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JPH11183149A - 3次元測定装置 - Google Patents

3次元測定装置

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Publication number
JPH11183149A
JPH11183149A JP9350301A JP35030197A JPH11183149A JP H11183149 A JPH11183149 A JP H11183149A JP 9350301 A JP9350301 A JP 9350301A JP 35030197 A JP35030197 A JP 35030197A JP H11183149 A JPH11183149 A JP H11183149A
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JP
Japan
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light
line
measured
dimensional
laser
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JP9350301A
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Mitsumasa Okabayashi
光正 岡林
Sumio Goto
純夫 後藤
Masaru Saito
勝 斉藤
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Juki Corp
Original Assignee
Juki Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高精度かつ高速に被測定物の3次元情報を測
定することができる3次元測定装置を提供する。 【解決手段】 レーザ光から平行光束1aが形成され、
この平行光束が投光ユニット7によりライン光として被
測定物11へ投光される。投光ユニットはリニアモータ
8により平行光束1aに向かって前後に移動され、ライ
ン光の延びる方向Xと直交方向Yに移動される。このと
き投光ユニットは、常に平行光束を受光して、被測定物
11に一定の幅のライン光9を結像するので、投光ユニ
ットを移動するだけで複数のライン光を被測定物上に形
成することができる。複数のライン光で走査された被測
定物の領域はCCDカメラ6で撮像され、光切断法を用
いて3次元測定が行われる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、3次元測定装置、
特に、電子部品実装システムのクリーム半田印刷機等に
使用される3次元測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】電子部品が搭載される基板には、電子部
品と配線を導通させるためにクリーム半田が印刷されて
いる。この印刷されたクリーム半田の形状を測定するた
めに、光切断法を用いた3次元測定が行なわれている。
光切断法は、細いスリット状の光束で対象物(クリーム
半田)表面を切断するように照射し、表面に生じる切断
線の形状から被測定物の表面形状あるいは表面凹凸を測
定するもので、その一例が図8に示されている。
【0003】図8において、レーザダイオード21から
発光されたレーザ光は、フォーカシング非球面レンズ2
2により集光され、被測定物28に照射する付近で直径
0.2mmの大きさのビームスポットになるように絞ら
れる。フォーカシング非球面レンズ22を通過したレー
ザ光は、光路の途中に配置された振動ミラー23で反射
され、ハーフミラー24を通過して被測定物28に投光
される。振動ミラー23は、不図示の駆動装置により図
示したように矢印の方向に振動することによって、ビー
ムスポットは被測定物28の表面をあたかも一本の線が
引かれているように走査し、これにより光切断法で必要
なスリット状の光束が被測定物に引かれる。
【0004】振動ミラ−23と測定対象物28の間に配
置されたハーフミラー24で反射した走査光は、光走査
方向位置検出用のPSD(ポジション・センシング・デ
バイス)25に導かれ、光振動ミラー23の回転角を知
ることができ、走査(X軸)方向の位置を定めることが
できる。一方、被測定物28からの反射光は、投光系の
光軸と18度から30度の角度で配置された結像レンズ
26によって集光され、縦(Z軸)方向位置検出用PS
D27に結像される。PSD27に結像されるスポット
位置は被測定物の高さが異なると変化し、それを電圧変
化として取り出すことができるので、被測定物28の表
面の凹凸(Z軸方向の位置)を測定することができる。
そして、測定装置全体を光走査方向と直交方向(Y軸方
向)に移動して、上記測定を繰り返すことによって、被
測定物28の3次元位置を測定している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た3次元測定では、光走査位置を検出するのにPSDを
使用しているが、その電圧特性の直線性が良好でないの
で、使用される各PSDに対して特性を計算し、補正を
行なう必要がある、という問題がある。
【0006】また、PSDを用いて高さ測定を行なう場
合、PSDに結像されるスポットの重心位置の変化を取
り出しているための、スポットの輝度を考慮したデータ
が得られず、また温度に従ってPSDの特性が変化する
ので、正確な高さ測定が困難である、という問題もあ
る。
【0007】また、従来の3次元測定装置では、フォー
カシング非球面レンズと被測定物間の距離が長いため
に、開口数(N.A.)が小さくなってしまうので、レ
ーザ光を絞ることができないことから、測定精度を上げ
ることが出来ないという欠点がある。
【0008】さらに、従来の3次元測定では、被測定物
の全体の凹凸を測定するために、一つのライン光を描く
たびに、測定装置全体をライン光の延びる方向と直交方
向に移動させる必要があるので、測定装置を移動するた
めの駆動装置が大掛かりなものとなり、その移動時に振
動も発生してしまうため、正確な測定が困難であるとい
う問題もある。
【0009】従って、本発明は、高精度かつ高速に被測
定物の3次元位置を測定することができる3次元測定装
置を提供することをその課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに、本発明では、被測定物にライン光を照射し光切断
法に基づいて該被測定物の3次元情報を測定する3次元
測定装置において、レーザ光源と、レーザ光源からのレ
ーザ光を平行光束にする手段と、前記平行光束にされた
レーザ光をライン光として被測定物へ投光する投光ユニ
ットと、前記投光ユニットを平行光束に沿って平行に移
動させ前記ライン光を被測定物上で該ライン光の延びる
方向と直交方向に移動させる投光ユニット移動手段と、
前記ライン光の移動によって走査される被測定物を投光
軸と所定の角度で撮像する撮像手段とを備え、撮像され
た被測定物の像から被測定物の3次元情報を取得する構
成を採用している。
【0011】このような構成では、平行光束にされたレ
ーザ光がライン光として被測定物に投光され、またライ
ン光を投光する投光ユニットが平行光束に沿って前後に
移動され、ライン光の延びる方向と直交方向に移動され
る。このとき投光ユニットは、常に平行光束を受光し
て、被測定物に一定の幅のライン光を結像するので、投
光ユニットを移動するだけで複数のライン光を被測定物
上に形成することができ、高速でしかも高精度の光切断
法を用いた3次元測定が可能になる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面に示す実施形態に従っ
て、本発明を詳細に説明する。
【0013】図1は本発明の1実施形態を示した3次元
測定装置の主要光学部品の構成図であり、図2はその側
面図である。各図において、符号1で示すものは、レー
ザ光源としてのレーザダイオードで、このレーザダイオ
ード1から発光されたレーザ光は、コリメートレンズ2
で光学中心軸に平行な平行光束1aにされる。このレー
ザ平行光束1aは、フォーカスレンズ3と投光ミラー4
とラインジェネレータレンズ5が組み込まれている投光
ユニット7に入射する。レーザ光束は、投光ユニット7
内のフォーカスレンズ3によりスポット光となるように
絞り込まれ、投光ミラー4によって垂直軸(Z方向)に
対して45度の角度に反射され、ラインジェネレータレ
ンズ5によって幅14〜20μm、長さ10mmのライ
ン光9となり、被測定物11上にX方向にライン光9を
形成する。
【0014】被測定物11からの散乱反射光は、光軸6
aが垂直軸となるように配置された6mmx6mm視野
のノンインターレース式CCDカメラ6により撮像され
る。また、この投光ユニット7は、リニアモータ8のシ
ャフト8aに取り付けられており、リニアモータ8がY
方向に約10mmのストロークで直線運動を行なうこと
により、2重矢印で示したように、平行光束1aに平行
に往復移動する。この投光ユニット7の移動によりライ
ン光9はライン光の伸びるX方向と垂直方向に移動する
ことになる。
【0015】図3は、3次元測定装置の回路構成を示し
たブロック図である。同図において、リニアモータ駆動
指令器31は、CPU44からのスタート信号を受け
て、リニアモータドライバ32にリニアモータ駆動用の
指令パルス列を出力し、リニアモータ8を1パルス当た
り0.25μm移動させる。リニアモータ駆動指令器3
1は、同時にLD(レーザダイオード)オン/CCDト
リガタイミングデコーダ(以下タイミングデコーダとい
う)35に正/逆方向信号を送り、リニアモータ8が正
方向か逆方向のどちらに移動しているかを知らせる。
【0016】リニアモータドライバ32は、指令パルス
列を受けてリニアモータを駆動するとともに、リニアモ
ータ8内蔵の位置エンコーダ8bからの実際位置を示す
信号を受けてリニアモータ8への供給電圧を調整し、リ
ニアモータの位置をフィードバック制御する。
【0017】位置カウンタ34は、リニアモータ8の位
置エンコーダ8bにより90度位相の異なるA相信号、
B相信号を受け、リニアモータ8の位置を示す位置信号
をデジタルデータで出力する。なお、位置カウンタ34
のリセットは、位置エンコーダ8bの原点リセット信号
により行なう。
【0018】タイミングデコーダ35は、位置カウンタ
34からの位置データを受けてLDオンのタイミング信
号(160μmピッチ)を出力する。この信号の立ち上
がりを受けて、ワンショットマルチバイブレータ(M
S)46は、2ms幅のLDオンパルスをレーザダイオ
ードドライバ36に出力し、レーザダイオード1をパル
ス点灯する。レーザダイオード1には、光量モニタフォ
トダイオード(不図示)が内蔵されており、これにより
レーザダイオード1の光量が一定に制御される。
【0019】なお、LDオンの最中にも、リニアモータ
8が動いているために、移動方向によりライン光位置が
ずれるための補正と、正方向と逆方向で半ピッチ分(実
施例では80μm)ズラすために、上述したようにリニ
アモータ駆動指令器31から正/逆方向信号が入力され
る。
【0020】位置ラッチ37は、位置カウンタ34から
出力される位置データをLDオンのタイミングの立ち上
がりでラッチし、そのときのライン光のY方向の位置を
MS46からのLDオンパルスの立ち下がりタイミング
に同期してCPU44に伝えている。LDオン中にもラ
イン光が移動して、実際のライン光位置とずれを生じる
が、これについては、ライン光移動速度とLDオン時間
と正/逆方向信号により、CPU44内で補正を行なっ
ている。
【0021】一方、同期信号タイミング発生器39は、
タイミングデコーダ35からCCDカメラ同期タイミン
グ信号を受け、HD水平同期信号とタイミングを合わせ
たVD垂直同期信号を出力する。このVD垂直同期信号
に関連して、前フレームの各画素の光量データ読み出し
が開始される。同時に、各画素での光量蓄積が始まり、
ライン光9(この実施形態では4本分)による画像がC
CDカメラ6のCCDエリアイメージセンサ38上に取
得される。
【0022】CCDエリアイメージセンサ38上の像
は、同期信号タイミング発生器39からの垂直レジスタ
転送クロック、水平レジスタ転送クロック等により、ド
ライバ33を介して各画素の光量値(アナログ値)とし
て読み出される。これが、アンプ47を介して、A/D
変換器48に入力され、デジタルデータとして、コンパ
レータ(比較器)40に入力される。そして、A/D変
換された各画素の光量値(デジタルデータ)がしきい値
49と比較され、二値化が行なわれる。なお、A/D変
換中のサンプルホールドのタイミングは、水平(レジス
タ転送)クロックにより行なわれ、そのときの入力値が
ホールドされA/D変換される。
【0023】立上り/立下り検出器41は、コンパレー
タ40からの二値化された光量データを受けてその立上
り及び立下りに同期してパルスを出力する。このパルス
は、FIFOメモリ45に書き込みパルスとして入力さ
れ、立上り/立下り時の水平アドレスカウンタから送ら
れてくる水平アドレスがFIFOメモリ45に書き込ま
れる。この水平アドレスカウンタ42は、同期信号タイ
ミング発生器39からの水平同期信号の立下りでリセッ
トされ、その後水平クロックをカウントすることによ
り、現在の水平方向の位置を出力するものである。
【0024】有効水平走査区間検出回路43は、VD垂
直同期信号によりリセットされ、HD水平同期信号をカ
ウントして、CCDエリアイメージセンサ38の有効画
素部分の水平走査区間信号を出力する。そして、この信
号により、FIFOメモリ45の書き込みを有効にす
る。
【0025】CPU44は、有効水平区間検出信号が有
効になってから1フレーム分の光点位置データの読み込
みをスタートさせる。すなわち、HD水平同期信号によ
り、最初の有効な水平走査により、FIFOメモリ45
に光点データが書き込まれた後で、次の水平走査の開始
とともに、FIFOメモリ45のデータを読み込む。こ
の操作を有効水平走査数だけ繰り返す。
【0026】CPU44は、このようにして得られた1
フレーム分の光点位置データの基準値からのずれを、各
ラインごとに演算して高さデータを求める。
【0027】次に、このように構成された装置の動作を
説明する。
【0028】CPU44は、リニアモータ駆動指令器3
1にスタート信号を発生し、リニアモータ8を所定位置
に移動させる。所定の位置にくると、位置カウンタ34
によって駆動されるタイミングデコーダ35によりLD
オン信号が発生してレーザダイオード1が点灯する。
【0029】レーザダイオード1から発光されたレーザ
光は、コリメートレンズ2で集光されて、光学中心軸に
対して平行な平行光束1aとなり、フォーカスレンズ3
によりスポット光となるように絞り込まれる。このレー
ザスポット光は、投光ミラー4によって入射角に対して
45度の方向に反射され、ラインジェネレータレンズ5
に入射する。このレンズ5によりレーザスポット光は、
プリズム効果によって一方向(X方向)に引き伸ばされ
て、被測定物11上で幅14μm、長さ10mmのライ
ン光9となる。
【0030】リニアモータ8は、指令器31の信号に従
って一定速度4.8mm/secでY方向に移動され、
それに従ってリニアモータ8のシャフトに結合された投
光ユニット7もY方向に平行光束1aに平行に直線運動
する。投光ユニット7は、平行光線に向かって前後方向
に移動するが、フォーカスレンズ3は常に平行光束1a
を受光することになるので、フォーカスレンズ3の結像
作用には影響を及ぼすことはなく、被測定物11には、
常に一定の幅のライン光9が結像される。
【0031】リニアモータ8が新たな位置にくると、タ
イミングデコーダ35によりレーザダイオード1がパル
ス点灯して同様なライン光9が被測定物11上に引か
れ、以下リニアモータ8の移動に従い、複数のライン光
が順次引かれていく。これらの各ライン光は、それぞれ
ライン光の伸びる方向(X方向)と垂直方向(Y方向)
になっている。
【0032】このように複数のライン光9で走査された
被測定物11からの拡散反射光は、被測定物11の上部
に設置された視野6mm×6mmで、ノンインターレー
ス式のCCDカメラ6によって撮像される。本実施形態
では、4本のライン光で走査された被測定物領域が1フ
レーム分としてCCDカメラ6により撮像される。
【0033】リニアモータ8が所定量移動するごとに、
タイミングデコーダ35からのCCDカメラ同期タイミ
ング信号がタイミング発生器39に入力され、タイミン
グ発生器39は、HD水平同期信号とタイミングを合わ
せたVD垂直同期信号を出力する。このVD垂直同期信
号に同期して前フレームに対応するイメージセンサ38
の各画素の光量データの読み出しが開始され、同時に次
のフレーム分(4本分のライン光9)に対応する画像に
対してイメージセンサ38の各画素での光蓄積が開始さ
れる。
【0034】CCDエリアイメージセンサ38から読み
出される各画素の信号は、上述したように、増幅、A/
D変換された後、コンパレータ40により2値化され、
検出器43により有効水平走査期間が検出されたときに
しきい値49を越える画素の水平アドレスがFIFOメ
モリ45に格納される。これが水平走査数だけ繰り返さ
れ、FIFOメモリ45には、しきい値を越えた光点の
画素の水平アドレスが1フレーム分格納される。
【0035】CPU44は、有効水平区間検出信号が有
効になってから1フレーム分の光点位置データの読み込
みをスタートさせ、最初の有効な水平走査によりFIF
Oメモリ45に光点データが書き込まれた後で、次の水
平走査の開始とともに該水平走査の有効な部分の光点デ
ータを書き込み、更に前の水平走査で書き込まれたFI
FOメモリ45のデータを読み込み、この操作を有効水
平走査数だけ繰り返して、1フレーム分のデータを読み
込む。
【0036】CPU44は、このようにして得られた1
フレーム分の光点位置のデータを各ラインごとに基準値
と比較してそのずれを求め、そのずれに応じて高さデー
タを求める。
【0037】被測定物が、電子部品と配線を導通させる
ためのクリーム半田が印刷されている基板である場合、
上記のようにして撮像された1フレーム分の画像が図4
に図示されている。図中、左側に盛り上がった部分がク
リーム半田の部分である。
【0038】このようにして、リニアモータ8が一方向
に所定量(約10mm)移動すると、リニアモータは逆
方向に移動し、正方向に移動したのと同様な処理が行わ
れ、各フレーム毎に高さデータが取得される。
【0039】なお、上述したように、レーザダイオード
1がオンの最中にも、リニアモータ8が動いているため
に、移動方向によりライン光位置がずれるための補正が
CPU44において行われる。また、リニアモータの正
方向と逆方向でタイミングが半ピッチ分(実施例では8
0μm)ずらされる。
【0040】なお、図2において、リニアモータ8は投
光ユニット7の右側に配置されているが、図5に示すよ
うに、リニアモータの移動軸とコリメートレンズ2によ
って形成される平行光束の光軸2aが平行になるように
してリニアモータ8を平行光束の向こう側に配置するよ
うにすることもできる。このような構成にすることによ
り装置の幅を小さくすることができる。また、図2と同
様に、CCDカメラ6の受光軸6aと平行光束の光軸2
aが直交するように配置することにより上記幅の範囲内
でCCDカメラ6を配置することができる。
【0041】図6には、本発明の他の実施形態が図示さ
れている。この実施形態では、ラインジェネレータ5を
取除き、フォーカスレンズ3に代えてシリンドリカルレ
ンズ3Aが使用されている。なお、必要に応じて、シリ
ンドリカルレンズ3Aとコリメートレンズ2の間に、コ
リメートレンズ2に近接してビームエキスパンダを挿入
する。
【0042】この実施形態においても、レーザダイオー
ド1から発生したレーザ光は、コリメートレンズ2で集
光されて、光学中心軸に対して平行な平行光束とされ、
シリンドリカルレンズ3Aに入射され、帯状平行光束と
なる。そして、この帯状平行光束が、投光ミラー4によ
って入射角に対して45度の方向に反射され、被測定物
11にライン光9として投光される。
【0043】また、図7に示す実施形態では、レーザー
平行光を所定角度で振る振動ミラー20が使用されてい
る。同図において、レーザダイオード1から発生したレ
ーザ光は、コリメートレンズ2で集光されて、比較的径
の小さな平行光束となり、振動ミラー20に投光され
る。振動ミラー20は、この平行光束をフォーカスレン
ズ3の有効径の範囲で左右に振動させ、投光ミラー4に
入射させる。そして、レーザ光束は、この投光ミラーに
より45度の方向に反射され、被測定物に入射される。
振動ミラー20を約30Hzで振動させことによって、
レーザ光がライン光9のようになる。
【0044】図6及び図7に図示の実施形態における他
の構成及び機能は、図1、図2あるいは図5に示したの
と同じであり、その説明は省略する。
【0045】なお、各実施形態において、レーザ光を被
測定物11の真上から投光し、CCDカメラ6を斜めに
角度を付けて配置することによっても本発明を実現する
ことができる。この方法による時は、受光像の遠近の補
正を行う必要があり、CCDカメラ6の撮像レンズには
あおりの機能を付加する必要が有る。
【0046】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
においては、平行光束にされたレーザ光がライン光とし
て被測定物に投光され、またライン光を投光する投光ユ
ニットが平行光束に向かって前後に移動され、ライン光
の延びる方向と直交方向に移動される。このとき投光ユ
ニットは、常に平行光束を受光して、被測定物に一定の
幅のライン光を結像するので、投光ユニットを移動する
だけで複数のライン光を被測定物上に形成することがで
き、高速でしかも高精度の光切断法を用いた3次元測定
が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる3次元測定装置の光学系を示し
た斜視図である。
【図2】図1の光学系の側面図である。
【図3】本発明の電気的構成を示したブロック図であ
る。
【図4】CCDカメラで撮像した被測定物の像を示す説
明図である。
【図5】本発明の他の実施形態に係わる光学系を示した
斜視図である。
【図6】本発明の更に他の実施形態に係わる光学系を示
した斜視図である。
【図7】本発明の更に他の実施形態に係わる光学系を示
した斜視図である。
【図8】従来の2次元測定装置の構成の光学系を示した
斜視図である。
【符号の説明】
1 レーザーダイオード 2 コリメートレンズ 3 フォーカスレンズ 3A シリンドリカルレンズ 4 投光ミラー 5 ラインジェネレータ 6 CCDカメラ 7 投光ユニット 8 リニアアクチュエータ 9 ライン光 11 被測定物 20 振動ミラー

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物にライン光を照射し光切断法に
    基づいて該被測定物の3次元情報を測定する3次元測定
    装置において、 レーザ光源と、 レーザ光源からのレーザ光を平行光束にする手段と、 前記平行光束にされたレーザ光をライン光として被測定
    物へ投光する投光ユニットと、 前記投光ユニットを平行光束に沿って平行に移動させ前
    記ライン光を被測定物上で該ライン光の延びる方向と直
    交方向に移動させる投光ユニット移動手段と、 前記ライン光の移動によって走査される被測定物を投光
    軸と所定の角度で撮像する撮像手段とを備え、 撮像された被測定物の像から被測定物の3次元情報を取
    得することを特徴とする3次元測定装置。
  2. 【請求項2】 前記レーザ光源は、投光ユニットの移動
    に連動してパルス点灯されることを特徴とする請求項1
    に記載の3次元測定装置。
  3. 【請求項3】 前記投光ユニットがラインジェネレータ
    レンズもしくはシリンドリカルレンズを有し、このライ
    ンジェネレータレンズもしくはシリンドリカルレンズに
    よりライン光が形成されることを特徴とする請求項1ま
    たは2に記載の3次元測定装置。
  4. 【請求項4】 前記投光ユニットが振動ミラーを有し、
    この振動ミラーが平行光束を偏向してライン光が形成さ
    れることを特徴とする請求項1または2に記載の3次元
    測定装置。
  5. 【請求項5】 前記被測定物が、電子部品と配線を導通
    させるためのクリーム半田が印刷されている基板である
    ことを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載
    の3次元測定装置。
  6. 【請求項6】 前記平行光束の光軸と撮像手段の受光軸
    が直交することを特徴とする請求項1から5のいずれか
    1項に記載の3次元測定装置。
JP35030197A 1997-12-19 1997-12-19 3次元測定装置 Expired - Fee Related JP3942252B2 (ja)

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