JPH11330195A - Wafer carrier device - Google Patents
Wafer carrier deviceInfo
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- JPH11330195A JPH11330195A JP13037798A JP13037798A JPH11330195A JP H11330195 A JPH11330195 A JP H11330195A JP 13037798 A JP13037798 A JP 13037798A JP 13037798 A JP13037798 A JP 13037798A JP H11330195 A JPH11330195 A JP H11330195A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- transfer
- space
- clean room
- holder
- Prior art date
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- Pending
Links
Landscapes
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ウェハをクリーン
室内で搬送するのに好適なウェハ搬送装置およびウェハ
搬送方法に関する。[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a wafer transfer apparatus and a wafer transfer method suitable for transferring a wafer in a clean room.
【0002】[0002]
【従来の技術】半導体装置の製造工程における、たとえ
ば、ウェハプロセスでは、コンタミネーションを避ける
ため、ウェハに対して所定の処理を施す処理設備はクリ
ーンルーム内に設置される。ウェハプロセスに用いられ
るクリーンルームは、たとえば、HEPA(high effici
ency particulate air-filter)フィルタやULPA(ult
ra low penetrationair-filter)フィルタ等フィルタを
天井部分に設け、清浄空気をクリーンルーム内に吹き出
す構成のものが一般的である。このようなクリーンルー
ム内でのウェハの搬送は、たとえば、一または複数のウ
ェハを保持するカセットにウェハを収容し、このカセッ
トを移動することにより行なわれる。たとえば、クリー
ンルーム内での所定の処理を行なう一の作業領域から所
定の処理を行なう他の作業領域へのウェハを収容したカ
セットの搬送は、たとえば、特開平3−2088764
号公報に開示されているように、クリーンルーム内に軌
道を設け、軌道上を移動する搬送装置によって行なうこ
とが可能である。2. Description of the Related Art In a semiconductor device manufacturing process, for example, in a wafer process, processing equipment for performing a predetermined process on a wafer is installed in a clean room in order to avoid contamination. The clean room used for the wafer process is, for example, HEPA (high efficiency).
ency particulate air-filter) filter and ULPA (ult
Generally, a filter such as a ra low penetration air-filter (filter) is provided on a ceiling portion to blow clean air into a clean room. The transfer of a wafer in such a clean room is performed, for example, by housing the wafer in a cassette holding one or a plurality of wafers and moving the cassette. For example, the transfer of a cassette containing wafers from one working area for performing predetermined processing to another working area for performing predetermined processing in a clean room is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-2088764.
As disclosed in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. H11-284, a track can be provided in a clean room, and the transfer can be performed by a transfer device that moves on the track.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上述の従来のクリーン
ルーム内でのウェハの搬送技術では、カセットは、単に
ウェハを収容する、いわゆるオープン式のカセットであ
り、クリーンルーム内の空気に晒される。このため、ウ
ェハが付着粒子で汚染されるのを防ぐためには、クリー
ンルームの天井部の全域に設けられたフィルタの近く
に、軌道を設け、この軌道上を移動させる必要がある。
すなわち、クリーンルーム内でも最も高い領域に搬送装
置を設置する必要がある。このため、搬送装置を設置す
る領域分だけクリーンルームを広くする必要があり、ク
リーンルームのコストがかさむという不利益が存在し
た。また、上記搬送装置は、クリーンルーム内に設けら
れているため、搬送装置のメンテナンス作業は煩雑であ
り、コストがかさむという不利益も存在する。さらに、
搬送装置の使用にしたがって、搬送装置から発塵するこ
とがあり、この塵埃によってクリーンルーム内およびウ
ェハが汚染されるおそれがあるという不利益も存在す
る。また、従来の搬送装置では、搬送ルートの追加、変
更は難しく、追加、変更に多大なコストを要するという
不利益も存在した。また、従来の搬送装置では、クリー
ンルーム内を搬送させるため、クリーンルーム内の作業
者(オペレータ)と搬送装置との接触のおそれもある。In the above-described conventional wafer transfer technology in a clean room, the cassette is a so-called open type cassette that simply stores wafers, and is exposed to the air in the clean room. Therefore, in order to prevent the wafer from being contaminated with adhered particles, it is necessary to provide a track near a filter provided in the entire area of the ceiling of the clean room, and move the track on the track.
That is, it is necessary to install the transfer device in the highest area in the clean room. For this reason, it is necessary to widen the clean room by the area where the transfer device is installed, and there is a disadvantage that the cost of the clean room increases. In addition, since the transfer device is provided in a clean room, maintenance work of the transfer device is complicated, and there is a disadvantage that the cost is increased. further,
As the transfer device is used, dust may be generated from the transfer device, and there is a disadvantage that the dust may contaminate the inside of the clean room and the wafer. Further, in the conventional transport device, there is a disadvantage that it is difficult to add or change the transport route, and the addition or change requires a large cost. Further, in the conventional transfer device, since the transfer is performed in the clean room, there is a possibility that a worker (operator) in the clean room may come into contact with the transfer device.
【0004】本発明は、上述の不利益を解消すべくなさ
れたものであって、ウェハの搬送設備を低コスト化で
き、搬送されるウェハの汚染を防止でき、搬送ルートの
追加、変更が容易で、作業者との干渉を防止できるウェ
ハ搬送装置を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above disadvantages, and can reduce the cost of a wafer transfer facility, prevent contamination of a transferred wafer, and easily add or change a transfer route. Accordingly, it is an object of the present invention to provide a wafer transfer device capable of preventing interference with an operator.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】本発明は、ウェハを気密
に収納保持するウェハ保持具と、クリーンルーム内の複
数の作業領域にそれぞれ設けられ、当該各作業領域と当
該クリーンルームの設置された床下に形成された搬送空
間との間で前記ウェハ保持具を移送可能な複数の昇降手
段と、前記搬送空間内に設けられ、前記各昇降手段の間
で前記ウェハ保持具を搬送可能な搬送手段とを有する。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a wafer holder for holding and holding a wafer in an airtight manner and a plurality of work areas in a clean room, each of which is provided under a floor where the work area and the clean room are installed. A plurality of elevating means capable of transferring the wafer holder to and from the formed transfer space, and a transfer means provided in the transfer space and capable of transferring the wafer holder between the respective elevating means. Have.
【0006】本発明では、クリーンルームの作業領域で
所定の処理が行なわれたウェハは、ウェハ保持具に収容
され、次工程へ搬送される。ウェハ保持具の次工程への
搬送は、昇降手段によってクリーンルーム内から搬送空
間に運ばれ、次いで、搬送空間の搬送手段によって他の
作業領域に設けられた昇降手段によって当該他の作業領
域に運ばれる。According to the present invention, a wafer that has been subjected to predetermined processing in a work area of a clean room is accommodated in a wafer holder and transported to the next step. The transfer of the wafer holder to the next step is carried from the clean room to the transfer space by the elevating means, and then to the other work area by the elevating means provided in another work area by the transfer means of the transfer space. .
【0007】好適には、前記ウェハ保持具は、前記ウェ
ハを直接収容して気密に保持可能な第1のウェハ保持具
と、前記ウェハを保持可能なウェハカセットを収容して
気密に保持可能な第2のウェハ保持具とからなる。ま
た、前記第1のウェハ保持具は、前記クリーンルーム内
のウェハに対して特定の処理を行なう作業領域内にける
ウェハの搬送に使用され、前記第2のウェハ保持具は、
前記クリーンルーム内の各作業領域間の前記搬送空間を
通じたウェハの搬送および前記クリーンルーム内の各作
業領域内のウェハの搬送に使用される。このような構成
では、ウェハの汚染防止の要求がより高い工程での作業
領域内でのウェハの搬送に第1のウェハ保持具が使用さ
れ、その他の作業領域間および作業領域内のウェハの搬
送に第2のウェハ保持具が使用される。したがって、ウ
ェハの汚染防止の要求がより高い工程では、ウェハ汚染
が各区実に防止され、他の場合には、ウェハの搬送はウ
ェハカセットを介して行なわれることになる。[0007] Preferably, the wafer holder is a first wafer holder capable of directly holding the wafer and holding it airtightly, and is capable of holding a wafer cassette capable of holding the wafer and holding it airtight. And a second wafer holder. Further, the first wafer holder is used for transporting a wafer in a work area where a specific process is performed on a wafer in the clean room, and the second wafer holder is
It is used for transferring a wafer through the transfer space between the work areas in the clean room and for transferring a wafer in each work area in the clean room. In such a configuration, the first wafer holder is used to transfer the wafer in the work area in a process where the requirement for preventing contamination of the wafer is higher, and the transfer of the wafer between other work areas and in the work area is performed. Then, a second wafer holder is used. Therefore, in a process in which there is a higher demand for prevention of wafer contamination, wafer contamination is prevented individually, and in other cases, the wafer is transferred via a wafer cassette.
【0008】前記昇降手段によって作業領域内に供給さ
れた前記第2のウェハ保持具を載置する載置部と、前記
載置部に載置されたウェハカセットを第2のウェハ保持
具から取り出し、当該ウェハカセットを所定の位置に移
載する移載手段とを有する前記作業領域内を移動可能な
ウェハ搬送用台車をさらに有する。このような構成によ
り、作業領域内の作業者によってウェハ搬送用台車が運
搬され、ウェハカセットが移載手段によって自動的に第
2のウェハ保持具から取り出され、当該ウェハカセット
が所定の位置に移載される。A mounting section for mounting the second wafer holder supplied into the working area by the elevating means, and a wafer cassette mounted on the mounting section being taken out of the second wafer holder; And a transfer means for transferring the wafer cassette to a predetermined position. With this configuration, the worker in the work area transports the wafer transport cart, the wafer cassette is automatically removed from the second wafer holder by the transfer means, and the wafer cassette is moved to a predetermined position. Will be posted.
【0009】前記搬送手段は、前記搬送空間内に設けら
れた軌道と、前記軌道上を走行可能で、前記ウェハ保持
具を保持可能な搬送装置とを有する。The transfer means has a track provided in the transfer space, and a transfer device capable of traveling on the track and holding the wafer holder.
【0010】前記搬送装置は、当該搬送装置に保持され
たウェハ保持具を前記昇降手段に受け渡す受け渡し手段
を有する。The transfer device has a transfer means for transferring the wafer holder held by the transfer device to the elevating means.
【0011】前記昇降手段は、前記クリーンルームと前
記搬送空間とを連通する昇降空間と、前記昇降空間内に
前記ウェハ保持具を前記クリーンルームと前記搬送空間
との間で昇降させる昇降機と、前記搬送手段から移載さ
れたウェハ保持具を前記昇降機に移すローディング手段
とを有する。The elevating means includes an elevating space for communicating the clean room with the transfer space, an elevating device for elevating the wafer holder in the elevating space between the clean room and the transfer space, Loading means for transferring the wafer holder transferred from the apparatus to the elevator.
【0012】前記搬送空間側の前記昇降空間への出入口
部および前記クリーンルーム側の前記昇降空間への出入
口部には、ウェハ保持具にエアを吹きつけるエアシャワ
ー手段を有する。このような構成によって、ウェハ保持
具に付着した汚染物質は、エアシャワー手段によって清
浄され、クリーンルーム内が汚染されることが防止され
る。An air shower means for blowing air to the wafer holder is provided at an entrance to the lift space on the transfer space side and an entrance to the lift space on the clean room side. With such a configuration, the contaminants adhering to the wafer holder are cleaned by the air shower means, thereby preventing the inside of the clean room from being contaminated.
【0013】前記昇降手段の昇降空間の前記クリーンル
ーム側には、当該昇降空間内にクリーンエアを供給する
エア供給手段が設けられ、前記昇降空間の搬送空間側に
は、当該昇降空間内のエアを外部に排出する排気手段が
設けられている。Air supply means for supplying clean air into the lift space is provided on the clean room side of the lift space of the lift means, and air in the lift space is provided on the transport space side of the lift space. An exhaust means for exhausting to the outside is provided.
【0014】前記各出入口部には、前記クリーンルーム
と前記昇降空間との間および前記昇降空間と前記搬送空
間との間を閉鎖可能なシャッタ手段がそれぞれ設けられ
ている。At each of the entrances, there are provided shutter means capable of closing the space between the clean room and the elevating space and between the elevating space and the transport space.
【0015】前記搬送空間は、前記クリーンルーム内の
中央通路およびこの中央通路に交差する複数の分岐通路
の床下に形成され、前記作業領域は、前記中央通路およ
び分岐通路によって区画される領域に形成され、前記搬
送手段は、前記中央通路の床下に設けられた主軌道と、
前記分岐通路の床下に設けられ、前記主軌道に分岐手段
を介して接続され、前記各作業領域に設けられた昇降手
段に到達する分岐軌道とを有する。The transfer space is formed under a floor of a central passage in the clean room and a plurality of branch passages intersecting the central passage, and the work area is formed in a region defined by the central passage and the branch passage. A main track provided under the floor of the central passage,
A branch track provided under the floor of the branch passage, connected to the main track via a branching means, and reaching a lifting means provided in each of the work areas.
【0016】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。ウェハ搬送システム 図1は本発明の一実施形態に係るウェハ搬送システムの
基本的構造を示す図である。床下搬送構造 図1は、クリーンルーム内のウェハに所定の所定を施す
ための所定の作業モジュール(作業領域)およびその床
下の構造を示している。ここで、作業モジュールとは、
ウェハに洗浄、加工、測定等の所定の処理を施す際に、
所定数の作業者が一連の作業を行なうためのブロックで
あり、作業者が予め決められた工程を遂行するための単
位作業領域である。図1において、クリーンルームCR
が設けられた床FLの下には、床下搬送空間FSが形成
されている。この床下搬送空間FSには、軌道(レー
ル)15が所定の経路で設けられ、クリーンルームCR
内の他の作業モジュールに続いている。この軌道15上
を搬送装置11が自動搬送可能に設けられている。搬送
装置11は、例えば、軌道15と係合する電動モータで
駆動される車輪を有しており、電動モータを駆動するこ
とにより軌道15を走行する構成とすることができる。
また、搬送装置11は、ウェハWを収納するウェハ保持
具12を保持可能であり、軌道15上の任意の場所にウ
ェハ保持具12を搬送することができる。さらに、搬送
装置11は、保持したウェハ保持具12を自動的にロー
ダ13に移す移送機構を有している。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Wafer transfer system FIG. 1 is a diagram showing a basic structure of a wafer transfer system according to one embodiment of the present invention. Underfloor Transfer Structure FIG. 1 shows a predetermined work module (work area) for performing a predetermined operation on a wafer in a clean room and a structure under the floor. Here, the work module is
When performing predetermined processing such as cleaning, processing and measurement on the wafer,
It is a block for a predetermined number of workers to perform a series of operations, and is a unit work area for the workers to perform a predetermined process. In FIG. 1, the clean room CR
Is provided below the floor FL provided with. A track (rail) 15 is provided along a predetermined route in the underfloor transfer space FS, and a clean room CR is provided.
Continue to other work modules in A transfer device 11 is provided on the track 15 so as to be automatically transferred. The transport device 11 has, for example, wheels driven by an electric motor that engages with the track 15, and can be configured to travel on the track 15 by driving the electric motor.
The transfer device 11 can hold the wafer holder 12 that stores the wafer W, and can transfer the wafer holder 12 to an arbitrary location on the track 15. Further, the transfer device 11 has a transfer mechanism for automatically transferring the held wafer holder 12 to the loader 13.
【0017】クリーンルームCR内および床下搬送空間
FSを跨いで、昇降装置LFが立設されており、クリー
ンルームCRと床下搬送空間FSとは昇降装置LFを通
じて連通されている。昇降装置LFの床下搬送空間FS
内の下部には、ウェハ保持具12を昇降装置内にロード
するため、あるいは、昇降装置内にあるウェハ保持具1
2を搬送装置にロードするためのローダ13が設けられ
ている。昇降装置LFは、搬送装置11によって床下搬
送空間FSを搬送されてきたウェハ保持具12をローダ
13によってロードする。ローダ13にロードされたウ
ェハ保持具12は、ローダ13によって昇降装置LF内
の運ばれる。昇降装置LF内には、ウェハ保持具12を
昇降可能な昇降手段が設けられており、これによってウ
ェハ保持具12はクリーンルームCR内を上昇し、昇降
装置LFのクリーンルームCR側の所定の取り出し口に
搬送される。搬送されたウェハ保持具12は、たとえ
ば、作業者によって、昇降装置LFの側方に設けられた
ストア17に載置される。なお、昇降装置LFの詳細な
構成は後述する。An elevating device LF is provided upright in the clean room CR and across the underfloor transfer space FS. The clean room CR and the underfloor transfer space FS are communicated through the elevating device LF. Underfloor transfer space FS of lifting device LF
In the lower part of the inside, the wafer holder 12 is loaded into the elevating device, or the wafer holder 1 in the elevating device is placed.
A loader 13 is provided for loading 2 into the transport device. The elevating device LF loads the wafer holder 12 transported in the underfloor transport space FS by the transport device 11 with the loader 13. The wafer holder 12 loaded on the loader 13 is carried by the loader 13 in the lifting device LF. Elevating means capable of elevating and lowering the wafer holder 12 is provided in the elevating device LF, whereby the wafer holder 12 ascends in the clean room CR, and is provided at a predetermined outlet on the clean room CR side of the elevating device LF. Conveyed. The transported wafer holder 12 is placed, for example, by a worker in a store 17 provided beside the elevating device LF. The detailed configuration of the lifting device LF will be described later.
【0018】図2は図1に示したウェハ搬送システムが
適用された半導体装置の製造ラインのレイアウトの一例
を示す平面図である。上記のように構成されるウェハ搬
送システムは、たとえば、図2に示すようなかたちで半
導体装置の製造ラインに適用される。図2において、ク
リーンルームCR内には、図2に示すように、図面中央
を横切る中央通路21と、中央通路21に平行に走る横
方向通路25と、これら、中央通路21および横方向通
路25に直交する縦方向通路31によって区切られる領
域に各作業モジュール30が形成されている。FIG. 2 is a plan view showing an example of a layout of a manufacturing line of a semiconductor device to which the wafer transfer system shown in FIG. 1 is applied. The wafer transfer system configured as described above is applied to, for example, a semiconductor device manufacturing line in the form shown in FIG. 2, in the clean room CR, as shown in FIG. 2, a central passage 21 crossing the center of the drawing, a lateral passage 25 running parallel to the central passage 21, and a central passage 21 and a lateral passage 25. Each work module 30 is formed in an area delimited by the vertical passages 31 that are orthogonal to each other.
【0019】中央通路21、横方向通路25および縦方
向通路31の床下には、上述した床下搬送空間FSが形
成されている。中央通路21の床下搬送空間FSには、
複線の軌道23が配設され、横方向通路25の床下搬送
空間FSには、単線の軌道24がそれぞれ配設されてい
る。中央通路21の床下搬送空間FSの軌道23と横方
向通路25の床下搬送空間FSの軌道24とは、これら
の軌道が交差する中継点では、軌道23と軌道25とは
分岐ユニット27によって接続されている。Below the floor of the central passage 21, the horizontal passage 25 and the vertical passage 31, the above-mentioned underfloor transfer space FS is formed. In the underfloor transfer space FS of the central passage 21,
A double track 23 is provided, and a single track 24 is provided in the underfloor transfer space FS of the lateral passage 25. The trajectory 23 of the underfloor transfer space FS of the central passage 21 and the trajectory 24 of the underfloor transfer space FS of the lateral passage 25 are connected by a branch unit 27 at a relay point where these trajectories intersect. ing.
【0020】各作業モジュール30には、上述した昇降
装置LF0〜LF30が設けられる。たとえば、矢印A
に示すように、昇降装置LF12から昇降装置LF28
へウェハ保持具12を搬送するには、まず、搬送装置1
1を昇降装置LF12の所定の位置に移動する。搬送装
置11にローダ13からウェハ保持具12を移し、搬送
装置11を軌道23上で走行させる。そして、搬送装置
11を昇降装置LF28に最も近い位置にある分岐ユニ
ット27で横方向通路25の床下搬送空間FSの軌道2
4上に移し、軌道24上を走行させて昇降装置LF27
まで移動させ、昇降装置LF27によってこの昇降装置
LF27が設置された作業モジュール30内にウェハ保
持具12を取り込む。このように、本実施形態のウェハ
搬送システムでは、各モジュール30間で直接にウェハ
保持具12の移送を行なうことが可能となる。Each of the working modules 30 is provided with the above-mentioned lifting devices LF0 to LF30. For example, arrow A
As shown in the figure, the lifting device LF12 to the lifting device LF28
To transfer the wafer holder 12 to the
1 is moved to a predetermined position of the lifting device LF12. The wafer holder 12 is transferred from the loader 13 to the transfer device 11, and the transfer device 11 travels on the track 23. Then, the transfer device 11 is moved to the trajectory 2 of the underfloor transfer space FS of the lateral passage 25 by the branching unit 27 closest to the lifting device LF28.
4 and run on the track 24 to move the lift device LF27
The wafer holder 12 is taken into the work module 30 in which the elevating device LF27 is installed by the elevating device LF27. Thus, in the wafer transfer system of the present embodiment, it is possible to directly transfer the wafer holder 12 between the modules 30.
【0021】また、新たに搬送経路を設ける場合には、
横方向通路25の床下搬送空間FSに新たな軌道24を
設け、これを分岐ユニット27によって中央通路21の
床下搬送空間FSの軌道23に接続することにより行な
う。この場合、新たな軌道24を床下搬送空間FS内に
設けるため、クリーンルームCR内に設ける場合に比較
して、容易に設置することができる。When a new transport path is provided,
This is performed by providing a new track 24 in the underfloor transfer space FS of the lateral passage 25 and connecting it to the track 23 of the underfloor transfer space FS of the central passage 21 by the branching unit 27. In this case, since the new track 24 is provided in the underfloor transfer space FS, it can be installed more easily than when it is provided in the clean room CR.
【0022】昇降装置の構造 ここで、上述した昇降装置LFの具体的な構成について
説明する。図3は、昇降装置LFの構造の一例を示す図
であって、(a)は断面図であり、(b)は床下搬送空
間FS内の平面図である。図3において、昇降装置LF
内には、ウェハ保持具12を昇降させるためのくりCR
と床下搬送空間FSとを連通する昇降空間101が形成
されており、この昇降空間101内に図示しない昇降手
段であるリフト(昇降機)が設けられている。昇降装置
LFのクリーンルームCR側の出入口部であるパスボッ
クス103には、エアブローを行なうエアシャワー設備
が設けられているとともに、両面にシャッター103a
が設けられている。また、床下搬送空間FS側の出入口
部であるパスボックス104には、エアブローを行なう
エアシャワー設備が設けられているとともに、両面にシ
ャッター104aが設けられている。昇降装置LFの床
下搬送空間FS側の下部には昇降装置LF内の空気を廃
棄する排気ファン105が設けられている。昇降装置L
Fの上端からは、昇降空間101内に向けてクリーンエ
アが供給される。一方、軌道15上を移動する搬送装置
11は、搬送装置11内に保持したウェハ保持具12を
移送するフォーク式の移送装置11aを備えており、ウ
ェハ保持具12を昇降装置LFのローダ13に移すこと
が可能となっている。 The structure of the lifting device LF will now be described in detail. 3A and 3B are diagrams illustrating an example of the structure of the lifting device LF, wherein FIG. 3A is a cross-sectional view, and FIG. 3B is a plan view of the underfloor transfer space FS. In FIG. 3, the lifting device LF
Inside, there is a drill CR for raising and lowering the wafer holder 12.
An elevating space 101 is formed for communication between the apparatus and the underfloor transport space FS, and a lift (elevator), not shown, is provided in the elevating space 101. The pass box 103, which is an entrance / exit portion on the clean room CR side of the lifting / lowering device LF, is provided with an air shower facility for performing air blowing, and has shutters 103a on both sides.
Is provided. In the pass box 104, which is an entrance on the side of the underfloor transfer space FS, an air shower facility for performing air blowing is provided, and shutters 104a are provided on both sides. An exhaust fan 105 for discarding the air in the lifting device LF is provided below the lifting device LF on the side of the underfloor transfer space FS. Lifting device L
From the upper end of F, clean air is supplied into the elevating space 101. On the other hand, the transfer device 11 that moves on the track 15 includes a fork-type transfer device 11a that transfers the wafer holder 12 held in the transfer device 11, and transfers the wafer holder 12 to the loader 13 of the elevating device LF. It is possible to transfer.
【0023】また、昇降装置LF内には、ウェハ保持具
12を一時的に保管するための保管棚107が設けられ
ている。この保管棚107は、ウェハ保持具12をパス
ボックス103を通じてクリーンルームCR内に取り出
した際に、クリーンルームCR側に設けられた図示しな
い取り出しステーションが満杯の場合に一時的にウェハ
保持具12が保管される。保管棚107へのウェハ保持
具12の移送は、図示しないリフトによって行なわれ
る。Further, a storage shelf 107 for temporarily storing the wafer holder 12 is provided in the lifting device LF. The storage shelf 107 temporarily stores the wafer holders 12 when the wafer holder 12 is taken out of the clean room CR through the pass box 103 and a take-out station (not shown) provided on the clean room CR side is full. You. The transfer of the wafer holder 12 to the storage shelf 107 is performed by a lift (not shown).
【0024】このような構成の昇降装置LFでは、軌道
15上を搬送されてきた搬送装置11に保持されたウェ
ハ保持具12は、搬送装置11の移送装置11aによっ
てローダ13上に移される。ローダ13は、ウェハ保持
具12をパスボックス104内に移動し、ここで、パス
ボックス104に設けられたエアシャワー設備によるエ
アブローによってウェハ保持具12に付着した塵埃が除
去される。このとき、昇降空間101は、パスボックス
104とはシャッタ104aによって遮断されているた
め、昇降空間101内への塵埃の侵入が防止される。エ
アブローされたウェハ保持具12は、ローダ13によっ
て昇降空間101内へ運ばれ、上述した図示しないリフ
トによって、クリーンルームCR内に上昇されて運ば
れ、クリーンルームCR側のパスボックス103に移さ
れる。パスボックス103では、床下搬送空間FS側の
パスボックス104と同様にエアブローされ、クリーン
ルームCR内に取り出される。したがって、床下搬送空
間FS側からクリーンルームCR内に搬送されてきたウ
ェハ保持具12は、パスボックス103,104を通じ
て清浄され、床下搬送空間FS内でウェハ保持具12に
付着した塵埃等の付着粒子がクリーンルームCR内に持
ち込まれることがない。In the lifting device LF having such a configuration, the wafer holder 12 held by the transfer device 11 transferred on the track 15 is transferred onto the loader 13 by the transfer device 11a of the transfer device 11. The loader 13 moves the wafer holder 12 into the pass box 104. Here, dust adhering to the wafer holder 12 is removed by air blowing using an air shower facility provided in the pass box 104. At this time, since the elevating space 101 is isolated from the pass box 104 by the shutter 104a, intrusion of dust into the elevating space 101 is prevented. The wafer holder 12 having been blown by air is carried into the elevating space 101 by the loader 13, lifted and carried into the clean room CR by the above-described lift (not shown), and moved to the pass box 103 on the clean room CR side. In the pass box 103, the air is blown in the same manner as the pass box 104 on the underfloor transfer space FS side, and is taken out into the clean room CR. Therefore, the wafer holder 12 transferred from the underfloor transfer space FS into the clean room CR is cleaned through the pass boxes 103 and 104, and adhered particles such as dust adhered to the wafer holder 12 in the underfloor transfer space FS. It is not brought into the clean room CR.
【0025】また、昇降空間101には、クリーンエア
が供給され、このエアは排気ファン105によって外部
に排出されているため、昇降空間101内に、床下搬送
空間FSから塵埃等の異物が侵入しても、この異物は排
気ファン105を通じて排出される。このため、床下搬
送空間FSを通じてクリーンルームCR内に塵埃等の異
物が侵入することが未然に防がれる。Further, since clean air is supplied to the elevating space 101 and this air is exhausted outside by the exhaust fan 105, foreign matter such as dust enters the elevating space 101 from the underfloor transport space FS. However, the foreign matter is exhausted through the exhaust fan 105. This prevents foreign substances such as dust from entering the clean room CR through the underfloor transfer space FS.
【0026】ウェハ搬送システムの運用方法 次に、上記のように構成される本実施形態に係るウェハ
搬送システムの運用方法について、図4および図5を参
照して説明する。ここで、図4および図5に示す作業モ
ジュールAは、ウェハに所定の処理を施す工程のための
作業領域であり、作業モジュールBは、作業モジュール
Aにおいて所定の処理が施されたウェハへ次の処理を施
すための作業領域とする。 Operation Method of Wafer Transfer System Next, an operation method of the wafer transfer system according to the present embodiment configured as described above will be described with reference to FIG. 4 and FIG. Here, the work module A shown in FIGS. 4 and 5 is a work area for performing a predetermined process on the wafer, and the work module B is next to the wafer on which the predetermined process has been performed in the work module A. Work area for performing the above processing.
【0027】図4に示すように、作業モジュールAに
は、ウェハに対して所定の処理を施すための装置110
が設けられ、装置110の側方にはウェハ保持具12を
載置する保管棚114が置かれており、また、作業モジ
ュールA内の昇降装置LFの側方には、昇降装置LFか
ら供給されたウェハ保持具12を載置する保管用棚11
3が設置されている。作業モジュールBには、作業モジ
ュールAにおいて所定の処理を施されたウェハに対して
次工程の処理を施すための装置111が設けられ、装置
111の側方にはウェハ保持具12を載置する保管棚1
14が置かれており、また、作業モジュールB内の昇降
装置LFの側方には、昇降装置LFから供給されたウェ
ハ保持具12を載置する保管用棚113が設置されてい
る。また、作業モジュールAおよび作業モジュールBの
天井部には、たとえば、ULPA(ultra low penetrati
on air-filter)からなるフィルタ115が全領域に設置
されており、このフィルタ115からクリーンエアがク
リーンルームCR内に吹き出されている。たとえば、ク
リーンルームCR内は、クラス1のクリーン度に保た
れ、床下搬送空間FSは、クラス100程度のクリーン
度に保たれている。As shown in FIG. 4, the work module A includes an apparatus 110 for performing a predetermined process on a wafer.
Is provided on the side of the apparatus 110, and a storage shelf 114 for mounting the wafer holder 12 is placed on the side of the elevating apparatus LF in the work module A. Storage shelf 11 for placing the wafer holder 12
3 are installed. The work module B is provided with a device 111 for performing the next process on the wafer on which the predetermined process has been performed in the work module A, and the wafer holder 12 is placed beside the device 111. Storage shelf 1
Further, a storage shelf 113 for placing the wafer holder 12 supplied from the elevating device LF is installed on the side of the elevating device LF in the work module B. In addition, for example, ULPA (ultra low penetrati
On-air-filter) is provided in the entire area, and clean air is blown from the filter 115 into the clean room CR. For example, the inside of the clean room CR is maintained at a class 1 clean degree, and the underfloor transfer space FS is maintained at a class 100 clean degree.
【0028】また、図6は、作業モジュールAおよび作
業モジュールBの管理システムの一構成例を示す図であ
る。図6に示すように、作業モジュールAおよび作業モ
ジュールBはそれぞれ管理装置211、212を有して
おり、各作業モジュールにおける装置110、111の
作業状況を管理可能になっている。また、管理装置21
1、212は、ネットワーク手段210によって接続さ
れており、各種の情報を送受信可能となっている。な
お、ネットワーク手段210には、他の作業モジュール
の管理装置が接続されている。また、管理装置211,
212は、昇降装置LFおよび搬送装置12とも接続さ
れており、これらの動作制御が可能である。FIG. 6 is a diagram showing an example of a configuration of a management system for the work modules A and B. As shown in FIG. 6, the work module A and the work module B have management devices 211 and 212, respectively, so that the work status of the devices 110 and 111 in each work module can be managed. Also, the management device 21
Reference numerals 1 and 212 are connected by a network means 210, and can transmit and receive various kinds of information. The network unit 210 is connected to a management device for another work module. Also, the management device 211,
The 212 is also connected to the lifting device LF and the transport device 12, and can control the operation thereof.
【0029】たとえば、作業モジュールBにおいて、作
業者OPが装置111の側方の保管棚114から装置1
11にウェハ保持具12に保持されたウェハカセットを
投入する。このウェハ保持具12に保持されたウェハカ
セットの投入は、作業者OPが行なうことができるが、
後述する蓋開閉/移載機能付き台車を用いて半自動で投
入することも可能でる。作業モジュールBの管理装置2
12はウェハカセットを装置111に投入したことを知
らせる投入信号を装置111から受け、これに基づい
て、作業モジュールAの管理装置211に対して、作業
モジュールAから作業モジュールBへ送るべきウェハを
保持するウェハ保持具12の発送を要求する信号を送信
する。このときの発送要求信号は、たとえば、ロット番
号、モデル名、プロセス番号等の情報からなる。作業モ
ジュールAの管理装置211では、この発送要求信号を
受けて、作業者OPに作業モジュールBから要求される
ウェハ保持具12を知らせる。作業者OPは、要求され
るウェハ保持具12を昇降装置LFに投入する。作業モ
ジュールAの昇降装置LFに投入されたウェハ保持具1
2は、搬送装置11によって作業モジュールB側の昇降
装置LFまで搬送され、作業モジュールB側の昇降装置
LFによって作業モジュールBのクリーンルームCR内
に搬送される。For example, in the work module B, the worker OP moves the storage device 114 from the storage shelf 114 on the side of the device 111.
11, the wafer cassette held by the wafer holder 12 is loaded. The loading of the wafer cassette held by the wafer holder 12 can be performed by the operator OP.
It is also possible to perform semi-automatic loading using a trolley with a lid opening / closing / transfer function described later. Management device 2 for work module B
12 receives an input signal from the device 111 that informs that the wafer cassette has been inserted into the device 111, and based on the signal, holds the wafer to be sent from the work module A to the work module B to the management device 211 of the work module A. A signal requesting that the wafer holder 12 be sent out is transmitted. At this time, the dispatch request signal includes information such as a lot number, a model name, and a process number. The management device 211 of the work module A receives this dispatch request signal and notifies the worker OP of the wafer holder 12 requested by the work module B. The operator OP puts the required wafer holder 12 into the elevating device LF. Wafer holder 1 put into lifting device LF of work module A
2 is transported by the transport device 11 to the lifting / lowering device LF on the working module B side, and is transported into the clean room CR of the working module B by the lifting / lowering device LF on the working module B side.
【0030】ウェハ保持具 次に、上述した本実施形態に係るウェハ搬送システムに
おいて用いられるウェハ保持具12の構成について説明
する。図7および図8は、本実施形態に係るウェハ搬送
システムにおいて用いられるウェハ保持具12の一例を
示す図であって、図7は一体型のウェハ保持具の斜視図
であり、図8は分離型のウェハ保持具の斜視図である。
ここで、一体型のウェハ保持具とは、ウェハを直接収納
するタイプのウェハ保持具である。また、分離型のウェ
ハ保持具とは、複数のウェハを整列して収納可能なカセ
ット自体を保持するタイプのウェハ保持具である。The wafer holder Next, the configuration of the wafer holder 12 used in the wafer transfer system according to the present embodiment described above. 7 and 8 are views showing an example of the wafer holder 12 used in the wafer transfer system according to the present embodiment. FIG. 7 is a perspective view of an integrated wafer holder, and FIG. It is a perspective view of the wafer holder of a type | mold.
Here, the integrated wafer holder is a type of wafer holder that directly stores a wafer. In addition, the separation type wafer holder is a type of wafer holder that holds a cassette itself capable of aligning and storing a plurality of wafers.
【0031】図7に示すように、一体型ウェハ保持具5
1は、内部にウェハWを整列して収納するための溝53
が形成されている。また、一体型ウェハ保持具51の開
口部52は、図示しない蓋体によって気密に閉鎖するこ
とが可能となっている。一体型ウェハ保持具51では、
ウェハWを直接収容し、かつ開口部52を気密に蓋体に
よって閉鎖する構成であるため、ウェハWの汚染に対し
て有効である。As shown in FIG. 7, the integrated wafer holder 5
1 is a groove 53 for aligning and storing the wafers W therein.
Are formed. The opening 52 of the integrated wafer holder 51 can be airtightly closed by a lid (not shown). In the integrated wafer holder 51,
Since the configuration is such that the wafer W is directly accommodated and the opening 52 is hermetically closed by the lid, it is effective against contamination of the wafer W.
【0032】図8に示すように、分離型ウェハ保持具6
1は、内部にウェハカセット70を収容する収容部を有
しており、ウェハカセット70を収容して図示しない蓋
体によって開口部62を気密に閉鎖することが可能な構
造となっている。分離型ウェハ保持具61では、開口部
62を気密に蓋体によって閉鎖する構成であるため、ウ
ェハWの汚染に対して有効である。また、ウェハカセッ
ト70を収容保持するため、ウェハWの搬送の際に、複
数のウェハWを一括に収容または取り出すことができ、
ウェハWに対して所定の処理を施す装置へのウェハWの
一括投入が可能である等の点で有利である。また、分離
型ウェハ保持具61は、分離型ウェハ保持具61自体の
洗浄が容易である。As shown in FIG. 8, the separation type wafer holder 6
Reference numeral 1 has an accommodating portion for accommodating the wafer cassette 70 therein, and has a structure capable of accommodating the wafer cassette 70 and hermetically closing the opening 62 with a lid (not shown). Since the opening 62 is hermetically closed by the lid in the separation-type wafer holder 61, it is effective against contamination of the wafer W. Further, since the wafer cassette 70 is housed and held, a plurality of wafers W can be housed or taken out at a time when the wafer W is transferred,
This is advantageous in that the wafers W can be batch-input into an apparatus that performs a predetermined process on the wafers W. Moreover, the separation type wafer holder 61 can easily clean the separation type wafer holder 61 itself.
【0033】次に、上述の一体型ウェハ保持具51およ
び分離型ウェハ保持具61の本実施形態のウェハ搬送シ
ステムにおける使用方法(使い分け)について説明す
る。図9に示すように、たとえば、ウェハに対する処理
として、洗浄工程71およびゲート酸化膜形成工程72
を考えた場合、これら工程71、72は、通常、同一の
作業モジュール内において行なわれる。すなわち、所定
の作業モジュール内には、ウェハの洗浄のための洗浄装
置とウェハに酸化膜を形成するための酸化装置が設置さ
れる。ゲート酸化膜を形成する工程では、特に、ダスト
および有機物汚染を非常に嫌うため、ダストおよび有機
物汚染を防止する必要がある。Next, a description will be given of a method of using the integrated wafer holder 51 and the separation type wafer holder 61 in the wafer transfer system according to the present embodiment. As shown in FIG. 9, for example, as processing for a wafer, a cleaning step 71 and a gate oxide film forming step 72 are performed.
, These steps 71 and 72 are usually performed in the same work module. That is, a cleaning device for cleaning a wafer and an oxidizing device for forming an oxide film on the wafer are installed in a predetermined work module. In the step of forming the gate oxide film, dust and organic substances are particularly disliked. Therefore, it is necessary to prevent dust and organic substances from being contaminated.
【0034】本実施形態では、洗浄装置から酸化装置へ
のウェハの受け渡しは、上述した一体型のウェハ保持具
51によって行なう。これにより、ウェハは、クリーン
ルームCR内の汚染およびウェハカセットの汚染に晒さ
れることがなく、ウェハのダストおよび有機物汚染を確
実に防止することができる。また、ウェハのダストおよ
び有機物汚染を非常に嫌う工程として、たとえば、ポリ
シリコン膜をCVD装置によって形成する工程や、スパ
ッタリング工程等が存在し、これらの工程でのウェハの
受け渡しも一体型のウェハ保持具51によって行なう。
すなわち、酸化装置からCVD装置へのウェハの受け渡
しや、洗浄装置からスパッタ装置へのウェハの受け渡し
である。In this embodiment, the transfer of the wafer from the cleaning device to the oxidizing device is performed by the above-described integrated wafer holder 51. Thereby, the wafer is not exposed to the contamination in the clean room CR and the contamination of the wafer cassette, and it is possible to reliably prevent the dust and organic substance contamination of the wafer. In addition, as a process that strongly dislikes dust and organic contamination of the wafer, there are, for example, a process of forming a polysilicon film by a CVD device, a sputtering process, and the like. It is performed by the tool 51.
That is, the transfer of the wafer from the oxidation device to the CVD device, and the transfer of the wafer from the cleaning device to the sputtering device.
【0035】一方、一体型のウェハ保持具51では、ウ
ェハの出し入れを直接行なうため、出し入れ作業が煩雑
となる。このため、本実施形態では、作業モジュール間
のウェハ搬送は、上述した分離型のウェハ保持具61を
使用する。また、作業モジュール内でのウェハの受け渡
しについても、上述したウェハのダストおよび有機物汚
染を非常に嫌う工程以外の工程では、分離型のウェハ保
持具61によって行なう。これによって、ウェハの受け
渡し作業をウェハカセットによって一括して行なうこと
ができるため、受け渡し作業が容易であり、迅速に行な
うことができる。On the other hand, in the integrated wafer holder 51, since the loading and unloading of the wafer is performed directly, the loading and unloading work becomes complicated. For this reason, in the present embodiment, the above-described separated type wafer holder 61 is used for wafer transfer between the work modules. Also, the delivery of the wafer in the work module is performed by the separation type wafer holder 61 in the steps other than the above-mentioned step in which the dust and the organic substance contamination of the wafer are extremely disliked. Thus, the wafer transfer operation can be performed collectively by the wafer cassette, so that the transfer operation is easy and can be performed quickly.
【0036】ここで、上記の分離型ウェハ保持具61の
具体的な構成について説明する。図10および図11
は、分離型ウェハ保持具61の構成を示す図であって、
図10は斜視図であり、図11(a)は上面図であり、
図11(b)は開口側の側面図であり、図11(c)は
側面図である。図10および図11において、分離型ウ
ェハ保持具61は、保持具本体62と蓋体66とを有す
る。保持具本体62は、開口部62aを有する断面が矩
形状の箱体から形成されている。保持具本体62の両側
面には、作業者が保持具本体62を持つための溝状の把
持部65が形成され、また、保持具本体62の両側面の
開口部近くには蓋体66を固定するためのロッキング機
構63が設けられている。Here, a specific configuration of the above-mentioned separation type wafer holder 61 will be described. 10 and 11
Is a diagram showing a configuration of a separation-type wafer holder 61,
FIG. 10 is a perspective view, FIG. 11 (a) is a top view,
FIG. 11B is a side view on the opening side, and FIG. 11C is a side view. 10 and 11, the separation-type wafer holder 61 has a holder main body 62 and a lid 66. The holder body 62 is formed of a rectangular box having an opening 62a and having a rectangular cross section. On both sides of the holder main body 62, a groove-like gripping portion 65 for an operator to hold the holder main body 62 is formed, and a lid 66 is provided near the opening on both sides of the holder main body 62. A locking mechanism 63 for fixing is provided.
【0037】保持具本体62内の底部には、図11
(b)に示すように、開口部62aを通じて収容される
ウェハカセット70を載置するための二条の保持部64
が平行に形成されている。この保持部64は、ウェハカ
セット70の下方に後述する蓋開閉/移載機能付き台車
のリーチフォークを挿入するための空間を形成するとと
もに、保持部64の一部は、図11(c)に示すよう
に、ウェハカセット70の底面に形成された嵌合溝70
aに嵌まり、ウェハカセット70の横ずれを防ぐ機能も
有する。At the bottom of the holder main body 62, FIG.
As shown in (b), two holding portions 64 for mounting the wafer cassette 70 housed through the opening 62a.
Are formed in parallel. The holding portion 64 forms a space below the wafer cassette 70 for inserting a reach fork of a trolley with a lid opening / closing / transfer function described later, and a part of the holding portion 64 is formed as shown in FIG. As shown, a fitting groove 70 formed on the bottom surface of the wafer cassette 70 is provided.
a, and has a function of preventing the wafer cassette 70 from laterally shifting.
【0038】保持具本体62内の両側面部には、上記の
溝状の把持部65を形成する突出壁部65aが突出して
いる。この突出壁部65aは、収容されたウェハカセッ
ト70の横ずれ防止の機能を有している。突出壁部65
a間の距離は、ウェハカセット70の側面と所定のクリ
アランスを持つように、ウェハカセット70の横方向の
寸法に略等しく形成されている。Projecting wall portions 65a forming the above-mentioned groove-shaped gripping portions 65 project from both side surfaces in the holder main body 62. The protruding wall portion 65a has a function of preventing the accommodated wafer cassette 70 from laterally shifting. Projecting wall 65
The distance between "a" and "a" is substantially equal to the lateral dimension of the wafer cassette 70 so as to have a predetermined clearance with the side surface of the wafer cassette 70.
【0039】保持具本体62の底部には、図11(c)
に示すように、溝部62bが形成されており、後述する
蓋開閉/移載機能付き台車との位置決めのために用いら
れる。また、図11(b)に示すように、保持具本体6
2の内部には、後述する蓋開閉/移載機能付き台車のリ
ーチフォークがウェハカセット70の下端の両側挿入さ
れる。At the bottom of the holder main body 62, FIG.
As shown in FIG. 7, a groove 62b is formed, and is used for positioning with a carriage having a lid opening / closing / transfer function described later. In addition, as shown in FIG.
A reach fork of a carriage with a lid opening / closing / transfer function, which will be described later, is inserted into both sides of the lower end of the wafer cassette 70.
【0040】ロッキング機構63は、図12(a)に示
すように、操作レバー63aと、係合ピン63bを有し
ており、操作レバー63aの操作によって係合ピン63
bは、ロッキング機構63から出没可能となっている。
ロッキング機構63の係合ピン63bは、図12(b)
に示すように、蓋体66の前面に設けられた係止部68
と係合可能であり、蓋体66の係止部68と係合して蓋
体66を保持具本体62の開口部62aに固定する。ロ
ッキング機構63の操作レバー63aを操作して係合ピ
ン63bをロッキング機構63内に没入させると、蓋体
66の係止部68と係合ピン63bとの係合が解除さ
れ、蓋体66の保持具本体62の開口部62aからの取
り外しが可能になる。As shown in FIG. 12A, the locking mechanism 63 has an operation lever 63a and an engagement pin 63b, and the engagement pin 63 is operated by operating the operation lever 63a.
b can be moved out of the locking mechanism 63.
The engagement pin 63b of the locking mechanism 63 is shown in FIG.
As shown in FIG. 7, a locking portion 68 provided on the front surface of the lid 66 is provided.
Is engaged with the locking portion 68 of the lid 66 to fix the lid 66 to the opening 62 a of the holder main body 62. When the operating pin 63b of the locking mechanism 63 is operated to retract the engaging pin 63b into the locking mechanism 63, the engagement between the locking portion 68 of the lid 66 and the engaging pin 63b is released, and the The holder main body 62 can be removed from the opening 62a.
【0041】蓋体66は、前面中央付近に、後述する蓋
開閉/移載機能付き台車の蓋開閉装置がチャックする把
手部67が形成され、前面の両端部には、上述のロッキ
ング機構63の係合ピン63bと係合可能な係止部68
は形成されている。蓋体66の後面には、保持具本体6
2の開口周縁部と密着して保持具本体62を気密に密閉
するためのシール部69が形成されている。また、蓋体
66の後面には、図11(a)に示すように、ウェハカ
セット70の保持されたウェハWと当接して、ウェハW
がウェハカセット70からずれないようにするためのプ
レート状のパッド部75が形成されている。このパッド
部75は、ウェハWと当接した際にウェハWを損傷させ
ないように、たとえば、ウレタン系の樹脂材料等の比較
的軟らかい材料から形成されている。The lid body 66 is formed with a handle 67 for chucking by a lid opening / closing device of a truck with a lid opening / closing / transfer function, which will be described later, near the center of the front surface. Engagement portion 68 engageable with engagement pin 63b
Is formed. On the rear surface of the lid 66, the holder body 6
A seal portion 69 for tightly sealing the holder main body 62 in close contact with the peripheral edge of the opening 2 is formed. As shown in FIG. 11A, the rear surface of the lid 66 contacts the wafer W held in the wafer cassette 70,
Is formed in a plate-like pad portion 75 for preventing the wafer from shifting from the wafer cassette 70. The pad portion 75 is formed of a relatively soft material such as a urethane-based resin material so as not to damage the wafer W when it comes into contact with the wafer W.
【0042】蓋開閉/移載機能付き台車 次に、上述の分離型のウェハ保持具61の作業モジュー
ル内での運搬に用いられる蓋開閉/移載機能付き台車に
ついて説明する。図13〜図16は、蓋開閉/移載機能
付き台車の構造を示す図であって、図13は斜視図であ
り、図14は上面図であり、図15は側面図であり、図
16は背面図である。蓋開閉/移載機能付き台車80
は、リーチフォーク機構部81と、蓋体開閉機構部83
と、保持具押え機構部86と、ロッキング解除機構部8
8と、昇降機構部90とを有する。 Cart with lid opening / closing / transfer function Next, a cart with lid opening / closing / transfer function used for carrying the above-mentioned separated type wafer holder 61 in the work module will be described. 13 to 16 are views showing the structure of a truck with a lid opening / closing / transferring function. FIG. 13 is a perspective view, FIG. 14 is a top view, FIG. 15 is a side view, and FIG. Is a rear view. Truck 80 with lid opening / closing / transfer function
Are a reach fork mechanism 81 and a lid opening / closing mechanism 83
, Holder holding mechanism 86, and locking release mechanism 8
8 and a lifting mechanism 90.
【0043】上記の各機構部は、蓋開閉/移載機能付き
台車80上の載置板98の上に直接的または間接的に設
けられている。また、載置板98上には、上記の分離型
ウェハ保持具61を載置するための載置部99が設けら
れている。Each of the above mechanisms is provided directly or indirectly on a mounting plate 98 on a carriage 80 with a lid opening / closing / transferring function. On the mounting plate 98, a mounting portion 99 for mounting the above-mentioned separation type wafer holder 61 is provided.
【0044】ロッキング解除機構部88は、分離型ウェ
ハ保持具61のロッキング機構63のロックを解除す
る。ロッキング解除機構部88は、係合アーム88a
と、この係合アーム88aを旋回駆動させる、たとえ
ば、モータからなる駆動源88bとを分離型ウェハ保持
具61のロッキング機構63に対応して備えている。ま
た、ロッキング解除機構部88は、載置板98上に設け
られている。ロッキング解除機構部88は、図19に示
すように、係合アーム88aを旋回することによって、
分離型ウェハ保持具61のロッキング機構63の操作レ
バー63aを操作可能となっており、ロッキング機構6
3のロックを解除することができる。The unlocking mechanism 88 unlocks the locking mechanism 63 of the separation type wafer holder 61. The unlocking mechanism 88 includes an engagement arm 88a.
And a drive source 88b composed of, for example, a motor for rotating this engagement arm 88a, corresponding to the locking mechanism 63 of the separation type wafer holder 61. The locking release mechanism 88 is provided on the mounting plate 98. The locking release mechanism 88 pivots the engagement arm 88a as shown in FIG.
The operation lever 63a of the locking mechanism 63 of the separation type wafer holder 61 can be operated, and the locking mechanism 6 can be operated.
3 can be unlocked.
【0045】蓋体開閉機構部83は、蓋体63の開閉を
行なうものであり、分離型ウェハ保持具61の蓋体63
を保持し、これを所定の位置に移動可能である。蓋体開
閉機構部83は、保持アーム83aと、この保持アーム
83aを90度旋回可能な旋回駆動部83bとを有す
る。すなわち、分離型ウェハ保持具61の開口部62a
に固定された蓋体66の把手部67を保持アーム83a
によって保持し、旋回駆動部83bによって保持アーム
83aを90度旋回させることにより、蓋体66を開
く。蓋体開閉機構部83は、載置板98上に設けられて
いる。また、蓋体開閉機構部83の起動は、図14に示
す操作ボタン95を操作することによって行なう。The lid opening / closing mechanism 83 opens and closes the lid 63, and the lid 63 of the separation type wafer holder 61.
And can be moved to a predetermined position. The lid opening / closing mechanism 83 has a holding arm 83a and a turning drive unit 83b that can turn the holding arm 83a by 90 degrees. That is, the opening 62a of the separation-type wafer holder 61
The handle 67 of the lid 66 fixed to the
The cover 66 is opened by turning the holding arm 83a by 90 degrees by the turning drive unit 83b. The lid opening / closing mechanism 83 is provided on the mounting plate 98. The activation of the lid opening / closing mechanism 83 is performed by operating the operation button 95 shown in FIG.
【0046】リーチフォーク機構部81は、ウェハカセ
ット70を保持して当該ウェハカセット70をウェハ保
持具61から取り出す機能を有する。リーチフォーク機
構部81は、図14に示すモータMによって直動するピ
ニオンおよびラック機構を有し、このピニオンおよびラ
ック機構によって2本のリーチフォーク82が直動方向
の任意の位置に移動可能となっている。2本のリーチフ
ォーク82に載置されたウェハカセット70は、装置側
の受台300に移載される。リーチフォーク機構部81
は、昇降板100上に設けられている。The reach fork mechanism 81 has a function of holding the wafer cassette 70 and taking out the wafer cassette 70 from the wafer holder 61. The reach fork mechanism 81 has a pinion and a rack mechanism that is directly moved by a motor M shown in FIG. 14, and the two reach forks 82 can be moved to any position in the direction of linear movement by the pinion and the rack mechanism. ing. The wafer cassette 70 placed on the two reach forks 82 is transferred to the receiving table 300 on the apparatus side. Reach fork mechanism 81
Is provided on the lifting plate 100.
【0047】昇降機構部90は、昇降板100を昇降さ
せることにより、リーチフォーク機構部81を昇降させ
る。昇降機構部90は、電車のパンタグラフに似た伸縮
可能な機構を有し、この機構が載置板98と昇降板10
0との間に連結されている。このため、リーチフォーク
機構部81のリーチフォーク82を任意の高さに移動さ
せることができる。The lifting mechanism 90 raises and lowers the lifting plate 100 to raise and lower the reach fork mechanism 81. The elevating mechanism unit 90 has an extendable and retractable mechanism similar to a pantograph of a train.
0. Therefore, the reach fork 82 of the reach fork mechanism 81 can be moved to an arbitrary height.
【0048】保持具押え機構部86は、蓋開閉/移載機
能付き台車80に載置された分離型ウェハ保持具61を
蓋開閉/移載機能付き台車80に向けて押圧し、蓋開閉
/移載機能付き台車80上から分離型ウェハ保持具61
が移動しないようにする。保持具押え機構部86は、図
17に示すように、載置板98上に固定されたフランジ
部85によって保持された円柱状の押え用重り86aを
有する。押え用重り86aは、フランジ部85に形成さ
れた貫通孔に挿入されており、押え用重り86aの段付
き部86fがフランジ部85に係合可能に保持されてい
る。また、フランジ部85の下面にはストッパリング8
6bが固着しており、このストッパリング86bには、
固定用ネジ86cが設けられている。押え用重り86a
の外周には、固定用ネジ86cが嵌合する溝86dが形
成されている。また、押え用重り86aの先端面には、
ウレタン系の樹脂材料等の比較的軟らかい材料からなる
当接板86eが固着されている。また、フランジ部85
は、図13に示すように、矢印方向に90度の角度で回
転可能となっている。これにより、蓋開閉/移載機能付
き台車80の載置部99に分離型ウェハ保持具61を載
置する際には、フランジ部85を図13に示す状態から
90度の角度の回転位置に回転させておけば、分離型ウ
ェハ保持具61の載置部99への載置が容易となる。The holder holding mechanism 86 presses the separation-type wafer holder 61 placed on the trolley 80 with a lid opening / closing / transfer function toward the trolley 80 with a lid opening / closing / transfer function. Separable wafer holder 61 from the carriage 80 with transfer function
Not move. As shown in FIG. 17, the holder holding mechanism 86 has a columnar holding weight 86a held by a flange 85 fixed on the mounting plate 98. The holding weight 86a is inserted into a through hole formed in the flange portion 85, and the stepped portion 86f of the holding weight 86a is held so as to be able to engage with the flange portion 85. A stopper ring 8 is provided on the lower surface of the flange portion 85.
6b is fixed to the stopper ring 86b.
A fixing screw 86c is provided. Holder weight 86a
A groove 86d into which the fixing screw 86c is fitted is formed on the outer periphery of the groove. Also, on the tip surface of the holding weight 86a,
A contact plate 86e made of a relatively soft material such as a urethane-based resin material is fixed. Also, the flange portion 85
Is rotatable at an angle of 90 degrees in the direction of the arrow, as shown in FIG. Accordingly, when the separation type wafer holder 61 is mounted on the mounting portion 99 of the carriage 80 with a lid opening / closing / transferring function, the flange portion 85 is shifted from the state shown in FIG. If it is rotated, mounting of the separation type wafer holder 61 on the mounting portion 99 becomes easy.
【0049】保持具押え機構部86は、ウェハカセット
70の上面を押圧しない状態では、図18(a)に示す
ように、固定ネジ86cを締めつけて当接板86eとウ
ェハカセット70の上面とを離間した状態とする。保持
具押え機構部86によって、ウェハカセット70の上面
を押圧する場合には、固定ネジ86cを緩めることによ
り、図18(b)に示すように、押え用重り86aが矢
印で示す下方に降下し、当接板86eがウェハカセット
70の上面に当接する。これにより、押え用重り86a
の重さによってウェハカセット70の上面が押圧され
る。当接板86eは軟らかい材料で形成されているた
め、ウェハカセット70の上面は当接板86eと当接し
ても損傷することがない。When the holder holding mechanism 86 does not press the upper surface of the wafer cassette 70, as shown in FIG. 18A, the holding screw 86c tightens the fixing screw 86c to separate the contact plate 86e from the upper surface of the wafer cassette 70. It shall be in a state of being separated. When the upper surface of the wafer cassette 70 is pressed by the holder pressing mechanism 86, the fixing weight 86c is loosened, so that the pressing weight 86a descends as shown by the arrow in FIG. 18B. The contact plate 86e contacts the upper surface of the wafer cassette 70. Thereby, the holding weight 86a
Presses the upper surface of the wafer cassette 70. Since the contact plate 86e is formed of a soft material, the upper surface of the wafer cassette 70 will not be damaged even if it comes into contact with the contact plate 86e.
【0050】蓋開閉/移載機能付き台車80の下部に
は、車輪91が設けられている。この車輪91は、例え
ば、ウレタン系の材料等の比較的軟らかい材料から形成
され、蓋開閉/移載機能付き台車80への振動を和らげ
ている。蓋開閉/移載機能付き台車80には、バッテリ
92および充電器93が設けられ、リーチフォーク機構
部81、蓋体開閉機構部83、ロッキング解除機構部8
8および昇降機構部90を駆動するための電力を供給可
能となっている。Wheels 91 are provided at the lower part of the trolley 80 with a lid opening / closing / transfer function. The wheels 91 are made of, for example, a relatively soft material such as a urethane-based material, and reduce vibrations to the carriage 80 with a lid opening / closing / transfer function. The trolley 80 with a lid opening / closing / transfer function is provided with a battery 92 and a charger 93, and includes a reach fork mechanism 81, a lid opening / closing mechanism 83, and a locking release mechanism 8.
8 and the power for driving the lifting mechanism 90 can be supplied.
【0051】また、蓋開閉/移載機能付き台車80の載
置板98の下方には、リーチフォーク位置調整用ハンド
ル94およびリーチフォーク回転調整用ハンドル95が
設けられている。リーチフォーク位置調整用ハンドル9
4は、これを回転させることによって、リーチフォーク
機構部81全体をリーチフォーク82の長手方向に直交
する方向に、たとえば、±50mmの範囲で移動するこ
とができる。リーチフォーク回転調整用ハンドル95
は、これを回転させることによって、リーチフォーク機
構部81全体を、たとえば、10度の角度範囲で回転さ
せることができる。リーチフォーク位置調整用ハンドル
94およびリーチフォーク回転調整用ハンドル95によ
る調整によって、分離型ウェハ保持具61の受台300
に対する正確な位置決めが可能となる。A handle 94 for adjusting the position of the reach fork and a handle 95 for adjusting the rotation of the reach fork are provided below the placement plate 98 of the trolley 80 with a lid opening / closing / transfer function. Reach fork position adjustment handle 9
By rotating this, the whole reach fork mechanism 81 can be moved in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the reach fork 82, for example, within a range of ± 50 mm. Reach fork rotation adjustment handle 95
By rotating this, the entire reach fork mechanism 81 can be rotated within an angle range of, for example, 10 degrees. Adjustment by the reach fork position adjustment handle 94 and the reach fork rotation adjustment handle 95 allows the pedestal 300 of the detachable wafer holder 61 to be adjusted.
Can be accurately positioned.
【0052】また、蓋開閉/移載機能付き台車80の前
面には台車位置決めピン97が設けられている。図14
および図15に示すように、装置側の受台300に形成
された位置決め用凹部300aと嵌合することにより、
蓋開閉/移載機能付き台車80を受台300に対して位
置決めすることができる。A bogie positioning pin 97 is provided on the front of the bogie 80 with a lid opening / closing / transfer function. FIG.
And as shown in FIG. 15, by fitting into a positioning recess 300a formed in the receiving base 300 on the apparatus side,
The carriage 80 with a lid opening / closing / transfer function can be positioned with respect to the receiving table 300.
【0053】上記構成の蓋開閉/移載機能付き台車80
は、たとえば、図20に示すように用いられる。図20
(a)に示すように、昇降装置LFから作業モジュール
内に搬入され、載置台302に取り出されたウェハカセ
ット70を収容した分離型ウェハ保持具61は保管棚3
03に載置されている。これら分離型ウェハ保持具61
のうち必要な分離型ウェハ保持具61を作業者OPが蓋
開閉/移載機能付き台車80に載置する。次いで、図2
0(b)に示すように、作業者OPは蓋開閉/移載機能
付き台車80を押して作業モジュール内の所定の処理を
行なう装置304まで運ぶ。蓋開閉/移載機能付き台車
80を装置304まで運ぶと、蓋開閉/移載機能付き台
車80は、分離型ウェハ保持具61の蓋体66を自動的
に開き、ウェハ保持具61に収容されたウェハカセット
70を自動的に装置304の受台300に移載する。空
になった分離型ウェハ保持具61は、保管棚305に作
業者OPによって保管される。The cart 80 with the lid opening / closing / transferring function having the above configuration.
Is used, for example, as shown in FIG. FIG.
As shown in FIG. 7A, the separation type wafer holder 61 containing the wafer cassette 70 loaded into the work module from the lifting device LF and taken out to the mounting table 302 is stored in the storage shelf 3.
03. These separation type wafer holders 61
The operator OP places the necessary detachable wafer holder 61 on the carriage 80 with a lid opening / closing / transfer function. Then, FIG.
As shown in FIG. 0 (b), the operator OP pushes the trolley 80 with a lid opening / closing / transfer function to carry it to the device 304 for performing a predetermined process in the work module. When the trolley 80 with a lid opening / closing / transfer function is carried to the device 304, the trolley 80 with a lid opening / closing / transfer function automatically opens the lid 66 of the separation type wafer holder 61 and is accommodated in the wafer holder 61. The wafer cassette 70 is automatically transferred to the receiving table 300 of the apparatus 304. The empty separation type wafer holder 61 is stored in the storage shelf 305 by the operator OP.
【0054】次に、上記構成の蓋開閉/移載機能付き台
車80の分離型ウェハ保持具61内に収容されたウェハ
カセット70の装置304の受台300への自動移載動
作について図21、図22および図23を参照して説明
する。まず、図21(a)に示すように、蓋開閉/移載
機能付き台車80の載置部99に載置されたウェハカセ
ット70の上面を保持具押え機構部86によって押圧す
る。この保持具押え機構部86の押圧動作は、上述した
ように、保持具押え機構部86の固定ネジ86cを緩め
ることによって行なう。これによって、分離型ウェハ保
持具61は、蓋開閉/移載機能付き台車80の載置部9
9に対して固定される。また、この動作は作業者OPに
よって行なわれる。Next, an automatic transfer operation of the wafer cassette 70 housed in the separation type wafer holder 61 of the carriage 80 with the lid opening / closing / transfer function having the above-mentioned structure to the receiving table 300 of the apparatus 304 is shown in FIG. This will be described with reference to FIGS. First, as shown in FIG. 21A, the upper surface of the wafer cassette 70 mounted on the mounting portion 99 of the carriage 80 with the lid opening / closing / transferring function is pressed by the holder pressing mechanism 86. The pressing operation of the holder pressing mechanism 86 is performed by loosening the fixing screw 86c of the holder pressing mechanism 86 as described above. Thereby, the separation type wafer holder 61 is attached to the mounting portion 9 of the carriage 80 having the lid opening / closing / transferring function.
9 fixed. This operation is performed by the operator OP.
【0055】次いで、蓋開閉/移載機能付き台車80の
操作ボタン95を操作して、蓋体開閉機構部83を起動
する。蓋体開閉機構部83を起動すると、図21(b)
に示すように、蓋体開閉機構部83の保持アーム83a
が90度旋回し、保持アーム83aが分離型ウェハ保持
具61の蓋体66の把手部67を自動的にチャックす
る。Next, the operation button 95 of the carriage 80 with the cover opening / closing / transfer function is operated to activate the cover opening / closing mechanism 83. When the lid opening / closing mechanism 83 is activated, FIG.
As shown in the figure, the holding arm 83a of the lid opening / closing mechanism 83
Rotates 90 degrees, and the holding arm 83a automatically chucks the handle 67 of the lid 66 of the separation-type wafer holder 61.
【0056】次いで、保持アーム83aによる分離型ウ
ェハ保持具61の蓋体66の把手部67のチャックが完
了すると、ロッキング解除機構部88が作動し、図19
においておいて説明した動作によって、分離型ウェハ保
持具61のロッキング機構63による蓋体66のロック
を自動的に解除する。Next, when the chucking of the handle 67 of the lid 66 of the separation type wafer holder 61 by the holding arm 83a is completed, the locking release mechanism 88 is operated, and FIG.
By the operation described above, the locking of the lid 66 by the locking mechanism 63 of the separation type wafer holder 61 is automatically released.
【0057】次いで、図21(d)に示すように、蓋体
開閉機構部83の保持アーム83aが再度旋回して、分
離型ウェハ保持具61の蓋体66を保持具本体62から
外し、ウェハカセット70を移載するまで蓋体66を保
持した状態を維持する。Next, as shown in FIG. 21D, the holding arm 83a of the lid opening / closing mechanism 83 is turned again, and the lid 66 of the separation type wafer holder 61 is removed from the holder main body 62, and the wafer is removed. The state where the lid 66 is held is maintained until the cassette 70 is transferred.
【0058】次いで、図22(a)に示すように、リー
チフォーク機構部81が動作して、リーチフォーク82
が分離型ウェハ保持具61内のウェハカセット70の下
方に挿入される。Next, as shown in FIG. 22 (a), the reach fork mechanism 81 operates and the reach fork 82
Is inserted below the wafer cassette 70 in the separation-type wafer holder 61.
【0059】次いで、図22(b)に示すように、蓋開
閉/移載機能付き台車80の昇降機構部90が動作し
て、昇降板100が矢印方向に所定の位置まで上昇し、
これによってリーチフォーク82の一端部側が分離型ウ
ェハ保持具61の下部を保持する。Next, as shown in FIG. 22 (b), the lifting mechanism 90 of the carriage 80 with the lid opening / closing / transfer function operates, and the lifting plate 100 rises to a predetermined position in the direction of the arrow.
As a result, one end of the reach fork 82 holds the lower part of the separation type wafer holder 61.
【0060】次いで、図22(c)に示すように、リー
チフォーク82が矢印方向に移動し、分離型ウェハ保持
具61内からウェハカセット70を取り出す。Next, as shown in FIG. 22C, the reach fork 82 moves in the direction of the arrow, and takes out the wafer cassette 70 from the inside of the separation type wafer holder 61.
【0061】次いで、リーチフォーク82は一旦下降
し、ウェハカセット70を昇降板100上に載置する。
そして、図22(d)に示すように、リーチフォーク8
2は矢印で示す分離型ウェハ保持具61の方向に移動
し、再度所定の位置まで上昇してウェハカセット70を
保持する。これにより、リーチフォーク82の他端部側
がウェハカセット70の下部を保持することになる。Next, the reach fork 82 is once lowered, and the wafer cassette 70 is placed on the lift plate 100.
Then, as shown in FIG.
Numeral 2 moves in the direction of the separation type wafer holder 61 indicated by the arrow, rises again to a predetermined position, and holds the wafer cassette 70. As a result, the other end of the reach fork 82 holds the lower part of the wafer cassette 70.
【0062】次いで、図23(a)に示すように、リー
チフォーク82は、矢印(1)で示す装置側の受台30
0の方向の所定の位置までに移動した後、リーチフォー
ク82は矢印(2)の方向に下降し、受台300上にウ
ェハカセット70を載置する。Next, as shown in FIG. 23 (a), the reach fork 82 is moved to the cradle 30 on the apparatus side indicated by the arrow (1).
After moving to the predetermined position in the direction of 0, the reach fork 82 descends in the direction of arrow (2), and places the wafer cassette 70 on the receiving table 300.
【0063】受台300上へのウェハカセット70の載
置が完了すると、リーチフォーク82は、図23(b)
に示すように、定位位置に戻る。また、図23(c)に
示すように、蓋体66を保持する蓋体開閉機構部83が
再度動作して蓋体66を旋回させて空となった分離型ウ
ェハ保持具61の開口部を閉じ、ロッキング解除機構部
88が動作してロッキング機構63を操作しロックす
る。また、図23(d)に示すように、作業者OPは、
保持具押え機構部86による分離型ウェハ保持具61の
上面の押圧を解除する。When the mounting of the wafer cassette 70 on the receiving table 300 is completed, the reach fork 82 is moved to the position shown in FIG.
As shown in FIG. Further, as shown in FIG. 23 (c), the lid opening / closing mechanism 83 holding the lid 66 is operated again to turn the lid 66 to remove the opening of the separated type wafer holder 61 which is empty. When closed, the locking release mechanism 88 operates to operate and lock the locking mechanism 63. In addition, as shown in FIG.
The pressing of the upper surface of the separation type wafer holder 61 by the holder holding mechanism 86 is released.
【0064】以上の動作により、分離型ウェハ保持具6
1からのウェハカセット70の受台300への移載動作
が完了する。By the above operation, the separation type wafer holder 6
The transfer operation of the wafer cassette 70 from No. 1 to the receiving table 300 is completed.
【0065】以上のように、本実施形態によれば、床下
搬送空間FSにウェハ保持具12を搬送するための軌道
および搬送装置11を設置し、昇降装置LFによってウ
ェハ保持具12をクリーンルームCRおよび床下搬送空
間FS間で渡すため、作業モジュール間のウェハの搬送
のための搬送機構をクリーンルームCR内に設ける必要
がない。このため、クリーンルームCR内にウェハの搬
送設備を設ける必要がなく、クリーンルームCRの設備
の規模および性能に要するコストを低減することができ
る。また、本実施形態では、クリーンルームCR内にウ
ェハの搬送設備を設けた場合のように、搬送設備からの
汚染物質の発生がない。また、ウェハの搬送設備がクリ
ーンルームCRの外にあるため、作業者との干渉がな
く、安全性の面からも好ましい。また、床下搬送空間F
Sに搬送装置を設けているため、メインテナンス時の作
業が容易である。また、本実施形態のウェハ搬送システ
ムでは、軌道を分岐ユニットを介して容易に増設するこ
とができるため、搬送ルートの変更追加が容易である。As described above, according to the present embodiment, the track and the transfer device 11 for transferring the wafer holder 12 are installed in the underfloor transfer space FS, and the wafer holder 12 is moved by the lifting device LF to the clean room CR and the clean room CR. Since the transfer is performed between the underfloor transfer spaces FS, there is no need to provide a transfer mechanism for transferring the wafer between the work modules in the clean room CR. For this reason, it is not necessary to provide a wafer transfer facility in the clean room CR, and it is possible to reduce the cost required for the scale and performance of the clean room CR. Further, in the present embodiment, unlike the case where a wafer transfer facility is provided in the clean room CR, no contaminants are generated from the transfer facility. Further, since the wafer transfer facility is outside the clean room CR, there is no interference with the operator, which is preferable from the viewpoint of safety. The underfloor transfer space F
Since the transport device is provided in S, maintenance work is easy. In the wafer transfer system according to the present embodiment, the number of tracks can be easily increased via the branching unit, so that the transfer route can be easily changed and added.
【0066】本実施形態では、蓋開閉/移載機能付き台
車80を用いて作業モジュール内のウェハ搬送を行なう
ため、従来、作業者が行なっていたウェハに所定の処理
を施す装置への投入作業を自動化でき、作業者の省力化
が可能となる。さらに、一体型ウェハ保持具51と分離
型ウェハ保持具61とを使い分けることで、ウェハ汚染
の確実な防止とウェハ搬送の迅速化を両立できる。In this embodiment, since the wafer is transported in the work module using the carriage 80 with a lid opening / closing / transfer function, the work is conventionally performed by an operator into a device for performing a predetermined process on a wafer. Can be automated, and labor can be saved. Further, by properly using the integral type wafer holder 51 and the separation type wafer holder 61, both reliable prevention of wafer contamination and speeding up of wafer transfer can be achieved.
【0067】[0067]
【発明の効果】本発明によれば、クリーンルーム内にウ
ェハの搬送設備を設ける必要がなく、クリーンルームの
設備の規模および性能に要するコストを低減することが
できる。また、軌道および搬送装置をクリーンルームの
床下の搬送空間に設けているため、メインテナンス時の
作業が容易であり、作業者との干渉がなく安全性が高
く、さらに、搬送ルートの変更追加が容易である。According to the present invention, it is not necessary to provide a wafer transfer facility in a clean room, and the cost required for the scale and performance of the clean room facility can be reduced. In addition, since the track and transport device are provided in the transport space under the floor of the clean room, work during maintenance is easy, there is no interference with workers, safety is high, and changes in the transport route can be easily added. is there.
【図1】本発明の一実施形態に係るウェハ搬送システム
の基本的構造を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a basic structure of a wafer transfer system according to one embodiment of the present invention.
【図2】図1に示したウェハ搬送システムが適用された
半導体装置の製造ラインのレイアウトの一例を示す平面
図である。FIG. 2 is a plan view showing an example of a layout of a production line of a semiconductor device to which the wafer transfer system shown in FIG. 1 is applied.
【図3】昇降装置LFの構造の一例を示す図であって、
(a)は断面図であり、(b)は床下搬送空間FS内の
平面図である。FIG. 3 is a diagram showing an example of the structure of a lifting device LF,
(A) is a sectional view, and (b) is a plan view in the underfloor transport space FS.
【図4】本実施形態に係るウェハ搬送システムの運用方
法を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining an operation method of the wafer transfer system according to the embodiment.
【図5】本実施形態に係るウェハ搬送システムの運用方
法を説明するための図である。FIG. 5 is a diagram for explaining an operation method of the wafer transfer system according to the embodiment.
【図6】作業モジュールの管理システムの一構成例を示
す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a configuration of a work module management system.
【図7】本実施形態に係るウェハ搬送システムにおいて
用いられるウェハ保持具12の一例を示す図であって、
一体型のウェハ保持具の斜視図である。FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a wafer holder 12 used in the wafer transfer system according to the embodiment;
It is a perspective view of an integral type wafer holder.
【図8】本実施形態に係るウェハ搬送システムにおいて
用いられるウェハ保持具12の一例を示す図であって、
分離型のウェハ保持具の斜視図である。FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a wafer holder 12 used in the wafer transfer system according to the embodiment;
It is a perspective view of a separation type wafer holder.
【図9】一体型ウェハ保持具および分離型ウェハ保持具
の本実施形態のウェハ搬送システムにおける使用方法を
説明するための図である。FIG. 9 is a diagram for explaining how to use the integrated wafer holder and the separated wafer holder in the wafer transfer system of the present embodiment.
【図10】本実施形態に係る分離型ウェハ保持具61の
構成を示す斜視図である。FIG. 10 is a perspective view showing a configuration of a separation-type wafer holder 61 according to the present embodiment.
【図11】分離型ウェハ保持具61の構成を示す図であ
って、(a)は上面図であり、(b)は開口側の側面図
であり、(c)は側面図である。11A and 11B are diagrams illustrating a configuration of a separation-type wafer holder 61, wherein FIG. 11A is a top view, FIG. 11B is a side view on the opening side, and FIG. 11C is a side view.
【図12】ロッキング機構の構造を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing a structure of a locking mechanism.
【図13】蓋開閉/移載機能付き台車の構造を示す斜視
図である。FIG. 13 is a perspective view showing the structure of a carriage with a cover opening / closing / transfer function.
【図14】蓋開閉/移載機能付き台車の構造を示す上面
図である。FIG. 14 is a top view showing the structure of the trolley with a cover opening / closing / transfer function.
【図15】蓋開閉/移載機能付き台車の構造を示す側面
図である。FIG. 15 is a side view showing the structure of a carriage with a cover opening / closing / transfer function.
【図16】蓋開閉/移載機能付き台車の構造を示す背面
図である。FIG. 16 is a rear view showing the structure of the cart with a lid opening / closing / transfer function.
【図17】保持具押え機構部の構造を示す図である。FIG. 17 is a view showing the structure of a holder holding mechanism.
【図18】保持具押え機構部の動作を示す図であって、
(a)は非押圧動作時の状態を示しており、(b)は押
圧動作時の状態を示している。FIG. 18 is a view showing the operation of the holder holding mechanism,
(A) shows the state at the time of the non-pressing operation, and (b) shows the state at the time of the pressing operation.
【図19】ロッキング解除機構部の係合アームとロッキ
ング機構部63との関係を示す図である。FIG. 19 is a diagram showing a relationship between an engagement arm of a locking release mechanism and a locking mechanism 63.
【図20】蓋開閉/移載機能付き台車の使用方法を説明
するための図である。FIG. 20 is a diagram for explaining a method of using the carriage with a lid opening / closing / transfer function.
【図21】蓋開閉/移載機能付き台車の分離型ウェハ保
持具内に収容されたウェハカセットの移載動作を説明す
るための図である。FIG. 21 is a view for explaining the transfer operation of the wafer cassette accommodated in the separation type wafer holder of the carriage with a cover opening / closing / transfer function.
【図22】図21に続く蓋開閉/移載機能付き台車の移
載動作を説明するための図である。FIG. 22 is a view for explaining the transfer operation of the carriage with the lid opening / closing / transfer function following FIG. 21;
【図23】図22に続く蓋開閉/移載機能付き台車の移
載動作を説明するための図である。FIG. 23 is a view for explaining the transfer operation of the carriage with the cover opening / closing function following FIG. 22;
11…搬送装置、12…ウェハ保持具、51…一体型ウ
ェハ保持具、61…分離型ウェハ保持具、13…ロー
ダ、15…軌道、80…蓋開閉/移載機能付き台車、L
F…昇降装置、CR…クリーンルーム。DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Transfer apparatus, 12 ... Wafer holder, 51 ... Integral wafer holder, 61 ... Separable wafer holder, 13 ... Loader, 15 ... Track, 80 ... Carriage with lid opening / closing / transfer function, L
F: Lifting device, CR: Clean room.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木崎原 稔郎 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (72) Inventor Toshiro Kizakihara 6-7-35 Kita-Shinagawa, Shinagawa-ku, Tokyo Inside Sony Corporation
Claims (12)
と、 クリーンルーム内の複数の作業領域にそれぞれ設けら
れ、当該各作業領域と当該クリーンルームの設置された
床下に形成された搬送空間との間で前記ウェハ保持具を
移送可能な複数の昇降手段と、 前記搬送空間内に設けられ、前記各昇降手段の間で前記
ウェハ保持具を搬送可能な搬送手段とを有するウェハ搬
送装置。1. A wafer holder for hermetically storing and holding a wafer, and a plurality of work areas in a clean room, each being provided between a plurality of work areas, and a transfer space formed under the floor where the clean room is installed. A wafer transfer apparatus, comprising: a plurality of lifting / lowering means capable of transferring the wafer holding tool; and a transfer means provided in the transfer space and capable of transferring the wafer holding tool between the respective lifting / lowering means.
容して気密に保持可能な第1のウェハ保持具と、 前記ウェハを保持可能なウェハカセットを収容して気密
に保持可能な第2のウェハ保持具とからなる請求項1に
記載のウェハ搬送装置。2. The wafer holding device according to claim 1, wherein the first wafer holding device directly accommodates the wafer and holds the wafer in an airtight manner, and the second wafer housing device accommodates a wafer cassette capable of holding the wafer in an airtight manner. 2. The wafer transfer device according to claim 1, comprising a wafer holder.
ルーム内のウェハに対して特定の処理を行なう作業領域
内にけるウェハの搬送に使用され、 前記第2のウェハ保持具は、前記クリーンルーム内の各
作業領域間の前記搬送空間を通じたウェハの搬送および
前記クリーンルーム内の各作業領域内のウェハの搬送に
使用される請求項2に記載のウェハ搬送装置。3. The wafer holding device according to claim 1, wherein the first wafer holder is used for transferring a wafer in a work area for performing a specific process on a wafer in the clean room, and the second wafer holder is mounted on the clean room. 3. The wafer transfer device according to claim 2, wherein the transfer device is used for transferring a wafer through the transfer space between each of the work areas in the inside and for transferring a wafer in each of the work areas in the clean room.
れた前記第2のウェハ保持具を載置する載置部と、 前記載置部に載置されたウェハカセットを第2のウェハ
保持具から取り出し、当該ウェハカセットを所定の位置
に移載する移載手段とを有する前記作業領域内を移動可
能なウェハ搬送用台車をさらに有する請求項2に記載の
ウェハ搬送装置。4. A mounting section for mounting the second wafer holder supplied into the working area by the elevating means, and a wafer cassette mounted on the mounting section to the second wafer holder. 3. The wafer transfer apparatus according to claim 2, further comprising: a transfer carriage that is movable in the work area and has a transfer unit that transfers the wafer cassette to a predetermined position.
れた軌道と、 前記軌道上を走行可能で、前記ウェハ保持具を保持可能
な搬送装置とを有する請求項1に記載のウェハ搬送装
置。5. The wafer transfer according to claim 1, wherein the transfer means includes a track provided in the transfer space, and a transfer device capable of traveling on the track and holding the wafer holder. apparatus.
たウェハ保持具を前記昇降手段に受け渡す受け渡し手段
を有する請求項5に記載のウェハ搬送装置。6. The wafer transfer device according to claim 5, wherein the transfer device has a transfer means for transferring the wafer holder held by the transfer device to the elevating means.
記搬送空間とを連通する昇降空間と、 前記昇降空間内に前記ウェハ保持具を前記クリーンルー
ムと前記搬送空間との間で昇降させる昇降機と、 前記搬送手段から移載されたウェハ保持具を前記昇降機
に移すローディング手段とを有する請求項1に記載のウ
ェハ搬送装置。7. The lift unit, wherein the lift unit lifts and lowers the wafer holder between the clean room and the transfer space in the lift space. 2. The wafer transfer device according to claim 1, further comprising a loading unit that transfers the wafer holder transferred from the transfer unit to the elevator.
部および前記クリーンルーム側の前記昇降空間への出入
口部には、ウェハ保持具にエアを吹きつけるエアシャワ
ー手段を有する請求項7に記載のウェハ搬送装置。8. An air inlet / outlet section for blowing air to a wafer holder at an entrance / exit portion to the elevation space on the transfer space side and an entrance / exit portion to the elevation space on the clean room side. Wafer transfer equipment.
ーム側には、当該昇降空間内にクリーンエアを供給する
エア供給手段が設けられ、 前記昇降空間の搬送空間側には、当該昇降空間内のエア
を外部に排出する排気手段が設けられている請求項7に
記載のウェハ搬送装置。9. An air supply means for supplying clean air into the elevating space on the clean room side of the elevating space of the elevating means, and an air supply means on the transport space side of the elevating space in the elevating space. The wafer transfer device according to claim 7, further comprising an exhaust unit that discharges air to the outside.
ムと前記昇降空間との間および前記昇降空間と前記搬送
空間との間を閉鎖可能なシャッタ手段がそれぞれ設けら
れている請求項8に記載のウェハ搬送装置。10. The shutter according to claim 8, wherein each of said entrances and exits is provided with shutter means capable of closing between said clean room and said elevating space and between said elevating space and said transport space. Wafer transfer device.
の中央通路およびこの中央通路に交差する複数の分岐通
路の床下に形成され、 前記作業領域は、前記中央通路および分岐通路によって
区画される領域に形成され、 前記搬送手段は、前記中央通路の床下に設けられた主軌
道と、 前記分岐通路の床下に設けられ、前記主軌道に分岐手段
を介して接続され、前記各作業領域に設けられた昇降手
段に到達する分岐軌道とを有する請求項5に記載のウェ
ハ搬送装置。11. The transfer space is formed under a floor of a central passage in the clean room and a plurality of branch passages intersecting the central passage, and the work area is defined by an area defined by the central passage and the branch passage. A main track provided under the floor of the central passage, provided below the floor of the branch passage, connected to the main track via a branch unit, and provided in each of the work areas. 6. The wafer transfer device according to claim 5, further comprising: a branch trajectory reaching the lifting means.
ーンルームのクリーン度よりも低い請求項1に記載のウ
ェハ搬送装置。12. The wafer transfer apparatus according to claim 1, wherein a cleanness of the transfer space is lower than a cleanness of the clean room.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13037798A JPH11330195A (en) | 1998-05-13 | 1998-05-13 | Wafer carrier device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13037798A JPH11330195A (en) | 1998-05-13 | 1998-05-13 | Wafer carrier device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11330195A true JPH11330195A (en) | 1999-11-30 |
Family
ID=15032901
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13037798A Pending JPH11330195A (en) | 1998-05-13 | 1998-05-13 | Wafer carrier device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11330195A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011230859A (en) * | 2010-04-23 | 2011-11-17 | Seibu Electric & Mach Co Ltd | Plate-like object conveyance system |
CN103560103A (en) * | 2013-10-30 | 2014-02-05 | 武汉新芯集成电路制造有限公司 | Conveying device and method for safely conveying wafer to FOUP |
JPWO2016079996A1 (en) * | 2014-11-20 | 2017-08-31 | 日本ゼオン株式会社 | Method for producing binder composition for electrochemical device |
CN116417391A (en) * | 2023-06-09 | 2023-07-11 | 沈阳和研科技股份有限公司 | Full-automatic wafer feeding machine |
-
1998
- 1998-05-13 JP JP13037798A patent/JPH11330195A/en active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN116417391B (en) * | 2023-06-09 | 2023-09-05 | 沈阳和研科技股份有限公司 | Full-automatic wafer feeding machine |
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