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JPH112653A - プリント配線板の検査方法 - Google Patents

プリント配線板の検査方法

Info

Publication number
JPH112653A
JPH112653A JP9156535A JP15653597A JPH112653A JP H112653 A JPH112653 A JP H112653A JP 9156535 A JP9156535 A JP 9156535A JP 15653597 A JP15653597 A JP 15653597A JP H112653 A JPH112653 A JP H112653A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
printed wiring
wiring board
probes
inspected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9156535A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihisa Yoshida
美久 吉田
Takahiro Shibayama
孝寛 柴山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
Priority to JP9156535A priority Critical patent/JPH112653A/ja
Publication of JPH112653A publication Critical patent/JPH112653A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ファインピッチのプリント配線板でも高い精度
で検査を行うことが可能であり、特に反りが生じやすい
プリント配線板の場合であっても、高い精度で検査を行
うことが可能なプリント配線板の検査方法を提供する。 【解決手段】それぞれが独立して移動可能な二本の検査
用プローブ3を、検査ポイント5に接触させ抵抗値測定
を行い、予め記憶しておいた抵抗値と比較し、良、不良
の判定を行うプリント配線板の検査方法において、検査
用プローブ3が、検査ポイントに接触する際に、検査ポ
イントの裏面に治具4を接触させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板の
検査方法に関し、特に高い配線密度を有するプリント配
線板の検査に適するプリント配線板の検査方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来のプリント配線板の検査方法とし
て、図3に示すような方法があった。即ち、被検査プリ
ント配線板1のすべての検査ポイント12に対応して、
検査ポイントと同数の検査用プローブ11を用意し、被
検査プリント配線板1を保持機構2で保持して、検査用
プローブ群を被検査プリント配線板の検査ポイントに、
同時に接触させる。そして、検査用プローブ群に接続さ
れた制御部(図示略)に予め入力された検査ポイントデ
ーターに従い、スイッチにより一対目の検査ポイントに
対応した二本の検査用プローブを選択し、所定の電圧を
印加し、検査用プローブ間の抵抗値を測定し、スイッチ
により次の二本の検査用プローブを選択し、所定の電圧
を印加し、検査用プローブ間の抵抗値を測定する、とい
う工程を繰り返すことにより、すべての検査ポイント対
の抵抗値を測定する。
【0003】そして、すべての検査ポイント対の抵抗値
を、予め比較判定部に記憶しておいた抵抗値とそれぞれ
比較し、導通または非導通の判定を行う。一般的には、
導通として判断される抵抗値として設定された値と、非
導通と判断される抵抗値として設定された値の二つの値
を記憶させておき、導通として判断される抵抗値より、
低い抵抗値であれば、導通と判断し、非導通として判断
される抵抗値より、高い抵抗値であれば、非導通と判断
する。このような、導通、非導通の判断結果と、比較判
定部に記憶しておいた、それぞれの検査ポイントの導
通、非導通の結果とを比較し、異なっていれば、不良と
判定する。また、上記の導通、非導通として判断される
抵抗値の間の値が測定されれば、その場合も、不良と判
定する。上述のように、すべての検査ポイントに対応す
る検査用プローブを用意する方法では、検査用プローブ
群と、検査ポイントが十分な接触力で接触しないと、接
触不良により、高い抵抗値が測定されてしまう。そのた
め、一本一本に、スプリングを備えた検査用プローブが
用いられていた。そして、スプリングの復元力で、所定
の接触力を確保していた。ところが、この方法では、ス
プリングのために、プローブが大型化し、ファインピッ
チの検査を行おうとすると、隣接するプローブが接触し
て、検査ができないという問題があった。
【0004】そのため、検査用プローブ群と被検査プリ
ント配線板の間に、位置変換基板と異方性導電ゴムを用
いることにより、検査用プローブ同士の距離が離れた状
態で、位置変換基板に接触させ、位置変換基板によって
被検査ポイントの間隔にまで、位置を変換し、異方性導
電ゴムが押圧され、導電性を確保すると共に、その復元
力で、位置変換基板と被検査プリント配線板の間の接触
力を確保する、という方法が考えられた。しかし、この
方法でも、異方性導電ゴムの押圧方向と直交する方向、
即ち絶縁されていなければならない方向の絶縁性には、
限界があり、ファインピッチの検査には困難があった。
また、上述の二つの方法では、被検査ポイントにあわせ
て、検査用プローブ群を所定の位置に固定した検査治具
を作製する必要があるため、あるいは検査治具として位
置変換基板を作製する必要があるため、被検査プリント
配線板の一種類のパターンに対して、一種類の検査用プ
ローブ群が必要となり、検査コストが高く、検査治具の
作製に時間を要するという問題があった。
【0005】これらの問題を解決するために、フライン
グプローバーといわれる検査方法が提案されている。こ
の方法は、図4に示すようなもので、すべての検査ポイ
ントに対応した検査用プローブを用意するのではなく、
被検査プリント配線板1の検査面内を移動可能な、検査
用プローブ21を用い、検査用プローブが予め記憶され
た検査ポイントデーターに基づき、一対の検査ポイント
の測定ごとに移動し、検査ポイント22に接触し、検査
を行うというものである。この方法は、多くの検査ポイ
ントに同時に検査用プローブ、位置変換基板を接触させ
る方法と異なり、同時に接触させる検査ポイントが少な
いため、図5に示すように、検査用プローブ21に角度
をつけ、形状を工夫することにより、検査用プローブの
先端同士の距離を近接させることが可能である。そのた
め、近接した検査ポイント22の検査であっても、検査
用プローブ同士が接触しないように検査ポイントに検査
用プローブを接触させることが可能であり、従ってファ
インピッチな検査ポイントであっても検査が可能であ
る。また、検査ポイントのデーターを記憶させることに
よって、検査用プローブが移動して、検査が可能であ
り、被検査プリント配線板の種類が変わっても検査ポイ
ントのデーターの変更だけで、検査がすぐに可能とな
る。従って検査治具の作製が不要で、時間がとられるこ
とがないばかりか、検査治具のコストがかからなくなる
という利点を有していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、図4に示す
ように、このようなフライングプローバーを用いる方法
では、検査用プローブ21が検査ポイント22に接触す
る際の力で被検査プリント配線板1が、検査用プローブ
接触前の被検査プリント配線板の位置31から、押され
て反り、検査用プローブ21と、検査ポイント22が十
分な接触力で接触せず、接触不良により、高い抵抗値が
測定されてしまうという問題があった。また、多少の被
検査プリント配線板の反りが生じても、十分な接触力が
得られるように、検査用プローブを接触させる力を強く
しても、さらに反り、また、被検査プリント配線板を傷
つけてしまうという問題があった。
【0007】さらに、被検査プリント配線板がどの程度
の剛性を有しているか、検査ポイントが、保持機構から
どの程度離れているか、によって、反りの量も異なり、
検査用プローブを接触させる力も異なるため、接触させ
る力を制御して適切な接触状態を得るということは非常
に困難であるという問題があった。特に被検査プリント
配線板が、薄型の場合、基板内に切り欠きがある場合、
剛性が高くない材料を用いている場合、大型の場合、製
造効率をあげるために面付けされて製造されて大型化し
ている場合等においては、被検査プリント配線板の反り
が発生しやすく、検査用プローブを接触させる力も非常
に細かく制御する必要があり、上述のような問題が顕著
であった。
【0008】本発明は、上記課題を解決し、ファインピ
ッチのプリント配線板でも高い精度で検査を行うことが
可能であり、特に反りが生じやすいプリント配線板の場
合であっても、高い精度で検査を行うことが可能なプリ
ント配線板の検査方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1に係る発明では、被検査プリント配線板を
保持機構によって所定の位置に保持し、予め入力された
検査ポイントデーターから、被検査プリント配線板の一
対目の検査ポイントに対応するデーターを選択し、複数
本からなり、それぞれが独立して被検査プリント配線板
の検査面内を移動可能な検査用プローブ群から、一対目
の検査ポイントを検査するための二本の検査用プローブ
を選択し、選択された二本の検査用プローブを、前記デ
ーターに基づき、被検査プリント配線板の一対目の検査
ポイントに接触させ、検査用プローブ間に所定の電圧を
印加し、検査用プローブ間の抵抗値を測定し、さらに、
予め入力された検査ポイントデーターから、被検査プリ
ント配線板の二対目の検査ポイントに対応するデーター
を選択し、一対目の検査ポイントと同様に抵抗値を測定
する、という測定を繰り返し、すべての検査ポイント対
に対する抵抗値測定を行い、すべての検査ポイント対の
抵抗値を、予め比較判定部に記憶しておいた抵抗値とそ
れぞれ比較し、導通または非導通の判定を行い、被検査
プリント配線板の良あるいは不良の判定を行うプリント
配線板の検査方法において、前記二本の検査用プローブ
が、被検査プリント配線板の検査ポイントに接触する際
に、被プリント配線板の検査ポイントの裏面に治具を接
触させることを特徴としている。
【0010】またこのような手段においては、上記治具
を設けたり、治具の制御部が必要となるため、検査装置
が高価となり、検査コストが上昇するという問題点を有
していた。
【0011】請求項2に係る発明はこのような問題点に
鑑みてなされたものである。即ち、請求項2に係る発明
は、請求項1記載のプリント配線板の検査方法におい
て、前記治具として、検査ポイントの裏面側の検査用プ
ローブを用いることを特徴としている。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を例に
基づき説明する。まず、被検査プリント配線板を検査装
置の保持機構によって所定の位置に保持する。この保持
は、両端を挟むように保持すればよく、被検査プリント
配線板の大きさが変化した場合でも、保持機構が可動
し、確実に保持されることが好ましい。そして、検査装
置の制御部で、検査用プローブ群の中から、検査ポイン
トに適した二本の検査用プローブを選択し、選択された
検査用プローブ、検査ポイントの裏面から接触する治具
の動作を制御し、検査部で検査用プローブ間に所定の電
圧を印加し、前記選択された検査用プローブ間の抵抗値
を測定する。なお、検査用プローブ群は、被検査プリン
ト配線板の仕様によって最低限必要な検査用プローブの
本数が決定される。片面にしか検査ポイントがない場合
には、被検査プリント配線板の一方の面に接触可能なよ
うに二本の検査用プローブがあればよいが、両面に検査
ポイントがある場合は、被検査プリント配線板の両面に
二本づつの検査用プローブを必要とするが、検査用プロ
ーブの移動に要する時間を短縮するため、また検査ポイ
ントに対する適切な接触角度を得るために、さらに多く
の検査用プローブを用意してもよい。しかし、検査用プ
ローブの本数が多くなるほど、多くの検査用プローブを
制御するため、また相互の検査用プローブが接触しない
ように制御することも必要となるため、制御は難しくな
る。そのため、被検査プリント配線板の仕様、検査装置
の能力にみあった検査用プローブ本数を設置することに
なる。
【0013】具体的な抵抗値の測定方法は、まず、制御
部に予め入力された検査ポイントデーターから、被検査
プリント配線板の一対目の検査ポイントに対応するデー
ターを選択する。次に、複数本からなり、それぞれが独
立して被検査プリント配線板の検査面内を移動可能な検
査用プローブから、一対目の検査ポイントを検査するた
めの二本の検査用プローブを選択する。そして、選択さ
れた二本の検査用プローブを、前記データーに基づき、
被検査プリント配線板の一対目の検査ポイントに接触さ
せる。この際に、ほぼ同時に、検査ポイントの裏面か
ら、治具を接触させる。接触させる際に加える力は、検
査用プローブが検査ポイントに接触する際の力と同等で
あることが望ましい。
【0014】図1を用いて説明すると、被検査プリント
配線板1は保持機構2によって保持される。検査用プロ
ーブ3が移動し、検査が行われるが、検査用プローブ3
が被検査プリント配線板1に接触する際に、ほぼ同時に
検査ポイントの裏面に治具4を接触させる。この例で
は、治具として検査用プローブを用いているが、もちろ
ん検査用プローブ以外に用意した治具でもよい。次の検
査ポイントの測定を行う際は、再び検査ポイントに適切
な検査用プローブが選択され、次の検査ポイントに接触
すると、同時に治具も裏面に接触する。検査ポイントが
被検査プリント配線板の両面にまたがる場合について
は、同様に、図2で、検査用プローブ3が検査ポイント
に接触して、検査が行われるが、その際、検査ポイント
の裏面に治具4をそれぞれ接触させる。このように治具
を接触させることによって、検査用プローブが押圧する
力によって被検査プリント配線板が反ることを防ぎ、検
査用プローブと検査ポイントを適切な力で接触させるこ
とができる。また、反りがないため、検査装置に設定し
た押圧の力が反りによって吸収されることがなく、安定
した接触力を得ることができる。また、反りを考慮して
強めの接触力を設定する、という必要がないために、被
検査プリント配線板が傷つくこともない。従って、信頼
性の高い検査結果を得ることができる。
【0015】この治具は、材料は特に限定されない。例
えば、金属材料の先端にゴムを接着したもの等があげら
れる。ゴムは治具が被検査プリント配線板に接触した際
に、被検査プリント配線板を傷つけない機能を有するも
のであり、このようなものを治具の先端に備えることは
好ましい。もちろん同様の機能を有する他の材料や、ス
プリング等の部材も用いることができる。この治具は、
被検査プリント配線板の検査有効面内を移動可能であ
り、制御部に予め入力された検査ポイントデーターを用
いて、動作を制御することが可能である。具体的には、
例えば、検査ポイントデーターを用い、被検査プリント
配線板の厚み方向の検査用プローブの動作、即ち被検査
プリント配線板への接触動作を反対方向にすることによ
って、治具の動作を制御するデーターが作製可能であ
る。このようにして作製されたデーターを制御部に入力
しておくことによって、治具の動作制御が可能である。
【0016】また、被検査プリント配線板が両面に検査
ポイントを有する場合には、上述のように、両面に少な
くとも二本づつの検査用プローブを用意する必要があ
り、治具もそれに対応して、両面に少なくとも二本づつ
用意する必要がある。また、治具の制御部も必要とな
り、検査装置が高価となる。従って、検査のコストが上
昇する。そこで、図1及び図2の例のように、両面の二
本づつの検査用プローブに、治具としての機能を兼ねさ
せ、検査用プローブが検査ポイントに接触する際に、残
っている検査用プローブを治具として、検査ポイントの
裏面から接触させることは好ましい。そのように動作さ
せることによって、検査装置の簡素化、低価格化を実現
し、検査のコストを低下させることが可能となる。この
ように、検査用プローブが検査ポイントに、治具が検査
ポイントの裏面からそれぞれ接触した後に、検査部が、
検査用プローブ間に所定の電圧を印加し、検査用プロー
ブ間の抵抗値を測定する。検査部は検査用プローブ群と
電気的に接続され、二本の検査用プローブを選択するス
イッチング手段を有する。そして、二本の検査用プロー
ブ間の抵抗値を測定する。
【0017】以上のようにして、一対目の検査ポイント
に対応するデーターの選択から、抵抗値の測定が行わ
れ、一対目の検査ポイント間の抵抗値が測定される。こ
の方法を二対目の検査ポイント以降についても繰り返
し、すべての検査ポイント対について、抵抗値を測定す
る。そして、すべての検査ポイント対の抵抗値を、予め
比較判定部に記憶しておいた抵抗値とそれぞれ比較し、
導通または非導通の判定を行う。この比較、判定はすべ
ての検査ポイント対に対する抵抗値測定を行った後に一
括して比較しても、また、抵抗値測定を行いながら、平
行処理で比較を行っても、どちらでもよい。このよう
に、導通または非導通の判定を行い、その結果によっ
て、被検査プリント配線板の良、不良を判定するという
というものである。
【0018】
【発明の効果】本発明によれば、二本の検査用プローブ
が、被検査プリント配線板の検査ポイントに接触する際
に、被プリント配線板の検査ポイントの裏面に治具を接
触させるため、検査用プローブが押圧する力によって被
検査プリント配線板が反ることを防ぎ、検査用プローブ
と検査ポイントを適切な力で接触させることができる。
また、反りがないため、設定した押圧の力で接触させる
ことができ、安定した接触力を得ることができる。安定
した接触力であるため、被検査プリント配線板が傷つく
こともない。従って、信頼性の高い検査結果を得ること
ができる。さらに、治具として、検査ポイントの裏面側
の検査用プローブを用いるため、検査装置の簡素化、低
価格化が可能となり、検査のコストを低下させ、ひいて
はプリント配線板の低価格化を実現することができると
いう効果を得ることができる。
【0019】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るプリント配線板の検査方法の一実
施形態の説明図
【図2】本発明に係るプリント配線板の検査方法の他の
実施形態の説明図
【図3】従来のプリント配線板の検査方法の説明図
【図4】従来のプリント配線板の検査方法の説明図
【図5】従来のプリント配線板の検査方法の説明図
【符号の説明】
1 被検査プリント配線板 2 保持機構 3 検査用プローブ 4 治具 5 検査ポイント 11 検査用プローブ 12 検査ポイント 21 検査用プローブ 22 検査ポイント 31 反る前の被検査プリント配線板の位置

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被検査プリント配線板を保持機構によって
    所定の位置に保持し、予め入力された検査ポイントデー
    ターから、被検査プリント配線板の一対目の検査ポイン
    トに対応するデーターを選択し、複数本からなり、それ
    ぞれが独立して被検査プリント配線板の検査面内を移動
    可能な検査用プローブ群から、一対目の検査ポイントを
    検査するための二本の検査用プローブを選択し、選択さ
    れた二本の検査用プローブを、前記データーに基づき、
    被検査プリント配線板の一対目の検査ポイントに接触さ
    せ、検査用プローブ間に所定の電圧を印加し、検査用プ
    ローブ間の抵抗値を測定し、さらに、予め入力された検
    査ポイントデーターから、被検査プリント配線板の二対
    目の検査ポイントに対応するデーターを選択し、一対目
    の検査ポイントと同様に抵抗値を測定する、という測定
    を繰り返し、すべての検査ポイント対に対する抵抗値測
    定を行い、すべての検査ポイント対の抵抗値を、予め比
    較判定部に記憶しておいた抵抗値とそれぞれ比較し、導
    通または非導通の判定を行い、被検査プリント配線板の
    良あるいは不良の判定を行うプリント配線板の検査方法
    において、 前記二本の検査用プローブが、被検査プリント配線板の
    検査ポイントに接触する際に、被プリント配線板の検査
    ポイントの裏面に治具を接触させることを特徴とするプ
    リント配線板の検査方法。
  2. 【請求項2】前記治具として、検査ポイントの裏面側の
    検査用プローブを用いることを特徴とする請求項1記載
    のプリント配線板の検査方法。
JP9156535A 1997-06-13 1997-06-13 プリント配線板の検査方法 Pending JPH112653A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008039725A (ja) * 2006-08-10 2008-02-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd プリント配線板の電気検査方法およびプリント配線板の電気検査装置
JP2012122972A (ja) * 2010-12-10 2012-06-28 Ngk Spark Plug Co Ltd 電気検査用装置、及び配線基板の製造方法
JP2017211277A (ja) * 2016-05-25 2017-11-30 ヤマハファインテック株式会社 電気検査方法及び電気検査装置

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