JPH1114599A - Flaw detecting apparatus by magnetic leakage flux detecting method - Google Patents
Flaw detecting apparatus by magnetic leakage flux detecting methodInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、漏洩磁束探傷法に
より被検出体の表面疵を検出する疵検出装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flaw detecting device for detecting a surface flaw of an object to be detected by a magnetic flux leakage inspection method.
【0002】[0002]
【従来の技術】漏洩磁束探傷法は、磁極を被検出体に接
近させて被検出体を磁化し、この時、疵の存在により発
生する漏洩磁束をホール素子や磁気抵抗素子などのセン
サ(磁気感応センサ)で検出し、その出力信号の強弱か
ら疵の有無を検出するようにした探傷法である。この漏
洩磁束探傷法によれば、漏洩磁束に蛍光性磁粉を吸着さ
せて紫外線ランプ下で目視検査する磁粉探傷法と異な
り、定量的に疵を検出でき、検査の自動化が可能になっ
て、その利用価値は高いものとなる。2. Description of the Related Art In the leakage magnetic flux detection method, a magnetic pole is brought close to an object to be detected to magnetize the object to be detected. This is a flaw detection method in which the presence / absence of a flaw is detected based on the strength of the output signal. According to this magnetic flux leakage inspection method, unlike magnetic powder inspection method in which fluorescent magnetic particles are adsorbed to the leakage magnetic flux and visually inspected under an ultraviolet lamp, flaws can be quantitatively detected, and inspection can be automated. The utility value will be high.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記センサ
の出力波形は、図4に示すように、ノイズの影響により
大きく変化する。これは、主として被検出体とセンサと
のギャップの変動に起因するもので、この中から疵信号
を見分けることはかなり困難となる。そこで従来は、同
じく図4に示すように、ノイズ信号Aの強度レベルより
も十分高いレベルにしきい値L′を設定していた。この
場合、当然のこととして比較的大きなレベルの疵信号B
1は検出できるものの、比較的小さな強度レベルの疵信
号B2の検出は不能となり、検出精度の低下が避けられ
ないようになる。By the way, the output waveform of the above-mentioned sensor greatly changes due to the influence of noise as shown in FIG. This is mainly due to the fluctuation of the gap between the object to be detected and the sensor, and it is very difficult to distinguish the flaw signal from this. Therefore, conventionally, as shown in FIG. 4, the threshold value L 'is set to a level sufficiently higher than the intensity level of the noise signal A. In this case, of course, a relatively large level of the flaw signal B
Although 1 can be detected, it is impossible to detect the flaw signal B2 having a relatively small intensity level, and a decrease in detection accuracy cannot be avoided.
【0004】なお例えば、特開平3−246463号公
報には、多数のセンサを鋼板の幅方向に配列してこれら
を2群に分け、群毎の検出信号のピーク値の差を求める
ことにより鋼板の幅方向に生じているノイズ成分を除去
することが記載されているが、これによれば、一つのセ
ンサの走査線上に生じているノイズ成分を除去すること
はできず、根本的な解決には至らない。For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-246463 discloses that a large number of sensors are arranged in the width direction of a steel sheet, divided into two groups, and a difference between peak values of detection signals for each group is obtained. It is described that a noise component generated in the width direction of the sensor is removed. However, according to this, a noise component generated on a scanning line of one sensor cannot be removed. Does not reach.
【0005】本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなさ
れたもので、その課題とするところは、ノイズ信号の変
動に応じたしきい値を設定することにより、広範な疵信
号の検出を可能にし、もって検出精度の向上に大きく寄
与する漏洩磁束探傷法による疵検出装置を提供すること
にある。[0005] The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and an object thereof is to set a threshold value in accordance with the fluctuation of a noise signal to detect a wide range of flaw signals. It is an object of the present invention to provide a flaw detection device using a magnetic flux leakage inspection method, which makes it possible to greatly improve the detection accuracy.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は、被検出体を磁化する磁極および被検出体
からの漏洩磁束を検出するセンサを有する検出ヘッド
と、該検出ヘッドのセンサの出力信号を増幅するアンプ
と、該アンプの出力信号から低い周波数の信号を取り出
すローパスフィルタと、前記アンプからの直送信号およ
び前記ローパスフィルタを通したローパス信号を入力し
てAD変換するA/D変換器と、該A/D変換器でサン
プリングしたデータを前記直送信号、ローパス信号ごと
に記憶するメモリと、該メモリに記憶されたローパス信
号のデータの所定数を基にしてしきい値を算出する演算
手段と、該演算手段により求めたしきい値と前記メモリ
内に記憶された前記直送信号のデータとを比較する比較
手段とを備える構成としたことを特徴とする。SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above problems, the present invention provides a detection head having a magnetic pole for magnetizing an object to be detected and a sensor for detecting magnetic flux leaking from the object to be detected, and a sensor for the detection head. Amplifier, a low-pass filter for extracting a low-frequency signal from the output signal of the amplifier, and an A / D for inputting a direct signal from the amplifier and a low-pass signal passed through the low-pass filter and performing A / D conversion. A converter, a memory for storing the data sampled by the A / D converter for each of the direct transmission signal and the low-pass signal, and calculating a threshold value based on a predetermined number of low-pass signal data stored in the memory And a comparing means for comparing the threshold value obtained by the calculating means with the data of the direct transmission signal stored in the memory. Characterized in that was.
【0007】このように構成した疵検出装置において
は、センサの出力信号をローパスフィルタに通すこと
で、主としてノイズ信号の大きな変動(うねり)を抽出
することができ、このうねりをデジタル変換してサンプ
リングし、このサンプリングデータを順次計算式に入れ
れば、図2に示すように、ノイズ信号Aの変動に応じた
しきい値Sが得られ、比較的大きな強度レベルの疵信号
B1はもとより、比較的小さな強度レベルの疵信号B2
も検出できるようになる。In the flaw detection device thus configured, a large change (swell) of the noise signal can be mainly extracted by passing the output signal of the sensor through a low-pass filter, and the swell is digitally converted and sampled. Then, when this sampling data is sequentially included in the calculation formula, as shown in FIG. 2, a threshold value S corresponding to the fluctuation of the noise signal A is obtained, and the flaw signal B1 having a relatively large intensity level as well as the flaw signal B1 having a relatively large intensity level are obtained. Flaw signal B2 of small intensity level
Can also be detected.
【0008】[0008]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて説明する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
【0009】本実施の形態は、図3に示すような板状リ
ング1の表面疵の検出に適用されるもので、疵検出に際
しては、被検出体としての板状リング1を上下から複数
のローラ対2にて挟持し、複数の拡張ローラ3を板状リ
ング1の内径に当接させて、その拡張ローラ3の一つを
駆動輪として板状リング1を回転させ、その板面に検出
ヘッド4を接近させる。検出ヘッド4は、コイル5を巻
いたコ字形のヨーク6と、このヨーク6の開口部を埋め
る樹脂層7に埋設されたセンサ(磁気感応センサ)8と
を備えており、そのコイル5に直流電流を流すと、ヨー
ク6の両端が磁極となって板状リング1に磁界が発生す
る。この時、板状リング1の表面に割れ等の疵が存在す
ると、漏洩磁束が発生し、センサ8がこの漏洩磁束に応
じた信号を出力するようになる。The present embodiment is applied to the detection of surface flaws of the plate-like ring 1 as shown in FIG. A plurality of extended rollers 3 are held in contact with the inner diameter of the plate-shaped ring 1 by being pinched by the roller pair 2, and the plate-shaped ring 1 is rotated using one of the extended rollers 3 as a driving wheel, and the plate surface is detected. The head 4 is moved closer. The detection head 4 includes a U-shaped yoke 6 around which a coil 5 is wound, and a sensor (magnetically sensitive sensor) 8 embedded in a resin layer 7 that fills an opening of the yoke 6. When a current is applied, both ends of the yoke 6 become magnetic poles, and a magnetic field is generated in the plate-like ring 1. At this time, if a flaw such as a crack is present on the surface of the plate-like ring 1, a leakage magnetic flux is generated, and the sensor 8 outputs a signal corresponding to the leakage magnetic flux.
【0010】上記検出ヘッド4は本発明にかゝる疵検出
装置に組み込まれ、図1に示すように、そのセンサ8の
出力信号は、アンプ10で増幅した後に二つの信号a,
bに分けられ、一方の信号aは、ローパスフィルタ・L
PF11に通してローパス信号cとして、後述のパーソ
ナルコンピュータ・PC12へ、他方の信号bはそのま
まPC12ヘ送られる。LPF11は、こゝでは約5H
z 以下の低い周波数の信号を取り出す機能を有してお
り、そのローパス信号cは、主としてノイズ信号の大き
な変動(うねり)表すものとなる。なお、このローパス
信号cは、前記アンプ10からPC12へ直接送った直
送信号bよりも、わずかの時間(0.1 sec程度)だけ遅
れを生じる。The detection head 4 is incorporated in a flaw detection device according to the present invention, and as shown in FIG.
b, and one signal a is a low-pass filter L
The signal b is sent as a low-pass signal c through the PF 11 to a personal computer PC 12 described later, and the other signal b is sent to the PC 12 as it is. LPF11 is about 5H here
It has a function of extracting a signal with a low frequency of z or less, and the low-pass signal c mainly represents a large fluctuation (undulation) of the noise signal. Note that the low-pass signal c is delayed by a short time (about 0.1 sec) from the direct transmission signal b directly transmitted from the amplifier 10 to the PC 12.
【0011】PC12は、前記ローパス信号cおよび直
送信号bを入力してAD変換するA/D変換器13と、
このA/D変換器13でサンプリングしたデータを記憶
するメモリ14と、このメモリ14に記憶されたデータ
を処理するデータ処理部15とから概略構成されてい
る。A/D変換器13は、所定の時間単位(一例とし
て、0.6msec 単位)でサンプリング(標本化)する機能
を有しており、メモリ14には、前記直送信号b、ロー
パス信号cごとのサンプリングデータが記憶されること
になる。The PC 12 has an A / D converter 13 for inputting the low-pass signal c and the direct transmission signal b and performing AD conversion.
It comprises a memory 14 for storing data sampled by the A / D converter 13 and a data processing unit 15 for processing the data stored in the memory 14. The A / D converter 13 has a function of sampling (sampling) in a predetermined time unit (for example, 0.6 msec unit), and the memory 14 stores a sampling for each of the direct transmission signal b and the low-pass signal c. The data will be stored.
【0012】一方、データ処理部15は、メモリ14に
記憶された直送信号bおよびローパス信号cのデータを
所定数(一例として、2500)配列する一対の配列手段1
6、17と、一方の配列手段16から前記ローパス信号
cのデータを順次取り込んで、後述の計算式によりしき
い値Lを求める演算部18と、この演算部18により求
めたしきい値Lと他方の配列手段17から送られた前記
直送信号bのデータとを比較する比較手段19と、この
比較手段19による比較結果に基づいて良否を判定する
判定手段20とを備えている。なお、データ処理部15
は、メモリ部(図示略)に記憶されたプログラムに従っ
て動作するようになっている。On the other hand, the data processing section 15 includes a pair of arranging means 1 for arranging a predetermined number (for example, 2500) of data of the direct transmission signal b and the low-pass signal c stored in the memory 14.
6, 17 and an operation unit 18 for sequentially taking in the data of the low-pass signal c from one of the arrangement means 16 and obtaining a threshold value L by a calculation formula described later. Comparing means 19 for comparing the data of the direct transmission signal b sent from the other arranging means 17, and judging means 20 for judging pass / fail based on the comparison result by the comparing means 19. The data processing unit 15
Operate according to a program stored in a memory unit (not shown).
【0013】こゝで、上記演算部18で用いる計算式
は、乗算、加算を含む単純なもので、下記(1) のように
なっている。 L[i]=[i+d]×e+f (1) この(1) 式において、L[i]は直送信号bの配列デー
タiに対応するしきい値を、e,fは係数を、dは上記
ローパス信号の時間遅れ(0.1sec)に相当するデータの
上乗せ分(約150 データ分)をそれぞれ表しており、前
記配列手段16による配列数が2500の場合は、iを0か
ら2350まで変化させる演算を行うことになる。Here, the calculation formula used in the calculation unit 18 is a simple one including multiplication and addition, and is as shown in the following (1). L [i] = [i + d] × e + f (1) In the equation (1), L [i] is a threshold value corresponding to the array data i of the direct transmission signal b, e and f are coefficients, and d is An additional amount (approximately 150 data) of data corresponding to the time delay (0.1 sec) of the low-pass signal is shown. When the number of arrays by the array means 16 is 2500, an operation for changing i from 0 to 2350 Will be done.
【0014】本実施の形態においては、前出図3に示し
た態様で板状リング1を一回転以上させ、この間、セン
サ8の出力信号の一部をLPF11、A/D変換器1
3、メモリ14および配列手段16に順に通して演算手
段19に入力し、しきい値Lを求める。このしきい値L
は、前記したようにLPF11に通して抽出したノイズ
信号のうねり成分をサンプリングしたデータを、乗算お
よび加算することにより求めた値であるので、図2に示
すようにノイズ信号Aの変動に応じて変動する。なお、
ノイズ信号Aの変動は、主として滑り、偏心、歪み等に
よる板状リング1の回転ムラに起因する、板状リング1
とセンサ8とのギャップ変動によってもたらされたもの
である。In the present embodiment, the plate ring 1 is rotated one or more times in the mode shown in FIG. 3 and a part of the output signal of the sensor 8 is converted into the LPF 11 and the A / D converter 1 during this time.
3, sequentially pass through the memory 14 and the arranging means 16 and input to the calculating means 19 to determine the threshold value L. This threshold L
Is a value obtained by multiplying and adding data obtained by sampling the swell component of the noise signal extracted through the LPF 11 as described above. Therefore, as shown in FIG. fluctuate. In addition,
The fluctuation of the noise signal A is mainly caused by uneven rotation of the plate ring 1 due to slippage, eccentricity, distortion, and the like.
This is caused by the gap fluctuation between the sensor and the sensor 8.
【0015】そして、上記演算手段19で求めたしきい
値Lの信号は比較手段19へ送られ、比較手段19は、
このしきい値Lと配列手段17から送られた、直送信号
bのサンプリングデータ(生データ)とを比較し、その
比較結果を判定手段20へ送る。すると、判定手段20
は、しきい値Lを超える生データの数をカウントし、そ
の数が所定数以下であれば合格、その数が所定数を超え
れば疵不良とそれぞれ判定する。この時、前出図2に示
したように、しきい値Lがノイズ信号Aの変動に応じて
変動しているので、比較的大きな強度レベルの疵信号B
1はもとより、比較的小さな強度レベルの疵信号B2も
検出でき、したがって高精度に板状リング1の表面疵を
検出できるようになる。The signal of the threshold value L obtained by the arithmetic means 19 is sent to the comparing means 19, and the comparing means 19
The threshold value L is compared with the sampling data (raw data) of the direct transmission signal b sent from the arrangement unit 17, and the comparison result is sent to the determination unit 20. Then, the judgment means 20
Counts the number of raw data exceeding the threshold value L. If the number is equal to or less than a predetermined number, it is judged as pass, and if the number exceeds the predetermined number, it is judged as defective. At this time, as shown in FIG. 2, since the threshold value L fluctuates in accordance with the fluctuation of the noise signal A, the flaw signal B having a relatively large intensity level is obtained.
1, the flaw signal B2 having a relatively small intensity level can be detected, and therefore, the surface flaw of the plate-like ring 1 can be detected with high accuracy.
【0016】なお、上記実施の形態においては、板状リ
ング1を対象にして行う例を示したが、本発明の適用対
象は任意であり、例えば広幅の鋼板の疵検出も行うこと
ができる。この場合は、上記検出ヘッド4を鋼板の幅方
向に複数配列するか、あるいはその磁極(コイル5、ヨ
ーク6)を共用して複数のセンサ8を鋼板の幅方向に複
数配列し、各センサ8の出力信号について上記実施の形
態と同様の処理を行うようにする。In the above-described embodiment, an example in which the process is performed on the plate-like ring 1 has been described. However, the present invention can be applied to any arbitrary configuration, and for example, a flaw detection of a wide steel plate can also be performed. In this case, a plurality of the detection heads 4 are arranged in the width direction of the steel sheet, or a plurality of sensors 8 are arranged in the width direction of the steel sheet by sharing the magnetic poles (coils 5, yoke 6). The same processing as in the above embodiment is performed for the output signal of
【0017】[0017]
【発明の効果】以上、説明したように、本発明にかゝる
漏洩磁束探傷法による疵検出装置によれば、ノイズ信号
の変動に応じたしきい値を設定して、広範な疵信号の検
出を可能にしたので、検出精度が著しく向上し、利用価
値が高いものとなる。As described above, according to the flaw detection apparatus based on the leakage magnetic flux flaw detection method according to the present invention, a threshold value according to the fluctuation of the noise signal is set, and a wide range of flaw signals can be detected. Since the detection is enabled, the detection accuracy is remarkably improved, and the utility value is high.
【図1】本発明にかゝる疵検出装置の構造を示すブロッ
ク図である。FIG. 1 is a block diagram showing a structure of a flaw detection device according to the present invention.
【図2】本発明により設定したしきい値をセンサの出力
波形に重ねて示すグラフである。FIG. 2 is a graph showing a threshold value set according to the present invention superimposed on an output waveform of a sensor.
【図3】本発明による疵検出の実行態様を模式的に示す
斜視図である。FIG. 3 is a perspective view schematically showing an execution mode of flaw detection according to the present invention.
【図4】従来の設定方式によるしきい値をセンサの出力
波形に重ねて示すグラフである。FIG. 4 is a graph showing a threshold value according to a conventional setting method superimposed on an output waveform of a sensor.
1 板状リング(被検出体) 4 検出ヘッド 5 コイル 6 ヨーク 8 センサ 10 アンプ 11 ローパスフィルタ 13 A/D変換器 14 メモリ 18 演算手段 19 比較手段 20 判定手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Plate-shaped ring (detected body) 4 Detection head 5 Coil 6 Yoke 8 Sensor 10 Amplifier 11 Low-pass filter 13 A / D converter 14 Memory 18 Calculation means 19 Comparison means 20 Judgment means
Claims (1)
からの漏洩磁束を検出するセンサを有する検出ヘッド
と、該検出ヘッドのセンサの出力信号を増幅するアンプ
と、該アンプの出力信号から低い周波数の信号を取り出
すローパスフィルタと、前記アンプからの直送信号およ
び前記ローパスフィルタを通したローパス信号を入力し
てAD変換するA/D変換器と、該A/D変換器でサン
プリングしたデータを前記直送信号、ローパス信号ごと
に記憶するメモリと、該メモリに記憶されたローパス信
号のデータの所定数を基にしてしきい値を算出する演算
手段と、該演算手段により求めたしきい値と前記メモリ
内に記憶された前記直送信号のデータとを比較する比較
手段とを備えたことを特徴とする漏洩磁束探傷法による
疵検出装置。1. A detection head having a magnetic pole for magnetizing an object to be detected and a sensor for detecting leakage magnetic flux from the object, an amplifier for amplifying an output signal of the sensor of the detection head, and an output signal of the amplifier. A low-pass filter that extracts a low-frequency signal, an A / D converter that inputs a direct signal from the amplifier and a low-pass signal that has passed through the low-pass filter and performs AD conversion, and data sampled by the A / D converter. The direct transmission signal, a memory for storing each low-pass signal, calculation means for calculating a threshold based on a predetermined number of data of the low-pass signal stored in the memory, and a threshold calculated by the calculation means. A flaw detection device using a magnetic flux leakage inspection method, comprising: comparison means for comparing the data of the direct transmission signal stored in the memory.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18298997A JPH1114599A (en) | 1997-06-24 | 1997-06-24 | Flaw detecting apparatus by magnetic leakage flux detecting method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18298997A JPH1114599A (en) | 1997-06-24 | 1997-06-24 | Flaw detecting apparatus by magnetic leakage flux detecting method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1114599A true JPH1114599A (en) | 1999-01-22 |
Family
ID=16127818
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18298997A Pending JPH1114599A (en) | 1997-06-24 | 1997-06-24 | Flaw detecting apparatus by magnetic leakage flux detecting method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1114599A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001296277A (en) * | 2000-04-13 | 2001-10-26 | Nkk Corp | Magnetic flaw detection method |
JP2012527623A (en) * | 2009-05-22 | 2012-11-08 | ティーディーダブル デラウェア,インコーポレーティッド | Magnetometer-based detector for objects in pipelines |
CN104034796A (en) * | 2014-06-16 | 2014-09-10 | 东北大学 | Real-time processing device and method of internal detection data of pipeline magnetic flux leakage |
-
1997
- 1997-06-24 JP JP18298997A patent/JPH1114599A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001296277A (en) * | 2000-04-13 | 2001-10-26 | Nkk Corp | Magnetic flaw detection method |
JP2012527623A (en) * | 2009-05-22 | 2012-11-08 | ティーディーダブル デラウェア,インコーポレーティッド | Magnetometer-based detector for objects in pipelines |
CN104034796A (en) * | 2014-06-16 | 2014-09-10 | 东北大学 | Real-time processing device and method of internal detection data of pipeline magnetic flux leakage |
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