp | Manufacture magnetic bubble device |
-
1982
- 1982-12-20 JP JP57222078A patent/JPS59112487A/en active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5495132A (en) * | 1978-01-13 | 1979-07-27 | Hitachi Ltd | Production of magnetic bubble memory unit |
JPS5522293A (en) * | 1978-08-07 | 1980-02-16 | Hitachi Ltd | Magnetic bubble memory element |
JPS5545159A (en) * | 1978-09-27 | 1980-03-29 | Hitachi Ltd | Magnetic bubble memory element |
JPS57122508A (en) * | 1981-01-23 | 1982-07-30 | Nec Corp | Manufacture magnetic bubble device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8992806B2 (en) | 2003-11-18 | 2015-03-31 | Honeywell International Inc. | Antireflective coatings for via fill and photolithography applications and methods of preparation thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6228511B2 (en) | 1987-06-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4999397A (en) | Metastable silane hydrolyzates and process for their preparation | |
EP2250213B1 (en) | Silsesquioxane resins | |
EP0112168B1 (en) | Silicone-type coating resin solution and its preparation | |
US7294584B2 (en) | Siloxane-based resin and a semiconductor interlayer insulating film using the same | |
US5085893A (en) | Process for forming a coating on a substrate using a silsesquioxane resin | |
US5045592A (en) | Metastable silane hydrolyzates | |
KR20090128386A (en) | Silicone coating composition | |
JP2008503331A (en) | Method for synthesizing hybrid metal oxide material and method for using the same | |
CN101937172A (en) | Positive radiation line sensitive compositions, cured film, interlayer dielectric and forming method thereof, display element and siloxane polymer | |
CN104356413A (en) | Preparation method of anti-atomic oxygen polyimide hybrid films containing octamer cage-shaped silsesquioxane structures | |
KR101253487B1 (en) | Method for forming anti-reflective coating | |
KR101690159B1 (en) | Switchable Antireflective Coatings | |
KR20180020273A (en) | Wet etching method and etching solution | |
JP5587791B2 (en) | Silsesquioxane resin | |
CN103443711A (en) | Composition for forming pattern reversal film, and method for forming reversal pattern | |
JPS59112487A (en) | Manufacture of bubble memory device | |
JP2009059651A (en) | Silsesquioxane based insulating material | |
US4842901A (en) | Coating solution and process for producing glassy layers | |
JP2008524651A (en) | Method for forming antireflection film | |
JPH0129056B2 (en) | ||
TW201232182A (en) | Positive photosensitive resin composition and permanent resist | |
JPH03260653A (en) | Pattern forming method and photosensitive resin composition | |
JP2001291427A (en) | Electrically insulating thin film forming resin composition and method of forming electrically insulating thin film | |
JP4100050B2 (en) | Method for forming conductive pattern | |
JPS5958053A (en) | Silicone resin solution and its preparation |