JPS58106483A - 放射線測定装置 - Google Patents
放射線測定装置Info
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- JPS58106483A JPS58106483A JP20568381A JP20568381A JPS58106483A JP S58106483 A JPS58106483 A JP S58106483A JP 20568381 A JP20568381 A JP 20568381A JP 20568381 A JP20568381 A JP 20568381A JP S58106483 A JPS58106483 A JP S58106483A
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- measurement
- measurement sample
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T7/00—Details of radiation-measuring instruments
- G01T7/08—Means for conveying samples received
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は放射線測定装置の改良に関する。
発明の技術的背景
一般に複数の放射性物質の放射＝ｔを測定するには放射
線検出器を固定し、放射性物質を測定台に載せこの測定
台を放射線検出器近くを通過させる手段が用いられてい
る。この手段によれば能率良く数多くの放射性物質の放
射線測定が行なえる。
線検出器を固定し、放射性物質を測定台に載せこの測定
台を放射線検出器近くを通過させる手段が用いられてい
る。この手段によれば能率良く数多くの放射性物質の放
射線測定が行なえる。
そこで、この種の測定装置の従来例を第１図に示し、こ
れを説明する。１は一定速度で矢印方向に移動する測定
台でこの測定台１上に測定試料２が載せられている。こ
の測定試料２は測定台１によって放射線検出器３の直下
を前記の一定速度で通過する。放射線検出器３には検出
長Ａなる検出面４があり、この検出面４によシ前記測定
試料２が通過する時ＩＩＪ１測定試料２の放射線を検出
する。そして検出された放射＃菫はその線量に応じた・
やルス信号として放射線検出ａ３よす出力される。この
・ぐルス信号は放射線検出器３に接続されている波形整
形回路５によって波形優形され、さらに同整形回路５に
接続されている積算計数回路６によって所定の積算時間
で積算され計数率が得られる。
れを説明する。１は一定速度で矢印方向に移動する測定
台でこの測定台１上に測定試料２が載せられている。こ
の測定試料２は測定台１によって放射線検出器３の直下
を前記の一定速度で通過する。放射線検出器３には検出
長Ａなる検出面４があり、この検出面４によシ前記測定
試料２が通過する時ＩＩＪ１測定試料２の放射線を検出
する。そして検出された放射＃菫はその線量に応じた・
やルス信号として放射線検出ａ３よす出力される。この
・ぐルス信号は放射線検出器３に接続されている波形整
形回路５によって波形優形され、さらに同整形回路５に
接続されている積算計数回路６によって所定の積算時間
で積算され計数率が得られる。
また上記装置の放射線検出器３によって求められた計数
率は、縦軸に計数率Ｋ、横軸に時間ｔをとった第２図で
表わされる。この図中の斜線部の面積が測定試料２に比
例した放射−強度を示すものである。なお、ｔｌは積算
時間で、検出長Ａを測定台１の移動速度で割った時間に
相当する。また斜線部以外の計数率レベルは測定試料６
以外からの・々ツクグラウンド計数率である。この様に
通常、放射線測定にはパラフグ１ ラウンド計数を伴ないこれに上乗せした形で測定試料の
放射線が測定される。
率は、縦軸に計数率Ｋ、横軸に時間ｔをとった第２図で
表わされる。この図中の斜線部の面積が測定試料２に比
例した放射−強度を示すものである。なお、ｔｌは積算
時間で、検出長Ａを測定台１の移動速度で割った時間に
相当する。また斜線部以外の計数率レベルは測定試料６
以外からの・々ツクグラウンド計数率である。この様に
通常、放射線測定にはパラフグ１ ラウンド計数を伴ないこれに上乗せした形で測定試料の
放射線が測定される。
ところで放射線を測定する装置における感度とは・々ツ
クグラウンド計数率に対して測定試料を測定した時のデ
ータが統計上どの程度の有意差をもっているかを尺度と
している。すなわちこの有意差を認め得る値を係る装置
の感度として定義されている。これを式で表わすと一般
に次式の様になる。
クグラウンド計数率に対して測定試料を測定した時のデ
ータが統計上どの程度の有意差をもっているかを尺度と
している。すなわちこの有意差を認め得る値を係る装置
の感度として定義されている。これを式で表わすと一般
に次式の様になる。
感度＝に〆篩；］−・・・・・（１）
すなわちパックグラウンド計数率ＲＢＧが小か、積算時
間Ｔが大のものが感度の良いものとなる１そこで上記従
来装＋１における感度は上記定義よシ第２図の時間ｔ１
でのパックグラウンド計数率の面積と測定試料を測定し
た時の計数率の面積（同図斜線部）によって決定される
。
間Ｔが大のものが感度の良いものとなる１そこで上記従
来装＋１における感度は上記定義よシ第２図の時間ｔ１
でのパックグラウンド計数率の面積と測定試料を測定し
た時の計数率の面積（同図斜線部）によって決定される
。
背景技術の問題点
上記構成の装置において感度向上を図るとした場合、感
度決定要素となる測定試料の移動速度を遅くするかある
いは放射線検出器の検出長を長くすることが考えられる
。しかしながら測定台の移動速度を遅くすることは放射
性物質を長時間測定台上に放置することになシ好ましく
ない。また検出長を長くすること積算時間を長くとれる
が検出されるパックグラウンド計数率も増加するために
結果的には感度向上にならない欠点をもっている。
度決定要素となる測定試料の移動速度を遅くするかある
いは放射線検出器の検出長を長くすることが考えられる
。しかしながら測定台の移動速度を遅くすることは放射
性物質を長時間測定台上に放置することになシ好ましく
ない。また検出長を長くすること積算時間を長くとれる
が検出されるパックグラウンド計数率も増加するために
結果的には感度向上にならない欠点をもっている。
発明の目的
本発明は測定試料の移動速度を遅くすることなく放射線
測定の感度を向上することの出来る放射線測定装置を提
供することを目的とする。
測定の感度を向上することの出来る放射線測定装置を提
供することを目的とする。
発明の概要
本発明は、上記目的達成のため、移動する放射性測定試
料の放射線を測定する放射線測定装置において、放射線
検出器を複数個用いて、１つの放射性測定試料の放射線
を順次検出すること。そして、これら検出器より検出さ
れた検出時間に応じた量の放射線量をそれぞれ計数積算
し、後に両者を加算して、この加算値を前記放射性測定
試料の放射線強度とすることとした放５− 射射線測定装置である。
料の放射線を測定する放射線測定装置において、放射線
検出器を複数個用いて、１つの放射性測定試料の放射線
を順次検出すること。そして、これら検出器より検出さ
れた検出時間に応じた量の放射線量をそれぞれ計数積算
し、後に両者を加算して、この加算値を前記放射性測定
試料の放射線強度とすることとした放５− 射射線測定装置である。
発明の実施例
本発明の実施例を第３図、第４図を用いて説明する。な
お第３図は構成図、第４図は測定データを示す図である
。
お第３図は構成図、第４図は測定データを示す図である
。
第３図において、１０は一定速度で矢印方向へ移動する
測定台でこの測定台１０上に測定試料１１が載せられて
いる。そして測定試料１１が通過する真上に測定試料１
１の放射ａ量に応じて・やルス信号を出力する放射線検
出器１２゜１３が、それぞれの検出面１４．１５を測定
台１θに向けて、測定台１０の移動方向に直線的に並ぶ
様に設置されている。なお、前記検出面１４．１５は測
定台１θの移動方向Ｂの検出長をもっている。放射線検
出器１２．１３には出力される・ぐルス信号を波形整形
する波形整形回路１６．１７がそれぞれ接続されている
。さらにこれら波形整形回路１６．１７にはパルス信号
を所定の時間で積算し計数率にする積算計数回路１８．
１９がそれぞれ接続されている。そ６一 してこれら積算計数回路１８．１９の出力の加算を行な
う加算回路２０が両積算計数回路１８゜１９に接続され
ている。まだ前記積算計数回路１８．１９の積算開始お
よび停止のタイミングと、前記加算回路２０の加算タイ
ミングを決めるタイマー回路２１が前記積算計数回路１
８゜１９および加算回路２０に接続されている。
測定台でこの測定台１０上に測定試料１１が載せられて
いる。そして測定試料１１が通過する真上に測定試料１
１の放射ａ量に応じて・やルス信号を出力する放射線検
出器１２゜１３が、それぞれの検出面１４．１５を測定
台１θに向けて、測定台１０の移動方向に直線的に並ぶ
様に設置されている。なお、前記検出面１４．１５は測
定台１θの移動方向Ｂの検出長をもっている。放射線検
出器１２．１３には出力される・ぐルス信号を波形整形
する波形整形回路１６．１７がそれぞれ接続されている
。さらにこれら波形整形回路１６．１７にはパルス信号
を所定の時間で積算し計数率にする積算計数回路１８．
１９がそれぞれ接続されている。そ６一 してこれら積算計数回路１８．１９の出力の加算を行な
う加算回路２０が両積算計数回路１８゜１９に接続され
ている。まだ前記積算計数回路１８．１９の積算開始お
よび停止のタイミングと、前記加算回路２０の加算タイ
ミングを決めるタイマー回路２１が前記積算計数回路１
８゜１９および加算回路２０に接続されている。
次に上記構成される装置の作用を説明する。
測定台１０の移動によって測定試料１１がまず、放射線
検出器１２の検出面１４の範囲に侵入すると、タイマー
回路２１が積算計数回路１８に積算動作させる。したが
ってこの積算計数回路１８は放射線検出器１２よ）出力
される測定試料１１の放射線量に応じた・ぐルス信号を
波形整形回路１６を介して積算する。この積算時間は、
測定試料１１が検出面１４の範囲を脱出するまでの時間
で、検出面１４の検出長Ｂを測定台１０の移動速度で割
った時間に相当する。以上の時間の経過後積算計数回路
１８の出力は加算回路２０に保持され、タイマー回路２
１は積算計数回路１８の積算停止を行なう。さらに、測
定試料１１が移動し放射線検出器１３の検出面１５の範
囲に侵入した時も上記と同様にタイマー回路２１によっ
て積算計数回路１９は積算開始を行ない、上記と同じ積
算時間経過後同計数回路１９の出力が加算回路２０に入
力されタイマー回路２０によって積算停止が行なわれる
。
検出器１２の検出面１４の範囲に侵入すると、タイマー
回路２１が積算計数回路１８に積算動作させる。したが
ってこの積算計数回路１８は放射線検出器１２よ）出力
される測定試料１１の放射線量に応じた・ぐルス信号を
波形整形回路１６を介して積算する。この積算時間は、
測定試料１１が検出面１４の範囲を脱出するまでの時間
で、検出面１４の検出長Ｂを測定台１０の移動速度で割
った時間に相当する。以上の時間の経過後積算計数回路
１８の出力は加算回路２０に保持され、タイマー回路２
１は積算計数回路１８の積算停止を行なう。さらに、測
定試料１１が移動し放射線検出器１３の検出面１５の範
囲に侵入した時も上記と同様にタイマー回路２１によっ
て積算計数回路１９は積算開始を行ない、上記と同じ積
算時間経過後同計数回路１９の出力が加算回路２０に入
力されタイマー回路２０によって積算停止が行なわれる
。
以上２つの放射線検出器１２．１３を測定試料１１が通
過後加算回路２０はタイマー回路２１からのタイミング
信号によって前記積算計数回路１８，１９の両計数率の
加算を行なう。
過後加算回路２０はタイマー回路２１からのタイミング
信号によって前記積算計数回路１８，１９の両計数率の
加算を行なう。
なお、タイマー回路２１の積算計数回路１８゜１９の積
算タイミングおよび加算回路２０の加算タイミングは測
定台１０の移動速度、検出面’１４ 、 Ｊ ５の検出
長Ｂおよび両横出面１４．１５の間隔などよシ簡単に設
定出来る。
算タイミングおよび加算回路２０の加算タイミングは測
定台１０の移動速度、検出面’１４ 、 Ｊ ５の検出
長Ｂおよび両横出面１４．１５の間隔などよシ簡単に設
定出来る。
以上、上記の構成にて各放射線検出器１２゜１３よシ得
られる計数率応答曲線は第４図（ａ）。
られる計数率応答曲線は第４図（ａ）。
（ｂ）の様になる。なお、縦軸に計数率に１横軸に時間
Ｔを表わしく、）が放射線検出器１２よυ、（ｂ）が放
射線検出器１３よ郵測定されるものである。
Ｔを表わしく、）が放射線検出器１２よυ、（ｂ）が放
射線検出器１３よ郵測定されるものである。
また斜線部は両検出器１２．１３より測定された放射線
強度に比例した量を表わし、時間Ｔ１は積算計数回路１
８．１９の積算時間を示す。
強度に比例した量を表わし、時間Ｔ１は積算計数回路１
８．１９の積算時間を示す。
ここで、この実施例の放射線検出器１２゜１３、測定台
１０の移動速度、測定試料１１を第１図の従来装置の構
成と全く同一とした場合、各放射線検出器３，１２．１
３から得られる計数率応答曲線も同じとなる。以上の条
件で従来装置との比較をすると、第２図および第４図（
ａ）。
１０の移動速度、測定試料１１を第１図の従来装置の構
成と全く同一とした場合、各放射線検出器３，１２．１
３から得られる計数率応答曲線も同じとなる。以上の条
件で従来装置との比較をすると、第２図および第４図（
ａ）。
（ｂ）からも明らかなように測定時に測定試料から得ら
れるデータ（各図斜線部）は従来に比べ本実施例は２倍
の量が得られることになる。すなわち上記の感度の定義
の統計上の有意差において２倍の有意差が得られこの分
感度の向上となる。
れるデータ（各図斜線部）は従来に比べ本実施例は２倍
の量が得られることになる。すなわち上記の感度の定義
の統計上の有意差において２倍の有意差が得られこの分
感度の向上となる。
それでは前記条件の内で従来の構成の放射線検出器３の
検出面４の検出長を本実施例の放射線検出部１２．１３
の検出面１４．１５の検出長の和に相当する長さ、つま
９２倍にすると、９− 測定試料が検出面を通過する時間が２倍になシ得られデ
ータも２倍になる。しかしながら検出長が２倍であるた
めパックグラウンドの放射線を受ける面も２倍となるた
め結来的にパックグラウンド計数率も２倍となってしま
う。したがって、前記の統計上の有意差は元の検出長の
時と変わらず何ら感度の向上につながらない。このこと
を削代（１）の形で表わすと、次の様になる。
検出面４の検出長を本実施例の放射線検出部１２．１３
の検出面１４．１５の検出長の和に相当する長さ、つま
９２倍にすると、９− 測定試料が検出面を通過する時間が２倍になシ得られデ
ータも２倍になる。しかしながら検出長が２倍であるた
めパックグラウンドの放射線を受ける面も２倍となるた
め結来的にパックグラウンド計数率も２倍となってしま
う。したがって、前記の統計上の有意差は元の検出長の
時と変わらず何ら感度の向上につながらない。このこと
を削代（１）の形で表わすと、次の様になる。
本実施例の感度＝に２て閉つ−・・・・・・・・・（２
）但し、ｋは比例係数、ＲＢＧはパックグラウンド計数
率、Ｔは前記放射線検出器３，１２．１３を同一ものと
した時の各積算時間でおる。また係数２は（２）式にお
いては放射線検出器の個数を、（３）式においては（２
）式の放射線検出器１個当りの検出長に対する（３）式
の検出器の検出長の倍数を示すものである。
）但し、ｋは比例係数、ＲＢＧはパックグラウンド計数
率、Ｔは前記放射線検出器３，１２．１３を同一ものと
した時の各積算時間でおる。また係数２は（２）式にお
いては放射線検出器の個数を、（３）式においては（２
）式の放射線検出器１個当りの検出長に対する（３）式
の検出器の検出長の倍数を示すものである。
以上述べたように検出長を長くしても感度の向上は図れ
ず本発明の実施例の様に２個あるい１０− は複数個の放射線検出器を用いることによって、測定台
の移動速度を遅くすることなく感度の向上が図れる。な
お複数個使用した場合感度は（２）式の係数２を使用個
数に置換えたもので表わされる。
ず本発明の実施例の様に２個あるい１０− は複数個の放射線検出器を用いることによって、測定台
の移動速度を遅くすることなく感度の向上が図れる。な
お複数個使用した場合感度は（２）式の係数２を使用個
数に置換えたもので表わされる。
また、本発明は上記実施例の様に放射線検出器１組の使
用ばかシでなく例えば第５図の様に複数組を配置するこ
とによシ効果を拡大出来る。
用ばかシでなく例えば第５図の様に複数組を配置するこ
とによシ効果を拡大出来る。
なお、同図は放射線検出器の検出面の配置のみを示した
。そこで図中、３０’−１、３０’−２は積算計数回路
系Ａによって積算計数される一組の放射線検出器を表わ
しこれらの内部に検出面３θ−１，３０−２をもってい
る。同様に積算計数回路系Ｂには検出面３１−１．３１
−２をそれぞれもった放射線検出器、９１’ −１、３
１’−２の１ｍが接続され、積算計数回路系Ｃには検出
面３２−１．３２−２をそれぞれもった放射線１・１゜ 検出器３２’ −１、Ｊ ２’−２の１組が接続されて
いる。そして矢印方向に測定試料を移動させる。
。そこで図中、３０’−１、３０’−２は積算計数回路
系Ａによって積算計数される一組の放射線検出器を表わ
しこれらの内部に検出面３θ−１，３０−２をもってい
る。同様に積算計数回路系Ｂには検出面３１−１．３１
−２をそれぞれもった放射線検出器、９１’ −１、３
１’−２の１ｍが接続され、積算計数回路系Ｃには検出
面３２−１．３２−２をそれぞれもった放射線１・１゜ 検出器３２’ −１、Ｊ ２’−２の１組が接続されて
いる。そして矢印方向に測定試料を移動させる。
そうすると移動方向に前記回路系Ａの１組の放射線検出
器によって領域■、前記回路系Ｂの１組の放射線検出器
によって領域（つ、前記回路系Ｃの１組の放射線検出器
によって領域・の測定領域が形成される。
器によって領域■、前記回路系Ｂの１組の放射線検出器
によって領域（つ、前記回路系Ｃの１組の放射線検出器
によって領域・の測定領域が形成される。
以上の様な構成で測定試料を移動させれば測定領域■＠
Ｏの内のいずれかに測定試料が移動した場合、その領域
和尚の放射線検出器および積算計数回路系が上記の第３
図の構成装置と同様に放射線の測定を行なう。また各領
域■＠Ｏで測定される計数率応答曲線は第６図（イ）（
ロ）（ハ）の様になる。なお縦軸に計数率に１横軸に時
間Ｔを示し、（イ）（ロ）（ハ）はそれぞれ領域■０θ
に該当するもので、斜線部が放射線強度に比例したデー
タを示す。またＴ２は積算時間である。この斜線部が前
記各回路系Ａ、Ｂ、Ｃにて最終的にそれぞれ加算される
。
Ｏの内のいずれかに測定試料が移動した場合、その領域
和尚の放射線検出器および積算計数回路系が上記の第３
図の構成装置と同様に放射線の測定を行なう。また各領
域■＠Ｏで測定される計数率応答曲線は第６図（イ）（
ロ）（ハ）の様になる。なお縦軸に計数率に１横軸に時
間Ｔを示し、（イ）（ロ）（ハ）はそれぞれ領域■０θ
に該当するもので、斜線部が放射線強度に比例したデー
タを示す。またＴ２は積算時間である。この斜線部が前
記各回路系Ａ、Ｂ、Ｃにて最終的にそれぞれ加算される
。
以上、第５図の様に構成された装置では放射線の検出す
る面の幅を広げたことになる、（領域■＠○の谷幅の和
）。したがって、通常使われている放射線検出器は外形
に比べ検出面は小さいものであることによ）生じた同検
出器端部では放射線が検出されないという事を防ぐこと
が出来、゛むらなく測定が可１目である。
る面の幅を広げたことになる、（領域■＠○の谷幅の和
）。したがって、通常使われている放射線検出器は外形
に比べ検出面は小さいものであることによ）生じた同検
出器端部では放射線が検出されないという事を防ぐこと
が出来、゛むらなく測定が可１目である。
さらに本発明は第３図に示した構成の２つの積算計数回
路を切換え回路によ）一つにした第６図の構成とするこ
とも可能である。なお、７３図の構成と同一のものは番
号を同じとし説明を省略する。波形整形回路１６．１７
の出力側に両回路１６．１７の信号を切換える切換え回
路４０を接続し、この切換え回路４０に同回路４０が選
択した信号を積算計数する積算計数回路４１が接続され
る。さらにこの積算計数回路４１に加算回路４２が接続
される。そして切換え回路４０、積算計数回路４１、加
算回路４２のそれぞれの動作タイミングを決めるタイマ
ー回路４３が前記３回路４θ、４１．４２に接続されて
いる。
路を切換え回路によ）一つにした第６図の構成とするこ
とも可能である。なお、７３図の構成と同一のものは番
号を同じとし説明を省略する。波形整形回路１６．１７
の出力側に両回路１６．１７の信号を切換える切換え回
路４０を接続し、この切換え回路４０に同回路４０が選
択した信号を積算計数する積算計数回路４１が接続され
る。さらにこの積算計数回路４１に加算回路４２が接続
される。そして切換え回路４０、積算計数回路４１、加
算回路４２のそれぞれの動作タイミングを決めるタイマ
ー回路４３が前記３回路４θ、４１．４２に接続されて
いる。
上記構成の装置において、測定試料１ノが検出面１４を
通過する時タイマー回路４３は波形整形回路１６側へ切
換え回路４０を切換える。
通過する時タイマー回路４３は波形整形回路１６側へ切
換え回路４０を切換える。
１３−
これによって検出面１４から検出された信号は積算計数
回路４１にて積算計数される。そして加算回路４２にて
保持される。次に測定試料１ノが検出面１５を通過する
時タイマー回路４３によって波形整形回路１７側へ切換
え回路４θは切換えられ、検出された一＋Ｗ号は積算計
数回路４１に積算計数される。さらに加算回路４２にて
前記保持された積算計数値と加算されることになる。
回路４１にて積算計数される。そして加算回路４２にて
保持される。次に測定試料１ノが検出面１５を通過する
時タイマー回路４３によって波形整形回路１７側へ切換
え回路４θは切換えられ、検出された一＋Ｗ号は積算計
数回路４１に積算計数される。さらに加算回路４２にて
前記保持された積算計数値と加算されることになる。
以上の様に第７図の構成にては積算計数回路は１つで第
３図の構成と同様の効果が得られる。
３図の構成と同様の効果が得られる。
すなわち本発明はその要旨を逸脱しない限シ種々変形出
来るものである◎ 発明の効果 本発明によれば、複数の放射線検出器を使用することに
よシ、同一放射線検出器を１個使用に比べ使用個数の平
方根に比例して感度を向上させることが出来る。したが
って測定試料の移動速度を遅くする必要もなく放射性物
質を長く放置しなくても済む、また放射線量の少ない物
１４− 質の放射−１も容易に測定出来、さらに放射線検出器の
配直によってむ４）い測定が可能となる放射線測定装置
を提供出来るものである。
来るものである◎ 発明の効果 本発明によれば、複数の放射線検出器を使用することに
よシ、同一放射線検出器を１個使用に比べ使用個数の平
方根に比例して感度を向上させることが出来る。したが
って測定試料の移動速度を遅くする必要もなく放射性物
質を長く放置しなくても済む、また放射線量の少ない物
１４− 質の放射−１も容易に測定出来、さらに放射線検出器の
配直によってむ４）い測定が可能となる放射線測定装置
を提供出来るものである。
第１図は従来の放射線測定装置の構成図、第２図は第７
図の構成の装置の計数率応答曲線図、第３図は本発明に
係る放射線測定装置の一実施例の構成図、第４図は第３
図の構成の装置の計数率応答曲線図、第５図は本発明に
係る放射線測定装置の第１の変形例の構成図、第６図は
第５図の構成の装置の計数率応答曲線図、第７図は本発
明に係る放射線測定装置の第２の変形例の構成図である
。 １２．１３・・・放射線検出器、１８．１９・・・積算
計数回路、２０．４２・・・加算回路、２１゜４３・・
・タイマー回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦１５− 第２図
図の構成の装置の計数率応答曲線図、第３図は本発明に
係る放射線測定装置の一実施例の構成図、第４図は第３
図の構成の装置の計数率応答曲線図、第５図は本発明に
係る放射線測定装置の第１の変形例の構成図、第６図は
第５図の構成の装置の計数率応答曲線図、第７図は本発
明に係る放射線測定装置の第２の変形例の構成図である
。 １２．１３・・・放射線検出器、１８．１９・・・積算
計数回路、２０．４２・・・加算回路、２１゜４３・・
・タイマー回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦１５− 第２図
Claims (2)
- （１） 移動する１つの放射性測定試料から所定の検
出時間に応じた量の放射線を順次検出するａ数の検出器
とこの各検出器の検出量を所定タイミングでそれぞれ８
％しかつそれぞれの積算値を加算する積算・那算手段と
を備え、前記績ｄ・加算手段の加算出力を放射性測定試
料の放射線強度とすることを特徴とする放射線測定装置
０ - （２）移動する１つの放射性測定試料から所定の検出時
間に応じた量の放射線を順次検出する複数の検出器をも
った複数の検出系を放射性測定試料の移動方向と直交す
る方向に分割した測定領域ごとに配置する手段と、この
手段によって配置された複数の検出系の各検出器の検出
量を各別に所定のタイミングでそれぞれ積算しかつそれ
ぞれの積算値を加算する複数の積算・加算手段とを備え
、前記各積算・加算手段の加算出力を放射性測定試料の
放射線強度とすることを特徴とする放射線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20568381A JPS58106483A (ja) | 1981-12-19 | 1981-12-19 | 放射線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20568381A JPS58106483A (ja) | 1981-12-19 | 1981-12-19 | 放射線測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106483A true JPS58106483A (ja) | 1983-06-24 |
Family
ID=16510961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20568381A Pending JPS58106483A (ja) | 1981-12-19 | 1981-12-19 | 放射線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106483A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6474485A (en) * | 1987-09-17 | 1989-03-20 | Toshiba Corp | Radiation monitor device |
| JP2007114161A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Aloka Co Ltd | 物品モニタ |
| JP2007171023A (ja) * | 2005-12-22 | 2007-07-05 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 物品搬出モニタおよびこれを用いた放射性物質による汚染の検査方法 |
| JP2017020939A (ja) * | 2015-07-13 | 2017-01-26 | 清水建設株式会社 | 放射能濃度測定装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5513194A (en) * | 1978-06-05 | 1980-01-30 | Sphere Invest | Method and device for detecting characteristic of body and sorting it |
-
1981
- 1981-12-19 JP JP20568381A patent/JPS58106483A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5513194A (en) * | 1978-06-05 | 1980-01-30 | Sphere Invest | Method and device for detecting characteristic of body and sorting it |
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