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JPH11338908A - Circuit information display device - Google Patents

Circuit information display device

Info

Publication number
JPH11338908A
JPH11338908A JP11084616A JP8461699A JPH11338908A JP H11338908 A JPH11338908 A JP H11338908A JP 11084616 A JP11084616 A JP 11084616A JP 8461699 A JP8461699 A JP 8461699A JP H11338908 A JPH11338908 A JP H11338908A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
information
display
mounting
editing
designating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11084616A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hayashi Kajitani
林 梶谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP11084616A priority Critical patent/JPH11338908A/en
Publication of JPH11338908A publication Critical patent/JPH11338908A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To make only required information possible to be edited and displayed without using logical information for logical operation confirmation and mounting information like a drawing for production as they are by designating display information out of three kinds of information in the case that three kinds of information cannot be displayed in one display picture. SOLUTION: A logic circuit diagram, a mounting diagram, and a net list are not displayed in a picture in the initial state. A menu for election of display information, a display level indicating up to which stage elements should be displayed, a mode for indication of erase, reduction, enlargement, or the like of the picture, indication contents as a column indicating an element to be the center of display, element positions, XY coordinates, etc., are displayed there. A test engineer 24 inputs required information to VDT 45 having this initial stage by keys. Assuming that it is displayed on a display device 21 of a tester 23 that the operation of a pin of parts is different from the normal operation, the element position is picked up with a mouse in a selection display column, and indication contents are inputted with keys.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、論理回路図、ネットリ
スト等の論理情報および、部品配置図、プリントパター
ン図、スルーホール配置図、テストパッド配置図等の実
装情報および、テスト端子の位置/識別子等のテス卜情
報(これらを回路情報と呼ぶ)をディスプレイ等の表示
手段に表示する回路情報表示装置に関わり、特に、基板
や素子の設計/製造時および動作テス卜の実施時の故障
解析補助装置、または、設計変更発生時のプリントパタ
ーンカット位置やジャンパー線を張る位置等の回路変更
情報の碓認に好適な回路情報表示装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to logic information such as a logic circuit diagram and a net list, mounting information such as a component layout diagram, a print pattern diagram, a through-hole layout diagram, and a test pad layout diagram, and the positions of test terminals. / Circuit information display device that displays test information such as identifiers on the display means such as a display (especially, these are referred to as circuit information). In particular, failures occur during design / manufacture of boards and elements and during operation tests. The present invention relates to an analysis assisting device or a circuit information display device suitable for checking circuit change information such as a print pattern cut position and a jumper line position when a design change occurs.

【0002】[0002]

【従来の技術】図形を管面上に表示し、編集する技術と
しては、特開平1−232487号公報「図形表示シス
テムと図形表示方法」に記載されている技術のように、
あらかじめ決められた図面単位で表示更新処理の最適化
や、表示更新に関する良好なユーザインタフェースを実
現する方法についての技術がある。
2. Description of the Related Art As a technique for displaying and editing a graphic on a display screen, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-223487, "Graph Display System and Graphic Display Method",
There are techniques for optimizing a display update process in a predetermined drawing unit and a method for realizing a good user interface related to a display update.

【0003】また、特開昭63−140594号公報
「プリン卜基板パターン表示装置」に記載されている技
術においては、プリント基板の貫通穴でない、層間をつ
なぐ層間穴が同一位置にあるときの表示方法について述
ベられている。
Further, in the technique described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-140594, "Printed Circuit Board Pattern Display Device", display is performed when interlayer holes that connect layers, which are not through holes of a printed circuit board, are located at the same position. The method is described.

【0004】しかし、これらの技術においては表示する
範囲を、素子の接続関係にしたがって、指定した素子か
ら、指定された段数まで表示する手段については配慮が
されていない。
However, in these techniques, no consideration is given to a means for displaying a display range from a specified element to a specified number of levels according to the connection relation of the elements.

【0005】また、テスト情報を他の回路情報と組み合
わせて表示する手段についても配慮されていない。
Further, no consideration is given to means for displaying test information in combination with other circuit information.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、図面
単位で表示を行なうため、管面上に表示する論理回路図
や部品配置図を、ユーザの指定に従い、回路の接続関係
を考慮して編集し、表示する手段について配慮されてい
ない。
In the above-mentioned prior art, since the display is performed in drawing units, a logical circuit diagram and a component arrangement diagram displayed on a display screen are taken into account in accordance with a user's designation and in consideration of circuit connection relations. No consideration has been given to the means of editing and displaying.

【0007】また、論理回路図、部品配置図またはプリ
ントパターン図上にテスタのプローブピン情報等のテス
ト情報を表示する手段についても考慮されていなかっ
た。
Further, no means has been considered for displaying test information such as probe pin information of a tester on a logic circuit diagram, component layout diagram, or print pattern diagram.

【0008】このため、テストデバッグ時やテスト実施
時に、異常現象が発生した場合、テスト対象プリント基
板に関する、全ての論理回路図や部品配置図をテスタの
側におき、テスタが指摘した故障位置から、その原因と
なる部品やプリントパターンの異常部位を捜し出すこと
を行なった。
For this reason, when an abnormal phenomenon occurs during test debugging or test execution, all the logic circuit diagrams and component arrangement drawings relating to the printed circuit board to be tested are placed on the tester side, and from the failure position indicated by the tester. Then, a part or an abnormal portion of the print pattern which caused the problem was searched for.

【0009】しかし、関係する部品が何枚もの図面に分
かれていることが多いため、何枚にも渡る論理回路図上
で論理の追跡を行ったり、プリントパターン図でパター
ンのオープン、ショート位置を追跡する必要が有った。
However, since the related parts are often divided into a number of drawings, the logic is traced on a number of logic circuit diagrams, and the open / short positions of the patterns are determined on the printed pattern diagram. I needed to track.

【0010】このため、テストエンジニアは、解析のた
めに多くの時間と労力とを費やす必要があった。
[0010] For this reason, the test engineer has to spend a lot of time and effort for analysis.

【0011】この様に、上記従来技術は、プリント基板
のテスト時および設計時のデバッグの容易性については
考慮されているものではなく、プリント基板テストおよ
びデバッグに長時間を要し、テストエンジニアの大きな
負担になっていた。
As described above, the above prior art does not consider the ease of debugging at the time of test and design of a printed circuit board, and it takes a long time to test and debug the printed circuit board, and the It was a heavy burden.

【0012】そこで、本発明は、回路図、部品配置図、
またはプリントパターン図のように論理動作確認用の論
理情報や製造用図面等の実装情報をそのまま用いるので
はなく、必要な情報のみを編集して、表示できる回路情
報表示装置を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention provides a circuit diagram, a component layout diagram,
Another object of the present invention is to provide a circuit information display device that can edit and display only necessary information without using logic information for confirming a logical operation or mounting information such as a manufacturing drawing as it is as in a printed pattern diagram. And

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、論理情報と実装情報の作成指示を指定す
る指定情報を受け付けるための指定手段と、上記指定手
段が受け付けた情報にしたがって、論理情報および実装
情報を作成するための回路情報を編集する編集手段と、
上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作成
された論理情報および実装情報を表示する表示手段とを
有し、上記指定手段は、回路の論理情報、実装情報およ
びテスト情報の3種類の情報の1表示画面内への表示を
指定する情報を受け付けるための手段と、上記表示手段
の1表示画面内に前記3種類の情報を表示しきれないと
きは、上記3種類の情報のなかから表示情報を指定する
情報を受け付ける手段とを有することを特徴とする回路
情報表示装置を提供する。
To solve the above-mentioned problems, the present invention provides a designating means for receiving designation information for designating an instruction to create logical information and mounting information; Editing means for editing circuit information for creating logical information and mounting information,
Display means for displaying logic information and mounting information created based on the circuit information edited by the editing means, wherein the designation means includes three kinds of information of logic information, mounting information and test information of the circuit. Means for receiving information designating display on one display screen, and when the three types of information cannot be displayed on one display screen of the display means, display information is selected from the three types of information. And a means for receiving information for designating the circuit information.

【0014】[0014]

【作用】指定手段は、表示情報を指定し、編集手段は、
指定情報にしたがって回路情報を編集し、表示手段へ出
力し、表示手段は、編集された情報を表示する。
[Action] The designating means designates display information, and the editing means designates display information.
The circuit information is edited according to the designated information and output to the display means, and the display means displays the edited information.

【0015】そして、上記編集手段は、回路の論理情
報、実装情報およびテスト情報の内、いずれか少なくと
も1種について、それらを構成する情報の1部または全
部を表示手段に表示するように編集し、これらの情報を
回路の接続関係に基づいて表示編集する。
The editing means edits at least one of the logic information, the mounting information, and the test information of the circuit so as to display a part or all of the information constituting the information on the display means. The information is displayed and edited based on the connection relation of the circuits.

【0016】また、編集手段が、論理情報とテスト情
報、または、実装情報とテスト情報を同一表示画面に重
ね合わせて編集する場合は、表示手段内にテスト情報と
他の情報を重ねて表示するため、テスト箇所の検索が容
易である。
When the editing means edits the logic information and the test information or the mounting information and the test information by superimposing them on the same display screen, the test information and other information are superimposed and displayed in the display means. Therefore, it is easy to search for a test location.

【0017】[0017]

【実施例】以下、添付の図面を参照しながら、本発明に
係る実施の一形態について説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

【0018】図1(a)は、本発明を構成する回路情報表
示装置のブロック図である。
FIG. 1A is a block diagram of a circuit information display device constituting the present invention.

【0019】本発明に係る回路情報表示装置であるワー
クステーション4は、指定手段であるキーボード(KB)
またはポインティングデバイス(MUS)と、編集手段で
ある演算部42と、表示手段である表示部(VDT)45
と、論理情報、実装情報、テスト情報およびプログラム
を記憶しておく外部記憶部44と、演算部で実行される
プログラムが記憶される内部メモリ43とを有する。
The workstation 4 which is a circuit information display device according to the present invention has a keyboard (KB) as a designating means.
Alternatively, a pointing device (MUS), an operation unit 42 as an editing unit, and a display unit (VDT) 45 as a display unit
And an external storage unit 44 for storing logic information, mounting information, test information, and a program, and an internal memory 43 for storing a program executed by the operation unit.

【0020】図1(b)は、回路の設計およびテストにお
いて使われる、ワークステーション4を含めた全体シス
テムの説明図である。
FIG. 1B is an explanatory diagram of the entire system including the workstation 4 used in circuit design and test.

【0021】このシステムは、ワークステーション4で
使用する上記の情報を設計者が作成するための回路設計
用のホストコンピュータ2と、ホストコンピュータが作
成した上記の情報を記憶する設計データベース3と、ホ
ストコンピュータ2と通信回線等で接続されたワークス
テーション4と、製造されたテスト対象のプリント基板
30をテストするインサーキットテスタ23とを有す
る。
This system includes a host computer 2 for circuit design for a designer to create the above information used by the workstation 4, a design database 3 for storing the above information created by the host computer, and a host computer. It has a workstation 4 connected to the computer 2 via a communication line or the like, and an in-circuit tester 23 for testing a manufactured printed circuit board 30 to be tested.

【0022】この図では、テストエンジニア24がテス
ト対象のプリン卜基板30をテスト治具22に乗せて、
ディスプレイ21を見ながら作業している所を示す。
In this figure, a test engineer 24 places a print substrate 30 to be tested on a test jig 22 and
The place where the user is working while looking at the display 21 is shown.

【0023】このシステムについて、回路設計の手順、
論理情報/実装情報の作成手順、テストの手順を述ベ
る。
For this system, a circuit design procedure,
The procedure for creating logical information / mounting information and the procedure for testing are described.

【0024】ホス卜コンピュータ2は、テス卜対象基板
の論理回路図1を外部より入力し、これに対し論理シミ
ュレーションを行ない、論理の正当性確認を行なう。
The host computer 2 externally inputs the logic circuit diagram 1 of the test target board, performs a logic simulation on the logic circuit diagram, and checks the validity of the logic.

【0025】次に、この確認済みの論理回路に従い、プ
リン卜基板30上に搭載する部品310,311,36
0,361,370の位置を決定し、これらの部品間を接
続するプリン卜パターン340〜343,350〜35
2やスルーホール320〜323、テストパッド38の
位置を決定する。
Next, the components 310, 311, 36 mounted on the printed circuit board 30 according to the confirmed logic circuit.
0, 361, 370, and print patterns 340 to 343, 350 to 35 connecting these components.
2, the positions of the through holes 320 to 323 and the test pad 38 are determined.

【0026】この決定後の図を図2(a)(b)に示す。FIGS. 2A and 2B show diagrams after the determination.

【0027】図2(a)は、プリント基板30の平面図で
あり、図2(b)は、プリン卜基板30の断面を示す説明
図である。
FIG. 2A is a plan view of the printed circuit board 30, and FIG. 2B is an explanatory diagram showing a cross section of the printed circuit board 30.

【0028】ここで部品310,311は、プリント基
板30の表面に搭載している部品ピン挿入型の部品であ
り、部品360,361は、プリント基板30の表面に
搭載している表面実装部品、部品370は、プリント基
板30の裏面ヘ搭載している表面実装部品である。テス
トパッド380は、表面実装部品間をプリントパターン
で互いに接続する際に、部品のピンに直接テスタのプ口
ーブピンが接触不可能な場合、特別に設けるテス卜パッ
ドである。
Here, the components 310 and 311 are component pin insertion type components mounted on the surface of the printed circuit board 30, and the components 360 and 361 are surface mounted components mounted on the surface of the printed circuit board 30. The component 370 is a surface-mounted component mounted on the back surface of the printed circuit board 30. The test pad 380 is a test pad that is specially provided when the surface mount components are not connected directly to the pins of the tester when the surface mount components are connected to each other by a printed pattern.

【0029】このようにして決定されたテス卜対象のプ
リント基板30の論理情報、実装情報は、ホストコンピ
ュータ2の設計データベース3上に保存される。
The logical information and the mounting information of the printed circuit board 30 to be tested thus determined are stored in the design database 3 of the host computer 2.

【0030】次に、このテス卜対象のプリント基板30
のテストをインサーキットテスタ23で行なう。
Next, the printed circuit board 30 to be tested is
Is performed by the in-circuit tester 23.

【0031】テスト実施前に、テストエンジニア24
は、インサーキットテスタ23の近くに配置してあるワ
ークステーション4のVDT45からテスト対象のプリ
ン卜基板30のデータを取り出すための操作を行なう。
Before conducting the test, the test engineer 24
Performs an operation for extracting data of the print substrate 30 to be tested from the VDT 45 of the workstation 4 arranged near the in-circuit tester 23.

【0032】この操作を行なうことにより、ホストコン
ピュータ2の設計データベース3上に登録していたテス
ト対象のプリント基板30の、論理情報および実装情報
をオンラインによりワークステーション4ヘ転送する。
By performing this operation, the logic information and the mounting information of the test target printed circuit board 30 registered in the design database 3 of the host computer 2 are transferred to the workstation 4 online.

【0033】このとき、ホストコンピュータ2の設計デ
ータべース3に登録されている情報を、そのままワーク
ステーション4ヘ転送したのでは、故障解析に不要な情
報も多々あるため、ワークステーション4のメモリ容量
削減、アクセス速度向上のため、ホストコンピュータ2
は、図4に示すテーブル構造に変換し、ワークステーシ
ョン4に転送する。
At this time, if the information registered in the design database 3 of the host computer 2 is transferred to the workstation 4 as it is, there is a lot of information unnecessary for failure analysis. Host computer 2 to reduce capacity and improve access speed
Is converted into the table structure shown in FIG.

【0034】ここで、素子形状テーブル520、IC形
状テーブル525は、ワークステーション4上のライブ
ラリ情報として常駐させてある。
Here, the element shape table 520 and the IC shape table 525 are resident as library information on the workstation 4.

【0035】ここで、論理接続情報テーブル500のピ
ン番号501は、プリントパターン340〜343、3
50〜352で同電位に接続されるICのピン番号を記
録する。また、入出力区分502は、該ピンの信号が、
入力であるか、出力であるかの区別を表すものであり、
ネッ卜番号503は、同電位系列の区別を表すためのも
のであり、ICテーブルポインタ504は、IC情報テ
ーブル510を指し示すポインタである。
Here, the pin numbers 501 of the logical connection information table 500 correspond to the print patterns 340 to 343, 3
At 50 to 352, the pin numbers of ICs connected to the same potential are recorded. In addition, the input / output section 502 has a
It indicates whether it is an input or an output,
The net number 503 is for indicating the distinction between the same potential series, and the IC table pointer 504 is a pointer indicating the IC information table 510.

【0036】このIC情報テーブル510には、プリン
ト基板30上に搭載されている部品の詳細情報を知るた
めに、実装位置511及びIC名称512その他が記述
されている。
In the IC information table 510, a mounting position 511, an IC name 512 and the like are described in order to know detailed information of components mounted on the printed circuit board 30.

【0037】また、プリントパターンの走行状態を正確
に表現するため、パターンテーブル530を設計した。
The pattern table 530 is designed to accurately represent the running state of the print pattern.

【0038】これはプリント基板30上のどの座標53
1,532のどの層534を、どのプリントパターン3
40〜343,350〜352が走行するかという情報
と、その端点は、スルーホールか、テストパッドか、あ
るいは、単なる曲がり点かを判断するための穴種535
の情報とを持たせたものである。
This is the coordinates 53 on the printed circuit board 30.
1, 532 to which print pattern 3
Information as to whether 40 to 343 and 350 to 352 are traveling and the end point is a hole type 535 for judging whether it is a through hole, a test pad, or a simple bend point.
Information.

【0039】このとき、テス卜対象のプリン卜基板30
は、テスト治具22の上にセッ卜され、テストエンジニ
ア24によりプリン卜基板30のテストおよびデバッグ
が実施される。
At this time, the print substrate 30 to be tested is
Is set on a test jig 22, and a test engineer 24 tests and debugs the print substrate 30.

【0040】そして、プリン卜基板30のテストおよび
デバッグ時に異常現象を検出すると、インサーキッ卜テ
スタ23のディスプレイ21上には、異常現象の内容に
従い、その異常内容メッセージおよびプリント基板30
上の位置、例えば、XY座標、ICの実装位置を表示す
る。
When an abnormal phenomenon is detected during the test and debugging of the printed circuit board 30, a message of the abnormal content and the printed circuit board 30 are displayed on the display 21 of the in-circuit tester 23 in accordance with the contents of the abnormal phenomenon.
The upper position, for example, the XY coordinates and the mounting position of the IC are displayed.

【0041】つぎに、本実施の形態に係るワークステー
ション4の動作を上記の異常現象があった場合について
説明する。
Next, the operation of the workstation 4 according to the present embodiment will be described for the case where the above abnormal phenomenon occurs.

【0042】テストエンジニア24は、異常現象の発生
原因を追及するため、テスタ23上に表示された情報
を、ワークステーション4のKBからキー入力する。
The test engineer 24 inputs the information displayed on the tester 23 from the KB of the work station 4 by a key in order to investigate the cause of the occurrence of the abnormal phenomenon.

【0043】キー入力について、図3を用いて説明す
る。
The key input will be described with reference to FIG.

【0044】初期状態の画面には、論理回路図400、
実装図401、ネットリスト402は表示されていな
い。画面上表示されているのは、表示する情報を選択す
るメニュー413、素子を何段階まで表示するかを示す
表示レべル423、画面に対して消去、縮小、拡大等の
指示を行なうモード426、表示の中心となる素子を指
示する欄である指示内容414、素子位置、XY座標、
ノード番号を選択する表示欄434である。
The screen in the initial state includes a logic circuit diagram 400,
The mounting diagram 401 and the netlist 402 are not displayed. Displayed on the screen are a menu 413 for selecting information to be displayed, a display level 423 for indicating how many levels of elements to display, and a mode 426 for instructing the screen to erase, reduce, enlarge, and the like. , An instruction content 414 which is a column for designating an element serving as a display center, an element position, XY coordinates,
This is a display field 434 for selecting a node number.

【0045】テス卜エンジニア24は、この初期状態を
有するVDT45に必要情報をキー入力する。
The test engineer 24 inputs necessary information to the VDT 45 having the initial state by keying.

【0046】テスタ23のディスプレイ21に部品I1
0の1ピンの動作が、正常動作と異なると表示されたと
仮定すると、テストエンジニア24はVDT45に向
い、選択表示欄434で素子位置をマウス8でピックア
ップし、指示内容424に、‘I10.1’とキー入力
する。
The component I1 is displayed on the display 21 of the tester 23.
Assuming that the operation of the 1 pin of 0 is different from the normal operation, the test engineer 24 turns to the VDT 45, picks up the element position with the mouse 8 in the selection display field 434, and sets the instruction content 424 to 'I10.1 'Key.

【0047】次に、指示内容424で指示した‘I1
0’の素子を中心にして、何階層まで表示するかを示す
表示レベルを、表示レベル423の階層指示欄421に
キー入力する。
Next, “I1” specified by the instruction content 424
A display level indicating the number of layers to be displayed centering on the element of 0 'is key-inputted into the hierarchy instruction column 421 of the display level 423.

【0048】この初期入力時には、メニュー413とモ
ード426は操作不要である。初期入力時には、メニュ
ー413は、論理回路図、実装図、ネットリス卜の3種
類を指示されたと仮定して動作する。指示があれば、指
示されたもののみ表示する。
At the time of the initial input, the menu 413 and the mode 426 need not be operated. At the time of initial input, the menu 413 operates on the assumption that three types of logic circuit diagram, mounting diagram, and netlist are specified. If instructed, only those instructed are displayed.

【0049】モード426については、初期入力時で消
去ということはありえないので、これが指示された場合
は、他の項目との選択ミスが考えられるため、警告メッ
セージを出力する。
In the mode 426, erasing cannot be performed at the time of initial input. If this is designated, a warning message is output because a selection error with another item is considered.

【0050】図6、図7より、ワークステーション4で
行なわれる処理の流れを説明する。
The flow of processing performed in the workstation 4 will be described with reference to FIGS.

【0051】図6に全体フローを示す。FIG. 6 shows the overall flow.

【0052】ワークステーション4のVTD45から、
本発明によるプログラムを起動する(S700)と、初期
設定モードモジュールに制御が移り(S701)、メニュ
ー画面を表示する。
From the VTD 45 of the workstation 4,
When the program according to the present invention is started (S700), control is transferred to the initial setting mode module (S701), and a menu screen is displayed.

【0053】S701について、図7(a)により説明す
る。
Step S701 will be described with reference to FIG.

【0054】まず、図3に示した403,404のフィ
ールドを表示する(S810)。
First, the fields 403 and 404 shown in FIG. 3 are displayed (S810).

【0055】また、この状態でキー入力された情報は、
図5(a)に示すコマンドメニューテーブル610の、現
状の表示レベルを示すレベル614および現状の表示モ
ードを示すモード615と、図5(b)に示す指示内容テ
ーブル650の指示基準名630,指示内容640へと
セッ卜される(S811)。
The information keyed in this state is:
The level 614 indicating the current display level and the mode 615 indicating the current display mode in the command menu table 610 shown in FIG. 5A, the instruction reference name 630 in the instruction content table 650 shown in FIG. The content is set to the content 640 (S811).

【0056】表示モードが消去以外なら、S702ヘ移
り、消去ならばキー入力ミスを表示して(S803)、初
期設定モード(S701)の始めにもどる。
If the display mode is other than the erase mode, the flow shifts to S702. If the display mode is the erase mode, a key input error is displayed (S803), and the process returns to the beginning of the initial setting mode (S701).

【0057】ここまでの処理を初期設定モードモジュー
ルで行なう。
The processing up to this point is performed by the initialization mode module.

【0058】次に、表示モードモジュールに制御を移す
(S702)。
Next, control is transferred to the display mode module.
(S702).

【0059】この処理概要を、図7(b)に示す。FIG. 7B shows an outline of this processing.

【0060】まず、コマンドメニューテーブル610の
論理回路図611のモード615欄で、論理回路図表示
指示があるか否かチュックし、指示があれば、論理回路
図の内容をレベル614に従い、論理図仮想空間作成モ
ジュールにより、論理回路図をワークステーションの仮
想空間に作成する(S801)。指示がなければ、指示な
しの処理ヘ進む(S806)。
First, in the mode 615 column of the logic circuit diagram 611 of the command menu table 610, it is checked whether or not there is a logic circuit diagram display instruction. A logical circuit diagram is created in the virtual space of the workstation by the virtual space creation module (S801). If there is no instruction, the process proceeds to a process without an instruction (S806).

【0061】論理回路図編集にあっては、ホストコンピ
ュータ2で入力した論理回路図1の図面上での論理回路
シンボルの位置は全く無視し、外部から与えられた素子
の情報や座標情報、ノード情報に従い、可能な限り1画
面上で確認できる情報に編集して出力する。
In the logic circuit diagram editing, the position of the logic circuit symbol on the drawing of the logic circuit diagram 1 inputted by the host computer 2 is completely ignored, and the information of the element, the coordinate information, the node According to the information, the information is edited and output as much as possible on one screen.

【0062】1画面上で表示できない場合には、画面を
スク口ールすることにより、画面に隠れた部分を表示す
る機能も、この作成モジュールのなかに持つ。
When the image cannot be displayed on one screen, the creation module also has a function of displaying the part hidden on the screen by closing the screen.

【0063】次に、実装情報の表示処理を行なう(S8
02)。
Next, display processing of mounting information is performed (S8).
02).

【0064】このときにも、論理回路図表示と同様に、
コマンドメニューテーブル610の実装図612欄に書
かれたレベル614、モード615を参照し、論理接続
情報テーブル500、IC情報テーブル510、パター
ンテーブル530の内容を編集し、表示する。
At this time, similarly to the logic circuit diagram display,
The contents of the logical connection information table 500, the IC information table 510, and the pattern table 530 are edited and displayed with reference to the level 614 and the mode 615 written in the mounting diagram 612 column of the command menu table 610.

【0065】このときには、論理回路図仮想空間作成モ
ジュールが論理回路図1のシンボル配置を無視して表示
画面を作成することとは異なり、相対的な配置状態は基
本的には実寸法で表示する。
At this time, unlike the case where the logic circuit diagram virtual space creation module creates a display screen ignoring the symbol arrangement of the logic circuit diagram 1, the relative arrangement state is basically displayed in actual dimensions. .

【0066】この場合、画面に入り切らない場合は、画
面編集のためのモード426で縮小拡大機能を用いて、
最適表示サイズを、画面表示仮想空間ヘ作成する。
In this case, if the image cannot be displayed on the screen, a mode 426 for screen editing is used by using the reduction / enlargement function.
An optimum display size is created in the screen display virtual space.

【0067】ネットリスト表示モジュールもまた、表示
指示があれば、メニューテーブル610、指示内容テー
ブル650の指示基準名630,指示内容640の内容
に従い、論理接続情報テーブル500の内容に従い、ネ
ットを画面仮想空間ヘ編集し出力する(S804)。
If there is a display instruction, the net list display module also displays the net according to the contents of the menu table 610, the instruction reference name 630 and the instruction contents 640 of the instruction contents table 650, and the contents of the logical connection information table 500 according to the screen virtual. The data is edited and output to the space (S804).

【0068】この一連の処理により、論理回路図仮想空
間、実装情報仮想空間、ネットリスト仮想空間が完成す
るため、これらの仮想空間画面情報をディスプレイ表示
モジュールでワークステーション4のVDT45上に表
示する(S805)。
Since a logical circuit diagram virtual space, a mounting information virtual space, and a netlist virtual space are completed by this series of processing, these virtual space screen information are displayed on the VDT 45 of the workstation 4 by the display display module ( S805).

【0069】このようにして表示した画面の情報を図3
に示す。
The screen information thus displayed is shown in FIG.
Shown in

【0070】I10を中心にして一階層展開した論理回
路図400と実装情報401、ネットリスト402を一
つの画面上に表示している。
A logic circuit diagram 400 expanded in one layer around I10, mounting information 401, and a net list 402 are displayed on one screen.

【0071】以上で図7の説明を終わって、次に、図6
の編集指示取り込みモジュールについて説明する。
The description of FIG. 7 has been completed.
Will be described.

【0072】これは、図3に示されている論理回路図4
00、実装情報401、ネットリスト402に対して表
示内容に変更を加えたい場合、ユーザ指示コマンド領域
403,404に拡大、縮小、消去、表示レベル変更等
の指示を行なう。
This corresponds to the logic circuit diagram 4 shown in FIG.
When it is desired to change the display contents of the mounting information 401, the mounting information 401, and the net list 402, instructions such as enlargement, reduction, deletion, and change of the display level are given to the user instruction command areas 403 and 404.

【0073】このような指示を、コマンドメニューテー
ブル610の編集要求のレベル、モードを示す欄である
レベル621、モード622へ取り込む(S703)。
Such an instruction is taken into the level 621 and the mode 622 which are columns indicating the level and mode of the editing request in the command menu table 610 (S703).

【0074】次に、現状の表示のレべル614、モード
615の情報と今回の編集情報に変化があるかチェック
する。また、指示基準名630、指示内容640も変化
がないかを調べるために、631,641と比較され
る。
Next, it is checked whether or not there is a change between the current display level 614, the mode 615 information, and the current edition information. The instruction reference name 630 and the instruction content 640 are also compared with 631 and 641 to check whether there is any change.

【0075】この結果、変化がなければ(S707)、テ
ストエンジニア24の指示ミスの疑いが考えられるた
め、図6の変化なしヘ進み、指示ミスメッセージを出力
する出力モジュールをコールし(S708)、再度、編集
指示取り込みモジュールヘ戻る。
As a result, if there is no change (S707), there is a possibility of an instruction error of the test engineer 24, so the process proceeds to FIG. 6 without change and calls an output module for outputting an instruction error message (S708). The process returns to the editing instruction capturing module again.

【0076】以前の指示状態から変化した場合(S70
6)には、終了指示か(S710)、別指示有りか(S70
9)を判断する。終了指示の場合には、本発明による全
ての処理を終了する。
When the instruction state has changed from the previous instruction state (S70)
6) is an end instruction (S710) or another instruction (S70).
Determine 9). In the case of a termination instruction, all processing according to the present invention is terminated.

【0077】別指示有りの場合には、コマンドメニュー
テーブル610の現状の表示のレベル614、モード6
15ヘ、編集内容のレベル621、モード622を移し
変える。
If there is another instruction, the current display level 614 of the command menu table 610 and the mode 6
15, the editing content level 621 and the mode 622 are transferred.

【0078】また、図5(b)の指示内容テーブル650
の現状の指示基準名630、指示内容640の631,
641欄も書き換える。
The instruction content table 650 shown in FIG.
The current instruction reference name 630, instruction content 640 631,
Column 641 is also rewritten.

【0079】これらの処理が終了すると、再度、表示モ
ードモジュールの処理に戻る(S702)。
When these processes are completed, the process returns to the process of the display mode module again (S702).

【0080】他の実施の形態を、図8、図9を用いて説
明する。
Another embodiment will be described with reference to FIGS.

【0081】この実施の形態は、1台のワークステーシ
ョン4に、複数の表示機器であるVDT、例えば3台の
VDT45を接続したものである。
In this embodiment, a plurality of VDTs, for example, three VDTs 45 are connected to a single workstation 4 as a plurality of display devices.

【0082】図8に示す機器構成を採用した場合、1つ
のVDTで1種類の図を表示する、あるいは、テス卜対
象プリント基板の別の回路位置を、別々の画面に表示す
ることが可能となる。
When the device configuration shown in FIG. 8 is adopted, one type of diagram can be displayed by one VDT, or another circuit position of the printed circuit board to be tested can be displayed on separate screens. Become.

【0083】これを実現するためには、図9に示したテ
ーブル構成を取ればよく、この場合のVDT45上に表
示する編集、指示情報は図10に示すようになる。この
図が図3と異なる点は、図10のVDT番号101がユ
ーザ指示エリアに存在する点である。
In order to realize this, the table configuration shown in FIG. 9 may be employed. In this case, the editing and instruction information displayed on the VDT 45 is as shown in FIG. This figure differs from FIG. 3 in that the VDT number 101 in FIG. 10 exists in the user designated area.

【0084】また、図6の処理フロー上では、初期設定
モードモジュールでの表示端未番号の考慮および編集指
示取り込み時のVDT番号の取り込みの考慮を行なう以
外には、何ら特別な処理は必要としない。
Further, in the processing flow of FIG. 6, no special processing is required except for the consideration of the display end unnumbered number in the initial setting mode module and the consideration of the VDT number when the editing instruction is fetched. do not do.

【0085】このように本発明は構成されているため
に、以下のことが実現できる。
Since the present invention is configured as described above, the following can be realized.

【0086】対象プリント基板の論理設計情報、実装設
計情報をコンピュータ(またはワークステーション)のメ
モリ上に展開し、外部のキーボードまたはマウス等によ
り指示された実装位置や部品情報をコンピュータ中に取
り込み、この外部より指示された部品に関係する論理を
追跡する。さらに、これに関係するプリントパターン情
報、部品配置情報、論理回路図情報、論理接続情報をコ
ンピュータのVDT管面上に表示できる。
The logical design information and mounting design information of the target printed circuit board are developed on the memory of the computer (or workstation), and the mounting position and parts information designated by an external keyboard or mouse are taken into the computer. Tracks logic related to parts specified externally. Further, related print pattern information, component arrangement information, logic circuit diagram information, and logical connection information can be displayed on the VDT screen of the computer.

【0087】このため、回路図、部品配置図、またはプ
リン卜パターン図のような論理動作確認用の論理情報や
製造用図面等の実装情報をそのまま用いるのではなく、
必要な情報のみを編集して、表示できる回路情報表示装
置を提供することができる。
For this reason, instead of directly using logic information for confirming a logical operation such as a circuit diagram, a component layout diagram, or a print pattern diagram, or mounting information such as a drawing for manufacturing,
A circuit information display device that can edit and display only necessary information can be provided.

【0088】論理回路図中には、部品の名称、機能、部
品ピン番号、実装位置を表示することができる。
In the logic circuit diagram, the names of components, functions, component pin numbers, and mounting positions can be displayed.

【0089】また、設計変更で用いるものであれば、変
更後の論理回路図と変更前の論理回路図を対比できるよ
う並ベて表示することができる。
If the logic circuit diagram is used for a design change, the logic circuit diagram after the change and the logic circuit diagram before the change can be displayed side by side so that they can be compared.

【0090】また、プリン卜基板の論理変更処理に用い
る場合の論理回路図や部品配置図、ネッ卜リス卜を表示
する場合、プリントパターンカット位置、ジャンパー線
接続位置をこの図面情報中に表示することもできる。
When displaying a logic circuit diagram, a component layout diagram, and a netlist for use in a logic change process of a printed board, a print pattern cut position and a jumper wire connection position are displayed in the drawing information. You can also.

【0091】尚、追跡して、得られた論理情報はネッ卜
リストとして出力できる。
The logical information obtained by tracing can be output as a netlist.

【0092】また、部品配置図とプリントパターン図
は、部品のICの名称、実装位置、XY座標、搭載方向
等を含む実装情報と、プリントパターンがプリント基板
上のどこをどの方向に走っているか示すXY座標情報お
よびそのプリン卜パターン上に存在するスルーホール、
テストパッドの位置を示すXY座標情報とを編集するこ
とにより出力することができる。
The component layout diagram and the print pattern diagram show mounting information including the name of the component IC, mounting position, XY coordinates, mounting direction, etc., and where and in which direction the print pattern runs on the printed circuit board. XY coordinate information and through holes existing on the print pattern,
It can be output by editing XY coordinate information indicating the position of the test pad.

【0093】このとき、故障解析や設計変更を行なう作
業者の操作を簡単にするため、表示する情報は複数の画
面情報を同時表示(以下、マルチスクリーンと表現する)
し、任意の図面を拡大または縮小し、表示する機能や、
そのなかから指定された1または2以上の情報の画面を
拡大または縮小して表示する機能や、指定された1また
は2以上の情報をスクロールさせる機能を持たせること
もできる。
At this time, in order to simplify the operation of a worker who performs a failure analysis and a design change, a plurality of screen information is simultaneously displayed (hereinafter, referred to as a multi-screen) as information to be displayed.
The ability to zoom in or out on any drawing,
Among them, a function of enlarging or reducing the screen of one or more pieces of designated information or a function of scrolling one or more pieces of designated information can be provided.

【0094】図面の拡大または縮小は、各倍率に応じた
仮想空間図面を準備しておくことにより、外部から指示
された階層に合った図面を選択し、表示することができ
る。
For enlargement or reduction of a drawing, by preparing a virtual space drawing corresponding to each magnification, it is possible to select and display a drawing suitable for a hierarchy specified from the outside.

【0095】また、複数の情報のすベてを表示すること
ができないときは、ユーザが、これらの情報のなかから
表示するものを指定し、指定されたものを表示すること
もできる。
When all pieces of information cannot be displayed, the user can specify the information to be displayed from among these pieces of information and display the specified information.

【0096】また、論理回路図を表示する場合、故障原
因追及をよりスムーズに行なうため、外部より指示され
た部品を中心とし、これに接続する論理回路情報を使用
者が指示する任意の階層で表示できるようにすることも
できる。
When a logic circuit diagram is displayed, in order to find out the cause of a failure more smoothly, a component designated from the outside is the center, and logic circuit information to be connected to the component is arranged at an arbitrary level designated by the user. It can also be displayed.

【0097】表示階層が深くなるにしたがい1画面内に
表示するシンボルの数が増加し、また、1画面に表示可
能な面積は一定であることより表示階層が深くなるにし
たがい仮想図面領域の図面表示倍率を小さくし1画面に
収まるようにすることもできる。
As the display hierarchy increases, the number of symbols displayed in one screen increases, and since the area that can be displayed on one screen is constant, the drawing in the virtual drawing area increases as the display hierarchy increases. The display magnification can be reduced to fit on one screen.

【0098】部品配置図とプリン卜パターン図も、論理
回路図と同様に、外部より指示された階層に従い図面表
示することもできる。
The component layout diagram and the print pattern diagram can also be displayed in a drawing according to the hierarchy specified from the outside similarly to the logic circuit diagram.

【0099】また、この際に、実際の位置関係を維持し
て、表示するように編集することもできる。
At this time, it is also possible to edit the display so that the actual positional relationship is maintained and displayed.

【0100】さらに、両面に部品を搭載した基板の故障
解析をより容易に行なうため、部品配置図や論理回路
図、プリントパターン図を表示する際に、テス卜対象の
プリン卜基板の表面側に搭載されている部品やプリント
パターンは、裏面側に搭載されしているものとはディス
プレイ管面上の表示態様を変えて表示することもでき
る。
Further, in order to more easily analyze a failure of a board having components mounted on both sides, when displaying a component layout diagram, a logic circuit diagram, or a printed pattern diagram, the printed circuit board to be tested must be attached to the front side. The mounted components and print patterns can be displayed in a different display form on the display screen than those mounted on the back side.

【0101】ここで表示態様を変えるとは、色、形また
は輝度を変えること、または点滅させること等をいう。
Here, changing the display mode means changing the color, shape or luminance, or blinking.

【0102】論理回路ネットリストについても、表面側
の回路と裏面側のネッ卜の表示態様を変えるようにでき
る。
The display form of the circuit on the front side and the net on the back side can be changed for the logic circuit net list.

【0103】また、表示対象である素子、プリントパタ
ーン、テストプローブ等の種別に応じて、表示態様を変
えて表示することもできる。
The display mode can be changed according to the type of the element to be displayed, the print pattern, the test probe, or the like.

【0104】また、ネッ卜リスト上で特定のネットを選
択した場合、論理回路図上または実装図上で当該ネット
に関係する素子、プリントパターンを強調表示するため
に、それらの輝度を他の部分と変えて表示する、点滅表
示する、または、輝度を変えて点滅表示するかのいずれ
かを選択できるようにすることもできる。さらに、その
他の表示態様を選択できるようにしてもよい。
When a specific net is selected on the netlist, the luminance of the element or print pattern related to the net is displayed on another part of the logic circuit diagram or mounting diagram to highlight it. It is also possible to select any one of the following: display by changing, flashing display, or flashing by changing brightness. Further, other display modes may be selectable.

【0105】また、ネットリス卜表示欄で選択したネッ
卜については、論理回路図上の対応する部品およびプリ
ントパターン、スルーホール、テストパッドからなる一
連の接続の輝度、その他の表示態様を、他と変えて表示
することもできる。
For the net selected in the netlist display field, the brightness of a series of connections consisting of the corresponding parts on the logic circuit diagram, the printed pattern, through holes, and test pads, and other display modes are shown. Can be displayed instead of

【0106】また、操作性を一層向上させるため、マル
チスクリーン上に表示されている、種類の異なる図面の
階層表示を変化させると、これに同期し、他の図面の階
層も変化するようにもできる。
When the hierarchical display of different types of drawings displayed on the multi-screen is changed in order to further improve the operability, the hierarchical display of other drawings is changed in synchronization with the change. it can.

【0107】また、インサーキッ卜テスタを用いたテス
ト時においては、プリン卜パターン上にテスト信号を送
り込むプローブピンが立っている位置をテスト中に確認
するため、多くの時間を費やす。
Also, in a test using an in-circuit tester, a lot of time is spent to check the position of a probe pin for sending a test signal on a print pattern during the test.

【0108】このため、VDT画面上の素子、素子のピ
ン、テストパッド、スルーホールの位置を示す部品配置
図およびプリントパターン図等の実装情報と、プローブ
ピンのピン立て位置等のテスト情報を重ね合わせて表示
することもできる。
For this reason, mounting information such as a component layout diagram and a printed pattern diagram showing the positions of elements, element pins, test pads, and through holes on the VDT screen and test information such as probe pin pin positions are superimposed. They can also be displayed together.

【0109】また、論理情報とテスト情報とを重ね合わ
せて表示することもできる。
Further, the logical information and the test information can be superimposed and displayed.

【0110】このため、論理情報、実装情報と同時に、
テスト情報を表示できる回路情報表示装置を提供するこ
とができる。
Therefore, at the same time as the logical information and the mounting information,
A circuit information display device capable of displaying test information can be provided.

【0111】ピン立て位置としては、テス卜パッドもあ
る。
As a pin setting position, there is also a test pad.

【0112】テストパッドが使われるのは、高密度基板
での表面実装部品を多用した場合や、プリント基板ヘの
両面実装を行なった場合に、部品ピンに直接プローブピ
ンを立てられないことがあるためであり、プリントパタ
ーンの途中にテストパッドを設け、これに対しプローブ
ピンを立てテスト信号を供給することを行なう。これら
のピン立て位置を確認する際に、位置情報は大きな効果
を発揮する。
The test pad is used in some cases where the surface mount components are frequently used on a high-density substrate, or when both sides are mounted on a printed circuit board, the probe pins may not be able to be directly set on the component pins. For this reason, a test pad is provided in the middle of the print pattern, a probe pin is set up for this, and a test signal is supplied. When confirming these pin positions, the position information has a great effect.

【0113】この際に、位置の確認をしやすくするため
にテストパッドの形状または色等の表示態様を他のもの
と変えて表示することができる。
At this time, in order to make it easy to confirm the position, the display mode such as the shape or color of the test pad can be changed and displayed.

【0114】スルーホールについても同様に、他のもの
と形状または色等の表示態様を変えることにより識別を
容易にすることができる。
Similarly, identification of the through-hole can be facilitated by changing the display mode such as the shape or color of the through-hole.

【0115】ここで使用するプ口ーブピンにも用途や形
状が異なるものがあるため、これをVDT画面上で容易
に認識できるように、例えば、電源ピン、アースピン、
信号ピンを形状、色または輝度等の表示態様を変えて表
示することもできる。
Since the use pins and the shape of the probe pins used here are different from each other, the power pins, the earth pins, and the like can be easily recognized on the VDT screen.
The signal pins can also be displayed in different display modes such as shape, color or luminance.

【0116】また、この際に、プ口ーブピンの識別子の
1種であるプローブピン番号等も同時に表示すると作業
の効率がさらに上がる。
At this time, if the probe pin number, which is one of the identifiers of the probe pins, is also displayed at the same time, the work efficiency is further improved.

【0117】また、プリント基板の故障解析に用いる場
合の論理回路図表示の際、プローブピンを論理回路図の
ネットを表わす線分上に表示し、このとき、実際のプ口
ーブピンが立っている箇所に最も近い素子の近傍に表示
することもできる。
When displaying a logic circuit diagram for use in failure analysis of a printed circuit board, a probe pin is displayed on a line segment representing a net in the logic circuit diagram, and at this time, an actual probe pin stands. It can also be displayed near the element closest to the location.

【0118】また、VDT表示画面が小さく、マルチス
クリーンでは見にくい場合には、ワークステーションに
複数のディスプレイを準備し、その一つずつに、論理回
路図、部品配置図、プリントパターン図のうちの、異な
った情報を表示させることができる。
When the VDT display screen is small and it is difficult to see it on a multi-screen, a plurality of displays are prepared in the workstation, and each of them is provided with a logical circuit diagram, a component layout diagram, and a print pattern diagram. Different information can be displayed.

【0119】なお、プリントパターンの接続状況を容易
に調ベるために、部品配置図上には、外部から指示した
素子または部品に関係するプリントパターン、テス卜パ
ッド、スルーホールのみを表示することもできる。
In order to easily check the connection status of the print patterns, only the print patterns, test pads, and through holes relating to the elements or components specified from the outside should be displayed on the component layout. Can also.

【0120】以上の機能を持たせることができるため
に、本発明は、故障解析を行なう場合、テスタが指摘し
た異常現象に関係する回路や部品、プリントパターンの
関係を短時間で容易に観測できるため、テストエンジニ
アの不良解析時間を短縮することが可能である。
Since the present invention can be provided with the functions described above, according to the present invention, when performing a failure analysis, it is possible to easily observe, in a short time, the relationship among circuits, components, and print patterns related to the abnormal phenomenon pointed out by the tester. Therefore, it is possible to shorten the failure analysis time of the test engineer.

【0121】また、論理回路図、実装図、プリン卜パタ
ーン図を図面用紙として準備する必要がないため、テス
トデバッグ時や故障解析時にテス卜ステーションを広く
使うことができる。
Further, since it is not necessary to prepare a logic circuit diagram, a mounting diagram, and a print pattern diagram as a drawing sheet, the test station can be widely used at the time of test debugging or failure analysis.

【0122】なお、本実施の形態においては、図3に示
したように、指定された素子は画面の中央に表示してい
るが、指定された素子は、画面右端に配置すること(こ
のときは、素子の入力側に接続される素子を表示するこ
とを目的とする)、または、指定された素子を画面の左
端に表示すること(このときは、素子の出力側に接続さ
れる素子を表示することを目的とする)を、指定手段に
より選択できるようにしてもよい。
In this embodiment, as shown in FIG. 3, the designated element is displayed at the center of the screen, but the designated element is arranged at the right end of the screen (at this time, The purpose is to display the element connected to the input side of the element) or to display the specified element at the left end of the screen (in this case, the element connected to the output side of the element is displayed). (For the purpose of displaying) may be selected by the specifying means.

【0123】また、素子と素子を指定して、その間にあ
って接続関係を有する素子またはプリントパターン等の
みを表示するようにしても良い。
It is also possible to designate elements and elements and display only those elements or print patterns which have a connection relationship between them.

【0124】さらに、素子と特定の場所(例えば、外部
入出力ピン等)を指定して、その間にあって接続関係を
有する素子またはプリントパターン等のみを表示するよ
うにしても良い。
Further, an element and a specific place (for example, an external input / output pin or the like) may be designated, and only elements or print patterns having a connection relationship therebetween may be displayed.

【0125】[0125]

【発明の効果】以上のように構成されているので、本発
明によれば、回路図、部品配置図またはプリントパター
ン図のような論理動作確認用の論理情報や製造用図面等
の実装情報をそのまま用いるのではなく、必要な情報の
みを編集して表示する回路情報表示装置を提供すること
ができる。
As described above, according to the present invention, according to the present invention, logic information for confirming a logical operation such as a circuit diagram, a component layout diagram or a printed pattern diagram, and mounting information such as a manufacturing drawing are provided. It is possible to provide a circuit information display device that edits and displays only necessary information instead of using it as it is.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の一形態に係るブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram according to an embodiment of the present invention.

【図2】(a)は、本発明を適用する対象であるプリン卜
基板の平面図であり、(b)は、そのI−I断面図で、プ
リント基板のみを破断して示した説明図である。
FIG. 2A is a plan view of a printed circuit board to which the present invention is applied, and FIG. 2B is a sectional view taken along the line II of FIG. It is.

【図3】本発明に係るワークステーションのVDT画面
の説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a VDT screen of a workstation according to the present invention.

【図4】ワークステーション上に記憶されたプリント基
板の論理、実装情報テーブルの説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a logic and mounting information table of a printed circuit board stored on a workstation.

【図5】(a)は、ユーザがワークステーションのVDT
から入力する情報を記憶するテーブルの1つであるコマ
ンドメニューテーブルの説明図であり、(b)は、ユーザ
がワークステーションのVDTから入力する情報を記憶
するテーブルの1つである指示内容テーブルの説明図で
ある。
FIG. 5 (a) is a diagram illustrating a case where a user operates a VDT of a workstation.
FIG. 7B is an explanatory diagram of a command menu table which is one of tables for storing information input from a VDT of a workstation. FIG. FIG.

【図6】本発明の実施の一形態に係るソフトウェア処理
の説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of software processing according to an embodiment of the present invention.

【図7】本発明の実施の一形態に係る、表示画面を編集
するための処理の説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a process for editing a display screen according to an embodiment of the present invention.

【図8】1台のワークステーションに3台のVDTを接
続した実施の形態のブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram of an embodiment in which three VDTs are connected to one workstation.

【図9】図8の機器構成で画面表示を行なうための、ユ
ーザ指示情報のテーブルの説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a table of user instruction information for displaying a screen with the device configuration of FIG. 8;

【図10】図8の機器構成時のユーザ指示情報画面の説
明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram of a user instruction information screen at the time of the device configuration of FIG. 8;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…論理回路図 2…ホストコンピュータ 3…設計データべース 4…ワークステーション 23…インサーキットテス夕 30…プリン卜基板 320…スルーホール 340…プリントパターン 360…部品 400…論理回路図 401…実装図 402…ネッ卜リスト 403…ユーザ指示コマンド領域 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Logic circuit diagram 2 ... Host computer 3 ... Design database 4 ... Work station 23 ... In-circuit tester 30 ... Print board 320 ... Through hole 340 ... Print pattern 360 ... Parts 400 ... Logic circuit diagram 401 ... Mounting Figure 402: Netlist 403: User command area

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】論理情報と実装情報の作成指示を指定する
指定情報を受け付けるための指定手段と、 上記指定手段が受け付けた情報にしたがって、論理情報
および実装情報を作成するための回路情報を編集する編
集手段と、 上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作成
された論理情報および実装情報を表示する表示手段とを
有し、 上記指定手段は、 回路の論理情報、実装情報およびテスト情報の3種類の
情報の1表示画面内への表示を指定する情報を受け付け
るための手段と、 上記表示手段の1表示画面内に前記3種類の情報を表示
しきれないときは、上記3種類の情報のなかから表示情
報を指定する情報を受け付ける手段とを有することを特
徴とする回路情報表示装置。
1. A designating means for receiving designation information for designating an instruction to create logical information and mounting information, and editing circuit information for creating logical information and mounting information according to the information received by the designating means. Editing means, and display means for displaying logic information and mounting information created based on the circuit information edited by the editing means, wherein the designating means includes the logic information of the circuit, the mounting information, and the test information. Means for receiving information designating the display of three types of information in one display screen; and when the three types of information cannot be displayed in one display screen of the display means, the three types of information Means for receiving information for designating display information from among the information.
【請求項2】論理情報と実装情報の作成指示を指定する
指定情報を受け付けるための指定手段と、 上記指定手段が受け付けた情報にしたがって、論理情報
および実装情報を作成するための回路情報を編集する編
集手段と、 上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作成
された論理情報および実装情報を表示する表示手段とを
有し、 上記編集手段は、部品取付面の1つの面に配置された構
成要素と、他の面に配置された構成要素とを、表示態様
を変えて編集することを特徴とする回路情報表示装置。
2. Designing means for receiving designation information for designating an instruction to create logical information and mounting information, and editing circuit information for creating logical information and mounting information according to the information received by the designating means. Editing means, and display means for displaying logic information and mounting information created based on the circuit information edited by the editing means, wherein the editing means is arranged on one of the component mounting surfaces. A circuit information display device, wherein a constituent element and a constituent element arranged on another surface are edited in different display modes.
【請求項3】論理情報と実装情報の作成指示を指定する
指定情報を受け付けるための指定手段と、 上記指定手段が受け付けた情報にしたがって、論理情報
および実装情報を作成するための回路情報を編集する編
集手段と、 上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作成
された論理情報および実装情報を表示する表示手段とを
有し、 上記指定手段は、表示対象の種別に応じた表示態様を指
定する情報を受け付け可能であることを特徴とする回路
情報表示装置。
3. Designing means for receiving designation information for designating an instruction to create logical information and mounting information, and editing circuit information for creating logical information and mounting information according to the information received by the specifying means. Editing means, and display means for displaying logic information and mounting information created based on the circuit information edited by the editing means, wherein the specifying means specifies a display mode according to the type of display target. A circuit information display device capable of receiving information to be performed.
【請求項4】論理情報と実装情報の作成指示を指定する
指定情報を受け付けるための指定手段と、 上記指定手段が受け付けた情報にしたがって、論理情報
および実装情報を作成するための回路情報を編集する編
集手段と、 上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作成
された論理情報および実装情報を表示する表示手段とを
有し、 上記編集手段は、テスト端子の形状、種類に応じて、テ
スト端子の表示態様を変えることを特徴とする回路情報
表示装置。
4. A designating means for receiving designation information for designating an instruction to create logical information and mounting information, and editing circuit information for creating logical information and mounting information according to the information received by the designating means. Editing means, and display means for displaying logic information and mounting information created based on the circuit information edited by the editing means. The editing means performs a test in accordance with the shape and type of the test terminal. A circuit information display device characterized by changing a display mode of a terminal.
【請求項5】論理情報と実装情報の作成指示を指定する
指定情報を受け付けるための指定手段と、 上記指定手段が受け付けた情報にしたがって、論理情報
および実装情報を作成するための回路情報を編集する編
集手段と、 上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作成
された論理情報および実装情報を表示する表示手段とを
有し、 上記指定手段は、構成要素の指定を含む前記指定情報を
受け付け、 上記編集手段は、上記指定された構成要素に接続される
素子以外のもののみを表示手段に表示するように編集す
ることを特徴とする回路情報表示装置。
5. A designating means for receiving designation information for designating an instruction to create logical information and mounting information, and editing circuit information for creating logical information and mounting information according to the information received by the designating means. Editing means, and display means for displaying logic information and mounting information created based on the circuit information edited by the editing means, wherein the designation means receives the designation information including designation of components. The circuit information display device, wherein the editing means performs editing so that only the elements other than the elements connected to the designated component are displayed on the display means.
【請求項6】論理情報と実装情報の作成指示を指定する
指定情報を受け付けるための指定手段と、 上記指定手段が受け付けた情報にしたがって、論理情報
および実装情報を作成するための回路情報を編集する編
集手段と、 上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作成
された論理情報および実装情報を表示する表示手段とを
有し、 上記指定手段は、素子間の接続情報を示すネットのなか
から1のネットの指定を含む前記指定情報を受け付け、 上記編集手段は、論理情報および実装情報を記憶してお
り、上記論理情報および実装情報のなかから、上記指定
されたネットに関係した情報を強調表示することを特徴
とする回路情報表示装置。
6. A designating means for receiving designation information for designating an instruction to create logical information and mounting information, and editing circuit information for creating logical information and mounting information according to the information received by the designating means. Editing means, and display means for displaying logic information and mounting information created based on the circuit information edited by the editing means, wherein the designating means comprises a net indicating connection information between elements. Receiving the designation information including designation of one net, the editing means stores logic information and mounting information, and emphasizes information related to the designated net from the logic information and mounting information; A circuit information display device for displaying.
【請求項7】論理情報と実装情報の作成指示を指定する
指定情報を受け付けるための指定手段と、 上記指定手段が受け付けた情報にしたがって、論理情報
および実装情報を作成するための回路情報を編集する編
集手段と、 上記編集手段によって編集された回路情報に基づき作成
された論理情報および実装情報を表示する表示手段とを
有し、 上記編集手段は、回路の論理情報、実装情報および回路
変更情報を記憶しており、上記回路変更情報を、上記論
理情報または実装情報と同一表示画面に重ねて表示する
ように編集することを特徴とする回路情報表示装置。
7. A designating means for receiving designation information for designating an instruction to create logical information and mounting information, and edits circuit information for creating logical information and mounting information according to the information received by the designating means. Editing means, and display means for displaying logic information and mounting information created based on the circuit information edited by the editing means, wherein the editing means includes logic information, mounting information, and circuit change information of the circuit. Wherein the circuit change information is edited so as to be superimposed and displayed on the same display screen as the logical information or the mounting information.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020165800A (en) * 2019-03-29 2020-10-08 日置電機株式会社 Information display device, measurement system, and information display program

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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