JPS5888653A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS5888653A JPS5888653A JP56188043A JP18804381A JPS5888653A JP S5888653 A JPS5888653 A JP S5888653A JP 56188043 A JP56188043 A JP 56188043A JP 18804381 A JP18804381 A JP 18804381A JP S5888653 A JPS5888653 A JP S5888653A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thickness
- probe
- gate
- echo
- circuit
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/38—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by time filtering, e.g. using time gates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は超音波を用いて被検材中に存在する欠陥を検
査するのく二用いられる超音波探傷装置に関するもので
ある。斜角探傷において欠陥検出用のゲートを被検材の
［ｗｊ領領域設定し。
査するのく二用いられる超音波探傷装置に関するもので
ある。斜角探傷において欠陥検出用のゲートを被検材の
［ｗｊ領領域設定し。
そのゲート内のエコーを刊足し欠陥の力無を判別する方
式が通常実施されている。この場合欠陥検出用ゲートは
、たとえＶｉ仮検材がパイプの場合、公称外径と公称肉
厚で設定位置を算出し設定される。しかし、実際は被検
材であるパイプの肉厚は同一サイズのパイプにおいても
当然（１） ある程度変ｗＪＴるため公称肉厚値（二より設定された
欠陥検出用のゲート位置がかならずしも最通でない。こ
の発明は前述の肉厚変動に応じて欠陥検出用ゲートを設
定する探湯表直を提案するもので、以下図（＝従って詳
述する。
式が通常実施されている。この場合欠陥検出用ゲートは
、たとえＶｉ仮検材がパイプの場合、公称外径と公称肉
厚で設定位置を算出し設定される。しかし、実際は被検
材であるパイプの肉厚は同一サイズのパイプにおいても
当然（１） ある程度変ｗＪＴるため公称肉厚値（二より設定された
欠陥検出用のゲート位置がかならずしも最通でない。こ
の発明は前述の肉厚変動に応じて欠陥検出用ゲートを設
定する探湯表直を提案するもので、以下図（＝従って詳
述する。
、１７１図に８いて、（１ｊは斜角探触子、（２）は肉
厚測定用探触子であり、この説明では垂直探触子の場合
である。
厚測定用探触子であり、この説明では垂直探触子の場合
である。
（３）は探傷クープルで探触子により受信された被検材
からの反射エコーを伝４Ｔる為のケーブルである。斜角
探触子（１）と肉厚測定用探触子（２）は保持ｍ栴（４
）により保持されパイプ（５）に接触媒質である水（７
）を介して接している。パイプ（５）は矢１ＩＪ（６１
のように回転し、斜角探触子ＩＩからはパイプ（５ｊの
円周方向へ超音波＋８１が投射され・肉厚測定用探触子
（２）からはパイプの中心部へ向って超音波（９）が投
射される。
からの反射エコーを伝４Ｔる為のケーブルである。斜角
探触子（１）と肉厚測定用探触子（２）は保持ｍ栴（４
）により保持されパイプ（５）に接触媒質である水（７
）を介して接している。パイプ（５）は矢１ＩＪ（６１
のように回転し、斜角探触子ＩＩからはパイプ（５ｊの
円周方向へ超音波＋８１が投射され・肉厚測定用探触子
（２）からはパイプの中心部へ向って超音波（９）が投
射される。
叫は送受信回路であり、送信クロック発生回路ｕＬｌの
クロックによって探触子（１１，（２１に送部ハルスを
送る。肉厚側に用探触子（２）によって受信（２） されたエコーはケーブル（３）を介して送受信回路（Ｉ
ｔｌｌを通りＳエコービーム路程ａｔ＋］定回路ａ２１
とＢエコービーム路程測定回路へ送られる。これらのビ
ーム路程測定回路には、あらかじめＳエコーゲート発生
回路（１３１およびＳエコーゲート発生回路（１５＋に
よって作られたＳエコーゲート（以下Ｓゲートという）
およびＳエコーゲート（以下Ｓゲートという）か入力さ
れて、これらのゲート内のエコートのビーム路程を０１
１Ｊ頑する。
クロックによって探触子（１１，（２１に送部ハルスを
送る。肉厚側に用探触子（２）によって受信（２） されたエコーはケーブル（３）を介して送受信回路（Ｉ
ｔｌｌを通りＳエコービーム路程ａｔ＋］定回路ａ２１
とＢエコービーム路程測定回路へ送られる。これらのビ
ーム路程測定回路には、あらかじめＳエコーゲート発生
回路（１３１およびＳエコーゲート発生回路（１５＋に
よって作られたＳエコーゲート（以下Ｓゲートという）
およびＳエコーゲート（以下Ｓゲートという）か入力さ
れて、これらのゲート内のエコートのビーム路程を０１
１Ｊ頑する。
御」足されたＳエコーとＳエコーのビーム路程をよ、肉
厚算出回路Ｏｂ）へ込られ、ここで肉厚を算出する。昇
出された肉厚は肉厚算出回路（１’／Ｊへ送りれ、ここ
であらかじめ設定入力回路しＤより設定された肉厚と御
」足した実肉厚との差を昇出し。
厚算出回路Ｏｂ）へ込られ、ここで肉厚を算出する。昇
出された肉厚は肉厚算出回路（１’／Ｊへ送りれ、ここ
であらかじめ設定入力回路しＤより設定された肉厚と御
」足した実肉厚との差を昇出し。
ケート仙止回１１６ Ｌｌｉｌｌへ送られる。ここであ
らかじめ設定されたゲートを肉厚算出回路（１１）より
送られる肉厚補正値に対応した分たけゲートを変化させ
て、欠陥判定面４（ｌａｌＮ’送る。−万、糾角探刑子
（１）で受は取られたエコーｔま、ケーブル（３）を介
して、送受１ぎ回５ｉ５０ＩＪ＋を通り、欠陥刊屋回路
徹（３） でゲート補正回帖曲で補正されたゲート内のエコーをあ
らかじめ設定されたｆ（Ｉ屋しベルで刊足し、欠陥の有
無を衣ボ圓略（４）へ衣ボする。
らかじめ設定されたゲートを肉厚算出回路（１１）より
送られる肉厚補正値に対応した分たけゲートを変化させ
て、欠陥判定面４（ｌａｌＮ’送る。−万、糾角探刑子
（１）で受は取られたエコーｔま、ケーブル（３）を介
して、送受１ぎ回５ｉ５０ＩＪ＋を通り、欠陥刊屋回路
徹（３） でゲート補正回帖曲で補正されたゲート内のエコーをあ
らかじめ設定されたｆ（Ｉ屋しベルで刊足し、欠陥の有
無を衣ボ圓略（４）へ衣ボする。
矛２図は肉厚深場触子の超音波と被検材の関係を図示し
たもので、矛３図はそれに対応するエコーとゲートの図
である。探眉子（２）から被検材であるパイプへ投射さ
れた超音波は矢１−４Ｊ ｔ３Ｌｌｌのようにパイプの
表面で反射し−ＭｉＩＳｈＬバイブの中へ入り矢印３１
１のようにパイプ關の１面で反射し。
たもので、矛３図はそれに対応するエコーとゲートの図
である。探眉子（２）から被検材であるパイプへ投射さ
れた超音波は矢１−４Ｊ ｔ３Ｌｌｌのようにパイプの
表面で反射し−ＭｉＩＳｈＬバイブの中へ入り矢印３１
１のようにパイプ關の１面で反射し。
それぞれ探触子へもどる。
パイプの肉厚が厚くなり、パイプ（至）の場合には内面
で反射するエコーは矢Ｉ：ｌ−１６４のよう（二なる。
で反射するエコーは矢Ｉ：ｌ−１６４のよう（二なる。
矛３図には前述の表面エコー、内面で反射するエコー（
以下底面エコーという）の様子ヲホしたもので、 １４
ｉＪは送信パルス、 ＋４］１は表面エコー（以下Ｓエ
コーという） （４２ａ）は矛２図のパイプ婚の場合の
１回日の低面エコー（以−ＦＢＳエコーいう） 、 （
４３ｂ））ま矛２図のパイプ図の場合の２（ロ）目のＳ
エコーである。
以下底面エコーという）の様子ヲホしたもので、 １４
ｉＪは送信パルス、 ＋４］１は表面エコー（以下Ｓエ
コーという） （４２ａ）は矛２図のパイプ婚の場合の
１回日の低面エコー（以−ＦＢＳエコーいう） 、 （
４３ｂ））ま矛２図のパイプ図の場合の２（ロ）目のＳ
エコーである。
（４５１は送信クロックで、（掴はＳゲートであり、
ｆ４７）（４） はＳゲートである。
ｆ４７）（４） はＳゲートである。
（４８）はＳエコービーム路程、（４ωはＢ ｘ コー
が（４２ａ）の場合のＳエコービーム路程、（イ）はＳ
エコーが（４ｚｂ）の場合のＳエコービーム路程である
。実際肉ＪｉはＳエコービーム路程とＳエコービーム路
程の差であり、Ｓエコーが（４２ａ）の時は（５２１が
実肉厚となる。
が（４２ａ）の場合のＳエコービーム路程、（イ）はＳ
エコーが（４ｚｂ）の場合のＳエコービーム路程である
。実際肉ＪｉはＳエコービーム路程とＳエコービーム路
程の差であり、Ｓエコーが（４２ａ）の時は（５２１が
実肉厚となる。
肉厚偏差は肉厚６２１と６１）の差關であり、これが矛
２図のパイプ關と（財）の肉厚差に相当する。
２図のパイプ關と（財）の肉厚差に相当する。
矛４図をま斜角探触子から牙２図と同様の肉厚の異るパ
イプ（１超音波を投射した時の図で、鏡は探触子（１１
からパイプの円周方向へ投射された超音波がパイプの表
面で反射したエコーでパイプ（２）の時はパイプの中に
入った超音波シま内面に当って反射し、外面欠陥（６１
）で反射し１日の矢印のようにもと来た経路を通って探
触子へ帰る。肉厚の厚いパイプ（財）の時は欠陥ので反
射し、矢印（財）のように探触子へ戻る。
イプ（１超音波を投射した時の図で、鏡は探触子（１１
からパイプの円周方向へ投射された超音波がパイプの表
面で反射したエコーでパイプ（２）の時はパイプの中に
入った超音波シま内面に当って反射し、外面欠陥（６１
）で反射し１日の矢印のようにもと来た経路を通って探
触子へ帰る。肉厚の厚いパイプ（財）の時は欠陥ので反
射し、矢印（財）のように探触子へ戻る。
矛５図は前述の欠陥１１１１２で反射したエコーとゲー
トの図である。（４ａ）は送信パルス、 １７Ｇはパイ
プ（５） の表面で反射したエコー（７０ａ） のエコーが牙４図
の欠陥ｆ６１１で反射したエコーであり、（７０ｂ）
ｌｉ欠陥ＩＺで反射したエコーである。（４最は送信パ
ルス。
トの図である。（４ａ）は送信パルス、 １７Ｇはパイ
プ（５） の表面で反射したエコー（７０ａ） のエコーが牙４図
の欠陥ｆ６１１で反射したエコーであり、（７０ｂ）
ｌｉ欠陥ＩＺで反射したエコーである。（４最は送信パ
ルス。
ｑＢはオ・４図のパイプ（至）の時の欠陥用ゲート（以
下Ｆゲートという）で、前述の肉厚探触子（二より肉厚
測定し、肉厚が厚くなった場合は、Ｆゲートの立ち上り
を■の値からｆｆ５１へ、また、Ｆゲートの巾を１′７
４１の値からｔ７６）へ変更し、欠陥を正しくゲート内
でつかまえるようになる。肉厚が薄くなった場合は、前
述とは逆にＦゲートの立ち上りと巾を変更し、被検材で
あるパイプの実肉厚が変っても、Ｆゲートは欠陥を正し
くつかまえるこになる。
下Ｆゲートという）で、前述の肉厚探触子（二より肉厚
測定し、肉厚が厚くなった場合は、Ｆゲートの立ち上り
を■の値からｆｆ５１へ、また、Ｆゲートの巾を１′７
４１の値からｔ７６）へ変更し、欠陥を正しくゲート内
でつかまえるようになる。肉厚が薄くなった場合は、前
述とは逆にＦゲートの立ち上りと巾を変更し、被検材で
あるパイプの実肉厚が変っても、Ｆゲートは欠陥を正し
くつかまえるこになる。
以上述べたごとく、この発明によれば被検材であるパイ
プの実際の肉厚が、あらかじめ設定されている肉厚と異
ったとしても、適正な位置に欠陥検出用ゲートを自動的
（−補正することができる。
プの実際の肉厚が、あらかじめ設定されている肉厚と異
ったとしても、適正な位置に欠陥検出用ゲートを自動的
（−補正することができる。
牙１図はこの発明の構成を示すブロック構成（６）
図、刃・２図は肉厚探触子と被検月の関係を示す図、牙
３図は牙２図の関係におけるエコーとゲートの関連を示
す図、牙４図は斜角探触子と被検材の関係を示す図、１
・５図は牙４図の関係におけるエコーとゲートの関連を
示す図である。 （１）は斜角探触子、（２）は肉厚側定用探慰子、（３
）はケーブル、（４）は保持機禍、（５）は被検材であ
るパイプ、（７）は水、（８）は斜角探触子のビームの
方向。 （９）は肉厚探触子のビームの方向２口０）は送受信回
路、 （Ｉｌｌは送信クロック発生回路、 （１２１は
Ｓエコービーム路程測定回路、 ＋１３１はＳエコ・−
グーｌ−発生回路、圓はＳエコ−ビーム路程６＋１１定
Ｂエコーゲート発生回路， Ｏ６ｔは肉厚算出回路。 （＋７１は肉厚偏差回路， ａａｌは欠陥閣定回ｖＬ
ｆ＋９）はゲート補正回路，（イ）は表示回路， （２
１＋）ま設定入力回路， （３０）はパイプの表面で反
則するエコー、 Ｃ（１）及び（３２）はパイプの内面
で反射するエコー、Ｇ３）及び（財）はパイプ、顛）は
送信パルス、 ＋４１１μ表面エコー（４２ａ）及び（
４３ａ）及び、 （４３ａ）及び（４３ｂ）及び（４
４）は底面エコー、（伺は送信クロック、囮はＳゲート
。 （７） （４７）はＳゲート、囮はＳエコービーム路程，（佃及
び脇はＳエコービーム路程，田はパイプの表面で反射し
たエコー、 ＋６１１及び（財）は外面欠陥，關及び（
財）は外面欠陥で反射したエコー、 Ｃ１０は表面で反
射したエコー、 （７０ａ）及び（７ｏｂ） ｔま外面
欠陥で反射したエコー、６１）及び＠は欠陥用ゲートで
ある。 なお図中同一あるいは相当部分にｔま同一符号を付して
示しである。 代理人 葛 野 信 − （８） 卑２ω ネ３ ρ キ ４ Ｑ 朱Ｓ □□□
３図は牙２図の関係におけるエコーとゲートの関連を示
す図、牙４図は斜角探触子と被検材の関係を示す図、１
・５図は牙４図の関係におけるエコーとゲートの関連を
示す図である。 （１）は斜角探触子、（２）は肉厚側定用探慰子、（３
）はケーブル、（４）は保持機禍、（５）は被検材であ
るパイプ、（７）は水、（８）は斜角探触子のビームの
方向。 （９）は肉厚探触子のビームの方向２口０）は送受信回
路、 （Ｉｌｌは送信クロック発生回路、 （１２１は
Ｓエコービーム路程測定回路、 ＋１３１はＳエコ・−
グーｌ−発生回路、圓はＳエコ−ビーム路程６＋１１定
Ｂエコーゲート発生回路， Ｏ６ｔは肉厚算出回路。 （＋７１は肉厚偏差回路， ａａｌは欠陥閣定回ｖＬ
ｆ＋９）はゲート補正回路，（イ）は表示回路， （２
１＋）ま設定入力回路， （３０）はパイプの表面で反
則するエコー、 Ｃ（１）及び（３２）はパイプの内面
で反射するエコー、Ｇ３）及び（財）はパイプ、顛）は
送信パルス、 ＋４１１μ表面エコー（４２ａ）及び（
４３ａ）及び、 （４３ａ）及び（４３ｂ）及び（４
４）は底面エコー、（伺は送信クロック、囮はＳゲート
。 （７） （４７）はＳゲート、囮はＳエコービーム路程，（佃及
び脇はＳエコービーム路程，田はパイプの表面で反射し
たエコー、 ＋６１１及び（財）は外面欠陥，關及び（
財）は外面欠陥で反射したエコー、 Ｃ１０は表面で反
射したエコー、 （７０ａ）及び（７ｏｂ） ｔま外面
欠陥で反射したエコー、６１）及び＠は欠陥用ゲートで
ある。 なお図中同一あるいは相当部分にｔま同一符号を付して
示しである。 代理人 葛 野 信 − （８） 卑２ω ネ３ ρ キ ４ Ｑ 朱Ｓ □□□
Claims (1)
- 斜角探傷用探触子と肉厚測定用探触子とを備え、上記肉
厚測定用探触子で測定した被検材の実際の肉厚にもとづ
き上記斜角採湯用探触子の探傷用ゲートを自動的に補正
することを特徴とする超音波探ｇｂ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56188043A JPS5888653A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56188043A JPS5888653A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5888653A true JPS5888653A (ja) | 1983-05-26 |
Family
ID=16216673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56188043A Pending JPS5888653A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5888653A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0158289A2 (de) * | 1984-04-12 | 1985-10-16 | Nukem GmbH | Vorrichtung zur Prüfung von elektrisch leitenden Gegenständen mittels Ultraschall |
| JPS62153743A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-08 | Tokyo Keiki Co Ltd | 探触子回転型超音波探傷装置 |
| JPS62153744A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-08 | Tokyo Keiki Co Ltd | 探触子回転型超音波探傷装置およびその運転方法 |
| JPH02227662A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Mitsubishi Electric Corp | 鋼板用超音波自動探傷装置 |
| JP2006313115A (ja) * | 2005-05-09 | 2006-11-16 | Jfe Engineering Kk | 超音波探傷方法及び装置 |
| JP2006313110A (ja) * | 2005-05-09 | 2006-11-16 | Jfe Engineering Kk | 超音波探傷方法及び装置 |
| JP2015025660A (ja) * | 2013-07-24 | 2015-02-05 | 株式会社ディスコ | 割れ厚さ検出装置 |
| RU2589491C1 (ru) * | 2012-12-20 | 2016-07-10 | Ниппон Стил Энд Сумитомо Метал Корпорейшн | Способ исследования дефектов и устройство для исследования дефектов |
| RU2598777C1 (ru) * | 2013-01-22 | 2016-09-27 | Ниппон Стил Энд Сумитомо Метал Корпорейшн | Способ коррекции позиции дефекта |
| RU2606452C1 (ru) * | 2013-02-01 | 2017-01-10 | Ниппон Стил Энд Сумитомо Метал Корпорейшн | Способ контроля дефектов и устройство контроля дефектов |
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|---|---|---|---|---|
| JPS5051384A (ja) * | 1973-09-05 | 1975-05-08 | ||
| JPS5135383A (en) * | 1974-09-20 | 1976-03-25 | Nippon Kokan Kk | Choonpatanshoki no geetojidosetsuteihoho |
-
1981
- 1981-11-24 JP JP56188043A patent/JPS5888653A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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| JPS62153743A (ja) * | 1985-12-27 | 1987-07-08 | Tokyo Keiki Co Ltd | 探触子回転型超音波探傷装置 |
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| JPH0515223B2 (ja) * | 1985-12-27 | 1993-03-01 | Tokimetsuku Kk | |
| JPH0515224B2 (ja) * | 1985-12-27 | 1993-03-01 | Tokimetsuku Kk | |
| JPH02227662A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Mitsubishi Electric Corp | 鋼板用超音波自動探傷装置 |
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| RU2589491C1 (ru) * | 2012-12-20 | 2016-07-10 | Ниппон Стил Энд Сумитомо Метал Корпорейшн | Способ исследования дефектов и устройство для исследования дефектов |
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