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JPH11170193A - Hole machining device - Google Patents

Hole machining device

Info

Publication number
JPH11170193A
JPH11170193A JP33966897A JP33966897A JPH11170193A JP H11170193 A JPH11170193 A JP H11170193A JP 33966897 A JP33966897 A JP 33966897A JP 33966897 A JP33966897 A JP 33966897A JP H11170193 A JPH11170193 A JP H11170193A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
hole
inspection
substrate
drilling
stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33966897A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Yonehara
浩幸 米原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP33966897A priority Critical patent/JPH11170193A/en
Publication of JPH11170193A publication Critical patent/JPH11170193A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0011Working of insulating substrates or insulating layers
    • H05K3/0044Mechanical working of the substrate, e.g. drilling or punching

Landscapes

  • Perforating, Stamping-Out Or Severing By Means Other Than Cutting (AREA)
  • Devices For Post-Treatments, Processing, Supply, Discharge, And Other Processes (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the hole machining ability of via hole in the multilayer substrate and to improve a joining quality between the layers of a multi-layer substrate by reducing the defective machining of a hole. SOLUTION: This hole machining device is composed of a first stage having a punching pin 7 and a receiving die 8; a second stage having a hole machining and inspecting system 12; and a third stage having a defective hole machining and correcting pin 16 and a receiving die 17. In each stage, a substrate 4 is loaded on a common movable carriage 9. Therefore, a hole machining and the inspection and correction of hole machining can be simultaneously carried out in every hole located on the relatively same coordinates.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はAV、情報関連機器
他に使用する多層基板等に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer substrate used for AV, information-related equipment and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】多層基板において、特に内層上下配線層
の電気的接続を取るために層間に図2のようなIVH
(inner-via-hole、以下バイアホールと呼ぶ)を設ける
場合がある。
2. Description of the Related Art In a multi-layer substrate, in particular, an IVH as shown in FIG.
(Inner-via-hole, hereafter referred to as via hole).

【0003】図2は多層基板の構造を示す断面図であ
る。図2において、1a、1b、1c、1dは基板、2
はバイアホール、3は内層配線ラインである。バイアホ
ール2は各基板1a〜1dに開けた穴であり、バイアホ
ール2の内部には導電材料(図2で塗りつぶしで示す)
が充填されている。バイアホール2を介して基板1a、
1b、1c、1dの内層配線ライン3が接続されてい
る。
FIG. 2 is a sectional view showing the structure of a multilayer substrate. In FIG. 2, 1a, 1b, 1c and 1d are substrates,
Is a via hole, and 3 is an inner wiring line. The via hole 2 is a hole formed in each of the substrates 1a to 1d, and a conductive material (shown in solid color in FIG. 2) is provided inside the via hole 2.
Is filled. A substrate 1a via a via hole 2;
The inner wiring lines 3 of 1b, 1c and 1d are connected.

【0004】バイアホール2に孔加工不良、例えば孔加
工時に削りかす等が詰まると導電材料の充填が不十分と
なり、基板間の導通不良となる。
If the via holes 2 are defective in hole processing, for example, if the chips are clogged during the hole processing, the filling of the conductive material becomes insufficient, resulting in poor conduction between the substrates.

【0005】バイアホール形成における孔加工方法はレ
ーザー加工、ドリル加工、パンチング加工、そしてエッ
チング加工等があり、基板材料の加工性等に合わせ最適
の加工方法が選択使用されている。例えば、セラミック
多層基板等の場合、各層グリーンシート毎に所望の場所
(座標)にあらかじめ入力しておいた加工座標データに
よりNCパンチング装置を動作させ、1孔毎にバイアホ
ール用の孔を連続形成する。このグリーンシートへの孔
加工(以下、パンチングと記す)の際の加工不良等によ
る断線不良は、各層グリーンシート毎に所望の内層配線
ラインを形成した後、グリーンシートを積層し完成品と
した後、最上層の導体形成後の電気検査で見つけ出して
いた。
[0005] Hole forming methods for forming via holes include laser processing, drilling, punching, and etching, and the most appropriate processing method is selected and used according to the workability of the substrate material. For example, in the case of a ceramic multi-layer substrate or the like, an NC punching device is operated based on processing coordinate data input in advance at a desired location (coordinate) for each green sheet of each layer, and holes for via holes are continuously formed for each hole. I do. Disconnection failure due to processing failure or the like during hole processing (hereinafter, referred to as punching) on the green sheet is caused by forming a desired inner layer wiring line for each green sheet and then laminating the green sheets into a finished product. And electrical inspection after the formation of the uppermost conductor.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】パンチングによる孔加
工性は、グリーンシートの組成、材料の粉末ロット等に
よって異なるため、同一条件下でのパンチング加工は加
工性にばらつきを生じ易く、その都度条件の設定を行っ
ているが加工不良をなくすことは困難である。
Since the hole formability by punching differs depending on the composition of the green sheet, the powder lot of the material, and the like, the punching under the same conditions tends to cause a variation in the workability. Although setting is performed, it is difficult to eliminate processing defects.

【0007】また、ますます高密度化が要求される中
で、層数および単位面積当たりのバイアホールの数はい
っそう増加傾向にあり、パンチング加工された孔(バイ
アホール)の加工性、および品質の向上は今後いっそう
必要となっている。
[0007] In addition, with the demand for higher density, the number of layers and the number of via holes per unit area tend to increase further, and the workability and quality of punched holes (via holes) are increasing. Improvement is needed in the future.

【0008】本発明は上記の欠点を解消し、かつ飛躍的
に改善された孔加工装置を提供するものである。
The present invention has been made to solve the above-mentioned drawbacks and to provide a drastically improved drilling apparatus.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明は孔加工装置(パンチング装置)にて、孔加
工と同時に異なるステージにて孔加工検査、および孔加
工修復をするものである。
In order to achieve this object, the present invention is to perform hole processing inspection and hole processing repair at different stages simultaneously with hole processing in a hole processing apparatus (punching apparatus). is there.

【0010】本発明は前記のような工程を用いることに
より、グリーンシートのパンチング加工性を各々の孔
(バイアホール)について確実に知ることができ、また
その情報により加工性の不十分な孔については再加工、
また再加工不可なものについてはその時点において不良
シートとしての扱いが可能である。
According to the present invention, the punching workability of the green sheet can be surely known for each hole (via hole) by using the above-described process, and the information on the hole having insufficient workability can be obtained from the information. Is rework,
Those that cannot be reprocessed can be handled as defective sheets at that time.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、シート状、または板状の基板を載置する第1ステー
ジと、第1ステージに載置した基板に貫通した穴を開け
る孔加工手段と、孔加工手段によって孔加工された基板
を載置する第2ステージと、第2ステージに載置した基
板の孔を検査する孔加工検査手段と、第1ステージと第
2ステージ、または孔加工手段と孔加工検査手段とが相
対的に同一な平面座標を移動するように位置制御する位
置制御手段とを有することを特徴とする孔加工装置であ
り、孔加工検査を全ての孔に対して正確に行うことがで
き、孔加工検査装置の位置制御を孔加工手段の位置制御
手段と同一、または兼用することができる作用を有す
る。また、孔加工工程と検査工程を同時に行えるので、
ラインスピードが低下することがない。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS According to the first aspect of the present invention, a first stage for mounting a sheet-shaped or plate-shaped substrate and a hole penetrating the substrate mounted on the first stage are formed. A hole processing means, a second stage for mounting the substrate processed by the hole processing means, a hole processing inspection means for inspecting holes of the substrate mounted on the second stage, a first stage and a second stage, Alternatively, the hole drilling apparatus and the hole drilling inspection means have position control means for performing position control so as to move relatively the same plane coordinates, and the hole drilling inspection is performed on all holes. And the position control of the hole drilling inspection apparatus can be the same as, or shared with, the position control means of the hole drilling means. In addition, since the drilling process and the inspection process can be performed simultaneously,
Line speed does not decrease.

【0012】本発明の請求項2記載の発明は、請求項1
に記載のものであって、孔加工検査ずみの基板を載置す
る第3受け台と、第3受け台に載置した基板に開けられ
た穴を修復する孔加工修復手段と、第3受け台、または
孔加工修復手段を第1受け台、第2受け台、孔加工手
段、または孔加工検査手段と相対的に同一な平面座標を
移動するように位置制御する位置制御手段とを有するこ
とを特徴とする孔加工装置であり、第3ステージと孔加
工修復手段との位置制御が正確なので、正確な孔加工の
修復ができる。また、多層基板における積層前のバイア
ホールの開口性向上と積層後の各層間の接続性向上を安
定的にさせることができる。また、再加工によるグリー
ンシート内のバイアホールの歩留り改善を図ることがで
きる。
The second aspect of the present invention is the first aspect of the present invention.
And a hole receiving and repairing means for restoring a hole formed in the substrate placed on the third receiving stand, and a third receiving means for restoring a hole formed in the substrate placed on the third receiving stand. Position control means for controlling the position of the base or the hole processing restoration means so as to move on the same plane coordinates as the first receiving stand, the second receiving base, the hole processing means, or the hole processing inspection means. Since the position control between the third stage and the hole processing repairing means is accurate, accurate hole processing can be repaired. Further, it is possible to stably improve the opening property of the via hole before lamination and the connectivity between the layers after lamination in the multilayer substrate. Also, the yield of via holes in the green sheet can be improved by reworking.

【0013】本発明の請求項3記載の発明は、請求項2
に記載の孔加工装置であって、孔加工検査手段からの検
査結果を記憶する記憶手段と、記憶手段の情報に基づい
て孔加工修復手段を制御する孔加工修復制御手段とを有
することを特徴とし、孔加工の修復を不良孔加工部のみ
行うことができる。
The third aspect of the present invention is the second aspect of the present invention.
The hole drilling device according to any one of claims 1 to 3, further comprising: a storage unit configured to store an inspection result from the hole drilling inspection unit; Then, the hole processing can be repaired only in the defective hole processing portion.

【0014】本発明の請求項4記載の発明は、請求項
1、請求項2、または請求項3に記載の孔加工装置であ
って、修復可能な孔と修復不可能な孔とを判別する判別
機能を有する孔加工検査手段と、孔加工検査手段からの
情報により検査後の基板を分別する分別手段とを有する
ことを特徴とし、修復不可能な孔のある基板を除外でき
るので、多層化工程の効率を高めることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the drilling apparatus according to the first, second, or third aspect, wherein the repairable hole and the unrepairable hole are distinguished. It is characterized by having a hole processing inspection means having a discriminating function, and a separation means for separating a substrate after inspection based on information from the hole processing inspection means. The efficiency of the process can be increased.

【0015】本発明の請求項5記載の発明は、請求項
1、請求項2、請求項3、または請求項4に記載の孔加
工装置であって、シート状の基板がフレームによって固
定されていることを特徴とし、シートをフレームに固定
しているので、柔らかいシート状基板の場合においても
基板の位置精度を高くでき、またステージ間の基板の搬
送を容易にすることができる。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the hole processing apparatus according to the first, second, third or fourth aspect, wherein the sheet-like substrate is fixed by a frame. Since the sheet is fixed to the frame, the positional accuracy of the substrate can be increased even in the case of a soft sheet-like substrate, and the transfer of the substrate between the stages can be facilitated.

【0016】以下に本発明の実施の形態をセラミック多
層基板のパンチングを一例として、図面を参照しながら
説明する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, taking punching of a ceramic multilayer substrate as an example.

【0017】(実施の形態1)図1は本発明の一実施の
形態の孔加工装置の主要部の概略を示す図である。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a view schematically showing a main part of a hole drilling apparatus according to an embodiment of the present invention.

【0018】図1(a)、図1(b)、図1(c)は孔
加工の各ステージを示し、図において、4はグリーンシ
ート、5はグリーンシート4を貼り付けて固定する金属
製のフレーム、6は第1ステージのフレーム受け台、7
は孔加工用のパンチングピン、8はパンチングピン7の
受けダイ、9はフレーム受け台6を載置する移動台、1
0は移動台9の移動座標とパンチングピン7の上下運動
とを制御する制御システム、11は第1ステージの移動
台9と共通の移動台9の上に載置した第2ステージのフ
レーム受け台、12は検査システム、13は受光部、1
4は発光部、15は第1ステージの移動台9と共通の移
動台9の上に載置した第3ステージのフレーム受け台、
16は不良孔加工を修復するパンチングピン、17はパ
ンチングピン16の受けダイ、18は不良加工孔であ
る。
FIGS. 1 (a), 1 (b) and 1 (c) show the respective stages of drilling, in which 4 is a green sheet, and 5 is a metal sheet to which the green sheet 4 is attached and fixed. , 6 is the first stage frame support, 7
Is a punching pin for drilling holes, 8 is a receiving die for the punching pin 7, 9 is a movable table on which the frame receiving table 6 is mounted, 1
Reference numeral 0 denotes a control system for controlling the moving coordinates of the moving table 9 and the vertical movement of the punching pins 7, and 11 denotes a frame receiving table of the second stage mounted on the same moving table 9 as the first stage. , 12 is an inspection system, 13 is a light receiving unit, 1
4 is a light-emitting unit, 15 is a third stage frame receiver mounted on the same mobile stage 9 as the first stage mobile stage 9,
Reference numeral 16 denotes a punching pin for repairing a defective hole, 17 denotes a receiving die for the punching pin 16, and 18 denotes a defective hole.

【0019】グリーンシート4の基板材料として、ホウ
珪酸ガラス粉末、アルミナ粉末を無機成分としたセラミ
ック材料に、有機バインダー、可塑剤、有機溶剤を混合
したスラリーを使用した。このスラリーをドクターブレ
ード法で有機フィルム上にシート成形し、造膜から乾燥
工程を連続的に行いグリーンシート4を形成した。
As a substrate material of the green sheet 4, a slurry obtained by mixing an organic binder, a plasticizer, and an organic solvent with a ceramic material containing borosilicate glass powder and alumina powder as inorganic components was used. The slurry was formed into a sheet on an organic film by a doctor blade method, and a drying step was continuously performed from the film formation to form a green sheet 4.

【0020】このグリーンシート4を定形にカットし、
フレーム5に貼り付け、孔加工装置の第1ステージにあ
るフレーム受け台6にセットする。フレーム受け台6は
移動台9に取り付けられており、パンチングピン7とフ
レーム受け台6との位置は正確に位置決めされている。
The green sheet 4 is cut into a fixed shape,
Affixed to the frame 5 and set on the frame support 6 on the first stage of the hole drilling device. The frame receiving base 6 is attached to the moving base 9, and the positions of the punching pins 7 and the frame receiving base 6 are accurately positioned.

【0021】移動台9の移動とパンチングピン7のパン
チング動作は、制御システム10によって制御されてい
る。制御システム10が稼動すると移動台9は、予め入
力してある加工座標データにしたがって水平面内を移動
する。同時にパンチングピン7のパンチング動作が開始
する。パンチングピン7(Φ0.15径)は、ピン受け
ダイ8にかみ込み孔加工する。打ち抜き片はピン受けダ
イ8の下に集められる。
The movement of the moving table 9 and the punching operation of the punching pin 7 are controlled by a control system 10. When the control system 10 operates, the movable table 9 moves in a horizontal plane according to the processing coordinate data input in advance. At the same time, the punching operation of the punching pin 7 starts. The punching pin 7 (Φ0.15 diameter) is formed in the pin receiving die 8 by making a hole. The punched pieces are collected under the pin receiving die 8.

【0022】そして、第1ステージにてパンチング加工
を完了したフレーム5を次の第2ステージにある受け台
11へ自動移動する。第2ステージには発光部14と受
光部13からなる孔加工検査機が取り付けられている。
Then, the frame 5 that has been subjected to the punching processing in the first stage is automatically moved to the receiving table 11 in the next second stage. The second stage is provided with a hole processing inspection machine including a light emitting unit 14 and a light receiving unit 13.

【0023】第2ステージのフレーム受け台11と第1
ステージのフレーム受け台6は、相対的に同一座標に位
置している。発光部14と受光部13の取り付け位置
は、第1ステージのパンチングピン7とピン受けダイ8
とに相当する位置である。したがって、新しいグリーン
シートを第1ステージにセットして第1番目の孔のパン
チングを開始する時には、第2ステージのフレーム受け
台11にセットされたフレーム5も、第1番目の加工孔
の検査位置にある。
The second stage frame receiver 11 and the first stage
The stage frame receivers 6 are relatively located at the same coordinates. The mounting position of the light emitting unit 14 and the light receiving unit 13 is determined by the punching pin 7 and the pin receiving die 8 of the first stage.
And a position corresponding to Therefore, when a new green sheet is set on the first stage and punching of the first hole is started, the frame 5 set on the frame receiving base 11 of the second stage is also positioned at the inspection position of the first processing hole. It is in.

【0024】発光部14から発した光は加工孔を通過し
て受光部13に達し、加工孔の情報を検査システム12
に伝える。検査システム12には、例えば予め良品(カ
スづまり等の不良孔の存在しない)状態の情報が入力さ
れており、受光部13から受けたデータと良品データと
を1孔毎に良否判定(検査)を行う。第2ステージにて
検査された1孔毎の良否判定データは自動的に検査シス
テム12の図には示していない記憶装置に保存される。
The light emitted from the light emitting section 14 passes through the processing hole and reaches the light receiving section 13 where the information on the processing hole is transmitted to the inspection system 12.
Tell For example, information of a non-defective product (having no defective holes such as clogging) is input to the inspection system 12 in advance, and the data received from the light receiving unit 13 and the non-defective product data are judged for each hole for quality (inspection). I do. The pass / fail judgment data for each hole inspected in the second stage is automatically stored in a storage device (not shown) of the inspection system 12.

【0025】そして、第2ステージにて検査を完了した
フレーム5を次の第3ステージにある受け台15へ自動
移動する。第3ステージにおいても、フレーム5、不良
加工孔加工修復用のパンチングピン16、ピン受けダイ
17は第1ステージのフレーム、パンチングピン7、ピ
ン受けダイ8とそれぞれが相対的に同位置にある。した
がって、第1ステージで新しいグリーンシートのパンチ
ングが開始し、第1番目の孔をパンチングしている時に
は、第3ステージにおいては第1番目の孔が修復加工位
置にある。検査システムに記憶保存された検査データを
もとに不良孔部をパンチングピン16を用いて再加工し
再生する。
Then, the frame 5 which has been inspected in the second stage is automatically moved to the receiving table 15 in the next third stage. Also in the third stage, the frame 5, the punching pins 16 for repairing defective holes, and the pin receiving dies 17 are relatively at the same position as the frame, the punching pins 7, and the pin receiving dies 8 of the first stage. Therefore, when punching of a new green sheet is started in the first stage and the first hole is punched, in the third stage, the first hole is at the repair processing position. Based on the inspection data stored and stored in the inspection system, the defective hole is re-processed using the punching pins 16 and reproduced.

【0026】本実施の形態の孔加工装置は上記説明した
ように、パンチング制御装置の座標制御部を孔加工検査
ステージ、孔加工修復ステージに兼用しているので、製
造コストが安く、しかも正確に各ステージでの位置合わ
せができる。また、パンチングピンの動作信号を各工程
の孔加工検査、孔加工修復工程の同期信号として利用す
ることもできる。
As described above, the drilling apparatus according to the present embodiment uses the coordinate control unit of the punching control device for both the drilling inspection stage and the drilling repairing stage. Positioning at each stage is possible. Also, the operation signal of the punching pin can be used as a synchronization signal for the hole drilling inspection and hole drilling repairing step in each step.

【0027】なお、本実施の形態では第1ステージ、第
2ステージ、第3ステージにおいて同一の移動台の上
に、各ステージのフレーム受け台を設け、パンチング孔
加工、孔加工検査、修復孔加工を同時に行っているが、
必ずしも同時に行う必要はない。各ステージが独立して
稼動するようにすれば、各工程が最適の処理速度を選択
できる。
In this embodiment, the first stage, the second stage, and the third stage are provided on the same moving table with the frame receiving bases of the respective stages. At the same time,
It is not necessary to do it at the same time. If each stage operates independently, each process can select an optimum processing speed.

【0028】また、本実施の形態の孔加工検査装置は、
良加工孔、不良加工孔の2種類の判定ができるものとし
たが、良加工孔、補修可能な不良加工孔、補修不可能な
不良加工孔の3種類の判定ができるようにすれば、補修
不可能な加工孔を工程途中で除外することができる。こ
のようにすれば、孔加工後の工程において不良品を処理
する必要がなくなり、工程効率と完成品の信頼性、安定
性を高めることができる。補修可能な不良加工孔と補修
不可能な不良加工孔の判定は、例えば検査装置の受光部
が加工孔の径、真円度、加工孔の縁のシャープさ、ばり
の有無等を検知できるようにすればよい。
Further, the hole processing inspection apparatus according to the present embodiment
Although it was assumed that two types of good processed holes and defective processed holes can be determined, if three types of good processed holes, repairable defective processed holes, and unrepairable defective processed holes can be determined, repair can be performed. Impossible working holes can be excluded during the process. In this way, it is not necessary to treat a defective product in the process after the hole processing, and the process efficiency and the reliability and stability of the finished product can be improved. The determination of the repairable defective hole and the non-repairable defective hole is performed, for example, so that the light receiving unit of the inspection device can detect the diameter of the processed hole, the roundness, the sharpness of the edge of the processed hole, the presence of burrs, and the like. What should I do?

【0029】また、本実施の形態では孔加工する基板の
座標を移動させたが、パンチングピン等の処理機を移動
させても同様の効果が得られる。
In this embodiment, the coordinates of the substrate on which the hole is to be formed are moved. However, the same effect can be obtained by moving a processing machine such as a punching pin.

【0030】また、本実施の形態ではセラミック多層基
板における孔加工装置の例を説明したが、これ以外の孔
加工であっても、位置決めされた多数の微細な貫通孔を
必要とする基板に適用できるものである。
In this embodiment, an example of a hole processing apparatus for a ceramic multilayer substrate has been described. However, even in the case of other hole processing, the present invention can be applied to a substrate which requires a large number of fine through holes positioned. You can do it.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上のように、本発明は多層基板に用い
るシート又は板状の孔加工の際に発生する打ち抜きカス
等による不良加工孔を自動検出、補修する孔加工装置で
あり、NCパンチング装置の座標制御装置を利用して正
確に加工孔の検査、不良加工孔の修復を行うものであ
る。これにより孔加工不良の低減が図られ、積層後の層
間断線不良の解消が得られる。
As described above, the present invention relates to a hole punching apparatus for automatically detecting and repairing defective holes caused by punching scum or the like generated when a sheet or a plate used for a multilayer substrate is drilled. The inspection of the machined hole and the repair of the defective machined hole are performed accurately using the coordinate control device of the apparatus. As a result, hole processing defects can be reduced, and interlayer disconnection defects after lamination can be eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態の孔加工装置の主要部の
概略図
FIG. 1 is a schematic view of a main part of a hole drilling apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】多層基板の断面の概略図FIG. 2 is a schematic view of a cross section of a multilayer substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4 グリーンシート 5 フレーム 6 フレーム受け台 7 パンチングピン 8 ピン受けダイ 9 移動台 12 検査システム 13 受光部 14 発光部 16 不良孔加工修正用パンチングピン 17 ピン受けダイ Reference Signs List 4 Green sheet 5 Frame 6 Frame receiving stand 7 Punching pin 8 Pin receiving die 9 Moving stand 12 Inspection system 13 Light receiving unit 14 Light emitting unit 16 Punching pin for correcting defective hole processing 17 Pin receiving die

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】シート状、または板状の基板を載置する第
1受け台と、第1受け台に載置した基板に貫通した穴を
開ける孔加工手段と、孔加工手段によって孔加工された
基板を載置する第2受け台と、第2受け台に載置した基
板の孔を検査する孔加工検査手段と、第1受け台と第2
受け台、または孔加工手段と孔加工検査手段とが相対的
に同一な平面座標を移動するように位置制御する位置制
御手段とを有することを特徴とする孔加工装置。
1. A first receiving table on which a sheet-shaped or plate-shaped substrate is mounted, a hole processing means for making a hole penetrating through the substrate mounted on the first receiving table, and a hole processed by the hole processing means. A second receiving pedestal on which the mounted substrate is mounted, hole processing inspection means for inspecting a hole in the substrate mounted on the second receiving pedestal,
A hole drilling apparatus, comprising: a cradle or a hole control means for controlling the position of the hole drilling means and the hole drilling inspection means so as to move on the same plane coordinates.
【請求項2】孔加工検査ずみの基板を載置する第3受け
台と、第3受け台に載置した基板に開けられた穴を修復
する孔加工修復手段と、第3受け台、または孔加工修復
手段を第1受け台、第2受け台、孔加工手段、または孔
加工検査手段と相対的に同一な平面座標を移動するよう
に位置制御する位置制御手段とを有することを特徴とす
る請求項1に記載の孔加工装置。
2. A third pedestal for mounting a substrate which has been subjected to hole processing inspection, a hole processing and repairing means for recovering a hole formed in the substrate mounted on the third pedestal, and a third pedestal, or Position control means for controlling the position of the drilling repairing means so as to move the same plane coordinates relative to the first cradle, the second cradle, the drilling means, or the drilling inspection means. The hole drilling device according to claim 1.
【請求項3】孔加工検査手段からの検査結果を記憶する
記憶手段と、記憶手段の情報に基づいて孔加工修復手段
を制御する孔加工修復制御手段とを有することを特徴と
する請求項2に記載の孔加工装置。
3. The apparatus according to claim 2, further comprising storage means for storing inspection results from the hole processing inspection means, and hole processing repair control means for controlling the hole processing repair means based on information in the storage means. The hole machining apparatus according to claim 1.
【請求項4】良加工孔と修復可能な不良加工孔と修復不
可能な不良加工孔とを判別する判別機能を有する孔加工
検査手段と、孔加工検査手段からの情報により検査後の
基板を分別する分別手段とを有する請求項1、請求項
2、または請求項3に記載の孔加工装置。
4. A hole machining inspection means having a discriminating function for discriminating between a good machining hole, a repairable bad machining hole, and an unrepairable bad machining hole, and a substrate after the inspection is inspected based on information from the hole machining inspection means. 4. The hole drilling device according to claim 1, further comprising a separating means for separating.
【請求項5】シート状の基板がフレームによって固定さ
れていることを特徴とする請求項1、請求項2、請求項
3、または請求項4に記載の孔加工装置。
5. The hole processing apparatus according to claim 1, wherein the sheet-like substrate is fixed by a frame.
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