[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JPH11307721A - Power module device and manufacture therefor - Google Patents

Power module device and manufacture therefor

Info

Publication number
JPH11307721A
JPH11307721A JP11297098A JP11297098A JPH11307721A JP H11307721 A JPH11307721 A JP H11307721A JP 11297098 A JP11297098 A JP 11297098A JP 11297098 A JP11297098 A JP 11297098A JP H11307721 A JPH11307721 A JP H11307721A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power
resin
sealing resin
power device
power module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11297098A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshitaka Sekine
敏孝 関根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP11297098A priority Critical patent/JPH11307721A/en
Publication of JPH11307721A publication Critical patent/JPH11307721A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the number of part items and miniaturize a device by sealing the periphery of a power device mounting part in resin and mounting a circuit board on a sealing resin surface. SOLUTION: For example, a power transistor chip 1, power transistor mounting part 4, bonding wire 5 and a part of a lead 3 are incorporated in a power module device, and a sealing resin 6 such as epoxy resin is formed into a box shape having no lid. Then, on the rear plane of the sealing resin 6 arc on the bottom plane of a recess of the sealing resin 6, a part of the surface of the lead 3 is exposed, and furthermore, a part of the lead 3 is protruded to the external of the sealing resin 6 to provide electrical connection with the external. On the bottom plane inside the recess of the sealing resin 6, a control board 8 whereupon a control circuit is formed by a circuit component 8A is mounted. From the control board 8, a bonding wire 5A is connected with the surface of the lead 3 exposed on the part of the resin sealed bottom plane.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はパワーモジュール装
置およびその製造方法に関するものであり、特に半導体
パワーデバイスとその制御回路を一体化した構造を有す
る、半導体パワーモジュール装置およびその製造方法に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a power module device and a method of manufacturing the same, and more particularly to a semiconductor power module device having a structure in which a semiconductor power device and a control circuit thereof are integrated and a method of manufacturing the same. .

【0002】[0002]

【従来の技術】パワーモジュールはパワーデバイスとそ
のパワーデバイスの制御に用いる制御回路を一つのケー
ス内に収納した製品であり、部品の小型化、部品点数の
削減に寄与することから、需要が拡大している。特に、
30Wないし200W程度の電力(中電力)を出力する
半導体パワーデバイスを用いる半導体パワーモジュール
は、小型で信頼性が良いことからインバータ用等の用途
を中心に、急速に需要が拡大している。
2. Description of the Related Art A power module is a product in which a power device and a control circuit used for controlling the power device are housed in a single case, and contributes to downsizing of components and reduction of the number of components, so that demand is expanding. doing. Especially,
Demand for semiconductor power modules using semiconductor power devices that output power of about 30 W to 200 W (medium power) is rapidly increasing, especially for inverters and the like, because of their small size and high reliability.

【0003】以下、図8を用いて、従来の半導体パワー
モジュール装置の概要を説明する。図8に、従来の半導
体パワーモジュール装置の上面図、断面図を示す。図8
(a)は、従来の半導体パワーモジュール装置のポッテ
ィング樹脂封止前の上面図を示しており、図8(b)
は、図8(a)の一点鎖線部分での断面図を示してい
る。
Hereinafter, an outline of a conventional semiconductor power module device will be described with reference to FIG. FIG. 8 shows a top view and a sectional view of a conventional semiconductor power module device. FIG.
FIG. 8A is a top view of a conventional semiconductor power module device before potting resin sealing, and FIG.
Shows a cross-sectional view taken along a dashed line in FIG. 8A.

【0004】また、図8(c)は、図8(a)にポッテ
ィング樹脂を封止した後の、図8(a)の一点鎖線部分
での断面図を示している。図8(a)、図8(b)で
は、パワートランジスタチップ1が銅製のヒートスプレ
ッダー21にマウントされ、そのヒートスプレッダー2
1が、表面に絶縁膜31Aを介して電極領域41を含む
配線パターンが形成された金属ベース基板31上の電極
領域41にマウントされている。
FIG. 8 (c) is a cross-sectional view taken along a dashed line in FIG. 8 (a) after the potting resin is sealed in FIG. 8 (a). 8A and 8B, the power transistor chip 1 is mounted on a heat spreader 21 made of copper, and the heat spreader 2 is mounted on the heat spreader 2.
1 is mounted on the electrode region 41 on the metal base substrate 31 on the surface of which a wiring pattern including the electrode region 41 is formed via an insulating film 31A.

【0005】一方、表面に抵抗、コンデンサ等の回路部
品85等が実装された制御基板80が、樹脂ケース60
内部の底面上に実装されている。その樹脂ケース60は
蓋の無い箱状に形成され、その底面の上記制御基板80
の実装部以外の部分に、上記の金属ベース基板31が取
り付けられている。
On the other hand, a control board 80 on which circuit components 85 such as a resistor and a capacitor are mounted on the surface is a resin case 60.
Mounted on the bottom inside. The resin case 60 is formed in a box shape without a lid, and the control board 80
The above-mentioned metal base substrate 31 is attached to a portion other than the mounting portion.

【0006】また、箱状の樹脂ケース60の一側面に
は、樹脂ケース60の内部、外部をつなぐ外部接続リー
ド65が貫通しており、その外部接続リード65の樹脂
ケース60内部の部分は、電気接続用に表面の一部を露
出している。
An external connection lead 65 for connecting the inside and the outside of the resin case 60 penetrates through one side surface of the box-shaped resin case 60. A portion of the external connection lead 65 inside the resin case 60 is Part of the surface is exposed for electrical connection.

【0007】そして、上記金属ベース基板31上に形成
された電極領域41、およびパワートランジスタチップ
1と、上記制御基板80との間は、ボンディングワイヤ
50で電気的に接続されている。
The electrode region 41 formed on the metal base substrate 31 and the power transistor chip 1 are electrically connected to the control substrate 80 by bonding wires 50.

【0008】また、上記制御基板80と、樹脂ケース6
0内部に露出した外部接続リード65との間は、ボンデ
ィングワイヤ50Aで、同様に電気的に接続されてい
る。更に、上記の箱状の樹脂ケース60内部にはポッテ
ィング樹脂90が充填されて、半導体パワーモジュール
装置が形成されている(図8(c))。
The control board 80 and the resin case 6
The connection wires 50A are electrically connected to the external connection leads 65 exposed to the inside by using bonding wires 50A. Further, the inside of the box-shaped resin case 60 is filled with a potting resin 90 to form a semiconductor power module device (FIG. 8C).

【0009】次に、図8、図9に基づいて、従来の半導
体パワーモジュール装置の製造方法について説明する。
図9は、従来のパワーモジュール装置の製造工程の要部
の製造工程断面図を示したものである。
Next, a method of manufacturing a conventional semiconductor power module device will be described with reference to FIGS.
FIG. 9 is a sectional view showing a main part of a manufacturing process of a conventional power module device.

【0010】まず、パワートランジスタチップ1を金属
性のヒートスプレッダー21上面に半田マウントする。
ここで、ヒートスプレッダー21は、銅などの熱伝導
率、電気伝導率の良い材料が用いられ、パワートランジ
スタチップ1裏面のコレクタ電極と導通している(図9
(a))。
First, the power transistor chip 1 is mounted on the upper surface of the metal heat spreader 21 by soldering.
Here, the heat spreader 21 is made of a material having good thermal conductivity and electric conductivity such as copper, and is electrically connected to the collector electrode on the back surface of the power transistor chip 1 (FIG. 9).
(A)).

【0011】次に、パワートランジスタチップ1がマウ
ントされたヒートスプレッダー21を、金属ベース基板
31にマウントする。金属ベース基板31はヒートスプ
レッダー21と同様に熱伝導率、電気伝導率の良い材料
を用いるが、金属ベース基板31は上部に複数のパワー
トランジスタチップ1をマウントする場合には各トラン
ジスタチップ間で、チップ裏面の電位を独立に制御する
ことが必要であり、このため、表面に絶縁膜31Aを形
成して、更に各トランジスタチップ毎に、電極領域41
を形成して各チップの裏面電位を独立に制御できるよう
にしている(図9(b))。
Next, the heat spreader 21 on which the power transistor chip 1 is mounted is mounted on a metal base substrate 31. The metal base substrate 31 is made of a material having good thermal conductivity and electric conductivity like the heat spreader 21. However, when a plurality of power transistor chips 1 are mounted on the metal base substrate 31, It is necessary to independently control the potential on the back surface of the chip. For this reason, an insulating film 31A is formed on the front surface, and an electrode region 41 is formed for each transistor chip.
Is formed so that the back potential of each chip can be controlled independently (FIG. 9B).

【0012】一方、上記のパワートランジスタの出力を
制御する制御回路は抵抗、コンデンサ等の回路部品85
をガラスエポキシ等の制御基板80に半田付けする事に
より形成される(図9(c))。
On the other hand, a control circuit for controlling the output of the power transistor includes circuit components 85 such as a resistor and a capacitor.
Is soldered to a control board 80 made of glass epoxy or the like (FIG. 9C).

【0013】次に、上記の制御基板80を、予め外部接
続リード65の形成された樹脂ケース60内底面の所定
の場所に接着する(図9(d))。続いて、ヒートスプ
レッダ−21のマウントされた金属ベース基板31を上
記樹脂ケース60底面に形成された所定の空間にとりつ
ける(図9(e))。
Next, the control board 80 is bonded to a predetermined location on the inner bottom surface of the resin case 60 on which the external connection leads 65 are formed in advance (FIG. 9D). Subsequently, the metal base substrate 31 on which the heat spreader 21 is mounted is mounted in a predetermined space formed on the bottom surface of the resin case 60 (FIG. 9E).

【0014】次に、パワートランジスタ1、制御基板8
0の必要部分を、相互にボンディングワイヤ50により
接続する。更に、制御基板80と、樹脂ケース60内部
の外部接続リード65とをボンディングワイヤ50Aに
より接続する。これにより、必要な電気的接続を得る
(図8(b))。
Next, the power transistor 1, the control board 8
The necessary parts of 0 are connected to each other by a bonding wire 50. Further, the control board 80 and the external connection leads 65 inside the resin case 60 are connected by the bonding wires 50A. As a result, necessary electrical connections are obtained (FIG. 8B).

【0015】次に、上記のボンディングワイヤ50、5
0A、およびパワートランジスタチップ1の表面の保護
の為に、ポッティング樹脂90を樹脂ケース60内の凹
部全面に形成し、特性検査を行うことによって、パワー
モジュール装置が完成する(図8(c))。
Next, the bonding wires 50, 5
In order to protect the surface of the power transistor chip 1 and the power transistor chip 0A, a potting resin 90 is formed on the entire concave portion in the resin case 60, and a characteristic test is performed to complete the power module device (FIG. 8C). .

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の半導体
パワーモジュール装置では、次に示すような問題があっ
た。すなわち、 1)パワートランジスタチップ1を金属ベース基板31
に実装しているが、金属ベース基板31は各パワートラ
ンジスタチップ1の電気絶縁確保のため表面にエポキシ
系の絶縁膜31Aが形成されている。しかしながら、絶
縁膜31Aの熱伝導性はたとえフィラーを混ぜてもA
l、Cuと比較して2 桁程度悪く、これにより過渡放熱
特性は低下する。そして、これを補うため、パワートラ
ンジスタチップ1は銅製のヒートスプレッダー21上に
マウントされ、そのヒートスプレッダー21が金属ベー
ス基板31にマウントされている。
The above-mentioned conventional semiconductor power module device has the following problems. 1) The power transistor chip 1 is connected to the metal base substrate 31.
The metal base substrate 31 has an epoxy-based insulating film 31A formed on the surface thereof to ensure electrical insulation of each power transistor chip 1. However, even if a filler is mixed, the thermal conductivity of the insulating film 31A is A
It is about two orders of magnitude worse than 1 and Cu, thereby degrading transient heat dissipation characteristics. To compensate for this, the power transistor chip 1 is mounted on a heat spreader 21 made of copper, and the heat spreader 21 is mounted on a metal base substrate 31.

【0017】このような構成のためパワートランジスタ
チップ1周辺の実装部品点数が多く、構成部品価格が高
い。 2)樹脂ケース60内に金属ベース基板31、制御基板
80を配置し、それぞれをボンディングワイヤ50で接
続する構成をとっているため、金属ベース基板31と制
御基板80をボンディングができる程度にほぼ平面的に
配置する必要がある。このため、金属ベース基板31と
制御基板80を積み重ねた配置は出来ず、所要面積が大
きくなる。
Due to such a configuration, the number of mounted components around the power transistor chip 1 is large, and the price of the components is high. 2) Since the metal base substrate 31 and the control substrate 80 are arranged in the resin case 60 and connected to each other by the bonding wires 50, the metal base substrate 31 and the control substrate 80 are substantially flat enough to allow bonding. It is necessary to arrange it. Therefore, the metal base substrate 31 and the control substrate 80 cannot be stacked and arranged, and the required area increases.

【0018】また、上述した従来の半導体パワーモジュ
ール装置の製造方法では、次に示すような問題があっ
た。 1)樹脂ケース、金属ベース基板、制御基板等、部品点
数が多く、それにともない製造工程が長い。このため、
製造価格が高い。 2)パワートランジスタチップ1のマウント後、ポッテ
ィング樹脂90充填までの工程が長く、この間パワート
ランジスタチップ1の表面が露出している。このため、
工程中にパワートランジスタチップ1の表面に傷が付く
事が多く、パワートランジスタチップ1の不良が発生す
る恐れが大きい。 3)ボンディングワイヤ50,50A形成工程終了まで
パワートランジスタチップ1の正確な電気特性検査がで
きない。このため、パワートランジスタチップ1の電気
特性不良の除去が最終工程まで出来ず、最終工程での不
良率が高くなる。
Further, the above-mentioned conventional method for manufacturing a semiconductor power module device has the following problems. 1) The number of components such as a resin case, a metal base substrate, and a control substrate is large, and the manufacturing process is long accordingly. For this reason,
High production price. 2) The process from mounting the power transistor chip 1 to filling the potting resin 90 is long, during which the surface of the power transistor chip 1 is exposed. For this reason,
During the process, the surface of the power transistor chip 1 is often scratched, and the power transistor chip 1 is likely to be defective. 3) An accurate electrical characteristic test of the power transistor chip 1 cannot be performed until the step of forming the bonding wires 50 and 50A is completed. For this reason, electrical characteristic failure of the power transistor chip 1 cannot be removed until the final step, and the failure rate in the final step increases.

【0019】本発明は上記の問題に鑑みてなされたもの
であり、部品点数の少ない、小型化が可能なパワーモジ
ュール装置、及び、製造工程の短縮可能な、デバイスの
信頼性の高い、かつ、前工程で発生したパワーデバイス
の不良の除去が可能な、パワーモジュール装置の製造方
法を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and has a small number of parts, a small power module device, a short manufacturing process, high device reliability, and An object of the present invention is to provide a method of manufacturing a power module device, which can remove a defect of a power device generated in a previous process.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記の問題を解決するた
め、本発明に係るパワーモジュール装置では、パワーデ
バイスと、前記パワーデバイスが表面に実装されたパワ
ーデバイス搭載部と、前記パワーデバイス搭載部と一体
にかつ同一材料から加工形成された導電性を有するパワ
ーデバイス用リードと、前記パワーデバイス搭載部と異
なる回路基板上に形成された前記パワーデバイスのパワ
ーを制御する制御回路とを具備し、前記パワーデバイス
および前記パワーデバイス搭載部のうち前記パワーデバ
イス実装部周辺が封止樹脂内部に封止されており、前記
回路基板が前記封止樹脂表面に実装されている事を特徴
とする。
In order to solve the above problems, in a power module device according to the present invention, a power device, a power device mounting portion having the power device mounted on a surface, and a power device mounting portion are provided. A power device lead having conductivity and formed integrally from the same material, and a control circuit for controlling the power of the power device formed on a circuit board different from the power device mounting portion, The power device and the periphery of the power device mounting portion of the power device mounting portion are sealed inside a sealing resin, and the circuit board is mounted on the sealing resin surface.

【0021】また、前記パワーデバイス搭載部および前
記パワーデバイス用リードと同一材料から加工成形され
た複数の導電性リードを具備し、前記封止樹脂に内包さ
れ前記パワーデバイスの電極と前記導電性リードとを接
続する第一の接続手段と、前記封止樹脂から露出した前
記導電性リードと前記回路基板の信号端子とを電気的に
接続する第二の接続手段を有する事を特徴とする。
The power device mounting part and the power device lead are provided with a plurality of conductive leads formed from the same material as the power device mounting part. The power device electrode and the conductive lead are included in the sealing resin. And a second connecting means for electrically connecting the conductive lead exposed from the sealing resin and the signal terminal of the circuit board.

【0022】また、前記封止樹脂が断面凹状の箱型に形
成され、前記回路基板が前記封止樹脂の凹部底面に実装
されていることを特徴とする。また、本発明に係るパワ
ーモジュール装置の製造方法では、導電性薄板から成形
されたパワーデバイス搭載部にパワーデバイスを実装す
る工程、前記パワーデバイスを前記導電性薄板から成形
された複数の導電性リードに電気的に接続する工程、前
記パワーデバイスを樹脂封止し、樹脂封止体を形成する
工程、前記樹脂封止体上に、前記パワーデバイスのパワ
ーを制御する制御回路の形成された回路基板を実装する
工程、前記導電性リードと前記回路基板の所望の部分を
電気的に接続する工程、を含む事を特徴とする。
Further, the sealing resin is formed in a box shape having a concave cross section, and the circuit board is mounted on a bottom surface of the concave portion of the sealing resin. Further, in the method for manufacturing a power module device according to the present invention, a step of mounting a power device on a power device mounting portion formed from a conductive thin plate; and a step of mounting the power device on a plurality of conductive leads formed from the conductive thin plate. Electrically connecting the power device, resin-sealing the power device to form a resin-sealed body, and a circuit board on which a control circuit for controlling the power of the power device is formed on the resin-sealed body. And a step of electrically connecting the conductive leads to a desired portion of the circuit board.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】(第一の実施の形態)以下に、本
発明の第一の実施の形態に係るパワーモジュール装置に
ついて、半導体パワーモジュール装置を例にとって図1
を用いて詳細に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (First Embodiment) A power module device according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described in detail with reference to FIG.

【0024】図1は、半導体パワーモジュール装置の断
面図である。図1では、銅等の金属薄板で形成されたパ
ワートランジスタマウント部4(パワーデバイス搭載
部)表面上にパワートランジスタチップ1(パワーデバ
イス)が実装されている。パワートランジスタチップ1
からはボンディングワイヤ5がリード3に接続され、電
気的導通をとっている。
FIG. 1 is a sectional view of a semiconductor power module device. In FIG. 1, a power transistor chip 1 (power device) is mounted on a surface of a power transistor mount portion 4 (power device mounting portion) formed of a thin metal plate such as copper. Power transistor chip 1
From then on, the bonding wire 5 is connected to the lead 3 to establish electrical continuity.

【0025】また、上記パワートランジスタチップ1、
上記パワートランジスタマウント部4、上記ボンディン
グワイヤ5、上記リード3の一部を内蔵して、蓋の無い
箱状にエポキシ樹脂等の封止樹脂6が形成されている。
The power transistor chip 1,
A sealing resin 6 such as an epoxy resin or the like is formed in a box shape without a lid, in which the power transistor mount portion 4, the bonding wires 5, and a part of the leads 3 are incorporated.

【0026】その蓋の無い箱状の封止樹脂6の裏面には
上記パワートランジスタマウント部4の裏面が、また、
蓋の無い箱状の封止樹脂6凹部の底面には上記リード3
の表面の一部が露出しており、更に、リード3は、一部
が封止樹脂6の外部に突出して、外部との電気的接続を
得る事ができるように構成されている。
On the back surface of the box-shaped sealing resin 6 without the lid, the back surface of the power transistor mount 4 is provided.
The lead 3 is provided on the bottom surface of the box-shaped sealing resin 6 having no lid.
A part of the surface of the lead 3 is exposed, and a part of the lead 3 is configured to protrude outside the sealing resin 6 so that an electrical connection with the outside can be obtained.

【0027】また、蓋の無い箱状の封止樹脂6凹部内部
の底面には、回路部品8Aにより制御回路の形成された
制御基板8が実装されており、その制御基板8からはボ
ンディングワイヤ5Aが、封止樹脂底面の一部に露出し
た上記リード3の表面に接続されている。
A control board 8 on which a control circuit is formed by circuit components 8A is mounted on the bottom inside the concave portion of the box-shaped sealing resin 6 without a lid. Is connected to the surface of the lead 3 exposed on a part of the bottom surface of the sealing resin.

【0028】また、上記の制御基板8、ボンディングワ
イヤ5Aを覆って、蓋の無い箱状の封止樹脂6の凹部内
にシリコーン樹脂等のポッティング樹脂9が充填されて
いる。
A potting resin 9 such as a silicone resin is filled in the recess of the box-shaped sealing resin 6 which covers the control board 8 and the bonding wires 5A.

【0029】ここで、一つの封止樹脂6中には、パワー
トランジスタチップ1は、必要に応じて1個ないし複数
個、封止する事が出来る。複数個のパワートランジスタ
チップ1を封止した場合でも、図2(a)に示したよう
にリードフレーム2のパワートランジスタマウント部4
を分離形成しておく事により、封止樹脂6内に電気的に
絶縁してパワートランジスタチップ1を載置する事が出
来る。但し、この場合は図2 (c)のような形態では複
数個のパワートランジスタマウント部4 の裏面が、通常
その下面に設置される放熱フィンで相互に電気的に導通
してしまうことになる。このような不都合は、パワート
ランジスタマウント部裏面に封止樹脂6を薄く形成し、
熱放散性を余り阻害しない範囲で電気的な絶縁を確保す
れば解消される。
Here, one or a plurality of power transistor chips 1 can be sealed in one sealing resin 6 as needed. Even when a plurality of power transistor chips 1 are sealed, as shown in FIG.
Are formed separately, the power transistor chip 1 can be mounted in the sealing resin 6 while being electrically insulated. However, in this case, in the form as shown in FIG. 2C, the back surfaces of the plurality of power transistor mounts 4 are electrically connected to each other by the radiation fins usually provided on the lower surfaces. Such inconvenience is caused by forming the sealing resin 6 thinly on the back surface of the power transistor mount,
This can be solved by securing electrical insulation within a range that does not significantly impede heat dissipation.

【0030】上述の本発明の第一の実施の形態に係るパ
ワーモジュール装置によれば、 1)パワートランジスタチップ1はパワートランジスタ
マウント部4にマウントされているが、複数のパワート
ランジスタチップを用いる場合でも、パワートランジス
タマウント部4は複数を同一封止樹脂6中に、離間し
て、電気的に絶縁した上で固定する事が容易である。こ
のため、実質的に少ない部品点数で電気絶縁の確保と良
好な過渡放熱特性の確保が可能である。 2)パワートランジスタチップ1、パワートランジスタ
マウント部4と制御基板8との電気的接続はリード3を
介して行う事ができる。このため、それらを同一面上に
配置する必要がなく、封止樹脂6の内部と上部に積み重
ねて配置する事ができる。このため、所要面積が小さ
い。
According to the power module device according to the first embodiment of the present invention described above, 1) the power transistor chip 1 is mounted on the power transistor mount 4, but a plurality of power transistor chips are used. However, it is easy to separate a plurality of power transistor mounts 4 in the same sealing resin 6 and to electrically insulate and fix them. For this reason, it is possible to secure electrical insulation and to secure good transient heat dissipation characteristics with a substantially small number of components. 2) The electrical connection between the power transistor chip 1, the power transistor mount 4 and the control board 8 can be made via the leads 3. For this reason, it is not necessary to arrange them on the same surface, and they can be arranged by being stacked inside and above the sealing resin 6. Therefore, the required area is small.

【0031】次に、上記の第一の実施の形態にかかるパ
ワーモジュール装置の製造方法について、図2を用いて
詳細に説明する。図2は、本発明の第一の実施の形態に
係る半導体装置の製造工程の工程上面図及び工程断面図
である。
Next, a method of manufacturing the power module device according to the first embodiment will be described in detail with reference to FIG. FIG. 2 is a process top view and a process cross-sectional view of the manufacturing process of the semiconductor device according to the first embodiment of the present invention.

【0032】図2(a)は、パワートランジスタチップ
1をリードフレーム2のパワートランジスタマウント部
4に、図示しない半田を用いてマウントし、ボンディン
グワイヤ5によってパワーデバイス用リード3Aと接続
した状態の上面図を示している。ここで、リードフレー
ム2中のパワートランジスタマウント部4は、帯状に展
延して形成されたリードフレーム2の両側の支持部2A
から内側に伸びたマウント部リード2Bによって、リー
ドフレーム2上に固定され、 そのマウント部リード2B
の両側にはパワーモジュールのリードとなるべきパワー
デバイス用リード3A、制御基板用リード3Bが形成さ
れている。 ここで、制御基板用リード3Bは、後工程で
実装される制御基板8の電気接続をとるため形成されて
いる。
FIG. 2A shows a top view of a state in which the power transistor chip 1 is mounted on the power transistor mounting portion 4 of the lead frame 2 by using solder (not shown) and connected to the power device leads 3A by bonding wires 5. FIG. Here, the power transistor mount portion 4 in the lead frame 2 is formed by supporting portions 2A on both sides of the lead frame 2 formed so as to extend in a belt shape.
Is fixed on the lead frame 2 by a mounting portion lead 2B extending inward from the mounting portion lead 2B.
A power device lead 3A to be a power module lead and a control board lead 3B are formed on both sides of the power module. Here, the control board leads 3B are formed for electrical connection to the control board 8 to be mounted in a later step.

【0033】また、図2(b)は、図2(a)の一点鎖
線部分での断面図を示している。ここで、パワートラン
ジスタマウント部4は、熱拡散性を向上させるため、リ
ードフレーム2の他の部分よりも厚く形成されている。
FIG. 2B is a cross-sectional view taken along a dashed line in FIG. 2A. Here, the power transistor mount 4 is formed to be thicker than other parts of the lead frame 2 in order to improve the heat diffusion.

【0034】次に、通常の樹脂封止技術によりパワート
ランジスタチップをエポキシ樹脂で外形が蓋の無い箱状
になるように樹脂封止し、リードフレームの不要部を切
断除去する。樹脂封止後のパワートランジスタ部分の断
面図を図2(c)に示す。ここで、樹脂封止は、後工程
でワイヤボンディングが容易に行えるように、リード3
の表面の一部が、蓋の無い箱状の封止樹脂6凹部の内部
底面から露出するように行われる。また、パワートラン
ジスタチップ1は熱放散が充分に行えるように、パワー
トランジスタチップ1のパワートランジスタマウント部
4の裏面も、パワーモジュール装置外部のヒートシンク
と直接接触できるように、蓋の無い箱状の封止樹脂6裏
面から露出するように形成する。
Next, the power transistor chip is resin-encapsulated with epoxy resin so that the external shape becomes a box shape without a lid by an ordinary resin encapsulation technique, and unnecessary portions of the lead frame are cut and removed. FIG. 2C is a cross-sectional view of the power transistor portion after resin sealing. Here, the resin sealing is performed so that the leads 3 can be easily bonded in a later step.
Is performed so that a part of the surface of the resin is exposed from the inner bottom surface of the box-shaped sealing resin 6 concave portion without the lid. In order to sufficiently dissipate heat in the power transistor chip 1, the back surface of the power transistor mount portion 4 of the power transistor chip 1 is also sealed in a box-like shape without a lid so that it can directly contact a heat sink outside the power module device. It is formed so as to be exposed from the back surface of the sealing resin 6.

【0035】次に、蓋の無い箱状に形成された封止樹脂
の凹部底面に予め回路部品8Aの実装された制御基板8
を接着固定する。更に、制御基板8の所望の部分を、封
止樹脂6表面から露出したリード3の表面3Aにボンデ
ィングワイヤ5Aで接続し、必要な電気的接続をとる。
Next, the control board 8 on which the circuit components 8A are mounted in advance is formed on the bottom surface of the concave portion of the sealing resin formed in a box shape without a lid.
Adhesively fixed. Further, a desired portion of the control board 8 is connected to the surface 3A of the lead 3 exposed from the surface of the sealing resin 6 by a bonding wire 5A to make necessary electrical connection.

【0036】次に、封止樹脂6凹部をシリコーン樹脂等
のポッティング樹脂9で充填する事により、制御基板
8、ボンディングワイヤ5Aを保護し、パワーモジュー
ル装置を得る事が出来る(図1(d))。
Next, by filling the concave portion of the sealing resin 6 with a potting resin 9 such as a silicone resin, the control board 8 and the bonding wires 5A are protected, and a power module device can be obtained (FIG. 1D). ).

【0037】上記の本発明の第一の実施の形態のパワー
モジュール装置の製造方法によれば、次のような効果を
得る事ができる。すなわち、 1)従来のパワーモジュール装置と比較して部品点数が
少ない。即ち、従来のパワーモジュール装置の樹脂ケー
スの役割と金属ベースの役割の一部を封止樹脂で、ま
た、従来のリード、ヒートスプレッダーの役割と金属ベ
ースの配線の役割をリードフレームが果たしており、全
体として部品点数が削減されている。また、金属ベース
基板へのヒートスプレッダーの実装工程と、 金属ベース
基板のケースへの接着工程が不要になるため製造工程が
短い。 2)パワートランジスタチップ1のマウント、ワイヤボ
ンディング後に直ちに樹脂封止を行うため、パワートラ
ンジスタチップ1の表面が露出している工程が少なく、
表面に傷が付く恐れが少ない。このため、工程中にパワ
ートランジスタチップ1の不良が発生する恐れが少な
い。 3)樹脂封止工程後、制御基板実装前にパワートランジ
スタチップ1の電気特性検査が可能であり、工程途中で
電気特性不良を除去する事が出来る。このため、最終工
程での不良率を大幅に削減でき製造コストを大幅に削減
できる。
According to the method of manufacturing the power module device of the first embodiment of the present invention, the following effects can be obtained. That is: 1) The number of parts is smaller than that of the conventional power module device. That is, a part of the role of the resin case and the role of the metal base of the conventional power module device is a sealing resin, and the lead frame plays the role of the conventional lead, heat spreader, and the role of the metal-based wiring, The number of parts is reduced as a whole. In addition, since the step of mounting the heat spreader on the metal base substrate and the step of bonding the metal base substrate to the case are not required, the manufacturing process is short. 2) Since resin sealing is performed immediately after mounting and wire bonding of the power transistor chip 1, the number of steps in which the surface of the power transistor chip 1 is exposed is small,
There is less danger of scratching the surface. Therefore, there is little possibility that a failure of the power transistor chip 1 occurs during the process. 3) After the resin sealing step, it is possible to inspect the electric characteristics of the power transistor chip 1 before mounting the control substrate, and it is possible to remove electric characteristic defects during the process. For this reason, the defective rate in the final step can be significantly reduced, and the manufacturing cost can be significantly reduced.

【0038】次に、上述の本発明の第一の実施の形態に
係るパワーモジュール装置の変形例に付き、半導体パワ
ーモジュールを例にとって図3、図4、図5を用いて詳
細に説明する。
Next, a modified example of the power module device according to the first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3, 4, and 5, taking a semiconductor power module as an example.

【0039】図3は、本発明の第一の実施の形態に係る
半導体パワーモジュール装置の第一の変形例を示した断
面図である。図3で、図1と同一の部分には同一の符号
を付し、説明を省略する。図3に示した半導体パワーモ
ジュール装置の変形例では、ボンディングワイヤ5Aに
替えて金属ジャンパー線5Bを半田付けする事によって
制御基板8と、リード3を電気的に接続している。この
ような金属ジャンパー5Bを用いる事により、上述の本
発明の第一の実施の形態に係るパワーモジュール装置に
付いて述べた効果に加え、リード3の表面が酸化等によ
り変質している場合にも充分な電気的導通を確実に得る
事ができる効果がある。
FIG. 3 is a sectional view showing a first modification of the semiconductor power module device according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 3, the same portions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In the modified example of the semiconductor power module device shown in FIG. 3, the control board 8 and the leads 3 are electrically connected by soldering a metal jumper wire 5B instead of the bonding wire 5A. By using such a metal jumper 5B, in addition to the above-described effects of the power module device according to the first embodiment of the present invention, when the surface of the lead 3 is deteriorated due to oxidation or the like. Also, there is an effect that sufficient electrical conduction can be reliably obtained.

【0040】図4は、本発明の第一の実施の形態に係る
半導体パワーモジュール装置の第二の変形例を示した断
面図である。図4で、図1と同一の部分には同一の符号
を付し、説明を省略する。図4に示した半導体パワーモ
ジュール装置の変形例では、パワートランジスタマウン
ト部4の裏面を封止樹脂6の裏面に露出させず、封止樹
脂6内に封止している。
FIG. 4 is a sectional view showing a second modification of the semiconductor power module device according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 4, the same portions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In the modification of the semiconductor power module device shown in FIG. 4, the back surface of the power transistor mount 4 is not exposed to the back surface of the sealing resin 6 but is sealed in the sealing resin 6.

【0041】このような形態を取る事により、上述の本
発明の第一の実施の形態に係るパワーモジュール装置に
付いて述べた効果に加え、パワートランジスタマウント
部4の露出した裏面の変質を防止する事ができ、また、
パワートランジスタマウント部4、封止樹脂6の界面か
らの水分の進入を防止できる。また、このような実施の
形態を取る事により、パワートランジスタマウント部4
裏面に封止樹脂6による絶縁層が形成されているため、
封止樹脂裏面に導電性の放熱フィンを接触させても電気
的導通が無く、放熱フィンと独立にパワートランジスタ
マウント部の電気的制御が可能となる。
By adopting such a form, in addition to the effects described for the power module device according to the first embodiment of the present invention, the exposed back surface of the power transistor mount 4 is prevented from being deteriorated. You can also
It is possible to prevent water from entering from the interface between the power transistor mount 4 and the sealing resin 6. In addition, by adopting such an embodiment, the power transistor mount 4
Since the insulating layer of the sealing resin 6 is formed on the back surface,
Even if conductive radiating fins are brought into contact with the back surface of the sealing resin, there is no electrical conduction, and electrical control of the power transistor mount can be performed independently of the radiating fins.

【0042】また、図5は、本発明の第一の実施の形態
に係る半導体パワーモジュール装置の第三の変形例を示
した断面図である。図5で、図1と同一の部分には同一
の符号を付し、説明を省略する。図5に示した半導体パ
ワーモジュール装置の変形例では、上記の第二の変形例
と同様にパワートランジスタマウント部4の裏面が封止
樹脂6の裏面に露出されず、封止樹脂6内に封止されて
いる。また、本第三の変形例では、パワートランジスタ
マウント部4裏面に薄い封止樹脂6を介してパワートラ
ンジスタマウント部4よりも大きな金属板状の放熱フィ
ン35が載置されており、その放熱フィン35の裏面は
封止樹脂6の裏面に露出している。このような形態を取
る事により、上述の第二の変形例で述べた効果に加え、
放熱フィン35をパワーモジュール内に取り込むこと
で、安定した放熱特性を得る事ができる。
FIG. 5 is a sectional view showing a third modification of the semiconductor power module device according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 5, the same portions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In the modified example of the semiconductor power module device shown in FIG. 5, the back surface of the power transistor mount portion 4 is not exposed to the back surface of the sealing resin 6 and is sealed in the sealing resin 6 as in the second modified example. Has been stopped. In the third modification, a metal plate-shaped heat radiation fin 35 larger than the power transistor mount portion 4 is placed on the back surface of the power transistor mount portion 4 with a thin sealing resin 6 interposed therebetween. The back surface of 35 is exposed on the back surface of the sealing resin 6. By taking such a form, in addition to the effects described in the above second modification,
By incorporating the radiation fins 35 into the power module, stable radiation characteristics can be obtained.

【0043】(第二の実施の形態)次に、本発明の第二
の実施の形態に係るパワーモジュール装置に付き、半導
体パワーモジュールを例にとって、図6を用いて詳細に
説明する。
(Second Embodiment) Next, a power module device according to a second embodiment of the present invention will be described in detail using a semiconductor power module as an example with reference to FIG.

【0044】図6は、本発明の第二の実施の形態に係る
半導体パワーモジュール装置の断面図である。図6で、
図1と同一の部分には同一の符号を付し、説明を省略す
る。図6では、図1に示した第一の実施の形態と同様
に、図1(a)に示したリードフレーム2を用いて、図
1(b)に示したようにパワートランジスタマウント部
4にパワートランジスタチップ1がマウントされ、ボン
ディングワイヤ5で接続されている。ただし、本発明の
第二の実施の形態では、第一の実施の形態と異なり、樹
脂封止時には蓋の無い箱状に凹部が形成されておらず、
表面が平坦に形成されている。
FIG. 6 is a sectional view of a semiconductor power module device according to a second embodiment of the present invention. In FIG.
The same parts as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. In FIG. 6, as in the first embodiment shown in FIG. 1, the lead frame 2 shown in FIG. 1A is used to mount the power transistor mount 4 as shown in FIG. The power transistor chip 1 is mounted and connected by bonding wires 5. However, in the second embodiment of the present invention, unlike the first embodiment, the concave portion is not formed in a box shape without a lid at the time of resin sealing,
The surface is formed flat.

【0045】また、第一の実施の形態にかかるパワーモ
ジュール装置と同様に封止樹脂表面に制御基板8が接着
され、ボンディングワイヤ5Aで接続されている。更
に、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂等の粘性の高いポッ
ティング樹脂9で封止樹脂6表面がポッティングされ、
パワーモジュール装置が形成されている。
Further, similarly to the power module device according to the first embodiment, the control substrate 8 is adhered to the surface of the sealing resin and connected by the bonding wires 5A. Further, the surface of the sealing resin 6 is potted with a highly viscous potting resin 9 such as an epoxy resin or a silicone resin,
A power module device is formed.

【0046】上述の本発明の第二の実施の形態では、上
記の第一の実施の形態で述べた効果に加え、モールド樹
脂の表面が凹部の無い平坦な面に形成されているため、
樹脂モールド後の金型からの離型性が良く、樹脂封止体
の寸法精度も良いという効果がある。また、封止樹脂の
量が少なくて済み、モジュールの小型化が容易であると
いう利点もある。
In the second embodiment of the present invention, in addition to the effects described in the first embodiment, since the surface of the mold resin is formed on a flat surface without a concave portion,
There is an effect that the releasability from the mold after the resin molding is good and the dimensional accuracy of the resin sealing body is also good. In addition, there is an advantage that the amount of the sealing resin is small and the module can be easily miniaturized.

【0047】次に本発明の第三の実施の形態に係るパワ
ーモジュール装置につき、半導体パワーモジュールを例
にとって、図7を用いて詳細に説明する。図7は、本発
明の第三の実施の形態に係るパワーモジュール装置の断
面図である。
Next, a power module device according to a third embodiment of the present invention will be described in detail using a semiconductor power module as an example with reference to FIG. FIG. 7 is a sectional view of a power module device according to the third embodiment of the present invention.

【0048】図7では、封止樹脂6の形成方法は、蓋の
無い箱状をなす凹部の大きさが小さい他は、図1に示し
た第一の実施の形態にかかるパワーモジュール装置とほ
ぼ同様であり、図1と同一の部分には同一の符号を付し
説明を省略する。
In FIG. 7, the method of forming the sealing resin 6 is substantially the same as that of the power module device according to the first embodiment shown in FIG. 1, except that the size of the box-shaped concave portion without the lid is small. This is the same, and the same parts as those in FIG.

【0049】図7では、制御基板8の寸法が上述の第一
の実施の形態と比較して大きく、ほぼ、封止樹脂6の底
面積と等しく形成されている。また、回路部品8Aは、
制御基板8裏面の封止樹脂6の凹部に対応する部分に実
装されており、制御基板8と封止樹脂6は、接着、ネジ
止め等により相互に固定されている。
In FIG. 7, the size of the control board 8 is larger than that of the first embodiment, and is formed substantially equal to the bottom area of the sealing resin 6. The circuit component 8A is
The control substrate 8 is mounted on a portion corresponding to the concave portion of the sealing resin 6 on the back surface of the control substrate 8, and the control substrate 8 and the sealing resin 6 are fixed to each other by bonding, screwing, or the like.

【0050】上述の本発明の第三の実施の形態にかかる
パワーモジュール装置では、上述の本発明の第一の実施
の形態にかかる装置で述べた効果に加え、ポッティング
樹脂を用いていないため、装置表面が堅牢であり外部衝
撃に対して強いという効果がある。
In the power module device according to the third embodiment of the present invention, in addition to the effects described in the device according to the first embodiment of the present invention, since the potting resin is not used, The effect is that the surface of the device is robust and resistant to external impact.

【0051】尚、上記の各実施の形態、およびその変形
例では、封止樹脂中にパワーデバイスのみを実装封止す
る場合に付いて説明したが、本発明の実施はこれに限る
事はなく、パワーデバイスの制御回路の一部など、他の
デバイスを同一樹脂中に封止しても良い。
In each of the above embodiments and modifications thereof, the case where only the power device is mounted and sealed in the sealing resin has been described. However, the present invention is not limited to this. Alternatively, another device such as a part of a control circuit of a power device may be sealed in the same resin.

【0052】また、上記の各実施の形態、およびその変
形例では、リードフレームのパワートランジスタマウン
ト部は、平坦に、また、放熱の為厚く形成したが、本発
明の実施はこれに限る事はなく、リードフレームの他部
分と同一の厚さでも良く、また、必要に応じてパワート
ランジスタマウント部に凹部を形成しても良い。
Further, in each of the above embodiments and the modifications thereof, the power transistor mount portion of the lead frame is formed flat and thick for heat dissipation, but the present invention is not limited to this. Instead, the thickness may be the same as that of the other parts of the lead frame, and if necessary, a recess may be formed in the power transistor mount.

【0053】また、上記の各実施の形態ではポッティン
グ樹脂をシリコーン樹脂としたが、これは、チクソ性の
あるシリコーンゲル、 シリコーンラバーで良く、 又、 エ
ポキシでもよい。
In the above embodiments, the potting resin is a silicone resin. However, the potting resin may be a thixotropic silicone gel, silicone rubber, or epoxy.

【0054】[0054]

【発明の効果】上述したように本発明を用いる事によ
り、部品点数が少なく、小型化が可能なパワーモジュー
ル装置、また、工程短縮の可能な、前工程での不良選別
の可能なパワーモジュール装置の製造方法を得る事が出
来る。
As described above, by using the present invention, a power module device having a small number of components and a small size, and a power module device capable of shortening the process and selecting defects in a previous process. Can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第一の実施の形態に係る半導体パワー
モジュール装置の断面図である。
FIG. 1 is a sectional view of a semiconductor power module device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第一の実施の形態に係る半導体装置の
製造工程の工程上面図及び工程断面図である。
FIG. 2 is a process top view and a process cross-sectional view of a manufacturing process of the semiconductor device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第一の実施の形態に係る半導体パワー
モジュール装置の第一の変形例を示している。
FIG. 3 shows a first modification of the semiconductor power module device according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第一の実施の形態に係る半導体パワー
モジュール装置の第二の変形例を示している。
FIG. 4 shows a second modification of the semiconductor power module device according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第一の実施の形態に係る半導体パワー
モジュール装置の第三の変形例を示している
FIG. 5 shows a third modification of the semiconductor power module device according to the first embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第二の実施の形態に係るパワーモジュ
ール装置の断面図である。
FIG. 6 is a sectional view of a power module device according to a second embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第三の実施の形態に係るパワーモジュ
ール装置の断面図である。
FIG. 7 is a sectional view of a power module device according to a third embodiment of the present invention.

【図8】従来の半導体パワーモジュール装置の上面図お
よび断面図を示している。
FIG. 8 shows a top view and a sectional view of a conventional semiconductor power module device.

【図9】従来の半導体パワーモジュール装置の製造工程
の工程断面図である。
FIG. 9 is a process sectional view of a manufacturing process of a conventional semiconductor power module device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・パワートランジスタチップ 2・・・リードフレーム 2A・・・支持部(リードフレーム) 2B・・・マウント部リード 3・・・リード(リードフレームの一部) 3A・・・パワーデバイス用リード 3B・・・制御基板用リード 35・・・放熱フィン 4・・・パワートランジスタマウント部(リードフレー
ムの一部) 5,5A・・・ボンディングワイヤ 5B・・・金属ジャンパー線 6・・・封止樹脂 7・・・凹部(封止樹脂の上部) 8・・・制御基板 8A・・・回路部品 9・・・ポッティング樹脂 21・・・ヒートスプレッダー 31・・・金属ベース基板 31A・・・絶縁膜(金属ベース基板31上) 41・・・電極領域(絶縁膜31A上) 50,50A・・・ボンディングワイヤ 60・・・樹脂ケース 65・・・外部接続リード 80・・・制御基板 85・・・回路部品 90・・・ポッティング樹脂
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Power transistor chip 2 ... Lead frame 2A ... Support part (lead frame) 2B ... Mount part lead 3 ... Lead (part of lead frame) 3A ... Power device lead 3B: Lead for control board 35: Heat radiation fin 4: Power transistor mount (part of lead frame) 5, 5A: Bonding wire 5B: Metal jumper wire 6: Sealing Resin 7: concave portion (upper part of sealing resin) 8: control board 8A: circuit component 9: potting resin 21: heat spreader 31: metal base substrate 31A: insulating film (On the metal base substrate 31) 41: electrode region (on the insulating film 31A) 50, 50A: bonding wire 60: resin case 65: outside Connection lead 80 ... control board 85 ... circuit parts 90 ... potting resin

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】パワーデバイスと、前記パワーデバイスが
表面に実装されたパワーデバイス搭載部と、前記パワー
デバイス搭載部と一体にかつ同一材料から加工形成され
た導電性を有するパワーデバイス用リードと、前記パワ
ーデバイス搭載部と異なる回路基板上に形成された前記
パワーデバイスのパワーを制御する制御回路とを具備
し、前記パワーデバイスおよび前記パワーデバイス搭載
部のうち前記パワーデバイス実装部周辺が封止樹脂内部
に封止されており、前記回路基板が前記封止樹脂表面に
実装されている事を特徴とするパワーモジュール装置。
1. A power device, a power device mounting portion having the power device mounted on a surface thereof, and a conductive power device lead integrally formed with the power device mounting portion and formed from the same material; A control circuit for controlling the power of the power device formed on a circuit board different from the power device mounting portion, wherein the power device and the power device mounting portion of the power device mounting portion are surrounded by a sealing resin. A power module device sealed inside, wherein the circuit board is mounted on the surface of the sealing resin.
【請求項2】前記パワーデバイス搭載部および前記パワ
ーデバイス用リードと同一材料から加工成形された複数
の導電性リードを具備し、前記封止樹脂に内包され前記
パワーデバイスの電極と前記導電性リードとを接続する
第一の接続手段と、前記封止樹脂から露出した前記導電
性リードと前記回路基板の信号端子とを電気的に接続す
る第二の接続手段を有する事を特徴とする請求項1 に記
載のパワーモジュール装置。
2. A power supply device comprising: a plurality of conductive leads formed by processing the same material as the power device mounting portion and the power device lead; and an electrode of the power device and the conductive lead included in the sealing resin. And a second connection means for electrically connecting the conductive lead exposed from the sealing resin and a signal terminal of the circuit board. 2. The power module device according to 1.
【請求項3】前記封止樹脂が断面凹状の箱型に形成さ
れ、前記回路基板が前記封止樹脂の凹部底面に実装され
ていることを特徴とする請求項2に記載のパワーモジュ
ール装置。
3. The power module device according to claim 2, wherein the sealing resin is formed in a box shape having a concave cross section, and the circuit board is mounted on a bottom surface of the concave portion of the sealing resin.
【請求項4】導電性薄板から成形されたパワーデバイス
搭載部にパワーデバイスを実装する工程、前記パワーデ
バイスを前記導電性薄板から成形された複数の導電性リ
ードに電気的に接続する工程、前記パワーデバイスを樹
脂封止し、樹脂封止体を形成する工程、前記樹脂封止体
上に、前記パワーデバイスのパワーを制御する制御回路
の形成された回路基板を実装する工程、前記導電性リー
ドと前記回路基板の所望の部分を電気的に接続する工
程、を含む事を特徴とするパワーモジュール装置の製造
方法。
4. A step of mounting a power device on a power device mounting portion formed from a conductive thin plate; a step of electrically connecting the power device to a plurality of conductive leads formed from the conductive thin plate; A step of resin-sealing the power device to form a resin-sealed body; a step of mounting a circuit board on which a control circuit for controlling the power of the power device is formed on the resin-sealed body; Electrically connecting a desired portion of the circuit board to a desired portion of the circuit board.
JP11297098A 1998-04-23 1998-04-23 Power module device and manufacture therefor Pending JPH11307721A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11297098A JPH11307721A (en) 1998-04-23 1998-04-23 Power module device and manufacture therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11297098A JPH11307721A (en) 1998-04-23 1998-04-23 Power module device and manufacture therefor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11307721A true JPH11307721A (en) 1999-11-05

Family

ID=14600124

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11297098A Pending JPH11307721A (en) 1998-04-23 1998-04-23 Power module device and manufacture therefor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11307721A (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6603197B1 (en) 2002-06-12 2003-08-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor unit
KR100403608B1 (en) * 2000-11-10 2003-11-01 페어차일드코리아반도체 주식회사 Stacked intelligent power module package and manufacturing method thereof
JP2005150209A (en) * 2003-11-12 2005-06-09 Denso Corp Electronic device and its manufacturing method
WO2011155165A1 (en) * 2010-06-11 2011-12-15 パナソニック株式会社 Resin-sealed semiconductor device and method for manufacturing same
CN102420220A (en) * 2010-09-24 2012-04-18 安森美半导体贸易公司 Circuit device and method of manufacturing the same
WO2014030458A1 (en) * 2012-08-20 2014-02-27 日立オートモティブシステムズ株式会社 Power semiconductor module
JP2018022849A (en) * 2016-08-05 2018-02-08 ローム株式会社 Power module and motor driving circuit
US11107746B2 (en) * 2016-02-09 2021-08-31 Mitsubishi Electric Corporation Power semiconductor apparatus and manufacturing method therefor

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100403608B1 (en) * 2000-11-10 2003-11-01 페어차일드코리아반도체 주식회사 Stacked intelligent power module package and manufacturing method thereof
US6603197B1 (en) 2002-06-12 2003-08-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor unit
JP2005150209A (en) * 2003-11-12 2005-06-09 Denso Corp Electronic device and its manufacturing method
JP5478638B2 (en) * 2010-06-11 2014-04-23 パナソニック株式会社 Resin-sealed semiconductor device and manufacturing method thereof
WO2011155165A1 (en) * 2010-06-11 2011-12-15 パナソニック株式会社 Resin-sealed semiconductor device and method for manufacturing same
US8471373B2 (en) 2010-06-11 2013-06-25 Panasonic Corporation Resin-sealed semiconductor device and method for fabricating the same
US9722509B2 (en) 2010-09-24 2017-08-01 Semiconductor Components Industries, Llc Hybrid circuit device
US9275930B2 (en) 2010-09-24 2016-03-01 Semiconductor Components Industries, Llc Circuit device and method of manufacturing the same
CN102420220A (en) * 2010-09-24 2012-04-18 安森美半导体贸易公司 Circuit device and method of manufacturing the same
US9793826B2 (en) 2010-09-24 2017-10-17 Semiconductor Components Industries, Llc Method of manufacturing a circuit device
KR20180029217A (en) * 2010-09-24 2018-03-20 세미컨덕터 콤포넨츠 인더스트리즈 엘엘씨 Circuit apparatus and method of manufacturing the same
US9998032B2 (en) 2010-09-24 2018-06-12 Semiconductor Components Industries, Llc Method of manufacturing a circuit device
WO2014030458A1 (en) * 2012-08-20 2014-02-27 日立オートモティブシステムズ株式会社 Power semiconductor module
US11107746B2 (en) * 2016-02-09 2021-08-31 Mitsubishi Electric Corporation Power semiconductor apparatus and manufacturing method therefor
JP2018022849A (en) * 2016-08-05 2018-02-08 ローム株式会社 Power module and motor driving circuit

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6458625B2 (en) Multi chip semiconductor package and method of construction
KR101505551B1 (en) Semiconductor power module package with temperature sensor mounted thereon and method of fabricating the same
US6482674B1 (en) Semiconductor package having metal foil die mounting plate
US6424026B1 (en) Power module with closely spaced printed circuit board and substrate
KR20090104478A (en) Complex semiconductor package and method of fabricating the same
JP3448159B2 (en) Power semiconductor device
JPH03108744A (en) Resin-sealed semiconductor device
JPH05304248A (en) Semiconductor device
CN115443531A (en) Power module, manufacturing method thereof, converter and electronic equipment
JP3239640B2 (en) Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device
JPH11307721A (en) Power module device and manufacture therefor
JPH1022435A (en) Semiconductor device and manufacture thereof
JP4051027B2 (en) Power semiconductor device module
JPH09213878A (en) Semiconductor device
JPH0661372A (en) Hybrid ic
JPH10242385A (en) Power hybrid integrated-circuit device
JPH0922970A (en) Electronic component
JP2524482B2 (en) QFP structure semiconductor device
KR101008534B1 (en) Power semiconductor mudule package and method for fabricating the same
JP2004048084A (en) Semiconductor power module
JPH09121018A (en) Semiconductor device
JP3048707B2 (en) Hybrid integrated circuit
JP2004165525A (en) Semiconductor device and its manufacture
JP4108909B2 (en) Semiconductor device
JP2003243611A (en) Semiconductor module and semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Effective date: 20050414

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20050606

A072 Dismissal of procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A072

Effective date: 20050816