JPS5824950B2 - semiconductor logic circuit device - Google Patents
semiconductor logic circuit deviceInfo
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- JPS5824950B2 JPS5824950B2 JP52034971A JP3497177A JPS5824950B2 JP S5824950 B2 JPS5824950 B2 JP S5824950B2 JP 52034971 A JP52034971 A JP 52034971A JP 3497177 A JP3497177 A JP 3497177A JP S5824950 B2 JPS5824950 B2 JP S5824950B2
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- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、半導体論理回路装置、特にチップ面上に、1
個または複数個の単位ロジック部を組にしたロジック・
ユニットを分布配置して構成した例えばマスク・スライ
ス設計法にもとずいて製造された半導体論理回路装置に
おいて、上記チップ面の中央部における配線領域を周辺
部のそれにくらべて大とするよう、上記ロジック・ユニ
ットを配置した半導体論理回路装置に関するものである
。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention provides a semiconductor logic circuit device, particularly a semiconductor logic circuit device having a
Logic that combines one or more unit logic sections
In a semiconductor logic circuit device manufactured based on, for example, the mask-slice design method, in which the units are arranged in a distributed manner, the wiring area in the central part of the chip surface is made larger than that in the peripheral part. The present invention relates to a semiconductor logic circuit device in which a logic unit is arranged.
最近、製造した半導体論理回路装置に使用上の融通性を
与えるために、いわゆるマスク・スライス設計法にもと
ずいて製造された半導体論理回路装置が知られている。Recently, semiconductor logic circuit devices manufactured based on a so-called mask-slice design method have become known in order to provide the manufactured semiconductor logic circuit devices with flexibility in use.
ここでいうマスク・スライス設計法とは次の如き考え方
にもとすくものと考えてよい。The mask slice design method referred to here can be considered to be based on the following concept.
即ち1個または複数個の比較的簡単な論理ゲートやフリ
ップ・フロップを構成するだけの個数のトランジスタや
抵抗などの回路素子を1まとめにした単位ロジック部を
構成する。That is, a unit logic section is formed by combining circuit elements such as transistors and resistors as many as one or more relatively simple logic gates or flip-flops.
このような単位ロジック部を1つまたは複数個分担にし
てロジック・ユニットを構成する。A logic unit is constituted by one or more such unit logic sections.
このようなロジック・ユニットをチップ面上に分布配置
し、残余の領域を配線領域として残しておくようにする
。Such logic units are distributed and arranged on the chip surface, and the remaining area is left as a wiring area.
このように構成された半導体論理回路装置を予めストッ
ク生産しておき、必要な論理回路が与えられたとき、上
記ロジック・ユニット上の論理ゲートなどによりロジッ
クを構成せしめ、更に必要な配線などを行なって所望の
論理回路装置を完成する。Semiconductor logic circuit devices configured in this manner are manufactured in stock in advance, and when a necessary logic circuit is provided, the logic is configured using logic gates on the logic unit, and further necessary wiring is performed. The desired logic circuit device is completed.
しかし、従来から上記マスク・スライス設計法にもとず
いて製造される半導体論理回路装置は、将来任意の論理
回路を構成できるようにすることを考慮して、上記ロジ
ック・ユニット相互間に存在する配線領域の幅は均一に
なるようにされ、該配線領域を各ロジック・ユニットか
らみて均等に使用できるようにしていた。However, conventionally, semiconductor logic circuit devices manufactured based on the above-mentioned mask-slice design method have a structure in which the above-mentioned logic units exist between each other, taking into consideration the possibility of configuring any logic circuit in the future. The width of the wiring area is made uniform so that the wiring area can be used equally from the perspective of each logic unit.
即ち換言するとロジック・ユニット相互間の間隔が等し
くなるようロジックユニットが分布配置されていた。In other words, the logic units are distributed so that the intervals between the logic units are equal.
しかし、現実に使用される半導体論理回路装置をみると
き、第1図を参照して後述する如く、チップ面の中央部
における配線本数が犬となっており、従来の如く配線領
域を均等にとっておくようにするとチップ周辺部におい
ても各ロジック・ユニット相互間の配線領域を夫々大に
しなければならず、全体のチップ・サイズが非所望に大
となる。However, when looking at semiconductor logic circuit devices that are actually used, as will be described later with reference to Figure 1, the number of wires in the center of the chip surface is large, so it is difficult to keep the wiring area uniform as in the past. In this case, the wiring area between each logic unit must be enlarged also in the peripheral area of the chip, and the overall chip size becomes undesirably large.
本発明は上記の点を解決することを目的としており、本
発明の半導体論理回路装置はチップ面上に、1個または
複数個の単位ロジック部を組にし、たロジック・ユニッ
トとして単一の形状のものを用いると共に当該ロジック
・ユニットを分布配置すると共に該ロジック・ユニット
上において回路素子が存在しない上記チップ面上の残余
の領域を配線領域にし、上記ロジック・ユニットおよび
/または上記配線領域に接続端子を有する半導体論理回
路装置において、上記配線領域の幅が上記チップ面の中
央部において該チップ面の周辺部におけるよりも犬にな
るよう、単一のチップ上で上記ロジック・ユニットを非
均等に分布配置したことを特徴としている。The present invention aims to solve the above-mentioned problems, and the semiconductor logic circuit device of the present invention has one or more unit logic sections assembled on a chip surface to form a single logic unit. In addition to distributing and arranging the logic units, the remaining area on the chip surface where no circuit elements are present on the logic unit is used as a wiring area, and is connected to the logic unit and/or the wiring area. In a semiconductor logic circuit device having terminals, the logic units are arranged non-uniformly on a single chip so that the width of the wiring area is wider at the center of the chip surface than at the periphery of the chip surface. It is characterized by its distributed arrangement.
以下図面を参照しつつ説明する。This will be explained below with reference to the drawings.
第1図は半導体論理回路装置における配線本数の分布を
説明する説明図、第2図は本発明の半導体論理回路装置
の一実施例、第3図ないし第6図は夫々本発明の他の一
実施例を示す。FIG. 1 is an explanatory diagram for explaining the distribution of the number of wires in a semiconductor logic circuit device, FIG. 2 is an embodiment of the semiconductor logic circuit device of the present invention, and FIGS. An example is shown.
第1図において、1はチップ(又はチップ面)、2はロ
ジック・ユニット、3はロジック・ユニット間領域であ
って本発明にいう配線領域又はその1部を構成するもの
、4はチップ端辺に存在する。In FIG. 1, 1 is a chip (or chip surface), 2 is a logic unit, 3 is an area between logic units that constitutes the wiring area or a part thereof as referred to in the present invention, and 4 is an edge of the chip. exists in
空き領域であって本発明にいう配線領域又はその1部を
構成するものを表わしている。This represents an empty area constituting the wiring area or a part thereof according to the present invention.
なお、第1図においては、1個の単位ロジック部がその
まま1つのロジック・ユニットを構成している。In FIG. 1, one unit logic section directly constitutes one logic unit.
チップ面1上にロジック・ユニット2が分布配。Logic units 2 are distributed on chip surface 1.
置され、必要に応じて配線などをほどこした上で使用状
態に置かれる。The device is then placed in a state where it is placed in use, with wiring etc. applied as necessary.
このようにして使用状態に置かれた多数の半導体論理回
路装置について、X座標またはY座標上の1つの座標位
置を交差する配線本数を調べて頻度グラフに示すと、図
示曲線AまたはBの如き曲線となる。For a large number of semiconductor logic circuit devices placed in use in this way, if we investigate the number of wires that intersect one coordinate position on the It becomes a curve.
単位ロジック部の種類や該単位ロジック部の論理的な大
きさなどによって、上記頻度グラフの曲線の形状は多小
変化するが、集積度の高い半導体論理回路装置において
は、上記曲線AまたはBの如くチップ面1の中央部にお
いて配線密度が犬となっている。Although the shape of the curve in the frequency graph changes slightly depending on the type of unit logic section and the logical size of the unit logic section, in a semiconductor logic circuit device with a high degree of integration, the curve A or B above As shown, the wiring density in the center of the chip surface 1 is uniform.
更に、曲線Bのパターンは、チップの入出力端子PAD
の数が上記ロジック・ユニットの数にくらべて比較的大
きい場合に現われる。Furthermore, the pattern of curve B is the input/output terminal PAD of the chip.
appears when the number of logic units is relatively large compared to the number of logic units.
なお、チップ面1上における配線領域は、一般にロジッ
ク・ユニット2の相互間3およびロジック・ユニット2
とチップ1の端と間の空き領域4で与えられる。Note that the wiring area on the chip surface 1 is generally between the logic units 2 and between the logic units 2 and 2.
It is given by the empty area 4 between the edge of the chip 1 and the edge of the chip 1.
しかしロジック・ユニット2上の空き領域がユニット間
の配線に利用されることもあり、またユニット内の配線
のために場合によっては上記領域3または4が利用され
ることがある。However, the empty area on the logic unit 2 may be used for wiring between units, and the area 3 or 4 may be used for wiring within the unit as the case may be.
このことから、本発明にいう配線領域とは、単位ロジッ
ク部またはロジック・ユニット上における回路素子が存
在しない空き領域と上記領域3や4とを含めて配線領域
と考えてよい。For this reason, the wiring area according to the present invention may be considered to include the above-mentioned areas 3 and 4 and the empty area in which no circuit element is present on the unit logic section or logic unit.
第2図は本発明の一実施例構成を示し、図中の符号1.
3,4は夫々第1図に対応し、5は単位ロジック部を表
わしている。FIG. 2 shows the configuration of an embodiment of the present invention, and the reference numeral 1.
3 and 4 correspond to FIG. 1, respectively, and 5 represents a unit logic section.
図示の場合、チップ面1の中央部における領域3の幅を
a1チップ面1の周辺部における領域3の幅をbまたは
Cとするとき、順にa > b > cなる関係を与え
ている。In the illustrated case, when the width of the region 3 at the center of the chip surface 1 is a1 and the width of the region 3 at the periphery of the chip surface 1 is b or C, the following relationship is given in the order: a>b>c.
これによって、第1図図示曲線Aに見合うよう配線領域
を確保している。As a result, a wiring area corresponding to the curve A shown in FIG. 1 is secured.
第3図は本発明の他の一実施例を示し、図中の符号1,
3,4,5は第2図に対応している。FIG. 3 shows another embodiment of the present invention, in which reference numerals 1,
3, 4, and 5 correspond to FIG.
図示の場合、チップ面1上において領域3の幅をa >
、b > cに選び、第1図図示曲線Bに見合うよう配
線領域を確保している。In the case shown, the width of region 3 on chip surface 1 is a >
, b > c, and the wiring area is secured to match the curve B shown in FIG.
第4図は本発明の他の一実施例を示し、図中の符号1,
3,4,5は第2図に対応している。FIG. 4 shows another embodiment of the present invention, in which reference numerals 1,
3, 4, and 5 correspond to FIG.
本実施例の場合、横行方向において単位ロジック部5が
一直線上に並ぶように配慮されている。In the case of this embodiment, care is taken so that the unit logic parts 5 are aligned in a straight line in the transverse direction.
勿論縦側方向において一直線上に並ぶよう配慮してもよ
いことは言うまでもない。Of course, it goes without saying that consideration may be given to aligning them in a straight line in the longitudinal direction.
本実施例は、第2図図示の構成の外周に更に単位ロジッ
ク部5を一層分もうけ、横行方向において単位ロジック
部5が一直線上に並ぶようにされたものと考えてよい。This embodiment can be considered to have an additional layer of unit logic sections 5 on the outer periphery of the structure shown in FIG. 2, so that the unit logic sections 5 are arranged in a straight line in the transverse direction.
この場合にも領域3の幅において、a > b > c
なる関係を与えている。In this case as well, in the width of region 3, a > b > c
It gives a relationship.
第5図は本発明の更に他の一実施例を示し、図中の符号
1,3,4,5は第2図に対応している。FIG. 5 shows still another embodiment of the present invention, and the symbols 1, 3, 4, and 5 in the figure correspond to those in FIG.
図示の場合、中央部における領域3の幅aと、周辺部に
おける領域3の幅Cとの2段階六し、a>Cなる関係を
もたせている。In the case shown in the figure, the width a of the region 3 at the center and the width C of the region 3 at the periphery are in two steps, with a relationship such that a>C.
即ち、幅すなる領域3をなくしているが、単位ブロック
部5の配列が縦横共に一直線上に並ぶ利点をもっている
。That is, although the width region 3 is eliminated, there is an advantage that the unit block portions 5 are arranged in a straight line both vertically and horizontally.
第6図は本発明の更に他の1つの実施例を示し、符号1
,2,3,4,5は夫々第1図および第2図に対応して
いる。FIG. 6 shows still another embodiment of the present invention, with reference numeral 1
, 2, 3, 4, and 5 correspond to FIG. 1 and FIG. 2, respectively.
図示の場合、4個の単位ブロック部5を組にして1つの
ロジック・ユニットヲ構成せしめているが、中央部に−
おける領域3の幅が周辺部における領域3の幅にくらべ
て大となるよう構成されていることに変わりはない。In the illustrated case, four unit blocks 5 are combined to form one logic unit, but in the center -
The structure is still such that the width of the region 3 at the periphery is larger than the width of the region 3 at the periphery.
なお、複数個の単位ブロック部5をもって1個のロジッ
ク・ユニット2とする構成をとる場合にも、第2図ない
し第5図に示した単位ブロック部5の代りにロジック・
ユニット2を置き換えた構造を採用できることは言うま
でもない。Note that even when a configuration is adopted in which one logic unit 2 includes a plurality of unit block sections 5, a logic unit is used instead of the unit block section 5 shown in FIGS. 2 to 5.
It goes without saying that a structure replacing unit 2 can be adopted.
以上説明した如く、本発明によれば、従来のマスク・ス
ライス設計法にもとすいた半導体論理回路装置において
も、配線密度の高いチップ中央部における配線領域を犬
とすることによって、チップ全体のサイズを減少せしめ
ることが可能となる。As explained above, according to the present invention, even in a semiconductor logic circuit device based on the conventional mask-slice design method, the wiring area in the center of the chip with high wiring density is set as a dog, so that the entire chip can be It becomes possible to reduce the size.
即ち単一のチップ上で均等に分布配置する場合には、中
央部で所望の配線領域をとると周辺部において余りが生
じるが、本発明の場合には上記余りがなくなり、チップ
全体のサイズを減少することができる。In other words, when distributing the wiring evenly on a single chip, if the desired wiring area is taken at the center, there will be a surplus at the periphery, but in the case of the present invention, the surplus is eliminated and the overall size of the chip is reduced. can be reduced.
第1図は半導体論理回路装置における配線本数の分布を
説明する説明図、第2図は本発明の半導体論理回路装置
の一実施例、第3図ないし第6図は夫々本発明の他の一
実施例を示す。
図中、1はチップ(又はチップ面)、2はロジック・ユ
ニット、3はロジック・ユニット間領域、4はチップ端
辺空き領域、5は単位ロジック部を表わしている。FIG. 1 is an explanatory diagram for explaining the distribution of the number of wires in a semiconductor logic circuit device, FIG. 2 is an embodiment of the semiconductor logic circuit device of the present invention, and FIGS. An example is shown. In the figure, 1 is a chip (or chip surface), 2 is a logic unit, 3 is an area between logic units, 4 is an empty area on the edge of the chip, and 5 is a unit logic section.
Claims (1)
を組にしたロジック・ユニットとして単一の形状のもの
を用いると共に当該ロジック・ユニットを分布配置する
と共に該ロジック・ユニット上において回路素子が存在
しない上記チップ面上の残余の領域を配線領域にし、上
記ロジック・ユニットおよび/または上記配線領域に接
続端子を有する半導体論理回路装置において、上記配線
領域の幅が上記チップ面の中央部において該チップ。 面の周辺部におけるよりも犬になるよう、単一のチップ
上で上記ロジック・ユニットを非均等に分布配置したこ
とを特徴とする半導体論理回路装置。 2 上記ロジック・ユニットは、チップ面の上記周辺部
において、該チップ端辺に近い位置の配線。 領域の幅が該端辺から遠い位置の配線領域の幅にくらべ
て犬となるよう、分布配置されてなることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の半導体論理回路装置。 3 上記半導体論理回路装置は、上記接続端子のすべて
が未接続状態に置かれていることを特徴とする特許請求
の範囲第1項または第2項記載の半導体論理回路装置。 4 上記半導体論理回路装置は、上記接続端子の一部が
未接続状態に残存していることを特徴とする特許請求の
範囲第1項または第2項記載の半導体論理回路装置。[Scope of Claims] 1. A single-shaped logic unit is used as a set of one or several unit logic parts on a chip surface, and the logic unit is distributed and arranged, and the logic - In a semiconductor logic circuit device in which the remaining area on the chip surface where no circuit element is present on the unit is used as a wiring area, and the logic unit and/or the wiring area has a connecting terminal, the width of the wiring area is as described above. The chip at the center of the chip surface. A semiconductor logic circuit device characterized in that the logic units are non-uniformly distributed on a single chip so that the logic units are distributed more uniformly than in the periphery of the surface. 2. The logic unit is a wiring located near the edge of the chip in the periphery of the chip surface. 2. The semiconductor logic circuit device according to claim 1, wherein the semiconductor logic circuit device is arranged so that the width of the region is smaller than the width of the wiring region at a position far from the edge. 3. The semiconductor logic circuit device according to claim 1 or 2, wherein all of the connection terminals are left unconnected. 4. The semiconductor logic circuit device according to claim 1 or 2, wherein in the semiconductor logic circuit device, some of the connection terminals remain in an unconnected state.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52034971A JPS5824950B2 (en) | 1977-03-29 | 1977-03-29 | semiconductor logic circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52034971A JPS5824950B2 (en) | 1977-03-29 | 1977-03-29 | semiconductor logic circuit device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPS53119692A JPS53119692A (en) | 1978-10-19 |
JPS5824950B2 true JPS5824950B2 (en) | 1983-05-24 |
Family
ID=12429016
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52034971A Expired JPS5824950B2 (en) | 1977-03-29 | 1977-03-29 | semiconductor logic circuit device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPS5824950B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0630376B2 (en) * | 1981-05-27 | 1994-04-20 | 日本電気株式会社 | Method for manufacturing semiconductor device |
JPS58200570A (en) * | 1982-05-19 | 1983-11-22 | Hitachi Ltd | Semiconductor integrated circuit device |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS493035A (en) * | 1972-05-01 | 1974-01-11 |
-
1977
- 1977-03-29 JP JP52034971A patent/JPS5824950B2/en not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS493035A (en) * | 1972-05-01 | 1974-01-11 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS53119692A (en) | 1978-10-19 |
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