[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JPH10232179A - Method for inspecting leak of fine part and apparatus for inspecting leak using the same - Google Patents

Method for inspecting leak of fine part and apparatus for inspecting leak using the same

Info

Publication number
JPH10232179A
JPH10232179A JP9313543A JP31354397A JPH10232179A JP H10232179 A JPH10232179 A JP H10232179A JP 9313543 A JP9313543 A JP 9313543A JP 31354397 A JP31354397 A JP 31354397A JP H10232179 A JPH10232179 A JP H10232179A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
leak
test
inspection
capsule
leakage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9313543A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3920426B2 (en
Inventor
Yoshifumi Uchiyama
義史 内山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Cosmo Instruments Co Ltd
Original Assignee
Cosmo Instruments Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Cosmo Instruments Co Ltd filed Critical Cosmo Instruments Co Ltd
Priority to JP31354397A priority Critical patent/JP3920426B2/en
Publication of JPH10232179A publication Critical patent/JPH10232179A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3920426B2 publication Critical patent/JP3920426B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable inspection with high reliability by judging only an test specimen without leakage to be acceptable by both air leak tester and helium leak detector. SOLUTION: Test specimens supplied to a parts supplying means 100 are arranged one by one in the posture to be sent to an arranging means 200. When the test specimens are completely housed in all housing parts 201, the arranging means 200 advances to a position shown by the dotted line to be stopped. Then, the respective test specimens are inserted into test capsules 401A-401H of a lower capsule plate 400 mounted on an endless carrying means 300 by a vacuum attraction head. The presence of leakage from the respective test specimens is inspected in a gross leak test station 500 and a fine leak test station 600 along a carrying path A→B→C of the endless carrying means 300. The test specimens on the lower capsule plate 400 returned to a position A after making a round are divided into accepted one and rejected one to be housing parts 700 according to the result of tests stored in a memory for every test capsule 401A-401H.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は例えば数mm角程
度の形状の微小電子部品等のケーシングの洩れを検査す
る洩れ検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a leakage inspection apparatus for inspecting leakage of a casing of a microelectronic component or the like having a shape of, for example, about several mm square.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より加圧気体として空気圧を利用し
て各種の器具の洩れの有無を検査する洩れ検査装置(以
下エアリークテスタと称す)が実用されている。図10
は一般的なエアリークテスタの構成を示す。Mはマスタ
と呼ばれ予め洩れのないことが確認されている部品、W
はワークと呼ばれている被検査体を示す。これらマスタ
Mと被検査体Wに空気圧源1からテスト圧P1の圧力を
持つ空気圧をマスタMと被検査体Wに印加し、バルブV
2とV3を閉にして空気を被検査体W及びマスタMに閉
じ込め、被検査体WとマスタMの間に挿入した微差圧セ
ンサDPS1に発生する差圧により被検査体Wの洩れを
検査する構造としたものである。この構造のエアリーク
テスタは内圧方式と呼ばれ、ほとんどの自動車部品、ガ
ス器具、部品等はこの方式で検査が行なわれている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a leak inspection device (hereinafter referred to as an air leak tester) has been put to practical use for inspecting the presence or absence of leakage of various instruments using air pressure as a pressurized gas. FIG.
Shows the configuration of a general air leak tester. M is a component called master, which has been previously confirmed to be leak-free, W
Indicates an object to be inspected called a work. An air pressure having a test pressure P1 from the air pressure source 1 is applied to the master M and the test object W to the master M and the test object W.
2 and V3 are closed to confine the air in the inspection object W and the master M, and the leakage of the inspection object W is inspected by the differential pressure generated in the small differential pressure sensor DPS1 inserted between the inspection object W and the master M. It is a structure that does. The air leak tester having this structure is called an internal pressure system, and most automobile parts, gas appliances, parts and the like are inspected by this system.

【0003】図11は密封品を検査するためのエアリー
クテスタの構成を示す。つまり、防水時計、防水カメ
ラ、ハーメチックリレー等の製品、部品のように内圧を
掛けることができない密封品の場合はマスタ側及び被検
査体側の双方にワークカプセルWKとマスタカプセルM
Kとが設けられ、これら各カプセルWKとMKの内部に
被検査体WとマスタMとを挿入し、ワークカプセルWK
及びマスタカプセルMKに一定容積を持つタンクT1と
T2から一定量の空気圧を与える。
FIG. 11 shows a configuration of an air leak tester for inspecting a sealed product. In other words, in the case of products such as waterproof watches, waterproof cameras, hermetic relays, and sealed products to which internal pressure cannot be applied such as parts, the work capsule WK and the master capsule M are provided on both the master side and the inspection object side.
K is provided, and the test object W and the master M are inserted into each of the capsules WK and MK to form the work capsule WK.
A constant amount of air pressure is applied to the master capsule MK from the tanks T1 and T2 having a fixed volume.

【0004】被検査体Wに時間当りの洩れ量(cc/s
ec)が大きい洩れ(これを一般に大リークと称してい
る)が存在した場合にはワークカプセルWKとマスタカ
プセルMKとの間に容積差が発生し、この容積差から差
圧が発生し、洩れの存在を検出することができる。この
原理の洩れ検査装置ではワーク内容積が0.5cc以上
であればどのような大リークでも確実に検出することが
できる。然し乍ら被検査体Wの内容積が小さくなると、
タンクT1及びT2の容積も小さくしなければならない
ため、微小容積の被検査体Wは検査がむずかしくなる。
The amount of leakage per time (cc / s)
ec), there is a large leak (this is generally called a large leak), a volume difference occurs between the work capsule WK and the master capsule MK, and a pressure difference is generated from the volume difference, and the leak occurs. Can be detected. With the leak inspection apparatus of this principle, any large leak can be reliably detected if the internal volume of the work is 0.5 cc or more. However, when the internal volume of the inspection object W becomes small,
Since the volumes of the tanks T1 and T2 also need to be reduced, the inspection of the minute-volume subject W becomes difficult.

【0005】この欠点を解消する一つの方法として図1
2に示す構成のエアリークテスタが提案されている。こ
のエアリークテスタではワークカプセルWKとマスタカ
プセルMKの双方の管路に可変容量タンクVT1とVT
2を設け、バルブV2とV3を通じてワークカプセルW
KとマスタカプセルMKにテスト圧P1の空気圧を与
え、これらのバルブV2とV3を閉じた後バルブV6を
開けて可変容量タンクVT1とVT2に空気圧を与える
ことにより、可変容量タンクVT1とVT2に設けたピ
ストンを移動させ、ワークカプセルWK及びマスタカプ
セルMKの双方に容積変化を与え、圧力を発生させる。
FIG. 1 shows one method of solving this drawback.
2 has been proposed. In this air leak tester, the variable capacity tanks VT1 and VT are provided in the pipelines of both the work capsule WK and the master capsule MK.
2 and a work capsule W through valves V2 and V3.
By applying air pressure of test pressure P1 to K and master capsule MK, closing valves V2 and V3 and then opening valve V6 to apply air pressure to variable capacity tanks VT1 and VT2, thereby providing variable pressure tanks VT1 and VT2. By moving the piston, a volume change is applied to both the work capsule WK and the master capsule MK to generate pressure.

【0006】このとき、ワークカプセルWK及びマスタ
カプセルMKの双方で内容積が等しいときは圧力を発生
させても差圧は発生しない。被検査体Wに大リークがあ
ると、マスタM側に対して被検査体W側との間に微小な
内容積差が発生するので差圧が生じる。(但し、この差
圧を発生させるには検査装置自体の管路等の内容積を可
及的に小さくする必要がある)この差圧を高感度差圧セ
ンサDPS1で検出することにより、大リークと判定す
る。この方式のエアリークテスタによればワーク内容積
0.0025cc程度の内容積を持つ部品の洩れを検査
することができる。
At this time, if the internal volumes of both the work capsule WK and the master capsule MK are equal, no differential pressure is generated even if pressure is generated. If there is a large leak in the test object W, a small internal volume difference occurs between the master M side and the test object W side, so that a differential pressure is generated. (However, in order to generate this differential pressure, it is necessary to minimize the internal volume of the pipe line etc. of the inspection apparatus itself.) By detecting this differential pressure with the high-sensitivity differential pressure sensor DPS1, a large leak Is determined. According to the air leak tester of this type, it is possible to inspect a component having an internal volume of about 0.0025 cc for leakage.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上述したように図12
に示した構成のエアリークテスタによれば内容積が0.
0025cc程度(米粒の約1/5)の微小内容積の被
検査体の洩れの有無を検査することができる。然し乍ら
その洩れ流量は1×10-4〜1×10-5cc/sec以
上の一般に大リークと称する洩れ流量を持つ場合であ
る。
As described above, FIG.
According to the air leak tester having the configuration shown in FIG.
It is possible to inspect the inspection object having a minute internal volume of about 0025 cc (about 1/5 of rice grain) for leakage. However, the leakage flow rate is 1 × 10 −4 to 1 × 10 −5 cc / sec or more, which is a case where the leakage flow rate is generally called a large leak.

【0008】最近の傾向として、例えば携帯電話器のよ
うに過酷な環境下で使用される機器に用いられる電子部
品では、1×10-8〜1×10-5cc/sec程度の微
小な洩れ流量(以下微小リークと称す)の洩れが存在し
ても動作不能に陥るおそれがある。エアリークテスタは
このような微小リークを検査するに至っていない。微小
リークを検出することができる装置としてヘリウムガス
を検出媒体として用いたヘリウムリークディテクタが例
えば株式会社島津製作所より商品型名MSE−100
0、MSE−3000、MSE−5000等と称して販
売されている。
[0008] As a recent trend, in electronic parts used in equipment used in a severe environment such as a portable telephone, for example, a minute leak of about 1 × 10 -8 to 1 × 10 -5 cc / sec. Even if there is a leak of the flow rate (hereinafter, referred to as a minute leak), there is a possibility that the operation may be disabled. The air leak tester has not yet inspected such a small leak. As a device capable of detecting a minute leak, a helium leak detector using helium gas as a detection medium is, for example, a product model name MSE-100 from Shimadzu Corporation.
0, MSE-3000, MSE-5000, etc.

【0009】ヘリウムリークディテクタでは容器内にお
いて被検査体を真空環境下におき、その状態で容器内に
ヘリウムガスを注入し、容器内においてヘリウムガスを
4kg/cm2 の圧力で加圧した状態で2時間放置し、洩れ
のある被検査体にヘリウムガスを吸引させる。このヘリ
ウムガスの注入処理をボンビング処理と称している。ボ
ンビング処理の後に被検査体を検査用カプセルに挿入
し、検査用カプセルを真空に吸引する粗引き行程を行
う。次にヘリウムガスが被検査物から洩れているか否か
を計測し、ヘリウムガスが検出されれば「洩れ有り」と
判定する。
In a helium leak detector, a test object is placed in a vacuum environment in a container, helium gas is injected into the container in that state, and helium gas is pressurized in the container at a pressure of 4 kg / cm 2. It is left for 2 hours, and helium gas is sucked into the leaking test object. This helium gas injection process is called a bombing process. After the bombing process, the object to be inspected is inserted into the capsule for inspection, and a rough drawing process of sucking the capsule for inspection into vacuum is performed. Next, it is measured whether or not the helium gas is leaking from the inspection object. If the helium gas is detected, it is determined that “there is a leak”.

【0010】このヘリウムリークディテクタによれば1
×10-8cc/sec〜1×10-5cc/secの領域
の微小な洩れを検出できる。然し乍ら、このヘリウムリ
ークディテクタでは大リークが存在した場合に特にその
洩れ流量が大きい場合は「洩れ無し」と誤判定を下す欠
点がある。その理由としてはボンビング処理後に、ヘリ
ウムリークディテクタの検査可能な範囲の中で大きいリ
ーク流量を持つ被検査体からは真空粗引きの行程でヘリ
ウムガスは短時間に大気に放出されてしまい、検査時点
ではヘリウムガスは抜け出て無の状態になっている場合
が多い。従ってこの状態で試験用カプセルに挿入し、検
査してもヘリウムガスは元々存在しないので「洩れ無
し」と判定してしまうのである。
According to this helium leak detector, 1
It is possible to detect a minute leak in a region of × 10 −8 cc / sec to 1 × 10 −5 cc / sec. However, this helium leak detector has a drawback that when there is a large leak, especially when the leak flow rate is large, it is erroneously determined that there is no leak. The reason is that after the bombing process, the helium gas is released into the atmosphere in a short time during the roughing process from the test object that has a large leak flow rate within the range that can be inspected by the helium leak detector. In many cases, the helium gas escapes and is in an empty state. Therefore, even when the helium gas is inserted into the test capsule and inspected in this state, the helium gas does not originally exist, so that it is determined that there is no leakage.

【0011】もっとも大リークの中でも比較的小リーク
に近いリーク量の被検査体の場合には検査までにヘリウ
ムガスが飛散してしまうことはなく、被検査体に留まっ
ている。従ってヘリウムリークディテクタでは大リーク
の中でも「洩れ無し」と判定する場合と、「洩れ有り」
と判定する場合があり、大リークに対する検出性能には
問題がある。つまりエアリークテスタとヘリウムリーク
テスタの各検査範囲の境界部分において検査精度が悪く
なる不都合がある。
In the case of a test object having a relatively small leak amount even among the large leaks, the helium gas does not scatter before the test and remains at the test object. Therefore, the helium leak detector determines that there is no leak even in a large leak,
May be determined, and there is a problem in detection performance for a large leak. That is, there is a disadvantage that the inspection accuracy is deteriorated at the boundary between the inspection ranges of the air leak tester and the helium leak tester.

【0012】更に、ヘリウムリークディテクタでは微量
のヘリウムを検出する高感度センサを具備していること
から、仮りにエアリークテスタで検出できる程の大リー
クを持つ被検査体から多量にヘリウムガスが放出され、
このヘリウムガスをヘリウムリークディテクタが吸い込
むと、そのヘリウムガスを完全に排気するまで次の試験
を行なうことができない不都合もある。従ってヘリウム
リークディテクタを用いた洩れ検査は効率(スルーブッ
ト)が悪い欠点もある。
Further, since the helium leak detector is provided with a high-sensitivity sensor for detecting a small amount of helium, a large amount of helium gas is released from the test object having a large leak that can be detected by an air leak tester. ,
If the helium gas is sucked by the helium leak detector, there is a disadvantage that the next test cannot be performed until the helium gas is completely exhausted. Therefore, the leak test using the helium leak detector has a disadvantage that the efficiency (through-put) is poor.

【0013】この発明の第1の目的は一度の工程で大リ
ークと小リークの双方を確実(信頼性よく)に検査する
ことができる洩れ検査方法とその洩れ検査方法に従って
検査を実行する洩れ検査装置を提案することにある。こ
の発明の第2の目的はヘリウムリークディテクタを効率
よく動作させることができる洩れ検査方法と、この検査
方法に従って検査を実行する洩れ検査装置を提供するこ
とにある。
A first object of the present invention is to provide a leak inspection method capable of reliably (reliably) inspecting both a large leak and a small leak in a single step, and a leak inspection for performing an inspection according to the leak inspection method. It is to propose a device. A second object of the present invention is to provide a leakage inspection method capable of operating a helium leak detector efficiently and a leakage inspection apparatus for performing an inspection according to the inspection method.

【0014】この発明の第3の目的はエアリークテスタ
とヘリウムリークテスタの各検査範囲の境界部分におけ
る検査精度を高めることができる洩れ検査方法を提案す
ることにある。
A third object of the present invention is to propose a leakage inspection method capable of improving the inspection accuracy at the boundary between inspection ranges of an air leak tester and a helium leak tester.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】この発明ではヘリウムガ
スをボンビング処理した被検査体を先ずエアリークテス
タによって大リークの有無を検査し、次にヘリウムリー
クディテクタにより微小リークの有無を検査し、これら
エアリークテスタとヘリウムリークディテクタにおいて
共に洩れ無しと判定した被検査体だけを良品と判定する
第1の洩れ検査方法を提案する。
According to the present invention, a test object subjected to bombing treatment with helium gas is first inspected for a large leak by an air leak tester, and then inspected for a minute leak by a helium leak detector. A first leak inspection method is proposed in which only a test object determined to be non-leak by both the leak tester and the helium leak detector is determined to be non-defective.

【0016】この発明では更にエアリークテスタにおい
て大リークの有無を検査する場合、被検査体とマスタに
与える加圧気体をエアの代わりにヘリウムガスを用い、
ヘリウムガスを特に被検査体に対して印加することによ
り、ボンビング処理後に時間の経過に伴ってヘリウムガ
スが抜けてしまった被検査体に対して、ヘリウムガスを
再ボンビングし、ヘリウムガスが抜けてしまったことに
よる誤った検査結果が下される不都合を除去することが
できる第2の洩れ検査方法を提案する。
According to the present invention, when the presence or absence of a large leak is inspected by an air leak tester, helium gas is used instead of air as a pressurized gas to be applied to the test object and the master.
By applying helium gas particularly to the test object, helium gas is re-bombed to the test object from which the helium gas has escaped with the passage of time after the bombing process, and the helium gas escapes. A second leak inspection method that can eliminate the inconvenience of giving an erroneous inspection result due to the accident is proposed.

【0017】更に、この洩れ検査方法を実現する洩れ検
査装置として混載された被検査体を一定の姿勢で1列に
整列させて送り出す部品供給手段と、この部品供給手段
によって送り出される被検査体を1個ずつ所定の姿勢を
保持して整列させる整列手段と、この整列手段によって
整列した被検査体を搬送する空中搬送装置と、この空中
搬送装置によって送られて来る被検査体を収納する下カ
プセル板と、この下カプセル板を搬送する無終端搬送手
段と、この無終端搬送手段の搬送経路に沿ってエアリー
クテスタ、ヘリウムリークディテクタの順に配置した検
査ステーションと、検査ステーションを通過したカプセ
ルに収納されている被検査体を良品と不良品に仕分けし
て収納する収納部とによって大リークと小リークの双方
を一度に検査することができる洩れ検査装置を提案する
ものである。
Further, as a leak inspection apparatus for realizing the leak inspection method, a component supply means for sending out the aligned test objects in a fixed posture in a line, and a test object sent by the component supply means. Alignment means for holding and aligning a predetermined posture one by one, an aerial transport device for transporting the inspected objects aligned by the alignment means, and a lower capsule for storing the inspected objects sent by the aerial transport device Plate, a non-terminal transport means for transporting the lower capsule plate, an inspection station arranged in the order of an air leak tester and a helium leak detector along the transport path of the endless transport means, and a capsule that has passed through the inspection station. Both large leaks and small leaks are inspected at once by the storage unit that sorts and inspects the inspected object into non-defective products and defective products. It proposes a testing device leakage can and.

【0018】この発明の第1の洩れ検査方法によればエ
アリークテスタとヘリウムリークディテクタの双方で
「洩れ無し」と判定した被検査体だけを良品と判定する
から、良品と判定した被検査体には大リークと小リーク
も何れも持たない製品とすることができる。よって信頼
性の高い洩れ検査を行なうことができる。更に、この発
明の第1の検査方法によればエアリークテスタによって
大リークを検査した後に、ヘリウムリークディテクタに
よって微小リークを検出する検査を行なう方法としたか
ら、エアリークテスタによって検査を行なった時点で大
リークを持つ被検査体を検出できるから、ヘリウムリー
クディテクタで微小リークを検査する場合は「大リーク
有り」と判定した被検査体を検査しなくてよい。従っ
て、ヘリウムリークディテクタで大リークを持つ被検査
体を検査しないから、ヘリウムガスを多量に吸い込むお
それはない。この結果ヘリウムリークディテクタを効率
よく運用することができる利点が得られる。
According to the first leak inspection method of the present invention, only the test object determined as “no leakage” by both the air leak tester and the helium leak detector is determined as a non-defective product. Can be a product having neither a large leak nor a small leak. Therefore, a highly reliable leak test can be performed. Furthermore, according to the first inspection method of the present invention, since a large leak is inspected by an air leak tester and then a small leak is detected by a helium leak detector, a large leak is detected when the inspection is performed by the air leak tester. Since a test object having a leak can be detected, it is not necessary to test the test object determined to be "having a large leak" when testing a minute leak with a helium leak detector. Therefore, since the test object having a large leak is not inspected by the helium leak detector, there is no possibility that a large amount of helium gas is sucked. As a result, an advantage that the helium leak detector can be operated efficiently can be obtained.

【0019】この発明の第2の洩れ検査方法によれば、
ボンビング処理した被検査体から比較的大きい洩れが存
在することによりヘリウムガスが洩れてしまったとして
も、エアリークテストを行なう際に、エアの代りにヘリ
ウムガスを加圧気体として利用したから、被検査体に対
してヘリウムガスを再ボンビングすることができる。従
って、エアリークテスタによっては「洩れ有り」と判定
できないが、ヘリウムリークディテクタに対しては大き
いリークの被検査体に対してヘリウムガスを再ボンビン
グすることができるから、エアリークテスタをヘリウム
ディテクタの各検査範囲の境界部分に属するリーク量の
被検査体の検査精度を高めることができる利点が得られ
る。
According to the second leak inspection method of the present invention,
Even if helium gas leaked due to the presence of a relatively large leak from the test object subjected to the bombing process, the helium gas was used as a pressurized gas instead of air when performing the air leak test. Helium gas can be re-bombed to the body. Therefore, although it is not possible to determine “leakage” depending on the air leak tester, the helium gas can be re-bombed on the test object having a large leak with respect to the helium leak detector. The advantage is obtained that the inspection accuracy of the inspection object having the leak amount belonging to the boundary of the range can be improved.

【0020】尚、ここでエアリークテスト中にヘリウム
ガスを再ボンビングすることができる被検査体としては
短時間にヘリウムガスを吸引することができる被検査体
に限られる。つまり、比較的大きいリーク流量(孔の面
積が大きい)の被検査体に限られ、微小リークの被検査
体に対しては検査開始前に行なう本来のボンビング処理
によらなくてはヘリウムガスを吸引させることはできな
い。従ってエアリークテスト中に被検査体に対してヘリ
ウムガスをボンビングできるとは言っても、検査前に行
なう本来のボンビング処理(2時間程度掛けて行なうボ
ンビング処理)は必要不可欠である。
Here, the test object that can rebomb the helium gas during the air leak test is limited to the test object that can suck the helium gas in a short time. In other words, it is limited to the test object having a relatively large leak flow rate (having a large hole area). For the test object with a small leak, the helium gas is sucked without the original bombing process performed before the start of the test. I can't let that happen. Therefore, even though helium gas can be bombed on the test object during the air leak test, the original bombing processing (bombing processing performed for about 2 hours) performed before the inspection is indispensable.

【0021】更に、この発明の洩れ検査装置によれば、
例えば振動フィーダによって構成した部品供給手段を用
いるから被検査体を部品供給手段に供給すれば、その後
は全てエアリークテスト(又はグロスリークテストと称
す)とヘリウムリークディテクタによる洩れ試験(以下
ファインリークテストと称す)を自動的に行なうことが
できる。従って人手を掛けることなく、微小な形状の電
子部品等を多量に、然も信頼性よく洩れ検査することが
できる利点が得られる。
Further, according to the leak inspection apparatus of the present invention,
For example, since the component to be inspected is supplied to the component supply means because the component supply means constituted by the vibration feeder is used, thereafter, all the air leak test (or gross leak test) and the leak test by the helium leak detector (hereinafter referred to as fine leak test) are performed. ) Can be performed automatically. Therefore, there is an advantage that a large number of minutely shaped electronic components and the like can be leak-inspected with high reliability without human intervention.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】図1にこの発明による洩れ検査方
法によって微小空隔容積の部品(以下被検査体と称す)
の洩れを検査する洩れ検査装置の一実施例を示す。図1
を用いてこの発明による洩れ検査装置の概略の構成を予
め説明する。この発明による洩れ検査装置は大別して7
つの手段によって構成される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 shows a component having a minute space volume (hereinafter referred to as "test object") by a leak inspection method according to the present invention.
1 shows an embodiment of a leak inspection apparatus for inspecting leaks of a sheet. FIG.
The outline configuration of the leak inspection apparatus according to the present invention will be described in advance with reference to FIG. The leak inspection apparatus according to the present invention is roughly classified into 7
It is composed of two means.

【0023】これらの7つの手段は被検査体の流れの順
に部品供給手段100、整列手段200、無終端搬送手
段300、下カプセル板400、グロスリークテストス
テーション500、ファインリークステーション60
0、収納部700が配置されて構成される。以下にその
概略の構成及び動作について説明する。部品供給手段1
00には予めボンビング処理されて洩れが存在する部品
にはヘリウムガスがその内部空隔内に吸い込ませた状態
で供給される。部品供給手段100に供給された被検査
体は1個ずつ姿勢が揃えられて整列手段200に送られ
る。整列手段200は複数の被検査体を格納する格納部
201を有し、この格納部201に被検査体を1個ずつ
格納する。全ての格納部201に被検査体を格納すると
整列手段200は図1に点線で示す位置まで移動する。
These seven means are a component supply means 100, an alignment means 200, an endless transport means 300, a lower capsule plate 400, a gross leak test station 500, a fine leak station 60
0, the storage unit 700 is arranged and configured. The schematic configuration and operation will be described below. Component supply means 1
At 00, helium gas is supplied to a part which has been subjected to a bombing process in advance and has a leak while being sucked into the internal space. The inspection objects supplied to the component supply means 100 are sent to the alignment means 200 with their postures aligned one by one. The alignment means 200 has a storage unit 201 for storing a plurality of test objects, and stores the test objects one by one in the storage unit 201. When the test object is stored in all the storage units 201, the alignment unit 200 moves to the position indicated by the dotted line in FIG.

【0024】整列手段200が点線の位置まで進み停止
すると、図2に示すピックアンドプレスと呼ばれる空中
搬送手段800で各被検査体を例えば真空吸着ヘッド8
01A〜801Hによって吸着し、無終端搬送手段30
0に搭載されている下カプセル板400に運ばれ、下カ
プセル板400に設けた検査カプセル401A〜401
Hに挿入される。
When the aligning means 200 advances to the position indicated by the dotted line and stops, the test object is moved to the vacuum suction head 8 by an air transport means 800 called pick and press shown in FIG.
01A to 801H, the non-terminal transport means 30
0 is carried to the lower capsule plate 400 mounted on the lower capsule plate 400 and the inspection capsules 401A to 401 provided on the lower capsule plate 400.
Inserted into H.

【0025】無終端搬送手段300は図の例では円盤状
のターンテーブルによって構成した場合を示す。この無
終端搬送手段300の搬送経路に沿ってグロスリークテ
ストステーション500とファインリークテストステー
ション600を設け、これらがグロスリークテストステ
ーション500とファインリークテストステーション6
00で各被検査体の洩れの有無を検査する。図の例では
下カプセル板400に被検査体を8個ずつ供給して一度
に8個の被検査体の洩れの有無を検査するように構成し
た場合を示す。
In the example shown in the figure, the non-terminal transport means 300 is constituted by a disk-shaped turntable. A gross leak test station 500 and a fine leak test station 600 are provided along the transport path of the endless transport means 300.
At 00, each inspection object is inspected for leakage. In the example shown in the figure, a case is shown in which eight test objects are supplied to the lower capsule plate 400 and the presence or absence of leakage of eight test objects is inspected at a time.

【0026】無終端搬送手段300にはこの実施例では
120度角間隔に3個の下カプセル板400を搭載し、
1動作で120度ずつ回転して下カプセル板400を図
1に示すローダ及びアンローダ位置(積込、積降し位
置)Aとグロスリークテストステーション500と対向
する位置Bと、ファインリークテストステーション60
0と対向する位置Cを巡ぐって再びローダ及びアンロー
ダ位置Aに戻るように構成した場合を示す。
In this embodiment, three lower capsule plates 400 are mounted on the endless transport means 300 at 120-degree angle intervals.
In one operation, the lower capsule plate 400 is rotated by 120 degrees to lower the lower capsule plate 400 into the loader and unloader positions (loading and unloading positions) A, the position B facing the gross leak test station 500, and the fine leak test station 60 shown in FIG.
A case is shown in which the system is configured to return to the loader and unloader position A again around the position C facing 0.

【0027】一巡してローダ及びアンローダ位置Aに戻
った下カプセル板400に格納されている被検査体は検
査が終了しており、各試験カプセル401A〜401H
毎に設けられた記憶器に試験結果が記憶されており、そ
の試験結果に従って収納部700に良品と不良品に仕分
けして収納される。図の例では収納部700に3種の収
納部701,702,703を設け、例えばグロスリー
クテストで不良と判定された被検査体、ファインリーク
テストで不良と判定された被検査体、不良判定が全くな
い良品の被検査体を仕分けして収納する構成とした場合
を示す。
The inspection of the test object stored in the lower capsule plate 400 which has returned to the loader and unloader position A has been completed, and the test capsules 401A to 401H have been inspected.
The test results are stored in the storage device provided for each of them, and are sorted into non-defective products and defective products and stored in the storage section 700 according to the test results. In the example shown in the figure, three types of storage portions 701, 702, and 703 are provided in the storage portion 700. For example, a test object determined to be defective in a gross leak test, a test object determined to be defective in a fine leak test, and a defect determination This shows a case where a non-defective inspection object having no defect is sorted and stored.

【0028】以上により、この発明による洩れ検査装置
の概要が理解できよう。次に各部の構成をこの発明の独
特の部分については詳細に説明する。部品供給手段10
0は従来からよく知られているパーツフィーダ或は振動
フィーダ等と呼ばれている装置によって構成することが
できる。収納凹部101に先にも説明したようにボンビ
ング処理した被検査体を載置する。この載置状態は一般
に山積みの状態と呼ばれるように、無作為に載置され
る。収納凹部101には例えば商用電源周波数で駆動さ
れるバイブレータにより振動が与えられる。振動が与え
られた被検査体は漸次ガイド102に取り込まれ、ガイ
ド102に沿って矢印103の方向に送られる。ガイド
102の途中に各種の関門が設けられ、例えば被検査体
に設けられている端子、或は突起等の形状に従ってその
向きが揃えられる。つまり、この種の分野ではよく知ら
れているように一定の向きに合致した被検査体だけが通
過を許され、不一致のものは関門で収納凹部101に落
とされる。
From the above, the outline of the leak inspection apparatus according to the present invention can be understood. Next, the configuration of each part will be described in detail for the unique part of the present invention. Component supply means 10
Numeral 0 can be constituted by a device which is conventionally known as a parts feeder or a vibration feeder. The test object subjected to the bombing process as described above is placed in the storage recess 101. This mounting state is randomly placed as generally called a piled state. Vibration is applied to the storage recess 101 by, for example, a vibrator driven at a commercial power frequency. The test object to which the vibration is applied is gradually taken in by the guide 102 and is sent along the guide 102 in the direction of the arrow 103. Various barriers are provided in the middle of the guide 102, and their directions are aligned according to, for example, the shape of a terminal or a projection provided on the test object. In other words, as is well known in this type of field, only test objects that match a certain direction are allowed to pass, and those that do not match are dropped into the storage recess 101 at the gate.

【0029】部品供給手段100の終端部分にはエスケ
ープ機構104が設けられる。エスケープ機構とはガイ
ド102に沿って整列された被検査体Wを1個ずつ分離
して次のステージに送り出す機構を指す。エスケープ機
構104には各種の構造のものが考えられているが、一
般的には次のステージを移動させる間、ガイド102の
最先端に位置する被検査体Wを抑え付けてその位置に静
止させておく動作を行なう。図の例では部品供給手段1
00の排出口に空の格納部201が対向した状態で、最
先端の被検査体Wを抑え付けている状態を解放し、被検
査体Wの列を整列手段200に向って流し込む。最先端
の被検査体Wが整列手段200の格納部201に格納さ
れた状態で次に排出口に到来した被検査体Wを抑え付け
る。被検査体Wを抑え付けた状態で整列手段200は次
の格納部201を部品供給手段100の部品排出口に対
向するように移動する。この繰返しで整列手段200の
各格納部201に被検査体Wを格納する。
An escape mechanism 104 is provided at the end of the component supply means 100. The escape mechanism refers to a mechanism that separates the inspection objects W aligned along the guide 102 one by one and sends out the inspection objects W to the next stage. Various structures are conceivable for the escape mechanism 104. In general, while moving the next stage, the test object W positioned at the forefront of the guide 102 is held down and stopped at that position. Perform the operation to save. In the example of FIG.
With the empty storage unit 201 facing the discharge port of 00, the state of holding down the foremost inspection object W is released, and the rows of the inspection object W are poured toward the alignment means 200. In a state where the leading-edge inspection object W is stored in the storage unit 201 of the alignment unit 200, the inspection object W that has arrived at the next outlet is suppressed. The alignment unit 200 moves the next storage unit 201 so as to face the component outlet of the component supply unit 100 with the inspection object W held down. By repeating this, the inspection object W is stored in each storage unit 201 of the alignment unit 200.

【0030】ここで整列手段200の各格納部201の
奥行(被検査体Wが流れ込む方向の寸法)は被検査体W
の1個分の寸法に選定されている。従って1個の被検査
体Wが各格納部201に格納された状態では次の被検査
体Wの先端は丁度整列手段200の格納部201の入口
の開口端部分と一致していると見ることができる。従っ
て整列手段200をその状態のままX軸方向に移動させ
てもよいが、この実施例では整列手段200を一旦Y軸
方向にわずかに後退させ、Y軸方向に移動させた状態で
X軸方向に移動させるように構成した場合を示す。
Here, the depth of each storage section 201 of the aligning means 200 (the dimension in the direction in which the test object W flows) is
The size of one piece is selected. Therefore, when one inspection object W is stored in each storage unit 201, it can be seen that the tip of the next inspection object W exactly matches the opening end of the entrance of the storage unit 201 of the alignment unit 200. Can be. Therefore, the alignment means 200 may be moved in the X-axis direction in that state, but in this embodiment, the alignment means 200 is slightly retracted once in the Y-axis direction, and is moved in the Y-axis direction in the X-axis direction. Here, a case is shown in which it is configured to be moved to.

【0031】その理由は以下の如くである。被検査体W
が例えばセラミック製のパッケージに水晶振動子を収納
した製品であったとする。セラミック製のパッケージは
成形時に周囲にバリ等が突出して形成される場合が多
い。このため、部品供給手段100から整列手段200
の格納部201に送り込まれた被検査体Wの相互はバリ
等で結合し合っていることがある。この結果、被検査体
Wの相互がバリ等で結合している状態のまま、整列手段
200をX軸方向に移動させると、被検査体Wの相互が
噛り合い、破損させてしまうおそれがある。このため
に、この実施例では整列手段200をY軸方向に移動さ
せ、被検査体Wの相互を引き離した状態でX軸方向に移
動させるように構成したものである。X軸方向への移動
は例えばパルスモータ202と、このパルスモータ20
2で回転駆動されるスクリューシャフト203とによっ
て実行することができる。スクリューシャフト203に
は可動台204が螺合して配置され、この可動台204
に整列手段200がY軸方向に可動できるように支持さ
れる。整列手段200をY軸方向に移動させる手段とし
ては例えば可動台204に搭載したエアシリンダ205
によって移動させる。従って整列手段200の移動とし
てはY1−X1−Y2−Y3−X2−Y4−Y5・・・
の順に櫛歯状に移動する。
The reason is as follows. Inspection object W
Is a product in which a quartz oscillator is housed in a ceramic package, for example. In many cases, a ceramic package is formed such that burrs or the like protrude around during molding. For this reason, from the component supply means 100 to the alignment means 200
The inspection objects W sent into the storage unit 201 may be connected to each other by burrs or the like. As a result, when the aligning means 200 is moved in the X-axis direction while the inspected objects W are connected to each other by burrs or the like, the inspected objects W may be engaged with each other and may be damaged. is there. For this purpose, in this embodiment, the aligning means 200 is moved in the Y-axis direction, and is moved in the X-axis direction with the inspected objects W separated from each other. The movement in the X-axis direction is performed by, for example, the pulse motor 202 and the pulse motor 20.
2 and a screw shaft 203 driven to rotate. A movable base 204 is screwed and arranged on the screw shaft 203.
The alignment means 200 is supported so as to be movable in the Y-axis direction. As means for moving the aligning means 200 in the Y-axis direction, for example, an air cylinder 205 mounted on a movable base 204
Move by. Therefore, as the movement of the alignment means 200, Y1-X1-Y2-Y3-X2-Y4-Y5.
In the order of.

【0032】整列手段200は長方形状の金属ブロック
によって形成され、その一方の長辺に沿って格納部20
1が形成される。格納部201は被検査体Wの形状より
わずかに大きい程度の形状の凹溝によって構成され、そ
の凹溝に被検査体Wを流し込んで被検査体Wを格納す
る。整列手段200の各格納部201には図3に拡大し
て示すように、格納部201に格納した被検査体Wを一
方向に抑え付け、格納位置を規定する規制手段206が
設けられる。この規制手段206は各格納部201毎に
設けたレバー206Aと、このレバー206Aにピン2
06Bが係合する摺動レバー206Cと、この摺動レバ
ー206Cを駆動する例えばエアシリンダ206Dと、
各レバー206Aを図の例では反時計方向に回動偏倚さ
せるバネ206Eとによって構成することができる。何
れかの格納部201に被検査体Wを格納する状態ではエ
アシリンダ206Dを吸引動作させ、各レバー206A
をバネ206Eの偏倚力に抗して時計廻り方向に回動さ
せる。被検査体Wが格納部201に格納された状態でエ
アシリンダ206Dは吸引力を解除し、摺動レバー20
6Cを元に戻す。このときレバー206Aが反時計方向
に回動し、レバー206Aによって被検査体Wを格納部
201を構成する凹溝の一方の内壁に抑え付ける。従っ
て各格納部201に格納された被検査体Wは、各格納部
201の一方の内壁に抑え付けられた位置に規制され、
格納位置が揃えられる。これと共に整列手段200がY
軸方向に移動するとき、被検査体Wがバリ同士で結合し
ていても、格納部201に格納した被検査体Wはレバー
206Aで抑え付けられているから、この被検査体Wが
部品供給手段100の排出口側の被検査体に係合したま
ま格納部201から抜け出てしまうことも防止すること
ができる。
The aligning means 200 is formed by a rectangular metal block, and the storage unit 20 is formed along one long side thereof.
1 is formed. The storage unit 201 is formed by a groove having a shape slightly larger than the shape of the inspection object W, and stores the inspection object W by pouring the inspection object W into the groove. As shown in FIG. 3 in an enlarged manner in each storage section 201 of the aligning means 200, a regulating means 206 for holding down the inspection object W stored in the storage section 201 in one direction and defining a storage position is provided. The restricting means 206 includes a lever 206A provided for each storage unit 201 and a pin 2 attached to the lever 206A.
A sliding lever 206C engaged with the second lever 06B, for example, an air cylinder 206D for driving the sliding lever 206C,
In the example shown in the figure, each lever 206A can be constituted by a spring 206E which is biased to rotate counterclockwise. In a state where the inspection object W is stored in any one of the storage units 201, the air cylinder 206D is operated to perform suction operation, and
Is rotated clockwise against the biasing force of the spring 206E. With the test object W stored in the storage section 201, the air cylinder 206D releases the suction force, and the sliding lever 20
Replace 6C. At this time, the lever 206A rotates counterclockwise, and the test object W is pressed against one inner wall of the concave groove forming the storage unit 201 by the lever 206A. Therefore, the inspection object W stored in each storage unit 201 is restricted to a position where it is held down on one inner wall of each storage unit 201,
The storage positions are aligned. At the same time, the alignment means 200 becomes Y
When the test object W is moved in the axial direction, even if the test object W is connected by burrs, the test object W stored in the storage unit 201 is held down by the lever 206A. It is possible to prevent the device 100 from coming out of the storage unit 201 while being engaged with the inspection object on the discharge port side.

【0033】整列手段200の各格納部201の全てに
被検査体Wが格納されると、整列手段200は図1に点
線で示す位置に停止する。この停止位置で各格納部20
1の上部には図2に示した空中搬送手段800の各吸着
ヘッド801A〜801Hが配置される。吸着ヘッド8
01A〜801Hはそれぞれ例えばゴムによって吸盤形
状に形成されて構成され、吸盤の中心部分にホース80
2が連通され、このホース802が吸引ポンプに接続さ
れて空気を吸引する。吸着ヘッド801A〜801Hは
それぞれエアシリンダ803によって上下に移動され
る。下向に移動させることにより、整列手段200に格
納されている被検査体Wに吸着ヘッド801A〜801
Hを接触させ、被検査体Wを吸着ヘッド801A〜80
1Hのそれぞれに吸着させる。804はホース802と
各吸着ヘッド801A〜801Hの間に挿入した電磁弁
を示す。この電磁弁804を開閉制御することにより、
吸着ヘッド801A〜801Hは吸着力を発生する状態
と、吸着力を解く状態とに切替られる。
When the test object W is stored in all the storage sections 201 of the alignment means 200, the alignment means 200 stops at the position shown by the dotted line in FIG. At this stop position, each storage unit 20
The suction heads 801A to 801H of the air transport means 800 shown in FIG. Suction head 8
01A to 801H are each formed in a suction cup shape by, for example, rubber, and a hose 80 is provided at the center of the suction cup.
The hose 802 is connected to a suction pump and sucks air. The suction heads 801A to 801H are moved up and down by an air cylinder 803, respectively. By moving the inspection object W stored in the alignment means 200 downward, the suction heads 801A to 801A are moved downward.
H is brought into contact with the test object W and the suction heads 801A-801
Adsorb to each of 1H. Reference numeral 804 denotes a solenoid valve inserted between the hose 802 and each of the suction heads 801A to 801H. By controlling the opening and closing of this solenoid valve 804,
The suction heads 801A to 801H are switched between a state in which suction power is generated and a state in which suction power is released.

【0034】空中搬送手段800の各吸着ヘッド801
A〜801Hに被検査体Wを吸着した状態でシリンダ8
03は吸着ヘッド801A〜801Hを上方に移動さ
せ、被検査体Wを空間に吊り上げた状態で空中搬送手段
800は全体が図1に示したX軸方向に移動し、無終端
搬送手段300に搭載されている下カプセル板400の
上部に移動する。
Each suction head 801 of the air transport means 800
A to 801H, the inspection object W is attracted to the cylinder 8
03, the suction heads 801A to 801H are moved upward, and the aerial conveyance means 800 is entirely moved in the X-axis direction shown in FIG. It moves to the upper part of the lower capsule plate 400 that has been set.

【0035】下カプセル板400にはこの例では8個の
試験カプセル401A〜401Hが形成され、この検査
カプセル401A〜401Hに空中搬送手段800で搬
送して来た被検査体Wを落し込む。下カプセル板400
には検査カプセル401A〜401Hに隣接してマスタ
カプセル402A〜402Hが形成される。マスタカプ
セル402A〜402Hには予め検査され、洩れ無しと
判定されたマスタM(被検査体Wと同じ部品)を挿入し
ておく。
In this example, eight test capsules 401A to 401H are formed on the lower capsule plate 400, and the test object W conveyed by the air conveying means 800 is dropped into the test capsules 401A to 401H. Lower capsule plate 400
, Master capsules 402A to 402H are formed adjacent to the inspection capsules 401A to 401H. A master M (the same component as the object to be inspected W), which has been inspected in advance and determined not to leak, is inserted into the master capsules 402A to 402H.

【0036】検査カプセル401A〜401Hとマスタ
カプセル402A〜402Hの詳細構造を図4に示す。
長方形状の金属板に2列に8個の円形の穴を形成し、各
穴を一方の列を検査カプセル401A〜401Hとして
使用し、他方の列をマスタカプセル402A〜402H
として使用する。尚、この例では各検査カプセル401
A〜401Hと、マスタカプセル402A〜402Hの
各周縁にリング状の溝を形成し、この溝にオーリング4
03を装着すると共に、オーリング403を下カプセル
板400の板面より一部を突出して装着し、この突出部
分を上カプセル板に圧接して検査カプセル401A〜4
01H及びマスタカプセル402A〜402Hが気密状
態に閉塞するように構成した場合を示す。
FIG. 4 shows the detailed structure of the inspection capsules 401A to 401H and the master capsules 402A to 402H.
Eight circular holes are formed in two rows in a rectangular metal plate, and one row is used as inspection capsules 401A to 401H, and the other row is used as master capsules 402A to 402H.
Use as In this example, each inspection capsule 401
A-401H and master capsules 402A-402H are each formed with a ring-shaped groove on the periphery thereof.
03, and the O-ring 403 is mounted with a part protruding from the plate surface of the lower capsule plate 400, and this protruding portion is pressed against the upper capsule plate to press the test capsules 401A to 401A-4.
01H and master capsules 402A to 402H are configured to be closed in an airtight state.

【0037】下カプセル板400は無終端搬送手段30
0に対して上下方向に移動自在に支持される。グロスリ
ークテストステーション500とファインリークテスト
ステーション600の位置には下カプセル板400を上
方に移動させる昇降装置が設けられる。図5及び図6に
その昇降装置の一例を示す。上カプセル板450は各グ
ロスリークテストステーション500及びファインリー
クテストステーション600の各位置において図5及び
図6に示すフレーム451によって無終端搬送手段30
0の上部に突出して配置される。つまり、下カプセル板
400が停止する位置毎に設けられる。下カプセル板4
00の装着位置の中央部分には無終端搬送手段300を
貫通する孔301が設けられる。この孔301を通じて
昇降手段を構成するロッド452が上向に突き上げら
れ、ロッド452によって下カプセル板400が上向に
押し上げられ、上カプセル板450に圧接される。
The lower capsule plate 400 is provided with the endless transport means 30.
It is supported movably up and down with respect to 0. At the positions of the gross leak test station 500 and the fine leak test station 600, an elevating device for moving the lower capsule plate 400 upward is provided. 5 and 6 show an example of the lifting device. The upper capsule plate 450 is moved by the frame 451 shown in FIGS. 5 and 6 at each position of the gross leak test station 500 and the fine leak test station 600.
It is arranged so as to protrude from the top of the zero. That is, it is provided for each position where the lower capsule plate 400 stops. Lower capsule plate 4
A hole 301 that penetrates the endless transport means 300 is provided at the center of the mounting position of 00. The rod 452 constituting the lifting means is pushed upward through the hole 301, and the lower capsule plate 400 is pushed upward by the rod 452, and is pressed against the upper capsule plate 450.

【0038】ロッド452は図6に示すエアシリンダ4
53の突出駆動力をリンク454で方向転換して駆動さ
れる。455は下カプセル板400が例えば上昇位置に
あることを検出するためのスイッチを示す。また図5に
示す404は下カプセル板400に下向の偏倚力を与え
るバネを示す。従ってロッド452が下降すると、下カ
プセル板400はこのバネ404の偏倚力によって元の
下降位置に戻される。また図6に示す305は無終端搬
送手段300を120度角ずつ回転駆動させるインデッ
クス式の回転駆動装置を示す。
The rod 452 is connected to the air cylinder 4 shown in FIG.
The driving force of the projection 53 is changed by the link 454 and driven. Reference numeral 455 denotes a switch for detecting that the lower capsule plate 400 is at the raised position, for example. Reference numeral 404 shown in FIG. 5 denotes a spring that applies a downward biasing force to the lower capsule plate 400. Accordingly, when the rod 452 is lowered, the lower capsule plate 400 is returned to the original lowered position by the biasing force of the spring 404. In addition, reference numeral 305 shown in FIG. 6 denotes an index-type rotary driving device for driving the endless transporting means 300 to rotate by 120 degrees.

【0039】上カプセル板450には下カプセル板40
0に形成した検査カプセル401A〜401H及びマス
タカプセル402A〜402Hと対向して給入・排気ポ
ート456が装着される。この給入・排気ポート456
にパイプ457が接続され、グロスリークテストステー
ション500にあってはパイプ457はそれぞれ各1台
のエアリークテスタに接続される。ファインリークテス
トステーション600にあってはそれぞれ電磁弁を通じ
て1台のヘリウムリークディテクタに接続される。
The upper capsule plate 450 has the lower capsule plate 40
A supply / exhaust port 456 is mounted so as to face the inspection capsules 401A to 401H and the master capsules 402A to 402H formed at zero. This supply / exhaust port 456
The pipe 457 is connected to one air leak tester in the gross leak test station 500. In the fine leak test station 600, each is connected to one helium leak detector through an electromagnetic valve.

【0040】図7にグロスリークテストステーション5
00とファインリークテストステーション600の各空
圧回路と電気系の構成を示す。グロスリークテストステ
ーション500には図10で説明したエアリークテスタ
が8台ART1〜ART8が設けられる。これら8台の
エアリークテスタART1〜ART8は図10で説明し
たと同様に検査カプセル401A(その他の検査カプセ
ルも同様)とマスタカプセル402A(その他のマスタ
カプセルも同様)にパイプ457を通じて空圧源1から
空気圧を印加し、バルブV2とV3を閉じた状態で可変
容積タンクVT1とVT2の容積を変化させ、検査カプ
セル401Aとマスタカプセル402Aに圧力変化を与
える一例を示す。
FIG. 7 shows a gross leak test station 5
00 and the configuration of each pneumatic circuit and electrical system of the fine leak test station 600. The gross leak test station 500 is provided with eight air leak testers ART1 to ART8 described with reference to FIG. These eight air leak testers ART1 to ART8 are supplied from the pneumatic source 1 to the inspection capsule 401A (similar to other inspection capsules) and the master capsule 402A (similar to other master capsules) through the pipe 457 as described in FIG. An example in which air pressure is applied to change the volumes of the variable volume tanks VT1 and VT2 in a state in which the valves V2 and V3 are closed to apply pressure changes to the inspection capsule 401A and the master capsule 402A.

【0041】尚、図7ではバルブV2とV3は空圧制御
型のバルブを用いた場合を示し、バルブV7を例えば開
に制御してバルブV2とV3を閉の状態に制御するよう
に構成した場合を示す。この圧力変化を与えた状態で差
圧検出器DPS1が差圧を検出するか否かによって洩れ
の有無を判定する。501A〜501Hは各エアリーク
テスタART1〜ART8に設けた差圧検出器DPS1
の検出信号を増幅し、その増幅出力と基準値とを比較
し、洩れの有無を判定する判定装置を示す。各エアリー
クテスタART1〜ART8に設けた判定装置501A
〜501Hの判定結果はマルチプレクサ502で1つず
つ選択されて制御器PCに取り込まれる。制御器PCは
例えばパーソナルコンピュータによって構成することが
でき、各エアリークテスタART1〜ART8の電磁弁
V1,V2,V3,V6,V7の開閉制御と、各判定装
置501A〜501Hの判定結果の取り込みを実行す
る。制御器PCには各エアリークテスタART1〜AR
T8毎にと、また、無終端搬送手段300に搭載した3
個の下カプセル板400の別に記憶器が設けられ、この
記憶器に良否の判定結果を記憶する。従ってグロスリー
クテストステーション500で検査した各被検査体Wは
ファインリークテストステーション600に送られた状
態でどの検査カプセルに収納されている被検査体Wがグ
ロスリークテストで「洩れ有り」と判定されたかが認識
できる。
FIG. 7 shows a case in which the valves V2 and V3 are pneumatic valves, and the valve V7 is controlled to be open, for example, and the valves V2 and V3 are controlled to be closed. Show the case. In the state where the pressure change is given, whether or not there is a leak is determined based on whether or not the differential pressure detector DPS1 detects the differential pressure. 501A to 501H are differential pressure detectors DPS1 provided in each of the air leak testers ART1 to ART8.
Amplifying the detection signal, comparing the amplified output with a reference value, and judging the presence or absence of leakage. Judging device 501A provided in each of air leak testers ART1 to ART8
The determination results of .about.501H are selected one by one by the multiplexer 502 and taken into the controller PC. The controller PC can be constituted by, for example, a personal computer, and performs opening / closing control of the solenoid valves V1, V2, V3, V6, and V7 of each of the air leak testers ART1 to ART8, and capture of the determination results of each of the determination devices 501A to 501H. I do. The air leak testers ART1 to AR are provided in the controller PC.
At each T8, and at 3
A storage device is provided separately for each of the lower capsule plates 400, and the pass / fail determination result is stored in this storage device. Accordingly, each test object W inspected at the gross leak test station 500 is sent to the fine leak test station 600, and the test object W stored in any test capsule is determined to be "leakage" in the gross leak test. You can recognize it.

【0042】ファインリークテストステーション600
では各検査カプセル401A〜401Hは電磁弁601
A〜601Hを通じてヘリウムリークディテクタHEL
Tに接続される。ヘリウムリークディテクタHELTは
吸引手段を内蔵し、検査カプセル401A〜401Hか
ら空気を吸引する。但し、グロスリークテストステーシ
ョン500において「洩れ有り」と判定された検査カプ
セルに関しては電磁弁601A〜601Hが閉の状態に
制御されて検査から除外される。
Fine leak test station 600
Then, each of the inspection capsules 401A to 401H is a solenoid valve 601.
Helium leak detector HEL through A-601H
Connected to T. The helium leak detector HELT has a built-in suction unit, and sucks air from the test capsules 401A to 401H. However, the inspection capsules determined to have “leakage” in the gross leak test station 500 are excluded from the inspection by controlling the solenoid valves 601A to 601H to be in a closed state.

【0043】ヘリウムリークディテクタHELTにおい
て、ヘリウムガスが検出されなければ検査した全ての被
検査体Wは良品と判定する。ヘリウムガスが検出された
場合は、そのとき検査した被検査体Wの中に微小な洩れ
が存在するものが存在していると判定する。この場合、
一つの方法として、電磁弁601A〜601Hの開に制
御されている電磁弁を順次閉の状態に制御し、閉の状態
に制御した時点でヘリウムの検出が無になればそのとき
閉じた弁に相当する被検査体が「ファインリーク有り」
と判定し、洩れの有る被検査体を特定することもでき
る。また他の方法としてそのとき検査対象となっている
被検査体Wを全て「ファインリーク有り」と判定し、再
度ボンビング処理して再検査するように処理することも
できる。
In the helium leak detector HELT, if no helium gas is detected, all the inspected test objects W are determined to be non-defective. When the helium gas is detected, it is determined that the inspection object W inspected at that time has a minute leak. in this case,
As one method, the solenoid valves that are controlled to open the solenoid valves 601A to 601H are sequentially controlled to be in a closed state, and when the detection of helium is lost at the time when the solenoid valves are controlled to be in a closed state, the valve is closed at that time. Corresponding test object has "fine leak"
It is also possible to determine the leaked test object. As another method, it is also possible to determine that all of the test objects W to be inspected at that time are "fine leaked", perform a bombing process again, and perform an inspection again.

【0044】グロスリークテスト及びファインリークテ
ストを終了した被検査体Wは下カプセル板400に乗せ
られた状態で図1に示すローダ及びアンローダ位置Aに
戻される。ローダ及びアンローダ位置Aに戻された被検
査体Wは再び図2に示した空中搬送手段800に吸着さ
れ収納部700に配送される。収納部700には「グロ
スリーク有り」を収納する収納部701と、「ファイン
リーク有り」を収納する収納部702と、「良品」を収
納する収納部703とが設けられる。これらの各収納部
701,702,703に仕分けして収納する。
The test object W which has completed the gross leak test and the fine leak test is returned to the loader and unloader position A shown in FIG. 1 while being placed on the lower capsule plate 400. The inspection object W returned to the loader and unloader position A is sucked again by the air transport means 800 shown in FIG. The storage section 700 is provided with a storage section 701 for storing "gross leak", a storage section 702 for storing "fine leak", and a storage section 703 for storing "good". Each of these storage sections 701, 702, 703 is sorted and stored.

【0045】これらの各収納部701〜703に空中搬
送手段800から仕分けして被検査体Wを収納する方法
としては収納部700を空中搬送手段800の各吸着ヘ
ッド801A〜801Hをその配列方向と直交する方向
(Y軸方向)に移動自在に装着し、空中搬送手段800
を各収納部701〜703の上部に移動させた状態で収
納部700をY軸方向に移動させ、目的とする収納部7
01,702又は703を空中搬送手段800の下部に
順次位置させ、各位置で各検査結果に従って被検査体W
を落し込む方法と、空中搬送手段800の全体をY軸方
向に移動させ、被検査体Wを仕分けして各収納部701
〜703に落し込む方法と、或は空中搬送手段800の
各吸着ヘッド801A〜801Hを別々にY軸方向に移
動できるように支持し、各吸着ヘッド801A〜801
Hを移動させて被検査体Wを仕分けして各収納部701
〜703に落し込む方法とが考えられる。
As a method of sorting the inspection objects W into the respective storage sections 701 to 703 from the aerial transport means 800, the storage section 700 is arranged such that the suction heads 801A to 801H of the aerial transport means 800 are arranged in the arrangement direction. Attached movably in the orthogonal direction (Y-axis direction),
Is moved to the upper part of each of the storage units 701 to 703, the storage unit 700 is moved in the Y-axis direction, and the desired storage unit 7 is moved.
01, 702 or 703 are sequentially positioned below the aerial transport means 800, and the inspected object W is positioned at each position in accordance with each inspection result.
And the whole of the aerial transport means 800 is moved in the Y-axis direction to sort the inspection object W and
To 703, or by supporting the suction heads 801A to 801H of the aerial transport means 800 so that they can be moved separately in the Y-axis direction.
H is moved to sort the inspection object W, and
To 703.

【0046】以上説明した実施例ではエアリークテスタ
はその加圧気体として空気を利用した本来のエアリーク
テスタとして動作させた場合を説明したが、この発明の
第2の洩れ検査方法では加圧気体をヘリウムガスとし、
グロスリークテスト中にヘリウムガスを被検査体Wに対
して再ボンビングする洩れ検査方法を提案するものであ
る。
In the above-described embodiment, the case where the air leak tester is operated as an original air leak tester using air as the pressurized gas has been described. However, in the second leak inspection method of the present invention, the pressurized gas is changed to helium. Gas and
The present invention proposes a leak inspection method in which helium gas is re-bombed on the inspection object W during a gross leak test.

【0047】このためには、例えば図7に示した空圧源
1を図8に示すようにヘリウムガス源11に交換し、ヘ
リウムガスを加圧して検査カプセル401Aとマスタカ
プセル402Aに与えるようにすればよい。但し、この
場合、電磁弁V6とV7を図8に示すように3方電磁弁
に交換し、これらの排気口と3方電磁弁V1の排気口を
回収装置12に接続し、グロスリークテストの終了時点
で各3方電磁弁V1とV6,V7を通じてヘリウムガス
を回収装置12に回収するように構成することができ
る。
For this purpose, for example, the pneumatic source 1 shown in FIG. 7 is replaced with a helium gas source 11 as shown in FIG. 8, and helium gas is pressurized and supplied to the test capsule 401A and the master capsule 402A. do it. However, in this case, the solenoid valves V6 and V7 are replaced with three-way solenoid valves as shown in FIG. 8, and these exhaust ports and the exhaust port of the three-way solenoid valve V1 are connected to the recovery device 12, and the gross leak test is performed. At the end point, the helium gas can be recovered to the recovery device 12 through the three-way solenoid valves V1, V6, and V7.

【0048】また下カプセル板400に形成するオーリ
ング403を格納する凹溝を図9に示すように、オーリ
ング403の内側に間隙Gが形成されるように構成し、
オーリング403と凹溝の間に圧入されるヘリウムガス
を下カプセル板400の上面を開放した時に速やかに逃
がし、ヘリウムガスが残留しないように構成するか、又
はオーリング403を上カプセル板450(図5、図6
参照)に装着し、オーリング403の部分にヘリウムガ
スが残留したままファインリークテストステーション6
00に運ばれることを阻止するように構成することが考
えられる。
Further, the groove for storing the O-ring 403 formed in the lower capsule plate 400 is formed so that a gap G is formed inside the O-ring 403 as shown in FIG.
The helium gas press-fitted between the O-ring 403 and the groove is quickly released when the upper surface of the lower capsule plate 400 is opened, so that the helium gas does not remain, or the O-ring 403 is connected to the upper capsule plate 450 ( 5 and 6
Reference leak test station 6 with helium gas remaining in the O-ring 403 area.
It is conceivable to configure so as to prevent being carried to 00.

【0049】エアリークテスタにおける加圧気体源をヘ
リウムガス源11に交換しても、グロスリークテストは
空気圧の場合と何等変わることなく、正常に行なわれ
る。更にグロスリークテスト時に洩れ量が大きい被検査
体Wに対してはヘリウムガスを再ボンビングすることが
できる。従って洩れ量が大きい被検査体Wに予めボンビ
ングしたヘリウムガスが洩れてしまっていても、その被
検査体Wに対してヘリウムガスを再ボンビングすること
ができ、次に行なわれるファインリークテストで洩れ有
りと判定させることができる。
Even if the pressurized gas source in the air leak tester is replaced with the helium gas source 11, the gross leak test is performed normally without any difference from the case of the air pressure. Further, helium gas can be re-bombed on the test object W having a large leak amount during the gross leak test. Therefore, even if the helium gas that has been previously bombed into the test object W having a large amount of leakage has leaked, the helium gas can be re-bombed to the test object W, and the helium gas leaks in the next fine leak test. It can be determined that there is.

【0050】尚、グロスリークテスト時に行なわれる再
ボンビングは数秒程度の極く短かい時間であるため、微
小な洩れ量の被検査体Wに対してはボンビング作用は全
くない。従ってグロスリークテスト時にボンビングを行
なうと言っても検査前のボンビング処理を省略すること
はできない。
Since the re-bombing performed in the gloss leak test is extremely short time of about several seconds, there is no bombing effect on the inspection object W having a small leak amount. Therefore, even if the bombing is performed during the gross leak test, the bombing process before the inspection cannot be omitted.

【0051】[0051]

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
部品供給手段100にボンビング処理した被検査体Wを
供給するだけで全自動でグロスリークテストとファイン
リークテストを連続して実行し、グロスリークテスト及
びファインリークテストで共に「洩れなし」と判定され
た被検査体だけを良品と判定する構成としたから、良品
と判定された被検査体は大リーク1×10-5cc/se
c以上の洩れから微小リーク1×10-8〜1×10-5
c/secまでの広い領域にわたって洩れがないものと
見ることができる。従って微小な部品であっても密封度
に関して信頼性の高い検査を行なうことができる。また
全自動化したから2種類の検査を人手を掛けることなく
実現することができる利点が得られる。
As described above, according to the present invention, the gross leak test and the fine leak test are automatically and continuously executed only by supplying the inspection object W subjected to the bombing process to the component supply means 100. Only the test object determined as “no leakage” in both the gross leak test and the fine leak test is determined to be non-defective, so that the test object determined to be non-defective is a large leak of 1 × 10 −5 cc / sec.
Small leak from leak of c or more 1 × 10 -8 to 1 × 10 -5 c
It can be seen that there is no leakage over a wide area up to c / sec. Therefore, a highly reliable inspection can be performed on the degree of sealing even for a minute component. In addition, since it is fully automated, there is an advantage that two types of inspections can be realized without human intervention.

【0052】更に、この発明では洩れ有りの被検査体W
に対してヘリウムガスをボンビング処理して空隔内にガ
スを吸引させ、そのボンビング処理した被検査体をグロ
スリークテストにより大リーク有りを検出し、大リーク
有りと判定した被検査体はファインリークテストステー
ション600では検査対象としない検査方法を採ったか
ら、ファインリークテストにおいてヘリウムリークディ
テクタHELTは多量のヘリウムガスを吸引することを
阻止することができる。
Further, in the present invention, the inspection object W
Helium gas is blown into the air gap to allow the gas to be sucked into the space, and the bomb-treated test object is detected as having a large leak by a gross leak test. Since the test station 600 adopts an inspection method not to be inspected, the helium leak detector HELT can prevent a large amount of helium gas from being sucked in the fine leak test.

【0053】この結果、ヘリウムリークディテクタHE
LTに多量のヘリウムガスを吸引してしまって検査を一
時中断し、ヘリウムガスをヘリウムリークディテクタH
ELTから排気する等の処理をしなければならない状況
が発生するおそれはなく、検査を効率よく実施すること
ができる利点も得られる。また、この発明の請求項7で
提案した第2の洩れ検査方法によればエアリークテスト
時に加圧気体としてヘリウムガスを用いたから、被検査
体に対してボンビング処理した後に、洩れ量が大きい
(エアリークテスタの検査範囲より小さく、ヘリウムリ
ークディテクタの検査範囲より大きい洩れ量)ためにヘ
リウムガスが抜けてしまった被検査体が存在しても、そ
の被検査体に対してヘリウムガスを再ボンビングするこ
とができる。
As a result, the helium leak detector HE
A large amount of helium gas is sucked into the LT, the inspection is temporarily suspended, and the helium gas is discharged to the helium leak detector H.
There is no possibility that a situation in which a process such as exhausting from the ELT must be performed occurs, and an advantage that the inspection can be performed efficiently can be obtained. According to the second leak inspection method proposed in claim 7 of the present invention, helium gas is used as the pressurized gas during the air leak test. Rebombing helium gas to the test object even if there is a test object from which helium gas has escaped due to the leak amount smaller than the test range of the leak tester and larger than the test range of the helium leak detector) Can be.

【0054】従って、この第2の洩れ検査方法を用いる
ことにより、洩れ量がヘリウムリークディテクタの検査
範囲より大きいためにファインリークテストを行なうま
でにヘリウムガスが抜けてしまっても、エアリークテス
タによるグロスリークテスト時にヘリウムガスが再ボン
ビングされるから、グロスリークテスト時に洩れ量がグ
ロスリークテストの検査範囲より小さいために「洩れな
し」と判定され、更にファインリークテスト時にヘリウ
ムガスが抜けてしまってファインリークテストでも「洩
れなし」と判定してしまう事故を防止できる利点が得ら
れる。
Therefore, by using this second leak inspection method, even if helium gas escapes before the fine leak test is performed because the leak amount is larger than the inspection range of the helium leak detector, the gross by the air leak tester is used. Since helium gas is re-bombed during the leak test, the leakage is determined to be “no leakage” during the gross leak test because it is smaller than the inspection range of the gross leak test. The advantage is obtained that an accident in which a leak test is determined to be “no leakage” can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明による第1の洩れ検査方法によって洩
れ検査を実施する洩れ検査装置の一実施例を説明するた
めの略線的な平面図。
FIG. 1 is a schematic plan view for explaining one embodiment of a leakage inspection device that performs a leakage inspection by a first leakage inspection method according to the present invention.

【図2】図1に示した洩れ検査装置に用いる空中搬送手
段の一例を説明するための正面図。
FIG. 2 is a front view for explaining an example of an aerial transport means used in the leak inspection apparatus shown in FIG.

【図3】図1に示した洩れ検査装置に用いる整列手段の
一例を説明するための拡大平面図。
FIG. 3 is an enlarged plan view for explaining an example of an alignment means used in the leak inspection apparatus shown in FIG.

【図4】図1に示した洩れ検査装置に用いる下カプセル
板の構造を説明するための拡大断面図。
FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view for explaining the structure of a lower capsule plate used in the leakage inspection device shown in FIG.

【図5】図1に示した洩れ検査装置に用いる各テストス
テーションに設けた昇降装置の一例を説明するための正
面図。
FIG. 5 is a front view for explaining an example of an elevating device provided in each test station used in the leak inspection device shown in FIG.

【図6】図5の側面図。FIG. 6 is a side view of FIG. 5;

【図7】図1に示した洩れ検査装置の空気圧回路と電気
系の構成を説明するための系統図。
FIG. 7 is a system diagram for explaining a configuration of a pneumatic circuit and an electric system of the leakage inspection device shown in FIG. 1;

【図8】この発明の請求項7で提案する第2の洩れ検査
方法を説明するための系統図。
FIG. 8 is a system diagram for explaining a second leak inspection method proposed in claim 7 of the present invention.

【図9】図8に示した第2の検査方法に用いる下カプセ
ル板の構造を説明するための拡大断面図。
FIG. 9 is an enlarged sectional view for explaining the structure of a lower capsule plate used in the second inspection method shown in FIG. 8;

【図10】従来のエアリークテスタの例を説明するため
の図。
FIG. 10 is a diagram illustrating an example of a conventional air leak tester.

【図11】従来のエアリークテスタの他の例を説明する
ための図。
FIG. 11 is a view for explaining another example of the conventional air leak tester.

【図12】微小空隙内容積の洩れを検査することができ
るエアリークテスタの例を説明するための図。
FIG. 12 is a view for explaining an example of an air leak tester capable of inspecting leakage of the volume in a minute gap.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 空圧源 11 ヘリウムガス源 100 部品供給手段 200 整列手段 300 無終端搬送手段 400 下カプセル板 500 グロスリークテストステーション 600 ファインリークテストステーション 700 収納部 800 空中搬送手段 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Pneumatic pressure source 11 Helium gas source 100 Component supply means 200 Alignment means 300 Endless transport means 400 Lower capsule plate 500 Gross leak test station 600 Fine leak test station 700 Storage section 800 Air transport means

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ヘリウムガスをボンビング処理した被検
査体をエアリークテスタによってグロスリークテストを
行ない、次に上記グロスリークテストにおいて洩れ無し
と判定した被検査体だけをヘリウムリークディテクタに
よってファインリークテストを行ない、双方のテストに
おいて洩れなしと判定した被検査体を良品と判定する微
小部品の洩れ検査方法。
A gross leak test is performed on the test object subjected to bombing treatment with helium gas by an air leak tester, and then a fine leak test is performed on only the test object determined to have no leakage in the gross leak test by a helium leak detector. And a method for inspecting the leakage of a micro component which determines that the test object determined to be leak-free in both tests is a non-defective product.
【請求項2】 A.混載された被検査体をガイド上に整
列させ、排出口に送り出す部品供給手段と、 B.この部品供給手段の排出口に設けられ、上記被検査
体を1個ずつ分離して排出させるエスケープ機構と、 C.このエスケープ機構によって1個ずつに分離されて
排出される被検査体を所定の姿勢で取り込む整列手段
と、 D.この整列手段に取り込んだ被検査体を取り上げて搬
送する空中搬送装置と、 E.無終端搬送手段に等間隔に複数装着され、上記空中
搬送装置によって搬送された複数の被検査体のそれぞれ
を各1個ずつ収納する検査カプセルと、この検査カプセ
ルに隣接して設けられ、洩れのない被検査体と同等の部
品を収納するマスタカプセルとを具備した下カプセル板
に、 F.上記無終端搬送手段の搬送通路の複数の位置に設け
られ、上記下カプセル板が送られて来る毎にその下カプ
セル板を上昇させる昇降装置と、 G.この昇降装置によって上昇される上記下カプセル板
と接触し上記検査カプセルを密封する上カプセル板と、 H.上記無終端搬送手段に搭載した上記下カプセル板が
被検査体を積込んだ位置から最初に対向する上記昇降装
置に設けた上記上カプセル板を貫通し、上記検査カプセ
ル及びマスタカプセルに連通したパイプと、 I.このパイプに接続したエアリークテスタと、 J.上記下カプセル板が上記無終端搬送手段によって搬
送されて2番目に対向する昇降装置に設けた上記上カプ
セル板を貫通し上記検査カプセルに連通したパイプと、 K.このパイプのそれぞれに電磁弁を介して接続したヘ
リウムリークディテクタと、 L.上記エアリークテスタとヘリウムリークディテクタ
の検査結果に従って双方の検査結果が共に洩れ無しとす
る被検査体を良品と判定して収納する収納部と、によっ
て構成したことを特徴とする洩れ検査装置。
2. A. B. component supply means for aligning the mixed test object on the guide and sending it to the discharge port; B. an escape mechanism provided at the discharge port of the component supply means for separating and discharging the inspected objects one by one; A. alignment means for taking in a predetermined posture the inspected objects which are separated and discharged one by one by the escape mechanism; B. an aerial transport device that picks up and transports the inspection object taken into the alignment means; A plurality of inspection capsules which are mounted at equal intervals on the endless transportation means and accommodate one by one each of the plurality of inspection objects transported by the aerial transportation device, and a plurality of inspection capsules are provided adjacent to the inspection capsules to prevent leakage. B. a lower capsule plate having a master capsule for storing the same parts as the inspected object, G. lifting and lowering devices that are provided at a plurality of positions in the transport path of the endless transport means and raise the lower capsule plate each time the lower capsule plate is sent; B. an upper capsule plate that contacts the lower capsule plate raised by the lifting device and seals the test capsule; A pipe that penetrates the upper capsule plate provided in the elevating device that first faces the lower capsule plate mounted on the endless transport means from the position where the test object is loaded, and communicates with the inspection capsule and the master capsule. And I. An air leak tester connected to the pipe; A pipe in which the lower capsule plate is conveyed by the endless conveying means and penetrates the upper capsule plate provided in the second opposing lifting device and communicates with the inspection capsule; A helium leak detector connected to each of the pipes via a solenoid valve; A leak inspection device, comprising: a storage unit that determines and stores a test object whose both test results have no leakage according to the test results of the air leak tester and the helium leak detector as non-defective products.
【請求項3】 請求項2記載の洩れ検査装置において、
上記整列手段は長方形状の金属板によって構成され、こ
の金属板の一方の長辺に沿って所定個の凹溝で形成され
た格納部が設けられ、この格納部に供給される被検査体
を上記凹溝の一方の側壁に抑え付け、格納位置を揃える
規制手段を設けた構造としたことを特徴とする洩れ検査
装置。
3. The leak inspection apparatus according to claim 2, wherein
The alignment means is constituted by a rectangular metal plate, and a storage portion formed by a predetermined number of concave grooves is provided along one long side of the metal plate, and an object to be inspected supplied to the storage portion is provided. A leakage inspection apparatus characterized in that the leakage inspection apparatus has a structure in which a restricting means is provided which is held down on one side wall of the concave groove and aligns the storage position.
【請求項4】 請求項3記載の洩れ検査装置において、
上記整列手段は格納部の配列方向と直交する方向と配列
方向と平行する方向とに駆動する駆動手段によって移動
し、被検査体を上記格納部に格納する毎に上記直交する
方向に移動して後に配列方向と平行する方向に移動し、
その後再び上記直交する方向に逆向に移動することを繰
返して全ての格納部に被検査体を格納することを特徴と
する洩れ検査装置。
4. The leak inspection apparatus according to claim 3,
The alignment means is moved by a driving means for driving in a direction perpendicular to the arrangement direction of the storage unit and in a direction parallel to the arrangement direction, and is moved in the orthogonal direction each time the test object is stored in the storage unit. Later move in the direction parallel to the arrangement direction,
A leak inspection apparatus characterized in that the inspection object is stored in all storage sections by repeating the reverse movement in the orthogonal direction again.
【請求項5】 請求項2記載の洩れ検査装置において、
上記無終端搬送手段は円盤形状の回転テーブルによって
構成され、この回転テーブルに等角間隔に上記下カプセ
ル板を3個装着したことを特徴とする洩れ試験装置。
5. The leak inspection apparatus according to claim 2,
A leak test apparatus, wherein the endless transport means comprises a disk-shaped rotary table, and three lower capsule plates are mounted on the rotary table at regular intervals.
【請求項6】 請求項2記載の洩れ検査装置において、
上記上カプセル板を貫通し、各検査カプセルとマスタカ
プセルに連通したパイプのそれぞれをエアリークテスタ
の1台ずつに接続したことを特徴とする洩れ検査装置。
6. The leak inspection apparatus according to claim 2, wherein
A leak inspection apparatus, wherein pipes penetrating through the upper capsule plate and communicating with each inspection capsule and the master capsule are connected to one air leak tester.
【請求項7】 ヘリウムガスをボンビング処理した被検
査体を、圧縮気体源をヘリウムガスとしたエアリークテ
スタによってグロスリークテストを行ない、次に上記グ
ロスリークテストにおいて洩れ無しと判定した被検査体
だけをヘリウムリークディテクタによってファインリー
クテストを行ない、双方のテストにおいて洩れなしと判
定した被検査体を良品と判定する微小部品の洩れ検査方
法。
7. A gross leak test is performed on the test object subjected to bombing treatment with helium gas using an air leak tester using helium gas as a compressed gas source. Then, only the test object determined to have no leakage in the gross leak test is tested. A leak test method for a micro component that performs a fine leak test with a helium leak detector and determines that the test object determined to be non-leak in both tests is non-defective.
【請求項8】 請求項2記載の洩れ検査装置において、
エアリークテスタに用いる圧縮気体をヘリウムガスとし
たことを特徴とする洩れ検査装置。
8. The leak inspection apparatus according to claim 2, wherein
A leak inspection apparatus characterized in that helium gas is used as a compressed gas for an air leak tester.
JP31354397A 1996-12-20 1997-11-14 Leak inspection device Expired - Fee Related JP3920426B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31354397A JP3920426B2 (en) 1996-12-20 1997-11-14 Leak inspection device

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8-341510 1996-12-20
JP34151096 1996-12-20
JP31354397A JP3920426B2 (en) 1996-12-20 1997-11-14 Leak inspection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10232179A true JPH10232179A (en) 1998-09-02
JP3920426B2 JP3920426B2 (en) 2007-05-30

Family

ID=26567605

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31354397A Expired - Fee Related JP3920426B2 (en) 1996-12-20 1997-11-14 Leak inspection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3920426B2 (en)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007278914A (en) * 2006-04-10 2007-10-25 Fukuda:Kk Leak test method and leak tester
WO2008038383A1 (en) * 2006-09-28 2008-04-03 Pioneer Corporation Inspection equipment and inspection method
JP2009085678A (en) * 2007-09-28 2009-04-23 Akim Kk Leakage inspection device for sensor and leakage inspection method for sensor
JP2009229267A (en) * 2008-03-24 2009-10-08 Denso Corp Air leakage inspection method and air leakage inspection device
JP2010169515A (en) * 2009-01-22 2010-08-05 Fukuda:Kk Test gas spraying system
JP2010169514A (en) * 2009-01-22 2010-08-05 Fukuda:Kk Leak test device
KR101259428B1 (en) * 2011-11-25 2013-04-30 주식회사 로보스타 Return apparutus according to testing grade of package for leak tester of piezoelectric element package
KR101308934B1 (en) * 2011-11-25 2013-09-23 주식회사 로보스타 Align, supply and return apparutus of package for leak tester of piezoelectric element package
CN107607268A (en) * 2017-10-13 2018-01-19 无锡格林司通自动化设备有限公司 A kind of battery drain detection device of the seamless sucker of band
CN107826633A (en) * 2017-11-24 2018-03-23 苏州富强科技有限公司 A kind of pull-out mechanism for air tightness detection equipment
JP2018054458A (en) * 2016-09-29 2018-04-05 株式会社フクダ Evaluation device, and evaluation method, for leaking elements
WO2022138971A1 (en) * 2020-12-25 2022-06-30 株式会社フクダ Leak test condition design method, leak test condition design device, leak testing method, and leak testing device

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4934389A (en) * 1972-07-27 1974-03-29
JPS49103482U (en) * 1972-12-26 1974-09-05
JPS6415626A (en) * 1987-07-09 1989-01-19 Sumitomo Electric Industries Testing apparatus for airtight sealing
JPH0611408A (en) * 1991-12-11 1994-01-21 Cosmo Keiki:Kk Leak inspection device
JPH06227654A (en) * 1993-02-04 1994-08-16 Toray Ind Inc Positioning device for ringlike packing
JPH07181100A (en) * 1993-12-22 1995-07-18 Hitachi Ltd Hermetic sealing test method
JPH09126940A (en) * 1995-10-30 1997-05-16 Fukuda:Kk Leakage inspection device

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4934389A (en) * 1972-07-27 1974-03-29
JPS49103482U (en) * 1972-12-26 1974-09-05
JPS6415626A (en) * 1987-07-09 1989-01-19 Sumitomo Electric Industries Testing apparatus for airtight sealing
JPH0611408A (en) * 1991-12-11 1994-01-21 Cosmo Keiki:Kk Leak inspection device
JPH06227654A (en) * 1993-02-04 1994-08-16 Toray Ind Inc Positioning device for ringlike packing
JPH07181100A (en) * 1993-12-22 1995-07-18 Hitachi Ltd Hermetic sealing test method
JPH09126940A (en) * 1995-10-30 1997-05-16 Fukuda:Kk Leakage inspection device

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007278914A (en) * 2006-04-10 2007-10-25 Fukuda:Kk Leak test method and leak tester
WO2008038383A1 (en) * 2006-09-28 2008-04-03 Pioneer Corporation Inspection equipment and inspection method
JPWO2008038383A1 (en) * 2006-09-28 2010-01-28 パイオニア株式会社 Inspection device and inspection method
JP4588788B2 (en) * 2006-09-28 2010-12-01 パイオニア株式会社 Inspection device and inspection method
JP2009085678A (en) * 2007-09-28 2009-04-23 Akim Kk Leakage inspection device for sensor and leakage inspection method for sensor
JP2009229267A (en) * 2008-03-24 2009-10-08 Denso Corp Air leakage inspection method and air leakage inspection device
JP2010169515A (en) * 2009-01-22 2010-08-05 Fukuda:Kk Test gas spraying system
JP2010169514A (en) * 2009-01-22 2010-08-05 Fukuda:Kk Leak test device
KR101259428B1 (en) * 2011-11-25 2013-04-30 주식회사 로보스타 Return apparutus according to testing grade of package for leak tester of piezoelectric element package
KR101308934B1 (en) * 2011-11-25 2013-09-23 주식회사 로보스타 Align, supply and return apparutus of package for leak tester of piezoelectric element package
JP2018054458A (en) * 2016-09-29 2018-04-05 株式会社フクダ Evaluation device, and evaluation method, for leaking elements
CN107607268A (en) * 2017-10-13 2018-01-19 无锡格林司通自动化设备有限公司 A kind of battery drain detection device of the seamless sucker of band
CN107826633A (en) * 2017-11-24 2018-03-23 苏州富强科技有限公司 A kind of pull-out mechanism for air tightness detection equipment
CN107826633B (en) * 2017-11-24 2023-09-12 苏州富强科技有限公司 Drawing mechanism for air tightness detection equipment
WO2022138971A1 (en) * 2020-12-25 2022-06-30 株式会社フクダ Leak test condition design method, leak test condition design device, leak testing method, and leak testing device
JPWO2022138971A1 (en) * 2020-12-25 2022-06-30

Also Published As

Publication number Publication date
JP3920426B2 (en) 2007-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102273782B1 (en) Apparatus for leak detection of battery cell and method for leak detection of battery cell
JP3920426B2 (en) Leak inspection device
KR101441439B1 (en) Workpiece inspection equipment
JP2007278914A (en) Leak test method and leak tester
JP2017523590A (en) High speed rotating sorter
KR102501482B1 (en) shot handling device
US6317647B1 (en) Aligner
WO2006001116A1 (en) Method and device for inspecting container
KR100538799B1 (en) System for auto inspection processing of a cellular phone
JP6531344B2 (en) Probe device
JPH0351738A (en) Engine-valve inspecting apparatus
JP4091367B2 (en) Leak inspection method
JP7274349B2 (en) airtightness tester
JPH1183662A (en) Method and device for leak test of annular work
KR101182818B1 (en) Leak testing apparatus and method
JP2000127073A (en) Parts sucker, parts transport device and parts tester
KR20200071672A (en) Inspection apparatus and inspection method
JP4409098B2 (en) Leak test system and leak test method
JP2000121481A (en) Method and apparatus for leakage test
JP2009121899A (en) Leak test system
CN113120596B (en) Material transfer state detection system and method
KR100890105B1 (en) Leak test apparatus
JPH06236910A (en) Inspection device
US6769289B2 (en) Method of testing vacuum packages for seal-tightness
JP4708060B2 (en) Quality inspection system

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040713

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20051014

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20060309

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060606

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20061031

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061129

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070206

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070215

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees