JPS5821935A - 測定情報多重伝送システムにおける故障位置検出方式 - Google Patents
測定情報多重伝送システムにおける故障位置検出方式Info
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- JPS5821935A JPS5821935A JP56120723A JP12072381A JPS5821935A JP S5821935 A JPS5821935 A JP S5821935A JP 56120723 A JP56120723 A JP 56120723A JP 12072381 A JP12072381 A JP 12072381A JP S5821935 A JPS5821935 A JP S5821935A
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- G01L9/12—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor
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- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
- G01D5/244—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
- G01D5/248—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains by varying pulse repetition frequency
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は中央処理装置と複数ｏＩＩＩｌ定装置との間
を光伝送路によって結合し、これらの間で光による情報
伝送を行ないうるようにした測定情報伝送方式に関する
ものである。
を光伝送路によって結合し、これらの間で光による情報
伝送を行ないうるようにした測定情報伝送方式に関する
ものである。
従来、かかる情報伝送システムに使用される光伝送路（
光ファイバ）Ｆｉ一般に高価であるため通常は光信号の
分岐または結合を行なう光分岐、結合手段を介して中央
処理装置と複数の測定装置とを光結合することによｐ光
伝送路の使用本数または伝送路長を節約してシステムの
コストダウンを図っている・しかしながら、このような
りステムにおいて中央処理装置または測定装置の送、受
光素子あるいは伝送路に何らかの障害が発生すると、伝
送が金（不＊！！になるという危険性を有しているとと
もに、どの部位で障害が発生したかを検出することがで
きないという欠点を有していた〇この発明は上記に鑑み
なされたもので、上述の如き欠点を除去し、システムの
信頼性を向上させるとと−Ｋ、故障点の検出を容易にす
ることを目的どする亀のである。
光ファイバ）Ｆｉ一般に高価であるため通常は光信号の
分岐または結合を行なう光分岐、結合手段を介して中央
処理装置と複数の測定装置とを光結合することによｐ光
伝送路の使用本数または伝送路長を節約してシステムの
コストダウンを図っている・しかしながら、このような
りステムにおいて中央処理装置または測定装置の送、受
光素子あるいは伝送路に何らかの障害が発生すると、伝
送が金（不＊！！になるという危険性を有しているとと
もに、どの部位で障害が発生したかを検出することがで
きないという欠点を有していた〇この発明は上記に鑑み
なされたもので、上述の如き欠点を除去し、システムの
信頼性を向上させるとと−Ｋ、故障点の検出を容易にす
ることを目的どする亀のである。
この発明の特徴は端的には光伝送路および発。
受光素子に冗長性をもたせるととくより上述の如き危険
性をなくすとと−に、故障の検出を容易にする点にある
。
性をなくすとと−に、故障の検出を容易にする点にある
。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。
第１図はこの発明の実施例を示すシステム構成図、＄１
２−は測定装置Ｏ概要を示すプロッタ図、第３！ＩＩは
測定装置０Ｉｌｌ細を示す回路構成図、第４■Ｆｉ横械
的な変位量を容量値に変換して検出する原理を説明する
九めの原理図、第５Ｉａは第３図の動作を説明するため
のタイムチャート、第６１１は容量検出部の他の実施例
を示す回路図である。
２−は測定装置Ｏ概要を示すプロッタ図、第３！ＩＩは
測定装置０Ｉｌｌ細を示す回路構成図、第４■Ｆｉ横械
的な変位量を容量値に変換して検出する原理を説明する
九めの原理図、第５Ｉａは第３図の動作を説明するため
のタイムチャート、第６１１は容量検出部の他の実施例
を示す回路図である。
第１図において０１１１．０に１２．０１２１〜０ＩＣ
２Ｎはフォトダイオード（ＦＤ）等の受光素子％１０１
１゜１０１２．１０２１〜ｌ０２Ｎは発光ダイオード（
ＬＩＤ）等の発光素子、ｃｍ ｔｉ集中管理室（パネル
側） 、ＳＣは２本の光伝送路をＮ本の光伝送路に光分
岐するとともに、Ｎ本の光伝送路を２本の光伝送路に光
結合するスターカプラ（８Ｃ）、 Ｔ１〜’ｒ）ＪＦｉ
現場（フィールド）側に設けられる測定装置（以下、ト
ラン黒々ツタともいう。）、Ｌｌ、Ｌ２＊Ｌ〒１−ＬＴ
Ｎ＃′ｉ光ファイバからなる光伝送路である。
２Ｎはフォトダイオード（ＦＤ）等の受光素子％１０１
１゜１０１２．１０２１〜ｌ０２Ｎは発光ダイオード（
ＬＩＤ）等の発光素子、ｃｍ ｔｉ集中管理室（パネル
側） 、ＳＣは２本の光伝送路をＮ本の光伝送路に光分
岐するとともに、Ｎ本の光伝送路を２本の光伝送路に光
結合するスターカプラ（８Ｃ）、 Ｔ１〜’ｒ）ＪＦｉ
現場（フィールド）側に設けられる測定装置（以下、ト
ラン黒々ツタともいう。）、Ｌｌ、Ｌ２＊Ｌ〒１−ＬＴ
Ｎ＃′ｉ光ファイバからなる光伝送路である。
測定装置またはトラン黒々ツタＴ１〜Ｔｌ；Ｅｌｆ！２
１ｉＩＫそのブロック構成が示されるように検出部１、
検出部選択回路２、周波数変換回路３、カウンタ４、タ
イ！−５、基準クロック発生回路６、マイクロプロセッ
サ７（以下、μｍ００Ｍ演算回路ともいう・）、光伝送
回路（第１図の変換器０！２１〜０１２Ｎ、震０２１〜
Ｅ０２Ｎ Ｋ相当する。）８、パッチＩＪ Ｋよる電源
回路９およびキーボード１０等より構成される。この測
定装置はさらに第３図に示されるように、検出部１はこ
こではコンデンサＣ１゜０２によって構成され、検出部
選択回路２ｔｊコンデン？Ｃ１，Ｃ２＄Ｐよび測温用の
コンダン？Ｃ，、サーミスタＲａの選択を行なうＣ−Ｍ
Ｏ８←相補形ＭＯｉｌ）！イブのアナログスイッチ８Ｗ
２（ｆｆ２１ 。
１ｉＩＫそのブロック構成が示されるように検出部１、
検出部選択回路２、周波数変換回路３、カウンタ４、タ
イ！−５、基準クロック発生回路６、マイクロプロセッ
サ７（以下、μｍ００Ｍ演算回路ともいう・）、光伝送
回路（第１図の変換器０！２１〜０１２Ｎ、震０２１〜
Ｅ０２Ｎ Ｋ相当する。）８、パッチＩＪ Ｋよる電源
回路９およびキーボード１０等より構成される。この測
定装置はさらに第３図に示されるように、検出部１はこ
こではコンデンサＣ１゜０２によって構成され、検出部
選択回路２ｔｊコンデン？Ｃ１，Ｃ２＄Ｐよび測温用の
コンダン？Ｃ，、サーミスタＲａの選択を行なうＣ−Ｍ
Ｏ８←相補形ＭＯｉｌ）！イブのアナログスイッチ８Ｗ
２（ｆｆ２１ 。
８Ｗ２２） よ）構成され、周波数変換回路３はコンデ
ンサ０１，０２の充放電の切り替えおよび７リツプ７０
ツブＱｌのクリアまたはリセットを行なうアナログスイ
ッチＳＷＩ （ＳＷＩ １ 、８ＷＩ ２ ）と、コン
デンサＣ１また＃ｉｃ２の充電々圧が所定の電圧レベル
（スレッシュホールドレベル）ｔ−ＭＪＬＪトＩＩ−に
ットされ、所定の時定数（抵抗Ｂｆ 、コンデンサＣ
ｆ）によって決まる一定時間後にリセットされるフリッ
プフロップＱｌ （Ｄ形）とから構成されている・な
お、従来の一般的なり形フリップフロップを使用する場
合は、その前段にスレッシュホールドレベルを判別する
ための特別な回路（例ＪＬは、シエきット回路）が必要
となるが、Ｃ−ＭＯＳ形の７リツプ７ｏツグを使用する
場合はこのような回路を必要とせず、その切シ替わ９電
圧をその筐筒スレッシュホールド電圧として使用するこ
とができる・タイマ−５／ｆｉ２段のカウンタＣＴ２
、 ＣＴａから構成され、−一〇〇Ｍ演算回路７からの
リセット信号ＰＯ３の解除によって基準クロック発生回
路６から与えられるクロック信号の計数を開始し、カウ
ンタ（ＣＴＩ ）４からのカウントアツプ信号によって
計数を停止する。μｍＣ０Ｍ演算回路７Ｆｉ基準クロッ
ク発生回路６からのクロック信号によって駆動され種々
の演算、制御動作を行なう。例えば、検出部選択回路２
のアナログスイッチＪｉｉＷ２ Ｆ（：モード選択信号
ＰＯＩまたはＰＯ２を送出してコンデンサＣ１測１定モ
ード、コンデンサＣ２測定モード、または温度測定モー
ド（抵抗Ｒ８およびコンデンサＣ５に上る測定）の選択
を行ない、非漏定時にはカウンタ４およびタイマー５に
対してリセット信号ＰＯ３を与えてこれらのリセットを
行なうとともに、測定時には該リセット信号ＰＯ３を解
除して計数動作を行なわせ、カウンタ４からのカウント
アツプ信号を割込信号ＩＲＱとして受け、タイマー５か
らの計数出力を端子ＰＩＯ〜Ｐ１１５ を介して読取り
、所定の演算を行なう。μ−〇〇Ｍ演算−路７Ｋｔｊ、
管理室側（パネル側）の上位計算機との間で光による情
報の授受を行なうための発光ダイオードＬＥＤおよびフ
ォトダイオードＰＤからなる光伝送回路８、キーボード
１０．発光ダイオードの異常（点灯しきゃ）を検出する
検出回路１１、電力を低減させるために基準クロック発
生回路６およびμ−〇〇Ｍ演算回路７自体を間欠駆動す
るスタンバイモード１路１２等が設けられている。なお
、９は第２図またＦｉ第３図に示される所要の各部へ電
源を供給する九めのバッテリ電源回路である。
ンサ０１，０２の充放電の切り替えおよび７リツプ７０
ツブＱｌのクリアまたはリセットを行なうアナログスイ
ッチＳＷＩ （ＳＷＩ １ 、８ＷＩ ２ ）と、コン
デンサＣ１また＃ｉｃ２の充電々圧が所定の電圧レベル
（スレッシュホールドレベル）ｔ−ＭＪＬＪトＩＩ−に
ットされ、所定の時定数（抵抗Ｂｆ 、コンデンサＣ
ｆ）によって決まる一定時間後にリセットされるフリッ
プフロップＱｌ （Ｄ形）とから構成されている・な
お、従来の一般的なり形フリップフロップを使用する場
合は、その前段にスレッシュホールドレベルを判別する
ための特別な回路（例ＪＬは、シエきット回路）が必要
となるが、Ｃ−ＭＯＳ形の７リツプ７ｏツグを使用する
場合はこのような回路を必要とせず、その切シ替わ９電
圧をその筐筒スレッシュホールド電圧として使用するこ
とができる・タイマ−５／ｆｉ２段のカウンタＣＴ２
、 ＣＴａから構成され、−一〇〇Ｍ演算回路７からの
リセット信号ＰＯ３の解除によって基準クロック発生回
路６から与えられるクロック信号の計数を開始し、カウ
ンタ（ＣＴＩ ）４からのカウントアツプ信号によって
計数を停止する。μｍＣ０Ｍ演算回路７Ｆｉ基準クロッ
ク発生回路６からのクロック信号によって駆動され種々
の演算、制御動作を行なう。例えば、検出部選択回路２
のアナログスイッチＪｉｉＷ２ Ｆ（：モード選択信号
ＰＯＩまたはＰＯ２を送出してコンデンサＣ１測１定モ
ード、コンデンサＣ２測定モード、または温度測定モー
ド（抵抗Ｒ８およびコンデンサＣ５に上る測定）の選択
を行ない、非漏定時にはカウンタ４およびタイマー５に
対してリセット信号ＰＯ３を与えてこれらのリセットを
行なうとともに、測定時には該リセット信号ＰＯ３を解
除して計数動作を行なわせ、カウンタ４からのカウント
アツプ信号を割込信号ＩＲＱとして受け、タイマー５か
らの計数出力を端子ＰＩＯ〜Ｐ１１５ を介して読取り
、所定の演算を行なう。μ−〇〇Ｍ演算−路７Ｋｔｊ、
管理室側（パネル側）の上位計算機との間で光による情
報の授受を行なうための発光ダイオードＬＥＤおよびフ
ォトダイオードＰＤからなる光伝送回路８、キーボード
１０．発光ダイオードの異常（点灯しきゃ）を検出する
検出回路１１、電力を低減させるために基準クロック発
生回路６およびμ−〇〇Ｍ演算回路７自体を間欠駆動す
るスタンバイモード１路１２等が設けられている。なお
、９は第２図またＦｉ第３図に示される所要の各部へ電
源を供給する九めのバッテリ電源回路である。
この実施例に示される測定装置は、圧力等の機械的な変
位量を容量値に変換して検出し、該検出結果をさらにデ
ィジタル量に変換して測定するものである・ここで、そ
の検出原理について第４図を参照して説明する。
位量を容量値に変換して検出し、該検出結果をさらにデ
ィジタル量に変換して測定するものである・ここで、そ
の検出原理について第４図を参照して説明する。
同図に）には２つの固定電極ＥＬｐ間に可動電極ＥＬＶ
が配置され、該可動電極ＥＬＶは圧力等の機械的な変位
に応じて図の左右（矢印Ｒ参照）方向に移動する。この
場合、各電極間の容量ＣＡ１＋ ＣＡ２は一方が増大す
れば他方は減少する、つまり差動的に変位する・ここで
、各電極の面積を８．電極間の誘電率を８、可動電極Ｅ
Ｌｖと固定電極ＥＬＦとの間隔をｄとし、例えば同図■
の点線で示される如く可動電極ｚＬｙがｊｄだけ変位し
たときの容量ＣＡｌ 、 ＣＡ２は ＣＡ１騨Ｍ Ａ／（ｄ−ｊｄ） ＣＡ２− ＃Ａ／（ｄ＋Δｄ） として求められる０ここで、これらの容量の和および差
を考えると、 ＣＡ１ ＋ ＣＡ２ ＝ ｔＡ・２ｄ／（ｄ２−Δ、１
２）ＣＡ２−ＣＡ２− ｔＡ・２Δｄ／（ｄ２−ｊｄ２
）となり、したがってその比をとると、 （ＣＡＬ −ＣＡ２ ）／（ＣＡ１ ＋ Ｃ人？）−Δ
ｄ／ｄが得られ、変位量Δｄを容量値（ＣＡＩ ＣＡ
２）／（ＣＡ１＋ＣＡ２）Ｋよって求めることができる
。
が配置され、該可動電極ＥＬＶは圧力等の機械的な変位
に応じて図の左右（矢印Ｒ参照）方向に移動する。この
場合、各電極間の容量ＣＡ１＋ ＣＡ２は一方が増大す
れば他方は減少する、つまり差動的に変位する・ここで
、各電極の面積を８．電極間の誘電率を８、可動電極Ｅ
Ｌｖと固定電極ＥＬＦとの間隔をｄとし、例えば同図■
の点線で示される如く可動電極ｚＬｙがｊｄだけ変位し
たときの容量ＣＡｌ 、 ＣＡ２は ＣＡ１騨Ｍ Ａ／（ｄ−ｊｄ） ＣＡ２− ＃Ａ／（ｄ＋Δｄ） として求められる０ここで、これらの容量の和および差
を考えると、 ＣＡ１ ＋ ＣＡ２ ＝ ｔＡ・２ｄ／（ｄ２−Δ、１
２）ＣＡ２−ＣＡ２− ｔＡ・２Δｄ／（ｄ２−ｊｄ２
）となり、したがってその比をとると、 （ＣＡＬ −ＣＡ２ ）／（ＣＡ１ ＋ Ｃ人？）−Δ
ｄ／ｄが得られ、変位量Δｄを容量値（ＣＡＩ ＣＡ
２）／（ＣＡ１＋ＣＡ２）Ｋよって求めることができる
。
同様にして、Ｉ！４図（Ｂ）では２つの固定電極ＥＬＦ
に対して可動電極ＥＬｖが図の如く配置され、外部圧力
等の変位によって図の点線位置［ｊｄだけ変位した場合
は次のようになる。この場合、容量ＣＡ１は固定、ＣＡ
２は可変であって、それぞれの値は上記と同様にして ＣＡ１■ｇＡｌｄ 、 ＣＡ２− ｍＡ／（ｄ＋Δｄ）
と表わすことができる。そこで、これらの差を考えると
、 ＣＡ １− ＣＡ ２ ＝ ｌ Ａ ＠Δｄ／ｄ（ｄ＋
Δｄ）であり、したがってＣＡｌ−ＣＡ２とＣＡ２
との比をとると、 （Ｃ’Ａｌ−ＣＡ２−）／ＣＡ２−Δｄ／ｄとなり、い
ずれにしても変位量Δｄを静電容量値の関数として表わ
すことができる。これらの式からも明らかなように、変
位量は静電容量のみの関数となるから、電極間の誘電率
や浮遊容量の影響を受けず、このため機械的な変位量を
容量によって正確に検出することが可能となる。
に対して可動電極ＥＬｖが図の如く配置され、外部圧力
等の変位によって図の点線位置［ｊｄだけ変位した場合
は次のようになる。この場合、容量ＣＡ１は固定、ＣＡ
２は可変であって、それぞれの値は上記と同様にして ＣＡ１■ｇＡｌｄ 、 ＣＡ２− ｍＡ／（ｄ＋Δｄ）
と表わすことができる。そこで、これらの差を考えると
、 ＣＡ １− ＣＡ ２ ＝ ｌ Ａ ＠Δｄ／ｄ（ｄ＋
Δｄ）であり、したがってＣＡｌ−ＣＡ２とＣＡ２
との比をとると、 （Ｃ’Ａｌ−ＣＡ２−）／ＣＡ２−Δｄ／ｄとなり、い
ずれにしても変位量Δｄを静電容量値の関数として表わ
すことができる。これらの式からも明らかなように、変
位量は静電容量のみの関数となるから、電極間の誘電率
や浮遊容量の影響を受けず、このため機械的な変位量を
容量によって正確に検出することが可能となる。
次に、このような検出原理にもとづく測定動作について
、主として第３図および第５図を用いて説明する。
、主として第３図および第５図を用いて説明する。
初期状態に訃いては、μｍ００Ｍ演算回路７がらはモー
ド選択信号ＰＯＩ 、 ＰＯ２Ｆｉ与えられず、リセッ
ト信号ＰＯ３によってカウンタ（ＣＴＩ ） ４および
タイマー５＃′ｉリセツト状態にある・ここで、第５図
（（）の如きコンデンサＣ１の測定モード信号が与えら
れ、ｇｓ図（ロ）の如くリセット信号ＰＯ３が解除され
るとコンデンサＣ１％ ス（７ｆ ８Ｗ２１ ＊ ＳＷ
Ｉ １−抵抗Ｒ１電源ＶＤＤなる経路が形成されるので
、コンデンサＣ１が第５図（ハ）で示されるように充電
される。ｔ１時間後にこの充電々圧がフリップフロッグ
Ｑ１のスレッシュホールド電圧ｖＴＨを超えると、該フ
リップフロッグＱ１がセットされ、−その出力端子Ｑよ
り出力が得られる。この出力は抵抗Ｒｆおよびコンデン
サＣｆに与えられるとともに、アナログスイッチＳＷＩ
にも与えられる。その結果、スイッチ８Ｗ１２が開放さ
れて抵抗Ｒｆ とコンデン？Ｃｆによる充電回路が形成
される。なお、このときｓｗｘ ｉが点線の位置へ切９
替えられ、コンテ：ｙ ｔ Ｃ１の放電が行なわれる。
ド選択信号ＰＯＩ 、 ＰＯ２Ｆｉ与えられず、リセッ
ト信号ＰＯ３によってカウンタ（ＣＴＩ ） ４および
タイマー５＃′ｉリセツト状態にある・ここで、第５図
（（）の如きコンデンサＣ１の測定モード信号が与えら
れ、ｇｓ図（ロ）の如くリセット信号ＰＯ３が解除され
るとコンデンサＣ１％ ス（７ｆ ８Ｗ２１ ＊ ＳＷ
Ｉ １−抵抗Ｒ１電源ＶＤＤなる経路が形成されるので
、コンデンサＣ１が第５図（ハ）で示されるように充電
される。ｔ１時間後にこの充電々圧がフリップフロッグ
Ｑ１のスレッシュホールド電圧ｖＴＨを超えると、該フ
リップフロッグＱ１がセットされ、−その出力端子Ｑよ
り出力が得られる。この出力は抵抗Ｒｆおよびコンデン
サＣｆに与えられるとともに、アナログスイッチＳＷＩ
にも与えられる。その結果、スイッチ８Ｗ１２が開放さ
れて抵抗Ｒｆ とコンデン？Ｃｆによる充電回路が形成
される。なお、このときｓｗｘ ｉが点線の位置へ切９
替えられ、コンテ：ｙ ｔ Ｃ１の放電が行なわれる。
コンデンサＣｆの充電々圧が１１１１１５図（ホ）で示
されるようＫ、所定時間ｔｃｔ＊に所定の値になると、
７リツグ７０ツブＱ１はクリアされ、その結果、７リツ
プフロツグＱ１からは第５図に）の如き一定幅（ｔｃ）
の出力パルスが得られる。なお、７リツプフロツプＱ１
のリセットによってアナログスイッチＳＷＩもオフとな
るので、スイッチ８Ｗ１２ ｔｊ第３（２）の図示位置
に復帰し、コンデンＴＣｆの放電回路を形成する。上述
の時間ｔ１はコンデンサＣ１および抵抗Ｒの大きさに比
例するから、フＶッグフＱッグＱ１の出力からはコンタ
ン？ＣＩの容量値に比例した周波数のパルス信号が得ら
れることＫなる。このパルス信号はカウンタ４によって
計数され、所定数に達すると第５崗（へ）に示される如
きパルス（カウントＵＰ出力）を発してタイマー５によ
る計数を停止させる（Ｉ！５図（ト）参照）。タイマー
５は先のリセット信号ＰＯ３の解除上ともにパルス発生
回路６からのりａツクパルスを計数しており、該計数結
果がカウンタ４からのカラン）ＵＰ信号を受けたμ−Ｃ
ＯＭ演算回路７により端子ＰＩＯ〜Ｐ！１５を介して読
敗られる。
されるようＫ、所定時間ｔｃｔ＊に所定の値になると、
７リツグ７０ツブＱ１はクリアされ、その結果、７リツ
プフロツグＱ１からは第５図に）の如き一定幅（ｔｃ）
の出力パルスが得られる。なお、７リツプフロツプＱ１
のリセットによってアナログスイッチＳＷＩもオフとな
るので、スイッチ８Ｗ１２ ｔｊ第３（２）の図示位置
に復帰し、コンデンＴＣｆの放電回路を形成する。上述
の時間ｔ１はコンデンサＣ１および抵抗Ｒの大きさに比
例するから、フＶッグフＱッグＱ１の出力からはコンタ
ン？ＣＩの容量値に比例した周波数のパルス信号が得ら
れることＫなる。このパルス信号はカウンタ４によって
計数され、所定数に達すると第５崗（へ）に示される如
きパルス（カウントＵＰ出力）を発してタイマー５によ
る計数を停止させる（Ｉ！５図（ト）参照）。タイマー
５は先のリセット信号ＰＯ３の解除上ともにパルス発生
回路６からのりａツクパルスを計数しており、該計数結
果がカウンタ４からのカラン）ＵＰ信号を受けたμ−Ｃ
ＯＭ演算回路７により端子ＰＩＯ〜Ｐ！１５を介して読
敗られる。
こ＼で、上記７リツプフａツブＱｌのスレッシュホール
ド電圧を■１Ｈとすれば、 ｔｌ ＶＴＲ−ＶＤＤ（１−ｅ−”ｌ ） として表わされ、したがってコンデンサＣ１の充電時間
１１ （第５図に）参照）は、 の如く表わされる。
ド電圧を■１Ｈとすれば、 ｔｌ ＶＴＲ−ＶＤＤ（１−ｅ−”ｌ ） として表わされ、したがってコンデンサＣ１の充電時間
１１ （第５図に）参照）は、 の如く表わされる。
を九、上記の時間ｔｃ４同様にして
として表わされる。なお、Ｒｆ、Ｃｆの値は既知である
から、このｔｃは一定値である。
から、このｔｃは一定値である。
したがって、コンデンサＣ１の充、放電動作をｎ回カウ
ントする迄の基準クロック発生ｉ路６からのりＱツクパ
ルスを数えることによシ、すなわちタイマー５かちの計
数出力によってコンデンサＣ１による充放電時間ＴＩ
を求めることができる。
ントする迄の基準クロック発生ｉ路６からのりＱツクパ
ルスを数えることによシ、すなわちタイマー５かちの計
数出力によってコンデンサＣ１による充放電時間ＴＩ
を求めることができる。
この充放電時間Ｔ１は第５図に）からも明らかなように
１充電（ｔｌ）はｎ回であるのに対して放電（ｔｃ）
Ｆｉ韮−１回であるから Ｔ１−ｎＪ ＋（ｎ １）ｔｃ・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・（１）として求めること
ができる。なお、このようｆｃｎ回カウントするのは、
時間測定カウンタ（ＣＴ２゜ＣＴａ ）の分解能を上げ
るためであり、その数ｍは基準クロック発生回路６の出
力周波数、抵抗Ｒの抵抗値またはコンデンサＣ１の容量
値等に応じて適宜選択される。
１充電（ｔｌ）はｎ回であるのに対して放電（ｔｃ）
Ｆｉ韮−１回であるから Ｔ１−ｎＪ ＋（ｎ １）ｔｃ・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・（１）として求めること
ができる。なお、このようｆｃｎ回カウントするのは、
時間測定カウンタ（ＣＴ２゜ＣＴａ ）の分解能を上げ
るためであり、その数ｍは基準クロック発生回路６の出
力周波数、抵抗Ｒの抵抗値またはコンデンサＣ１の容量
値等に応じて適宜選択される。
このようにして、コンデンサＣ１の充放電時間Ｔ１を測
定し先後（なお、測定されるのは厳密には充電時間ｔ１
だけである。）、μｍ００Ｍ演算回路７からの指令信号
ＰＯＩまたはＰＯ２によりスイッチ８Ｗ２１を切換えて
コンタン＋ｊｃ２の測定モードとし、コンデンサＣ２の
充放電時間を測定する。
定し先後（なお、測定されるのは厳密には充電時間ｔ１
だけである。）、μｍ００Ｍ演算回路７からの指令信号
ＰＯＩまたはＰＯ２によりスイッチ８Ｗ２１を切換えて
コンタン＋ｊｃ２の測定モードとし、コンデンサＣ２の
充放電時間を測定する。
この場の動作の態様は全く同様であるから説明は省略す
るが、そのタイムチャートは第５図の右側半分ＫＣ２モ
ードとして示されている。な訃、この場合の充放電時間
〒２は（１）式と同様にしてＴ２ ＝ ｎｔ２ ＋ （
１１−１）ｔｃ ・・川・川・旧・・・・・叫・呻値
）となる。
るが、そのタイムチャートは第５図の右側半分ＫＣ２モ
ードとして示されている。な訃、この場合の充放電時間
〒２は（１）式と同様にしてＴ２ ＝ ｎｔ２ ＋ （
１１−１）ｔｃ ・・川・川・旧・・・・・叫・呻値
）となる。
ｐ−Ｃ０Ｍ 演ｊｌｌｌｌ路７ テｔｊ上記（１） 、
（１０式より次の如き演算を行なう。
（１０式より次の如き演算を行なう。
ＴＩ ＋７２−２（ｎ−１）ｔに
の１）式は先の原理図における説明からも明らか・なよ
うに変位に比例するから、μｍＣ０Ｍ演ｊ！−路７では
上記の如き演算を行なうことによってその変位を測定で
きることがわかる。
うに変位に比例するから、μｍＣ０Ｍ演ｊ！−路７では
上記の如き演算を行なうことによってその変位を測定で
きることがわかる。
なお、上記ではコンデンサＣ１５Ｃ２の容量を差動的に
変化させることにより機械的な変位量、例えば差圧ΔＰ
を測定するようにしたが、＄１！６図に示されるように
、コンデンサの一方（Ｃ２）を固定とし５、他方（ＣＩ
）を可変とするものについても同様に測定しうろことは
、先の原理図の説明からも明らかである。ただし、この
場合は上記の差圧ΔＰのかわりに圧力Ｐを求める仁とと
なるか、その演算式は上記と同様にして次のように表わ
される。
変化させることにより機械的な変位量、例えば差圧ΔＰ
を測定するようにしたが、＄１！６図に示されるように
、コンデンサの一方（Ｃ２）を固定とし５、他方（ＣＩ
）を可変とするものについても同様に測定しうろことは
、先の原理図の説明からも明らかである。ただし、この
場合は上記の差圧ΔＰのかわりに圧力Ｐを求める仁とと
なるか、その演算式は上記と同様にして次のように表わ
される。
上記の実施例においては、機械的な変位量を静電容量値
に変換して検出するようにしたが、これを抵抗１周波数
または電圧に変換して検出することも可能である・ 第７〜９図は検出部の他の実施例を示す回Ｍ図で、第７
ＬＶ、ｌは抵抗に変換する場合、第８図は周波数に変換
する場合、そして第９因は電圧に変換して検出する場合
をそれぞれ示すものである。
に変換して検出するようにしたが、これを抵抗１周波数
または電圧に変換して検出することも可能である・ 第７〜９図は検出部の他の実施例を示す回Ｍ図で、第７
ＬＶ、ｌは抵抗に変換する場合、第８図は周波数に変換
する場合、そして第９因は電圧に変換して検出する場合
をそれぞれ示すものである。
これらの図において、コンダン？Ｃの容量値および抵抗
ＲＣの抵抗値はともに既知であり、またスイッチＳＷＩ
１ 、８Ｗ２１およびフリップフロップＱ１は第３一
実施例に示されるものと同様のものであるＯ 第７図（ａ）〜（ｅ）Ｋおける検出原理はいずれも容量
による検出原理と全く同様であって、充電ま良は放電時
間が抵抗とコンデンサとの積に比例することを利用して
、と＼では抵抗値を求めるようＫしたものである。すな
わち、同図（ａ）Ｋ：示されるものはスイッチ８Ｗ２１
をＲＸ側に倒してその充放電時間〒１を求め、次にＲＣ
側に倒して同様に充放電間Ｔ２を求め、 なる演算によってＲＸの抵抗値を求める。
ＲＣの抵抗値はともに既知であり、またスイッチＳＷＩ
１ 、８Ｗ２１およびフリップフロップＱ１は第３一
実施例に示されるものと同様のものであるＯ 第７図（ａ）〜（ｅ）Ｋおける検出原理はいずれも容量
による検出原理と全く同様であって、充電ま良は放電時
間が抵抗とコンデンサとの積に比例することを利用して
、と＼では抵抗値を求めるようＫしたものである。すな
わち、同図（ａ）Ｋ：示されるものはスイッチ８Ｗ２１
をＲＸ側に倒してその充放電時間〒１を求め、次にＲＣ
側に倒して同様に充放電間Ｔ２を求め、 なる演算によってＲＸの抵抗値を求める。
同じく、同一（Ｏ）に示されるものは先の実施例におけ
るコンダン？ Ｃ１ａ Ｃ２を抵抗Ｒ１，Ｒ２におきか
えたものに相当するから、その演算式もの如く全く同様
に表わされることになる。
るコンダン？ Ｃ１ａ Ｃ２を抵抗Ｒ１，Ｒ２におきか
えたものに相当するから、その演算式もの如く全く同様
に表わされることになる。
ま九、同ＷＪ伽）に示されるものはライン抵抗Ｒ４が変
動する場合である。し九がって、スイッチ８Ｗ２１を順
次切シ替えることＫよってＲｚ ＋ ２Ｒ４。
動する場合である。し九がって、スイッチ８Ｗ２１を順
次切シ替えることＫよってＲｚ ＋ ２Ｒ４。
２ＲｊおよびＲＣＫよるそれぞれの充放電時間Ｔｌ。
Ｔ２およびＴうを求め
なゐ演算式より抵抗値ＲＸを測定する。
第８図においては、検出部にてすでに周波数に変換され
ている・から、第３図実施例の如き周波数変換回路は不
要となり、検出部からの出力は適宜増巾されて直接カウ
ンタへ導入される。この場合、カウンタが所定数Ｎを計
数する迄にどれだけの時間Ｔがか＼るかを演算すること
によってその周波数（Ｎ／り）を求めることができる。
ている・から、第３図実施例の如き周波数変換回路は不
要となり、検出部からの出力は適宜増巾されて直接カウ
ンタへ導入される。この場合、カウンタが所定数Ｎを計
数する迄にどれだけの時間Ｔがか＼るかを演算すること
によってその周波数（Ｎ／り）を求めることができる。
＄１！９図は電圧Ｅ１に変換して検出する場合であって
、コンゾンデＣＫ一定の電流（Ｉ）を流して充電を行な
い、該充電され要電流に比例する電圧を演算増巾器ＯＰ
２の一方に与え、演算増巾器ＯＰ２のもう一方の入力に
は演算増巾器ＯＰＩによって増巾され九入力（測定）電
圧Ｅ１を導入し、充電々圧が該入力（測定）電圧Σｌを
超えたとき７リツプフロツプＱ１を七ッ卜するようにし
たものである。コンデンサＣによる充電は一定の態様で
行なわれるのに対し、測定入力電圧レベルｇｌが変動す
るので、これＫよって電圧値に応じ九周波数信号を得る
ことができる。こ＼で、スイッチＳＷ２１が図示の状１
１にあるときの時間測定出力をＴ２、また図示とは反対
側に切〕替えたときのそれをＴ１とすると、Ｔ２−Ｔｌ
−ＣＸ／Ｉ ＠Ｅｌ なる演算によって電圧Ｅｌ を求めることができる０こ
〜に、■はコンデンサＣに与えられる一定の電’ Ｒ５
Ｃｚはコンダン？Ｃの容量値である。
、コンゾンデＣＫ一定の電流（Ｉ）を流して充電を行な
い、該充電され要電流に比例する電圧を演算増巾器ＯＰ
２の一方に与え、演算増巾器ＯＰ２のもう一方の入力に
は演算増巾器ＯＰＩによって増巾され九入力（測定）電
圧Ｅ１を導入し、充電々圧が該入力（測定）電圧Σｌを
超えたとき７リツプフロツプＱ１を七ッ卜するようにし
たものである。コンデンサＣによる充電は一定の態様で
行なわれるのに対し、測定入力電圧レベルｇｌが変動す
るので、これＫよって電圧値に応じ九周波数信号を得る
ことができる。こ＼で、スイッチＳＷ２１が図示の状１
１にあるときの時間測定出力をＴ２、また図示とは反対
側に切〕替えたときのそれをＴ１とすると、Ｔ２−Ｔｌ
−ＣＸ／Ｉ ＠Ｅｌ なる演算によって電圧Ｅｌ を求めることができる０こ
〜に、■はコンデンサＣに与えられる一定の電’ Ｒ５
Ｃｚはコンダン？Ｃの容量値である。
以上の如く構成され九測定装置またはトランスミッタは
、累１図で示されるように、２：Ｎに光分妓し、かつＮ
：２に光結合するスターカプラを介して集中管理室内の
中央処理装置と接続されている。すなわち、光伝送路Ｌ
１＊Ｌ２は二重化されておシ、該二重化に伴ない管理室
ＣＥ内の中央処理装置には二対の発、受光素子ＥＯＩＩ
、ＥＯ１２および０１１１，０Ｅ１２が設けられている
。
、累１図で示されるように、２：Ｎに光分妓し、かつＮ
：２に光結合するスターカプラを介して集中管理室内の
中央処理装置と接続されている。すなわち、光伝送路Ｌ
１＊Ｌ２は二重化されておシ、該二重化に伴ない管理室
ＣＥ内の中央処理装置には二対の発、受光素子ＥＯＩＩ
、ＥＯ１２および０１１１，０Ｅ１２が設けられている
。
と＼で、再び第１図を参照して故障箇所検出方法につい
て説明する。
て説明する。
まず、管理室ＣＥ内の発光素子Ｅ０１１またはＥＯ１２
のいずれか一方を選択してしかるべき情報を発する。該
情報は光伝送路Ｌ １ ＊ Ｌ ２のいずれか一方を介
してスターカプラ８Ｃに与えられ、と＼でＮ個に分岐さ
れる。！’ＤＩ！Ｉに分岐された情報はさらに光伝送路
ＬＴＩ〜ｌ７ｒＮｔ介して各トランスミッタの受光素子
０Ｅ２１〜０Ｅ２Ｎ で受信される。各トランスミッ
タはこの受信情報にもとづいて所足の情報を発光素子Ｅ
Ｏ２１−ＥＯ２Ｎを経て上記とは逆のルートで管理室Ｃ
Ｉへ返送するので、管理室ＣＥ内の中央処理装置では上
記指令情報にもとづく所定の情報が返送されてくるか否
か、ま九はその返送情報の内容によって、その故障点位
置を診断する・ いま、例えば中央ＩＩ＆珊装置側の受光素子０）Ｃ１ｌ
カ故障しているものと仮定する。ただし、ここでは故障
部所が同１１には２つ以上発生しないことが前提である
。
のいずれか一方を選択してしかるべき情報を発する。該
情報は光伝送路Ｌ １ ＊ Ｌ ２のいずれか一方を介
してスターカプラ８Ｃに与えられ、と＼でＮ個に分岐さ
れる。！’ＤＩ！Ｉに分岐された情報はさらに光伝送路
ＬＴＩ〜ｌ７ｒＮｔ介して各トランスミッタの受光素子
０Ｅ２１〜０Ｅ２Ｎ で受信される。各トランスミッ
タはこの受信情報にもとづいて所足の情報を発光素子Ｅ
Ｏ２１−ＥＯ２Ｎを経て上記とは逆のルートで管理室Ｃ
Ｉへ返送するので、管理室ＣＥ内の中央処理装置では上
記指令情報にもとづく所定の情報が返送されてくるか否
か、ま九はその返送情報の内容によって、その故障点位
置を診断する・ いま、例えば中央ＩＩ＆珊装置側の受光素子０）Ｃ１ｌ
カ故障しているものと仮定する。ただし、ここでは故障
部所が同１１には２つ以上発生しないことが前提である
。
この場合、盲ず発光素子１０１１から指令情報を送出す
ると、その返送情報はトランスオッタＴ１〜ＴＮからス
ターカブ′ｙ８Ｃを介して光伝送路Ｌｌ。
ると、その返送情報はトランスオッタＴ１〜ＴＮからス
ターカブ′ｙ８Ｃを介して光伝送路Ｌｌ。
Ｌ２に返送されて（為ので、受光素子０１８１２ではそ
の返送情報を受信するが、受光素子０１ＣＩＩは故障し
ているため受信することができない・これは、発光素子
Ｅ０１２を選択して指令情報を発した場合も同様であっ
て、矢張９受光素子０１ＣＩＩでは返送情報を受信する
仁とができない・また、例えば発光素子Ｆｏｉｌが故障
している場合は、骸発光素子Ｅ０１１を選択して指令情
報を発しても、もともと発光素子が故障しているので受
光素子ｏｇｔ１．ｏｘ１２では情報を受信し得す、発光
素子ＥＯ１２を選択して指令情報を発した場合にはじめ
て両受光素子０Ｅ１１，０Ｅ１２にて清報が受信される
ことになる。
の返送情報を受信するが、受光素子０１ＣＩＩは故障し
ているため受信することができない・これは、発光素子
Ｅ０１２を選択して指令情報を発した場合も同様であっ
て、矢張９受光素子０１ＣＩＩでは返送情報を受信する
仁とができない・また、例えば発光素子Ｆｏｉｌが故障
している場合は、骸発光素子Ｅ０１１を選択して指令情
報を発しても、もともと発光素子が故障しているので受
光素子ｏｇｔ１．ｏｘ１２では情報を受信し得す、発光
素子ＥＯ１２を選択して指令情報を発した場合にはじめ
て両受光素子０Ｅ１１，０Ｅ１２にて清報が受信される
ことになる。
さらに、例えば伝送路Ｌｌが故障している場合を考える
と、この場合も発光素子ＥＯＩＩを選択したときは受光
素子ＯＥＩ １ 、０Ｅ１２では情報を受信できないが
、発光素子１０１２を選択したときは受光素子０Ｅ１２
のみにて所定の情報が受信される。以下、同様にして、
これら故障位置（へ）と、受光素子０Ｅ１１．０ＩＣ１
２Ｋ＞ける受信情報の有０）、無（Ｘ） 、＆の関係を
まとめると次表の如く表わされる。なお、（→は発光素
子Ｅ０１１を選択して指令情報を送出し九場合であシ、
ｆｌ／Ｉｉ発光素子発光素子全Ｏ１２九場合である。
と、この場合も発光素子ＥＯＩＩを選択したときは受光
素子ＯＥＩ １ 、０Ｅ１２では情報を受信できないが
、発光素子１０１２を選択したときは受光素子０Ｅ１２
のみにて所定の情報が受信される。以下、同様にして、
これら故障位置（へ）と、受光素子０Ｅ１１．０ＩＣ１
２Ｋ＞ける受信情報の有０）、無（Ｘ） 、＆の関係を
まとめると次表の如く表わされる。なお、（→は発光素
子Ｅ０１１を選択して指令情報を送出し九場合であシ、
ｆｌ／Ｉｉ発光素子発光素子全Ｏ１２九場合である。
表
上記の表からも明らかなように、故障位置に応じて受光
素子０１ＣＩＩ、０１１２における受信情報の有無の対
様が異なるので、管理室ＣＥ内の中央処理装置ではこの
パターンを調べることＫよりどの位置で故障が生じてい
るかを知ることができる。なお、光伝送路ＬＴＩ””Ｌ
ＴＮ＝発光累子Ｅ０２１〜ＫＯ２’Ｎ。
素子０１ＣＩＩ、０１１２における受信情報の有無の対
様が異なるので、管理室ＣＥ内の中央処理装置ではこの
パターンを調べることＫよりどの位置で故障が生じてい
るかを知ることができる。なお、光伝送路ＬＴＩ””Ｌ
ＴＮ＝発光累子Ｅ０２１〜ＫＯ２’Ｎ。
受光素子０Ｅ２１〜０Ｎ２Ｎを含むトランスミツタテ１
〜ＴＮ系においては、どの伝送路（ＬＴＩ〜Ｉ、ＴＮ）
またけ累子（０１２１〜２Ｎ 、 ＫＯ２１〜２Ｎ）
に故障が生じたかの判定までは出来ないが、返送情報の
内容を調べることＫよって、スターカプラＳＣから先の
どのトランスンツタ系に故障が生じたかを知ることがで
きる。
〜ＴＮ系においては、どの伝送路（ＬＴＩ〜Ｉ、ＴＮ）
またけ累子（０１２１〜２Ｎ 、 ＫＯ２１〜２Ｎ）
に故障が生じたかの判定までは出来ないが、返送情報の
内容を調べることＫよって、スターカプラＳＣから先の
どのトランスンツタ系に故障が生じたかを知ることがで
きる。
以上のように、この発明によれば、光伝送路を二重化す
るとともに、該二重化に対応して二対の発、受光素子を
管理室内の中央処理装置に設けるようＫしたので、シス
テムの信頼性が向上するとともに故障位置の検出をきわ
めて容Ｊ６になしうるものである。
るとともに、該二重化に対応して二対の発、受光素子を
管理室内の中央処理装置に設けるようＫしたので、シス
テムの信頼性が向上するとともに故障位置の検出をきわ
めて容Ｊ６になしうるものである。
第１図はこの発明の実施例を示すシステム構成図、第２
図は測定装置ｔ（）ランスミッタ）の概要を示すブロッ
ク図、第３図は測定装置（トランスきツタ）の詳細を示
す回路構成図、第４図ｔ’ｈ機械的な変位量を容量値に
変換して検出する原理を説明するための原理図、第５図
は第３図の動作を説明するためのタイムチャート、第６
図は容値検出部の他の実施例を示す回路図、第７図は抵
抗検出部の実施例を示す回路図、第８図は周波数検出部
の実施例を示す回路図、第９図は電圧検出部の実施例を
示す回路図である。 符号説明 １・・・検出部、２・・・検出部選択回路、３・・・周
波数変換回路、４・・・カウンタ、５・・・タイマー、
６・・・基準クロックパルス発生回路、７・・・μｍＣ
０Ｍ演Ｘ口路、８・・・光伝送回路、９・・・バッテリ
電源回路、１０・・・キーボード、１１・・・ＬＥＤ異
常検出回路、１２・−・スタンバイモード回路、ＣＥ・
−・集中管理室、ＯＥｌ １゜０Ｋ１２ 、０Ｅ２１〜
０Ｅ２Ｎ・・・受光素子、ＥＯＩＩ、ＫＯ１２・］１Ｃ
０２１〜ＫＯ２Ｎ ・・・発光素子、Ｌ１１Ｌ２＃ＬＴ
１１ＬＴＮ・−・光伝送路、８Ｃ・・・カプラ、Ｔ１〜
ＴＮ−・測定装置（トランス建ツメ） 、 ８Ｗ１ 、
８Ｗ２・・・アナログスイッチ、ＣＴＩ〜ＣＴ３−・カ
ウンタ、Ｑｌ ・・・７リツプフロツグ、ＯＰＩ 、
ＯＦ２・・・演算増巾器代理人 弁理士 並 木 昭
夫 代理人 弁理士 松 崎 清
図は測定装置ｔ（）ランスミッタ）の概要を示すブロッ
ク図、第３図は測定装置（トランスきツタ）の詳細を示
す回路構成図、第４図ｔ’ｈ機械的な変位量を容量値に
変換して検出する原理を説明するための原理図、第５図
は第３図の動作を説明するためのタイムチャート、第６
図は容値検出部の他の実施例を示す回路図、第７図は抵
抗検出部の実施例を示す回路図、第８図は周波数検出部
の実施例を示す回路図、第９図は電圧検出部の実施例を
示す回路図である。 符号説明 １・・・検出部、２・・・検出部選択回路、３・・・周
波数変換回路、４・・・カウンタ、５・・・タイマー、
６・・・基準クロックパルス発生回路、７・・・μｍＣ
０Ｍ演Ｘ口路、８・・・光伝送回路、９・・・バッテリ
電源回路、１０・・・キーボード、１１・・・ＬＥＤ異
常検出回路、１２・−・スタンバイモード回路、ＣＥ・
−・集中管理室、ＯＥｌ １゜０Ｋ１２ 、０Ｅ２１〜
０Ｅ２Ｎ・・・受光素子、ＥＯＩＩ、ＫＯ１２・］１Ｃ
０２１〜ＫＯ２Ｎ ・・・発光素子、Ｌ１１Ｌ２＃ＬＴ
１１ＬＴＮ・−・光伝送路、８Ｃ・・・カプラ、Ｔ１〜
ＴＮ−・測定装置（トランス建ツメ） 、 ８Ｗ１ 、
８Ｗ２・・・アナログスイッチ、ＣＴＩ〜ＣＴ３−・カ
ウンタ、Ｑｌ ・・・７リツプフロツグ、ＯＰＩ 、
ＯＦ２・・・演算増巾器代理人 弁理士 並 木 昭
夫 代理人 弁理士 松 崎 清
Claims (1)
- 一方向には光を分岐し、働方肉には光を結合す為光分鋏
、曽合手段を介して１側の中央４６１ｍ装置と鳳儒の一
定装置とを光結合し、該中央処理装置からＯ指令に％と
づいて烏−の一定装置からの各測定情報を多重化して伝
送するようＫした測定情報多重伝送システムにおいて、
該中央処理装置と光分紋、曽合手段との間の光伝送路を
二重化するとともに、腋二重化に応じて中央処理装置に
二対の発、受光素子を設け、中央処理装置から前記発光
素子のいずれかを交互に選択して各測定装置に指令を発
し、腋指令にもとづく台測定装置からの返送情報が前記
光分岐、結合手段および光伝送路゛を介して中央処理装
置内の受光素子で受信されるか否かまたはその受信内容
を調べることによりその故障箇所を検出しうるようＫし
たことを特徴とする測定情報多重伝送システムにおけゐ
故障位置検出方式。
Priority Applications (10)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56120723A JPS5821935A (ja) | 1981-08-03 | 1981-08-03 | 測定情報多重伝送システムにおける故障位置検出方式 |
| US06/402,377 US4531193A (en) | 1981-07-30 | 1982-07-27 | Measurement apparatus |
| CA000408285A CA1220835A (en) | 1981-07-30 | 1982-07-28 | Measurement apparatus |
| AU86518/82A AU549860B2 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-28 | Measurement apparatus |
| BR8204472A BR8204472A (pt) | 1981-07-30 | 1982-07-29 | Aparelho para medir uma quantidade fisica e fornecer dados de medicao correspondentes |
| DE8484114777T DE3279510D1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
| DE19823229010 DE3229010A1 (de) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Digitale messeinrichtung fuer eine physikalische groesse |
| DE8282106917T DE3274495D1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
| EP82106917A EP0071912B1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
| EP84114777A EP0159401B1 (en) | 1981-07-30 | 1982-07-30 | Measurement apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56120723A JPS5821935A (ja) | 1981-08-03 | 1981-08-03 | 測定情報多重伝送システムにおける故障位置検出方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5821935A true JPS5821935A (ja) | 1983-02-09 |
| JPS6322696B2 JPS6322696B2 (ja) | 1988-05-12 |
Family
ID=14793402
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56120723A Granted JPS5821935A (ja) | 1981-07-30 | 1981-08-03 | 測定情報多重伝送システムにおける故障位置検出方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5821935A (ja) |
-
1981
- 1981-08-03 JP JP56120723A patent/JPS5821935A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6322696B2 (ja) | 1988-05-12 |
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