JPH11350125A - Sputtering apparatus - Google Patents
Sputtering apparatusInfo
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- JPH11350125A JPH11350125A JP16402498A JP16402498A JPH11350125A JP H11350125 A JPH11350125 A JP H11350125A JP 16402498 A JP16402498 A JP 16402498A JP 16402498 A JP16402498 A JP 16402498A JP H11350125 A JPH11350125 A JP H11350125A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、真空容器内にター
ゲットと基板とを対向して配置し、ターゲットから放出
させたスパッタ粒子によって基板の表面に薄膜を生成す
るスパッタリング装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sputtering apparatus in which a target and a substrate are arranged in a vacuum vessel so as to face each other, and a thin film is formed on the surface of the substrate by sputtered particles emitted from the target.
【0002】[0002]
【従来の技術】スパッタリング装置は、電極上にバッキ
ングプレートが固定され、このバッキングプレートに金
属溶着されたターゲットにイオンを当て、ターゲットを
スパッタして被成膜対象基板の表面に薄膜を成膜する装
置である。このようなスパッタリングを行う場合、ター
ゲットが昇温し、その温度が、ターゲットをバッキング
プレートに溶着している金属の溶融温度を越えると、タ
ーゲットがバッキングプレートから剥離することにな
る。そのようなことを防止するため、電極に冷却水路を
設け、この冷却水路に冷却水を流してバッキングプレー
トおよびターゲットを冷却することが広く行われてい
る。2. Description of the Related Art In a sputtering apparatus, a backing plate is fixed on an electrode, ions are applied to a target metal-welded to the backing plate, and the target is sputtered to form a thin film on the surface of a substrate on which a film is to be formed. Device. In the case of performing such sputtering, when the temperature of the target rises and the temperature exceeds the melting temperature of the metal that is welding the target to the backing plate, the target peels off from the backing plate. In order to prevent such a situation, it is widely practiced to provide a cooling water passage in the electrode and to flow cooling water through the cooling water passage to cool the backing plate and the target.
【0003】一般には図6、図7に例示するように、バ
ッキングプレート23は、その表面にターゲット24が
溶着されており、その裏面が電極21に形成された蛇行
した冷却水路25に接するように、電極21に固定され
ている。そして、冷却水路25に冷却水導入口26から
冷却水28が供給され、この冷却水28は冷却水路25
を蛇行して流れたのち、冷却水排出口27から排出され
る。これによって昇温しようとする、ターゲット24及
びバッキングプレート23が冷却される。Generally, as shown in FIGS. 6 and 7, a backing plate 23 has a target 24 welded to the surface thereof, and the back surface thereof is in contact with a meandering cooling water channel 25 formed on the electrode 21. , Electrodes 21. Cooling water 28 is supplied from a cooling water inlet 26 to the cooling water passage 25, and the cooling water 28 is supplied to the cooling water passage 25.
, And is discharged from the cooling water discharge port 27. As a result, the target 24 and the backing plate 23 to be heated are cooled.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、かかる
従来の電極21は、蛇行した冷却水路25の全長が長い
ため、冷却水導入口26の付近と冷却水排出口27の付
近とでは冷却水28の温度差が大きく、ターゲット24
およびバッキングプレート23が均一に冷却されないと
いう問題がある。However, in the conventional electrode 21, since the entire length of the meandering cooling water channel 25 is long, the cooling water 28 near the cooling water inlet 26 and the cooling water outlet 27 is not provided. The temperature difference is large and the target 24
In addition, there is a problem that the backing plate 23 is not cooled uniformly.
【0005】そこで本発明は、ターゲットおよびバッキ
ングプレートの冷却を、冷却効率が良くかつ均一に行え
るスパッタリング装置を提供することを目的とする。Accordingly, an object of the present invention is to provide a sputtering apparatus capable of uniformly cooling a target and a backing plate with good cooling efficiency.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明のスパッタリング装置は、電極はスパッタ電極
面に設置された銅板とスパッタ電極本体の間に冷却水路
を形成し、この冷却水路を、ターゲットと同一状の平面
形状である主冷却水路と、主冷却水路の周囲に形成され
た副冷却水路とにより構成し、冷却水流を乱流としてい
る。In order to solve this problem, in a sputtering apparatus according to the present invention, an electrode forms a cooling water passage between a copper plate provided on a sputter electrode surface and a sputter electrode main body, and this cooling water passage is formed. The main cooling water passage having the same planar shape as the target and a sub cooling water passage formed around the main cooling water passage, and the cooling water flow is turbulent.
【0007】この構成によって、冷却効率が高まり、バ
ッキングプレートおよび、ターゲットが均一に冷却でき
るようになる。[0007] With this configuration, the cooling efficiency is enhanced, and the backing plate and the target can be cooled uniformly.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、ガス供給および排気機能を有する真空容器内に、基
板支持部に設置された基板と、この基板に対向しかつ電
極側に設置されたターゲットとを有し、基板をターゲッ
トに対して静止した状態で成膜するスパッタリング装置
において、電極は、スパッタ電極面に銅板が設置され、
この銅板に、スパッタリング材料のターゲットを溶着し
たバッキングプレートが固定され、前記銅板とスパッタ
電極本体の間に冷却水路が形成され、この冷却水路が、
ターゲットと同一状の平面形状である主冷却水路と、主
冷却水路の周囲に形成された副冷却水路とにより構成さ
れていることを特徴とするスパッタリング装置であり、
冷却水路の全長を短縮することで、冷却水導入口の付近
と冷却水排出口の付近で冷却水の温度差が小さくなり、
ターゲットおよびバッキングプレートを均一に冷却でき
るという作用を有する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to a first aspect of the present invention is directed to a vacuum vessel having a gas supply and exhaust function, comprising: a substrate provided on a substrate supporting portion; In a sputtering apparatus having an installed target and forming a film in a state where the substrate is stationary with respect to the target, the electrode is a copper plate installed on the sputter electrode surface,
A backing plate on which a sputtering material target is welded is fixed to the copper plate, a cooling channel is formed between the copper plate and the sputter electrode body, and the cooling channel is
A sputtering apparatus characterized by being constituted by a main cooling water passage having the same planar shape as the target, and a sub cooling water passage formed around the main cooling water passage,
By shortening the entire length of the cooling water channel, the temperature difference between the cooling water near the cooling water inlet and the cooling water outlet decreases,
This has the function of uniformly cooling the target and the backing plate.
【0009】本発明の請求項2に記載の発明は、請求項
1に記載のスパッタリング装置において、冷却水流が乱
流となるようにしたことを特徴としたものであり、冷却
水流が乱流となることで冷却効率が高まるという作用を
有する。According to a second aspect of the present invention, in the sputtering apparatus of the first aspect, the cooling water flow is turbulent. This has the effect of increasing the cooling efficiency.
【0010】以下、本発明の実施の形態について、図1
〜図5を用いて説明する。図1は本発明の一実施形態に
係わるスパッタリング装置の概略構成図、図2はその電
極の斜視図、図3はスパッタ電極本体を表面側から見た
斜視図、図4は電極の断面図、図5は図4のX−X矢視
図である。Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of the electrode, FIG. 3 is a perspective view of a sputter electrode body viewed from the front side, FIG. FIG. 5 is a view taken in the direction of arrows XX in FIG.
【0011】図1において、真空容器11はガス供給お
よび排気機能を有する。すなわち、真空容器11は、真
空排気口12を通して真空ポンプ(図示せず)に接続さ
れており、真空ポンプを駆動することによって内部が高
真空状態とされる。この高真空状態となった真空容器1
1の内部には、ガス導入口13を通してアルゴンガスな
どの放電ガスが導入される。In FIG. 1, a vacuum vessel 11 has a gas supply and exhaust function. That is, the vacuum vessel 11 is connected to a vacuum pump (not shown) through the vacuum exhaust port 12, and the inside thereof is brought into a high vacuum state by driving the vacuum pump. The vacuum vessel 1 in this high vacuum state
A discharge gas such as an argon gas is introduced through the gas inlet 13 into the inside 1.
【0012】前記真空容器11内には、電極10に取付
けられたターゲット4と、電極10の直上に配置された
マグネット14と、ターゲット4の外周に配置されたア
ースシールド15と、ターゲット4に対向するように配
置された成膜対象で角形平板状のガラス基板(基板)1
6と、このガラス基板16の周縁部をターゲット4から
マスキングするよう配置されたマスク17とが配設され
ている。In the vacuum vessel 11, a target 4 attached to the electrode 10, a magnet 14 disposed immediately above the electrode 10, an earth shield 15 disposed on the outer periphery of the target 4, and Plate-like glass substrate (substrate) 1 with a film-forming target arranged so as to be
6 and a mask 17 arranged so as to mask the periphery of the glass substrate 16 from the target 4.
【0013】前記ガラス基板16は、基板取付台18か
らの複数本の支持ピン19上に載置されて支持されてお
り、これら基板取付台18や支持ピン19により基板支
持部の一例が構成される。前記マスク17は、真空容器
11の内面側からのマスク取付板20に固定されてい
る。The glass substrate 16 is mounted and supported on a plurality of support pins 19 from a substrate mount 18, and the substrate mount 18 and the support pins 19 constitute an example of a substrate support. You. The mask 17 is fixed to a mask mounting plate 20 from the inner side of the vacuum vessel 11.
【0014】以上の構成のスパッタリング装置におい
て、真空容器11内を例えばマルゴンガスなどの放電ガ
スの雰囲気とし、電源部から電極10を介してターゲッ
ト4に電圧を印加することによりプラズマを生成し、高
いエネルギーを有するイオンをスパッタリング材料のタ
ーゲット4に入射させることによって、このターゲット
4からスパッタ粒子を弾き出し、そのスパッタ粒子をガ
ラス基板16の表面に堆積させることにより、ガラス基
板16の表面に薄膜を生成(形成)するものである。In the sputtering apparatus having the above-described structure, the inside of the vacuum vessel 11 is set to an atmosphere of a discharge gas such as Margon gas, and a voltage is applied from the power source to the target 4 via the electrode 10 to generate plasma, thereby obtaining high energy. Is incident on the target 4 of the sputtering material to sputter the sputtered particles from the target 4 and deposit the sputtered particles on the surface of the glass substrate 16, thereby forming (forming) a thin film on the surface of the glass substrate 16. ).
【0015】次に、本発明の要旨とする構成である電極
10について説明する。図2〜図5において、スパッタ
電極本体1の表面であるスパッタ電極面1aには銅板2
が設置され、この銅板2の表面上には、ターゲット4が
溶着されたバッキングプレート3が設置され、そしてス
パッタ電極本体1、銅板2、バッキングプレート3は、
締結により固定されている。これらスパッタ電極本体
1、銅板2、バッキングプレート3は、厚さは異なるが
同径状の円盤状に形成されており、またターゲット4
は、これらに対して小径の円盤状に形成されている。Next, a description will be given of the electrode 10 which is a constitution of the present invention. 2 to 5, a copper plate 2 is provided on a sputter electrode surface 1a which is a surface of the sputter electrode body 1.
A backing plate 3 on which a target 4 is welded is provided on the surface of the copper plate 2, and the sputter electrode body 1, the copper plate 2, and the backing plate 3
It is fixed by fastening. The sputter electrode body 1, the copper plate 2, and the backing plate 3 are formed in a disk shape having different thicknesses but the same diameter.
Are formed in a disk shape having a small diameter with respect to these.
【0016】なお、スパッタ電極本体1と銅板2の間、
及びバッキングプレート3と銅板2の間には、それぞれ
Oリング(図示せず。)が設置され、これにより外部と
の気密を保っている。Note that, between the sputter electrode body 1 and the copper plate 2,
An O-ring (not shown) is provided between the backing plate 3 and the copper plate 2 to maintain airtightness with the outside.
【0017】前記スパッタ電極本体1と銅板2の間、す
なわちスパッタ電極本体1には冷却水路5が形成され、
この冷却水路5は、ターゲット4と同一状の平面形状で
ある主冷却水路5Aと、この主冷却水路5Aを取り囲む
ように主冷却水路5Aの周囲に形成された一対の副冷却
水路5Bおよび5Cにより構成されている。その際に、
主冷却水路5Aの厚さtは薄く(例えば3mm以下)、
また副冷却水路5Bおよび5Cの厚さTは、主冷却水路
5Aの厚さtの2倍以上となっている。なお、一方の副
冷却水路5Bに冷却水導入口6が設けられ、また他方の
副冷却水路5Cに冷却水排出口7が設けられている。A cooling channel 5 is formed between the sputter electrode body 1 and the copper plate 2, that is, in the sputter electrode body 1,
The cooling water channel 5 includes a main cooling water channel 5A having the same planar shape as the target 4 and a pair of sub cooling water channels 5B and 5C formed around the main cooling water channel 5A so as to surround the main cooling water channel 5A. It is configured. At that time,
The thickness t of the main cooling water passage 5A is thin (for example, 3 mm or less),
The thickness T of the sub cooling water passages 5B and 5C is at least twice the thickness t of the main cooling water passage 5A. A cooling water inlet 6 is provided in one sub cooling water passage 5B, and a cooling water outlet 7 is provided in the other sub cooling water passage 5C.
【0018】次に、上記した電極10のスパッタリング
中の動作について説明する。スパッタリング中、冷却水
導入口6から冷却水路5へ冷却水8が流される。このと
き、副冷却水路5Bおよび5Cの厚さTが主冷却水路5
Aの厚さtの2倍以上となっているため、まず副冷却水
路5Bが冷却水8で満たされ、そして主冷却水路5Aに
冷却水流(矢印)に示したように流れた後、冷却水排出
口7の周囲に形成された副冷却水路5Cに流れ込み、冷
却水排出口7より排出されていく。これによりバッキン
グプレート3及びターゲット4が冷却される。Next, the operation during sputtering of the electrode 10 will be described. During the sputtering, the cooling water 8 flows from the cooling water inlet 6 to the cooling water passage 5. At this time, the thickness T of the sub cooling water passages 5B and 5C is
Since the thickness t is twice or more the thickness t of A, the sub cooling water passage 5B is first filled with the cooling water 8 and flows into the main cooling water passage 5A as shown by the cooling water flow (arrow), and then the cooling water The cooling water flows into the sub cooling water passage 5C formed around the outlet 7 and is discharged from the cooling water outlet 7. Thereby, the backing plate 3 and the target 4 are cooled.
【0019】このような冷却において、主冷却水路5A
の全長が従来の冷却水路より短いため、冷却水導入口6
の付近の冷却水8と冷却水排出口7の付近の冷却水8の
温度差が小さく、バッキングプレート3及びターゲット
4を均一に冷却することができる。In such cooling, the main cooling water passage 5A
Of the cooling water inlet 6
And the temperature difference between the cooling water 8 near the cooling water outlet 7 and the cooling water 8 near the cooling water discharge port 7 is small, so that the backing plate 3 and the target 4 can be uniformly cooled.
【0020】上記のような実施の形態において、冷却水
流を乱流としている。すなわち、In the above embodiment, the cooling water flow is turbulent. That is,
【0021】[0021]
【数1】Re=v×d×ρ÷η Reレイノルズ数 v 流速 d 水力学的直径 ρ 密度 η 粘性係数 で定義されるレイノルズ数Reで冷却水圧力を調整し、
冷却水流速をRe>3000となるような冷却水流速と
することで冷却水流を乱流とし、これにより冷却効率を
向上させる。その他の電極の形状、動作などは上記した
実施の形態と同一なため省略する。Re = v × d × ρ ÷ η Re Reynolds number v Flow velocity d Hydraulic diameter ρ Density η Adjust the cooling water pressure with Reynolds number Re defined by viscosity coefficient,
By setting the cooling water flow rate such that Re> 3000, the cooling water flow is made turbulent, thereby improving the cooling efficiency. Other electrode shapes, operations, and the like are the same as those in the above-described embodiment, and a description thereof will be omitted.
【0022】なお、上記実施の形態においては、ターゲ
ット4が円盤状(円形状)のものについて説明したが、
これは角形ターゲットを使用しても実施可能である。In the above embodiment, the target 4 has a disk shape (circular shape).
This can also be done using a square target.
【0023】[0023]
【発明の効果】本発明によれば、電極に形成された冷却
水路の全長が従来の冷却水路より短いため、冷却水導入
口の付近の冷却水と冷却水排出口の付近の冷却水の温度
差が小さく、バッキングプレート及びターゲットを均一
に冷却することができる。また冷却水を乱流とすること
で、冷却効率を向上できる。According to the present invention, since the total length of the cooling water passage formed in the electrode is shorter than that of the conventional cooling water passage, the temperature of the cooling water near the cooling water inlet and the temperature of the cooling water near the cooling water outlet are reduced. The difference is small, and the backing plate and the target can be cooled uniformly. By making the cooling water turbulent, the cooling efficiency can be improved.
【図1】本発明の一実施の形態を示すもので、スパッタ
リング装置の概略構成図である。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, and is a schematic configuration diagram of a sputtering apparatus.
【図2】本発明の一実施の形態を示すもので、電極の斜
視図である。FIG. 2 shows one embodiment of the present invention, and is a perspective view of an electrode.
【図3】本発明の一実施の形態を示すもので、スパッタ
電極本体を表面側から見た斜視図である。FIG. 3 shows one embodiment of the present invention, and is a perspective view of a sputter electrode main body viewed from a front surface side.
【図4】本発明の一実施の形態を示すもので、電極の断
面図である。FIG. 4 shows one embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view of an electrode.
【図5】本発明の一実施の形態を示すもので、図4のX
−X矢視図である。FIG. 5 shows an embodiment of the present invention, and corresponds to X in FIG.
FIG.
【図6】従来例を示すもので、電極の断面図である。FIG. 6 shows a conventional example and is a cross-sectional view of an electrode.
【図7】従来例を示すもので、図6のY−Y矢視図であ
る。7 shows a conventional example, and is a view taken along the line YY in FIG.
1 スパッタ電極本体 1a スパッタ電極面 2 銅板 3 バッキングプレート 4 ターゲット 5 冷却水路 5A 主冷却水路 5B 副冷却水路 5C 副冷却水路 6 冷却水導入口 7 冷却水排出口 8 冷却水 10 電極 11 真空容器 12 真空排気口 13 ガス導入口 14 マグネット 15 アースシールド 16 ガラス基板(基板) t 主冷却水路の厚さ T 副冷却水路の厚さ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sputter electrode main body 1a Sputter electrode surface 2 Copper plate 3 Backing plate 4 Target 5 Cooling water channel 5A Main cooling water channel 5B Sub cooling water channel 5C Sub cooling water channel 6 Cooling water inlet 7 Cooling water outlet 8 Cooling water 10 Electrode 11 Vacuum container 12 Vacuum Exhaust port 13 Gas inlet 14 Magnet 15 Earth shield 16 Glass substrate (substrate) t Thickness of main cooling water channel T Thickness of sub cooling water channel
フロントページの続き (72)発明者 中野 喜之 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内Continuation of the front page (72) Inventor Yoshiyuki Nakano 1006 Kazuma Kadoma, Kadoma City, Osaka Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Claims (2)
器内に、基板支持部に設置された基板と、この基板に対
向しかつ電極側に設置されたターゲットとを有し、基板
をターゲットに対して静止した状態で成膜するスパッタ
リング装置において、電極は、スパッタ電極面に銅板が
設置され、この銅板に、スパッタリング材料のターゲッ
トを溶着したバッキングプレートが固定され、前記銅板
とスパッタ電極本体の間に冷却水路が形成され、この冷
却水路が、ターゲットと同一状の平面形状である主冷却
水路と、主冷却水路の周囲に形成された副冷却水路とに
より構成されていることを特徴とするスパッタリング装
置。1. A vacuum vessel having a gas supply and exhaust function, comprising: a substrate provided on a substrate support, and a target opposed to the substrate and provided on an electrode side. In a sputtering apparatus that forms a film in a stationary state, an electrode is provided with a copper plate on a sputter electrode surface, and a backing plate on which a target of a sputtering material is welded is fixed to the copper plate, and between the copper plate and the sputter electrode body. A cooling water passage is formed, and the cooling water passage is constituted by a main cooling water passage having the same planar shape as the target and a sub cooling water passage formed around the main cooling water passage. .
特徴とする請求項1記載のスパッタリング装置。2. The sputtering apparatus according to claim 1, wherein the cooling water flow is turbulent.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16402498A JPH11350125A (en) | 1998-06-12 | 1998-06-12 | Sputtering apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16402498A JPH11350125A (en) | 1998-06-12 | 1998-06-12 | Sputtering apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11350125A true JPH11350125A (en) | 1999-12-21 |
Family
ID=15785354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16402498A Pending JPH11350125A (en) | 1998-06-12 | 1998-06-12 | Sputtering apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11350125A (en) |
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-
1998
- 1998-06-12 JP JP16402498A patent/JPH11350125A/en active Pending
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