JPS5860390A - 硬質選別方法 - Google Patents
硬質選別方法Info
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- JPS5860390A JPS5860390A JP15997981A JP15997981A JPS5860390A JP S5860390 A JPS5860390 A JP S5860390A JP 15997981 A JP15997981 A JP 15997981A JP 15997981 A JP15997981 A JP 15997981A JP S5860390 A JPS5860390 A JP S5860390A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は交番磁界中に硬貨を置くことによって生ずる硬
貨内の渦電流損に起因するインダクタンス、損失抵抗を
周波数、位相変化、誘起電圧変化により捉えて硬貨の特
性を検出する磁気型の硬貨検査方法又は２つの電極間に
硬貨を置くことによって生ずる誘電率又は導電体の寸法
変化に起因する静電容量の変化を捉えて硬貨の特性を検
出する静電容量型等の硬貨検査方法にて硬貨を測定し、
硬貨の適正更には金種を判定する硬貨選別装置に関する
ものである。
貨内の渦電流損に起因するインダクタンス、損失抵抗を
周波数、位相変化、誘起電圧変化により捉えて硬貨の特
性を検出する磁気型の硬貨検査方法又は２つの電極間に
硬貨を置くことによって生ずる誘電率又は導電体の寸法
変化に起因する静電容量の変化を捉えて硬貨の特性を検
出する静電容量型等の硬貨検査方法にて硬貨を測定し、
硬貨の適正更には金種を判定する硬貨選別装置に関する
ものである。
従来の硬貨選別装置は前記硬貨検査器を検査用と基準用
の２つを配置して基準用には予め真硬貨を置き検査用に
検査すべき硬貨が経過した時両者の測定結果を比較する
ことでこの硬貨の適正を判定するか若しくは基準用の条
件として可変抵抗又は可変キャパシターを用いて基準用
硬貨の電気的条件と同一とするような方法が多く用いら
れていた。しかし最近此種の基準用硬貨若しくは該当調
節部品の代替物として半導体集積回路を用いた半導体メ
モリーを用いることによって真硬貨の場合の受入範囲情
報や許容誤差範囲やその他の測定条件等の情報を記憶せ
しめ硬貨検査情報と前述の基準値情報とを比較し投入貨
の真偽を判定する方法がある。
の２つを配置して基準用には予め真硬貨を置き検査用に
検査すべき硬貨が経過した時両者の測定結果を比較する
ことでこの硬貨の適正を判定するか若しくは基準用の条
件として可変抵抗又は可変キャパシターを用いて基準用
硬貨の電気的条件と同一とするような方法が多く用いら
れていた。しかし最近此種の基準用硬貨若しくは該当調
節部品の代替物として半導体集積回路を用いた半導体メ
モリーを用いることによって真硬貨の場合の受入範囲情
報や許容誤差範囲やその他の測定条件等の情報を記憶せ
しめ硬貨検査情報と前述の基準値情報とを比較し投入貨
の真偽を判定する方法がある。
しかしながら前記基準値情報は大幅に異る情報の硬貨を
弁別する場合は受入許容誤差範囲を拡大せしめることが
可能であり実用上問題はないが、硬貨の種類によっては
硬貨検査情報が極めて酷似していたり、また精巧な偽貨
を投入された場合受大許容範囲を他の正貨又は偽貨と弁
別するため正貨の受入率をあまり大きく低下させない程
度に可能な限り狭い範囲とする必要がある。この場合交
番磁界の周波数、電圧、温度又これらの測定回路に於け
る各種電気的素子の外的変化による影響はもとより、硬
貨の安定した転勤による硬貨検査器からの検査情報を常
に安定した条件となるよ、う回路、素子、機構に工夫が
施され高価なものとなっていた。
弁別する場合は受入許容誤差範囲を拡大せしめることが
可能であり実用上問題はないが、硬貨の種類によっては
硬貨検査情報が極めて酷似していたり、また精巧な偽貨
を投入された場合受大許容範囲を他の正貨又は偽貨と弁
別するため正貨の受入率をあまり大きく低下させない程
度に可能な限り狭い範囲とする必要がある。この場合交
番磁界の周波数、電圧、温度又これらの測定回路に於け
る各種電気的素子の外的変化による影響はもとより、硬
貨の安定した転勤による硬貨検査器からの検査情報を常
に安定した条件となるよ、う回路、素子、機構に工夫が
施され高価なものとなっていた。
斯かる点より本発明は硬貨検査器の測定条件と前記基準
値情報を設定した時の設定条件との間に変動が生じても
これに追随して適確な判定を行ない、更に該判定が複数
の硬貨の検査情報に対し精度よく判定出来る硬貨選別装
置を提供するものである。
値情報を設定した時の設定条件との間に変動が生じても
これに追随して適確な判定を行ない、更に該判定が複数
の硬貨の検査情報に対し精度よく判定出来る硬貨選別装
置を提供するものである。
以下、図面と共に一実施例を詳述する。
第４図は硬貨選別装置（１）の概略図を示すが硬貨選別
装置の上部の受口（２）より投入された硬貨は硬貨通路
登ｅの一側を構成する角度的１００の傾斜を持った基板
Ａ（２）及び下方に位置するレール上を他側の基板Ｂ（
９）により構成される硬貨通路αｅを転動し、順次配列
された材質センサー（４）、板厚センサー（５）直径セ
ンサー（６）の各部を通過しこれらの複数の検査器の情
報が予め定められた基準値情報と各々一致した場合制御
回路（図示せず）で正貨として判定され受入ゲート（７
）を吸引せしめ正貨通路（８）に導入するよう構成され
ているものである。
装置の上部の受口（２）より投入された硬貨は硬貨通路
登ｅの一側を構成する角度的１００の傾斜を持った基板
Ａ（２）及び下方に位置するレール上を他側の基板Ｂ（
９）により構成される硬貨通路αｅを転動し、順次配列
された材質センサー（４）、板厚センサー（５）直径セ
ンサー（６）の各部を通過しこれらの複数の検査器の情
報が予め定められた基準値情報と各々一致した場合制御
回路（図示せず）で正貨として判定され受入ゲート（７
）を吸引せしめ正貨通路（８）に導入するよう構成され
ているものである。
第２図は本発明の最も効果的である板厚センサー（５）
の断面図である。板厚センサーは基板（３）と基板（９
）のそれぞれの壁に埋めこまれたポット型のフェライト
材で作られたコアａ１とその内部に巻回されたコイルＩ
及びコアα擾とその内部に巻回されたコイル０より構成
さね、その通路寸法Ａは使用される硬貨の最大厚みに若
干の余裕を持った寸法に設定されている。投入された硬
貨ａ呻の厚さは該構成に於いては硬貨のほぼ中央部の凹
部の厚さＴＯ■が測定されることとなり、この寸法は基
板（９）側センサーからの寸法Ｂと基板（３）からの寸
法Ｃを測定することにより硬貨中央部の厚さＴを間接的
に検出することＫなる。
の断面図である。板厚センサーは基板（３）と基板（９
）のそれぞれの壁に埋めこまれたポット型のフェライト
材で作られたコアａ１とその内部に巻回されたコイルＩ
及びコアα擾とその内部に巻回されたコイル０より構成
さね、その通路寸法Ａは使用される硬貨の最大厚みに若
干の余裕を持った寸法に設定されている。投入された硬
貨ａ呻の厚さは該構成に於いては硬貨のほぼ中央部の凹
部の厚さＴＯ■が測定されることとなり、この寸法は基
板（９）側センサーからの寸法Ｂと基板（３）からの寸
法Ｃを測定することにより硬貨中央部の厚さＴを間接的
に検出することＫなる。
第３図は第２図に示した各々のコイルａ’ａＳａ謙の接
続方法とその回路構成である。なお本回路は説明上板厚
検査回路のみを示しており他の検査回路は省略した図と
している。コイル（１３）とコイルａυは相互インダク
タンスが負となるよう互に発生磁界を打ち消すように直
列逆相接続を行ない発振回路ａ優に入る。前記直列逆相
接続は通路寸法Ａが変化した場合、例えば広くなった場
合にはコイルα３とコイルａυの合計のインダクタンス
が大きくなって発振周波数が下がり、通路寸法の増加に
よる低下分を補償するよう作用するものである。
続方法とその回路構成である。なお本回路は説明上板厚
検査回路のみを示しており他の検査回路は省略した図と
している。コイル（１３）とコイルａυは相互インダク
タンスが負となるよう互に発生磁界を打ち消すように直
列逆相接続を行ない発振回路ａ優に入る。前記直列逆相
接続は通路寸法Ａが変化した場合、例えば広くなった場
合にはコイルα３とコイルａυの合計のインダクタンス
が大きくなって発振周波数が下がり、通路寸法の増加に
よる低下分を補償するよう作用するものである。
発振器１１ｒ（１１は、内蔵されたキャパシターとコイ
ル（１３とコイル０υにより得られるインダクタンスと
で決定される発振周波数で発振するよう構成され、更に
発振波形を正弦波から論理回路レベルになるよう波形整
形回路を内蔵している０発振回路α９の出力は判定演算
回路１２Ｂに入力され、該回路で演算と後述する誤差の
補正演算を行ないその補正を終了した情報を基準値情報
記憶装置器の情報を照合し、前記情報が該情報範囲であ
れば正貨出力（２）として出力され該正貨出力は板厚セ
ンサー（５）の結果として複数の硬貨のいずれかに属す
るかを示す信号又は偽貨の信号として用いられることに
なる。
ル（１３とコイル０υにより得られるインダクタンスと
で決定される発振周波数で発振するよう構成され、更に
発振波形を正弦波から論理回路レベルになるよう波形整
形回路を内蔵している０発振回路α９の出力は判定演算
回路１２Ｂに入力され、該回路で演算と後述する誤差の
補正演算を行ないその補正を終了した情報を基準値情報
記憶装置器の情報を照合し、前記情報が該情報範囲であ
れば正貨出力（２）として出力され該正貨出力は板厚セ
ンサー（５）の結果として複数の硬貨のいずれかに属す
るかを示す信号又は偽貨の信号として用いられることに
なる。
この様な構成より理解出来るように本実施例では硬貨が
センサ一部に無い場合の発振周波数とセ、ンサ一部に硬
貨が転勤通過時の発振周波数の変化を検出して正偽貨若
しくは硬貨の種類を判定するものである。第４図は第３
図で示したような発振周波数変化による硬貨検査方法に
於ける本発明の必要理由を更に明らかにするだめのもの
である。
センサ一部に無い場合の発振周波数とセ、ンサ一部に硬
貨が転勤通過時の発振周波数の変化を検出して正偽貨若
しくは硬貨の種類を判定するものである。第４図は第３
図で示したような発振周波数変化による硬貨検査方法に
於ける本発明の必要理由を更に明らかにするだめのもの
である。
横軸Ｔは各種投入硬貨又は相当する偽貨等の中央部の厚
さ寸法を表わし縦軸は第３図に於ける発振回路（２）の
山嶺である発振周波数を示しておシ、７０点は硬貨の投
入が無い場合の発振周波数であり待機時周波数である。
さ寸法を表わし縦軸は第３図に於ける発振回路（２）の
山嶺である発振周波数を示しておシ、７０点は硬貨の投
入が無い場合の発振周波数であり待機時周波数である。
この待機時周波数は前述のようにコイ間飄αυと発振回
路員の内部のコンデンサー及び発振器の特性によって決
定される周波数である。Ｔ、線上のＬ 、 ｆ、、
ｆ、は待機時周波数でありｆ、は工場等での前述の基
準値情報記憶装置器に情報を設置した時の発振周波数で
あり、ｆ、 、ｆ、 はいずれも外的要因例えばボット
コアα１又はａ２のフェライト等の透磁率や発振回路内
部のコンデンサーの容量変化や通路寸法ＡＱ４）の温度
等による変化に伴う待機発振周波数の変化した状態を示
している。ｆ、 、ｆ、 、 ｆ、 の関係は周波数で
ｆ、）’ｆ。〉ｆｌ でありｆ８ハ周波数の上昇ｆ１は
周波数の下降を示している。本例では説明１晃！しやす
いように（ｆ、−ｆ、） ＝ （ｆ、 −ｆ、）として
いる。このような条件に於いて硬貨厚みＴを種々変えた
場合その発振周波数の変化はグラフのようになり、例え
ば２．０−の厚さの硬貨を投入した場合各々の待機周波
数に応じて待機周波数がｆｏの場合はｆｏ−１゜＋ ｆ
ｌの場合はｆｒ ％−＊ −ｆｔの場合は４Ｔ！、。と
なり、その各々の差（ｆｔ’ｒｔ、＊）−（ｔａＴｔ、
。）は（ｆａ Ｔｔ−０） （ｆｌＴｔ、＠） より
大きくなる。
路員の内部のコンデンサー及び発振器の特性によって決
定される周波数である。Ｔ、線上のＬ 、 ｆ、、
ｆ、は待機時周波数でありｆ、は工場等での前述の基
準値情報記憶装置器に情報を設置した時の発振周波数で
あり、ｆ、 、ｆ、 はいずれも外的要因例えばボット
コアα１又はａ２のフェライト等の透磁率や発振回路内
部のコンデンサーの容量変化や通路寸法ＡＱ４）の温度
等による変化に伴う待機発振周波数の変化した状態を示
している。ｆ、 、ｆ、 、 ｆ、 の関係は周波数で
ｆ、）’ｆ。〉ｆｌ でありｆ８ハ周波数の上昇ｆ１は
周波数の下降を示している。本例では説明１晃！しやす
いように（ｆ、−ｆ、） ＝ （ｆ、 −ｆ、）として
いる。このような条件に於いて硬貨厚みＴを種々変えた
場合その発振周波数の変化はグラフのようになり、例え
ば２．０−の厚さの硬貨を投入した場合各々の待機周波
数に応じて待機周波数がｆｏの場合はｆｏ−１゜＋ ｆ
ｌの場合はｆｒ ％−＊ −ｆｔの場合は４Ｔ！、。と
なり、その各々の差（ｆｔ’ｒｔ、＊）−（ｔａＴｔ、
。）は（ｆａ Ｔｔ−０） （ｆｌＴｔ、＠） より
大きくなる。
またそれぞれの差は待機周波数のそれぞれの差すなわち
（ｆ、）−（ｆ、）や（ｆ。）−（ｆ、）よりも大きく
なっていることが理解出来る。また、ｌ、Ｑｓ鶴の硬貨
を投入した場合の同様の差も同じ傾向を示しているが（
ｃ’ｒｔ、。）−（ｆ、％、。）より同条件のＴ１０１
部の発振周波数の差は小さい。この理由は待機発振周波
−数に対し硬貨投入時の変化は等比変化をすることと、
厚い硬貨の方が特に基板（９）側のセンサーに近ずくた
めコイＭ０の変化が大きくなりまたインダクタンス変化
が指数函数的に増大する傾向にあることを示している。
（ｆ、）−（ｆ、）や（ｆ。）−（ｆ、）よりも大きく
なっていることが理解出来る。また、ｌ、Ｑｓ鶴の硬貨
を投入した場合の同様の差も同じ傾向を示しているが（
ｃ’ｒｔ、。）−（ｆ、％、。）より同条件のＴ１０１
部の発振周波数の差は小さい。この理由は待機発振周波
−数に対し硬貨投入時の変化は等比変化をすることと、
厚い硬貨の方が特に基板（９）側のセンサーに近ずくた
めコイＭ０の変化が大きくなりまたインダクタンス変化
が指数函数的に増大する傾向にあることを示している。
このようなことから、従来提案されていたように、硬貨
投入時の発振周波数より待機時の発振周波数の変動分で
そのままの加減する平行移動の補正の方法や待機時の発
振周波数の変動分に一率の補正係数を乗じて補正する方
法では不完全であり既述のような精度よく正貨のみを受
は入れようとし許容誤差範囲を狭く設定することは非常
に困難となる。
投入時の発振周波数より待機時の発振周波数の変動分で
そのままの加減する平行移動の補正の方法や待機時の発
振周波数の変動分に一率の補正係数を乗じて補正する方
法では不完全であり既述のような精度よく正貨のみを受
は入れようとし許容誤差範囲を狭く設定することは非常
に困難となる。
本発明はこの点を鑑み、工場での生産時の待機周波数と
使用時の待機周波数の他に使用時の投入硬貨により得ら
れる値（例えばＬ Ｔｔ、＊ ）の大小によシはぼ全て
の補正を完全に演算により行なうものである。
使用時の待機周波数の他に使用時の投入硬貨により得ら
れる値（例えばＬ Ｔｔ、＊ ）の大小によシはぼ全て
の補正を完全に演算により行なうものである。
第５図はその構成図であるがセンサー（５）の待機周波
数（ｆ、又はｆ。又はｆ、）を検出するため材質−セン
サー＜４）の信号は硬貨投入検出回路（５）により硬貨
の投入を検出し該信号はセンサー（５）の待機周波数取
り込み回路罰に送られセンサー（５）のその時の値が一
時的に記憶される。この値は基準値情報を設定した装置
生産時の待機周波数の記憶部（ハ）の値と待機周波数変
動分演算回路（５）でそのずれ分が演算されその値は補
正回路（至）に送られる。次に投入された硬貨は板厚セ
ンサー（５）に達しその硬貨情報のピーク値がピーク値
検出回路（イ）によセ検出されると該情報も補正回路（
至）に送られる。補正回路（至）はすでに述べたように
待機値の変動分とピーク値変化に伴う一率分の補正用係
数でありβは硬貨の厚さ差等による不拘等分の補正であ
りとのα、βの値はセンサーの感度、通路寸法の大小、
複数の硬貨厚さによる差等で決定される定数である。こ
のようにして補正回路（７）で演算された値は基準値０ 情報装置（イ）内部の受入許容範囲情報記憶部（３１）
の値と比較され正貨又は金種出力として（ハ）に出力さ
れる。
数（ｆ、又はｆ。又はｆ、）を検出するため材質−セン
サー＜４）の信号は硬貨投入検出回路（５）により硬貨
の投入を検出し該信号はセンサー（５）の待機周波数取
り込み回路罰に送られセンサー（５）のその時の値が一
時的に記憶される。この値は基準値情報を設定した装置
生産時の待機周波数の記憶部（ハ）の値と待機周波数変
動分演算回路（５）でそのずれ分が演算されその値は補
正回路（至）に送られる。次に投入された硬貨は板厚セ
ンサー（５）に達しその硬貨情報のピーク値がピーク値
検出回路（イ）によセ検出されると該情報も補正回路（
至）に送られる。補正回路（至）はすでに述べたように
待機値の変動分とピーク値変化に伴う一率分の補正用係
数でありβは硬貨の厚さ差等による不拘等分の補正であ
りとのα、βの値はセンサーの感度、通路寸法の大小、
複数の硬貨厚さによる差等で決定される定数である。こ
のようにして補正回路（７）で演算された値は基準値０ 情報装置（イ）内部の受入許容範囲情報記憶部（３１）
の値と比較され正貨又は金種出力として（ハ）に出力さ
れる。
以上詳述してきた本発明はメモリーに基準情報の記憶の
他に基準情報記憶時の待機時情報及びその補正の係数を
記憶し、検査時の条件と記憶時の条件との差異と検査時
の情報の差異による２点から補正演算１基準情報（受入
範囲を幅を持つ）とを比較することで硬貨の適正を判定
する硬貨選別装置に係わり測定条件の変動に係わらず誤
差範囲をとり入れた適確な判定動作を行なうことが出来
るものである。
他に基準情報記憶時の待機時情報及びその補正の係数を
記憶し、検査時の条件と記憶時の条件との差異と検査時
の情報の差異による２点から補正演算１基準情報（受入
範囲を幅を持つ）とを比較することで硬貨の適正を判定
する硬貨選別装置に係わり測定条件の変動に係わらず誤
差範囲をとり入れた適確な判定動作を行なうことが出来
るものである。
第１図は、硬貨選別装置の概略図、第２図は、板厚セン
サー断面図、第３図は制御回路、第４図は、硬貨に対す
る板厚特性、ｆａ５図は、本発明に依る制御回路を示す
。 （５）−・・板厚センサー、ａ萄υ・・・コイル、翰・
・・ピーク値検出回路、（至）・・・補正回路。 系１図 錫２円 帖５目
サー断面図、第３図は制御回路、第４図は、硬貨に対す
る板厚特性、ｆａ５図は、本発明に依る制御回路を示す
。 （５）−・・板厚センサー、ａ萄υ・・・コイル、翰・
・・ピーク値検出回路、（至）・・・補正回路。 系１図 錫２円 帖５目
Claims (1)
- １、投入された硬貨の真偽を信号変化を基に判定する装
置に於いて、生産時のセンサー信号の待機値を第２の信
号とし、使用時の硬貨投入時のピーク値を第３の信号と
し、硬貨受入時の演算に第１第２、第３の信号を基に演
算し、予め定められた受入設定範囲との判定を行ない真
偽を判定することを特徴とした硬貨選別方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15997981A JPS5860390A (ja) | 1981-10-06 | 1981-10-06 | 硬質選別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15997981A JPS5860390A (ja) | 1981-10-06 | 1981-10-06 | 硬質選別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5860390A true JPS5860390A (ja) | 1983-04-09 |
| JPS6236592B2 JPS6236592B2 (ja) | 1987-08-07 |
Family
ID=15705344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15997981A Granted JPS5860390A (ja) | 1981-10-06 | 1981-10-06 | 硬質選別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5860390A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0727585B2 (ja) * | 1984-03-01 | 1995-03-29 | マ−ス インコ−ポレ−テッド | 自己同調硬貨認識装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50107997A (ja) * | 1974-01-31 | 1975-08-25 | ||
| JPS56110194A (en) * | 1980-02-05 | 1981-09-01 | Sanyo Jido Hanbaiki Kk | Compensation method of electronic coin selector |
-
1981
- 1981-10-06 JP JP15997981A patent/JPS5860390A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50107997A (ja) * | 1974-01-31 | 1975-08-25 | ||
| JPS56110194A (en) * | 1980-02-05 | 1981-09-01 | Sanyo Jido Hanbaiki Kk | Compensation method of electronic coin selector |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0727585B2 (ja) * | 1984-03-01 | 1995-03-29 | マ−ス インコ−ポレ−テッド | 自己同調硬貨認識装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6236592B2 (ja) | 1987-08-07 |
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