JPS5882170A - ２導体式回線の短絡および開放を検出する試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 ｌ）発明の分野（発明の属する部門） 本発明は、２導体式回線の第１区間と第２区間の間に挿
入された試験装置に関して、短絡回路と開放回路の位置
を探索するシステムに係るものである。第１線の区間の
他端は、あらかじめ定められた電圧を発生する手段とあ
らかじめ定められた周波数をまずはじめに検出する手段
とに選択的に接続される。試験装置は、回線内電流を検
出する回線導体の一方に直列接続された手段、あらかじ
め定められた電圧を検出する回線導体と並列となってい
る手段、および回線内電流を変調する第１次周波数をも
つ信号を発生する手段とからなる。

本発明はこめタイプの実施態様に限定したものではなく
、これ以降、電話加入者施設に電話交換を結合する電話
加入者の２導体式回線に生ずる障害位置の検出について
述べる。本試験システムによって検出される障害は２種
類に分類される。第１の種類は、２つの回線導体間およ
び回線導体の一方と接地間の短絡回路、ループ、絶縁不
良あるいは低抵抗分流に対処するものである。第２の種
類は、回線導体の少なくとも一方の開放回路、破壊、断
線、あるいは高抵抗に対処するものである０、２）先行
技術の説明 前述で定義した試験システムは、１９８２年１月１３日
に出願の米国特許出願Ｓ／Ｎ　３３９，０４７号に、「
２導体式回線における断線と短絡位置を検出する試験シ
ステム」と題して記述されている。

。、、）ユ、７ケエア。よ、う、や、よあ、ヵ、。ｉ定
められた電圧レベルとあらかじめ、定められた電流レベ
ルとに敏感に反応する。この電圧と、この電流とに対す
る反応のそれぞれは、この装置が回線導体の他端の第２
の電流検出手段を構成している場合には、それぞれ周波
数信号）１　、Ｉ　Ｆ２　、あるいは多分Ｆ、となって
現われる。本システムにおける電圧と電流の閾値は高く
、たとえば′、電圧の閾値は直流の２３０ポル）［なっ
ている。金属の連続性は常に必要で、本試験装置中の周
波数発生手段の励起には、遠隔処理設備の劣化の原因と
なる高電圧と、加入者側施設の第２回線区間端部にある
同類の手段を必要とする。

電圧の閾値検出に基づく他の装置は、米国で市販されて
いる。

ＣＩＩ）ＣＯＭＭ　（遠隔回線切断器）試験装置は、回
線導線上の対接地電圧１３０ヒルトの直流パルスによっ
て始動される。このパルスは加秒間で短絡回路を立ち上
げ、それから、次の加秒間で開放回路を立ち上げ、そし
て静止位置に復帰する。

ＴＩＩ（局切離し）試験装置は、回線導線上の対接地電
圧が１３０ボルトの直流電圧パルスによって起動される
。この装置は、回線導体の供給バイアスに依存して、無
限大かまたは１００にΩに及ぶ値のいずれか一方の回線
導体間インピーダンスと共に、回線導体中のどの１本も
５秒間の間無限大の対接地インピーダンスを帯び、それ
から静止状態に復帰する。

５ＥＩＳＣＯＲ（ループ状回路検証器）試験装置は、０
ボルトと４８ボルト電池電圧のバイアス反転を交換時に
検出し、この反転に応答して、供給バイアスが初期状態
に復帰するような時間に至るまで９００Ｈｚの信号音を
発信する。

ＭＥＬＣＯ（遠隔切離し装置）試験装置は、回線導体上
の対接地電圧１３０ボルトの直流電圧パルスによって起
動され、２本の回線導体間に１５秒間の間１０にΩの抵
抗と直列に４７μＦの容量（キャパシティ）を供給し、
それから静止状態に復帰する。

これら試験装置には、すべて金属的連続性と高い起動電
圧を要するという欠点がある。さらに、これらには、加
入者施設端に通常１００オーム以下という「良好な」接
地接続か、または、回線同体の記号化、あるいは、この
両方の制約を同時に満たすかのいずれかを必要とする。

発明の目的 １−−−―■―■■■−１−−−−−□ｍ１−１−１−
−・４−−□１１Ｈ−−−１−一本発明の主要な目的は
、２導体式回線中の短絡回路および、または、開放回路
の位置を検出する試験システムを提供することであり、
先行の試験装置によってもたらされる欠点を取り除くこ
とである。

本発明のほかの目的は、既存の試験装置を起動するには
金属的な連続性を必要とするが、それを不要とすること
であり、こうしてはっきりと次の２つの様相をもたらす
： １）試験集中点に起動手段を付加し、分散点あるいは加
入者局の交換機には付加しないことを可能とする。これ
は、副次的に導入上の節約をもたらすことを意味する。

２）加入者回線をデジタル化する際の試験装置の運用特
性を維持する。

本発明のほかの目的は、加入者端末で利用される電圧と
比較して起動電圧が低くなっている試験装置を提供する
ことであり、加入者施設端の接地接続を不要とし、回線
の記号化を必要としないことである。

発明の要約 前述を考慮すると、本試験システムは次の点で特゛徴が
ある。すなわち、検出された回線内電流に反応してその
電流を検出する手段によるか、あるいは、検出された前
述のあらかじめ定められた電圧に反応してその電圧を検
出する手段によるかのいずれかによって作動される電圧
供給手段、上記の回線中で第２の周波数をもつ信号を検
出するために供給手段によって提供される手段、および
、上記の第２の周波数の検出に反応して上記の第１の周
波数を発生する手段と交差して上記の第１の回線区間を
ループ状とする切換え手段とから本試験装置が構成され
ている点と、さらに、上記の第２の周波数をもつ信号を
発生するために上記の第１の回線区間の上記他端に選択
的に接続される手段を提供されている点である。

簡潔に表現すると、本発明による障害の位置検出の背後
の原理は、本試験装置に関する限り、第１の回線区間の
上記他端にある回線試験台または架から発信される第２
の周波数で信号を検出すること、および、その他端方向
の試験装置から第１の周波数で信号を発信することから
なる。試験位置、つまり、試験台が笛１の周波数で信号
を受信するということは、障害が第２の回線区間中、あ
るいは、回線設備負荷中にあるということを意味する。

電流の検出手段は、その端子間に並列に接続された抵抗
、コンデンサ、２つの反対極性のダイオード、および、
回線内電流があらかじめ定められた閾値よりも小さい時
に供給手段と回線間の電流を遮断する第１の手段とから
構成することができる。

電圧の検出手段は、上記のあらかじめ定めらねた電圧で
第１のコンデ、ンサを充電する手段、および、第１のコ
ンデンサが充電されない時に供給手段と回線間の電流を
遮断する第２の手段とから構成することができる。これ
らの電圧検出手段には、第２の周波数で信号を検出する
目的で第１のコンデンサが充電された結果として供給手
段の活動時間を延長したあとに、第２の電流遮断手段の
励起時間を延長するための時間合わせ手段をさらに含ま
せることができる。この時間合わせ手段は、本質的には
、第１コンデンサに充電し、第１コンデンサが充電され
てしまったあとに第２の電流遮断手段を放電させる第２
のコンデンサからなる。

供給手段は、１本、または、回線導体（２本）に接続し
た第１の入力端子と、電圧または電流検出手段によって
作動される第２の入力端子とを含む。第２の入力端子は
、入力端子の電圧との中間の電圧を搬送する端子ととも
に、第２の周波数検出手段の供給端子を構成する。

好適な実施例では、第２の周波数検出手段は、第２の周
波数に移行される帯域フィルタと、切換え手段を制御す
る直流電圧にろ波された信号を変換するための手段とか
らなる。多分第２周波数で音声信号を検出することによ
って予見しない切換えが起ることをなくするために、ろ
波された信号があらかじめ定められた時間を超えた時に
、切換え手段を制御するための時間合わせの手段もこれ
らに含めることができる。

好ましくは、この切換え手段は、第１の回線区間を第２
の回線区間か、または、第１の周波数発生手段かのいず
れかに選択的に接続するスイッチを制御する継電器と、
第２の周波数の検出に応答して継電器を励起するための
手段とからなる。

回線導体のバイアスの問題を取り除くために、２つの第
１の対向する端子が回線導体に接続され、２つの第２の
対向する端子が電圧検出手段の端子に接続される第１の
ダイオ−１ド・フリンジを本試験装置は含んでいる。こ
のダイオード・ブリッジの第２端子の１つは、供給手段
と第２周波数検出手段とに共通な入力端子と、切換え手
段中に含まれる継電器の励起手段の供給端子とになる。

第１の周波数発生手段は、切換え手段によって制御され
るループ化のあとの回線内電圧からの第２の供給手段、
一旦第２の供給手段が供給をしてしまうと第１の周波数
で発振する手段、および、発振手段によって送出された
第１の周波数信号によって回線内電流を変調する第２の
供給手段とに並列接続した手段とから構成することがで
きる。

以下余白 好適な実施態様の説明 図１を参照すると、試験システムの好適な実施態様が描
かれている。このシステムは、局所電話交換のような切
換え設備に付属した試験切換え手段Ｅに第１端ｅ、　、
　ｅ２が接続されており、電話加入施設■または私設自
動分岐交換（ＰＡＢＸ）のような負荷回路の入力端子に
第２端■１，１□が接続されている２本の導体Ｌ＋、Ｌ
２をもつ電話加入回線りに係るものである。試験装置り
は、２対の端子ｄｅ、。

ｄｅ２とｄｉ、　、　ｄｉ２を有し、回線り上に直列に
接続されている４極子からなる。これは回線りを端子対
ｅ、　−ｅ、、とｄｅ、　−ｄｅ２間に位置する第１区
間ｓ１と端子対ｄｉ、−ｄｉ２と１１１２間に位置する
第２区間ｓ２に分割する。

切換設備Ｅがら、当該回線りは、局所切換えによって作
動するすべての電話加入回線の中から選択され、短絡回
路または開放回路のよろな障害を検出するようにこの特
定回線を特徴付けるある電気量を測定する。

これ以降見てい（ように、本発明を実施している試験装
置りの動作には、現在使用されている試験台で利用可能
な切換設備にある′電圧発生器ＶＧ、試験装置りを作動
させるために回線に沿って転送される第２のあらかじめ
定められた周波数Ｆで信号を生成するための発生器ＦＧ
、および、その作動に反応して試験装置りによって発信
される回線に沿って第１のあらかじめ定められた周波数
ｆで信号を検出するための検出器ｆＤとを必要とする。

第１と第一２の周波数は電話信号周波数帯域内にあり、
たとえばｆ　＝　８００　ＨｚとＦ　＝　３４００　Ｈ
ｚの値をとる。そこで、周波数検出器ｆＤは、切換設備
Ｅに置かれた拡声器または電話の受話器で構成すること
ができる。

図２は、本発明を実施している完全な試験装置りめブロ
ック図を示している。それは、次のものからなるニ ー　回線導体Ｌ１上の端子ｄｅ、と６１１間と回線導体
Ｌ２上の端子ｄｅｌと６９２間にそれぞれ直列に挿入さ
れ、回線内の短絡回路を検出するようにした２つの電流
検出回路１１と１２ −　試験装置の端子−ｄｅ、とｄｅ２間に並列に挿入さ
れ、回線内の開放回路を検出するようにした電圧検出回
路２ −　電流検出回路１．または１□によって検出される弱
電流に反応するか、電圧検出回路２によって検出される
あらかじめ定められた電圧ステップに反応するかのいず
れかで作動される供給回路３−　供給回路３によって励
起されると、発生器ＦＧによって発信される第２の周波
数Ｆを検出することができる周波数検出回路４ −　試験装置端子ｄｉ１とｄｉ２の間に選択的に並列に
接続された周波数発生器５ それから、 −第２の周波数Ｆの検出に反応して回線上に第１の周波
数ｆを発信するように、周波数発生器５を越えて回線り
をループ化するための周波数検出回路４によって制御さ
れる切換え回路６回路１．．１２．２と３の詳細が図３
に示されている。

まずはじめに、同一である電流検出回路１．と１゜の１
つに対する説明からはじめる。このような回路１は、そ
の端子１０と１１間に並列に接続された抵抗１２、コン
デンサ１３．２つの対向極性をもつダイオード１４と１
５、およびＮＰＮ型バイポーラ（双極性）トランジスタ
１６のベース−エミッタ接合で構成される。コンデンサ
１３は、交流またはパルス状電流間で抵抗１２を減結合
する。ダイオード１４と１５は、供給回路３に対する電
子的スイッチの役目をしているトランジスタ１６を保護
する。事実、トランジスタ１６のコレクタはダイオード
１７を越えて供給回路３の負バイアスがかけられた端子
３−に接続されている。

電圧検出回路２は、バイアスがかけられ、ダイオードＤ
、　、　Ｄ、　、　Ｄ、　、　Ｄ４からなる整流ブリッ
ジの中央の腕に在来の方法で挿入されている。ダイオー
ドＤ１０カソード（陰極）とダイオードＤ２のアノード
（陽極）は、ダイオードＤ、のアノードとダイオードＤ
４０カソードが回線導体Ｌ２上の端子ｄｅ２に接続され
ている回線導体り、上の端子ｄｅ、に接続されている。

ダイオードＤ２とり、のカソードは回路２の正バイアス
がかけられた端子２＋に接続されるが、ダイオードＩ）
、とＤ４のアノードは回路２の負バイアスがかけられた
端子２−に接続される。

端子２＋と２−の間で、電圧検出回路２は電圧ステップ
検出回路加を構成し、それはＰＮＰ型バイポーラトラン
ジスタ２００とコンデンサ２０１を周回する構造となっ
ており、トランジスタ２１０と時間合わせコンデンサ２
１１を周回して作成された電子的「スイッチ」２１を制
御する。

回路加はトランジスタ２００のベース回路を構成し、端
子２Ｆと２−間に、次の要素を直列に含んでいる。すな
わち、抵抗２０２、電界効果トランジスタ２０３のドレ
イン−ソース接合、抵抗率型電圧分圧器２０４、単純ダ
イオード２０５、ツェナー・ダイオード２０６、および
、コンデンサ２０１βある。抵抗２０２とトランジスタ
２０３０ドレインに共通な端子は、単純なダイオード２
０７を越えてトランジスタ２００のベースに接続されて
いる。ＦＥＴ　）ランジスタ２０３のゲートは、分圧器
２０４の電圧分圧点に接続されている。回路加は端子２
＋と２−間に第２の並列のり／り（中継線）も含んでお
り、そこにはエミッタ抵抗２０８、ＰＮＰ型バイポーラ
・トランジスタ２００のエミッターコレクタ接合、コレ
クタ抵抗２０９とコンデンサ２１１がある。電子的スイ
ッチ２１は、さらに、抵抗２１２をもっていてその１つ
の端子が抵抗２０９とコンデンサ２１１に共通な端子に
接続されている抵抗性入力回路、負端子２−と抵抗２１
２に共通な端子間のバイアス抵抗２１３、および、ＮＰ
Ｎ型バイポーラ・トランジスタ２１０のベースを含んで
いる。トランジスタ２１０は共通エミッタ、回路の構成
、つまり、そのエミッタが端子２−に接続され、そのコ
レクタがツェナー・ダイオード２１５と単純なダイオー
ドク１４を越えて供給回路の負端子３−に接続されてい
る構成を有する。

供給回路３は、端子２＋と３−間に並列に接続された、
一方で゛はツェナー・ダイオードＩと、他方では電界効
果トランジスタ３１のドレイン−ソース接合、抵抗率型
電圧分圧器３２と電位差計３３を含む直列回路を含んで
いる。トランジスタ３１のゲートは、分圧器３２の電圧
分圧点に接続されている。供給回路には４つの出力端子
がある。出力端子の第１対は、周波数検出回路４中の−
これ以降見ていくように明確にいうと４３０　、４４０
と４５０の一供給積分回路についており、トランジスタ
３１のソースと電圧分圧器３２とに共通な端子３＋と、
　ダイオードよ）のアノードとダイオード２１５とスイ
ッチ２１に付楓しているダイオード１７とそれから１６
の３つのダイオードのアノードとに共通な端子３−とか
らなる。第２の出力端子対は、端子２＋と、電圧分圧器
３２と電位差計３３とに共通な端子からなり、°この電
位差計が、周波数検出回路４０入力端子４０と４１とに
第２の周波数Ｆで受信される信号を送り込むようになっ
ている。

回路４が周波数Ｆを検出するために供給回路３を作動さ
せる原理は次のとおりである：切換え設備Ｅで検出され
た回線内の障害が短絡回路であれば、電流検出回路１１
と１□の一方または双方が、第２回線区間Ｓ２中で試験
装置りを越えた位置に短絡回路があるかどうかを調べる
のに使われる。回路１１は導体Ｌ１と接地間の明らかな
短絡回路として使われ、また、回路１２は導体Ｌ１２と
接地間の明らかな短絡回路として使われ、回路１１と１
２の両方は２つの回線導体り、とり１間の短絡回路とし
て使われる。

短絡回路の検出に関して、たとえば、電流検出回路１１
を以下に参照する。電流が回線り中を流れていて、短絡
回路が加入者施設側の区間Ｓ２にあるとすると、電流は
ダイオードＤ２またはＤ３を通り、トランジスタ３１の
ドレイ／−ソース接合、電圧分圧器３２、抵抗３３とダ
イオード１７を通過してトランジスタ１６をオンとする
。この場合には、供給回路１３が励起される。電圧は周
波数検出回路４の端子３　＋１３−　＋　４０と４１に
現われる。電圧分圧器３２の電位差計は、ツェナー・ダ
イオードＩによって過電圧に対して保諌されるトランジ
スタ３１を通って流れる電流に対する調整器の役割を果
たす。電位差計３３ハＶ（４１）＝（Ｖ（３＋）＋Ｖ（
３））／２テｈルヨ５　す端子４１における電圧につい
て端子３＋と３−間の電圧、　の平衡を保つようになっ
ている。端子３＋と３−にわたる電位差Ｖ［３＋）　　
Ｖ（３−）　ハｑ際ＶＣハ４ｙｔ？ルトに等しくなるよ
うに選択される。

電圧検出回路２は、開放回路が試験装置りを越えて加入
者施設側の第？回線ｓ２に位置しているかどうかを調べ
るのに利用される。検出手順の当初では、回路は位置Ｅ
には電圧が供給されずに、コンデンサ２０１と２１１は
充電されない。！圧ステップが°発生器ＶＧによって回
線ｅ、　、　ｅ２の端部に加圧されると、ダイオードＤ
２またはＤ３、端子２＋、抵抗２０２、トランジスタ２
０３のドレイン−ソース接合、電圧分圧器２０４、ダイ
オード２０５、および、ツェナー・ダイオード２０６を
通って、第１のコンデンサ２０１がゆっくりと低い一定
の電流で充電される。

抵抗２０２を通過する電流は、トランジスタ２００をオ
ンとし、そのトランジスタのコレクターエミッタ電流は
第２のコンデンサ２１１を充電し、抵抗２１２と２１３
を経由して、本質的にはトランジスタ２１０からなる電
子的スイッチを閉じてトランジスタ２１Ｏヲオンとする
。第１のコンデンサ２ｏ１力十分に充電されるような時
間に至るまで、第２０コンデンサ２１１は充電された状
態を保たれる。それから、コンデンサ２０１の充電の完
了に呼応して、トランジスタ２００はオフとなり、第２
のコンデンサ２１１は要素２１２　、２１３と２１０に
放電する。

こうしてコンデンサ２１１は、トランジスタ２１０のあ
らかじめ定められた導通時間を延長する時間合わせの役
割を演する。そこで、この時間の長さは第１のコンデン
サ２０１の充電時間プラス第２のコンデンサ２１１の放
電時間との合計に等しい。この予め定められた時間の間
中、短絡回路の検出の場合のように、電流は、要素Ｄ２
またはり８．３１゜３２と３３を通って流れ、こうして
供給回路３を作動させ、また、要素２１４　、２１５．
２１０および、Ｄ、またはり、を通って流れる。回線り
中に第２の周波数Ｆにおける信号が存在しない場合は、
端＋″３＋、１と４１の電圧は約１分間という時間の間
実用的に利用可能となる。スイッチ２１に付属している
ツェナー・ダイオード２１５はρポルトというような閾
値電圧を持ち、電圧が端子２＋と３−を越えて加圧され
ないように防止し、ツェナニ・ダイオード（資）に前方
向バイアスをかけ、そこで分流供給回路３と、従って周
波数検出回路４に、第２周波数Ｆで信号を受信する間に
前方向バイアスをかけることになる。

さて、図４を参照してみよう。

第２の周波数検出回路４は、本質的には、その入力端子
４０　、４１と出力端子４２との間に、増幅回路４３、
帯域フィルタ４４と電圧比較回路４５とから構成されて
いる。３回路４３　、４４と４５は、供給回路３の端子
３＋と３−を経由して印加されるそれぞれ演算増幅器４
３０　、４４０と４５０のまわりに配置されている。

この演算増幅器は非常に小さい電流を流し、１つの好適
な実施態様では±１．２ボルトである非蕾に低い供給電
圧で作動する。

増幅器４３０の逆入力４３０−は、入力抵抗４３２と直
列に接続したコンデンサ４３１を経由して端子４０に結
合している。増幅器回路４３は高入力インピーダンスに
対し高い利得を有する。つまり、増幅器４３０の抵抗性
フィードバック・ループは抵抗ブリッジを構成するＴネ
ットワーク（網）で構成され、このＴには、増幅器４３
０からの出力と端子４１に接続されたその直接入力４３
０＋との間に２つの抵抗４３３と４３４が、負入力４３
０−と抵抗４３３　、４３４　に共通な端子と°の間の
抵抗４３５と共に含まれている。

回路４３の利得は比率（（抵抗値４３３＋抵抗値４３５
）／（抵抗値４３２））に依存し、実際には２０ｄＢに
等しい。

回路４３０入力インピーダンスは、画線に沿って転送さ
れる信号が影響を受けないようにＩＭΩより大きい。回
路４３かもの出力は、典型的な底値電圧が±１．５ボル
トである増幅器４３０の出力と端子４１間の２列の対向
極性となっているダイオード４３６と４３６′によって
保護される。増幅器４３からの出力信号は、第２の増幅
器４４０への入力のＯＮ状態を避けるために、抵抗４３
７と４３８を含みコンデンサ４３９に結合されている電
圧分圧ブリッジの向うのフィルタ４４０入力４４１に取
り込まれる。

フィルタ４４は、多重負帰還（フィードバック）型の第
２次の在来の帯域のものである。その転送帯域は第２の
周波数Ｆ　＝　３４００　Ｈｚを中心としており、この
周波数は切換え設備Ｅ中の周波数発生器から送出される
。中心周波数Ｆに対するフィルタ４４のＱ−要因（ファ
クタ）と利得は１０に等しい。

フィルタ４４は３つの抵抗４４２，４４３と４４４、お
よび、コンデンサ４４５と４４６から構成される。抵抗
４４２の端子の１つは、フィルタ４４の入力４４１に接
続されているが、他の端子はコンデンサ４４５と４４６
、および、抵抗４４３に接続されて℃・る。増幅器４４
０の逆入力４４０−は、コンデンサ４４５と抵抗４４４
の１方の端子とに接続されている。増幅器４４０の正端
子４４０＋は端子４１と抵抗４４３の柚の端子に接続さ
れている。コンデンサ４４６と抵抗４４４の他の端子は
増幅器４４０の出力４４７に接続されている。ベフィル
タ４４の出力４４７における信号は、全波整流器４６に
送出されるみこの整流器は、２つのコンデンサ４６０と
４６１．２つのダイオード４６２と４６３、および、抵
抗４６４とからなる。コンデンサ４６０の端子の１つは
フィルタ４４の出力端子４４７に結合しているが、その
ほかの端子はダイオード４６２０カソードとダイオード
４６３のアノードに結合している。ダイオード４６３は
抵抗４６４に直列に接続されている。ダイオード４６２
のアノードとコンデンサ４６１の一方の端子は端子４１
に接続されている。抵抗４６４とコンデンサ４６１の他
の端子は電圧比較回路４５０入力抵抗４５１に接続され
ている。そこで、整流器４６は、出力コンデンサ４６１
の充電を遅延させるのに役立つ抵抗４６４の存在とは別
個の在来型のものである。この結果として、この整流器
は、時間区間があらかじめ定められた、実際には３０ｍ
５に等しい値を超える第２の周波数で単一の信号を整流
するだけである。これらの条件によって、試験装置が周
波数Ｆで音声信号によって励起されるのを防いでいる。

電圧比較回路４５は、増幅器４５０の直接人力４５０＋
に供給される基準電圧ｖＲと、抵抗４５１を経由して増
幅器４５０の逆入力４５０−に供給される整流された入
力電圧Ｖｉを比較する。基準電圧ｖＲは、それぞれ供給
端子３＋と３−に接続された２つの抵抗４５２と４５３
に共通な端子に現われる。抵抗４５２と４５３は非常に
高い抵抗値を持っていて、基準電圧■Ｒが約０．７（Ｖ
（３＋）　　Ｖ（３−））Ｋ’ＷＬ＜ナルヨ５にソれら
の相は概略ＩＭΩとなっている。

増幅器４５０のシイ−ドパツク・ループは入力逆端子４
５０−を横切っており、その出力端子４２は対向極性と
なっているダイオード゛の２列からなっていて、その各
々は単純なダイオード４５４．４５５とツェナー・ダイ
オード４５６と４５７からなる。ツェナー・ダイオード
４５６と４５７は、過負荷リミッタとして作動し、単純
なダイオード４５４と４５６は高い抵抗値を有する。フ
ィードバックの抵抗がダイオードの抵抗の逆数であるの
で、増幅器４５０は非常に高（・利得を有し、１ミリボ
ルト以下というぃ（ぶん低い電位差ｖＲ−Ｖｉでオンと
なる。基準電圧ＶＲが端子３＋と３−で供給電圧に依存
するので、それは±２ボルト以下にすることができるが
□、ある状況、たとえば長距離回線の施設■側の端部に
短絡回路があるような場合には、それでも増幅器４５０
を励起する。出力４２の電圧Ｖ。はそれゆえ電圧Ｖｉと
ｖＲを比較した結果であり、一般的には、回路４６と４
５によりフィルタ４４からの出力信号を直列電圧に変換
した結果である。もしＶｉ＜ＶＲ（これは第２の周波数
Ｆをもつ信号が検出されていないことを意味する）なら
ば、電圧■。はＶ（３）に等しく、もし少なくとも３０
０ｍ５続く第２の周波数Ｆで信号に応答してＶｉ＞ＶＲ
ならば■。はＶ［３＋）に等しい。後者の場合には、電
圧Ｖ。は、切換え回路６が周波数発生器５を経由して回
線をループし、第２の回線区間Ｓ２と施設置からで、き
ている回線ループを開放することができるように切換え
回路６を作動させるに十分な電圧になっている。

図４′に示した切換え回路６は本質的には継電器Ｒを励
起するための手段６０からなり、この継電器は、たとえ
ば図２．４と５に図示したように、区間Ｓ２の回線導採
の１つである導体Ｌ２中に挿入される中間状態なしの２
つの静止状態のスイッチ７を制御する。スイッチ７の可
動接点は、電流検出回路１□の端子１０とそのトランジ
スタ１６のベースに共通に接続してあり、試験装置りの
端子ｄｉ２は、周波数Ｆで信号が何も検出されていない
、つまり、Ｖｉ　＜　ＶＲの時に、図面に描いたように
、抵抗７１を通る。他方、検出されている周波数Ｆで信
号に応答して、ｖＲ’＞　鳩の時には、スイッチ７の可
動接点は、周波数発生器５の端子の１つ、５０を、抵抗
７１と回路１２を経由して、第１の回線区間Ｓ１の導体
Ｌ２に結合する。これは回線を発生器５を通ってループ
させ、この発生器の他の端子５１は試験装置りの端子ｄ
ｉ１と、図５に示したように抵抗７２を越えて電流検出
回路１．の端子１１とに結合される。これは、つまり、
第１の周波数ｆが切換え設備Ｅに向けて再送できるよう
にしであることになる。

図４に描いた実施態様のモードでは、切換え回路６は継
電器Ｒを制御するための回路６０を含んでいる。回路６
０にはＮＰＮ型バイポーラ６００とＰＮＰ型バイポーラ
６０１のトランジスタがある。トランジスタ６００のベ
ースは抵抗６０２を越えて端子４２に、ツェナー・ダイ
オード６０３を経由して端子３−にと接続されている。

トランジスタ６００のエミッタは単純なダイオード６０
４を経由して端子３−に接続されている。トランジスタ
６００のコレクタは、第２のトランジスタ６０１０ベー
スと、さらに、抵抗６０５の一方の端子と、他端子が端
子２＋とトランジスタ６０１のエミッタに接続されてい
る２つの直列に接続された単純なダイオード６０６とに
接続されている。ダイオード６０６と６０３は、トラン
ジスタ６００と６０１のベース−エミッタ電圧に対する
リミッタの役目をしている。電圧比較回路４５の出力４
２における電圧■。が高位の論理状態（ｖＩ＞ＶＲ）で
ある時、トランジスタ６００はオンとなり、そこで抵抗
６０５を通って流えるそのコレクタ電流がトランジスタ
、６０１をオンとする。端子２＋と２−間のトランジス
タ６０１の供給電圧−あるいは、ダイオードブリッジＤ
１からＤ４を通ったあとの電圧−が４ボルト以上の時、
この電流は、トランジスタ６０１のコレクタと端子２−
間に介在している継電器凡のコイルを励起する。継電器
凡のコイルと並列になっているのは、過電圧からこの継
電器を保護するツェナー・ダイオード６１と、さらに、
ＮＰＮ型バイポーラトランジスタ藺を導通状態にするこ
とができる抵抗６２と６３でできている電圧分圧ブリッ
ジである。トランジスタ６４０ベースは抵抗６２と６３
に共通な端子に接続されている。抵抗６２の他の端子は
ツェナー・ダイオード６１、継電器Ｒのコイルおよびト
ランジスタ６０１のコレクタに共通な端子に接続されて
いる。端子２−はトランジスタ６０１のエミッタと抵抗
６３の他の端子にも接続されている。トランジスタ６４
のコレクタは単一のダイオード６５を経由して端子３−
に接続されている。トランジスタ６４は、継電器Ｒが作
動中は試験装置りの供給電圧を保持する手段に等価とな
っている。

第１の周波数発生器５の好適な実施態様が図５に描かれ
ている。発生器５は、第１の周波数ｆ−８００）（ｚで
発振する３ステップ式マルチバイブレータのような在来
の発振器５２がらなっている。ツェナー・ダイオード５
３はマルチバイブレータ５２の供給端子５２＋と５２−
間の電圧を調整する。カソード・ツーナー・ダイオード
５３は抵抗５４を経由し七ダイオード・ブリッジ中の２
つのダイオードＤ６とＤ７のカソードに接続されている
。ツェナー・ダイオード５３のアノードは上記のダイオ
ード・ブリッジ中に含まれている他のダイオードＤ５と
Ｄ８のアノードに接続されている。ダイオードＤ、とＤ
６およびダイオードＤ７とＤ８の他の端子は、既述の発
生器５の端子５１と５０にそれぞれ接続されている。

マルチバイブレータ５２の出力は、ＮＰＮ型バイポーラ
トランジスタ５５を経由して回線りに結合しており、こ
のトランジスタ５５０ベース回路は、トランジスタ５５
のペースと、供給端子５２＋　１５２−　、および、マ
ルチパイプレーク５２の出力端子にとそれぞれ接続され
た３つの抵抗間、５７と郭からなる。トランジスタ５５
のエミッタは端子５２−に接続されている。トランジス
タ５５のコレクタは抵抗５９を経由し。

てダイオードＤ６とり、のカソードに接続されている。

マルチバイブレーク５２かもの出力電圧は、第２の周波
数Ｆで信号を検出することに呼応して第１の回線区間Ｓ
、の導体Ｌ２に端子間°を結合する時、つまり、第１の
回線区間Ｓ１に開放回路または短絡回路がない時に、第
１の周波数ｆで回線内電流を変調するトランジスタ５５
のベース−エミッタ電圧を変更する。とれは、つまり、
切換え設備Ｅで検出された開放回路または短絡回路が第
２回線区間Ｓ。

とを意味する。逆に、もし第１の周波数ｆが切換え設備
Ｅで周波数検出器ｆＤによって受信されなければ、障害
、つまり開放回路または短絡回路は、第１の回線区間、
ｓｌに存在するということである。

本発明を実施している試験システムは、さらに複数の試
験装置りがら構成されてもよ（、その数と挿入場所は回
線長とアクセス可能な位置に依存して選択する。障害位
置を識別するために、各試験装置に特有な励起周波数Ｆ
と応答周波数ｆは、互いに他の試験装置のそれとそれぞ
れ異なっている。そこでこの特性の配置によって区間ご
との障害検出ができるようになる。この場合、切換え設
備にある発生器ＦＧと検出器ｆＤは、試験装置の予め定
められた周波数Ｆとｆに対応する多重周波数のものであ
る。

は電話加入者ループに対す る試験システムを参照して記述したけれども、本発明を
実施してい、るシステムの動作原理は、２導体式回線型
の他の回路で、その一方の端部が、データ計測かデータ
記録機器、または、中央の装置によって回線の他端で遠
隔制御される類似の機器のような電子回路に接続されて
いるほかの回路における障害検出にも同等な適切さで適
用できる。

どんな２導体式回線の電話、テレックス、または、特殊
目的型の回線によってサービスを提供される負荷回路の
型式にかかわらず、それらの回線に沿って障害の検出を
行なう上記のような本発明の精神と範囲内にあるシステ
ムに対して特に言及することができる。

このような試験装置の拡大的変形もまた本発明の範囲内
にある。

【図面の簡単な説明】

図１は、電話加入回線中の障害を検出するために本発明
を実施し【いる試験システムの概略ブロック図である。 図２は、本発明を実施している完全な試験装置のブロッ
ク図である。図３は、好適な実施態様に基づく試験装置
中の電流検出回路、電圧検出回路、および電源回路の詳
細ブロック図である。図４は、試験袋４置中の第２の周
波数検出回路と切換え回路の詳細ブロック図である。図
５は、試験装置中の第１の周波数発生器の詳細なブロッ
ク図である。 特許出願人 特許出願代理人 弁理士　山　本　恵　−

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）２導体式回線の第１と第２の区間の間に挿入され
   た試験装置に関して、この第１の回線区間の他端があら
   かじめ定められた電圧を発生する手段と第１のあらかじ
   め定められた周波数を検出する手段とに選択的に接続さ
   れており、上記試験装置が、回線内電流を検出するため
   の上記の回線導体の一方に直列接続された手段、上記の
   あらかじめ定められた電圧を検出するための上記の回線
   導体と並列にな°つている手段、および、回線内電流を
   変調する上記λ第１の周波数をもつ信号を発生するため
   の手段とからなり、この試験装置が上記の電流検出手段
   によって検出される回線内電流に応答するか、または、
   上記の電圧検出手段によって検出されるあらかじめ定め
   られた電圧円応答するかのいずれかで作動される電圧供
   給手段、上記の回線中の第２の周波数をもつ信号を検出
   するための上記の供給手段によって提供される手段、さ
   らに、上記の第２の周波数の検出に応答して上記の第１
   の周波数を発生する手段を越えて上記の第１の回線区間
   をループするための切換え手段によって構成されている
   こと竺特徴を有し、さらにまた、上記の第２の周波数を
   もつ信号を発生するための上記の第１の回線区間の上記
   の他端に選択的に接続される手段を持っていることを特
   徴とする２導体式回線中の短絡回路および開放回路を検
   出するための試験システム。 （２）上記の電流検出手段が、その端子間に、並列接続
   となっている抵抗、コンデンサ、２つの対向極性となっ
   ているダイオード、および、回線内電流があらかじめ定
   められた閾値よりも小さい時に上記の供給手段と上記の
   回線間の電流を遮断するための手段とからなる上記特許
   請求の範囲第１項記載の試験システム。 （３）上記の電流遮断手段がそのベース−エミッタ接合
   が上記の電流検出手段の端子と並列になつており、その
   コレクタが上記供給手段の端子の１つに接続されている
   トランジスタを含んでいる上記特許請求の範囲第２項記
   載の試験システム。 （４）少なくとも１つのダイオードが上記トランジスタ
   のコレクタと上記供給手段の上記の端子との間に挿入さ
   れている上記特許請求の範囲第３項記載の試験システム
   。 （５）上記試験装置が上記回線の他の導体上に直列に接
   続されている上記特許請求の範囲第１項記載の試験シス
   テム。 （６）上記の電圧検出手段が、上記のあらか、じめ定め
   られた電圧で第１のコンデンサを充電する手段と、この
   第１のコンデンサが充電されていない時には上記の供給
   手段と上記の回線間の電流を遮断する手段とからなる上
   記特許請求の範囲第１項または第５項記載の試験システ
   ム。 （７）上記の充電手段が、上記の電圧検出手段の端子間
   の共通エミッタ回路に等価なトランジスタラ含み、この
   トランジスタのベース回路には上記の第１のコンデンサ
   と、上記の電流遮断手段な制御するこのトランジスタの
   コレクタとがある上記特許請求の範囲第６項記載の試験
   システト。 （８）上記のトランジスタのベース回路が、−Ｅ記の第
   １のコンデンサに直列接続された、抵抗、トランジスタ
   、調整可能な抵抗、単純なダイオードおよびツェナー・
   ダイオードのような要素の少な（とも１つを含んでいる
   上記特許請求の範囲第７項記載の試験システム。 （９）上記の電流遮断手段が、上記の充電手段のトラン
   ジスタの電流をベースが受は入れ、コレクターエミッタ
   接合が上記の供給手段の端子の１つと上記の電圧検出手
   段の端子の１つとに接続されているトランジスタを含ん
   でいる上記特許請求の範囲第７項記載の試験システム。 ００）上記電流遮断手段中の上記のトランジスタのコレ
   クタが少な（とも１つのツェナー・ダイオードを越えて
   上記の供給手段の上記の端子に接続されている上記特許
   請求の範囲第９項記載の試験システム。 （印　上記電圧検出手段が、上記の第１のコノデサが充
   電しおわったあとで上記の電流遮断手段の励起期間を拡
   張するための時間合わせ手段を構成する上記特許請求の
   範囲第６項記載の試験システム。 （１２）上記の時間合わせ手段が、上記の第１のコンデ
   ンサを充電し、この第１のコンデンサが充電しおわった
   あとで上記の電流遮断手段を越えて放電する上記特許請
   求の範囲第１１項記載の試験システム。 （１３）上記電圧検出手段が、上記の隼１のコンデンサ
   が充電しおわったあとで上記の第１のコンデンサを充電
   し、上記の電流遮断手段を越えて放電し、かつ、上記電
   圧検出手段の上記の端子と、上記充電手段中の上記トラ
   ンジスタのコレクタと上記電流遮断手段めトランジスタ
   のベースとに共通な端子との間に介在して接続されてい
   る第２のコンデンサを含む上記特許請求の範囲第９項記
   載のθａ　上記の供給手段が、上記の回線導体の一方に
   接続されｔ÷第１の入力端子と、上記の電流検出手段か
   または上記の電圧検出手段のいずれかによって作動され
   る第２の入力端子とからなる上記特許請求の範囲第１項
   記載の試験システム。 （１５）上記の供給手段が、トランジスタと２つの好適
   に調整可能な抵抗の入力端子間に直列になっており、ト
   ランジスタとこの抵抗の１つに共通な端子が、ほかの供
   給端子が励起を受ける上記の入力端子となっている上記
   の第２の周波数検出手段の供給端子を構成している上記
   特許請求の範囲第１４項記載の試験システム。 （１’６）　　上記供給手段がその入力端子間にツェナ
   ー・ダイオードを含んでいる上記特許請求の範囲第１５
   項記載の試験システム。 （１７）上記の第２の周波数検出手段が、どの第２の周
   波数に移行される帯域フィルタと、この切換え手段を制
   御す−る直流電圧にろ波された信号を変換するための手
   段とからなる上記特許請求の範囲第１項記載の試験シス
   テム。 （＋８１　　上記の変換手段が、上記のろ波された信号
   を整流された電圧に全波整流するための手段と、この整
   流された電圧が基準電圧よりも高い時に上記の制御電圧
   を入手するための供給手段に依存するこの基準電圧に上
   記の整流された電圧を比較するための手段とからなる上
   記特許請求の範囲第１７項記載の試験システム。 Ｑ９１　　上記の電圧比較手段が、そのフィードバンク
   ・ループに他のツェナー・ダイオードに対して対向極性
   となっている少なくとも１つのツェナー・ダイオードを
   それぞれがもっている２つの並行チャンネルがある増幅
   器を含んでいる上記特許請求の範囲第１８項記載の試験
   システム。 （２０１上記の第２の周波数検出手段が、上記のろ波さ
   れた信号の時間長があらかじめ定められた時間を超えた
   時に上記の切換え手段を制御するための時間合わせ手段
   を含む上記特許請求の範囲第１７項記載の試験システム
   。 （２１）上記整流手段が、その整流手段の出力のところ
   のダイオードとコンデンサの間に抵抗を含んでいる上記
   特許請求の範囲第１８項記載の試験システム。 （２？Ｉ　　上記の第２の周波数検出手段が、その入力
   のところで出力が対向極性となってい名ダイオードの２
   列によって保護される抵抗ブリッジ形式となっているＴ
   型フィードバック・ループと共に増幅手段を含んでいる
   上記特許請求の範囲第１７項記載の試験システム。 （２３）上記の増幅手段、上記の帯域フィルタ、および
   上記の変換手段の各々が上記の供給手段によって電源を
   供給される演算増幅器を構成する上記特許請求の範囲第
   ２２項記軟の試験システム。 （２４）上記切換え手段が、上記第１の回線区間を上記
   の第２の回線区間または上記の第１の周波数発生手段の
   いずれかに選択的に接続するスイッチを制御する継電器
   と、上記の第２の周波数信号の検出に応答してその継電
   器を励起するための手段とを構成する上記特許請求の範
   囲第１項記載の試験システム。 （２５１上記の第２の周波数検出手段が、その第２の周
   波数に移行される帯域フィルタと、ろ波された信号を上
   記の切換え手段を制御する直流電圧に変換する手段とで
   構成され、そこではこの継電器の切換え手段が上記の電
   流検出手段かまたは上記の電圧検出手段のいずれかによ
   って励起される上記の供給手段の端子から電源が供給さ
   れ、かつ、上記の直流電圧によって制御される第１のト
   ランジスタのステージと、上記回線によって電源が供給
   され、その充電が上記の′継電器のコイルになされ、か
   つ、上記の第１のトランジスタのステージによって制御
   される第２のトランジスタのステージとを構成する上記
   特許請求の範囲第２４項記載の試験システム。 （２６）上記の切換え手段が、継電器が励起されている
   時に上記の供給手段中の供給電圧を保持するための上記
   の第２のトランジスタのステージの出力に接続された第
   ３のトランジスタのステージを構成する上記特許請求の
   範囲第５項記載の試験システム。 （２７）上記切換え手段が、上記継電器のコイルと並列
   にツェナー・ダイオードを含んでいる上記特許請求の範
   囲第２４．５または２６項記載の試験システム。 （２８）その２つの第１の対向する端子が上記回線導体
   に接続され、その２つの第２の対向する端子が上記の電
   圧検出手段の端子に接続されており、ダイオード・ブリ
   ッジの上記の第２の端子の１つが、上記の供給手段と上
   記の第２の周波数検出手段に共通な入力端子と、上記の
   切換え手段中に含まれた継電器の励起手段の供給端子と
   に共通な入力端子を構成するダイオード・ブリッジを構
   成している上記−特許請求の範囲第１項記載の試験シス
   テム。 （２翅　　上記の第１の周波数発生手段が、上記の切換
   え手段によってループの制御が行なわれたあとの回線内
   電圧からの第２の供給手段、この第２の供給手段による
   次の供給を上記の第１の周波数で発振させる手段、およ
   び、この発振手段によって送出される上記の第１の周波
   数信号によって回線内電流を変調するための上記の第２
   の供給手段と並列に接続された手段とからなる上記特許
   請求の範囲第１項記載の試験システム。 （縁　　上記の第２の供給手段が、上記の発振手段の供
   給端子に相互接続され、かつ、上記の第１の周波数発生
   手段の端子間の抵抗と直列に接続されているツェナー・
   ダイオードを含む上記特許請求の範囲第四項記載の試験
   システム。 （３１）上記の発振手段がマルチノ（イブレータを構成
   している上記特許請求の範囲第四項記載の試験システム
   。 （３２）上記変調手段が、上記の第１の周波数発生手段
   あ４子間、挿い、□、ヵ、っ、□８．。え、□５によっ
   て送出される上記の第１の周波数信号によって制御され
   るトランジスタのステージを構成する上記特許請求の範
   囲第９項記載の試験システム。 （３３）ダイオード・ブリッジからなり、その２つの対
   向する端子が上記の切換え手段を通る回線導体に選択的
   に接続され、別の２つの対向する端子が、上記の第１の
   周波数発生手段の端子を構成している上記特許請求の範
   囲第四項記載の試験システム。 （３４）上記の第１の周波数検出手段が拡声器を含んで
   いる上記特許請求の範囲第１項記載の試験システム。 （３つ　上記の第１の周波数検出手段が電話器の受話器
   を含んでいる上記特許請求の範囲第１項記載の試験シス
   テム。 （列　上記の第１と第２の周波数が電話周波数帯域にあ
   る上記特許請求の範囲第１項記載の試験システム。 （３η　上記の２導体式回線に挿入された数個の試験装
   置からなり、それらの第１と第２の周波数が異なる上記
   特許請求の範囲第１項記載の試験システム。 ■　回線の第１と第２の区間の間に挿入された試験装置
   によって２導体式回線中の短絡回路を検出し、この第１
   の回線区間の他端があらかじめ定められた電圧を発生す
   るためめ手段と第１のあらかじめ定められた周波数を検
   出するための手段に選択的に接続され、この試験装置が
   回線内電流を検出するために上記の回線導体の１本に直
   列に接続される手段と、回線内電流を変調する上記の第
   １の周波数をもつ信号を発生する手段とからなり、この
   試験装置が、上記の電流検出手段によって検出さ′れる
   回線内電流に応答し、かつ、上記のあらかじめ定められ
   た電圧に対応して励起される電圧供給手段、上記回線で
   第２の周波数をもつ信号を検出するための上記の供給手
   段によって提供さｉする手段、および、上記の第２の周
   波数の検出に応答して上記の第１の周波数を発生する手
   段を越えて上記の第１の回線区間をループ状とする切換
   え手段とで構成されていることを特徴とし、さら＆（、
   上記の第２の周波数をもつ信号を発生するために上記の
   第１の回線区部の上記の他−に選択的に接続された手段
   を提供されて（−ることを特徴とする試験システム。 ０鴨　上記の試験装置が上記回線の他の導体に直列に接
   続された他の電流検出手段を含む上記特許請求の範囲第
   あ項記載の試験システム。 （４Ｉ　　回線の第１と第２区間の間に挿入された試験
   装置によって２導体式回線中の開放回路を検出し、その
   回線区間の他端があらかじめ定められた電圧を発生する
   手段と、あらかじめ定められた第１の周波数を検出する
   ための手段とに選択的に接続されて℃・て、この試験装
   置が、上記のあらかじめ定められた電圧を検出するため
   に上記の回線導体と並列になっている手段と１回線内電
   流を変調する上記の第１の周波数をもつ信号を発生する
   ための手段とからなり、上記の試験装置が、上記の電圧
   検出手段によって検出された上記のあらかじめ定められ
   た電圧に応答して励起される電圧供給手段、上記の回線
   中で第２の周波数をもつ信号を検出するための上記の供
   給手段によって供給される手段、および、上記の箇２の
   周波数の検出に応答して上記の第１の周波数発生手段を
   越えて上記の第１の回線区間をループ化する切換え手段
   とからなるという特徴を有し、さらに、上記の第２の周
   波数をもつ信号を発生するために上記の第１の回線区間
   の上記の他端に選択的に接続される手段を提供されてい
   るという特徴をもつ試験システム。