JPH1123419A - 光ファイバ特性測定装置 - Google Patents
光ファイバ特性測定装置Info
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- JPH1123419A JPH1123419A JP9174767A JP17476797A JPH1123419A JP H1123419 A JPH1123419 A JP H1123419A JP 9174767 A JP9174767 A JP 9174767A JP 17476797 A JP17476797 A JP 17476797A JP H1123419 A JPH1123419 A JP H1123419A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3172—Reflectometers detecting the back-scattered light in the frequency-domain, e.g. OFDR, FMCW, heterodyne detection
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ２つの光源から出射される光信号の周波数間
隔を精度良く且つ任意に設定できる光ファイバ特性測定
装置を提供する。 【解決手段】 周波数ｆ１のコヒーレント光３ａをパル
ス化して被測定光ファイバ７に入射し、戻り光６ａを周
波数ｆ２のコヒーレント光１３ａと合波し、これを検波
して光ファイバ特性を求める。コヒーレント光３ａ，２
２ａを光方向性結合器２１で合波し、光検出部２４で｜
ｆ１−ｆ２｜の成分を検出して、発振器２５による周波
数ｆｒの信号とミキサ２６で混合し、周波数／電圧変換
回路２７で周波数｜ｆ１−ｆ２｜−ｆｒに応じた電圧レ
ベルを出力する。基準信号発生回路２９は、コヒーレン
ト光３ａ，２２ａの光周波数差の設定値に応じた所定の
電圧レベルを発生する。比較回路３０はこれら電圧レベ
ルの差分を算出し、制御回路３１はこの差分に基づいて
駆動回路３２により光源２２を駆動し、コヒーレント光
２２ａの周波数を補正する。
隔を精度良く且つ任意に設定できる光ファイバ特性測定
装置を提供する。 【解決手段】 周波数ｆ１のコヒーレント光３ａをパル
ス化して被測定光ファイバ７に入射し、戻り光６ａを周
波数ｆ２のコヒーレント光１３ａと合波し、これを検波
して光ファイバ特性を求める。コヒーレント光３ａ，２
２ａを光方向性結合器２１で合波し、光検出部２４で｜
ｆ１−ｆ２｜の成分を検出して、発振器２５による周波
数ｆｒの信号とミキサ２６で混合し、周波数／電圧変換
回路２７で周波数｜ｆ１−ｆ２｜−ｆｒに応じた電圧レ
ベルを出力する。基準信号発生回路２９は、コヒーレン
ト光３ａ，２２ａの光周波数差の設定値に応じた所定の
電圧レベルを発生する。比較回路３０はこれら電圧レベ
ルの差分を算出し、制御回路３１はこの差分に基づいて
駆動回路３２により光源２２を駆動し、コヒーレント光
２２ａの周波数を補正する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光パルスを光ファ
イバに出射し、その戻り光を局発光（局部発振光）と合
波してヘテロダイン検波することにより、光ファイバの
諸特性を測定する光ファイバ特性測定装置に関するもの
である。
イバに出射し、その戻り光を局発光（局部発振光）と合
波してヘテロダイン検波することにより、光ファイバの
諸特性を測定する光ファイバ特性測定装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】まず、図２を参照して従来の技術による
光ファイバ特性測定装置を説明する。同図において、周
波数制御回路１は、駆動回路２を介して光源３から出射
されるコヒーレント光３ａの周波数を安定化させる制御
を行う。ここで、コヒーレント光３ａの周波数をｆ１と
する。光源３から出射されたコヒーレント光３ａは、光
パルス発生回路４によってパルス光４ａに変換される。
このパルス光４ａは光方向性結合器５を通過し、光コネ
クタ６を介して被測定光ファイバ７に入射する。このパ
ルスの入射により、被測定光ファイバ７ではファイバの
状態に応じて光の反射や散乱現象が生じて、その一部が
戻り光６ａとして被測定光ファイバ７側から光方向性結
合器５に戻ってくる。
光ファイバ特性測定装置を説明する。同図において、周
波数制御回路１は、駆動回路２を介して光源３から出射
されるコヒーレント光３ａの周波数を安定化させる制御
を行う。ここで、コヒーレント光３ａの周波数をｆ１と
する。光源３から出射されたコヒーレント光３ａは、光
パルス発生回路４によってパルス光４ａに変換される。
このパルス光４ａは光方向性結合器５を通過し、光コネ
クタ６を介して被測定光ファイバ７に入射する。このパ
ルスの入射により、被測定光ファイバ７ではファイバの
状態に応じて光の反射や散乱現象が生じて、その一部が
戻り光６ａとして被測定光ファイバ７側から光方向性結
合器５に戻ってくる。
【０００３】一方、周波数制御回路１１も、駆動回路１
２を介して光源１３から出射されるコヒーレント光１３
ａ（局発光）の周波数を安定化させる制御を行う。ここ
で、コヒーレント光１３ａの周波数をｆ２とする。そし
て、被測定光ファイバ７からの戻り光６ａは光方向性結
合器５を経て光方向性結合器１５に出射される。光方向
性結合器１５は、光源１３から出射されたコヒーレント
光１３ａと戻り光６ａを合波し、光信号１５ａとして光
検出部１６に出射する。
２を介して光源１３から出射されるコヒーレント光１３
ａ（局発光）の周波数を安定化させる制御を行う。ここ
で、コヒーレント光１３ａの周波数をｆ２とする。そし
て、被測定光ファイバ７からの戻り光６ａは光方向性結
合器５を経て光方向性結合器１５に出射される。光方向
性結合器１５は、光源１３から出射されたコヒーレント
光１３ａと戻り光６ａを合波し、光信号１５ａとして光
検出部１６に出射する。
【０００４】光検出部１６は光信号１５ａをコヒーレン
ト検波して電気信号１６ａに変換する。信号処理部１７
は、検出された電気信号１６ａに基づいて被測定光ファ
イバ７の諸特性を求めるほか、電気信号１６ａを時間軸
上で処理してこれらの特性を光ファイバの距離軸上の分
布として作成するなどの処理を行う。上記構成では、戻
り光６ａに含まれる反射光や散乱光の周波数成分に応じ
て、コヒーレント光３ａ及びコヒーレント光１３ａの相
対周波数間隔｜ｆ１−ｆ２｜を適切に設定することで、
被測定光ファイバ７内部で発生するレイリー散乱光やブ
リルアン散乱光などの後方散乱光のほか、反射光などの
戻り光を検出できる。
ト検波して電気信号１６ａに変換する。信号処理部１７
は、検出された電気信号１６ａに基づいて被測定光ファ
イバ７の諸特性を求めるほか、電気信号１６ａを時間軸
上で処理してこれらの特性を光ファイバの距離軸上の分
布として作成するなどの処理を行う。上記構成では、戻
り光６ａに含まれる反射光や散乱光の周波数成分に応じ
て、コヒーレント光３ａ及びコヒーレント光１３ａの相
対周波数間隔｜ｆ１−ｆ２｜を適切に設定することで、
被測定光ファイバ７内部で発生するレイリー散乱光やブ
リルアン散乱光などの後方散乱光のほか、反射光などの
戻り光を検出できる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した光
ファイバ特性測定装置では、戻り光６ａを検出するため
に、光源３及び光源１３の各光源の周波数制御を行っ
て、相対周波数間隔｜ｆ１−ｆ２｜を制御している。し
かしながら、各光源の周波数を単体で制御して、光源間
の相対周波数間隔を正確に設定するのは容易ではない。
それゆえ、相対周波数間隔｜ｆ１−ｆ２｜の誤差が戻り
光６ａの検出精度に影響を及ぼすという問題がある。
ファイバ特性測定装置では、戻り光６ａを検出するため
に、光源３及び光源１３の各光源の周波数制御を行っ
て、相対周波数間隔｜ｆ１−ｆ２｜を制御している。し
かしながら、各光源の周波数を単体で制御して、光源間
の相対周波数間隔を正確に設定するのは容易ではない。
それゆえ、相対周波数間隔｜ｆ１−ｆ２｜の誤差が戻り
光６ａの検出精度に影響を及ぼすという問題がある。
【０００６】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、２つの光源から出射される光信号の
周波数間隔を精度良くなお且つ任意に設定することがで
き、戻り光に含まれる反射光や各種散乱光の周波数成分
に応じたコヒーレント検波を良好に行える光ファイバ特
性測定装置を提供することにある。
あり、その目的は、２つの光源から出射される光信号の
周波数間隔を精度良くなお且つ任意に設定することがで
き、戻り光に含まれる反射光や各種散乱光の周波数成分
に応じたコヒーレント検波を良好に行える光ファイバ特
性測定装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、請求項１記載の発明は、第１のコヒーレント光を
出射する第１の光源と第２のコヒーレント光を出射する
第２の光源とを備え、前記第１のコヒーレント光をパル
ス光に変換して被測定光ファイバへ出射して、前記被測
定光ファイバからの戻り光と前記第２のコヒーレント光
とを合波した光信号をコヒーレント検波して前記被測定
光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置に
おいて、前記第１のコヒーレント光と前記第２のコヒー
レント光の間の光周波数差を算出する光周波数差算出手
段と、前記光周波数差と該光周波数差の設定値との間の
差分を算出する光周波数誤差算出手段と、前記第２の光
源を駆動して、前記第２のコヒーレント光の周波数を前
記差分に応じて変更する光周波数制御手段とを具備する
ことを特徴としている。
めに、請求項１記載の発明は、第１のコヒーレント光を
出射する第１の光源と第２のコヒーレント光を出射する
第２の光源とを備え、前記第１のコヒーレント光をパル
ス光に変換して被測定光ファイバへ出射して、前記被測
定光ファイバからの戻り光と前記第２のコヒーレント光
とを合波した光信号をコヒーレント検波して前記被測定
光ファイバの特性を測定する光ファイバ特性測定装置に
おいて、前記第１のコヒーレント光と前記第２のコヒー
レント光の間の光周波数差を算出する光周波数差算出手
段と、前記光周波数差と該光周波数差の設定値との間の
差分を算出する光周波数誤差算出手段と、前記第２の光
源を駆動して、前記第２のコヒーレント光の周波数を前
記差分に応じて変更する光周波数制御手段とを具備する
ことを特徴としている。
【０００８】また、請求項２記載の発明は、請求項１記
載の発明において、前記光周波数差の設定値を任意の値
に設定する設定値制御手段を有することを特徴としてい
る。また、請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載
の発明において、前記光周波数制御手段は、前記第２の
コヒーレント光の周波数を予め決められた値に設定する
粗調整手段と、前記光周波数差と該光周波数差の設定値
との間の差分に応じて前記第２のコヒーレント光の周波
数を微調整する微調整手段とからなることを特徴として
いる。また、請求項４記載の発明は、請求項１〜３の何
れかの項記載の発明において、前記光周波数差算出手段
は、周波数ｆ１の前記第１のコヒーレント光と周波数ｆ
２の前記第２のコヒーレント光を合波し、合波された光
信号から周波数｜ｆ１−ｆ２｜の成分を抽出した信号に
所定周波数ｆｒの信号を混合して得られる周波数｜ｆ１
−ｆ２｜−ｆｒの信号から前記光周波数差を算出するこ
とを特徴としている。
載の発明において、前記光周波数差の設定値を任意の値
に設定する設定値制御手段を有することを特徴としてい
る。また、請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載
の発明において、前記光周波数制御手段は、前記第２の
コヒーレント光の周波数を予め決められた値に設定する
粗調整手段と、前記光周波数差と該光周波数差の設定値
との間の差分に応じて前記第２のコヒーレント光の周波
数を微調整する微調整手段とからなることを特徴として
いる。また、請求項４記載の発明は、請求項１〜３の何
れかの項記載の発明において、前記光周波数差算出手段
は、周波数ｆ１の前記第１のコヒーレント光と周波数ｆ
２の前記第２のコヒーレント光を合波し、合波された光
信号から周波数｜ｆ１−ｆ２｜の成分を抽出した信号に
所定周波数ｆｒの信号を混合して得られる周波数｜ｆ１
−ｆ２｜−ｆｒの信号から前記光周波数差を算出するこ
とを特徴としている。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態について説明する。図１は、同実施形態による
光ファイバ特性測定装置の構成を示すブロック図であ
る。同図において、図２と同じ構成要素には同一の符号
を付してあり、ここではその説明を省略する。
実施形態について説明する。図１は、同実施形態による
光ファイバ特性測定装置の構成を示すブロック図であ
る。同図において、図２と同じ構成要素には同一の符号
を付してあり、ここではその説明を省略する。
【００１０】さて、光方向性結合器２０は、光源３から
出射されたコヒーレント光３ａを光パルス発生回路４及
び光方向性結合器２１に分岐する。光源２２は、前述し
た光源１３と同じく駆動回路１２により駆動されるのに
加え、駆動回路３２（後述）によっても駆動される点で
光源１３と異なる。そして、周波数ｆ１のコヒーレント
光３ａは、光方向性結合器２０を経て光方向性結合器２
１に入射する。一方、光源２２から出射された周波数ｆ
２のコヒーレント光２２ａは、光方向性結合器２３を経
て光方向性結合器２１に入射する。これらコヒーレント
光３ａ，２２ａは光方向性結合器２１で合波され、光信
号２１ａとして光検出部２４に出力される。ここで、光
信号２１ａに含まれる周波数成分はｆ１，ｆ２，
｜ｆ１−ｆ２｜，（ｆ１＋ｆ２）の４つであり、光検
出部２４はこれらのうち周波数成分｜ｆ１−ｆ２｜のみ
を検出する。
出射されたコヒーレント光３ａを光パルス発生回路４及
び光方向性結合器２１に分岐する。光源２２は、前述し
た光源１３と同じく駆動回路１２により駆動されるのに
加え、駆動回路３２（後述）によっても駆動される点で
光源１３と異なる。そして、周波数ｆ１のコヒーレント
光３ａは、光方向性結合器２０を経て光方向性結合器２
１に入射する。一方、光源２２から出射された周波数ｆ
２のコヒーレント光２２ａは、光方向性結合器２３を経
て光方向性結合器２１に入射する。これらコヒーレント
光３ａ，２２ａは光方向性結合器２１で合波され、光信
号２１ａとして光検出部２４に出力される。ここで、光
信号２１ａに含まれる周波数成分はｆ１，ｆ２，
｜ｆ１−ｆ２｜，（ｆ１＋ｆ２）の４つであり、光検
出部２４はこれらのうち周波数成分｜ｆ１−ｆ２｜のみ
を検出する。
【００１１】発振器２５は所定の周波数ｆｒを持つ電気
信号を発生させる。ミキサ２６は、光検出部２４により
検出された電気信号（周波数｜ｆ１−ｆ２｜）に発振器
２５が発生する電気信号（周波数ｆｒ）を混合してその
周波数を下げ、差分周波数ｆ３（＝｜ｆ１−ｆ２｜−ｆ
ｒ）を持つ電気信号２６ａを周波数／電圧変換回路２７
に出力する。ここで、周波数ｆ１と周波数ｆ２の周波数
差が大きい場合、周波数｜ｆ１−ｆ２｜の検出精度が落
ちてその検出が困難となる。そこで、ミキサ２６にて周
波数を下げることにより、検出する周波数帯域を低くし
て検出精度を上げている。なお、発振器２５の周波数ｆ
ｒは、検出すべき散乱光（戻り光）の周波数帯域に合わ
せて調整できるのがより好ましい。周波数／電圧変換回
路２７は、入力された電気信号２６ａを該電気信号２６
ａの周波数成分ｆ３に対応した電圧レベルの電気信号２
７ａに変換する。この電気信号２７ａの電圧レベルは、
光源３及び光源２２の間の周波数差の情報を持った信号
である。
信号を発生させる。ミキサ２６は、光検出部２４により
検出された電気信号（周波数｜ｆ１−ｆ２｜）に発振器
２５が発生する電気信号（周波数ｆｒ）を混合してその
周波数を下げ、差分周波数ｆ３（＝｜ｆ１−ｆ２｜−ｆ
ｒ）を持つ電気信号２６ａを周波数／電圧変換回路２７
に出力する。ここで、周波数ｆ１と周波数ｆ２の周波数
差が大きい場合、周波数｜ｆ１−ｆ２｜の検出精度が落
ちてその検出が困難となる。そこで、ミキサ２６にて周
波数を下げることにより、検出する周波数帯域を低くし
て検出精度を上げている。なお、発振器２５の周波数ｆ
ｒは、検出すべき散乱光（戻り光）の周波数帯域に合わ
せて調整できるのがより好ましい。周波数／電圧変換回
路２７は、入力された電気信号２６ａを該電気信号２６
ａの周波数成分ｆ３に対応した電圧レベルの電気信号２
７ａに変換する。この電気信号２７ａの電圧レベルは、
光源３及び光源２２の間の周波数差の情報を持った信号
である。
【００１２】基準信号制御回路２８は基準信号発生回路
２９を制御して、光源３及び光源２２の出射光間で本来
設定されるべき光周波数差に対応した電圧レベルとし
て、電気信号２９ａを比較回路３０に出力する。比較回
路３０は電気信号２７ａ及び電気信号２９ａの電圧レベ
ルを比較し、これら電圧レベルの差分を電気信号３０ａ
として出力する。それゆえ、この電気信号３０ａは、光
源２２から出射されるコヒーレント光２２ａの設定周波
数と実際に出射されたコヒーレント光２２ａの周波数の
誤差分の情報を有することになる。
２９を制御して、光源３及び光源２２の出射光間で本来
設定されるべき光周波数差に対応した電圧レベルとし
て、電気信号２９ａを比較回路３０に出力する。比較回
路３０は電気信号２７ａ及び電気信号２９ａの電圧レベ
ルを比較し、これら電圧レベルの差分を電気信号３０ａ
として出力する。それゆえ、この電気信号３０ａは、光
源２２から出射されるコヒーレント光２２ａの設定周波
数と実際に出射されたコヒーレント光２２ａの周波数の
誤差分の情報を有することになる。
【００１３】制御回路３１は、比較回路３０から出力さ
れる電気信号３０ａに基づいて、周波数設定の誤差分を
補正するための制御信号３１ａを出力する。この制御信
号３１ａは駆動回路３２を作動させて、光源２２から出
射されるコヒーレント光２２ａの周波数ｆ２を変更す
る。なお、上記構成において、発振器２５，ミキサ２
６，周波数／電圧変換回路２７は周波数検出部１００を
構成し、基準信号制御回路２８，基準信号発生回路２
９，比較回路３０，制御回路３１は制御部１０１を構成
し、周波数制御回路１１，駆動回路１２，光源２２，駆
動回路３２は駆動部１０２を構成する。
れる電気信号３０ａに基づいて、周波数設定の誤差分を
補正するための制御信号３１ａを出力する。この制御信
号３１ａは駆動回路３２を作動させて、光源２２から出
射されるコヒーレント光２２ａの周波数ｆ２を変更す
る。なお、上記構成において、発振器２５，ミキサ２
６，周波数／電圧変換回路２７は周波数検出部１００を
構成し、基準信号制御回路２８，基準信号発生回路２
９，比較回路３０，制御回路３１は制御部１０１を構成
し、周波数制御回路１１，駆動回路１２，光源２２，駆
動回路３２は駆動部１０２を構成する。
【００１４】次に、上記構成による光ファイバ特性測定
装置の動作を説明する。光源３から出射されたコヒーレ
ント光３ａのうち、光方向性結合器２０で光パルス発生
回路４側に分岐された光は、パルス光４ａに変換された
のち、光方向性結合器５，光コネクタ６を順次通過して
被測定光ファイバ７に入射する。これにより、発生した
戻り光６ａが被測定光ファイバ７から光方向性結合器５
へ戻ってくる。また、駆動部１０２では、駆動回路１２
によって光源２２から出射されたコヒーレント光２２ａ
のうち、光方向性結合器２３で光方向性結合器１５側に
分岐された光１３ａが戻り光６ａと合波され、光検出部
１６でコヒーレント検波されて、信号処理部１７で前述
した各種の処理が行われる。こうして、従来技術で説明
したのと同様に光ファイバ特性測定が行われる。
装置の動作を説明する。光源３から出射されたコヒーレ
ント光３ａのうち、光方向性結合器２０で光パルス発生
回路４側に分岐された光は、パルス光４ａに変換された
のち、光方向性結合器５，光コネクタ６を順次通過して
被測定光ファイバ７に入射する。これにより、発生した
戻り光６ａが被測定光ファイバ７から光方向性結合器５
へ戻ってくる。また、駆動部１０２では、駆動回路１２
によって光源２２から出射されたコヒーレント光２２ａ
のうち、光方向性結合器２３で光方向性結合器１５側に
分岐された光１３ａが戻り光６ａと合波され、光検出部
１６でコヒーレント検波されて、信号処理部１７で前述
した各種の処理が行われる。こうして、従来技術で説明
したのと同様に光ファイバ特性測定が行われる。
【００１５】一方、コヒーレント光３ａ及びコヒーレン
ト光２２ａのうち光方向性結合器２１側に分岐された光
は、互いに光方向性結合器２１で合波され、光検出部２
４で周波数成分｜ｆ１−ｆ２｜だけが検出される。周波
数検出部１００は、検出された周波数成分｜ｆ１−ｆ２
｜を所定周波数ｆｒだけ下げ、光源３及び光源２２の出
射光間の光周波数差の実測値に相当する電気信号２７ａ
を出力する。すると制御部１０１は、電気信号２７ａの
電圧レベルに基づいて、光源３及び光源２２の出射光間
の光周波数差の設定値と上記実測値の差分を求め、これ
を制御信号３１ａとして出力する。これにより、駆動部
１０２ではコヒーレント光２２ａの周波数が制御信号３
１ａに従って変更され、光源３及び光源２２の出射光間
の周波数誤差が補正されてその光周波数差は上記の設定
値になる。なお、光源の出射光間の光周波数差が設定値
から大きくずれている場合であっても、上述した動作を
繰り返すことによって、最終的に設定値へともってゆく
ことができる。
ト光２２ａのうち光方向性結合器２１側に分岐された光
は、互いに光方向性結合器２１で合波され、光検出部２
４で周波数成分｜ｆ１−ｆ２｜だけが検出される。周波
数検出部１００は、検出された周波数成分｜ｆ１−ｆ２
｜を所定周波数ｆｒだけ下げ、光源３及び光源２２の出
射光間の光周波数差の実測値に相当する電気信号２７ａ
を出力する。すると制御部１０１は、電気信号２７ａの
電圧レベルに基づいて、光源３及び光源２２の出射光間
の光周波数差の設定値と上記実測値の差分を求め、これ
を制御信号３１ａとして出力する。これにより、駆動部
１０２ではコヒーレント光２２ａの周波数が制御信号３
１ａに従って変更され、光源３及び光源２２の出射光間
の周波数誤差が補正されてその光周波数差は上記の設定
値になる。なお、光源の出射光間の光周波数差が設定値
から大きくずれている場合であっても、上述した動作を
繰り返すことによって、最終的に設定値へともってゆく
ことができる。
【００１６】以上のように、コヒーレント光３ａ及びコ
ヒーレント光２２ａの間の相対周波数間隔｜ｆ１−ｆ２
｜が所望の設定値でなくとも、実測値と設定値とのずれ
が駆動部１０２へフィードバックされて、これらコヒー
レント光の相対周波数間隔が設定値に変更される。ま
た、光源３において、出射されるコヒーレント光３ａの
周波数が変動しても、光源３及び光源２２の出射光の光
周波数差とその設定値との差分に応じて、コヒーレント
光２２ａの周波数が上記同様に変更される。したがっ
て、こうした場合においても、コヒーレント光３ａ及び
コヒーレント光２２ａの相対周波数間隔が設定値に保た
れる。
ヒーレント光２２ａの間の相対周波数間隔｜ｆ１−ｆ２
｜が所望の設定値でなくとも、実測値と設定値とのずれ
が駆動部１０２へフィードバックされて、これらコヒー
レント光の相対周波数間隔が設定値に変更される。ま
た、光源３において、出射されるコヒーレント光３ａの
周波数が変動しても、光源３及び光源２２の出射光の光
周波数差とその設定値との差分に応じて、コヒーレント
光２２ａの周波数が上記同様に変更される。したがっ
て、こうした場合においても、コヒーレント光３ａ及び
コヒーレント光２２ａの相対周波数間隔が設定値に保た
れる。
【００１７】また、駆動回路３２によるコヒーレント光
２２ａの周波数ｆ２の変更量は、駆動回路１２による周
波数ｆ２の設定量に比べて微量である。したがって、駆
動回路１２側で周波数ｆ２の粗調整をしておき、駆動回
路３２によって周波数ｆ２の微調整を行うことができ
る。また、基準信号制御回路２８によって基準信号２９
ａの電圧を任意に設定できるため、基準信号２９ａの変
更によってコヒーレント光３ａとコヒーレント光２２ａ
の間の周波数差を任意に設定できることになる。
２２ａの周波数ｆ２の変更量は、駆動回路１２による周
波数ｆ２の設定量に比べて微量である。したがって、駆
動回路１２側で周波数ｆ２の粗調整をしておき、駆動回
路３２によって周波数ｆ２の微調整を行うことができ
る。また、基準信号制御回路２８によって基準信号２９
ａの電圧を任意に設定できるため、基準信号２９ａの変
更によってコヒーレント光３ａとコヒーレント光２２ａ
の間の周波数差を任意に設定できることになる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
第１及び第２の光源から出射される第１及び第２のコヒ
ーレント光の間の光周波数差を検出し、該光周波数差の
設定値との間の差分に応じて第２のコヒーレント光の周
波数を変更している。これにより、第１及び第２の光源
から出射されるコヒーレント光の周波数間隔を精度良く
設定することができ、戻り光に含まれる反射光や各種散
乱光の周波数成分に応じたコヒーレント検波を良好に行
うことができるという効果がある。
第１及び第２の光源から出射される第１及び第２のコヒ
ーレント光の間の光周波数差を検出し、該光周波数差の
設定値との間の差分に応じて第２のコヒーレント光の周
波数を変更している。これにより、第１及び第２の光源
から出射されるコヒーレント光の周波数間隔を精度良く
設定することができ、戻り光に含まれる反射光や各種散
乱光の周波数成分に応じたコヒーレント検波を良好に行
うことができるという効果がある。
【００１９】また、請求項２記載の発明によれば、光周
波数差の設定値を任意の値に設定する設定値制御手段を
設けるようにしたので、第１及び第２のコヒーレント光
の周波数間隔を精度良く任意の値に設定できるという効
果がある。また、請求項３記載の発明によれば、第２の
コヒーレント光の周波数を予め決められた値に設定して
おき、第１及び第２のコヒーレント光の光周波数差にお
ける設定値との差分に応じて第２のコヒーレント光の周
波数を微調整しているので、予め決められた周波数の値
を適切に設定しておけば、第１及び第２のコヒーレント
光の光周波数差を速やかに設定値にもってゆけるという
効果がある。また、請求項４記載の発明によれば、周波
数ｆ１の第１のコヒーレント光と周波数ｆ２の第２のコ
ヒーレント光を合波して得られる光信号から周波数｜ｆ
１−ｆ２｜の成分を抽出して所定周波数ｆｒの信号を混
合して周波数｜ｆ１−ｆ２｜−ｆｒの信号を得ているの
で、検出する周波数帯域を低くすることができ、周波数
ｆ１と周波数ｆ２の周波数差が大きい場合にも、周波数
｜ｆ１−ｆ２｜の検出精度を上げられる効果がある。
波数差の設定値を任意の値に設定する設定値制御手段を
設けるようにしたので、第１及び第２のコヒーレント光
の周波数間隔を精度良く任意の値に設定できるという効
果がある。また、請求項３記載の発明によれば、第２の
コヒーレント光の周波数を予め決められた値に設定して
おき、第１及び第２のコヒーレント光の光周波数差にお
ける設定値との差分に応じて第２のコヒーレント光の周
波数を微調整しているので、予め決められた周波数の値
を適切に設定しておけば、第１及び第２のコヒーレント
光の光周波数差を速やかに設定値にもってゆけるという
効果がある。また、請求項４記載の発明によれば、周波
数ｆ１の第１のコヒーレント光と周波数ｆ２の第２のコ
ヒーレント光を合波して得られる光信号から周波数｜ｆ
１−ｆ２｜の成分を抽出して所定周波数ｆｒの信号を混
合して周波数｜ｆ１−ｆ２｜−ｆｒの信号を得ているの
で、検出する周波数帯域を低くすることができ、周波数
ｆ１と周波数ｆ２の周波数差が大きい場合にも、周波数
｜ｆ１−ｆ２｜の検出精度を上げられる効果がある。
【図１】 本発明の一実施形態による光ファイバ特性測
定装置の構成を示すブロック図である。
定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】 従来の技術による光ファイバ特性測定装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
２，１２，３２ 駆動回路 ３，２２ 光源 ４ 光パルス発生回路 ５，１５，２０，２１，２３ 光方向性結合器 ６ 光コネクタ ７ 被測定光ファイバ １１ 周波数制御回路 １６，２４ 光検出部 １７ 信号処理部 ２５ 発振器 ２６ ミキサ ２７ 周波数／電圧変換回路 ２８ 基準信号制御回路 ２９ 基準信号発生回路 ３０ 比較回路 ３１ 制御回路 １００ 周波数検出部 １０１ 制御部 １０２ 駆動部
Claims (4)
- 【請求項１】 第１のコヒーレント光を出射する第１の
光源と第２のコヒーレント光を出射する第２の光源とを
備え、前記第１のコヒーレント光をパルス光に変換して
被測定光ファイバへ出射して、前記被測定光ファイバか
らの戻り光と前記第２のコヒーレント光とを合波した光
信号をコヒーレント検波して前記被測定光ファイバの特
性を測定する光ファイバ特性測定装置において、 前記第１のコヒーレント光と前記第２のコヒーレント光
の間の光周波数差を算出する光周波数差算出手段と、 前記光周波数差と該光周波数差の設定値との間の差分を
算出する光周波数誤差算出手段と、 前記第２の光源を駆動して、前記第２のコヒーレント光
の周波数を前記差分に応じて変更する光周波数制御手段
とを具備することを特徴とする光ファイバ特性測定装
置。 - 【請求項２】 前記光周波数差の設定値を任意の値に設
定する設定値制御手段を有することを特徴とする請求項
１記載の光ファイバ特性測定装置。 - 【請求項３】 前記光周波数制御手段は、 前記第２のコヒーレント光の周波数を予め決められた値
に設定する粗調整手段と、 前記光周波数差と該光周波数差の設定値との間の差分に
応じて前記第２のコヒーレント光の周波数を微調整する
微調整手段とからなることを特徴とする請求項１又は２
記載の光ファイバ特性測定装置。 - 【請求項４】 前記光周波数差算出手段は、 周波数ｆ１の前記第１のコヒーレント光と周波数ｆ２の
前記第２のコヒーレント光を合波し、合波された光信号
から周波数｜ｆ１−ｆ２｜の成分を抽出した信号に所定
周波数ｆｒの信号を混合して得られる周波数｜ｆ１−ｆ
２｜−ｆｒの信号から前記光周波数差を算出することを
特徴とする請求項１〜３の何れかの項記載の光ファイバ
特性測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9174767A JPH1123419A (ja) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | 光ファイバ特性測定装置 |
| EP98111808A EP0889312A3 (en) | 1997-06-30 | 1998-06-26 | Apparatus for measuring characteristics of optical fiber |
| US09/106,298 US6055044A (en) | 1997-06-30 | 1998-06-29 | Apparatus for measuring characteristics of optical fiber |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9174767A JPH1123419A (ja) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | 光ファイバ特性測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1123419A true JPH1123419A (ja) | 1999-01-29 |
Family
ID=15984324
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9174767A Pending JPH1123419A (ja) | 1997-06-30 | 1997-06-30 | 光ファイバ特性測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6055044A (ja) |
| EP (1) | EP0889312A3 (ja) |
| JP (1) | JPH1123419A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6700655B2 (en) * | 2001-04-24 | 2004-03-02 | Ando Electric Co., Ltd. | Optical fiber characteristic measuring device |
| WO2004010061A3 (en) * | 2002-07-22 | 2004-03-18 | Comair Rotron Inc | Energy store circuit for controlling rotor rotation |
| CN102818695A (zh) * | 2012-08-03 | 2012-12-12 | 无锡联河光子技术有限公司 | 一种光学谐振频率差精确测量装置及其方法 |
| JP2017198668A (ja) * | 2016-04-15 | 2017-11-02 | ヴァイアヴィ・ソリューションズ・インコーポレイテッドＶｉａｖｉ Ｓｏｌｕｔｉｏｎｓ Ｉｎｃ． | ブリルアン及びレイリー分布センサ |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3481494B2 (ja) | 1999-04-14 | 2003-12-22 | 安藤電気株式会社 | 光ファイバ特性測定装置 |
| JP2001074596A (ja) * | 1999-09-06 | 2001-03-23 | Anritsu Corp | 光パルス試験器 |
| DE10128449B4 (de) * | 2001-06-12 | 2004-07-15 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Prüfung eines Materials |
| JP2007510963A (ja) * | 2003-11-10 | 2007-04-26 | テクノロジー イノヴェイションズ リミテッド ライアビリティ カンパニー | デジタル画像化組立品、及びその方法 |
| GB2440952B (en) * | 2006-08-16 | 2009-04-08 | Schlumberger Holdings | Measuring brillouin backscatter from an optical fibre using digitisation |
| GB2442486B (en) * | 2006-10-06 | 2009-01-07 | Schlumberger Holdings | Measuring brillouin backscatter from an optical fibre using a tracking signal |
| JP5043714B2 (ja) * | 2008-02-21 | 2012-10-10 | 和夫 保立 | 光ファイバ特性測定装置及び方法 |
| JP5654891B2 (ja) * | 2011-01-31 | 2015-01-14 | 国立大学法人 東京大学 | 光ファイバ特性測定装置及び方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4912527A (en) * | 1987-07-24 | 1990-03-27 | Nec Corporation | Optical apparatus for pulling an intermediate frequency in a predetermined frequency range |
| SE460807B (sv) * | 1988-03-11 | 1989-11-20 | Ericsson Telefon Ab L M | Anording foer att utsaenda en koherent frekvensmodulerad optisk signal |
| JPH04150628A (ja) * | 1990-10-15 | 1992-05-25 | Nec Corp | 光通信システムの波長安定化方法および回路 |
| US5412471A (en) * | 1991-03-12 | 1995-05-02 | Mitsubishi Precision Co., Ltd. | Optical gyro with expanded detectable range of input rotation angular velocity and optical waveguide-type phase modulator used in the same |
| JPH06249747A (ja) * | 1993-02-25 | 1994-09-09 | Ando Electric Co Ltd | 位相差の変化による測定波形の歪を減らす光パルス試験器 |
| JPH07260624A (ja) * | 1994-03-16 | 1995-10-13 | Ando Electric Co Ltd | 光パルス試験器 |
| US5657307A (en) * | 1995-03-10 | 1997-08-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical data reading apparatus and method |
| JP3354759B2 (ja) * | 1995-07-24 | 2002-12-09 | 株式会社アドバンテスト | 後方ブリルアン散乱光ｏｔｄｒ装置及びその測定方法並びにこの装置を用いた光通信回線システム |
-
1997
- 1997-06-30 JP JP9174767A patent/JPH1123419A/ja active Pending
-
1998
- 1998-06-26 EP EP98111808A patent/EP0889312A3/en not_active Withdrawn
- 1998-06-29 US US09/106,298 patent/US6055044A/en not_active Expired - Fee Related
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| US10073006B2 (en) | 2016-04-15 | 2018-09-11 | Viavi Solutions Inc. | Brillouin and rayleigh distributed sensor |
| US10876925B2 (en) | 2016-04-15 | 2020-12-29 | Viavi Solutions Inc. | Brillouin and rayleigh distributed sensor |
| US11422060B2 (en) | 2016-04-15 | 2022-08-23 | Viavi Solutions Inc. | Brillouin and rayleigh distributed sensor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0889312A2 (en) | 1999-01-07 |
| US6055044A (en) | 2000-04-25 |
| EP0889312A3 (en) | 1999-08-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000606 |