JPH1152000A - Inspection device and inspection method for printed wiring board - Google Patents
Inspection device and inspection method for printed wiring boardInfo
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- JPH1152000A JPH1152000A JP9220787A JP22078797A JPH1152000A JP H1152000 A JPH1152000 A JP H1152000A JP 9220787 A JP9220787 A JP 9220787A JP 22078797 A JP22078797 A JP 22078797A JP H1152000 A JPH1152000 A JP H1152000A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、プリント配線基
板の検査装置及び検査方法に関する。詳しくは、検査プ
ローブを保持する検査ヘッドを揺動可能に保持するとと
もに、検査時にこの検査ヘッド及び検査プローブを所定
の検査位置に精度高く導いて、検査作業を精度高くかつ
迅速に行うことのできるプリント配線基板の検査装置及
び検査方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus and method for inspecting a printed wiring board. More specifically, the inspection head that holds the inspection probe is swingably held, and the inspection head and the inspection probe are guided to a predetermined inspection position with high accuracy at the time of inspection, so that the inspection operation can be performed with high accuracy and speed. The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method for a printed wiring board.
【0002】[0002]
【従来の技術】種々の電子機器に採用されているプリン
ト配線基板は、絶縁基板の表面あるいは内部に回路パタ
ーンを形成して構成されており、表面に設けた接続端子
に半導体等の電子部品を装着して電子装置を構成する。2. Description of the Related Art A printed wiring board employed in various electronic devices is formed by forming a circuit pattern on or inside an insulating substrate, and electronic components such as semiconductors are connected to connection terminals provided on the surface. The electronic device is configured by mounting.
【0003】近年、製品の小型化の進展にともなって、
電子部品の高密度実装技術が製品開発に大きな影響を及
ぼすようになってきた。すなわち、ベアチップを多層配
線基板上に直接接続したMCM(マルチ・チップ・モジ
ュール)等の採用によって、プリント配線基板に装着さ
れる電子部品の実装密度が高くなるとともに、各電子部
品の接続端子間隔が小さくなり、それに応じて基板上に
形成される導電パターンの間隔も小さくなっている。In recent years, with the progress of miniaturization of products,
2. Description of the Related Art High-density packaging technology for electronic components has had a great influence on product development. That is, by employing an MCM (multi-chip module) or the like in which bare chips are directly connected on a multilayer wiring board, the mounting density of electronic components mounted on the printed wiring board is increased, and the interval between connection terminals of each electronic component is reduced. The distance between the conductive patterns formed on the substrate has been reduced accordingly.
【0004】このようなプリント配線基板における導電
パターン等の接続不良を検査するために、たとえば、特
開平4─95881号公報に記載されているような検査
装置が用いられる。この検査装置は、プリント配線基板
の接続端子やスルーホールにスプリング付の検査プロー
ブを接触させて、電気的に導電パターンの接続状態を検
出するように構成されており、検査接点に対応する多数
の検査プローブを精度高く配列した検査ヘッドを備えて
構成されている。上記検査ヘッドは、スタンド等に上下
方向往復移動可能に保持されており、この検査ヘッドを
プリント配線基板に対して近接させることにより、検査
プローブをプリント配線基板に接触させて検査が行われ
る。[0004] In order to inspect a connection failure of a conductive pattern or the like on such a printed wiring board, for example, an inspection apparatus as described in JP-A-4-95881 is used. This inspection device is configured so that the inspection probe with a spring is brought into contact with the connection terminal or through hole of the printed wiring board to electrically detect the connection state of the conductive pattern. It is provided with an inspection head in which inspection probes are arranged with high accuracy. The inspection head is held on a stand or the like so as to be able to reciprocate in the vertical direction. By bringing the inspection head close to the printed wiring board, an inspection probe is brought into contact with the printed wiring board to perform an inspection.
【0005】上記のようなプリント配線基板の検査装置
においては、検査プローブが基板上の検査接点に正確に
接触しなければならない。このため、上記公報等に記載
されている従来の検査装置においては、検査対象である
プリント配線基板の位置決め精度及び検査ヘッドの位置
決め精度を高めるための種々の手法が採用されている。In the above-described inspection apparatus for a printed wiring board, an inspection probe must accurately contact an inspection contact on the board. For this reason, in the conventional inspection apparatus described in the above-mentioned publications, various methods for improving the positioning accuracy of the printed wiring board to be inspected and the positioning accuracy of the inspection head are employed.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】上記従来の検査装置に
おいては、検査ヘッドの位置決め精度を確保するために
精度の高い案内装置を採用するとともに、検査テーブル
上にプリント配線基板を精度高く位置決めし、検査ヘッ
ドを検査位置と退避位置との間で上記案内装置の案内面
に沿って摺動させることにより、プリント配線基板の検
査を行うように構成している。In the above-mentioned conventional inspection apparatus, a high-precision guide device is employed to secure the positioning accuracy of the inspection head, and the printed wiring board is accurately positioned on the inspection table. The inspection of the printed wiring board is performed by sliding the inspection head along the guide surface of the guide device between the inspection position and the retracted position.
【0007】電子部品の実装密度が高くなって、プリン
ト配線基板の導電パターンの間隔が小さくなると、上記
検査ヘッドにより高い位置決め精度が要求され、高価な
案内装置を採用しなければならなくなる。As the mounting density of electronic components increases and the spacing between conductive patterns on a printed wiring board decreases, higher positioning accuracy is required by the inspection head, and an expensive guide device must be employed.
【0008】また、一つの検査装置を用いて異なる導電
パターンを形成した種々のプリント配線基板の検査を行
わなければならないため、上記検査ヘッドを着脱可能に
構成する必要がある。このため、検査ヘッドの着脱機構
にも高い精度が要求される。Further, since it is necessary to inspect various printed wiring boards on which different conductive patterns are formed by using one inspection apparatus, it is necessary to make the inspection head detachable. For this reason, a high accuracy is also required for the inspection head attaching / detaching mechanism.
【0009】さらに、プリント配線基板を検査テーブル
上に精度高く位置決めしなければならない。このため、
プリント配線基板の位置決め装置にも高い精度が要求さ
れることになる。したがって、実装密度の高いプリント
配線基板の検査を行うための検査装置は、極めて高価な
ものとなってしまう。Furthermore, the printed wiring board must be positioned on the inspection table with high accuracy. For this reason,
High precision is also required for a printed wiring board positioning device. Therefore, an inspection apparatus for inspecting a printed wiring board having a high mounting density is extremely expensive.
【0010】また、多品種少量生産に対応するとともに
製造効率を高めるため、複数の電子装置に対応する導電
パターンを一つの基板に形成した、いわゆる多数個取り
のプリント配線基板が制作されることが多くなった。こ
のような多数個取り基板には、数個から数十個の電子装
置に対応する導電パターンが形成されており、一度に検
査を行うには、検査ヘッドにこれら導電パターンに対応
する極めて多数の接触プローブを植設しなければならな
い。このため、多数の接触プローブを高い精度で配列し
なければならなくなり、さらに、検査装置の製造コスト
が増加する。Further, in order to cope with high-mix low-volume production and increase production efficiency, a so-called multi-cavity printed wiring board, in which conductive patterns corresponding to a plurality of electronic devices are formed on one substrate, is sometimes manufactured. More. On such a multi-cavity substrate, conductive patterns corresponding to several to several tens of electronic devices are formed, and in order to perform inspection at a time, an extremely large number of conductive patterns corresponding to these conductive patterns are provided to an inspection head. Contact probes must be implanted. For this reason, a large number of contact probes must be arranged with high accuracy, and the manufacturing cost of the inspection apparatus increases.
【0011】本願発明は、上述の事情のもとで考え出さ
れたものであって、上記従来の問題を解決し、検査ヘッ
ド及び検査プローブをを所定の検査位置に精度高く導い
て確実、迅速な検査を行えるとともに、多数個取り基板
の検査を極めて簡単にかつ低コストでを行うことができ
るプリント配線基板の検査装置及び検査方法を提供する
ことをその課題とする。The present invention has been conceived in view of the above-mentioned circumstances, and solves the above-mentioned conventional problems. The present invention can accurately and quickly guide an inspection head and an inspection probe to a predetermined inspection position. It is an object of the present invention to provide a printed wiring board inspection apparatus and an inspection method capable of performing a simple inspection and inspecting a multi-cavity board very easily and at low cost.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本願発明では、次の技術的手段を講じている。Means for Solving the Problems To solve the above problems, the present invention takes the following technical means.
【0013】本願の請求項1に記載した発明は、所定の
検査位置にプリント配線基板を位置決め保持できる検査
テーブルと、複数の検査プローブを上記プリント配線基
板に対して接触離間可能に保持する検査ヘッドとを備え
るプリント配線基板の検査装置であって、上記検査ヘッ
ドを検査テーブルに対して相対揺動可能に保持する検査
ヘッド保持装置と、上記検査ヘッド及び/又は上記検査
プローブを所定の検査位置に誘導案内する誘導案内手段
を設けたものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided an inspection table for positioning and holding a printed wiring board at a predetermined inspection position, and an inspection head for holding a plurality of inspection probes so as to be able to contact and separate from the printed wiring board. An inspection device for a printed wiring board, comprising: an inspection head holding device that holds the inspection head so as to be swingable relative to an inspection table; and the inspection head and / or the inspection probe at a predetermined inspection position. It is provided with guidance means for performing guidance.
【0014】本願発明は、上記検査ヘッドを検査テーブ
ルに対して相対揺動可能に保持する一方、検査ヘッド及
び/又は検査プローブが検査位置まで移動する間に所定
の検査位置に精度高く位置決めできるように構成するこ
とによって、検査ヘッドの取付け構造や案内装置に高い
精度を要求することなく、検査装置を構成しようとする
ものである。According to the present invention, the inspection head is held so as to be swingable relative to the inspection table, and can be accurately positioned at a predetermined inspection position while the inspection head and / or the inspection probe move to the inspection position. With this configuration, the inspection device is intended to be configured without requiring a high accuracy for the mounting structure of the inspection head and the guide device.
【0015】検査ヘッド保持装置は、検査ヘッドを揺動
可能に保持できれば、種々の態様のものを採用すること
ができる。たとえば、検査ヘッドをバネ等の弾性材料を
介して保持したり、ボールジョイント装置を介して保持
することができる。また、所定の範囲で揺動可能な雄雌
嵌合構造を利用して構成することもできる。Various types of inspection head holding devices can be employed as long as the inspection head can be held swingably. For example, the inspection head can be held via an elastic material such as a spring, or can be held via a ball joint device. Further, it is also possible to use a male-female fitting structure that can swing in a predetermined range.
【0016】揺動方向は特に限定されることはなく、検
査テーブルに対して並行に対向する水平面内で揺動可能
に保持し、あるいは、すべての方向に対して揺動可能に
保持することもできる。また、検査テーブルに対して平
行な軸の回りに回転可能に保持することもできる。The swing direction is not particularly limited, and the swing table may be held so as to be able to swing in a horizontal plane facing the inspection table in parallel, or may be held so as to be able to swing in all directions. it can. Further, it can be held so as to be rotatable around an axis parallel to the inspection table.
【0017】一方、揺動範囲も特に限定されることはな
く、検査ヘッドの取付け精度、プリント配線基板の検査
を行う際に発生する誤差等を吸収できる範囲でよい。ま
た、検査対象となるプリント配線基板の導電パターン、
検査位置に誘導案内する誘導案内手段の機能等に応じて
設定ればよい。すなわち、誘導案内手段によって、検査
ヘッド及び検査プローブを所定の検査位置において、最
終的に必要な精度で位置決めできればよい。On the other hand, the swing range is not particularly limited, and may be any range that can absorb the mounting accuracy of the inspection head, an error generated when inspecting the printed wiring board, and the like. In addition, the conductive pattern of the printed wiring board to be inspected,
What is necessary is just to set according to the function etc. of the guidance guide means which guides to an inspection position. In other words, it is only necessary that the guiding head can position the inspection head and the inspection probe at a predetermined inspection position with the finally required accuracy.
【0018】さらに、上記検査ヘッド保持装置に、検査
を行っていないときに所定の待機位置に復帰させて保持
できるセンタリング機能を付加するのが望ましい。たと
えば、バネ等の弾性手段によって、検査後に所定の待機
位置に復帰するように構成するとよい。Further, it is desirable to add a centering function to the inspection head holding device, which can return to a predetermined standby position and hold the inspection head when the inspection is not performed. For example, it may be configured to return to a predetermined standby position after the inspection by an elastic means such as a spring.
【0019】本願発明に係る誘導案内手段は、検査ヘッ
ド、検査プローブ、あるいはこれら双方に作用して、こ
れらを所定の検査位置に位置決めできるように構成され
る。The guiding and guiding means according to the present invention is configured so as to act on the inspection head, the inspection probe, or both, and to position them at a predetermined inspection position.
【0020】上記誘導案内手段として、たとえば、請求
項2から請求項4に記載した発明に係るものを採用でき
る。As the guide means, for example, those according to the invention described in claims 2 to 4 can be employed.
【0021】本願の請求項2に記載した発明は、誘導案
内手段が、上記プリント配線基板を一体的に貼着保持す
る基板保持領域と、上記基板保持領域の周囲に配置され
た基板位置決め領域とを備えるプレート状検査治具を含
んで構成されており、上記基板位置決め領域に、上記検
査テーブルに設けた位置決め手段と共働して、プリント
配線基板を所定の検査位置に位置決めする基板位置決め
手段を設けるとともに、上記基板保持領域に、各検査プ
ローブをプリント配線基板の検査接点に誘導案内するプ
ローブ案内孔を設たものである。According to the invention described in claim 2 of the present application, the guide means includes a board holding area for integrally attaching and holding the printed wiring board, and a board positioning area arranged around the board holding area. And a plate positioning jig for positioning the printed wiring board at a predetermined inspection position in the substrate positioning area in cooperation with the positioning means provided on the inspection table. In addition, a probe guide hole for guiding each inspection probe to an inspection contact of the printed wiring board is provided in the substrate holding area.
【0022】精度の高い検査を行うには、検査ヘッド及
び検査プローブを精度高く位置決めすると同時に、検査
対象であるプリント配線基板を精度高く位置決めしなけ
ればならない。In order to perform a highly accurate inspection, the inspection head and the inspection probe must be accurately positioned, and at the same time, the printed wiring board to be inspected must be accurately positioned.
【0023】本願発明に係るプレート状検査治具は、基
板位置決め領域に設けた基板位置決め手段によってプリ
ント配線基板を検査テーブル上の所定の検査位置に精度
高く位置決めできるとともに、基板保持領域に形成した
プローブ案内孔によって、検査プローブをプリント配線
基板の検査接点に精度高く誘導することができる。According to the plate-shaped inspection jig of the present invention, the printed wiring board can be accurately positioned at a predetermined inspection position on the inspection table by the substrate positioning means provided in the substrate positioning area, and the probe formed in the substrate holding area. The guide holes can guide the test probe to the test contacts of the printed wiring board with high accuracy.
【0024】プレート状検査治具は、ポリカーボネート
等の樹脂製プレートあるいは金属製プレートを利用して
形成できるため、極めて安価に製作できる。Since the plate-shaped inspection jig can be formed by using a resin plate made of polycarbonate or the like or a metal plate, it can be manufactured at extremely low cost.
【0025】上記基板保持領域に一体的に保持されたプ
リント配線基板が、プレート状検査治具とともに検査テ
ーブルに載置され、上記基板位置決め領域に設けた位置
決め手段によってプレート状検査治具と一体的に所定位
置に位置決めされる。The printed wiring board integrally held in the board holding area is placed on an inspection table together with a plate-shaped inspection jig, and is integrated with the plate-shaped inspection jig by positioning means provided in the board positioning area. Is positioned at a predetermined position.
【0026】上記位置決め手段として種々のものを採用
することができる。たとえば、従来から採用されている
位置決めピンを検査テーブル上に設けるとともに、基板
位置決め領域に上記位置決めピンに係合する位置決め孔
を設けて構成することができる。Various types of positioning means can be employed. For example, it is possible to provide a conventionally used positioning pin on an inspection table and to provide a positioning hole for engaging with the positioning pin in a substrate positioning area.
【0027】上記基板位置決め領域を設けることによ
り、検査しようとするプリント配線基板の大きさ、形
状、導電パターン等に左右されることなく、検査を行う
のに最も都合のよい位置に、位置決め孔等の位置決め手
段を設けることができる。しかも、位置決め手段の大き
さ、形状的な制限がほとんどない。このため、プリント
配線基板を、所定の検査位置に精度高く位置決めするこ
とが可能となる。By providing the above-mentioned board positioning area, positioning holes and the like can be placed at the most convenient positions for inspection without being affected by the size, shape, conductive pattern, etc. of the printed wiring board to be inspected. Can be provided. In addition, there are almost no restrictions on the size and shape of the positioning means. For this reason, it is possible to accurately position the printed wiring board at a predetermined inspection position.
【0028】プリント配線基板をプレート状検査治具に
一体的に保持させる手段として種々のものを採用でき
る。たとえば、粘着テープを用いてプリント配線基板を
保持させることができる。Various means can be employed as means for integrally holding the printed wiring board on the plate-shaped inspection jig. For example, a printed wiring board can be held using an adhesive tape.
【0029】さらに、揺動可能に保持された検査ヘッド
に設けた検査プローブを、所定の検査接点に誘導するた
め、基板保持領域にプローブ案内孔を形成する。このプ
ローブ案内孔は、プリント配線基板の検査接点に応じて
基板保持領域に設けられ、各接触プローブを通挿案内で
きる形状寸法に形成される。たとえば、検査プローブを
挿入できる直径の円孔を形成することができる。上記円
孔の寸法精度及び配列精度を確保することにより、検査
プローブを検査接点に精度高く確実に誘導案内すること
ができる。Further, a probe guide hole is formed in the substrate holding area in order to guide the inspection probe provided on the swingably held inspection head to a predetermined inspection contact. The probe guide hole is provided in the substrate holding area in accordance with the inspection contact of the printed wiring board, and is formed to have a shape and a size that allows each contact probe to be inserted and guided. For example, a circular hole having a diameter into which a test probe can be inserted can be formed. By ensuring the dimensional accuracy and the arrangement accuracy of the circular holes, the inspection probe can be accurately guided and guided to the inspection contact with high accuracy.
【0030】しかも、検査プローブの先端は山形形状を
しているため、検査プローブの中心軸と、上記円孔の中
心とが一致していなくとも、円孔の縁部に検査プローブ
の山形先端部が案内されるようにして、所定の検査接点
に接触させられる。このため、検査ヘッドの案内精度が
低くても、検査プローブを確実に検査接点に導くことが
できる。Further, since the tip of the inspection probe has a chevron shape, even if the center axis of the inspection probe does not coincide with the center of the hole, the tip of the chevron of the inspection probe is located at the edge of the hole. Is brought into contact with a predetermined test contact in such a manner as to be guided. For this reason, even if the guide precision of the inspection head is low, the inspection probe can be reliably guided to the inspection contact.
【0031】また、検査プローブが保持される検査ヘッ
ドは、検査ヘッド保持装置によって揺動変位することが
できる。このため、プローブ案内孔によって検査プロー
ブが変位しても検査プローブに不用意な力が作用するの
を防止でき、検査プローブの撓み等を防止して確実な検
査を行うことができる。また、検査プローブを損傷等か
ら保護できるため、検査装置の寿命延長にもつながる。The inspection head holding the inspection probe can be oscillated by the inspection head holding device. For this reason, even if the inspection probe is displaced by the probe guide hole, an inadvertent force can be prevented from acting on the inspection probe, and the inspection can be reliably performed by preventing the inspection probe from bending. Further, since the inspection probe can be protected from damage or the like, the life of the inspection device can be extended.
【0032】したがって、上記検査プローブの配列精度
あるいは検査ヘッドの案内精度が多少低下しても検査を
行うことが可能となり、検査装置に高い精度が要求され
ることがなくなり、検査装置の製造コストを低減させる
ことが可能となる。Therefore, inspection can be performed even if the arrangement accuracy of the inspection probe or the guidance accuracy of the inspection head is slightly reduced, and high accuracy is not required for the inspection device, and the manufacturing cost of the inspection device is reduced. It becomes possible to reduce.
【0033】本願発明に係る検査装置においては、プレ
ート状検査治具と、プリント配線基板とが検査前にあら
かじめ一体的に接合される。上記プリント配線基板とプ
レート状検査治具とは、プリント配線基板上に形成され
た導電パターンとプローブ案内孔とを顕微鏡等を用いて
一致させることにより、迅速にかつ精度高く接合するこ
とができる。また、検査テーブルから離れた場所でこれ
らの接合作業を行うことができるため、プレート状検査
治具を複数用意することにより、多数のプリント配線基
板を連続的に検査することもできる。In the inspection apparatus according to the present invention, the plate-shaped inspection jig and the printed wiring board are integrally joined before the inspection. The printed wiring board and the plate-shaped inspection jig can be quickly and accurately joined by matching the conductive pattern formed on the printed wiring board with the probe guide hole using a microscope or the like. Further, since these joining operations can be performed at a place away from the inspection table, a large number of printed wiring boards can be inspected continuously by preparing a plurality of plate-shaped inspection jigs.
【0034】上記プレート状検査治具は、必要に応じ
て、プリント配線基板の片面又は両面に積層貼着するこ
とができる。なお、プレート状検査治具をプリント配線
基板の一方の面に積層貼着する場合、他方の面に、プロ
ーブ案内孔のみを備える補助プレートを積層貼着させる
こともできる。もちろん、プリント配線基板の両面にプ
レート状検査治具を設けることもできる。The plate-like inspection jig can be laminated and adhered to one side or both sides of a printed wiring board as required. When the plate-like inspection jig is laminated and attached to one surface of the printed wiring board, an auxiliary plate having only a probe guide hole may be laminated and adhered to the other surface. Of course, plate-like inspection jigs can be provided on both sides of the printed wiring board.
【0035】プレート状検査治具及び補助プレートをプ
リント配線基板に積層貼着することにより、基板を取り
扱う場合に、プリント配線基板及び表面の導電パターン
を保護する効果を期待できる。また、基板の表面全域に
導電パターンが形成されていても、導電パターンに手指
が触れることもなくなる。このため、基板の取り扱いが
容易になる。特に、柔軟性のあるフレキシブルプリント
配線基板や損傷しやすいセラミック基板においては高い
効果を期待できる。By laminating and attaching the plate-shaped inspection jig and the auxiliary plate to the printed wiring board, an effect of protecting the printed wiring board and the conductive pattern on the surface can be expected when handling the board. Further, even when the conductive pattern is formed on the entire surface of the substrate, the finger does not touch the conductive pattern. Therefore, handling of the substrate becomes easy. In particular, a high effect can be expected on a flexible printed wiring board having flexibility and a ceramic substrate which is easily damaged.
【0036】本願の請求項3に記載した発明は、誘導案
内手段が、上記検査ヘッドないし上記検査テーブルに設
けられ、上記検査ヘッドが検査テーブルに近接したと
き、上記検査ヘッドを所定の検査位置に誘導する検査ヘ
ッド位置決め誘導装置を含んで構成されるものである。According to the invention described in claim 3 of the present application, the guide means is provided on the inspection head or the inspection table, and when the inspection head approaches the inspection table, the inspection head is moved to a predetermined inspection position. It is configured to include an inspection head positioning guiding device for guiding.
【0037】通常、検査ヘッドは、案内装置に連結され
たヘッドブロックに取付けられ、検査位置と退避位置と
の間で移動可能に保持されている。したがって、プリン
ト配線基板に検査プローブが接触させられる検査位置に
おいて、精度高く位置決めできればよい。Usually, the inspection head is mounted on a head block connected to the guide device, and is movably held between an inspection position and a retracted position. Therefore, it is only necessary that the positioning can be performed with high accuracy at the inspection position where the inspection probe is brought into contact with the printed wiring board.
【0038】本願発明に係る検査ヘッド誘導装置は、検
査ヘッドがプリント配線基板を載置する検査テーブルに
近接する際に、検査ヘッドに作用して、これを所定の検
査位置に精度高く誘導するものである。The inspection head guiding apparatus according to the present invention acts on the inspection head when the inspection head approaches the inspection table on which the printed wiring board is placed, and guides the inspection head to a predetermined inspection position with high accuracy. It is.
【0039】検査ヘッド位置決め誘導装置として種々の
ものを採用することができる。たとえば、請求項4に記
載した発明のように、上記検査ヘッド位置決め誘導装置
が、上記検査ヘッドと上記検査テーブルの一方に設けた
誘導ピンと、上記検査ヘッドと上記検査テーブルの他方
に設けた誘導孔とを備えて構成することができる。上記
誘導ピンが上記誘導孔に係入させられることにより、上
記検査ヘッドが所定の検査位置に位置決めされる。Various types of inspection head positioning / guiding devices can be employed. For example, as in the invention described in claim 4, the inspection head positioning and guiding device includes a guiding pin provided on one of the inspection head and the inspection table, and a guiding hole provided on the other of the inspection head and the inspection table. And can be configured. The test head is positioned at a predetermined test position by engaging the guide pin with the guide hole.
【0040】上記誘導ピンと上記誘導孔の形状は特に限
定されることはなく、係入の完了時点で、上記誘導ピン
及び誘導孔を介して、検査ヘッドを精度高く位置決めで
きればよい。The shapes of the guide pins and the guide holes are not particularly limited, as long as the inspection head can be accurately positioned via the guide pins and the guide holes at the time of completion of the engagement.
【0041】たとえば、入口に向かって広がる円錐状の
凹部を備える誘導孔を形成する一方、誘導ピンの先端部
を山形に形成して、上記凹部の傾斜面を利用して、上記
誘導ピンを上記凹部の中心位置に誘導位置決めすること
もできる。For example, while forming a guide hole having a conical recess extending toward the entrance, the tip of the guide pin is formed in a mountain shape, and the guide pin is formed using the inclined surface of the recess. The guide positioning can also be performed at the center position of the concave portion.
【0042】本願の請求項5に記載した発明は、複数の
電子装置に対応する複数の検査領域を備えるプリント配
線基板の検査を行うプリント配線基板の検査装置であっ
て、上記検査ヘッドが、一つの検査領域に対応する検査
プローブを備える一方、上記基板位置決め手段が、上記
プリント配線基板の各検査領域を、上記検査プローブに
対向する所定の検査位置に順次位置決めして検査を行う
ように構成されているものである。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided an inspection apparatus for a printed wiring board for inspecting a printed wiring board provided with a plurality of inspection areas corresponding to a plurality of electronic devices. While providing the inspection probe corresponding to one inspection area, the substrate positioning means is configured to sequentially perform inspection by sequentially positioning each inspection area of the printed wiring board at a predetermined inspection position facing the inspection probe. Is what it is.
【0043】本願発明は、一つのプリント配線基板に複
数の電子装置に対応した導電パターンを形成した、いわ
ゆる多数個取りのプリント配線基板に対応したものであ
る。The present invention corresponds to a so-called multi-cavity printed wiring board in which conductive patterns corresponding to a plurality of electronic devices are formed on one printed wiring board.
【0044】従来は、複数の導電パターンの全てに対応
する検査プローブを備える検査ヘッドを用いて、上記複
数の電子装置に対応する多数個取り基板の検査を一度に
行っていた。このため、検査ヘッドに極めて多数の検査
プローブを設ける必要があった。この結果、検査ヘッド
や案内装置に高い精度が要求されて検査装置が極めて高
価になり、少量生産される電子装置用のプリント配線基
板に対応することができなかった。Conventionally, an inspection of a multi-cavity substrate corresponding to the plurality of electronic devices has been performed at once by using an inspection head having an inspection probe corresponding to all of the plurality of conductive patterns. For this reason, it was necessary to provide an extremely large number of inspection probes in the inspection head. As a result, high precision is required for the inspection head and the guide device, which makes the inspection device extremely expensive, and cannot be applied to printed wiring boards for electronic devices that are manufactured in small quantities.
【0045】本願発明は、プレート状検査治具を用いる
ことにより、各電子装置に対応する検査領域を検査位置
に順次位置決めすることにより、一つの電子装置に対応
する検査ヘッドを備える検査装置によって、多数個取り
基板を検査できるように構成したものである。According to the present invention, by using a plate-shaped inspection jig, an inspection area corresponding to one electronic device is sequentially positioned at an inspection position by using an inspection device provided with an inspection head corresponding to one electronic device. It is configured so that a multi-piece substrate can be inspected.
【0046】本願発明に係る検査装置においては、プレ
ート状検査治具の位置決め領域に、上記複数の電子装置
に対応する検査領域を検査テーブルの所定の検査位置に
順次位置決めできる位置決め手段が設けられる。すなわ
ち、この位置決め手段によって、プリント配線基板を、
検査テーブル上で複数の位置に位置決めして検査を行う
のである。In the inspection apparatus according to the present invention, positioning means for sequentially positioning the inspection areas corresponding to the plurality of electronic devices at predetermined inspection positions on the inspection table are provided in the positioning area of the plate-shaped inspection jig. That is, by this positioning means, the printed wiring board is
The inspection is performed at a plurality of positions on the inspection table.
【0047】上記プレート状検査治具の位置決め作業
は、作業者が手を用いて直接行うこともできるし、ステ
ッピングモータ等を用いて自動的に行うこともできる。The work of positioning the plate-shaped inspection jig can be performed directly by an operator using a hand or automatically by using a stepping motor or the like.
【0048】上記構成によって、検査装置のコストを大
幅に低減させることができるとともに、検査精度を確保
することが可能となり、多品種少量生産されるプリント
配線基板の検査に対応することも可能となる。With the above configuration, the cost of the inspection apparatus can be significantly reduced, the inspection accuracy can be ensured, and it is possible to cope with the inspection of printed wiring boards that are produced in a large variety and in small quantities. .
【0049】上記多数個取りプリント配線基板を位置決
めする位置決め手段として、たとえば、上記検査テーブ
ルに設けた位置決めピンと、プリント配線基板の上記各
検査領域に対応して上記位置決め領域に設けた複数組の
位置決め孔とを採用することができる。上記位置決めピ
ンを上記位置決め孔に順次係入させることにより、プレ
ート状検査治具を介してプリント配線基板の各検査領域
を所定の検査位置に順次位置決めできる。As positioning means for positioning the multi-cavity printed wiring board, for example, positioning pins provided on the inspection table, and a plurality of sets of positioning pins provided in the positioning area corresponding to the respective inspection areas of the printed wiring board. Holes and holes can be employed. By sequentially engaging the positioning pins with the positioning holes, each inspection area of the printed wiring board can be sequentially positioned at a predetermined inspection position via the plate-shaped inspection jig.
【0050】本願発明に係るプレート状検査治具におい
ては、位置決め孔を形成するための領域に制限がほとん
どないため、複数の検査領域に対応する多数の位置決め
孔を形成しても問題が生じることはない。In the plate-shaped inspection jig according to the present invention, since there is almost no limitation on the area for forming the positioning holes, a problem may occur even if a large number of positioning holes corresponding to a plurality of inspection areas are formed. There is no.
【0051】しかも、検査ヘッド及び検査プローブが、
検査ヘッド位置決め誘導装置及びプレート状検査治具に
よって、検査接点に確実に誘導されるため、繰り返し検
査を行っても、検査精度が低下することはない。In addition, the inspection head and the inspection probe
The inspection head positioning and guiding device and the plate-shaped inspection jig surely guide the inspection contact to the inspection contact point. Therefore, even if the inspection is repeatedly performed, the inspection accuracy does not decrease.
【0052】本願の請求項6に記載した発明は、所定の
検査位置にプリント配線基板を位置決めする検査テーブ
ルと、検査プローブを上記プリント配線基板に対して接
触離間可能に保持する検査ヘッドとを備えるプリント配
線基板における検査方法であって、上記検査ヘッドを検
査テーブルに対して相対揺動可能に保持する一方、上記
検査ヘッドがプリント配線基板に近接するとき、上記検
査ヘッドを所定の検査位置に位置決め誘導して検査を行
うことを特徴とするものである。The invention described in claim 6 of the present application includes an inspection table for positioning a printed wiring board at a predetermined inspection position, and an inspection head for holding an inspection probe so as to be able to contact and separate from the printed wiring board. An inspection method for a printed wiring board, wherein the inspection head is held so as to be swingable relative to an inspection table, and the inspection head is positioned at a predetermined inspection position when the inspection head is close to the printed wiring board. It is characterized in that an inspection is performed by guiding.
【0053】本願の請求項7に記載した発明は、検査ヘ
ッドに保持される検査プローブがプリント配線基板に近
接するとき、各検査プローブを所定の検査接点に誘導し
て検査を行うことを特徴とするものである。The invention according to claim 7 of the present application is characterized in that when a test probe held by a test head approaches a printed wiring board, each test probe is guided to a predetermined test contact to perform a test. Is what you do.
【0054】[0054]
【発明の実施の形態】以下、本願発明の実施の形態を図
に基づいて具体的に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be specifically described below with reference to the drawings.
【0055】図1に本願発明に係るプリント配線基板の
検査装置の正面図を、図2に側面図を示す。これらの図
に示すように、本実施の形態に係る検査装置1は、机上
に載置される台板2と、この台板2の上面後部に固定さ
れて垂直に立ち上がるスタンド3と、このスタンド3に
沿って昇降可能に保持されるとともに上部検査ヘッド装
置4を保持する昇降ブロック5と、上記昇降ブロック5
に対向するように上記台板2の前部に設けられるととも
に下部検査ヘッド6を保持する検査テーブル装置7と、
上記昇降ブロック5をスタンド3に沿って昇降させる昇
降手段8とを備える。FIG. 1 is a front view of a printed wiring board inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a side view. As shown in these drawings, an inspection apparatus 1 according to the present embodiment includes a base plate 2 placed on a desk, a stand 3 fixed to the rear of the upper surface of the base plate 2 and standing upright, An elevating block 5 that is held so as to be able to move up and down along with the upper inspection head device 4 and that holds the upper inspection head device 4;
An inspection table device 7 provided at a front portion of the base plate 2 so as to face the inspection plate 2 and holding a lower inspection head 6;
Lifting means 8 for lifting the lifting block 5 along the stand 3;
【0056】昇降ブロック5は、上記スタンド3の前面
に設けた案内面9に沿って上記検査テーブル装置7に対
して近接離間させられる。上記昇降手段8は、スタンド
3の側面に回動可能に設けられた操作アーム10と、上
記スタンド3の内部に設けられた図示しない駆動機構と
を備えて構成されており、上記操作アーム10の回転操
作を上記昇降ブロック5の上下動に変換するように構成
される。上記駆動機構は、周知の歯車機構等を用いて構
成することができ、操作アーム10を手前に回動させる
ことにより、上記昇降ブロック5が案内面9に沿って下
降するように構成されている。The lifting block 5 is moved toward and away from the inspection table device 7 along a guide surface 9 provided on the front surface of the stand 3. The elevating means 8 includes an operation arm 10 rotatably provided on a side surface of the stand 3 and a drive mechanism (not shown) provided inside the stand 3. The rotation operation is configured to be converted into a vertical movement of the lifting block 5. The drive mechanism can be configured using a well-known gear mechanism or the like, and is configured such that the elevation block 5 is lowered along the guide surface 9 by rotating the operation arm 10 toward the user. .
【0057】上記検査テーブル装置7は、X−Y位置決
め装置11を介して台板2に保持されており、つまみ1
2、13を回動させることにより検査テーブル装置7に
保持される下部検査ヘッド6を移動させ、上部検査ヘッ
ド装置4に対向する位置に位置決めできるように構成さ
れている。The inspection table device 7 is held on the base plate 2 via an XY positioning device 11, and a knob 1
The lower inspection head 6 held by the inspection table device 7 is moved by rotating the second and the second inspection device 13 so that the lower inspection head 6 can be positioned at a position facing the upper inspection head device 4.
【0058】図3に、上部検査ヘッド装置4の断面構
造、図4に検査テーブル装置7の断面構造を示す。FIG. 3 shows a sectional structure of the upper inspection head device 4, and FIG. 4 shows a sectional structure of the inspection table device 7.
【0059】図3に示すように、上部検査ヘッド装置4
は、上記昇降ブロック5に設けた固定装置14に固定さ
れる円柱状の取付けブロック15と、この取付けブロッ
ク15の下面に一体的に接合されるとともに昇降ブロッ
ク5の下面に対接させられる取付けプレート16と、上
記検査テーブル装置7に対向する上部検査ヘッド17
と、上記上部検査ヘッド17を上記取付けプレート16
に対して揺動可能に保持する検査ヘッド保持装置18と
を備える。As shown in FIG. 3, the upper inspection head device 4
Is a cylindrical mounting block 15 fixed to a fixing device 14 provided on the lifting block 5, and a mounting plate integrally joined to the lower surface of the mounting block 15 and brought into contact with the lower surface of the lifting block 5. 16 and an upper inspection head 17 facing the inspection table device 7
And the upper inspection head 17 is attached to the mounting plate 16.
And an inspection head holding device 18 for holding the inspection head in a swingable manner.
【0060】上記上部検査ヘッド17は、対接プレート
19と、これに積層固定されるバックアッププレート2
0と、プローブ保持プレート23とを備える。上記対接
プレート19の内部には重量を軽減するための空隙部2
1が形成されている。The upper inspection head 17 includes a contact plate 19 and a backup plate 2 laminated and fixed thereto.
0 and a probe holding plate 23. A gap 2 for reducing the weight is provided inside the contact plate 19.
1 is formed.
【0061】一方、上記プローブ保持プレート23は、
複数の支柱22を介して上記バックアッププレート20
に連結されており、このプローブ保持プレート23に植
設される検査プローブ24の先端部が対接プレート19
に設けた通挿孔を介して下方に向けて突出させられてい
る。On the other hand, the probe holding plate 23
The backup plate 20 is supported via a plurality of columns 22.
The tip of the inspection probe 24 implanted in the probe holding plate 23 is connected to the contact plate 19.
Are protruded downward through the through holes provided in the holes.
【0062】上記検査プローブ24は周知の構造を備え
ており、上記プローブ保持プレート23に基端部が保持
される円筒管25と、この円筒管内に所定範囲出没可能
に保持されるプローブ針26と、このプローブ針を開口
端に向けて弾力付勢する図示しないバネとを備えて構成
されている。上記プローブ針26の先端部がプリント配
線基板の検査接点に圧接される一方、上記検査プローブ
の基端部に接続されたリード線27を介して検査信号を
取り出せるように構成されている。The inspection probe 24 has a well-known structure, and includes a cylindrical tube 25 whose base end is held by the probe holding plate 23, a probe needle 26 which is held inside the cylindrical tube so as to be able to protrude and retract within a predetermined range. And a spring (not shown) for urging the probe needle toward the open end. The distal end of the probe needle 26 is pressed against an inspection contact of a printed wiring board, and an inspection signal can be taken out via a lead wire 27 connected to a base end of the inspection probe.
【0063】上記検査ヘッド保持装置18は、上記バッ
クアッププレート20の上面にスペーサ28を介して連
結固定される中子プレート29と、この中子プレート2
9を揺動可能に収容する保持プレート30と、この保持
プレート30に形成した中子収容穴31の上方開口部を
覆う蓋プレート32とを備え、上記蓋プレート32と上
記取付けプレート16とが4本の支柱33を介して連結
固定されている。The inspection head holding device 18 includes a core plate 29 connected and fixed to the upper surface of the backup plate 20 via a spacer 28, and a core plate 2
9 is provided so as to swingably accommodate 9, and a cover plate 32 that covers an upper opening of a core accommodation hole 31 formed in the holding plate 30, wherein the cover plate 32 and the mounting plate 16 It is connected and fixed via a column 33 of the book.
【0064】上記中子収容穴31の内法寸法は、上記中
子プレート29の外法寸法より若干大きく形成されると
ともに、下方開口部34が上記中子プレート29の縦横
寸法より小さく形成されている。これにより、上記中子
プレート29が中子収容穴31内に揺動可能に保持され
る。The inner dimension of the core receiving hole 31 is formed slightly larger than the outer dimension of the core plate 29, and the lower opening 34 is formed smaller than the vertical and horizontal dimensions of the core plate 29. I have. Thus, the core plate 29 is swingably held in the core receiving hole 31.
【0065】また、上記中子プレート29と上記バック
アッププレート20との間に設けられるスペーサ28
は、上記バックアッププレート20の上面と上記保持プ
レート30の下面との間に隙間を形成できる高さに設定
されている。この隙間は、上記中子収容穴31の高さと
中子プレート29の高さの差より大きく設定されてい
る。A spacer 28 provided between the core plate 29 and the backup plate 20
Is set to a height at which a gap can be formed between the upper surface of the backup plate 20 and the lower surface of the holding plate 30. This gap is set to be larger than the difference between the height of the core receiving hole 31 and the height of the core plate 29.
【0066】さらに、上記中子プレート29の側部と、
上記中子収容穴31の側面との間には、上記中子プレー
ト29を中子収容穴31の中央部に向けて弾力付勢する
バネ35が4箇所に設けられている。上記構成によっ
て、上記上部検査ヘッド17が、所定位置に弾力付勢さ
れつつ揺動可能に保持される。Further, the side of the core plate 29,
Between the side faces of the core receiving hole 31, four springs 35 for urging the core plate 29 toward the center of the core receiving hole 31 are provided. With the above configuration, the upper inspection head 17 is swingably held while being elastically biased to a predetermined position.
【0067】上記バネ35によって、上記中子プレート
29を含む上部検査ヘッド全体が、自然状態で所定の待
機位置に保持される。また、検査中に変位が生じても、
上記待機位置に復帰させられる。By the spring 35, the entire upper inspection head including the core plate 29 is held at a predetermined standby position in a natural state. Also, even if displacement occurs during inspection,
It is returned to the standby position.
【0068】上記バネ35のセンタリング機能によって
上部検査ヘッドが所定の待機位置に位置決め保持される
ため、X−Y位置決め装置11による初期調整作業等を
容易に行うことができる。Since the upper inspection head is positioned and held at a predetermined standby position by the centering function of the spring 35, initial adjustment work and the like by the XY positioning device 11 can be easily performed.
【0069】図4に示すように、検査テーブル装置7
は、位置決め装置11上に固定されるべースプレート3
6と、このベースプレート36上に複数の支柱37を介
して支持されるテーブル板38と、このテーブル板38
の上面に所定高さ弾性的に浮き上がった状態で保持され
る浮き上がりプレート39とを備える。As shown in FIG. 4, the inspection table device 7
Is the base plate 3 fixed on the positioning device 11
6, a table plate 38 supported on the base plate 36 via a plurality of columns 37, and a table plate 38
And a lifting plate 39 which is held at a predetermined height elastically on the upper surface of the lifting plate.
【0070】上記テーブル板38の中央下部には、下部
検査ヘッド6が設けられている。この下部検査ヘッド6
は、上記テーブル板38の下面に取付けられる取付けプ
レート40と、この取付けプレート40に複数の支柱4
1を介して支持されるプローブ保持プレート42とを備
えており、このプローブ保持プレート42に検査プロー
ブ43の基端部が植設されているとともに、先端部のプ
ローブ針26がテーブル板38の通挿孔を介して上面か
ら上方に向けて突出させられている。なお、上記検査プ
ローブ43の構造及び取付け構造は、上記上部検査ヘッ
ド装置4に設けたものと同様であるのでその説明は省略
する。A lower inspection head 6 is provided below the center of the table plate 38. This lower inspection head 6
Is a mounting plate 40 mounted on the lower surface of the table plate 38, and a plurality of columns 4
A probe holding plate 42 supported via the first plate 1 is provided with a base end portion of the inspection probe 43 implanted in the probe holding plate 42 and a probe needle 26 at the tip end is passed through the table plate 38. It protrudes upward from the upper surface through the insertion hole. Note that the structure and mounting structure of the inspection probe 43 are the same as those provided in the upper inspection head device 4, and a description thereof will be omitted.
【0071】上記浮き上がりプレート39は、上記テー
ブル板38から弾力付勢されつつ突出させられる浮き子
44によって、テーブル板38から所定高さに持ち上げ
られた状態で保持されるように構成されている。The lift plate 39 is configured to be held at a predetermined height from the table plate 38 by a float 44 that is projected while being elastically urged from the table plate 38.
【0072】上記浮き子44は、図4に示すように、円
筒状の保持筒45にバネ46によって弾力付勢した状態
で保持されている。この保持筒45を、上記テーブル板
38に形成した嵌入孔47に嵌入固定することにより、
浮き子44の頭部をテーブル38の上面から所定の高さ
で突出させている。As shown in FIG. 4, the float 44 is held in a cylindrical holding cylinder 45 in a state of being elastically urged by a spring 46. The holding cylinder 45 is fitted and fixed in a fitting hole 47 formed in the table plate 38,
The head of the float 44 protrudes from the upper surface of the table 38 at a predetermined height.
【0073】上記浮き子44は、バネ46によって上記
テーブル板38の上面から出没可能に突出して保持され
ており、プローブ針26の先端部が浮き上がりプレート
39の上面から相対的に沈み込む位置まで、上記浮き上
がりプレート39を持ち上げるように構成されている。The float 44 is held by a spring 46 so as to be able to protrude and retract from the upper surface of the table plate 38, and the tip of the probe needle 26 is lifted up to a position where it is relatively lowered from the upper surface of the plate 39. The lifting plate 39 is configured to be lifted.
【0074】本願発明に係る検査装置1においては、上
記検査テーブル装置38上にプレート状検査治具48を
介して検査対象たるプリント配線基板49を位置決め載
置し、上記上部検査ヘッド装置4に保持された検査プロ
ーブ24と下部検査ヘッド6保持される検査プローブ4
3を上下方向から接触させて検査を行う。In the inspection apparatus 1 according to the present invention, the printed wiring board 49 to be inspected is positioned and mounted on the inspection table apparatus 38 via the plate-shaped inspection jig 48 and held by the upper inspection head apparatus 4. Inspection probe 24 and inspection probe 4 held by lower inspection head 6
3 is contacted from above and below to perform an inspection.
【0075】図5及び図6に示すように、本実施の形態
に係る上記プレート状検査治具48は矩形状をしてお
り、厚さ約0.5mmのポリカーボネート製の透明プレ
ートから形成されている。このプレート状検査治具48
には、プリント配線基板49を保持する基板保持領域5
0が中央部に設けられているとともに、この基板保持領
域50の両側部に複数の位置決め孔51a〜51iをそ
れぞれ形成した基板位置決め領域52が設けられてい
る。As shown in FIGS. 5 and 6, the plate-like inspection jig 48 according to the present embodiment has a rectangular shape and is formed of a polycarbonate transparent plate having a thickness of about 0.5 mm. I have. This plate-shaped inspection jig 48
The board holding area 5 for holding the printed wiring board 49
0 is provided in the center portion, and a substrate positioning region 52 in which a plurality of positioning holes 51a to 51i are respectively formed is provided on both sides of the substrate holding region 50.
【0076】一方、図4に示すように、上記テーブル板
38には、上記位置決め孔51a〜51iに係入する4
本の位置決めピン53が突設されている。On the other hand, as shown in FIG. 4, the table plate 38 has four positioning holes 51a to 51i.
The positioning pins 53 are protruded.
【0077】上記位置決めピン53は、円筒状の保持筒
54内にバネ55によって弾力付勢されつつ所定範囲出
没可能に収容されている。そして、この保持筒54を上
記テーブル板38に形成された嵌入孔56に嵌入固定す
ることにより、上記テーブル板38及び浮き上がりプレ
ート39の表面から位置決めピン38を突出させて保し
ている。上記プレート状検査治具48の位置決め孔51
a〜51iに、上記位置決めピン53が係入することに
より、プレート状検査治具48及びこれに保持されるプ
リント配線基板49を上記テーブル板38上の所定位置
に位置決めする。The positioning pin 53 is housed in a cylindrical holding cylinder 54 so as to be resiliently urged by a spring 55 so as to be able to protrude and retract within a predetermined range. The holding cylinder 54 is fitted and fixed in a fitting hole 56 formed in the table plate 38, so that the positioning pins 38 protrude from the surfaces of the table plate 38 and the floating plate 39 and are held. Positioning hole 51 of the plate-shaped inspection jig 48
The plate-like inspection jig 48 and the printed wiring board 49 held by the jig 48 are positioned at predetermined positions on the table plate 38 by engaging the positioning pins 53 with a to 51i.
【0078】上記位置決めピン53の突出高さは、図9
に示すプリント配線基板49の検査状態においては、上
記位置決め孔51a〜51iに深く係入してプレート状
検査治具48を移動不可能に位置決め固定できるように
設定される。一方、図8に示す位置決め状態において
は、位置決めピン53の頭部が位置決め孔51a〜51
iに係合するように構成されており、上記係合をバネ5
5の弾力に抗して容易に解除できる。The protrusion height of the positioning pin 53 is shown in FIG.
In the inspection state of the printed wiring board 49 shown in (1), the plate-like inspection jig 48 is set so as to be deeply engaged in the positioning holes 51a to 51i so as to be immovably positioned and fixed. On the other hand, in the positioning state shown in FIG.
i, the spring 5
5 can easily be released against the elasticity of 5.
【0079】本実施の形態においては、上記位置決めピ
ン53とプレート状検査治具48を用いて、9個の検査
領域57a〜57iを備えるプリント配線基板49、換
言すれば、9個取りのプリント配線基板の各検査領域
を、一つの検査領域に対応する検査プローブを備える上
下の検査ヘッド4,6によって検査できるように構成し
ている。In this embodiment, using the positioning pins 53 and the plate-like inspection jig 48, a printed wiring board 49 having nine inspection areas 57a to 57i, in other words, a nine-piece printed wiring board Each inspection area of the substrate is configured to be inspected by upper and lower inspection heads 4 and 6 each having an inspection probe corresponding to one inspection area.
【0080】すなわち、図5に示すように、本実施の形
態に係るプレート状検査治具48には、上記各検査領域
57a〜57iに対応するピッチで、位置決め孔51a
〜51iが両側部にそれぞれ形成されており、これら位
置決め孔51a〜51iに左右の位置決めピン53が順
次係入することにより、上記位置決め孔51a〜51i
に対応する各検査領域57a〜57iを、上下の検査ヘ
ッド4,6に対向する検査位置に順次位置決めすること
ができる。That is, as shown in FIG. 5, the plate-shaped inspection jig 48 according to the present embodiment is provided with positioning holes 51a at pitches corresponding to the above-described inspection areas 57a to 57i.
The positioning holes 51a to 51i are formed on both sides, and the positioning holes 53a to 51i are sequentially engaged with the positioning pins 53 on the left and right.
Can be sequentially positioned at the inspection positions facing the upper and lower inspection heads 4 and 6.
【0081】たとえば、図8に示す上部検査ヘッド装置
4を上昇させた状態で、下部検査ヘッド6の前後左右に
設けた4本の位置決めピン53を、図5の左右の51e
で示す位置決め孔に係入させることにより、中央部の検
査領域57eを検査ヘッド4,6に対向する検査位置に
位置決めできる。For example, with the upper inspection head device 4 shown in FIG. 8 raised, the four positioning pins 53 provided on the front, rear, left and right of the lower inspection head 6 are connected to the left and right 51e of FIG.
The center inspection area 57e can be positioned at the inspection position facing the inspection heads 4 and 6 by engaging with the positioning holes indicated by.
【0082】本実施の形態においては、プレート状検査
治具48の下面にプリント配線基板49を貼着保持して
検査を行う。上記プレート状検査治具48の基板保持領
域50には、図5に示すように、プリント配線基板49
を貼着固定するための一対の開口部58が形成されてお
り、図7に示すように、この開口部58を介して粘着テ
ープ59をプレート状検査治具48とプリント配線基板
49とに掛け渡し状に貼りつけることにより、上記プリ
ント配線基板49をプレート状検査治具48に貼着保持
させる。これにより、図5及び図6に示すように、上記
プリント配線基板49とプレート状検査治具48とが一
体的に貼着接合される。In this embodiment, the inspection is performed by attaching and holding the printed wiring board 49 to the lower surface of the plate-shaped inspection jig 48. As shown in FIG. 5, a printed wiring board 49 is provided in the board holding area 50 of the plate-shaped inspection jig 48.
A pair of openings 58 for adhering and fixing are formed. As shown in FIG. 7, the adhesive tape 59 is hung on the plate-shaped inspection jig 48 and the printed wiring board 49 through the openings 58. The printed wiring board 49 is stuck and held on the plate-shaped inspection jig 48 by sticking it in a bridging manner. Thereby, as shown in FIGS. 5 and 6, the printed wiring board 49 and the plate-shaped inspection jig 48 are integrally bonded and bonded.
【0083】粘着テープ59を用いることにより、プレ
ート状検査治具48に対するプリント配線基板49の貼
着作業を容易に行うことができる。By using the adhesive tape 59, the work of attaching the printed wiring board 49 to the plate-like inspection jig 48 can be easily performed.
【0084】さらに、図8及び図12に示すように、上
記プレート状検査治具48の基板保持領域50には、プ
リント配線基板49の検査接点に対応したプローブ案内
孔60が、それぞれの検査領域57a〜57iに対応す
る部分に形成されている。このプローブ案内孔60は、
図12に示すように、プローブ針26の外径より若干大
きな内径で形成されており、検査プローブ24の配列精
度が多少低下しても、各プローブ針26をプリント配線
基板49上の所定の検査接点まで確実に案内することが
できる。Further, as shown in FIGS. 8 and 12, probe guide holes 60 corresponding to the test contacts of the printed wiring board 49 are provided in the substrate holding region 50 of the plate-like test jig 48. It is formed in a portion corresponding to 57a-57i. This probe guide hole 60 is
As shown in FIG. 12, the probe needles 26 are formed with an inner diameter slightly larger than the outer diameter of the probe needles 26, and even if the arrangement accuracy of the inspection probes 24 is slightly reduced, each probe needle 26 can be inspected by a predetermined inspection It is possible to surely guide to the contact point.
【0085】すなわち、図12に示すように、プローブ
針26の先端は山形形状をしているため、プローブ26
針の中心軸と上記プローブ案内孔60の中心とが一致し
ていなくても、プローブ案内孔60の縁部61にプロー
ブ針26の先端部が案内されるようにして矢印方向に変
位しつつ挿入されて、所定の検査接点に接触させられ
る。このため、検査ヘッドが検査位置に正確に位置して
いなくても、プローブ針を確実に検査接点に導くことが
できる。That is, as shown in FIG. 12, since the tip of the probe needle 26 has a chevron shape,
Even if the center axis of the needle does not coincide with the center of the probe guide hole 60, the tip of the probe needle 26 is guided to the edge 61 of the probe guide hole 60 while being displaced in the direction of the arrow so as to be guided. Then, it is brought into contact with a predetermined inspection contact. For this reason, even if the inspection head is not accurately located at the inspection position, the probe needle can be reliably guided to the inspection contact.
【0086】また、検査中のプローブ針26を保護でき
るため、検査プローブ24が変位してもプローブ針26
が曲折したり、損傷を受けたりするのを防止できる。ま
た、上記プローブ案内孔60は、各検査接点の大きさに
対応して精度高く形成されているため、上記プローブ案
内孔60とプリント配線基板49上の検査接点とを重ね
合わせることにより、プリント配線基板49をプレート
状検査治具48に精度高く位置決めして保持させること
ができる。Further, since the probe needle 26 during the inspection can be protected, even if the inspection probe 24 is displaced, the probe needle 26
Can be prevented from being bent or damaged. Further, since the probe guide hole 60 is formed with high precision corresponding to the size of each test contact, the probe guide hole 60 and the test contact on the printed wiring board 49 are overlapped to form a printed wiring. The substrate 49 can be positioned and held on the plate-shaped inspection jig 48 with high accuracy.
【0087】さらに、本実施の形態においては、上部検
査ヘッド装置4を所定の検査位置に誘導して位置決めで
きる検査ヘッド位置決め誘導装置62が設けられてい
る。Further, in the present embodiment, there is provided an inspection head positioning / guiding device 62 which can guide and position the upper inspection head device 4 to a predetermined inspection position.
【0088】上記検査ヘッド位置決め誘導装置62は、
図8ないし図10に示すように、上部検査ヘッド装置4
の上部検査ヘッド17に設けた誘導ピン63と、上記検
査テーブル38に設けた誘導孔64とを備えて構成され
ている。The inspection head positioning guiding device 62
As shown in FIG. 8 to FIG.
And a guide hole 64 provided in the inspection table 38.
【0089】図3及び図8に示すように、上記誘導ピン
63は、先端部が山形形状に形成されており、円筒状の
保持筒65内にバネ66によって弾力付勢されつつ所定
範囲出没可能に保持されている。上記保持筒65を上記
上部検査ヘッド17の四隅に設けた嵌合穴67に嵌入す
ることにより、上記誘導ピン63が、上部検査ヘッド1
7の下面から所定長さ突出した状態で保持されている。As shown in FIGS. 3 and 8, the guide pin 63 has a tip portion formed in a mountain shape, and can be retracted within a predetermined range while being elastically biased by a spring 66 in a cylindrical holding cylinder 65. Is held in. By fitting the holding cylinder 65 into fitting holes 67 provided at four corners of the upper inspection head 17, the guide pins 63 are moved to the upper inspection head 1.
7 is held in a state where it protrudes from the lower surface by a predetermined length.
【0090】一方、図8に示すように、上記テーブル板
38の上記誘導ピン63に対向する部分には、誘導孔6
4が形成されている。この誘導孔64は、上方向に向け
て広がる円錐状の傾斜面68と、下方に向けて貫通する
貫通孔69を備える。上記誘導孔64の最上部の内径
は、上記誘導ピン63の外径より大きく設定されてい
る。On the other hand, as shown in FIG. 8, a guide hole 6 is provided in a portion of the table plate 38 facing the guide pin 63.
4 are formed. The guide hole 64 includes a conical inclined surface 68 that extends upward and a through hole 69 that penetrates downward. The inner diameter of the uppermost part of the guide hole 64 is set to be larger than the outer diameter of the guide pin 63.
【0091】図8に示す基板位置決め状態から、操作ア
ーム10を回動させて上部検査ヘッド装置4を下降させ
ていくと、上記誘導ピン63の先端部が、上記プレート
状検査治具48に形成した逃がし孔70及び浮き上がり
プレート39に形成した逃がし孔71を通過して、上記
誘導孔64に係入させられる。このとき、図10に示す
ように、上記誘導ピン63の中心軸と上記誘導孔64の
軸とがずれていても、係入するにつれて誘導ピン63の
先端部が上記傾斜面68に案内されて軸が一致するよう
に変位させられる。一方、上記上部検査ヘッド17は検
査ヘッド保持装置18に揺動可能に保持されているた
め、図11の仮想線で示す位置から、上記誘導ピン63
が横方向に変位した量(H)だけ変位させられ、所定の
検査位置まで位置決め誘導される。When the upper inspection head device 4 is lowered by rotating the operation arm 10 from the substrate positioning state shown in FIG. 8, the tip of the guide pin 63 is formed on the plate-like inspection jig 48. After passing through the escape hole 70 and the escape hole 71 formed in the lift plate 39, the guide hole 64 is engaged with the guide hole 64. At this time, as shown in FIG. 10, even if the center axis of the guide pin 63 and the axis of the guide hole 64 are displaced, the tip of the guide pin 63 is guided by the inclined surface 68 as it engages. The axes are displaced to coincide. On the other hand, since the upper inspection head 17 is swingably held by the inspection head holding device 18, the guide pin 63 is moved from the position shown by the phantom line in FIG.
Is displaced by an amount (H) displaced in the lateral direction, and the positioning is guided to a predetermined inspection position.
【0092】さらに、検査ヘッド4を下降させると、図
12に示すように、上部検査ヘッド17から突出する各
プローブ針26の先端部が、上記プレート状検査治具4
8の各プローブ案内孔60に突入してプリント配線基板
49の上面の検査接点に接触させられるとともに、上部
検査ヘッド17の下面がプレート状検査治具48及びプ
リント配線基板49を下方に押圧する。これにより、浮
き子44に支持された浮き上がりプレート39も下方に
変位し、下側検査プローブ43のプローブ針26が浮き
上がりプレート39から上方に突出してプリント配線基
板49の下面の検査接点に接触させられる。この状態
で、各検査プローブ24,43に通電して、プリント配
線基板49の検査が行われる。When the inspection head 4 is further lowered, as shown in FIG. 12, the tips of the probe needles 26 projecting from the upper inspection head 17 are brought into contact with the plate-like inspection jig 4.
8 and comes into contact with the inspection contacts on the upper surface of the printed wiring board 49 while the lower surface of the upper inspection head 17 presses the plate-shaped inspection jig 48 and the printed wiring board 49 downward. As a result, the lift plate 39 supported by the float 44 is also displaced downward, and the probe needle 26 of the lower inspection probe 43 projects upward from the lift plate 39 and comes into contact with the inspection contact on the lower surface of the printed wiring board 49. . In this state, the inspection probes 24 and 43 are energized, and the printed wiring board 49 is inspected.
【0093】検査終了後、操作アーム10を回動させて
上部検査ヘッド装置4を上昇させると、上側検査プロー
ブ24のプローブ針26がプローブ案内孔60から抜け
出るとともに、浮き子44に押圧された浮き上がりプレ
ート39がテーブル板38から浮き上がり、下側検査プ
ローブ43のプローブ針26がプリント配線基板49か
ら離間する。その後、上記誘導ピン63が、上記誘導孔
64から抜け出て、図8に示す状態に復帰する。また、
上部検査ヘッド17は、上記バネ34の弾力によって、
所定の待機位置に復帰変位させられる。When the operation arm 10 is rotated to raise the upper inspection head device 4 after the inspection is completed, the probe needle 26 of the upper inspection probe 24 comes out of the probe guide hole 60, and the floating is pressed by the float 44. The plate 39 rises from the table plate 38, and the probe needle 26 of the lower inspection probe 43 is separated from the printed wiring board 49. Thereafter, the guide pin 63 comes out of the guide hole 64 and returns to the state shown in FIG. Also,
The upper inspection head 17 is moved by the elasticity of the spring 34.
It is returned to a predetermined standby position.
【0094】図8に示す状態においては、位置決めピン
53の頭部が位置決め孔51eに係合して、プレート状
検査治具48が仮止めされた状態となる。したがって、
上記位置決めピン53と位置決め孔51eとの係合を、
位置決めピン53の弾力に抗して容易に解除することが
できる。このため、プレート状検査治具48を横方向に
移動させることができ、次の検査領域を検査位置に位置
決めすることができる。一方、上記位置決めピン53の
弾力によって、所望の検査位置に段階的に仮止めするこ
とができるため、プレート状検査治具48の位置決め作
業を容易に行うことができる。In the state shown in FIG. 8, the head of the positioning pin 53 is engaged with the positioning hole 51e, and the plate-like inspection jig 48 is temporarily fixed. Therefore,
The engagement between the positioning pin 53 and the positioning hole 51e is
It can be easily released against the elasticity of the positioning pin 53. For this reason, the plate-shaped inspection jig 48 can be moved in the horizontal direction, and the next inspection area can be positioned at the inspection position. On the other hand, the elasticity of the positioning pins 53 allows the temporary fixing to the desired inspection position stepwise, so that the work of positioning the plate-shaped inspection jig 48 can be easily performed.
【0095】上述したように、本実施の形態において
は、揺動可能に保持された上部検査ヘッド17を検査ヘ
ッド位置決め誘導装置62によって、所定の検査位置ま
で誘導位置決めした後に、上側の各プローブ針26をプ
レート状検査治具48に形成したプローブ案内穴60を
介してプリント配線基板49の所定の検査接点まで導く
ことができる。すなわち、上記検査ヘッド位置決め誘導
装置62と上記プローブ案内孔60とによって、上部検
査ヘッド17及び検査プローブ60を二段階に位置決め
できることになる。なお、実施の形態では、上記検査ヘ
ッド位置決め誘導装置62によって、上部検査ヘッド1
7を所定の検査位置に対して0.5mmの誤差で位置決
できるとともに、上記プローブ案内孔60によって50
μm以内の誤差まで位置決めできるように構成してい
る。As described above, in the present embodiment, the upper inspection head 17 held swingably is guided and positioned to a predetermined inspection position by the inspection head positioning and guiding device 62, and then each of the upper probe needles is moved. 26 can be guided to a predetermined inspection contact point of the printed wiring board 49 via the probe guide hole 60 formed in the plate-shaped inspection jig 48. That is, the upper inspection head 17 and the inspection probe 60 can be positioned in two stages by the inspection head positioning guiding device 62 and the probe guide hole 60. In the embodiment, the upper inspection head 1 is controlled by the inspection head positioning guiding device 62.
7 can be positioned with respect to a predetermined inspection position with an error of 0.5 mm.
It is configured so that positioning can be performed up to an error within μm.
【0096】このため、上記上部検査ヘッド17の揺動
範囲を大きく設定しても、高い精度で検査を行うことが
可能となる。また、繰り返し検査を行っても位置決め精
度が低下することはない。しかも、検査ヘッドの案内装
置の精度を高くする必要がなくなり、検査装置のコスト
を大幅に低減させることが可能となる。For this reason, even if the swing range of the upper inspection head 17 is set large, the inspection can be performed with high accuracy. Further, even if the inspection is repeatedly performed, the positioning accuracy does not decrease. In addition, it is not necessary to increase the accuracy of the guide device for the inspection head, and the cost of the inspection device can be greatly reduced.
【0097】本願発明の範囲は、上述の実施の形態に限
定されることはない。The scope of the present invention is not limited to the above embodiment.
【0098】実施の形態においては、9個取りのプリン
ト配線基板に本願発明を適用したが、1個取りのプリン
ト配線基板、あるいは10個以上の電子装置に対応した
多数個取りのプリント配線基板に適用することができ
る。In the embodiment, the present invention is applied to a nine-piece printed wiring board. However, the present invention is applied to a single-piece printed wiring board or a multi-piece printed wiring board corresponding to ten or more electronic devices. Can be applied.
【0099】実施の形態においては、透明な樹脂材料か
ら形成されたプレート状検査治具を採用したが、金属材
料等他のプレート状材料を採用することもできる。In the embodiment, a plate-shaped inspection jig made of a transparent resin material is used, but other plate-shaped materials such as a metal material can be used.
【0100】プリント配線基板とプレート状検査治具と
の接合方法も実施の形態に限定されることはなく、たと
えば、プリント配線基板に形成した位置決め穴等を利用
して接合することができる。The method of joining the printed wiring board and the plate-shaped inspection jig is not limited to the above embodiment, and can be joined using, for example, positioning holes formed in the printed wiring board.
【0101】また、実施の形態においては、浮き上がり
プレート39の中央部に、下側のプローブ針26をプリ
ント配線基板49に接触するための開口部75を設けた
が、開口部を設けず、プレート状検査治具に設けたのと
同様の検査プローブ案内孔を形成して、プローブ針を誘
導案内できるように構成することもできる。Further, in the embodiment, the opening 75 for contacting the lower probe needle 26 with the printed wiring board 49 is provided at the center of the floating plate 39, but the opening is not provided. An inspection probe guide hole similar to that provided in the shape inspection jig may be formed so that the probe needle can be guided and guided.
【0102】また、プローブ案内孔の形状も実施の形態
に限定されることはなく、検査プローブの形状等に応じ
て変更できる。たとえば、プローブ針の突入口に円錐内
面状の案内面を形成して、プローブ針が検査位置から大
きく変位している場合等に対応できるように構成するこ
ともできる。The shape of the probe guide hole is not limited to the embodiment, but can be changed according to the shape of the inspection probe. For example, a guide surface having a conical inner surface may be formed at the entrance of the probe needle so as to cope with a case where the probe needle is largely displaced from the inspection position.
【0103】また、検査ヘッド保持装置も実施の形態に
限定されることはなく、たとえば、図13に示すよう
に、上部検査ヘッド17に逆円錐外面を備える中子72
を設ける一方、保持プレート30に上記中子72の外面
に対応した円錐内面を備える保持孔73を形成し、上記
保持孔73に中子72を保持させてもよい。Further, the inspection head holding device is not limited to the embodiment. For example, as shown in FIG. 13, a core 72 having an upper inspection head 17 having an inverted conical outer surface is provided.
On the other hand, a holding hole 73 having a conical inner surface corresponding to the outer surface of the core 72 may be formed in the holding plate 30, and the core 72 may be held in the holding hole 73.
【0104】この場合、上記中子72は、図13の想像
線で示すように、保持孔73内で変位可能に保持される
とともに、検査を行っていない状態では、上記中子72
が重力によって下方に変位するとともに、円錐側面によ
って中子72と保持孔73の軸心が重力によって一致さ
せられ、所定の待機位置に保持される。このため、テー
ブル装置等の位置決め作業に都合がよい。In this case, as shown by the imaginary line in FIG. 13, the core 72 is displaceably held in the holding hole 73, and when no inspection is performed, the core 72 is
Is displaced downward by gravity, and the axes of the core 72 and the holding hole 73 are matched by gravity by the conical side surface, and are held at a predetermined standby position. Therefore, it is convenient for the work of positioning the table device and the like.
【0105】また、実施の形態においては、上記誘導案
内手段として、プレート状検査治具と、検査ヘッド位置
決め誘導装置の双方を設けたが、一方のみで検査ヘッド
の位置決めを行うこともできる。In the embodiment, both the plate-shaped inspection jig and the inspection head positioning / guiding device are provided as the above-mentioned guidance and guide means, but the inspection head can be positioned by only one of them.
【0106】また、実施の形態においては、上部検査ヘ
ッド17のみを揺動可能に保持したが、下部検査ヘッド
を揺動可能に保持することもできる。また、上部検査ヘ
ッド装置全体を揺動可能に保持してもよい。Further, in the embodiment, only the upper inspection head 17 is swingably held, but the lower inspection head may be swingably held. Further, the entire upper inspection head device may be held swingably.
【0107】また、検査装置の構成も実施の形態に限定
されることはなく、検査プローブを保持する検査ヘッド
を移動させてプリント配線基板に接触させるように構成
されていれば本願発明を適用することができる。Further, the configuration of the inspection apparatus is not limited to the embodiment, and the present invention is applied as long as the inspection head holding the inspection probe is moved to contact the printed wiring board. be able to.
【図1】本願発明に係る検査装置の正面図である。FIG. 1 is a front view of an inspection device according to the present invention.
【図2】本願発明に係る検査装置の側面図である。FIG. 2 is a side view of the inspection device according to the present invention.
【図3】上部検査ヘッド装置4の拡大断面図である。FIG. 3 is an enlarged sectional view of the upper inspection head device 4.
【図4】検査テーブル装置の拡大断面部である。FIG. 4 is an enlarged sectional view of the inspection table device.
【図5】プレート状検査治具にプリント配線基板を保持
させた平面図である。FIG. 5 is a plan view in which a printed wiring board is held by a plate-shaped inspection jig.
【図6】図5に示すプレート状検査治具の側面図であ
る。6 is a side view of the plate-shaped inspection jig shown in FIG.
【図7】図5におけるVII − VII線に沿う断面図であ
る。FIG. 7 is a sectional view taken along line VII-VII in FIG. 5;
【図8】検査装置の要部の断面図であり、上部検査ヘッ
ド装置が離間した状態を示す図である。FIG. 8 is a cross-sectional view of a main part of the inspection apparatus, showing a state where the upper inspection head device is separated.
【図9】検査装置の要部の断面図であり、プリント配線
基板の検査を行っている状態を示す図である。FIG. 9 is a cross-sectional view of a main part of the inspection apparatus, showing a state in which a printed wiring board is being inspected.
【図10】図9の要部の拡大断面図であり、検査ヘッド
位置決め誘導装置の作用を説明する図である。FIG. 10 is an enlarged cross-sectional view of a main part of FIG. 9, illustrating the operation of the inspection head positioning guidance device.
【図11】図3の要部の拡大図であり、検査ヘッド保持
装置の作用を説明する断面図である。FIG. 11 is an enlarged view of a main part of FIG. 3, and is a cross-sectional view illustrating an operation of the inspection head holding device.
【図12】図9の要部の拡大断面図であり、プローブ案
内孔の作用を説明する図である。FIG. 12 is an enlarged cross-sectional view of a main part of FIG. 9, illustrating the operation of a probe guide hole.
【図13】検査ヘッド保持装置の他の実施の形態を示す
断面図である。FIG. 13 is a sectional view showing another embodiment of the inspection head holding device.
1 検査装置 6 下部検査ヘッド 7 検査テーブル装置 17 上部検査ヘッド 18 検査ヘッド保持装置 24 検査プローブ 43 検査プローブ 48 プレート状検査治具 49 プリント配線基板 50 基板保持領域 51 位置決め孔 52 基板位置決め領域 53 位置決めピン 57 検査領域 60 プローブ案内孔 62 検査ヘッド位置決め誘導装置 63 誘導ピン 64 誘導孔 Reference Signs List 1 inspection device 6 lower inspection head 7 inspection table device 17 upper inspection head 18 inspection head holding device 24 inspection probe 43 inspection probe 48 plate-shaped inspection jig 49 printed wiring board 50 substrate holding region 51 positioning hole 52 substrate positioning region 53 positioning pin 57 Inspection Area 60 Probe Guide Hole 62 Inspection Head Positioning Guidance Device 63 Guide Pin 64 Guide Hole
Claims (7)
置決め保持できる検査テーブルと、複数の検査プローブ
を上記プリント配線基板に対して接触離間可能に保持す
る検査ヘッドとを備えるプリント配線基板の検査装置で
あって、 上記検査ヘッドを検査テーブルに対して相対揺動可能に
保持する検査ヘッド保持装置と、 上記検査ヘッド及び/又は上記検査プローブを所定の検
査位置に誘導案内する誘導案内手段とを設けた、プリン
ト配線基板の検査装置。An inspection apparatus for a printed wiring board, comprising: an inspection table capable of positioning and holding a printed wiring board at a predetermined inspection position; and an inspection head for holding a plurality of inspection probes so as to be able to contact and separate from the printed wiring board. An inspection head holding device that holds the inspection head so as to be able to swing relative to an inspection table, and a guide unit that guides the inspection head and / or the inspection probe to a predetermined inspection position. In addition, inspection equipment for printed wiring boards.
基板を一体的に貼着保持する基板保持領域と、上記基板
保持領域の周囲に配置された基板位置決め領域とを備え
るプレート状検査治具を含んで構成されており、 上記基板位置決め領域に、上記検査テーブルに設けた位
置決め手段と共働して、プリント配線基板を所定の検査
位置に位置決めする基板位置決め手段を設けるととも
に、 上記基板保持領域に、各検査プローブをプリント配線基
板の検査接点に誘導案内するプローブ案内孔を設けた、
請求項1に記載のプリント配線基板の検査装置。2. The method according to claim 1, wherein the guiding and guiding means includes a plate-shaped inspection jig including a board holding area for integrally attaching and holding the printed wiring board, and a board positioning area arranged around the board holding area. In the substrate positioning area, a substrate positioning means for positioning the printed wiring board at a predetermined inspection position in cooperation with the positioning means provided on the inspection table is provided, and in the substrate holding area. Provided with a probe guide hole for guiding each inspection probe to the inspection contact point of the printed wiring board,
The printed wiring board inspection apparatus according to claim 1.
記検査ヘッドが検査テーブルに近接したとき、上記検査
ヘッドを所定の検査位置に誘導する検査ヘッド位置決め
誘導装置を含んで構成される、請求項1又は請求項2の
いずれかに記載のプリント配線基板の検査装置。3. An inspection head positioning / guiding device which is provided on the inspection head or the inspection table and guides the inspection head to a predetermined inspection position when the inspection head approaches the inspection table. The printed wiring board inspection device according to claim 1, wherein the inspection device is configured to include the same.
記検査ヘッドと上記検査テーブルの一方に設けた誘導ピ
ンと、上記検査ヘッドと上記検査テーブルの他方に設け
た誘導孔とを備えて構成されており、上記誘導ピンが上
記誘導孔に係入させられることにより、上記検査ヘッド
が所定の検査位置に位置決めされる、請求項3に記載の
プリント配線基板の検査装置。4. The inspection head positioning / guiding device includes a guide pin provided on one of the inspection head and the inspection table, and a guide hole provided on the other of the inspection head and the inspection table. The printed circuit board inspection apparatus according to claim 3, wherein the inspection head is positioned at a predetermined inspection position by engaging the guide pin with the guide hole.
域を備えるプリント配線基板の検査を行うプリント配線
基板の検査装置であって、 上記検査ヘッドが、一つの検査領域に対応する検査プロ
ーブを備える一方、 上記基板位置決め手段が、上記プリント配線基板の各検
査領域を、上記検査プローブに対向する所定の検査位置
に順次位置決めして検査を行うように構成されている、
請求項1から請求項4のいずれかに記載のプリント配線
基板の検査装置。5. A printed wiring board inspection apparatus for inspecting a printed wiring board provided with a plurality of inspection areas corresponding to a plurality of electronic devices, wherein the inspection head includes an inspection probe corresponding to one inspection area. On the other hand, the board positioning means is configured to perform an inspection by sequentially positioning each inspection area of the printed wiring board at a predetermined inspection position facing the inspection probe,
An apparatus for inspecting a printed wiring board according to claim 1.
置決めする検査テーブルと、検査プローブを上記プリン
ト配線基板に対して接触離間可能に保持する検査ヘッド
とを備えるプリント配線基板における検査方法であっ
て、 上記検査ヘッドを検査テーブルに対して相対揺動可能に
保持する一方、 上記検査ヘッドがプリント配線基板に近接するとき、上
記検査ヘッドを所定の検査位置に位置決め誘導して検査
を行うことを特徴とする、プリント配線基板の検査方
法。6. An inspection method for a printed wiring board, comprising: an inspection table for positioning the printed wiring board at a predetermined inspection position; and an inspection head for holding an inspection probe so as to be able to contact and separate from the printed wiring board. The inspection head is held so as to be relatively swingable with respect to an inspection table, and when the inspection head is close to a printed wiring board, the inspection is performed by positioning and guiding the inspection head to a predetermined inspection position. Inspection method of printed wiring board.
プリント配線基板に近接するとき、各検査プローブを所
定の検査接点に誘導して検査を行うことを特徴とする、
請求項6に記載のプリント配線基板の検査装置。7. When a test probe held by a test head approaches a printed wiring board, each test probe is guided to a predetermined test contact to perform a test.
An inspection device for a printed wiring board according to claim 6.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9220787A JPH1152000A (en) | 1997-07-31 | 1997-07-31 | Inspection device and inspection method for printed wiring board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP9220787A JPH1152000A (en) | 1997-07-31 | 1997-07-31 | Inspection device and inspection method for printed wiring board |
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JPH1152000A true JPH1152000A (en) | 1999-02-26 |
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ID=16756570
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP9220787A Pending JPH1152000A (en) | 1997-07-31 | 1997-07-31 | Inspection device and inspection method for printed wiring board |
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