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JPS5839058A - 温度センサ−用半導体素子 - Google Patents

温度センサ−用半導体素子

Info

Publication number
JPS5839058A
JPS5839058A JP13740981A JP13740981A JPS5839058A JP S5839058 A JPS5839058 A JP S5839058A JP 13740981 A JP13740981 A JP 13740981A JP 13740981 A JP13740981 A JP 13740981A JP S5839058 A JPS5839058 A JP S5839058A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature sensor
collector
region
emitter
base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13740981A
Other languages
English (en)
Inventor
Masayuki Namiki
並木 優幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP13740981A priority Critical patent/JPS5839058A/ja
Publication of JPS5839058A publication Critical patent/JPS5839058A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は高い温度感度を有し、歩留まりのよい温度セン
サー用半導体素子に関するものである。
従来より温度を何らかの形で電気信号に変換できるトラ
ンスデエサ、つまり温度センサーとしての役割は益々高
範囲に渡り、濡要も急増の一途をたどっている0例えば
日常生活の中でのエア、コンディショナ(温風器、クー
ラー)、冷蔵庫、電気とたつ、電気毛布、さらに電子レ
ンジ、電気オーブンなどの家庭用電気製品はその一部で
ある。
接触鑞温度センサーの主なものとしては、バイメタル、
サーミスタ、P−%接合半導体、測温抵抗体、熱電対、
液体温度センサー1.、−p接合トランジスタ等が用い
らnている。
特に集積回路化が容重で量産性に優牡たセンサーとして
はP−%接合手導体が有力であシ、その−例として我々
は第1図に示すような構成の温度センサーxOを使用し
ている。ここでは集積化のため、%型基板シリコンを用
いた例について説明する。
接合トランジスタ1に定電fi(例えば0.1Pム程度
) tR,す定電流回路2を接続すnば、接合トランジ
スタ10ベース、エミッタ間電圧tff1度検出電圧’
Vo%tとした温度センサーを構成する。尚、第1図中
、3は電源電圧の変動に対して出力電圧一定の定電圧回
路を含んだ電源回路である。このシステムにおいて定電
流回路2と定電圧回路を含む電源回路を低消費電力化を
主目的とするため相補型絶縁ゲート電界効果型トランジ
スタC以下、−MOEiと略す)構造で工0化すると、
こnに伴ない接合トランジスタ1としては第2図に示す
ような構造でCMOBと同一プロセスで形成できる5−
P−%プレーナー接合トランジスタが便用1f’Lる。
第2図(p)は最とも簡単なMPMプレーナーシリコン
接合)ランジスタの構造を示した断面図であ6.82図
の)は平面図である。すなわち、前記トランジスタは舅
−シリコン基板4を;レフター、P−シリコン基板5を
ベース、舅+拡散層811C工建ツタ−としている。第
2図(6)にこのトランジスタの等価回路を示す、尚ζ
こて、7はP+チャネルカット、6は夏+拡散、9は酸
化絶縁膜、10は電極金属、11はベース。コレクタ一
端子、12はエミッタ一端子である。
接合トランジスタのコレクター4とベース5tl−同電
位K11k続した場合、ベース、エミッタ電流工はダイ
オードの電流電圧特性と同様になシ、(1)式%式% (1) 旙(:真性キャリア密度 t&:エンツタ注入効率 R=ボルツマノ定数 l:単位電荷 ■=ペース。エミッタ間電圧 ム:接合トランジスタの形状及び少数キャリアの拡散距
離によシ定まる定数。
よって、ベース5、エミッタ8との間のmat圧特性は
第3図に示すような特性となり温度によって変化する。
ここでτ1  m”禽 *Tmは温度であシ、?、>T
、>”jの関係にある。このように、温度センシング素
子’1−0M0Bプロセスで定電流回路、定電圧回路と
同一チップ上に容易に製作することができ、制御用の1
チップ温度センサーとして広く応用さnている。この場
合P−N十接合面積が、1100x100p”でP −
Wall濃度(ベース拡散濃度) 5 x 10”at
oms、conl 、順方向一定電流O01μムにおい
て温度係数は、3 m ”I / C程度が得らnる。
この接合トランジスタを用いた温度センサーの温度感度
はサーミスタを用いた温度センサーの温度感度(15m
 V / ℃)に(らぺると、低いという欠点含有して
いたが、最近状々は、第4図−)に示したような等価回
路を有するトランジスタをダーリントン接続した温度セ
ンサーによって従来の2倍の温度感度(6m Vlo)
 t−得、更に第4図中)に示した3段接続のダーリン
トントラ/ラスタによる温度センサーでは、9sV/C
の温度感度管得ることに成功した。
(第4図(6)) Lかし表がらそのばらつきは、第5
図に示すように、pット内で、一段で1 m V以内で
あったのく対し、2段では2mV、3段では5gLvと
増加し、またノイズに対する安定性も、2段、3段と段
数をふやすとともに急激に減少し、3段接続では約1℃
以上、つまt) 10 m V程度のゆらぎがTo9、
高歩留tbでノイズに対して安定があるという。1段接
続で得られた特性を失い、改良の必要&C1壜らnてい
た。そまそも多段構成の温度センサー用半導体素子にお
いて、検出電圧のばらつき、ゆらぎの原因は、第4図に
)を参照して説明スると、第1段目のトランジス/TR
Iにおいてベース電流X讐、コレクタ電流工1oとの関
係は、 Il、=β、×工0.。0.。、 (2ここでβ5は各
トランジスタの電流増幅率である。また、トランジスタ
TR2においては、工1.=β、X工16.。。。(3
) であるから仮にβ、=β、=100とすると、となシト
ランジスタTRIのベース電流値が極めて低くなる。こ
のため1段目のトランジスタTR1は2段目に較べ流れ
るペース電流が大きく違うために、ノイズに対して敏感
になシ、検出電圧をばらつかせる。tた、一般に電流増
幅率βは値が大きい程ばらつきも大きくなり、こ扛が検
出電圧そのもののばらつきを大きくしている。従って我
々が求める温度センサーに用いる理想的なP−欝接合ト
ランジスタの特性は、β=1なるトランジスタでダーリ
ントン接続したもので、工、=工暫=工1.であること
が望まれる。
本発明はこのような欠点改良に鑑みなされた構造的改良
であシ、温度感度が高く、ばらつきが小さく、ノイズに
対して安定で、工0化に適した非常圧有力な温度センサ
ー用半導体素子を提供するものである。
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に述べる。
本発明の電流増幅率βを低減した温度センサー用P−、
接合Fランジスタの一実施例を第6図(構造断面図)を
用いて詳述する0M−シリコン基板4t−コレクター、
P″″シリコンfi板5tペース、夏+拡散層8t−エ
ミッターとした第2図(ロ))の基本構造に加え、エミ
ッタとしての舅+拡散領域8の周辺に1これよシ深い拡
散長を持つ、P十拡散領域13t−形成する。これにょ
シェミッタ(N十拡散領域8)よ)注入されたキャリア
の一部はベース領域に到達する以前に消滅し、結果とし
て、コレクター電流が減少す。こnで、電流増幅率βを
低減させたことになる。
又、本発明の他の実施例として、第7図に示すように、
第6図の本発明の構造に加えて、第7図に示すように、
コレクターの働きをするN十拡散領域14(第2のコレ
クタ〕を設はベースに注入さ扛たキャリアーの一部ft
第2のコレクターから吸収し、ベースに返すことにより
、更に電流増幅率βを低減させるものである。
尚、鋪6図と第7図の4はM−基板、6はN十拡散コレ
クター、8はN十拡散エミッター、E2は酸化膜、10
は電極金属、11はコ、レクター、ベース端子、12は
エミッタ一端子である。13は本発明のβ低減のための
P十拡散領域、14は、同じくβ低減のために設けた夏
+拡散領域である。
更に、本発明の他の実施例は前述したβ低減のためのP
十拡散領域を設けたP−N接合プレーナートランジスタ
t−2段、3段、あるいは更に多段のダーリントン接続
に用いたものである。
以上詳述したごとく、本発明は、0.−MOBプロセス
で製造することができ、工○化が答易なNPNプレーナ
接合トランジスタを用いた温度センサーにおいて、構造
的にその電流増幅率βを本発明の構造で低減することに
よシ、2段、3段あるいは更に多段のダーリントン接続
を施した場合、その検出電圧Vrefのばらつきを低減
することができ、またノイズによるゆらぎを減少させ、
歩留まシを向上させることができる。こ牡による温度感
度は、1段で3w*v/C124段で6憤v/℃、3段
で9 my / Cの高感度、高歩留まりでノイズに対
して安定な温度センサー用牛導体素手を提供するもので
ある。ここではシリコンKPM接合プレーナートランジ
スタを用いた温度センサーについて述べたが、P)IP
接合トッンジスタを用いても同様の効果を得ることがで
き、またシリコン以外の他の半導体材料においても同様
に実現可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は接合トランジスタを用いた従来の温度センナ−
の回路図。 第2図−)は接合トランジスタを用いた従来の温度セン
サー用牛導体素子の断面図。 第2図0)はその平面図。 第2図(6)はそれをあられしたトランジスタ記号を示
す図。 tIL3図は接合トランジスタのコレクターとベースを
同電位にした場合の電流、電圧特性図、第4図(α)は
従来の温度センサーとしての接合トランジスタのダーリ
ントン2段接続の接続図、第4図偵)は、従来の温度セ
ンサーとしてのダーリントン3段接続の接続図。 @4図(6)は、トランジスタ1段の場合と、ダーリン
トン2段接続と、3段接続の場合の温度感度をあられす
グラフ。 第5図はダーリントン接続の段数に対する検出電圧のロ
ット内ばらつきの大きさt−iられすグラフ、 第6図は本発明による温度センサー−実施例の構造断面
図、 第7図は本発明による温度センサーの他の実施例の構造
断面図である。 4゜。N−シリコン基板コレクタ領域 5.。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)第1導電盟の第1のコレクタとして動作する基板
    と、前記基板表面部分に形成さnた第2導電型のペース
    拡散層と、前記ペース拡散層内の表面部分に形成された
    第2導電型の拡散層と、前記−拡散層内の表面部分に形
    成さf′した第1導電呈のエミッタ拡散層とからなるプ
    レーナー接合トランジスタを用いることを特徴とする温
    度センサー用半導体素子。 (2プレーナー接合トラ/ジスタ’tw数個ダーリント
    ン接続したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の温度センサー用半導体素子。 (3)拡散層の周囲のペース表面部分にaI2のコレク
    タを設けたことt−特徴とする特許請求の範囲第1項ま
    たは第2項記載の温度センサー用半導体素子。 (4)拡散層の拡散の深さと、第2のコレクタの拡散の
    深さとが同程度であることt’特徴とする特許請求の範
    囲第3項記載の温度センサー用半導体素子。 (5)第2のコレクタと第1のコレクタとして動作する
    基板とが電極によ)接続されていることを特徴とする特
    許請求の範囲第4項記載の温度センサー用半導体素子。
JP13740981A 1981-09-01 1981-09-01 温度センサ−用半導体素子 Pending JPS5839058A (ja)

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JPS5839058A true JPS5839058A (ja) 1983-03-07

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ID=15197962

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JP13740981A Pending JPS5839058A (ja) 1981-09-01 1981-09-01 温度センサ−用半導体素子

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JP (1) JPS5839058A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04138235A (ja) * 1990-09-29 1992-05-12 Seikosha Co Ltd 自動成形方法
JP5220947B1 (ja) * 2012-10-16 2013-06-26 シグマツクス株式会社 射出成形機監視装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04138235A (ja) * 1990-09-29 1992-05-12 Seikosha Co Ltd 自動成形方法
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