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JPH11330190A - 基板の搬送方法及び処理システム - Google Patents

基板の搬送方法及び処理システム

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Publication number
JPH11330190A
JPH11330190A JP6512199A JP6512199A JPH11330190A JP H11330190 A JPH11330190 A JP H11330190A JP 6512199 A JP6512199 A JP 6512199A JP 6512199 A JP6512199 A JP 6512199A JP H11330190 A JPH11330190 A JP H11330190A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
arm
predetermined procedure
processing
numbered
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Application number
JP6512199A
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English (en)
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JP3647668B2 (ja
Inventor
Hiromi Taniyama
博己 谷山
Hiroyuki Yasutaka
博之 安高
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Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
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Publication date
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Priority to JP6512199A priority Critical patent/JP3647668B2/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 処理装置における基板の搬入出に係る時間を
短縮し,所定の手順で最後の処理装置に対しては第2の
アーム及び第1のアームで基板の搬入出を行う,基板の
搬送方法及び処理システムを提供する。 【解決手段】 搬入出口6a,7a,8a,9a,10
a,11aを開閉するシャッタ30を備えた処理装置
6,7,8,9,10,11を所定の手順に従ってウェ
ハWを処理できるように配置した洗浄処理部3で,上か
ら順に重ねるように第1のアーム20,第2のアーム2
1,第3のアーム22を配置した搬送装置3によってウ
ェハWを搬送する搬送方法において,最後の処理装置8
へ第2のアーム21によってウェハWを搬入でき,第3
のアーム22によってウェハWを搬出できるように,所
定の手順に必要な処理装置の数が全部で奇数個の場合と
偶数個の場合とでは,搬送装置3の搬送工程を切り換え
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は,例えばLCD基板
や半導体ウェハのような基板を搬送する基板の搬送方法
及び処理システムに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体デバイスの製造工程においては,
例えば半導体ウェハ(以下,「ウェハ」という)の基板
の表面を清浄な状態にすることが極めて重要である。そ
のため,ウェハの表面に付着したパーティクル,有機汚
染物,金属不純物等のコンタミネーションを除去するた
めに洗浄処理システムが使用されている。ウェハを洗浄
する洗浄処理システムの一つして,枚葉型の処理装置を
用いた洗浄処理システムが知られている。
【0003】この洗浄処理システムには,ウェハを25
枚収納できるキャリアを数個載置し,洗浄前のウェハW
をキャリアから取り出すと共に,洗浄後のウェハをキャ
リアに収納する構成になっている取出収納部と,ウェハ
に対して所定の洗浄処理,乾燥処理を行う各処理装置を
備えた洗浄処理部とが備えられている。このような洗浄
処理システムにおける取出収納部,洗浄処理部の各処理
装置間のウェハの搬送は,ウェハを保持する第1のアー
ム,第2のアーム及び第3のアームを上から順に重ねる
ように配置した搬送装置によって行われている。
【0004】この搬送装置は,中段の第2のアーム及び
下段の第3のアームで,取出収納部に載置されたキャリ
アから洗浄前のウェハを取り出し,各処理装置に搬送す
る動作を行う。一方,予定していた処理工程が終了する
と,ウェハの清浄度の維持から,上からパーティクルが
落ちてくる心配のない上段の第1のアームで,最後に処
理を施す処理装置からウェハを搬出し,取出収納部に載
置されたキャリアに収納する動作を行う。このように第
1のアームと,第2のアーム及び第3のアームとを,処
理工程の前後で使い分けている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで,図18に示
すように,従来の搬送装置100の搬送工程では,最後
に処理を施す処理装置101からウェハWを搬出するの
は,第1のアーム102と決まっているものの,この処
理装置101にウェハWを搬入するのは,第2のアーム
103又は第3のアーム104のどちらか特に決まって
いない。しかしながら,処理装置101から洗浄処理後
のウェハを搬出し,処理装置101に洗浄処理前のウェ
ハを搬入する入れ替え時に,近接した第1のアーム10
2及び第2のアーム103だけでなく,隔離した第1の
アーム102及び第3のアーム104でも交互に使用で
きるように,ウェハWの搬入出口105の開口面積が広
くなっている。これにより,ウェハの搬入出の際には,
処理装置101の内部雰囲気と外部雰囲気とが連通しや
すくなり,処理装置101の気密性を低下させる。
【0006】また,この処理装置101において,搬入
出口105が第1のアーム102,第2のアーム103
及び第3のアーム104の3段分の高さに対応できるだ
けの,縦幅を有しているため,洗浄処理中には搬入出口
105を塞ぎ,洗浄処理前後は搬入出口105を開放す
るシャッタ106の昇降距離が,長くなる。これによ
り,シャッタ106の昇降移動に時間がかかる。通常,
処理装置101の躯体構造等は,量産し易いように規格
化されており,洗浄処理部に備えられた他の処理装置の
搬入出口も同様の縦幅になっており,従来の処理装置1
01が有している問題点は,洗浄処理部に備えられたそ
の他処理装置も同様に有することになる。洗浄処理シス
テム全体で観ると,かなりのスループットの損失となり
改善が望まれている。
【0007】そして,処理装置100内にウェハWを搬
入出する際において,第2のアーム103によってウェ
ハWを処理装置100に搬入し,第1のアーム102に
よってウェハWを処理装置100から搬出する搬送工程
に比べ,第3のアーム104によってウェハWを処理装
置100に搬入し,第1のアーム102によってウェハ
Wを処理装置100から搬出する搬送工程は,全体的に
搬送装置100の上下方向の移動距離が長くなり,スル
ープットの低下を招くおそれがある。
【0008】従って本発明は,従来の処理装置が有する
上記問題点に鑑みてなされたものであり,その目的は,
処理装置における基板の搬入出に係る時間を短縮し,所
定の手順で最後の処理装置に対しては第2のアーム及び
第1のアームで基板の搬入出を行う,基板の搬送方法及
び処理システムを提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに,請求項1の発明は,基板が取り出されると共に,
基板が収納される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉
する開閉機構を備えた処理装置を所定の手順に従って基
板を処理できるように複数配置した処理部との間で,上
から順に重ねるように配置された第1のアーム,第2の
アーム,第3のアームによって基板を搬送する搬送方法
において,所定の手順に必要な処理装置の数が全部で奇
数個の場合には,前記第2のアームによって前記取出収
納部から基板を取り出し,所定の手順で奇数番目の処理
装置へは前記第2のアームによって基板を搬入し,所定
の手順で最後の処理装置を除いた奇数番目の処理装置か
らは第3のアームによって基板を搬出し,所定の手順で
偶数番目の処理装置へは前記第3のアームによって基板
を搬入し,所定の手順で偶数番目の処理装置からは前記
第2のアームによって基板を搬出し,所定の手順で最後
の処理装置からは前記第1のアームによって基板を搬出
し,前記取出収納部に収納する工程に切り換え,所定の
手順に必要な処理装置の数が全部で偶数個の場合には,
前記第3のアームによって前記取出収納部から基板を取
り出し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3
のアームによって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目
の処理装置からは前記第2のアームによって基板を搬出
し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のア
ームによって基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装
置を除いた偶数番目の処理装置からは前記第3のアーム
によって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置か
らは前記第1のアームによって基板を搬出し,前記取出
収納部に収納する工程に切り換えることを特徴とする。
【0010】かかる方法によれば,所定の手順に必要な
処理装置の数が全部で奇数個の場合には,最初に第2の
アームによって取出収納部から基板を取り出し,1番目
の処理装置に基板を搬入する。1番目の処理装置で所定
の処理が終了した後,第3のアームによって,1番目の
処理装置から基板を搬出し,2番目の処理装置に基板を
搬入する。そして,2番目の処理装置で所定の処理が終
了した後,再び第2のアームによって,2番目の処理装
置から基板を搬出し,以後,奇数番目の処理装置と偶数
番目の処理装置とで,上記の如く搬送工程が繰り返され
ることになる。そして,最後の処理装置は必然的に奇数
番目の処理装置になるので,第2のアームによって基板
を搬入することになる。最後の処理装置で所定の処理が
終了した後,第1のアームによって,最後の処理装置か
ら基板を搬出し,取出収納部に基板を収納する。
【0011】一方,所定の手順に必要な処理装置の数が
全部で偶数個の場合には,最初に第3のアームによって
取出収納部から基板を取り出し,1番目の処理装置に基
板を搬入する。1番目の処理装置で所定の処理が終了し
た後,第2のアームによって,1番目の処理装置から基
板を搬出し,2番目の処理装置に基板を搬入する。そし
て,2番目の処理装置で所定の処理が終了した後,再び
第3のアームによって,2番目の処理装置から基板を搬
出し,以後,奇数番目の処理装置と偶数番目の処理装置
とで,上記の如く搬送工程が繰り返されることになる。
そして,最後の処理装置は必然的に偶数番目の処理装置
になるので,第2のアームによって基板を搬入すること
になる。最後の処理装置で所定の処理が終了した後,第
1のアームによって,最後の処理装置から基板を搬出
し,取出収納部へ基板を収納する。こうして,所定の手
順に必要な処理装置の数が奇数又は偶数にかかわらず,
所定の手順で最後の処理装置を除いた処理装置では,第
2のアーム及び第3のアームを交互に使用してウェハの
搬入出を行い,所定の手順で最後の処理装置では,第1
のアーム及び第2のアームを交互に使用してウェハの搬
入出を行う。そして,これらのことは,基板の搬入出口
を,アーム2段分の高さに対応できるだけの縦幅にすれ
ば,十分な基板の搬入出を行えることを意味する。従っ
て,例えば,搬入出口を開閉する開閉機構は,従来に比
べて,搬入出口を速やかに開閉することができるように
なり,処理装置におけるウェハの搬入出に係る時間を短
縮することができる。また,搬入出口の開口面積は小さ
くなり,例えば,薬液成分を含んだ処理装置の内部雰囲
気が外部雰囲気に拡散したり,外部のパーティクル等が
処理装置の内部に侵入することを最小限に押さえること
ができる。また,最後の処理装置では,常に,第2のア
ーム及び第1のアームのアーム2段分の移動距離で済む
ようになる。
【0012】請求項2の発明は,基板が取り出されると
共に,基板が収納される取出収納部と,基板の搬入出口
を開閉する開閉機構を備えた処理装置を所定の手順に従
って基板を処理できるように複数配置した処理部との間
で,上から順に重ねるように配置された第1のアーム,
第2のアーム,第3のアームと,上から順に重ねるよう
に配置された第4のアーム,第5のアームとによって基
板を搬送する搬送方法において,所定の手順に必要な処
理装置の数が全部で奇数個の場合には,前記第5のアー
ムによって前記取出収納部から基板を取り出し,その後
に前記第2のアームに受け渡し,所定の手順で奇数番目
の処理装置へは前記第2のアームによって基板を搬入
し,所定の手順で最後の処理装置を除いた奇数番目の処
理装置からは第3のアームによって基板を搬出し,所定
の手順で偶数番目の処理装置へは前記第3のアームによ
って基板を搬入し,所定の手順で偶数番目の処理装置か
らは前記第2のアームによって基板を搬出し,所定の手
順で最後の処理装置からは前記第1のアームによって基
板を搬出し,その後に前記第4のアームに受け渡し,前
記第4のアームによって前記取出収納部に基板を収納す
る工程に切り換え,所定の手順に必要な処理装置の数が
全部で偶数個の場合には,前記第5のアームによって前
記取出収納部から基板を取り出し,その後に前記第3の
アームに受け渡し,所定の手順で奇数番目の処理装置へ
は前記第3のアームによって基板を搬入し,所定の手順
で奇数番目の処理装置からは前記第2のアームによって
基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前
記第2のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最
後の処理装置を除いた偶数番目の処理装置からは前記第
3のアームによって基板を搬出し,所定の手順で最後の
処理装置からは前記第1のアームによって基板を搬出
し,その後に前記第4のアームに受け渡し,前記第4の
アームによって前記取出収納部に基板を収納する工程に
切り換えることを特徴とする。
【0013】かかる方法によれば,第5のアームによっ
て取出収納部から処理前の基板を取り出すと共に,第4
のアームによって取出収納部に処理後の基板を収納し,
第1のアーム,第2のアーム及び第3のアームによっ
て,所定の手順で処理装置に対して基板を搬入出するの
で,請求項1と同様にスループットを向上させ,薬液雰
囲気の拡散やパーティクル等の侵入を最小限に押さえる
ことができる。
【0014】請求項2に記載の搬送方法において,請求
項3に記載したように,前記第1のアーム,第2のアー
ム,第3のアームと,前記第4のアーム,第5のアーム
との間の基板の受け渡しをバッファ部を介して行っても
良い。
【0015】請求項4に記載したように,前記処理装置
においては,基板の表面を処理することが好ましい。な
お,基板の表面とは,基板の上面と下面の一方又は両方
のことを意味するものとする。
【0016】また,請求項5の発明は,基板が取り出さ
れると共に,基板が収納される取出収納部と,基板の搬
入出口を開閉する開閉機構を備えた処理装置を所定の手
順に従って基板を処理できるように複数配置した処理部
と,上から順に重ねるように配置された第1のアーム,
第2のアーム,第3のアームによって基板を搬送する搬
送装置とを備えた基板の処理システムにおいて,所定の
手順に必要な処理装置の数が全部で奇数個の場合には,
前記第2のアームによって前記取出収納部から基板を取
り出し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第2
のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最後の処
理装置を除いた奇数番目の処理装置からは前記第3のア
ームによって基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の処
理装置へは前記第3のアームによって基板を搬入し,所
定の手順で偶数番目の処理装置からは前記第2のアーム
によって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置か
らは前記第1のアームによって基板を搬出し,前記取出
収納部に収納するように前記搬送装置を構成し,所定の
手順に必要な処理装置の数が全部で偶数個の場合には,
前記第3のアームによって前記取出収納部から基板を取
り出し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3
のアームによって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目
の処理装置からは前記第2のアームによって基板を搬出
し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のア
ームによって基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装
置を除いた偶数番目の処理装置からは前記第3のアーム
によって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置か
らは前記第1のアームによって基板を搬出し,前記取出
収納部に収納するように前記搬送装置を構成したことを
特徴とする。
【0017】かかる構成によれば,請求項1に記載の搬
送方法を好適に実施することができる。これにより,所
定の手順に必要な処理装置の数が奇数又は偶数にかかわ
らず,最後の処理装置では,搬送装置の昇降動作は,ア
ーム2段分の移動距離で済む。従って,搬送装置の高耐
久性や処理システムの省力エネルギー化を実現できる。
また,上段の第1のアームによって基板を取出収納部に
収納するので,例えばアームによる発塵が基板に対して
上から落下することがない。従って,搬送装置は,清浄
度を保ちながら例えば処理後の基板を取出収納部に収納
することができる。
【0018】請求項6の発明は,基板が取り出されると
共に,基板が収納される取出収納部と,基板の搬入出口
を開閉する開閉機構を備えた処理装置を所定の手順に従
って基板を処理できるように複数配置した処理部と,上
から順に重ねるように配置された第1のアーム,第2の
アーム,第3のアームによって基板を搬送する第1の搬
送装置と,上から順に重ねるように配置された第4のア
ーム,第5のアームによって基板を搬送する第2の搬送
装置とを備えた基板の処理システムにおいて,所定の手
順に必要な処理装置の数が全部で奇数個の場合には,前
記第5のアームによって前記取出収納部から基板を取り
出し,その後に前記第2のアームに受け渡し,所定の手
順で奇数番目の処理装置へは前記第2のアームによって
基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装置を除いた奇
数番目の処理装置からは前記第3のアームによって基板
を搬出し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第
3のアームによって基板を搬入し,所定の手順で偶数番
目の処理装置からは前記第2のアームによって基板を搬
出し,所定の手順で最後の処理装置からは前記第1のア
ームによって基板を搬出し,その後に前記第4のアーム
に受け渡し,前記第4のアームによって前記取出収納部
に基板を収納するように前記第1の搬送装置及び第2の
搬送装置を構成し,所定の手順に必要な処理装置の数が
全部で偶数個の場合には,前記第5のアームによって前
記取出収納部から基板を取り出し,その後に前記第3の
アームに受け渡し,所定の手順で奇数番目の処理装置へ
は前記第3のアームによって基板を搬入し,所定の手順
で奇数番目の処理装置からは前記第2のアームによって
基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前
記第2のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最
後の処理装置を除いた偶数番目の処理装置からは前記第
3のアームによって基板を搬出し,所定の手順で最後の
処理装置からは前記第1のアームによって基板を搬出
し,その後に前記第4のアームに受け渡し,前記第4の
アームによって前記取出収納部に基板を収納するように
前記第1の搬送装置及び第2の搬送装置を構成したこと
を特徴とする。
【0019】かかる構成によれば,請求項2に記載の搬
送方法を好適に実施することができる。また,第1の搬
送装置の高耐久性や処理システムの省力エネルギー化を
実現できる。また,上段の第4のアームによって基板を
取出収納部に収納するので,第2の搬送装置は,清浄度
を保ちながら例えば処理後の基板を取出収納部に収納す
ることができる。
【0020】請求項7に記載したように,前記第1の搬
送装置と前記第2の搬送装置との間の基板の受け渡しを
介するバッファ部を設けても良い。
【0021】請求項8に記載したように,前記処理装置
においては,基板の表面を処理することが好ましい。な
お,基板の表面とは,請求項4と同様に,基板の上面と
下面の一方又は両方のことを意味するものとする。
【0022】
【発明の実施の形態】以下,本発明の好ましい実施の形
態を,基板の一例としてウェハを洗浄処理する処理装置
を複数備えた洗浄処理システムに基づいて説明する。図
1は,洗浄処理システム1の平面図であり,図2は,そ
の斜視図である。この洗浄処理システム1は,キャリア
C単位でウェハWを搬入し,ウェハWの表面を一枚ずつ
洗浄,乾燥を行い,キャリアC単位でウェハWを搬出す
る構成になっている。なお,ここでウェハWの表面と
は,ウェハWの上面と下面の一方又は両方のことを意味
するものとする。
【0023】この洗浄処理システム1は,ウェハWを収
納するキャリアCを載置する取出収納部2と,取出収納
部2に載置されたキャリアCから処理工程前の一枚ずつ
ウェハWを取り出すと共に,処理工程後のウェハWをキ
ャリアC内に一枚ずつ収納する搬送装置3と,ウェハW
に対して所定の洗浄処理,乾燥処理を行う各処理装置6
〜11を備えた洗浄処理部4とを備えている。
【0024】取出収納部2は,ウェハWを25枚収納し
たキャリアCを2個載置できる構成になっている。図1
に示すように,さらに,取出収納部2は,取出領域12
と収納領域13とに区画されている。取出領域12は,
洗浄処理システム1外から搬送されてきた洗浄前のウェ
ハWを25枚収納したキャリアCを載置し,収納領域1
3は,洗浄処理システム1内で洗浄処理されたウェハW
を収納可能なキャリアCを載置する構成になっている。
こうして取出収納部2において,洗浄前のウェハWをキ
ャリアC単位で洗浄処理システム1に搬入して洗浄に付
するまでの動作が行われ,また,洗浄処理部4で洗浄,
乾燥されたウェハWをキャリアCに装填後キャリアC単
位で搬出するようになっている。
【0025】搬送装置3は,洗浄処理システム1では,
取出領域12のキャリアCから取り出したウェハWを所
定の手順に従って処理装置6〜8の間で搬送した後に,
収納領域13のキャリアCにウェハWを収納するまでの
搬送工程を行うように構成されている。
【0026】洗浄処理部4には,処理装置6,7,8
が,所定の手順に従って処理を行えるように横並びに配
置されている。これらの下方には,処理装置9,10,
11が,処理装置6〜8と同様に,所定の手順に従って
処理を行えるように横並びに配置されている。そして,
処理装置6〜8及び処理装置9〜11では同時に処理が
進行できる構成になっている。なお,以下で処理装置6
〜8について述べることは,特に断りが無ければ,処理
装置9〜11にも該当するものとし,処理装置9〜11
の重複説明を省略する。
【0027】なお以上の配列,これら処理装置の組合わ
せは,ウェハWに対する洗浄処理の種類によって任意に
組み合わせることができる。例えば,ある処理装置を減
じたり,逆にさらに他の処理装置を付加してもよい。さ
らに,この洗浄処理システム1は,所定の手順に従い,
ウェハWを処理するのに必要な処理装置の数を1個,2
個又は3個に変更できるようになっている。例えば,処
理装置7,8のみでウェハWの洗浄処理を行ってもよい
し,処理装置6〜8を用いてウェハWの洗浄処理を行っ
てもよい。
【0028】ここで,搬送装置3の構成についてさらに
詳しく説明すると,図3に示すように,搬送装置3は,
上から順に第1のアーム20,第2のアーム21及び第
3のアーム22を基台23の上方で重ねて配置してい
る。これら第1のアーム20,第2のアーム21及び第
3のアーム22は,それぞれの基部に移動機構20a,
21a,22aを取り付け,基台23の長手方向(Y方
向)に沿って移動できるように構成されている。また,
基台23の下面は,支持部材24によって支持されてお
り,この支持部材24に内蔵された回転昇降機構(図示
ぜず)により,回転(θ方向)及び上下方向(Z方向)
に移動できるように構成されている。さらに,図2に示
すように,支持部材24は,レール25により処理装置
6〜8に沿って左右方向(X方向)に移動する搬送ベー
ス26の上面に取り付けられている。
【0029】搬送装置3は,処理装置6〜8で行われる
一連の処理工程を終了したウェハWの清浄度を維持する
ために,第1のアーム20,第2のアーム21及び第3
のアーム22を使い分けている。即ち,取出領域12の
キャリアCからウェハWを取り出し,処理装置6へのウ
ェハWの搬入及び処理装置6からのウェハWの搬出,処
理装置7へのウェハWの搬入及び処理装置7からのウェ
ハWの搬出,処理装置8へのウェハWの搬入までを,第
2のアーム21及び第3のアーム22のみで行い,処理
装置8から搬出したウェハWを収納領域12のキャリア
Cに収納するまでを,上からパーティクルが落下してく
る心配がない第1のアーム20によって行うように構成
されている。
【0030】ここで,所定の手順に必要な処理装置が,
処理装置6〜8であれば,その数は3個,すなわち奇数
個となる。この場合,搬送装置3は,最初に第2のアー
ム21によって,取出領域12のキャリアCからウェハ
Wを取り出すようになっている。そして,所定の手順で
奇数番目(1番目,3番目)の処理装置6,8へは第2
のアーム21によってウェハWを搬入し,最後の処理装
置8を除き処理装置6からは第3のアーム22によって
ウェハWを搬出し,所定の手順で偶数番目(2番目)の
処理装置7へは第3のアーム22によってウェハWを搬
入し,処理装置7からは第2のアーム21によってウェ
ハWを搬出するようになっている。
【0031】一方,所定の手順に必要な処理装置が,処
理装置6,8又は処理装置7,8であれば,その数は2
個,いわゆる偶数個となる。この場合,搬送装置3は,
最初に第3のアーム22によって,取出領域12のキャ
リアCからウェハWを取り出すようになっている。そし
て,所定の手順で奇数番目(1番目)の処理装置6又は
7へは第3のアーム22によってウェハWを搬入し,処
理装置6又は7からは第2のアーム21によってウェハ
Wを搬出し,所定の手順で偶数番目(2番目)の処理装
置8へは第2のアーム21によってウェハWを搬入する
ようになっている。そして,所定の手順に必要な処理装
置の数にかかわらず,搬送装置3は,処理装置6〜8に
対して,ウェハWの搬入出を行い,各処理装置6〜8内
のウェハWを,所定の洗浄処理が済んだものから未だ所
定の洗浄処理が行われていないものに,適宜に入れ替え
ていくようになっている。
【0032】また,洗浄処理部4に備えられた各処理装
置6〜8の構成について,図4,5を参照にして説明す
る。まず,図4は,処理装置6〜8の要部を拡大した斜
視図であり,図5は,その側面図である。処理装置6〜
8は,前面側に搬入出口6a〜8aを形成している。前
述したように搬入出口6a〜8aの縦幅は,異なるアー
ムによってウェハWの搬入出ができるように,アーム2
段分の高さを有している。即ち,例えば,図5に示すよ
うに,搬入出口6aの縦幅は,図示の如く搬送装置3が
対面した場合に,少なくとも第2のアーム21及び第3
のアーム22の2つのアームが,伸長しても処理装置6
内に侵入できるだけの必要最小限の縦幅を有している。
これにより,ウェハWの搬入出を行う場合でも,処理装
置6の内部雰囲気と外部雰囲気とが連通し難くなるよう
になっている。
【0033】図4に示すように,搬入出口6a〜8aの
いずれの下方には,図示しない駆動機構によって昇降自
在なシャッタ30が各々設けられている。この場合,シ
ャッタ30は,アーム2段分の移動距離しか昇降移動し
ないので,駆動機構に負担がかからず,昇降時間を短く
済ますことができる構成になっている。
【0034】また,図4で実線で示したシャッタ30
は,図示しない駆動手段によって,搬入出口6a〜8a
を開放できるまで下方に,下降移動した状態を示してい
る。このようにシャッタ30を下降させた場合,搬送装
置3によって,処理装置6〜11にウェハWを搬入及び
処理装置6〜11からウェハWを搬出できる状態とな
る。また,図4中の二点鎖線で示したシャッタ30’
は,図示しない駆動手段によって,搬入出口6a〜8a
を塞ぐまで上方に,上昇移動した状態を示している。こ
のようにシャッタ30を上昇させた場合,装置内にウェ
ハWが収納されていれば,処理装置6〜8内を密封で
き,ウェハWを洗浄処理できる状態となる。なお,その
他処理装置9〜11も,処理装置6〜8も同様の構成を
有しており,シャッタ30によって搬入出口9a〜11
aを開閉自在にできるように構成されている。
【0035】次に,以上のように構成された本実施の形
態にかかる洗浄処理システム1で行われる作用について
説明する。まず,前述の洗浄処理システム1における一
連の処理工程において,図1に示したように,図示しな
い搬送ロボットが未だ洗浄されていないウェハWを例え
ば25枚ずつ収納したキャリアCを洗浄処理システム1
に搬送し取出収納部2に載置する。そして,この取出収
納部2に載置されたキャリアCからウェハWが取り出さ
れ,搬送装置3によってウェハWは洗浄処理部4に搬送
され,所定の手順に従った処理工程がウェハWに対して
行われる。
【0036】ここで,代表して処理装置6〜8での搬送
工程について説明する。処理装置6〜8の全を処理工程
で使用する場合,即ち,所定の手順に必要な処理装置6
〜8の数が全部で奇数個の場合について,図6〜11に
基づいて説明すると,取出収納部2から,第2のアーム
21によってウェハを取り出す。図6に示したように,
予め1番目の処理装置6のシャッタ30を下降移動させ
搬入出口6aを開放させて,処理装置6にウェハを搬入
する。第2アーム21を処理装置6内から退出させた
後,処理装置6のシャッタ30を上昇移動させ,搬入出
口6aを塞ぎ,処理装置6内に収納されたウェハに対し
て所定の洗浄,乾燥処理を施す。その間,取出収納部2
から,第2のアーム21によって次の新しいウェハを予
め取り出しておく。そして,処理装置6で所定の洗浄,
乾燥処理が終了した後,処理装置6のシャッタ30を下
降移動させ,搬入出口6aを開放する。図7に示したよ
うに,第3のアーム22を処理装置6内に侵入させ,第
3のアーム22によって,処理装置6からウェハを搬出
する。そして,処理装置6で次に洗浄,乾燥処理される
新しいウェハを,第2のアーム21によって処理装置6
に搬入する。
【0037】そして,2番目の処理装置7のシャッタ3
0を下降移動させ搬入出口7aを開放させる。図8に示
したように,第3のアーム22を処理装置7内に侵入さ
せ,処理装置7にウェハを搬入する。第3のアーム22
を処理装置7内から退出させた後,処理装置7のシャッ
タ30を上昇移動させ,搬入出口7aを塞ぎ,処理装置
7内に収納されたウェハに対して所定の洗浄,乾燥処理
を施す。処理装置7で所定の洗浄,乾燥処理が終了した
後,処理装置7のシャッタ30を下降移動させ,搬入出
口7aを開放する。図9に示したように,第2のアーム
21を処理装置7内に侵入させ,処理装置7からウェハ
を搬出する。また,処理装置6から搬出され処理装置7
で次に洗浄,乾燥処理される新しいウェハを,第3のア
ーム22が既に保持している場合には,このウェハWを
処理装置7に搬入する。
【0038】そして,最後の処理装置8のシャッタ30
を下降移動させ搬入出口8aを開放させる。図10に示
したように,処理装置8は必然的に奇数番目(3番目)
の処理装置となり,第2のアーム21によってウェハを
搬入することになる。第2のアーム21を処理装置8内
から退出させた後,処理装置8のシャッタ30を上昇移
動させ,搬入出口8aを塞ぎ,処理装置8内に収納され
たウェハに対して所定の洗浄,乾燥処理を施す。処理装
置8で所定の洗浄,乾燥処理が終了した後,処理装置8
のシャッタ30を下降移動させ,搬入出口8aを開放す
る。図11に示したように,最後に第1のアーム20に
よって,処理装置8からウェハを搬出する。また,処理
装置7から搬出され処理装置8で次に洗浄,乾燥処理さ
れる新しいウェハを,第2のアーム21が既に保持して
いる場合には,このウェハを処理装置8に搬入する。そ
して,取出収納部2のキャリアCに,洗浄処理部4での
処理工程が終了したウェハを,第1のアーム21によっ
て搬入する。
【0039】一方,処理装置7,8のみを処理工程で使
用する場合,即ち,所定の手順に必要な処理装置の数が
全部で偶数個の場合について,図12〜15に基づいて
説明すると,最初に第3のアーム22によって取出収納
部2からウェハを取り出す。図12に示したように,予
め1番目の処理装置7のシャッタ30を下降移動させ搬
入出口7aを開放させて,処理装置7にウェハを搬入す
る。第3のアーム22を処理装置7内から退出させた
後,処理装置7のシャッタ30を上昇移動させ,搬入出
口7aを塞ぎ,処理装置7内に収納されたウェハに対し
て所定の洗浄,乾燥処理を施す。その間,取出収納部2
から,第3のアーム22によって次の新しいウェハを予
め取り出しておく。処理装置7で所定の洗浄,乾燥処理
が終了した後,処理装置7のシャッタ30を下降移動さ
せ,搬入出口7aを開放する。図13に示したように,
第2のアーム21を処理装置7内に侵入させ,第2のア
ーム21によって,処理装置7からウェハを搬出する。
そして,処理装置7で次に洗浄,乾燥処理される新しい
ウェハを,第3のアーム22によって処理装置7に搬入
する。
【0040】そして,最後の処理装置8のシャッタ30
を下降移動させ搬入出口8aを開放させる。図14に示
したように,処理装置8は必然的に偶数番目(2番目)
の処理装置となり,第2のアーム21によってウェハを
搬入することになる。第2のアーム21を処理装置8内
から退出させた後,処理装置8のシャッタ30を上昇移
動させ,搬入出口8aを塞ぎ,処理装置8内に収納され
たウェハに対して所定の洗浄,乾燥処理を施す。処理装
置8で所定の洗浄,乾燥処理が終了した後,処理装置8
のシャッタ30を下降移動させ,搬入出口8aを開放す
る。図15に示したように,最後に第1のアーム20に
よって,処理装置8からウェハを搬出する。また,処理
装置7から搬出され処理装置8で次に洗浄,乾燥処理さ
れる新しいウェハを,第2のアーム21が既に保持して
いる場合には,このウェハを処理装置8に搬入する。そ
して,取出収納部2のキャリアCに,洗浄処理部4での
洗浄処理が終了したウェハを,第1のアーム21によっ
て搬入する。
【0041】こうして,所定の手順に必要な処理装置の
数が奇数又は偶数にかかわらず,処理装置6,7では,
第2のアーム21及び第3のアーム22を交互に使用し
てウェハの搬入出を行い,最後の処理装置8では,第1
のアーム20及び第2のアーム21を交互に使用してウ
ェハの搬入出を行う。そして,これらのことは,ウェハ
Wの搬入出口6a〜8aを,アーム2段分の高さに対応
できるだけの縦幅にすれば,十分なウェハWの搬入出を
行えることを意味する。従って,シャッタ30の移動距
離は短縮され,シャッタ30は,従来に比べて,これら
搬入出口6a〜8aを速やかに開閉することができる。
また,搬入出口6a〜8aの開口面積は小さくなり,ウ
ェハWの搬入出の際においても,薬液成分を含んだ処理
装置6〜8の内部雰囲気が外部雰囲気に拡散したり,外
部のパーティクル等が処理装置の内部に侵入することを
最小限に押さえることができる。従って,洗浄処理を安
定して行うことができる。また,ウェハWの搬入出する
際には,いずれの処理装置6〜8のおいても,搬送装置
3の昇降動作は,アーム2段分の移動距離で済む。これ
により,搬送装置3及び洗浄処理システム1に負担がか
からない。
【0042】所定の手順に従って処理工程が行われた後
に,搬送装置3によって洗浄処理部4から搬出され,ウ
ェハは再びキャリアCに収納される。続いて,残りの2
4枚のウェハに対しても一枚ずつ同様な処理が行われて
いく。こうして,25枚のウェハの処理が終了すると,
キャリアC単位で洗浄処理システム1外に搬出される。
【0043】かくして,本実施の形態によれば,ウェハ
Wの搬入出口6a〜8aを,搬送装置3に備えられたア
ーム2段分の高さに対応できるだけの縦幅にすれば,十
分なウェハの搬入出を行える。従って,シャッタ30
は,従来に比べて,これら搬入出口6a〜8aを速やか
に開閉することができ,処理装置6〜8におけるウェハ
Wの搬入出に係る時間を短縮することができる。その結
果,洗浄処理システム1のスループットを向上させるこ
とが可能となる。また,搬入出口6a〜8aの開口面積
は小さくなり,ウェハWの搬入出の際においても,薬液
雰囲気の拡散やパーティクル等の侵入を最小限に押さえ
ることができる。従って,洗浄処理を安定して行うこと
ができる。また,最後の処理装置8では,搬送装置3の
昇降動作は,アーム2段分の移動距離で済む。従って,
搬送装置3の高耐久性や洗浄処理システム1の省力エネ
ルギー化を実現できる。また,上段の第1のアーム20
によって洗浄後のウェハWを取出収納部2に収納するの
で,例えばアームによる発塵がウェハWに対して上から
落下することがない。従って,搬送装置3は,清浄度を
保ちながら例えば洗浄後のウェハWを取出収納部2に収
納することができる。
【0044】次に,図16を参照にしながら他の実施の
形態にかかる洗浄処理システム40について説明する。
この洗浄処理システム40は,カセット部41と,第2
の搬送装置42と,第1の搬送装置43と,洗浄処理部
44と,バッファ部45とを備えている。カセット部4
1は,ウェハWを収納するキャリアCを載置できる構成
となっている。
【0045】図17に示すように,第2の搬送装置42
は,ウェハWを保持する第4のアーム46,第5のアー
ム47を基台48の上方に重ねて配置している。これら
第4のアーム46,第5のアーム47は,移動機構46
a,47aによって基台48の長手方向(Y方向)に移
動でき,基台48は,基台48を支持する支持部材49
に内蔵された回転昇降機構(図示せず)によって回転
(θ),上下方向(Z方向)に移動でき,さらに支持部
材49は,左右方向(図16中のX方向)に移動できる
ように構成されている。そして,第2の搬送装置42
は,第5のアーム47によってキャリアCから洗浄前の
ウェハWを取り出すと共に,第4のアーム46によって
キャリアCに洗浄後のウェハWを収納する。特に上段の
第4のアーム46では,上からパーティクルが落下する
心配がないので,清浄度を保ちながら洗浄後のウェハW
をキャリアCに収納することが可能となっている。
【0046】洗浄処理部44には,処理装置50,5
1,52,53,54,55が配置されている。処理装
置50,53は,処理装置51,54は,処理装置5
2,55はそれぞれ上下2段に配置され,処理装置5
0,53は上記処理装置6と,処理装置51,54は上
記処理装置7と,処理装置52,55は上記処理装置8
と実質的に同じである。
【0047】第1の搬送装置43は,洗浄処理部44の
搬送エリア56内に設けられている。第1の搬送装置4
3は,第1のアーム57,第2のアーム58,第3のア
ーム59を基台(図示せず)の上方で重ねて配置してい
る。そして,第1のアーム57,第2アーム58,第3
のアーム59をそれぞれ前進又は後退させる進退駆動機
構(図示せず)と,基台を上昇させるZ軸駆動機構(図
示せず)と,基台をZ軸まわりに回転させるθ回転機構
(図示せず)とを備えている。
【0048】第1の搬送装置43を取り囲むようにして
処理装置50〜55及びバッファ部45が配置されてい
る。バッファ部45は,搬送エリア46と搬送エリア5
6との間に設けられ,このバッファ部45を介して第2
の搬送装置42と第1の搬送装置43との間でウェハW
が受け渡される。従って,第1の搬送装置43は,バッ
ファ部45から洗浄前のウェハWを取り出すと共に,バ
ッファ部45に洗浄後のウェハWを収納し,前記搬送装
置3と同様に所定の手順に従って,バッファ部45と洗
浄処理部44との間でウェハWを搬送するように構成さ
れている。かかる構成によれば,前述した洗浄処理シス
テム1と同様に,スループットを向上させ,薬液雰囲気
の拡散やパーティクル等の侵入を最小限に押さえること
ができる。
【0049】なお,バッファ部45を介することなく,
第2の搬送装置42と第1の搬送装置43との間でウェ
ハWを直接受け渡すようにし,第2の搬送装置42,第
1の搬送装置43を用いて,カセット部41と洗浄処理
部44との間でウェハWを搬送するように構成してもよ
い。このように構成すると,ウェハWの受け渡し時間が
短縮され,さらにスループットが向上する。
【0050】なお,本発明の実施の形態の複数の例につ
いて説明したが,本発明は,これらの例に限定されず種
々の様態を採りうるものである。例えば,所定の手順に
必要な処理装置の数が5個,7個と増加しても,最後の
処理装置を除いた奇数番目の処理装置と偶数番目の処理
装置とで,上記の奇数個の場合の如く搬送工程を繰り返
せばよい。また,所定の手順に必要な処理装置の数が4
個,6個と増加しても,奇数番目の処理装置と最後の処
理装置を除いた偶数番目の処理装置とで,上記の偶数個
の場合の如く搬送工程を繰り返せばよい。
【0051】
【発明の効果】かくして,請求項1〜4の発明によれ
ば,基板の搬入出口を,アーム2段分の高さに対応でき
るだけの縦幅にすれば,十分な基板の搬入出を行える。
従って,例えば,処理装置の搬入出口を開閉する開閉機
構は,従来に比べて,搬入出口を速やかに開閉すること
ができるようになり,処理装置におけるウェハの搬入出
に係る時間を短縮することができる。その結果,この搬
送方法を用いた処理システム等では,そのスループット
を向上させることができる。また,搬入出口の開口面積
は小さくなり,基板の搬入出の際においても,薬液雰囲
気の拡散やパーティクル等の侵入を最小限に押さえるこ
とができる。従って,処理を安定して行うことができ
る。
【0052】請求項5,8の発明によれば,請求項1,
4に記載の搬送方法を,請求項6,7,8の発明によれ
ば,請求項2,3,4に記載の搬送方法をそれぞれ好適
に実施することができる。これにより,所定の手順に必
要な処理装置の数が奇数又は偶数にかかわらず,最後の
処理装置では,搬送装置の昇降動作は,アーム2段分の
移動距離で済む。従って,搬送装置の高耐久性や処理シ
ステムの省力エネルギー化を実現できる。
【0053】特に請求項5の搬送装置では,上段の第1
のアームによって基板を取出収納部に収納し,請求項6
の第2の搬送装置では,上段の第4のアームによって処
理後の基板を取出収納部に収納するので,清浄度を保ち
ながら例えば処理後の基板を取出収納部に収納すること
ができる。また,処理装置に対して基板を搬入出する際
には,請求項5の搬送装置及び請求項6の第1の搬送装
置の昇降動作は,アーム2段分の移動距離だけで済むの
で,スループットを向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態にかかる洗浄処理システムの平面
図である。
【図2】本実施の形態にかかる洗浄処理システムの斜視
図である。
【図3】搬送装置の斜視図である。
【図4】処理装置の一群の斜視図である。
【図5】処理装置に搬送装置が対面した場合の様子を説
明する側面図である。
【図6】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の場
合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れを
示す説明図である。
【図7】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の場
合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れを
示す説明図である。
【図8】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の場
合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れを
示す説明図である。
【図9】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の場
合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れを
示す説明図である。
【図10】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
【図11】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
【図12】所定の手順に必要な処理装置の数が偶数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
【図13】所定の手順に必要な処理装置の数が偶数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
【図14】所定の手順に必要な処理装置の数が偶数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
【図15】所定の手順に必要な処理装置の数が偶数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
【図16】他の実施の形態にかかる洗浄処理システムの
平面図である。
【図17】第2の搬送装置の側面図である。
【図18】従来の処理装置に搬送装置が対面した場合の
様子を説明する側面図である。
【符号の説明】
1 洗浄処理システム 2 取出収納部 3 搬送装置 4 洗浄処理部 6,7,8,9,10,11 処理装置 6a,7a,8a,9a,10a,11a 搬入出口 20 第1のアーム 21 第2のアーム 22 第3のアーム 30 シャッタ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板が取り出されると共に,基板が収納
    される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉する開閉機
    構を備えた処理装置を所定の手順に従って基板を処理で
    きるように複数配置した処理部との間で,上から順に重
    ねるように配置された第1のアーム,第2のアーム,第
    3のアームによって基板を搬送する搬送方法において,
    所定の手順に必要な処理装置の数が全部で奇数個の場合
    には,前記第2のアームによって前記取出収納部から基
    板を取り出し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前
    記第2のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最
    後の処理装置を除いた奇数番目の処理装置からは第3の
    アームによって基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の
    処理装置へは前記第3のアームによって基板を搬入し,
    所定の手順で偶数番目の処理装置からは前記第2のアー
    ムによって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置
    からは前記第1のアームによって基板を搬出し,前記取
    出収納部に収納する工程に切り換え,所定の手順に必要
    な処理装置の数が全部で偶数個の場合には,前記第3の
    アームによって前記取出収納部から基板を取り出し,所
    定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3のアームに
    よって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目の処理装置
    からは前記第2のアームによって基板を搬出し,所定の
    手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のアームによっ
    て基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装置を除いた
    偶数番目の処理装置からは前記第3のアームによって基
    板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置からは前記第
    1のアームによって基板を搬出し,前記取出収納部に収
    納する工程に切り換えることを特徴とする,基板の搬送
    方法。
  2. 【請求項2】 基板が取り出されると共に,基板が収納
    される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉する開閉機
    構を備えた処理装置を所定の手順に従って基板を処理で
    きるように複数配置した処理部との間で,上から順に重
    ねるように配置された第1のアーム,第2のアーム,第
    3のアームと,上から順に重ねるように配置された第4
    のアーム,第5のアームとによって基板を搬送する搬送
    方法において,所定の手順に必要な処理装置の数が全部
    で奇数個の場合には,前記第5のアームによって前記取
    出収納部から基板を取り出し,その後に前記第2のアー
    ムに受け渡し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前
    記第2のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最
    後の処理装置を除いた奇数番目の処理装置からは第3の
    アームによって基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の
    処理装置へは前記第3のアームによって基板を搬入し,
    所定の手順で偶数番目の処理装置からは前記第2のアー
    ムによって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置
    からは前記第1のアームによって基板を搬出し,その後
    に前記第4のアームに受け渡し,前記第4のアームによ
    って前記取出収納部に基板を収納する工程に切り換え,
    所定の手順に必要な処理装置の数が全部で偶数個の場合
    には,前記第5のアームによって前記取出収納部から基
    板を取り出し,その後に前記第3のアームに受け渡し,
    所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3のアーム
    によって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目の処理装
    置からは前記第2のアームによって基板を搬出し,所定
    の手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のアームによ
    って基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装置を除い
    た偶数番目の処理装置からは前記第3のアームによって
    基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置からは前記
    第1のアームによって基板を搬出し,その後に前記第4
    のアームに受け渡し,前記第4のアームによって前記取
    出収納部に基板を収納する工程に切り換えることを特徴
    とする,基板の搬送方法。
  3. 【請求項3】 前記第1のアーム,第2のアーム,第3
    のアームと,前記第4のアーム,第5のアームとの間の
    基板の受け渡しをバッファ部を介して行うことを特徴と
    する,請求項2に記載の基板の搬送方法。
  4. 【請求項4】 前記処理装置においては,基板の表面を
    処理することを特徴とする,請求項1,2又は3に記載
    の基板の搬送方法。
  5. 【請求項5】 基板が取り出されると共に,基板が収納
    される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉する開閉機
    構を備えた処理装置を所定の手順に従って基板を処理で
    きるように複数配置した処理部と,上から順に重ねるよ
    うに配置された第1のアーム,第2のアーム,第3のア
    ームによって基板を搬送する搬送装置とを備えた基板の
    処理システムにおいて,所定の手順に必要な処理装置の
    数が全部で奇数個の場合には,前記第2のアームによっ
    て前記取出収納部から基板を取り出し,所定の手順で奇
    数番目の処理装置へは前記第2のアームによって基板を
    搬入し,所定の手順で最後の処理装置を除いた奇数番目
    の処理装置からは前記第3のアームによって基板を搬出
    し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第3のア
    ームによって基板を搬入し,所定の手順で偶数番目の処
    理装置からは前記第2のアームによって基板を搬出し,
    所定の手順で最後の処理装置からは前記第1のアームに
    よって基板を搬出し,前記取出収納部に収納するように
    前記搬送装置を構成し,所定の手順に必要な処理装置の
    数が全部で偶数個の場合には,前記第3のアームによっ
    て前記取出収納部から基板を取り出し,所定の手順で奇
    数番目の処理装置へは前記第3のアームによって基板を
    搬入し,所定の手順で奇数番目の処理装置からは前記第
    2のアームによって基板を搬出し,所定の手順で偶数番
    目の処理装置へは前記第2のアームによって基板を搬入
    し,所定の手順で最後の処理装置を除いた偶数番目の処
    理装置からは前記第3のアームによって基板を搬出し,
    所定の手順で最後の処理装置からは前記第1のアームに
    よって基板を搬出し,前記取出収納部に収納するように
    前記搬送装置を構成したことを特徴とする,基板の処理
    システム。
  6. 【請求項6】 基板が取り出されると共に,基板が収納
    される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉する開閉機
    構を備えた処理装置を所定の手順に従って基板を処理で
    きるように複数配置した処理部と,上から順に重ねるよ
    うに配置された第1のアーム,第2のアーム,第3のア
    ームによって基板を搬送する第1の搬送装置と,上から
    順に重ねるように配置された第4のアーム,第5のアー
    ムによって基板を搬送する第2の搬送装置とを備えた基
    板の処理システムにおいて,所定の手順に必要な処理装
    置の数が全部で奇数個の場合には,前記第5のアームに
    よって前記取出収納部から基板を取り出し,その後に前
    記第2のアームに受け渡し,所定の手順で奇数番目の処
    理装置へは前記第2のアームによって基板を搬入し,所
    定の手順で最後の処理装置を除いた奇数番目の処理装置
    からは前記第3のアームによって基板を搬出し,所定の
    手順で偶数番目の処理装置へは前記第3のアームによっ
    て基板を搬入し,所定の手順で偶数番目の処理装置から
    は前記第2のアームによって基板を搬出し,所定の手順
    で最後の処理装置からは前記第1のアームによって基板
    を搬出し,その後に前記第4のアームに受け渡し,前記
    第4のアームによって前記取出収納部に基板を収納する
    ように前記第1の搬送装置及び第2の搬送装置を構成
    し,所定の手順に必要な処理装置の数が全部で偶数個の
    場合には,前記第5のアームによって前記取出収納部か
    ら基板を取り出し,その後に前記第3のアームに受け渡
    し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3のア
    ームによって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目の処
    理装置からは前記第2のアームによって基板を搬出し,
    所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のアーム
    によって基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装置を
    除いた偶数番目の処理装置からは前記第3のアームによ
    って基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置からは
    前記第1のアームによって基板を搬出し,その後に前記
    第4のアームに受け渡し,前記第4のアームによって前
    記取出収納部に基板を収納するように前記第1の搬送装
    置及び第2の搬送装置を構成したことを特徴とする,基
    板の処理システム。
  7. 【請求項7】 前記第1の搬送装置と前記第2の搬送装
    置との間の基板の受け渡しを介するバッファ部を設けた
    ことを特徴とする,請求項6に記載の基板の処理システ
    ム。
  8. 【請求項8】 前記処理装置においては,基板の表面を
    処理することを特徴とする,請求項4,5又は6に記載
    の基板の処理システム。
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