JPH1192222A - Dielectric porcelain composition and laminated ceramic capacitor - Google Patents
Dielectric porcelain composition and laminated ceramic capacitorInfo
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- JPH1192222A JPH1192222A JP10128626A JP12862698A JPH1192222A JP H1192222 A JPH1192222 A JP H1192222A JP 10128626 A JP10128626 A JP 10128626A JP 12862698 A JP12862698 A JP 12862698A JP H1192222 A JPH1192222 A JP H1192222A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、誘電体磁器組成物
および積層セラミックコンデンサに関するものである。The present invention relates to a dielectric ceramic composition and a multilayer ceramic capacitor.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来より、積層セラミックコンデンサは
以下のようにして製造されるのが一般的である。まず、
その表面に内部電極となる電極材料を塗布したシート状
の誘電体材料が準備される。誘電体材料としては、たと
えばBaTiO3 を主成分とする材料が用いられる。次
に、この電極材料を塗布したシート状の誘電体材料を積
層して熱圧着し、一体化したものを大気雰囲気中におい
て1250〜1350℃で焼成することによって、内部
電極を有するセラミック積層体が得られる。そして、こ
のセラミック積層体の端面に、内部電極と電気的に導通
する外部電極を焼き付けることにより、積層セラミック
コンデンサが得られる。2. Description of the Related Art Conventionally, a multilayer ceramic capacitor is generally manufactured as follows. First,
A sheet-shaped dielectric material having an electrode material serving as an internal electrode applied to the surface thereof is prepared. As the dielectric material, for example, a material mainly containing BaTiO 3 is used. Next, the sheet-shaped dielectric material coated with the electrode material is laminated, thermocompression-bonded, and the integrated material is fired at 1250 to 1350 ° C. in an air atmosphere to form a ceramic laminated body having internal electrodes. can get. Then, an external electrode electrically connected to the internal electrode is baked on the end face of the ceramic laminate to obtain a multilayer ceramic capacitor.
【0003】この積層セラミックコンデンサの内部電極
の材料として、従来は、一般的に、白金、金、パラジウ
ムあるいは銀−パラジウム合金などの貴金属が用いられ
ていた。しかしながら、これらの電極材料は優れた特性
を有する反面、高価であるため、製造コストを上昇させ
る要因となっていた。そのため、現在は、製造コストを
低下させるために卑金属のNiを内部電極とする積層コ
ンデンサが提案され、使用量が増大している。Conventionally, noble metals such as platinum, gold, palladium and silver-palladium alloys have been used as materials for the internal electrodes of such multilayer ceramic capacitors. However, although these electrode materials have excellent characteristics, they are expensive, which has been a factor of increasing the manufacturing cost. Therefore, at present, a multilayer capacitor using a base metal Ni as an internal electrode has been proposed in order to reduce the manufacturing cost, and the usage thereof has been increasing.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】電子機器の小型化、高
機能化、低価格化が進む中、積層セラミックコンデンサ
に対しても、低価格化、絶縁耐力の向上、絶縁性の向
上、信頼性の向上、大容量化の要求が強くなっている。
電子機器の低価格化のためには、内部電極にニッケルを
用いた低価格の積層セラミックコンデンサを使うことが
有利であるが、従来の誘電体磁器材料は、低い電界強度
下で使用されることを前提として設計されていたので、
高い電界強度下で使用すると、絶縁抵抗値、絶縁耐力お
よび信頼性が極端に低下するという問題が生じた。すな
わち、内部電極にニッケルを用いながら、高電界強度下
で使用できる積層セラミックコンデンサはなかった。As electronic devices become smaller, more sophisticated, and lower in cost, multilayer ceramic capacitors are becoming lower in cost, higher in dielectric strength, higher in insulation, and more reliable. There is a strong demand for higher capacity and larger capacity.
To reduce the cost of electronic equipment, it is advantageous to use low-cost multilayer ceramic capacitors that use nickel for the internal electrodes.However, conventional dielectric ceramic materials must be used under low electric field strength. Was designed on the assumption that
When used under a high electric field strength, there arises a problem that the insulation resistance value, the dielectric strength and the reliability are extremely reduced. That is, there has been no multilayer ceramic capacitor that can be used under high electric field strength while using nickel for the internal electrode.
【0005】具体的には、特公昭57−42588号公
報や、特開昭61−101459号公報に示される誘電
体材料は、大きな誘電率が得られるものの、得られた誘
電体磁器の結晶粒が大きく、その結果、高い電界強度下
で使用した場合、積層セラミックコンデンサにおける絶
縁耐力が低くなったり、高温負荷試験の平均寿命時間が
短くなるという欠点があった。More specifically, the dielectric materials disclosed in Japanese Patent Publication No. Sho 57-42588 and Japanese Patent Laid-Open Publication No. Sho 61-101449 have a large dielectric constant, but the crystal grains of the obtained dielectric porcelain can be obtained. As a result, when used under a high electric field strength, the multilayer ceramic capacitor has a drawback that the dielectric strength decreases and the average life time of the high-temperature load test decreases.
【0006】また、特公昭61−14611号公報に示
される誘電体材料では、低電界強度下で得られる誘電率
は2000〜2800と高いものの、高い電界強度下で
使用したときには、誘電率すなわち静電容量が著しく低
くなるという欠点があった。また、同時に絶縁抵抗値が
低いという欠点もあった。そこで、本発明の目的は、高
電界強度、具体的には10kV/mm程度の高い電界強
度で使用したときに、絶縁抵抗が静電容量との積(CR
積)で表した場合に、室温および150℃で、それぞれ
5000Ω・Fおよび190〜200Ω・F以上と高
く、絶縁抵抗の電圧依存性が小さく、DCバイアス電圧
に対する静電容量の安定性に優れ、絶縁耐力が高く、静
電容量の温度特性がJIS規格で規定するB特性および
EIA規格で規定するX7R特性をそれぞれ満足し、高
温負荷、耐湿負荷などの耐候性能に優れた、たとえば積
層セラミックコンデンサの誘電体セラミック層を構成し
得る誘電体磁器組成物を提供しようとすること、ならび
に、このような誘電体磁器組成物を誘電体セラミック層
として用いるとともに、内部電極をNiまたはNi合金
で構成した、積層セラミックコンデンサを提供しようと
することである。In the dielectric material disclosed in Japanese Patent Publication No. 61-14611, the dielectric constant obtained under a low electric field strength is as high as 2000 to 2800, but when used under a high electric field strength, the dielectric constant, that is, the static dielectric constant is low. There is a drawback that the electric capacity is significantly reduced. In addition, there is also a disadvantage that the insulation resistance value is low. Therefore, an object of the present invention is to provide a device in which the insulation resistance is multiplied by the capacitance (CR) when used at a high electric field strength, specifically, a high electric field strength of about 10 kV / mm.
At room temperature and 150 ° C., which are as high as 5000 Ω · F and 190 to 200 Ω · F or more, respectively, the voltage dependency of the insulation resistance is small, and the stability of the capacitance with respect to the DC bias voltage is excellent. It has a high dielectric strength, a temperature characteristic of capacitance satisfies the B characteristic stipulated in JIS standard and the X7R characteristic stipulated in EIA standard, respectively, and has excellent weather resistance such as high temperature load and moisture resistance load. In an attempt to provide a dielectric ceramic composition capable of forming a dielectric ceramic layer, and while using such a dielectric ceramic composition as a dielectric ceramic layer, the internal electrode was formed of Ni or a Ni alloy, An object of the present invention is to provide a multilayer ceramic capacitor.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の誘電体磁器組成物は、アルカリ金属酸化物
の含有量が0.02重量%以下のチタン酸バリウムと、
酸化ユーロピウム、酸化ガドリニウム、酸化テルビウ
ム、酸化ジスプロシウム、酸化ホルミウム、酸化エルビ
ウム、酸化ツリウムおよび酸化イッテルビウムの中から
選ばれる少なくとも1種と、ジルコン酸バリウムと、酸
化マンガンとからなり、かつ、次の組成式、 {BaO}m TiO2 +αR2 O3 +βBaZrO3 +
γMnO (ただし、R2 O3 はEu2 O3 、Gd2 O3 、Tb2
O3 、Dy2 O3 、Ho 2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O
3 およびYb2 O3 の中から選ばれる少なくとも1種で
あり、α、βおよびγはモル比を表し、0.001≦α
≦0.06、0.005≦β≦0.06、0.001<
γ≦0.13、1.000<m≦1.035の範囲内に
ある。)で表される主成分を含有するとともに、第1の
副成分をLi2 O−(Si,Ti)O2 −MO系(ただ
し、MOはAl2O3 およびZrO2 の少なくとも一方
である。)の酸化物とし、第2の副成分をSiO2 −T
iO2 −XO系(ただし、XOはBaO、CaO、Sr
O、MgO、ZnOおよびMnOの中から選ばれる少な
くとも1種である。)の酸化物としたときに、該第1ま
たは第2の副成分のどちらか一方を、前記主成分100
重量部に対して、0.2〜3.0重量部含有しているこ
とを特徴とする。Means for Solving the Problems To achieve the above object,
The dielectric porcelain composition of the present invention comprises an alkali metal oxide
Barium titanate having a content of 0.02% by weight or less;
Europium oxide, gadolinium oxide, terbium oxide
, Dysprosium oxide, holmium oxide, erbium oxide
, Thulium oxide and ytterbium oxide
At least one selected from the group consisting of barium zirconate and an acid
Consisting of manganese oxide and having the following composition formula: {BaO}mTiOTwo+ ΑRTwoOThree+ ΒBaZrOThree+
γMnO (where RTwoOThreeIs EuTwoOThree, GdTwoOThree, TbTwo
OThree, DyTwoOThree, Ho TwoOThree, ErTwoOThree, TmTwoO
ThreeAnd YbTwoOThreeAt least one selected from
And α, β and γ represent molar ratios, 0.001 ≦ α
≦ 0.06, 0.005 ≦ β ≦ 0.06, 0.001 <
γ ≦ 0.13, 1.000 <m ≦ 1.035
is there. ) And the first component
Li as an accessory componentTwoO- (Si, Ti) OTwo-MO system (just
And MO is AlTwoOThreeAnd ZrOTwoAt least one of
It is. ) And the second subcomponent is SiO 2Two-T
iOTwo-XO type (where XO is BaO, CaO, Sr
O, MgO, ZnO and MnO
At least one species. ), The first and second oxides
Or one of the second sub-components,
0.2 to 3.0 parts by weight based on parts by weight
And features.
【0008】本発明の誘電体磁器組成物は、他の局面で
は、アルカリ金属酸化物の含有量が0.02重量%以下
のチタン酸バリウムと、酸化ユーロピウム、酸化ガドリ
ニウム、酸化テルビウム、酸化ジスプロシウム、酸化ホ
ルミウム、酸化エルビウム、酸化ツリウムおよび酸化イ
ッテルビウムの中から選ばれる少なくとも1種と、ジル
コン酸バリウムと、酸化マグネシウムと、酸化マンガン
とからなり、かつ、次の組成式、 {BaO}m TiO2 +αR2 O3 +βBaZrO3 +
γMgO+gMnO (ただし、R2 O3 はEu2 O3 、Gd2 O3 、Tb2
O3 、Dy2 O3 、Ho 2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O
3 およびYb2 O3 の中から選ばれる少なくとも1種で
あり、α、β、γおよびgはモル比を表し、0.001
≦α≦0.06、0.001≦β≦0.06、0.00
1<γ≦0.12、0.001<g≦0.12、γ+g
≦0.13、1.000<m≦1.035の範囲内にあ
る。)で表される主成分を含有するとともに、第1の副
成分をLi2 O−(Si,Ti)O2 −MO系(ただ
し、MOはAl2O3 およびZrO2 の少なくとも一方
である。)の酸化物とし、第2の副成分をSiO2 −T
iO2 −XO系(ただし、XOはBaO、CaO、Sr
O、MgO、ZnOおよびMnOの中から選ばれる少な
くとも1種である。)の酸化物としたときに、該第1ま
たは第2の副成分のどちらか一方を、前記主成分100
重量部に対して、0.2〜3.0重量部含有しているこ
とを特徴とする。[0008] In another aspect, the dielectric porcelain composition of the present invention provides
Means that the content of the alkali metal oxide is 0.02% by weight or less
Barium titanate, europium oxide and gadolinium oxide
, Terbium oxide, dysprosium oxide,
Lumium, erbium oxide, thulium oxide and yttrium oxide
At least one member selected from the group consisting of
Barium conate, magnesium oxide, and manganese oxide
And the following composition formula: {BaO}mTiOTwo+ ΑRTwoOThree+ ΒBaZrOThree+
γMgO + gMnO (where RTwoOThreeIs EuTwoOThree, GdTwoOThree, TbTwo
OThree, DyTwoOThree, Ho TwoOThree, ErTwoOThree, TmTwoO
ThreeAnd YbTwoOThreeAt least one selected from
And α, β, γ, and g represent molar ratios, 0.001
≦ α ≦ 0.06, 0.001 ≦ β ≦ 0.06, 0.00
1 <γ ≦ 0.12, 0.001 <g ≦ 0.12, γ + g
≦ 0.13, 1.000 <m ≦ 1.035
You. ) And the first sub-component
Li componentTwoO- (Si, Ti) OTwo-MO system (just
And MO is AlTwoOThreeAnd ZrOTwoAt least one of
It is. ) And the second subcomponent is SiO 2Two-T
iOTwo-XO type (where XO is BaO, CaO, Sr
O, MgO, ZnO and MnO
At least one species. ), The first and second oxides
Or one of the second sub-components,
0.2 to 3.0 parts by weight based on parts by weight
And features.
【0009】本発明の誘電体磁器組成物において、好ま
しくは、第1の副成分は、xLi2O−y(Siw Ti
1-w )O2 −zMO(ただし、x、yおよびzはモル%
であり、wは0.30≦w≦1.0の範囲内にある。)
で表したとき、それぞれの成分を頂点とする三元組成図
の、A(x=20、y=80、z=0)、B(x=1
0、y=80、z=10)、C(x=10、y=70、
z=20)、D(x=35、y=45、z=20)、E
(x=45、y=45、z=10)、F(x=45、y
=55、z=0)、(ただし、直線A−F上の組成の場
合は、wは0.3≦w<1.0の範囲内)で示される各
点を結ぶ直線で囲まれた領域の内部または線上にあるこ
とを特徴とする。In the dielectric ceramic composition of the present invention, preferably, the first subcomponent is xLi 2 O-y (Si w Ti
1-w ) O 2 -zMO (where x, y and z are mol%
And w is in the range of 0.30 ≦ w ≦ 1.0. )
In the ternary composition diagram with each component at the top, A (x = 20, y = 80, z = 0), B (x = 1
0, y = 80, z = 10), C (x = 10, y = 70,
z = 20), D (x = 35, y = 45, z = 20), E
(X = 45, y = 45, z = 10), F (x = 45, y
= 55, z = 0) (However, in the case of the composition on the straight line AF, w is in the range of 0.3 ≦ w <1.0). Inside or on a line.
【0010】また、本発明の誘電体磁器組成物におい
て、好ましくは、第2の副成分は、xSiO2 −yTi
O2 −zXO(ただし、x、yおよびzはモル%であ
る。)で表したとき、それぞれの成分を頂点とする三元
組成図のA(x=85、y=1、z=14)、B(x=
35、y=51、z=14)、C(x=30、y=2
0、z=50)、D(x=39、y=1、z=60)で
示される各点を結ぶ直線で囲まれた領域の内部または線
上にあることを特徴とする。In the dielectric ceramic composition of the present invention, preferably, the second subcomponent is xSiO 2 -yTi
When represented by O 2 -zXO (where x, y and z are mol%), A (x = 85, y = 1, z = 14) of a ternary composition diagram having each component at the top , B (x =
35, y = 51, z = 14), C (x = 30, y = 2)
0, z = 50) and D (x = 39, y = 1, z = 60) are inside or on a line surrounded by a straight line connecting the points.
【0011】また、第2の副成分中には、SiO2 −T
iO2 −XO系の酸化物100重量部に対してAl2 O
3 およびZrO2 の少なくとも一方を合計で15重量部
以下(ただし、ZrO2 は5重量部以下)含有すること
が好ましい。本発明は、また、複数の誘電体セラミック
層と、該誘電体セラミック層間に形成された内部電極
と、該内部電極に電気的に接続された外部電極とを備え
る、積層セラミックコンデンサにも向けられる。このよ
うな積層セラミックコンデンサにおいて、誘電体セラミ
ック層が上述したような本発明に係る誘電体磁器組成物
によって構成され、また、内部電極がニッケルまたはニ
ッケル合金によって構成される。In the second subcomponent, SiO 2 —T
Al 2 O per 100 parts by weight of iO 2 —XO-based oxide
It is preferred that at least one of 3 and ZrO 2 be contained in a total of 15 parts by weight or less (however, ZrO 2 is 5 parts by weight or less). The present invention is also directed to a multilayer ceramic capacitor including a plurality of dielectric ceramic layers, an internal electrode formed between the dielectric ceramic layers, and an external electrode electrically connected to the internal electrode. . In such a multilayer ceramic capacitor, the dielectric ceramic layer is made of the dielectric ceramic composition according to the present invention as described above, and the internal electrodes are made of nickel or a nickel alloy.
【0012】本発明に係る積層セラミックコンデンサに
おいて、外部電極は、導電性金属粉末、またはガラスフ
リットを添加した導電性金属粉末の焼結層を備えていた
り、あるいは、導電性金属粉末、またはガラスフリット
を添加した導電性金属粉末の焼結層からなる第1層と、
その上のめっき層からなる第2層とを備えていたりす
る。In the multilayer ceramic capacitor according to the present invention, the external electrode includes a sintered layer of a conductive metal powder to which a conductive metal powder or a glass frit is added, or a conductive metal powder or a glass frit. A first layer comprising a sintered layer of conductive metal powder to which is added,
And a second layer comprising a plating layer thereon.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】まず、本発明の一実施形態による
積層セラミックコンデンサの基本的構造を図面により説
明する。図1は、積層セラミックコンデンサの一例を示
す断面図、図2は、図1の積層セラミックコンデンサの
うち、内部電極を有する誘電体セラミック層部分を示す
平面図、図3は、図1の積層セラミックコンデンサのう
ち、セラミック積層体部分を示す分解斜視図である。First, the basic structure of a multilayer ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of the multilayer ceramic capacitor, FIG. 2 is a plan view showing a dielectric ceramic layer portion having internal electrodes in the multilayer ceramic capacitor of FIG. 1, and FIG. FIG. 3 is an exploded perspective view showing a ceramic laminate portion of the capacitor.
【0014】本実施形態による積層セラミックコンデン
サ1は、図1に示すように、内部電極4を介して複数枚
の誘電体セラミック層2aおよび2bを積層して得られ
た、直方体形状のセラミック積層体3を備える。セラミ
ック積層体3の両端面上には、内部電極4の特定のもの
に電気的に接続されるように、外部電極5がそれぞれ形
成され、その上には、ニッケル、銅などの第1のめっき
層6が形成され、さらにその上には、半田、錫などの第
2のめっき層7が形成されている。As shown in FIG. 1, a multilayer ceramic capacitor 1 according to the present embodiment has a rectangular parallelepiped ceramic laminate obtained by laminating a plurality of dielectric ceramic layers 2a and 2b via internal electrodes 4. 3 is provided. External electrodes 5 are respectively formed on both end surfaces of the ceramic laminate 3 so as to be electrically connected to specific ones of the internal electrodes 4, and a first plating of nickel, copper or the like is formed thereon. A layer 6 is formed, on which a second plating layer 7 of solder, tin or the like is formed.
【0015】次に、この積層セラミックコンデンサ1の
製造方法について製造工程順に説明する。まず、誘電体
セラミック層2aおよび2bの主成分となる、所定の組
成比率に秤量し混合したチタン酸バリウム系の原料粉末
を用意する。すなわち、前述したように、アルカリ金属
酸化物の含有量が0.02重量%以下のチタン酸バリウ
ムと、酸化ユーロピウム、酸化ガドリニウム、酸化テル
ビウム、酸化ジスプロシウム、酸化ホルミウム、酸化エ
ルビウム、酸化ツリウムおよび酸化イッテルビウムの中
から選ばれる少なくとも1種と、ジルコン酸バリウム
と、酸化マンガンとからなる主成分、または、アルカリ
金属酸化物の含有量が0.02重量%以下のチタン酸バ
リウムと、酸化ユーロピウム、酸化ガドリニウム、酸化
テルビウム、酸化ジスプロシウム、酸化ホルミウム、酸
化エルビウム、酸化ツリウムおよび酸化イッテルビウム
の中から選ばれる少なくとも1種と、ジルコン酸バリウ
ムと、酸化マグネシウムと、酸化マンガンとからなる主
成分を含有するとともに、Li2O−(Si,Ti)O
2 −MO系の第1の副成分またはSiO2 −TiO2 −
XO系の第2の副成分のどちらか一方を含有する、誘電
体磁器組成物を生成し得る原料粉末を用意する。Next, a method of manufacturing the multilayer ceramic capacitor 1 will be described in the order of manufacturing steps. First, a barium titanate-based raw material powder which is a main component of the dielectric ceramic layers 2a and 2b and is weighed and mixed at a predetermined composition ratio is prepared. That is, as described above, barium titanate having an alkali metal oxide content of 0.02% by weight or less, europium oxide, gadolinium oxide, terbium oxide, dysprosium oxide, holmium oxide, erbium oxide, thulium oxide, and ytterbium oxide At least one selected from the group consisting of barium zirconate and manganese oxide, or barium titanate having an alkali metal oxide content of 0.02% by weight or less, europium oxide, and gadolinium oxide And at least one selected from terbium oxide, dysprosium oxide, holmium oxide, erbium oxide, thulium oxide and ytterbium oxide, and a main component consisting of barium zirconate, magnesium oxide and manganese oxide, and Li 2 - (Si, Ti) O
The first subcomponent of the 2- MO system or SiO 2 —TiO 2 —
A raw material powder containing one of the XO-based second subcomponents and capable of producing a dielectric ceramic composition is prepared.
【0016】次いで、この原料粉末に有機バインダを加
えてスラリー化し、このスラリーをシート状に成形し
て、誘電体セラミック層2aおよび2bのためのグリー
ンシートを得る。その後、誘電体セラミック層2bとな
るグリーンシートの一方主面上にニッケルまたはニッケ
ル合金からなる内部電極4を形成する。前述したような
誘電体磁器組成物を用いて誘電体セラミック層2aおよ
び2bを形成すれば、内部電極4の材料として、卑金属
としてのニッケルまたはニッケル合金を用いることがで
きる。なお、内部電極4は、スクリーン印刷法などによ
って形成されても、蒸着法、めっき法などによって形成
されてもよい。Next, an organic binder is added to the raw material powder to form a slurry, and the slurry is formed into a sheet to obtain green sheets for the dielectric ceramic layers 2a and 2b. Thereafter, an internal electrode 4 made of nickel or a nickel alloy is formed on one main surface of the green sheet to be the dielectric ceramic layer 2b. If the dielectric ceramic layers 2a and 2b are formed using the above-described dielectric ceramic composition, nickel or a nickel alloy as a base metal can be used as the material of the internal electrodes 4. The internal electrode 4 may be formed by a screen printing method or the like, or may be formed by a vapor deposition method, a plating method, or the like.
【0017】次いで、内部電極4を有する誘電体セラミ
ック層2bのためのグリーンシートを、必要枚数積層し
た後、図3に示すように、内部電極を有しない誘電体セ
ラミック層2aのためのグリーンシートによって挟んだ
状態とし、これを圧着することによって、生の積層体を
得る。その後、この生の積層体を還元雰囲気中、所定の
温度にて焼成し、セラミック積層体3を得る。Next, after laminating a required number of green sheets for the dielectric ceramic layer 2b having the internal electrodes 4, as shown in FIG. 3, the green sheets for the dielectric ceramic layer 2a having no internal electrodes are formed. Then, the raw laminate is obtained by crimping this. Thereafter, the green laminate is fired at a predetermined temperature in a reducing atmosphere to obtain a ceramic laminate 3.
【0018】次に、セラミック積層体3の両端面に、内
部電極4と電気的に接続されるように、外部電極5を形
成する。この外部電極5の材料としては、内部電極4と
同じ材料を使用することができる。また、銀、パラジウ
ム、銀−パラジウム合金、銅、銅合金などが使用可能で
あり、また、これらの金属粉末にB2 O3 −SiO2−
BaO系ガラス、Li2 O−SiO2 −BaO系ガラス
などのガラスフリットを添加したものも使用されるが、
積層セラミックコンデンサの使用用途、使用場所などを
考慮に入れて適当な材料が選択される。また、外部電極
5は、材料となる金属粉末ペーストを、焼成により得た
セラミック積層体3に塗布して、焼き付けることによっ
て形成されるが、焼成前に塗布して、セラミック積層体
3と同時に焼き付けることによって形成されてもよい。Next, external electrodes 5 are formed on both end surfaces of the ceramic laminate 3 so as to be electrically connected to the internal electrodes 4. As the material of the external electrode 5, the same material as the internal electrode 4 can be used. Further, silver, palladium, silver-palladium alloy, copper, copper alloy and the like can be used, and B 2 O 3 —SiO 2 —
BaO-based glass, but also used those obtained by adding a glass frit such as Li 2 O-SiO 2 -BaO-based glass,
An appropriate material is selected in consideration of a use application, a use place, and the like of the multilayer ceramic capacitor. Further, the external electrode 5 is formed by applying a metal powder paste as a material to the ceramic laminate 3 obtained by firing and baking. However, the external electrode 5 is applied before firing and is baked at the same time as the ceramic laminate 3. It may be formed by the following.
【0019】その後、外部電極5上に、ニッケル、銅な
どのめっきを施し、第1のめっき層6を形成する。最後
に、この第1のめっき層6の上に、半田、錫などの第2
のめっき層7を形成し、積層セラミックコンデンサ1を
完成させる。なお、このように外部電極5の上にさらに
めっきなどで導体層を形成することは、積層セラミック
コンデンサの用途によっては省略することもできる。Thereafter, plating of nickel, copper, or the like is performed on the external electrode 5 to form a first plating layer 6. Finally, a second layer of solder, tin, etc. is formed on the first plating layer 6.
Is formed, and the multilayer ceramic capacitor 1 is completed. The formation of a conductor layer on the external electrodes 5 by plating or the like may be omitted depending on the use of the multilayer ceramic capacitor.
【0020】以上のように、誘電体セラミック層2aお
よび2bを構成するため、前述したような誘電体磁器組
成物を用いることによって、還元性雰囲気中で焼成して
も、その特性が劣化することはない。すなわち、10k
V/mmの高い電界強度下で使用した場合であっても、
絶縁抵抗と静電容量との積(CR積)が、室温および1
50℃で、それぞれ、5000Ω・Fおよび190〜2
00Ω・F以上と高く、絶縁抵抗の電圧依存性が小さ
く、5kV/mmのDC電圧印加時の容量低下率の絶対
値が40%〜45%以下と小さく、絶縁耐力がAC電圧
で12kV/mm以上、DC電圧で14kV/mm以上
と高く、静電容量の温度特性が−25℃〜+85℃の範
囲でJIS規格に規定するB特性および−55℃〜+1
25℃の範囲でEIA規格に規定するX7R特性を満足
し、150℃およびDC25kV/mmの高温負荷およ
び耐湿負荷に対する耐候性能に優れる特性が得られる。As described above, since the dielectric ceramic layers 2a and 2b are formed, by using the above-described dielectric ceramic composition, even when firing in a reducing atmosphere, the characteristics are deteriorated. There is no. That is, 10k
Even when used under a high electric field strength of V / mm,
The product of insulation resistance and capacitance (CR product) is room temperature and 1
At 50 ° C., 5000Ω · F and 190-2, respectively.
It is as high as 00 Ω · F or more, the voltage dependency of insulation resistance is small, the absolute value of the capacity reduction rate when applying a DC voltage of 5 kV / mm is as small as 40% to 45% or less, and the dielectric strength is 12 kV / mm at AC voltage. As described above, the DC voltage is as high as 14 kV / mm or more, and the temperature characteristic of the capacitance is in the range of −25 ° C. to + 85 ° C., the B characteristic specified in the JIS standard and −55 ° C. to +1
Within the range of 25 ° C., X7R characteristics defined in the EIA standard are satisfied, and characteristics excellent in weather resistance to a high-temperature load of 150 ° C. and 25 kV / mm DC and a load resistant to humidity are obtained.
【0021】また、この誘電体磁器組成物の主成分のう
ち、チタン酸バリウム中に不純物として存在するSr
O、CaOなどのアルカリ土類金属酸化物、Na2 O、
K2 Oなどのアルカリ金属酸化物、Al2 O3 、SiO
2 などのその他の酸化物のうち、特にアルカリ金属酸化
物の含有量が電気的特性に大きく影響することが確認さ
れている。そして、Eu2 O3 、Gd2 O3 、Tb2 O
3 、Dy2 O3 、Ho2O3 、Er2 O3 、Tm
2 O3 、Yb2 O3 などの希土類酸化物の添加量が増大
すると比誘電率は低下するが、チタン酸バリウム中に不
純物として存在するアルカリ金属酸化物を0.02重量
%以下にすることにより、比誘電率を実使用上問題のな
い900〜1600に維持することができる。Sr present as an impurity in barium titanate among the main components of the dielectric ceramic composition
O, alkaline earth metal oxides such as CaO, Na 2 O,
Alkali metal oxides such as K 2 O, Al 2 O 3 , SiO
Among other oxides such as 2, it has been confirmed that the content of an alkali metal oxide in particular greatly affects electrical characteristics. Then, Eu 2 O 3 , Gd 2 O 3 , Tb 2 O
3 , Dy 2 O 3 , Ho 2 O 3 , Er 2 O 3 , Tm
The relative dielectric constant decreases as the amount of rare earth oxides such as 2 O 3 and Yb 2 O 3 increases, but the content of alkali metal oxides present as impurities in barium titanate should be reduced to 0.02% by weight or less. Thereby, the relative dielectric constant can be maintained at 900 to 1600, which is practically no problem.
【0022】また、誘電体磁器組成物中にLi2 O−
(Si,Ti)O2 −MO系(MOはAl2 O3 および
ZrO2 の少なくとも一方)の酸化物を添加することに
よって、1300℃以下と比較的低温度で焼結させるこ
とができ、さらに、高温負荷特性を向上させることがで
きる。また、誘電体磁器組成物中にSiO2 −TiO2
−XO系(XOはBaO、CaO、SrO、MgO、Z
nOおよびMnOの中から選ばれる少なくとも1種)の
酸化物を添加することによって、焼結性が向上するとと
もに、高温負荷特性および耐湿負荷特性が向上する。さ
らに、前記SiO2 −TiO2 −XO系の酸化物にAl
2 O3 および/またはZrO2 を添加含有させること
で、より高い絶縁抵抗を得ることが可能となる。Further, Li 2 O—
By adding an oxide of the (Si, Ti) O 2 -MO system (MO is at least one of Al 2 O 3 and ZrO 2 ), sintering can be performed at a relatively low temperature of 1300 ° C. or less. And high temperature load characteristics can be improved. Further, SiO 2 —TiO 2 is contained in the dielectric ceramic composition.
-XO type (XO is BaO, CaO, SrO, MgO, Z
By adding at least one oxide selected from nO and MnO), sinterability is improved, and high-temperature load characteristics and moisture-resistant load characteristics are improved. Furthermore, Al is added to the SiO 2 —TiO 2 —XO-based oxide.
By adding and containing 2 O 3 and / or ZrO 2 , higher insulation resistance can be obtained.
【0023】[0023]
【実施例】次に、本発明を実施例に基づき、さらに具体
的に説明するが、本発明の範囲内における実施の形態
は、このような実施例のみに限定されるものではない。 (実施例1)まず、出発原料として種々の純度のTiC
l4 とBa(NO3 )2 とを準備して秤量した後、蓚酸
により蓚酸チタニルバリウム{BaTiO(C2 O4 )
・4H2 O}として沈殿させた。この沈殿物を1000
℃以上の温度で加熱分解させて、表1の4種類のチタン
酸バリウム(BaTiO3 )を合成した。EXAMPLES Next, the present invention will be described more specifically based on examples, but embodiments within the scope of the present invention are not limited to only such examples. (Example 1) First, TiC of various purity was used as a starting material.
After preparing and weighing l 4 and Ba (NO 3 ) 2 , titanyl barium oxalate @ BaTiO (C 2 O 4 ) with oxalic acid
・ Precipitated as 4H 2 O}. This precipitate is 1000
The composition was thermally decomposed at a temperature of not less than ° C. to synthesize four kinds of barium titanate (BaTiO 3 ) shown in Table 1.
【0024】[0024]
【表1】 [Table 1]
【0025】また、第1の副成分として0.25Li2
O−0.65(0.30TiO2 ・0.70SiO2 )
−0.10Al2 O3 (モル比)の組成割合になるよう
に、各成分の酸化物、炭酸塩または水酸化物を秤量し、
混合粉砕して粉末を得た。同様に、第2の副成分として
0.66SiO2 −0.17TiO2 −0.15BaO
−0.02MnO(モル比)の組成割合になるように、
各成分の酸化物、炭酸塩または水酸化物を秤量し、混合
粉砕して粉末を得た。Also, 0.25Li 2 is used as the first subcomponent.
O-0.65 (0.30TiO 2 · 0.70SiO 2)
An oxide, carbonate or hydroxide of each component is weighed so as to have a composition ratio of −0.10 Al 2 O 3 (molar ratio),
The powder was obtained by mixing and pulverizing. Similarly, 0.66SiO 2 -0.17TiO 2 -0.15BaO as a second subcomponent
-0.02MnO (molar ratio)
An oxide, carbonate or hydroxide of each component was weighed and mixed and pulverized to obtain a powder.
【0026】次に、これら第1および第2の副成分酸化
物粉末を別々の白金るつぼ中において、1500℃まで
加熱した後、急冷し、粉砕することによって、平均粒径
が1μm以下のそれぞれの酸化物粉末を得た。次に、チ
タン酸バリウムのBa/Tiモル比mを調整するための
BaCO3 と、純度99%以上のEu2 O3 、Gd2 O
3 、Tb2 O3 、Dy2 O3 、Ho2O3 、Er
2 O3 、Tm2 O3 、Yb2 O3 、BaZrO3 、Mg
OおよびMnOを準備した。これらの原料粉末と第1ま
たは第2のどちらか一方の副成分である上記酸化物粉末
を表2および表3に示す組成になるように秤量した。な
お、第1、第2の副成分の添加量は、主成分[{Ba
O}m TiO2 +αR2 O3 +βBaZrO3 +γMg
O+gMnO]100重量部に対する添加部数である。Next, the first and second auxiliary component oxide powders are heated to 1500 ° C. in separate platinum crucibles, quenched, and then pulverized to obtain a powder having an average particle diameter of 1 μm or less. An oxide powder was obtained. Next, BaCO 3 for adjusting the Ba / Ti molar ratio m of barium titanate, Eu 2 O 3 and Gd 2 O having a purity of 99% or more.
3, Tb 2 O 3, Dy 2 O 3, Ho 2 O 3, Er
2 O 3 , Tm 2 O 3 , Yb 2 O 3 , BaZrO 3 , Mg
O and MnO were prepared. These raw material powders and the oxide powder, which is one of the first and second subcomponents, were weighed to have the compositions shown in Tables 2 and 3. The amount of the first and second subcomponents added depends on the amount of the main component [{Ba
O} m TiO 2 + αR 2 O 3 + βBaZrO 3 + γMg
O + gMnO] is the number of parts added to 100 parts by weight.
【0027】[0027]
【表2】 [Table 2]
【0028】[0028]
【表3】 [Table 3]
【0029】次いで、この秤量物にポリビニルブチラー
ル系バインダおよびエタノールなどの有機溶剤を加え
て、ボールミルにより湿式混合し、セラミックスラリー
を調整した。このセラミックスラリーをドクターブレー
ド法によりシート成形し、厚み35μmの矩形のグリー
ンシートを得た。その後、このセラミックグリーンシー
ト上に、Niを主体とする導電ペーストを印刷し、内部
電極を構成するための導電ペースト層を形成した。Next, a polyvinyl butyral-based binder and an organic solvent such as ethanol were added to the weighed material, and the mixture was wet-mixed with a ball mill to prepare a ceramic slurry. This ceramic slurry was formed into a sheet by a doctor blade method to obtain a rectangular green sheet having a thickness of 35 μm. Thereafter, a conductive paste mainly composed of Ni was printed on the ceramic green sheet to form a conductive paste layer for forming internal electrodes.
【0030】その後、導電ペースト層が形成されたセラ
ミックグリーンシートを導電ペーストが引き出されてい
る側が互い違いとなるように複数枚積層し、積層体を得
た。この積層体を、N2 雰囲気中にて350℃の温度に
加熱し、バインダを分解させた後、酸素分圧10-9〜1
0-12 MPaのH2 −N2 −H2 Oガスからなる還元性
雰囲気中において表4および表5に示す温度で2時間焼
成し、セラミック焼結体を得た。Thereafter, a plurality of ceramic green sheets on which the conductive paste layer was formed were laminated so that the sides from which the conductive paste was drawn out were alternated, to obtain a laminate. This laminate is heated to a temperature of 350 ° C. in an N 2 atmosphere to decompose the binder, and then the oxygen partial pressure is 10 −9 to 1 −9.
Calcined for 2 hours at a temperature shown in Table 4 and Table 5 in the 0 -12 MPa of H 2 -N 2 -H reducing atmosphere consisting of 2 O gas, to obtain a ceramic sintered body.
【0031】焼成後、得られたセラミック焼結体の両端
面にB2 O3 −Li2 O−SiO2−BaO系のガラス
フリットを含有する銀ペーストを塗布し、N2 雰囲気中
において600℃の温度で焼き付け、内部電極と電気的
に接続された外部電極を形成した。このようにして得ら
れた積層セラミックコンデンサの外形寸法は幅:5.0
mm、長さ:5.7mm、厚さ:2.4mmであり、誘
電体セラミック層の厚みは30μmであった。また、有
効誘電体セラミック層の総数は57であり、1層当たり
の対向電極の面積は8.2×10-6m2 であった。After firing, a silver paste containing a glass frit of B 2 O 3 —Li 2 O—SiO 2 —BaO system was applied to both end surfaces of the obtained ceramic sintered body, and the paste was heated to 600 ° C. in an N 2 atmosphere. To form an external electrode electrically connected to the internal electrode. The external dimensions of the monolithic ceramic capacitor thus obtained are as follows: width: 5.0
mm, length: 5.7 mm, thickness: 2.4 mm, and the thickness of the dielectric ceramic layer was 30 μm. The total number of effective dielectric ceramic layers was 57, and the area of the counter electrode per layer was 8.2 × 10 −6 m 2 .
【0032】次に、これら積層セラミックコンデンサの
電気的特性を測定した。静電容量(C)および誘電損失
(tanδ)は自動ブリッジ式測定器を用いて、周波数
1kHz、1Vrms、温度25℃にて測定し、静電容
量から誘電率(ε)を算出した。その後、絶縁抵抗
(R)を測定するために、絶縁抵抗計を用い、315V
(すなわち、10kV/mm)、および945V(すな
わち、30kV/mm)の直流電圧を2分間印加して2
5℃および150℃での絶縁抵抗を測定し、静電容量と
絶縁抵抗との積、すなわちCR積を求めた。Next, the electrical characteristics of these multilayer ceramic capacitors were measured. The capacitance (C) and the dielectric loss (tan δ) were measured at a frequency of 1 kHz, 1 Vrms and a temperature of 25 ° C. using an automatic bridge type measuring instrument, and the dielectric constant (ε) was calculated from the capacitance. After that, to measure the insulation resistance (R), use an insulation resistance meter to measure
(Ie, 10 kV / mm) and 945 V (ie, 30 kV / mm) DC voltage for 2 minutes
The insulation resistance at 5 ° C. and 150 ° C. was measured, and the product of the capacitance and the insulation resistance, that is, the CR product was determined.
【0033】また、温度変化に対する静電容量の変化率
を測定した。温度変化に対する静電容量の変化率につい
ては、20℃での静電容量を基準とした−25℃と85
℃とでの変化率(ΔC/C20)、ならびに、25℃で
の静電容量を基準とした、−55℃と125℃とでの変
化率(ΔC/C25)および−55℃〜125℃の範囲
内で絶対値としてその変化率の最大となった値(|ΔC
|max )を求めた。Further, the change rate of the capacitance with respect to the temperature change was measured. The rate of change of the capacitance with respect to the temperature change was −25 ° C. and 85% based on the capacitance at 20 ° C.
° C / C20, and the rate of change (ΔC / C25) between -55 ° C and 125 ° C, based on the capacitance at 25 ° C, and -55 ° C to 125 ° C. A value (| ΔC
| Max).
【0034】また、DCバイアス特性を評価した。すな
わち、まず1kHz、1VrmsのAC電圧を印加した
ときの静電容量を測定した。次に、DC150Vと1k
Hz、1VrmsのAC電圧を同時に印加した時の静電
容量を測定した。そして、DC電圧を負荷したことによ
る静電容量の低下率ΔC/Cを算出した。また、高温負
荷試験として、各試料を36個ずつ、温度150℃にて
750V(すなわち、25kV/mm)の直流電圧を印
加して、その絶縁抵抗の経時変化を測定した。なお、高
温負荷寿命試験は各試料の絶縁抵抗値が106 Ω以下に
なったときの時間を寿命時間とし、その平均寿命時間を
求めた。Further, the DC bias characteristics were evaluated. That is, first, the capacitance when an AC voltage of 1 kHz and 1 Vrms was applied was measured. Next, DC150V and 1k
The capacitance was measured when AC voltages of 1 Hz and 1 Vrms were simultaneously applied. Then, the rate of decrease ΔC / C in capacitance due to the application of the DC voltage was calculated. In addition, as a high-temperature load test, 36 samples of each sample were applied with a DC voltage of 750 V (that is, 25 kV / mm) at a temperature of 150 ° C., and the change with time of the insulation resistance was measured. In the high-temperature load life test, the time when the insulation resistance value of each sample became 10 6 Ω or less was defined as the life time, and the average life time was determined.
【0035】また、耐湿負荷試験として、各試料を72
個ずつ、2気圧(相対湿度100%)、温度120℃に
て315VのDC電圧を250時間印加したときの、絶
縁抵抗が106 Ω以下になった試料の個数を求めた。さ
らに、絶縁破壊電圧は昇圧速度100V/秒でAC電圧
およびDC電圧をそれぞれ印加し、AC電圧およびDC
電圧での破壊電圧を測定した。As a humidity resistance load test, each sample was tested for 72 hours.
The number of samples having an insulation resistance of 10 6 Ω or less when a DC voltage of 315 V was applied for 250 hours at 2 atmospheres (100% relative humidity) and a temperature of 120 ° C. was determined. Further, the breakdown voltage is obtained by applying an AC voltage and a DC voltage at a step-up rate of 100 V / sec, respectively.
The breakdown voltage at the voltage was measured.
【0036】以上の結果を表4および表5に示す。The above results are shown in Tables 4 and 5.
【0037】[0037]
【表4】 [Table 4]
【0038】[0038]
【表5】 [Table 5]
【0039】表1〜表5から明らかなように、本発明の
積層セラミックコンデンサは5kV/mmのDC電圧印
加時の容量低下率が−45%以内と小さく、誘電損失は
1.0%以下で、温度に対する静電容量の変化率が−2
5℃〜+85℃の範囲でJIS規格に規定するB特性規
格を満足し、−55℃〜125℃の範囲でEIA規格に
規定するX7R特性規格を満足する。As is clear from Tables 1 to 5, the multilayer ceramic capacitor of the present invention has a small capacity reduction ratio of -45% or less when a DC voltage of 5 kV / mm is applied, and a dielectric loss of 1.0% or less. , The rate of change of capacitance with respect to temperature is -2
The range of 5 ° C. to + 85 ° C. satisfies the B characteristic standard specified by the JIS standard, and the range of −55 ° C. to 125 ° C. satisfies the X7R characteristic standard specified by the EIA standard.
【0040】しかも、10kV/mmという高電界強度
下で使用する時に、25℃、150℃での絶縁抵抗をC
R積で表したときに、それぞれ5000Ω・F以上、2
00Ω・F以上と高い値を示す。また、絶縁破壊電圧が
AC電圧で12kV/mm以上、DC電圧で14kV/
mm以上と大きい値を示す。さらに、150℃、25k
V/mmの加速試験において平均寿命時間が800時間
以上と長く、焼成温度も1300℃以下と比較的低温で
焼成可能である。In addition, when used under a high electric field strength of 10 kV / mm, the insulation resistance at 25 ° C. and 150 ° C.
When expressed as R product, each is 5000Ω · F or more, 2
The value is as high as 00Ω · F or more. The dielectric breakdown voltage is 12 kV / mm or more at AC voltage and 14 kV / mm at DC voltage.
mm and a large value. In addition, 150 ° C, 25k
The average life time is as long as 800 hours or more in the acceleration test of V / mm, and the firing can be performed at a relatively low temperature of 1300 ° C. or less.
【0041】ここで、本発明の組成限定理由について説
明する。 {BaO}m TiO2 +αR2 O3 +βBaZrO3 +
γMgO+gMnO (ただし、R2 O3 はEu2 O3 、Gd2 O3 、Tb2
O3 、Dy2 O3 、Ho 2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O
3 およびYb2 O3 の中から選ばれる少なくとも1種で
あり、α、β、γおよびgはモル比を表す。)におい
て、試料番号1のように、R2 O3 量αが0.001未
満の場合には絶縁抵抗が低く、CR積が小さくなるので
好ましくない。一方、試料番号2のようにR2 O3量α
が0.06を超える場合には、温度特性がB特性/X7
R特性を満足せず、信頼性が悪くなるので好ましくな
い。したがって、R2 O3 量αは0.001≦α≦0.
06の範囲が好ましい。Here, the reasons for limiting the composition of the present invention will be explained.
I will tell. {BaO}mTiOTwo+ ΑRTwoOThree+ ΒBaZrOThree+
γMgO + gMnO (where RTwoOThreeIs EuTwoOThree, GdTwoOThree, TbTwo
OThree, DyTwoOThree, Ho TwoOThree, ErTwoOThree, TmTwoO
ThreeAnd YbTwoOThreeAt least one selected from
And α, β, γ and g represent molar ratios. )smell
As shown in sample number 1, RTwoOThreeThe amount α is not 0.001
When full, the insulation resistance is low and the CR product is small,
Not preferred. On the other hand, as shown in sample No. 2, RTwoOThreeQuantity α
Exceeds 0.06, the temperature characteristic is B characteristic / X7
R characteristics are not satisfied, and reliability is deteriorated.
No. Therefore, RTwoOThreeThe amount α is 0.001 ≦ α ≦ 0.
The range of 06 is preferable.
【0042】また、試料番号3のように、BaZrO3
量βが0の場合には、絶縁抵抗が低く、BaZrO3 を
含む系よりも絶縁抵抗の電圧依存性が大きいので好まし
くない。一方、試料番号4のように、BaZrO3 量β
が0.06を超えた場合には、温度特性もB特性/X7
R特性を満足せず、平均寿命時間が短いので好ましくな
い。したがって、BaZrO3 量βは0.005≦β≦
0.06の範囲が好ましい。Further, as shown in Sample No. 3, BaZrO 3
When the amount β is 0, the insulation resistance is low, and the voltage dependence of the insulation resistance is larger than that of a system containing BaZrO 3, which is not preferable. On the other hand, as shown in Sample No. 4, the amount of BaZrO 3 β
Exceeds 0.06, the temperature characteristic is also B characteristic / X7
It is not preferable because the R characteristics are not satisfied and the average life time is short. Therefore, the BaZrO 3 amount β is 0.005 ≦ β ≦
A range of 0.06 is preferred.
【0043】また、試料番号5のように、MgO量γが
0.001の場合、絶縁抵抗が低く、温度特性がB特性
/X7R特性を満足しないので好ましくない。一方、試
料番号6のように、MgO量γが0.12を超えると、
焼結温度が高くなり、誘電損失が2.0%を超え、耐湿
負荷試験で不良個数が極端に増え、しかも、平均寿命時
間が短くなるので好ましくない。したがって、MgO量
γは0.001<γ≦0.12の範囲が好ましい。When the MgO content γ is 0.001, as in sample No. 5, the insulation resistance is low and the temperature characteristics do not satisfy the B characteristics / X7R characteristics, which is not preferable. On the other hand, when the MgO amount γ exceeds 0.12, as in Sample No. 6,
The sintering temperature increases, the dielectric loss exceeds 2.0%, the number of defectives increases extremely in a moisture resistance load test, and the average life time is undesirably shortened. Therefore, the MgO amount γ is preferably in the range of 0.001 <γ ≦ 0.12.
【0044】また、試料番号7のように、MnO量gが
0.001の場合、半導体化のため測定不能となり好ま
しくない。一方、試料番号8のように、MnO量gが
0.12を超える場合には、温度特性X7Rを満足せ
ず、絶縁抵抗が低く、平均寿命時間が短くなり好ましく
ない。したがって、MnO量gは0.001<g≦0.
12の範囲が好ましい。Further, when the amount g of MnO is 0.001, as in sample No. 7, the measurement cannot be performed due to the semiconductor, which is not preferable. On the other hand, when the MnO amount g exceeds 0.12 as in Sample No. 8, the temperature characteristic X7R is not satisfied, the insulation resistance is low, and the average life time is short, which is not preferable. Therefore, the amount g of MnO is 0.001 <g ≦ 0.
A range of 12 is preferred.
【0045】また、試料番号9のように、MgOとMn
O量の合計γ+gが0.13を超えると、誘電損失が
2.0%以上まで大きくなり、平均寿命時間が短くな
り、耐湿負荷試験不良個数が増加するので好ましくな
い。したがって、MgOとMnO量の合計γ+gはγ+
g≦0.13の範囲が好ましい。また、試料番号10の
ように、BaO/TiO2 比mが1.000未満の場
合、半導体化のため測定不能となり好ましくない。ま
た、試料番号11のように、BaO/TiO2 比mが
1.000の場合、絶縁抵抗が低く、ACおよびDCの
破壊電圧が低く、平均寿命時間が短く好ましくない。一
方、試料番号12および13のように、BaO/TiO
2 比mが1.035を超えた場合、焼結不足のため測定
不能となり好ましくない。したがって、BaO/TiO
2 比mは1.000<m≦1.035の範囲が好まし
い。Further, as shown in sample No. 9, MgO and Mn
If the total γ + g of the O content exceeds 0.13, the dielectric loss is increased to 2.0% or more, the average life time is shortened, and the number of failures in the moisture resistance load test is undesirably increased. Therefore, the total γ + g of the amounts of MgO and MnO is γ + g
The range of g ≦ 0.13 is preferred. Further, when the BaO / TiO 2 ratio m is less than 1.000 as in Sample No. 10, the measurement cannot be performed because of the semiconductor, which is not preferable. Further, when the BaO / TiO 2 ratio m is 1.000 as in Sample No. 11, the insulation resistance is low, the AC and DC breakdown voltages are low, and the average life time is short, which is not preferable. On the other hand, as in Sample Nos. 12 and 13, BaO / TiO
When the ratio m exceeds 1.035, measurement becomes impossible due to insufficient sintering, which is not preferable. Therefore, BaO / TiO
The ratio m is preferably in the range of 1.000 <m ≦ 1.035.
【0046】また、試料番号14および16のように、
第1の副成分の添加量または第2の副成分の添加量が0
の場合、焼結不足のため測定不能となり好ましくない。
一方、試料番号15および17のように、第1の副成分
の添加量または第2の副成分の添加量が3.0重量部を
超えた場合、誘電損失が1.0%を超え、また、絶縁抵
抗も破壊電圧も低く、しかも、平均寿命時間も短くなり
好ましくない。したがって、第1または第2の副成分の
どちらか一方の含有量は0.2〜3.0重量部の範囲が
好ましい。As shown in sample numbers 14 and 16,
The addition amount of the first subcomponent or the addition amount of the second subcomponent is 0
In case (1), measurement is impossible due to insufficient sintering, which is not preferable.
On the other hand, as in Sample Nos. 15 and 17, when the added amount of the first subcomponent or the added amount of the second subcomponent exceeds 3.0 parts by weight, the dielectric loss exceeds 1.0%, and In addition, the insulation resistance and the breakdown voltage are low, and the average lifetime is undesirably short. Therefore, the content of either the first or second subcomponent is preferably in the range of 0.2 to 3.0 parts by weight.
【0047】さらに、チタン酸バリウム中に不純物とし
て含まれるアルカリ金属酸化物の含有量を0.02重量
%以下としたのは、試料番号18のように、アルカリ金
属酸化物の含有量が0.02重量%を超える場合には、
誘電率の低下を生じるからである。 (実施例2)誘電体粉末として、表1のAのチタン酸バ
リウムを用いて、BaO1.010 ・TiO2 +0.03G
d2 O3 +0.025BaZrO3 +0.05MgO+
0.01MnO(モル比)の原料を準備し、これに、1
200〜1500℃で加熱して作製した表6に示す平均
粒径1μm以下のLi2 O−(Si,Ti)O2 −MO
系の酸化物を第1の副成分として添加して、その他は実
施例1と同様にして積層セラミックコンデンサを作製し
た。なお、作製した積層セラミックコンデンサの寸法形
状は実施例1と同様である。Further, the content of the alkali metal oxide contained as an impurity in the barium titanate was set to 0.02% by weight or less, as shown in Sample No. 18, when the content of the alkali metal oxide was 0.1%. If it exceeds 02% by weight,
This is because a decrease in the dielectric constant occurs. (Example 2) as a dielectric powder, using a barium titanate A in Table 1, BaO 1.010 · TiO 2 + 0.03G
d 2 O 3 + 0.025BaZrO 3 + 0.05MgO +
A raw material of 0.01 MnO (molar ratio) is prepared, and 1
Li 2 O— (Si, Ti) O 2 —MO having an average particle size of 1 μm or less shown in Table 6 prepared by heating at 200 to 1500 ° C.
A monolithic ceramic capacitor was produced in the same manner as in Example 1 except that a system oxide was added as a first subcomponent. The dimensions and shape of the manufactured multilayer ceramic capacitor are the same as those in the first embodiment.
【0048】[0048]
【表6】 [Table 6]
【0049】次いで、実施例1と同様にして電気的特性
を測定した。その結果を表7に示す。Next, the electrical characteristics were measured in the same manner as in Example 1. Table 7 shows the results.
【0050】[0050]
【表7】 [Table 7]
【0051】表6および表7から明らかなように、図4
に示すLi2 O−(Siw Ti1-w)O2 −MO系の酸
化物の三元組成図のA(x=20、y=80、z=
0)、B(x=10、y=80、z=10)、C(x=
10、y=70、z=20)、D(x=35、y=4
5、z=20)、E(x=45、y=45、z=1
0)、F(x=45、y=55、z=0)(ただし、
x、y、zはモル%、wはモル比であり、直線A−F上
の組成の場合、wは0.3≦w<1.0の範囲内)で示
される各点を結ぶ直線で囲まれた領域の内部または線上
にある酸化物が添加された試料番号101〜112、1
18および120のものは、5kV/mmのDC電圧印
加時の容量低下率が−45%以内と小さく、誘電損失は
1.0%以下で、温度に対する静電容量の変化率が−2
5℃〜85℃の範囲でJIS規格に規定するB特性規格
を満足し、−55℃〜125℃の範囲でEIA規格に規
定するX7R特性規格を満足するという好ましい結果が
得られる。As is clear from Tables 6 and 7, FIG.
In the ternary composition diagram of the Li 2 O— (Si w Ti 1-w ) O 2 —MO system oxide shown in FIG.
0), B (x = 10, y = 80, z = 10), C (x =
10, y = 70, z = 20), D (x = 35, y = 4)
5, z = 20), E (x = 45, y = 45, z = 1)
0), F (x = 45, y = 55, z = 0) (provided that
x, y, and z are mol%, w is a molar ratio, and in the case of a composition on a straight line AF, w is a straight line connecting points indicated by 0.3 ≦ w <1.0). Sample Nos. 101 to 112, 1 to which the oxides inside or on the line in the enclosed area were added
18 and 120, the rate of decrease in capacitance when a DC voltage of 5 kV / mm is applied is as small as -45% or less, the dielectric loss is 1.0% or less, and the rate of change of capacitance with temperature is -2.
A preferable result is obtained in which the B characteristic standard defined in the JIS standard is satisfied in the range of 5 ° C. to 85 ° C., and the X7R characteristic standard defined in the EIA standard is satisfied in the range of −55 ° C. to 125 ° C.
【0052】しかも、10kV/mmの高電界強度下で
使用した時に、25℃、150℃での絶縁抵抗をCR積
で表したときに、それぞれ5000Ω・F以上、200
Ω・F以上と高い値を示す。また、絶縁破壊電圧がAC
電圧で12kV/mm以上、DC電圧で14kV/mm
以上と大きい値を示す。さらに、150℃、25kV/
mmの加速試験において平均寿命時間が800時間以上
と長く、焼成温度も1300℃以下と比較的低温で焼成
可能である。In addition, when used under a high electric field strength of 10 kV / mm, when the insulation resistance at 25 ° C. and 150 ° C. is represented by a CR product, the resistance is 5000Ω · F or more and 200Ω or more, respectively.
It shows a high value of Ω · F or more. Also, if the breakdown voltage is AC
12 kV / mm or more in voltage, 14 kV / mm in DC voltage
The above shows a large value. Further, at 150 ° C. and 25 kV /
The average life time is as long as 800 hours or more in the accelerated test of mm, and the firing can be performed at a relatively low temperature of 1300 ° C. or less.
【0053】これに対して、Li2 O−(Siw Ti
1-w )O2 −MO系の酸化物が上記組成範囲外の場合
は、試料番号113〜117および119に示すとお
り、焼結不足となるか、焼結しても耐湿負荷試験におい
て不良が発生する。また、点A−F上の組成かつw=
1.0の場合には、試料番号119および121のよう
に焼結温度が高くなり、耐湿負荷試験において不良が発
生する。また、wの値が0.30未満の場合には、試料
番号122に示すように、焼結温度が高くなり、耐湿負
荷試験において不良が発生する。 (実施例3)誘電体粉末として、表1のAのチタン酸バ
リウムを用いて、BaO1.010 ・TiO2 +0.03D
y2 O3 +0.02BaZrO3 +0.05MgO+
0.01MnO(モル比)の原料を準備し、これに、1
200〜1500℃で加熱して作製した表8に示す平均
粒径1μm以下のSiO2 −TiO2 −XO系の酸化物
を第2の副成分として添加して、その他は実施例1と同
様にして積層セラミックコンデンサを作製した。なお、
Al2 O3 およびZrO2 の各添加量は、第2の副成分
[xSiO2 −yTiO2 −zXO]100重量部に対
する添加部数である。また、作製した積層コンデンサの
外形寸法などは、実施例1と同様である。On the other hand, Li 2 O— (Si w Ti
1-w ) When the O 2 -MO-based oxide is out of the above composition range, as shown in Sample Nos. 113 to 117 and 119, sintering becomes insufficient, or even if sintering, a failure in a moisture resistance load test results. Occur. Also, the composition on points AF and w =
In the case of 1.0, the sintering temperature becomes high as in sample numbers 119 and 121, and a failure occurs in the moisture resistance load test. When the value of w is less than 0.30, as shown in sample number 122, the sintering temperature increases, and a failure occurs in the moisture resistance load test. (Example 3) as a dielectric powder, using a barium titanate A in Table 1, BaO 1.010 · TiO 2 + 0.03D
y 2 O 3 + 0.02BaZrO 3 + 0.05MgO +
A raw material of 0.01 MnO (molar ratio) is prepared, and 1
An SiO 2 —TiO 2 —XO-based oxide having an average particle size of 1 μm or less shown in Table 8 prepared by heating at 200 to 1500 ° C. was added as a second subcomponent, and the other conditions were the same as in Example 1. To produce a multilayer ceramic capacitor. In addition,
Each additive amount of Al 2 O 3 and ZrO 2, the second subcomponent [xSiO 2 -yTiO 2 -zXO] is added parts for 100 parts by weight. The external dimensions of the manufactured multilayer capacitor are the same as those of the first embodiment.
【0054】[0054]
【表8】 [Table 8]
【0055】次いで、実施例1と同様にして電気的特性
を測定した。その結果を表9に示す。Next, the electrical characteristics were measured in the same manner as in Example 1. Table 9 shows the results.
【0056】[0056]
【表9】 [Table 9]
【0057】表8および表9から明らかなように、図5
に示すSiO2 −TiO2 −XO系の酸化物の三元組成
図のA(x=85、y=1、z=14)、B(x=3
5、y=51、z=14)、C(x=30、y=20、
z=50)、D(x=39、y=1、z=60)(ただ
し、x、y、zはモル%)で示される各点を結ぶ直線で
囲まれた領域の内部または線上にある酸化物が添加され
た試料番号201〜212のものは、5kV/mmのD
C電圧印加時の容量低下率が−45%以内と小さく、誘
電損失は1.0%以下で温度に対する静電容量の変化率
が、−25℃〜85℃の範囲でJIS規格に規定するB
特性規格を満足し、−55℃〜125℃の範囲内でEI
A規格に規定するX7R特性規格を満足するという好ま
しい結果が得られる。As is clear from Tables 8 and 9, FIG.
A (x = 85, y = 1, z = 14) and B (x = 3) in the ternary composition diagram of the SiO 2 —TiO 2 —XO-based oxide shown in FIG.
5, y = 51, z = 14), C (x = 30, y = 20,
z = 50) and D (x = 39, y = 1, z = 60) (where x, y, and z are mol%) within or on a region surrounded by a straight line connecting points. Samples 201 to 212 to which the oxide was added had a D of 5 kV / mm.
The capacitance reduction rate when applying a C voltage is as small as -45% or less, the dielectric loss is 1.0% or less, and the rate of change of capacitance with respect to temperature is in the range of -25 ° C to 85 ° C.
Satisfies the characteristic specifications and EI within the range of -55 ° C to 125 ° C
A favorable result of satisfying the X7R characteristic standard defined in the A standard is obtained.
【0058】しかも、10kV/mmの高い電界強度で
使用した時に、25℃、150℃での絶縁抵抗をCR積
で表したときに、それぞれ5000Ω・F以上、200
Ω・F以上と高い値を示す。また、絶縁破壊電圧がAC
電圧で12kV/mm以上、DC電圧で14kV/mm
以上と大きい値を示す。さらに、150℃、25kV/
mmの加速試験において平均寿命時間が800時間以上
と長く、耐湿負荷試験で不良発生が認められず、焼成温
度も1300℃以下と比較的低温で焼成可能である。In addition, when used at a high electric field strength of 10 kV / mm, when the insulation resistance at 25 ° C. and 150 ° C. is represented by a CR product, it is 5000 Ω · F or more and 200
It shows a high value of Ω · F or more. Also, if the breakdown voltage is AC
12 kV / mm or more in voltage, 14 kV / mm in DC voltage
The above shows a large value. Further, at 150 ° C. and 25 kV /
The average life time is as long as 800 hours or more in the accelerated test of mm, no failure is observed in the moisture resistance load test, and the firing can be performed at a relatively low temperature of 1300 ° C. or lower.
【0059】これに対して、SiO2 −TiO2 −XO
系の酸化物が上記組成範囲外の場合は、試料番号213
〜219に示すように焼結不足となるか、焼結しても耐
湿負荷試験において不良が発生する。また、試料番号2
11および212のように、SiO2 −TiO2 −XO
系の酸化物に、Al2 O3 および/またはZrO2 を含
有させることで、10kV/mmの電界強度下における
25℃、150℃の絶縁抵抗が5400Ω・F、300
Ω・F以上の積層コンデンサが得られるが、試料番号2
17および218のように、Al2 O3 添加量として1
5重量部およびZrO2 添加量として5重量部を超える
と、焼結性が極端に低下する。On the other hand, SiO 2 —TiO 2 —XO
If the system oxide is out of the above composition range, sample number 213
As shown in FIGS. 219 to 219, sintering becomes insufficient, or even if sintering occurs, a failure occurs in a moisture resistance load test. Sample No. 2
As in 11 and 212, SiO 2 —TiO 2 —XO
By adding Al 2 O 3 and / or ZrO 2 to the system oxide, the insulation resistance at 25 ° C. and 150 ° C. under an electric field strength of 10 kV / mm is 5400 Ω · F, 300
A multilayer capacitor of Ω · F or more can be obtained.
17 and 218, the amount of Al 2 O 3 added is 1
If the amount exceeds 5 parts by weight and the amount of ZrO 2 exceeds 5 parts by weight, the sinterability is extremely reduced.
【0060】(実施例4)実施例1と同様の方法によ
り、表1の4種類のチタン酸バリウム(BaTi
O 3 )、第1の副成分としての酸化物粉末、および第2
の副成分としての酸化物粉末を得た。次に、チタン酸バ
リウムのBa/Tiモル比mを調整するためのBaCO
3 と、純度99%以上のEu2 O3 、Gd2 O3 、Tb
2 O3 、Dy2 O3 、Ho2O3 、Er2 O3 、Tm2
O3 、Yb2 O3 、BaZrO3 およびMnOを準備し
た。これらの原料粉末と第1または第2のどちらか一方
の副成分である上記酸化物粉末を表10および表11に
示す組成になるように秤量した。なお、第1、第2の副
成分の添加量は、主成分[{BaO}m TiO2 +αR
2 O3 +βBaZrO3 +γMnO]100重量部に対
する添加部数である。そして、この秤量物を用いて、実
施例1と同様の方法により、積層セラミックコンデンサ
を作製した。また、作製した積層セラミックコンデンサ
の外形寸法などは、実施例1と同様である。(Embodiment 4) A method similar to that of Embodiment 1 is used.
The four types of barium titanate (BaTi
O Three), An oxide powder as a first subcomponent, and a second
An oxide powder was obtained as a subcomponent of Next, titanate
BaCO for adjusting the Ba / Ti molar ratio m of lithium
ThreeAnd Eu with a purity of 99% or moreTwoOThree, GdTwoOThree, Tb
TwoOThree, DyTwoOThree, HoTwoOThree, ErTwoOThree, TmTwo
OThree, YbTwoOThree, BaZrOThreeAnd prepare MnO
Was. These raw material powders and either the first or second
Table 10 and Table 11 show the oxide powder as a subcomponent of
It was weighed to obtain the composition shown. In addition, the first and second sub
The amount of the component added depends on the main component [{BaO}mTiOTwo+ ΑR
TwoOThree+ ΒBaZrOThree+ ΓMnO] to 100 parts by weight
To be added. Then, using this weighed material,
In the same manner as in Example 1, a multilayer ceramic capacitor
Was prepared. In addition, the manufactured multilayer ceramic capacitor
Are similar to those of the first embodiment.
【0061】[0061]
【表10】 [Table 10]
【0062】[0062]
【表11】 [Table 11]
【0063】次いで、実施例1と同様にして電気的特性
を測定した。その結果を表12および表13に示す。Next, the electrical characteristics were measured in the same manner as in Example 1. The results are shown in Tables 12 and 13.
【0064】[0064]
【表12】 [Table 12]
【0065】[0065]
【表13】 [Table 13]
【0066】表10〜表13から明らかなように、本発
明の積層セラミックコンデンサは5kV/mmのDC電
圧印加時の容量低下率が−40%以内と小さく、誘電損
失は1.0%以下で、温度に対する静電容量の変化率が
−25℃〜+85℃の範囲でJIS規格に規定するB特
性規格を満足し、−55℃〜125℃の範囲でEIA規
格に規定するX7R特性規格を満足する。As is apparent from Tables 10 to 13, the multilayer ceramic capacitor of the present invention has a small capacity reduction rate of -40% or less when a DC voltage of 5 kV / mm is applied, and a dielectric loss of 1.0% or less. When the rate of change of the capacitance with respect to the temperature is in the range of -25 ° C to + 85 ° C, it satisfies the B characteristic standard stipulated in the JIS standard, and in the range of -55 ° C to 125 ° C, it satisfies the X7R characteristic standard stipulated in the EIA standard. I do.
【0067】しかも、10kV/mmという高電界強度
下で使用する時に、25℃、150℃での絶縁抵抗をC
R積で表したときに、それぞれ5000Ω・F以上、2
00Ω・F以上と高い値を示す。また、絶縁破壊電圧が
AC電圧で12kV/mm以上、DC電圧で14kV/
mm以上と大きい値を示す。さらに、150℃、25k
V/mmの加速試験において平均寿命時間が800時間
以上と長く、焼成温度も1300℃以下と比較的低温で
焼成可能である。Furthermore, when used under a high electric field strength of 10 kV / mm, the insulation resistance at 25 ° C. and 150 ° C.
When expressed as R product, each is 5000Ω · F or more, 2
The value is as high as 00Ω · F or more. The dielectric breakdown voltage is 12 kV / mm or more at AC voltage and 14 kV / mm at DC voltage.
mm and a large value. In addition, 150 ° C, 25k
The average life time is as long as 800 hours or more in the acceleration test of V / mm, and the firing can be performed at a relatively low temperature of 1300 ° C. or less.
【0068】ここで、本発明の組成限定理由について説
明する。 {BaO}m TiO2 +αR2 O3 +βBaZrO3 +
γMnO (ただし、R2 O3 はEu2 O3 、Gd2 O3 、Tb2
O3 、Dy2 O3 、Ho 2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O
3 およびYb2 O3 の中から選ばれる少なくとも1種で
あり、α、βおよびγはモル比を表す。)において、試
料番号301のように、R2 O3 量αが0.001未満
の場合には、温度特性がB特性/X7R特性を満足しな
くなり好ましくない。一方、試料番号302のようにR
2 O3 量αが0.06を超える場合には、比誘電率が9
00未満まで小さくなり好ましくない。したがって、R
2 O3 量αは0.001≦α≦0.06の範囲が好まし
い。Here, the reasons for limiting the composition of the present invention will be explained.
I will tell. {BaO}mTiOTwo+ ΑRTwoOThree+ ΒBaZrOThree+
γMnO (where RTwoOThreeIs EuTwoOThree, GdTwoOThree, TbTwo
OThree, DyTwoOThree, Ho TwoOThree, ErTwoOThree, TmTwoO
ThreeAnd YbTwoOThreeAt least one selected from
And α, β and γ represent molar ratios. )
Like the fee number 301, RTwoOThreeQuantity α is less than 0.001
In the case of, the temperature characteristic does not satisfy the B characteristic / X7R characteristic.
It is not preferred. On the other hand, as shown in sample number 302, R
TwoOThreeWhen the amount α exceeds 0.06, the relative dielectric constant becomes 9
It is not preferable because it becomes smaller than less than 00. Therefore, R
TwoOThreeThe amount α is preferably in the range of 0.001 ≦ α ≦ 0.06.
No.
【0069】また、試料番号303のように、BaZr
O3 量βが0の場合には、絶縁抵抗が低く、BaZrO
3 を含む系よりも絶縁抵抗の電圧依存性が大きいので好
ましくない。一方、試料番号304のように、BaZr
O3 量βが0.06を超えた場合には、温度特性もB特
性/X7R特性を満足せず、平均寿命時間が短いので好
ましくない。したがって、BaZrO3 量βは0.00
5≦β≦0.06の範囲が好ましい。Also, as shown in sample number 303, BaZr
When the O 3 amount β is 0, the insulation resistance is low and BaZrO
This is not preferable because the voltage dependence of the insulation resistance is larger than that of a system containing 3 . On the other hand, BaZr
When the amount of O 3 exceeds 0.06, the temperature characteristics do not satisfy the B characteristics / X7R characteristics, and the average life time is short, which is not preferable. Therefore, the BaZrO 3 amount β is 0.00
The range of 5 ≦ β ≦ 0.06 is preferable.
【0070】また、試料番号305のように、MnO量
γが0.001の場合、半導体化のため測定不能となり
好ましくない。一方、試料番号306のように、MnO
量γが0.13を超える場合には、温度特性X7Rを満
足せず、絶縁抵抗が低く、平均寿命時間が短くなり好ま
しくない。したがって、MnO量γは0.001<γ≦
0.13の範囲が好ましい。When the MnO content γ is 0.001, as in the case of sample number 305, measurement cannot be performed due to the semiconductor, which is not preferable. On the other hand, as shown in sample number 306, MnO
When the amount γ exceeds 0.13, the temperature characteristic X7R is not satisfied, the insulation resistance is low, and the average life time is undesirably short. Therefore, the MnO amount γ is 0.001 <γ ≦
A range of 0.13 is preferred.
【0071】また、試料番号307のように、BaO/
TiO2 比mが1.000未満の場合、半導体化のため
測定不能となり好ましくない。また、試料番号308の
ように、BaO/TiO2 比mが1.000の場合、絶
縁抵抗が低く、ACおよびDCの破壊電圧が低く、平均
寿命時間が短く好ましくない。一方、試料番号309お
よび310のように、BaO/TiO2 比mが1.03
5を超えた場合、焼結不足のため測定不能となり好まし
くない。したがって、BaO/TiO2 比mは1.00
0<m≦1.035の範囲が好ましい。As shown in sample number 307, BaO /
If the TiO 2 ratio m is less than 1.000, measurement becomes impossible due to semiconductor conversion, which is not preferable. Further, when the BaO / TiO 2 ratio m is 1.000 as in Sample No. 308, the insulation resistance is low, the AC and DC breakdown voltages are low, and the average life time is short. On the other hand, as shown in sample numbers 309 and 310, the BaO / TiO 2 ratio m was 1.03.
If it exceeds 5, measurement becomes impossible due to insufficient sintering, which is not preferable. Therefore, the BaO / TiO 2 ratio m is 1.00.
The range of 0 <m ≦ 1.035 is preferable.
【0072】また、試料番号311および313のよう
に、第1の副成分の添加量または第2の副成分の添加量
が0の場合、焼結不足のため測定不能となり好ましくな
い。一方、試料番号312および314のように、第1
の副成分の添加量または第2の副成分の添加量が3.0
重量部を超えた場合、誘電損失が1.0%を超え、ま
た、絶縁抵抗も破壊電圧も低く、しかも、平均寿命時間
も短くなり好ましくない。したがって、第1または第2
の副成分のどちらか一方の含有量は0.2〜3.0重量
部の範囲が好ましい。Further, when the addition amount of the first sub-component or the addition amount of the second sub-component is 0 as in Sample Nos. 311 and 313, measurement becomes impossible due to insufficient sintering, which is not preferable. On the other hand, as shown in sample numbers 312 and 314, the first
The amount of the subcomponent added or the amount of the second subcomponent added is 3.0.
If the amount is more than 10 parts by weight, the dielectric loss exceeds 1.0%, the insulation resistance and the breakdown voltage are low, and the average life time is undesirably short. Therefore, the first or second
Is preferably in the range of 0.2 to 3.0 parts by weight.
【0073】さらに、チタン酸バリウム中に不純物とし
て含まれるアルカリ金属酸化物の含有量を0.02重量
%以下としたのは、試料番号315のように、アルカリ
金属酸化物の含有量が0.02重量%を超える場合に
は、誘電率の低下を生じるからである。 (実施例5)誘電体粉末として、表1のAのチタン酸バ
リウムを用いて、BaO1.010 ・TiO2 +0.015
Ho2 O3 +0.01BaZrO3 +0.03MnO
(モル比)の原料を準備し、これに、1200〜150
0℃で加熱して作製した表6に示すのと同様の平均粒径
1μm以下のLi2 O−(Si,Ti)O2 −MO系の
酸化物を第1の副成分として添加して、その他は実施例
1と同様にして積層セラミックコンデンサを作製した。
なお、作製した積層セラミックコンデンサの寸法形状は
実施例1と同様である。そして、実施例1と同様にして
電気的特性を測定した。その結果を表14に示す。な
お、表14において、試料番号401〜422は、それ
ぞれ、表6の試料番号101〜122に対応しており、
たとえば、表14の試料番号401は、表6の試料番号
101の副成分を添加して得たものである。Further, the content of the alkali metal oxide contained as an impurity in the barium titanate was set to 0.02% by weight or less, as shown in Sample No. 315, when the content of the alkali metal oxide was 0.1%. If it exceeds 02% by weight, the dielectric constant will be reduced. (Example 5) dielectric powder, using a barium titanate A in Table 1, BaO 1.010 · TiO 2 +0.015
Ho 2 O 3 +0.01 BaZrO 3 +0.03 MnO
(Molar ratio) of raw materials are prepared, and
A Li 2 O— (Si, Ti) O 2 —MO-based oxide having an average particle diameter of 1 μm or less similar to that shown in Table 6 produced by heating at 0 ° C. was added as a first subcomponent, Otherwise, a multilayer ceramic capacitor was manufactured in the same manner as in Example 1.
The dimensions and shape of the manufactured multilayer ceramic capacitor are the same as those in the first embodiment. Then, the electrical characteristics were measured in the same manner as in Example 1. Table 14 shows the results. In Table 14, sample numbers 401 to 422 correspond to sample numbers 101 to 122 in Table 6, respectively.
For example, sample number 401 in Table 14 is obtained by adding the subcomponent of sample number 101 in Table 6.
【0074】[0074]
【表14】 [Table 14]
【0075】図4に示すLi2 O−(Siw Ti1-w )
O2 −MO系の酸化物の三元組成図のA(x=20、y
=80、z=0)、B(x=10、y=80、z=1
0)、C(x=10、y=70、z=20)、D(x=
35、y=45、z=20)、E(x=45、y=4
5、z=10)、F(x=45、y=55、z=0)
(ただし、x、y、zはモル%、wはモル比であり、直
線A−F上の組成の場合、wは0.3≦w<1.0の範
囲内)で示される各点を結ぶ直線で囲まれた領域の内部
または線上にある表6の試料番号101〜112、11
8および120の酸化物を副成分として添加したもの
は、表14の試料番号401〜412、418および4
20において見られるように、5kV/mmのDC電圧
印加時の容量低下率が−40%以内と小さく、誘電損失
は1.0%以下で、温度に対する静電容量の変化率が−
25℃〜85℃の範囲でJIS規格に規定するB特性規
格を満足し、−55℃〜125℃の範囲でEIA規格に
規定するX7R特性規格を満足するという好ましい結果
が得られる。The Li 2 O— (Si w Ti 1-w ) shown in FIG.
A (x = 20, y) in the ternary composition diagram of the O 2 —MO-based oxide
= 80, z = 0), B (x = 10, y = 80, z = 1)
0), C (x = 10, y = 70, z = 20), D (x =
35, y = 45, z = 20), E (x = 45, y = 4)
5, z = 10), F (x = 45, y = 55, z = 0)
(However, x, y, and z are mol%, w is a molar ratio, and in the case of a composition on a straight line AF, w is in the range of 0.3 ≦ w <1.0). Sample numbers 101 to 112, 11 in Table 6 inside or on the area surrounded by the connecting straight line
Samples 401 to 412, 418 and 4 in Table 14 were prepared by adding oxides 8 and 120 as subcomponents.
As shown in FIG. 20, the rate of capacitance decrease when a DC voltage of 5 kV / mm is applied is as small as -40% or less, the dielectric loss is 1.0% or less, and the rate of change of capacitance with temperature is-.
A preferable result is obtained in which the B characteristic standard defined in the JIS standard is satisfied in the range of 25 ° C to 85 ° C, and the X7R characteristic standard defined in the EIA standard is satisfied in the range of -55 ° C to 125 ° C.
【0076】しかも、10kV/mmの高電界強度下で
使用した時に、25℃、150℃での絶縁抵抗をCR積
で表したときに、それぞれ5000Ω・F以上、190
Ω・F以上と高い値を示す。また、絶縁破壊電圧がAC
電圧で12kV/mm以上、DC電圧で14kV/mm
以上と大きい値を示す。さらに、150℃、DC25k
V/mmの加速試験において平均寿命時間が800時間
以上と長く、焼成温度も1300℃以下と比較的低温で
焼成可能である。In addition, when used under a high electric field strength of 10 kV / mm, when the insulation resistance at 25 ° C. and 150 ° C. is expressed by CR product, it is 5000 Ω · F or more and 190 Ω / F, respectively.
It shows a high value of Ω · F or more. Also, if the breakdown voltage is AC
12 kV / mm or more in voltage, 14 kV / mm in DC voltage
The above shows a large value. Furthermore, 150 ° C, DC 25k
The average life time is as long as 800 hours or more in the acceleration test of V / mm, and the firing can be performed at a relatively low temperature of 1300 ° C. or less.
【0077】これに対して、表6の試料番号113〜1
17および119のように、Li2O−(Siw Ti
1-w )O2 −MO系の酸化物が上記組成範囲外の場合
は、表14の試料番号413〜417および419にお
いて見られるように、焼結不足となるか、焼結しても耐
湿負荷試験において不良が発生する。また、表6の試料
番号119および121のように、点A−F上の組成か
つw=1.0の場合には、表14の試料番号419およ
び421において見られるように、焼結温度が高くな
り、耐湿負荷試験において不良が発生する。また、表6
の試料番号122のように、wの値が0.30未満の場
合には、表14の試料番号422において見られるよう
に、焼結温度が高くなり、耐湿負荷試験において不良が
発生する。On the other hand, sample numbers 113 to 1 in Table 6
17 and 119, Li 2 O— (Si w Ti
1-w ) When the O 2 -MO-based oxide is out of the above composition range, as shown in the sample numbers 413 to 417 and 419 of Table 14, the sintering is insufficient or the sintering does not provide moisture resistance. Failure occurs in the load test. Further, as shown in the sample numbers 119 and 121 in Table 6, when the composition on the points A to F and w = 1.0, as seen in the sample numbers 419 and 421 in Table 14, the sintering temperature was lowered. High, and failure occurs in the moisture resistance load test. Table 6
In the case where the value of w is less than 0.30 as in Sample No. 122, the sintering temperature increases as shown in Sample No. 422 in Table 14, and a failure occurs in the moisture resistance load test.
【0078】(実施例6)誘電体粉末として、表1のA
のチタン酸バリウムを用いて、BaO1.010 ・TiO2
+0.025Eu2 O3 +0.01BaZrO3 +0.
05MnO(モル比)の原料を準備し、これに、120
0〜1500℃で加熱して作製した表8に示すのと同様
の平均粒径1μm以下のSiO2 −TiO2 −XO系の
酸化物を第2の副成分として添加して、その他は実施例
1と同様にして積層セラミックコンデンサを作製した。
作製した積層コンデンサの外形寸法などは、実施例1と
同様である。そして、実施例1と同様にして電気的特性
を測定した。その結果を表15に示す。なお、表15に
おいて、試料番号501〜519は、それぞれ、表8の
試料番号201〜219に対応しており、たとえば、表
15の試料番号501は、表8の試料番号201の副成
分を添加して得たものである。(Example 6) As a dielectric powder, A in Table 1 was used.
BaO 1.010 · TiO 2 using barium titanate
+ 0.025Eu 2 O 3 + 0.01BaZrO 3 +0.
A raw material of 05MnO (molar ratio) was prepared, and
A SiO 2 —TiO 2 —XO-based oxide having an average particle diameter of 1 μm or less similar to that shown in Table 8 produced by heating at 0 to 1500 ° C. was added as a second subcomponent, and the other examples were used. In the same manner as in Example 1, a multilayer ceramic capacitor was produced.
The external dimensions of the manufactured multilayer capacitor are the same as those of the first embodiment. Then, the electrical characteristics were measured in the same manner as in Example 1. Table 15 shows the results. In Table 15, sample numbers 501 to 519 correspond to sample numbers 201 to 219 in Table 8, respectively. For example, sample number 501 in Table 15 is obtained by adding the subcomponent of sample number 201 in Table 8 It was obtained.
【0079】[0079]
【表15】 [Table 15]
【0080】図5に示すSiO2 −TiO2 −XO系の
酸化物の三元組成図のA(x=85、y=1、z=1
4)、B(x=35、y=51、z=14)、C(x=
30、y=20、z=50)、D(x=39、y=1、
z=60)(ただし、x、y、zはモル%)で示される
各点を結ぶ直線で囲まれた領域の内部または線上にある
表8の試料番号201〜212の酸化物を副成分として
添加したものは、表15の試料番号501〜512にお
いて見られるように、5kV/mmのDC電圧印加時の
容量低下率が−40%以内と小さく、誘電損失は1.0
%以下で温度に対する静電容量の変化率が、−25℃〜
85℃の範囲でJIS規格に規定するB特性規格を満足
し、−55℃〜125℃の範囲内でEIA規格に規定す
るX7R特性規格を満足するという好ましい結果が得ら
れる。A (x = 85, y = 1, z = 1) in the ternary composition diagram of the SiO 2 —TiO 2 —XO-based oxide shown in FIG.
4), B (x = 35, y = 51, z = 14), C (x =
30, y = 20, z = 50), D (x = 39, y = 1,
z = 60) (where x, y, and z are mol%) oxides of Sample Nos. 201 to 212 in Table 8 inside or on the line surrounded by a straight line connecting the points as subcomponents As shown in Sample Nos. 501 to 512 in Table 15, the added one has a small capacity reduction rate of -40% or less when a 5 kV / mm DC voltage is applied, and a dielectric loss of 1.0%.
% Or less, the rate of change of the capacitance with respect to temperature is -25 ° C.
A preferable result is obtained in which the B characteristic standard defined in the JIS standard is satisfied in the range of 85 ° C, and the X7R characteristic standard defined in the EIA standard is satisfied in the range of -55 ° C to 125 ° C.
【0081】しかも、10kV/mmの高い電界強度で
使用した時に、25℃、150℃での絶縁抵抗をCR積
で表したときに、それぞれ5000Ω・F以上、200
Ω・F以上と高い値を示す。また、絶縁破壊電圧がAC
電圧で12kV/mm以上、DC電圧で14kV/mm
以上と大きい値を示す。さらに、150℃、DC25k
V/mmの加速試験において平均寿命時間が800時間
以上と長く、耐湿負荷試験で不良発生が認められず、焼
成温度も1300℃以下と比較的低温で焼成可能であ
る。Further, when used at a high electric field strength of 10 kV / mm, when the insulation resistance at 25 ° C. and 150 ° C. is expressed by CR product, it is 5000 Ω · F or more and 200
It shows a high value of Ω · F or more. Also, if the breakdown voltage is AC
12 kV / mm or more in voltage, 14 kV / mm in DC voltage
The above shows a large value. Furthermore, 150 ° C, DC 25k
The average life time is as long as 800 hours or more in the V / mm acceleration test, no failure is observed in the moisture resistance load test, and the firing can be performed at a relatively low temperature of 1300 ° C. or less.
【0082】これに対して、表8の試料番号213〜2
19のように、SiO2 −TiO2−XO系の酸化物が
上記組成範囲外の場合は、表15の試料番号513〜5
19において見られるように、焼結不足となるか、焼結
しても耐湿負荷試験において不良が発生する。また、表
8の試料番号211および212のように、SiO2 −
TiO2 −XO系の酸化物に、Al2 O3 および/また
はZrO2 を含有させることで、表15の試料番号51
1および512のように、10kV/mmの電界強度下
における25℃、150℃の絶縁抵抗が5400Ω・
F、330Ω・F以上の積層コンデンサが得られるが、
また、表8の試料番号217および218のように、A
l 2 O3 添加量として15重量部およびZrO2 添加量
として5重量部を超えると、表15の試料番号517お
よび518のように、焼結性が極端に低下する。On the other hand, sample numbers 213 to 2 in Table 8
As in 19, SiOTwo-TiOTwo-XO-based oxide
When the composition is outside the above composition range, sample numbers 513 to 5 in Table 15 are used.
As can be seen in FIG.
Even in the humidity resistance load test, a defect occurs. Also, the table
8, sample numbers 211 and 212Two−
TiOTwo-XO-based oxide, AlTwoOThreeAnd / or
Is ZrOTwo, The sample number 51 in Table 15
As in 1 and 512, under an electric field strength of 10 kV / mm
Insulation resistance at 25 ° C and 150 ° C is 5400Ω
F, a multilayer capacitor of 330Ω · F or more can be obtained.
Further, as shown in sample numbers 217 and 218 of Table 8, A
l TwoOThree15 parts by weight and ZrOTwoAmount added
If it exceeds 5 parts by weight, the sample numbers 517 and
And 518, the sinterability is extremely reduced.
【0083】以上、各実施例では、チタン酸バリウムと
して、蓚酸法により作製した粉末を用いたが、これに限
定するものではなく、たとえばアルコキシド法あるいは
水熱合成法により作製されたチタン酸バリウム粉末を用
いてもよい。これらの粉末を用いることにより、積層セ
ラミックコンデンサの特性が、前述の各実施例で示した
特性よりも向上することもあり得る。As described above, in each of the examples, the barium titanate used was a powder produced by the oxalic acid method. However, the present invention is not limited to this. For example, barium titanate powder produced by the alkoxide method or the hydrothermal synthesis method is used. May be used. By using these powders, the characteristics of the multilayer ceramic capacitor may be improved more than the characteristics shown in the above-described embodiments.
【0084】また、出発原料として、Eu2 O3 、Gd
2 O3 、Tb2 O3 、Dy2 O3 、Ho2 O3 、Er2
O3 、Tm2 O3 、Yb2 O3 、MgO、MnO、Ba
ZrO3 などの酸化物粉末を用いたが、本発明はこれに
限定されるものではなく、この発明の範囲の誘電体セラ
ミック層を構成するように配合すれば、アルコキシド、
有機金属などの溶液を用いても、得られる特性を何ら損
なうものではない。As starting materials, Eu 2 O 3 , Gd
2 O 3 , Tb 2 O 3 , Dy 2 O 3 , Ho 2 O 3 , Er 2
O 3 , Tm 2 O 3 , Yb 2 O 3 , MgO, MnO, Ba
Although an oxide powder such as ZrO 3 was used, the present invention is not limited to this. If it is blended to constitute a dielectric ceramic layer within the scope of the present invention, alkoxide,
The use of a solution such as an organic metal does not impair the properties obtained.
【0085】[0085]
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
係る誘電体磁器組成物によれば、還元雰囲気中で焼成し
ても還元されず、半導体化せず、しかも1300℃以下
と比較的低温で焼結可能である。したがって、この誘電
体磁器組成物を誘電体セラミック層として用いて、積層
セラミックコンデンサを構成するようにすれば、電極材
料として卑金属であるニッケルまたはニッケル合金を用
いることができるので、積層セラミックコンデンサのコ
ストダウンを図ることができる。As is clear from the above description, according to the dielectric ceramic composition of the present invention, it is not reduced even when fired in a reducing atmosphere, does not turn into a semiconductor, and has a temperature lower than 1300 ° C. It can be sintered at very low temperature. Therefore, if this dielectric ceramic composition is used as a dielectric ceramic layer to constitute a multilayer ceramic capacitor, nickel or a nickel alloy, which is a base metal, can be used as an electrode material. Down can be planned.
【0086】また、この誘電体磁器組成物を用いた積層
セラミックコンデンサは、従来の内部電極にニッケルま
たはニッケル合金を用いた積層セラミックコンデンサで
は絶縁抵抗が低く、信頼性が確保できなかった10kV
/mmの高い電界強度で使用した場合に、絶縁抵抗が静
電容量との積(CR積)で表したときに、室温および1
50℃での絶縁抵抗がそれぞれ5000Ω・F、190
〜200Ω・F以上と高く、絶縁抵抗の電圧依存性が小
さく、5kV/mmのDC電圧印加時の容量低下率の絶
対値が40〜45%以下と小さく、絶縁耐力が高く、静
電容量の温度特性がJIS規格で規定するB特性および
EIA規格で規定するX7R特性を満足し、150℃、
DC25kV/mm印加の高温負荷、耐湿負荷などの耐
候性能に優れた積層セラミックコンデンサを得ることが
できる。Further, the multilayer ceramic capacitor using the dielectric ceramic composition has a low insulation resistance in a conventional multilayer ceramic capacitor using nickel or a nickel alloy for the internal electrode, and has a reliability of 10 kV.
/ Mm, when the insulation resistance is expressed as the product of the capacitance and the capacitance (CR product), the room temperature and 1
Insulation resistance at 50 ° C is 5000Ω · F and 190Ω respectively.
200200 Ω · F or more, the voltage dependence of insulation resistance is small, the absolute value of the capacity reduction rate when applying a DC voltage of 5 kV / mm is as small as 40 to 45% or less, the dielectric strength is high, and the capacitance The temperature characteristic satisfies the B characteristic defined by the JIS standard and the X7R characteristic defined by the EIA standard.
It is possible to obtain a multilayer ceramic capacitor excellent in weather resistance such as high temperature load of 25 kV / mm applied DC and humidity resistance load.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図1】本発明の一実施形態による積層セラミックコン
デンサを示す断面図である。FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a multilayer ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の積層セラミックコンデンサのうち内部電
極を有する誘電体セラミック層部分を示す平面図であ
る。FIG. 2 is a plan view showing a dielectric ceramic layer portion having internal electrodes in the multilayer ceramic capacitor of FIG. 1;
【図3】図1の積層セラミックコンデンサのうちセラミ
ック積層体部分を示す分解斜視図である。FIG. 3 is an exploded perspective view showing a ceramic laminate portion of the multilayer ceramic capacitor of FIG. 1;
【図4】Li2 O−(Siw Ti1-w )O2 −MO系の
酸化物の三元組成図である。FIG. 4 is a ternary composition diagram of a Li 2 O— (Si w Ti 1-w ) O 2 —MO-based oxide.
【図5】SiO2 −TiO2 −XO系の酸化物の三元組
成図である。FIG. 5 is a ternary composition diagram of an SiO 2 —TiO 2 —XO-based oxide.
1 積層セラミックコンデンサ 2a,2b 誘電体セラミック層 3 セラミック積層体 4 内部電極 5 外部電極 6,7 めっき層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Multilayer ceramic capacitor 2a, 2b Dielectric ceramic layer 3 Ceramic laminated body 4 Internal electrode 5 External electrode 6, 7 Plating layer
Claims (8)
重量%以下のチタン酸バリウムと、酸化ユーロピウム、
酸化ガドリニウム、酸化テルビウム、酸化ジスプロシウ
ム、酸化ホルミウム、酸化エルビウム、酸化ツリウムお
よび酸化イッテルビウムの中から選ばれる少なくとも1
種と、ジルコン酸バリウムと、酸化マンガンとからな
り、かつ、次の組成式、 {BaO}m TiO2 +αR2 O3 +βBaZrO3 +
γMnO (ただし、R2 O3 はEu2 O3 、Gd2 O3 、Tb2
O3 、Dy2 O3 、Ho 2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O
3 およびYb2 O3 の中から選ばれる少なくとも1種で
あり、α、βおよびγはモル比を表し、 0.001≦α≦0.06 0.005≦β≦0.06 0.001<γ≦0.13 1.000<m≦1.035 の範囲内にある。)で表される主成分を含有するととも
に、第1の副成分をLi2 O−(Si,Ti)O2 −M
O系(ただし、MOはAl2O3 およびZrO2 の少な
くとも一方である。)の酸化物とし、第2の副成分をS
iO2 −TiO2 −XO系(ただし、XOはBaO、C
aO、SrO、MgO、ZnOおよびMnOの中から選
ばれる少なくとも1種である。)の酸化物としたとき
に、該第1または第2の副成分のどちらか一方を、前記
主成分100重量部に対して、0.2〜3.0重量部含
有していることを特徴とする、誘電体磁器組成物。1. An alkali metal oxide content of 0.02
Weight percent barium titanate and europium oxide,
Gadolinium oxide, terbium oxide, dysprosium oxide
, Holmium oxide, erbium oxide, thulium oxide and
And at least one selected from ytterbium oxide
Species, barium zirconate and manganese oxide.
And the following composition formula: {BaO}mTiOTwo+ ΑRTwoOThree+ ΒBaZrOThree+
γMnO (where RTwoOThreeIs EuTwoOThree, GdTwoOThree, TbTwo
OThree, DyTwoOThree, Ho TwoOThree, ErTwoOThree, TmTwoO
ThreeAnd YbTwoOThreeAt least one selected from
And α, β and γ represent molar ratios, wherein 0.001 ≦ α ≦ 0.06 0.005 ≦ β ≦ 0.06 0.001 <γ ≦ 0.13 1.000 <m ≦ 1.035 In range. )
And the first subcomponent is LiTwoO- (Si, Ti) OTwo-M
O system (However, MO is AlTwoOThreeAnd ZrOTwoFew
On the other hand. ) And the second subcomponent is S
iOTwo-TiOTwo-XO type (XO is BaO, C
Select from aO, SrO, MgO, ZnO and MnO
At least one of them. ) And oxide
Wherein one of the first and second subcomponents is
0.2 to 3.0 parts by weight per 100 parts by weight of the main component
A dielectric porcelain composition, comprising:
重量%以下のチタン酸バリウムと、酸化ユーロピウム、
酸化ガドリニウム、酸化テルビウム、酸化ジスプロシウ
ム、酸化ホルミウム、酸化エルビウム、酸化ツリウムお
よび酸化イッテルビウムの中から選ばれる少なくとも1
種と、ジルコン酸バリウムと、酸化マグネシウムと、酸
化マンガンとからなり、かつ、次の組成式、 {BaO}m TiO2 +αR2 O3 +βBaZrO3 +
γMgO+gMnO (ただし、R2 O3 はEu2 O3 、Gd2 O3 、Tb2
O3 、Dy2 O3 、Ho 2 O3 、Er2 O3 、Tm2 O
3 およびYb2 O3 の中から選ばれる少なくとも1種で
あり、α、β、γおよびgはモル比を表し、 0.001≦α≦0.06 0.001≦β≦0.06 0.001<γ≦0.12 0.001<g≦0.12 γ+g≦0.13 1.000<m≦1.035 の範囲内にある。)で表される主成分を含有するととも
に、第1の副成分をLi2 O−(Si,Ti)O2 −M
O系(ただし、MOはAl2O3 およびZrO2 の少な
くとも一方である。)の酸化物とし、第2の副成分をS
iO2 −TiO2 −XO系(ただし、XOはBaO、C
aO、SrO、MgO、ZnOおよびMnOの中から選
ばれる少なくとも1種である。)の酸化物としたとき
に、該第1または第2の副成分のどちらか一方を、前記
主成分100重量部に対して、0.2〜3.0重量部含
有していることを特徴とする、誘電体磁器組成物。2. An alkali metal oxide content of 0.02
Weight percent barium titanate and europium oxide,
Gadolinium oxide, terbium oxide, dysprosium oxide
, Holmium oxide, erbium oxide, thulium oxide and
And at least one selected from ytterbium oxide
Seed, barium zirconate, magnesium oxide, and acid
Consisting of manganese oxide and having the following composition formula: {BaO}mTiOTwo+ ΑRTwoOThree+ ΒBaZrOThree+
γMgO + gMnO (where RTwoOThreeIs EuTwoOThree, GdTwoOThree, TbTwo
OThree, DyTwoOThree, Ho TwoOThree, ErTwoOThree, TmTwoO
ThreeAnd YbTwoOThreeAt least one selected from
And α, β, γ and g represent molar ratios: 0.001 ≦ α ≦ 0.06 0.001 ≦ β ≦ 0.06 0.001 <γ ≦ 0.12 0.001 <g ≦ 0. 12 γ + g ≦ 0.13 1.000 <m ≦ 1.035 )
And the first subcomponent is LiTwoO- (Si, Ti) OTwo-M
O system (However, MO is AlTwoOThreeAnd ZrOTwoFew
On the other hand. ) And the second subcomponent is S
iOTwo-TiOTwo-XO type (XO is BaO, C
Select from aO, SrO, MgO, ZnO and MnO
At least one of them. ) And oxide
Wherein one of the first and second subcomponents is
0.2 to 3.0 parts by weight per 100 parts by weight of the main component
A dielectric porcelain composition, comprising:
(Siw Ti1-w )O 2 −zMO(ただし、x、yおよ
びzはモル%であり、wは0.30≦w≦1.0の範囲
内にある。)で表したとき、それぞれの成分を頂点とす
る三元組成図の A(x=20、y=80、z=0) B(x=10、y=80、z=10) C(x=10、y=70、z=20) D(x=35、y=45、z=20) E(x=45、y=45、z=10) F(x=45、y=55、z=0) (ただし、直線A−F上の組成の場合は、wは0.3≦
w<1.0の範囲内)で示される各点を結ぶ直線で囲ま
れた領域の内部または線上にあることを特徴とする、請
求項1または2に記載の誘電体磁器組成物。3. The method according to claim 1, wherein the first subcomponent is xLi.TwoO-y
(SiwTi1-w) O Two-ZMO (however, x, y and
And z are mol%, w is in the range of 0.30 ≦ w ≦ 1.0
Is within. ), Each component is defined as a vertex
A (x = 20, y = 80, z = 0) B (x = 10, y = 80, z = 10) C (x = 10, y = 70, z = 20) D ( x = 35, y = 45, z = 20) E (x = 45, y = 45, z = 10) F (x = 45, y = 55, z = 0) (However, the composition on the straight line AF) In the case of, w is 0.3 ≦
(within w <1.0) surrounded by a straight line connecting the points
Inside or on the line of the
3. The dielectric porcelain composition according to claim 1 or 2.
iO2 −zXO(ただし、x、yおよびzはモル%であ
る。)で表したとき、それぞれの成分を頂点とする三元
組成図の A(x=85、y=1、z=14) B(x=35、y=51、z=14) C(x=30、y=20、z=50) D(x=39、y=1、z=60) で示される各点を結ぶ直線で囲まれた領域の内部または
線上にあることを特徴とする、請求項1または2に記載
の誘電体磁器組成物。4. The method according to claim 1, wherein the second subcomponent is xSiO 2 -yT
When represented by iO 2 -zXO (where x, y and z are mol%), A (x = 85, y = 1, z = 14) of a ternary composition diagram having each component at the top B (x = 35, y = 51, z = 14) C (x = 30, y = 20, z = 50) D (x = 39, y = 1, z = 60) A straight line connecting the points indicated by 3. The dielectric porcelain composition according to claim 1, wherein the dielectric porcelain composition is located inside or on a line surrounded by.
−TiO2 −XO系の酸化物100重量部に対してAl
2 O3 およびZrO2 の少なくとも一方を合計で15重
量部以下(ただし、ZrO2 は5重量部以下)含有する
ことを特徴とする、請求項4に記載の誘電体磁器組成
物。5. The method according to claim 1, wherein the second sub-component comprises the SiO 2
-TiO 2 -XO series Al on the oxide 100 parts by weight of
2 O 3 and ZrO 2 at least one of a total of 15 parts by weight or less (however, less ZrO 2 is 5 parts by weight), characterized in that it contains a dielectric ceramic composition according to claim 4.
セラミック層間に形成された内部電極と、該内部電極に
電気的に接続された外部電極とを備える、積層セラミッ
クコンデンサにおいて、前記誘電体セラミック層が請求
項1ないし5のいずれかに記載の誘電体磁器組成物で構
成され、前記内部電極がニッケルまたはニッケル合金で
構成されていることを特徴とする、積層セラミックコン
デンサ。6. A multilayer ceramic capacitor, comprising: a plurality of dielectric ceramic layers; an internal electrode formed between the dielectric ceramic layers; and an external electrode electrically connected to the internal electrode. A multilayer ceramic capacitor, wherein a ceramic layer is made of the dielectric ceramic composition according to any one of claims 1 to 5, and the internal electrode is made of nickel or a nickel alloy.
はガラスフリットを添加した導電性金属粉末の焼結層を
備えることを特徴とする、請求項6に記載の積層セラミ
ックコンデンサ。7. The multilayer ceramic capacitor according to claim 6, wherein the external electrode includes a sintered layer of a conductive metal powder or a conductive metal powder to which glass frit is added.
はガラスフリットを添加した導電性金属粉末の焼結層か
らなる第1層と、その上のめっき層からなる第2層とを
備えることを特徴とする、請求項6または7に記載の積
層セラミックコンデンサ。8. The external electrode includes a first layer made of a sintered layer of a conductive metal powder or a conductive metal powder to which glass frit is added, and a second layer made of a plating layer thereon. The multilayer ceramic capacitor according to claim 6, wherein:
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