[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JPH0396898A - X線画像検知器 - Google Patents

X線画像検知器

Info

Publication number
JPH0396898A
JPH0396898A JP23437489A JP23437489A JPH0396898A JP H0396898 A JPH0396898 A JP H0396898A JP 23437489 A JP23437489 A JP 23437489A JP 23437489 A JP23437489 A JP 23437489A JP H0396898 A JPH0396898 A JP H0396898A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
image
ray image
light
conversion element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP23437489A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0769480B2 (ja
Inventor
Yukihisa Osugi
幸久 大杉
Hiroaki Abe
博明 阿部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Insulators Ltd
Original Assignee
NGK Insulators Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Insulators Ltd filed Critical NGK Insulators Ltd
Priority to JP1234374A priority Critical patent/JPH0769480B2/ja
Publication of JPH0396898A publication Critical patent/JPH0396898A/ja
Publication of JPH0769480B2 publication Critical patent/JPH0769480B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Conversion Of X-Rays Into Visible Images (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、工業製品のX線透視検査や医用分野等におい
て用いられるX線画像検知器に係り、特にX線画像変換
素子として、電気光学効果と光伝導効果とを併わせ有す
る単結晶板を用いたX線画像検知器に関するものである
(背景技術) 従来より、ビスマスシリコンオキサイド(BS○:Bi
+2Sj○2o)、ビスマスゲルマニウムオキサイド(
BG○:B\i 12G e○zo)等の、電気光学効
果と光伝導効果を併わせ持つ単結晶板は、画像変換素子
、所謂FROM(ボッヶルス・リードアウト・オプチカ
ル・モジュレータ)素子として、光による二次元画像処
理装置や情報処理装置等への利用が種々研究されてきて
いる。そして、このFROM素子の基本構造は、第1図
に示される如く、例えばBS○単結晶(ウェハー)2の
両面に、それぞれ、絶縁層4.4を設け、更にその上に
酸化インジウム等の透明電極6,6を設けてなる構造と
なっている。
ところで、このようなPROM素子を用いた書込み動作
は、通常、以下のようにして行なわれることとなる。先
ず、BS○結晶2の両面に設けられた電極6.6間に外
部電源8より所定の電圧を印加し、結晶内部に結晶面に
垂直に均一な電界を形威した状態で、BS○結晶面上に
青色光(450nm程度)による画像を結像させる。B
S○結晶2は、青色域に高い感度を示す光伝導効果を持
つため、この書込み光量に応じて結晶中にキャリアが励
起される。そして、このキャリアは、印加電圧により生
した電界によって結晶内を移動して、絶縁層4に達し、
書込み光量・分布に対応した電荷分布を形成する。この
キャリアの存在する部分では、キャリアの作る電界によ
って結晶内部の電界が減少し、これによって書込み光量
分布に対応した電界分布を形威し、それが、BS○結晶
2中に記録されるのである。
一方、このように記録された画像の読出し動作は、BS
O結晶2の有する電気光学効果を利用することにより行
なわれることとなる。即ち、BSO結晶2は、電気光学
効果により結晶内部の電界強度に比例した複屈折を有し
ている。また、屈折率楕円体の二つの主軸の方向は、電
界方向に垂直とされている。従って、第2図に示される
ように、偏光板(偏光子)10を介して、屈折率楕円体
の二つの主軸の二等分線方向に偏光面を持つ赤色(6 
0 0 nm程度)の直線偏光光を読出し光として、第
1図の如き構或のPROM素子12に入射せしめると、
このPROM素子12のBSO結晶2の結晶内の局所的
電界に応じて、該読出し光は楕円偏光となるのである。
なお、BSO結晶2の光伝導効果は、赤色域では感度を
持たないために、読出し光照射による記録情報の破壊は
ない。そして、出力側に、入力側偏光板10と直交する
偏光板(検光子)14を置くことにより、楕円偏光の楕
円率に応した読出し光強度を得ることが出来、以てFR
OM素子12に記録されていた入力画像を読み出すこと
が出来るのである。
なお、PROM素子12のBSO結晶2に記録されてい
る画像の消去は、BS○結晶2の全面に強い青色光を照
射することにより、行なわれている。また、FROM素
子12は、BS○結晶の他にも、BGO結晶等を用いて
も構成され、上記と同様な機能を有している。
一方、かかるFROM素子の入力画像の書込み光として
X線を用いる手法が知られている(M.Graser.
 Jr. et. al.  「Appl. Phys
. Lett. J . 34(8).15.Aprj
l (1979))−上記した青色光と同様に、X線に
対しても、BS○等の単結晶は感度の高い光伝導効果を
有するものであるところから、X綿像であっても、その
書込みが出来るからである。なお、この技jネテは、書
込み光としてX線を用いる他は、第1図と同様な素子構
或を採用するものであり、また画像情報記録後の画像読
出し方法も同様である。
しかしながら、この先に提案されたFROM素子を用い
たX線画像検知方式には、実用上において問題点が多く
、未だ実用には至っていないのが現状であり、その大き
な理由の一つとして、光学系構造から、解像度に制限を
受けることがある。
即ち、かかる従来のX線画像検知方式では、読出し光が
FROM素子を透過する光学系構造を採用するものであ
るところから、FROM素子を中心に、X線の線源を読
出し光の光源又は画像検知器の何れかと同し側に配置し
なればならず、それ故にそれら光学装置がX線を遮って
しまうようになるために、χ線をFROM素子正面から
照射することが出来ないのである。また、被検査物をP
R○M素子に接して置くと、読出し光が遮られることと
なるために、FROM素子と被検査物との距離を読出し
光が遮られない程度に離してやらなくてはならない。し
かも、可視光とは異なり、X線画像を光学系によって結
像させることは不可能であるのである。これらのことよ
り、従来のX線画像検知方式では、FROM素子に対し
て鮮明なX線画像を書き込むことが困難であって、FR
OM素子の持つ解像度の性能よりも、X線画像の「ぼや
け」が大きく、FROM素子の性能を充分に活用するも
のではなかったのである。
(解決課題) ここにおいて、本発明は、かかる事情を背景にして為さ
れたものであって、その解決課題とするところは、障害
物によって遮られることなく、X線をFROM素子に照
射することが出来、また画像を読め出すことを可能にし
て、解像度の高い画像を得ることの出来るX線画像検知
器を提供しようとすることにある。
(解決手段) そして、本発明は、上述の如き課題を解決するために、
電気光学効果と光伝導効果を有する単結晶板と、該単結
晶板の一方の面に設けられた、光は反射するが、X線は
透過し得る反射導電層と、前記単結晶板の他方の面に設
けられた、光を透過し得る絶縁層と、該絶縁層上に設け
られて、該絶縁層及び前記単結晶板に、前記反射導電層
と協働して所定の電界を加える透明導電層とを有するX
線画像変換素子を用いたX線画像検知器において、該画
像変換素子の前記反射導電層が設けられた側に、X線照
射源を配して、該X線照射源からのX線照射によって該
画像変換素子にX線画像が書き込まれるようにする一方
、該画像変換素子の前記透明導電層が設けられた側に、
該画像変換素子に対して所定の読出し光を照射する光源
と、該画像変換素子から反射される該読出し光を結像さ
せるための光学系とを配して、該画像変換素子に書き込
まれた前記X線画像を、それら光源及び光学系によって
読み出すようにしたことを特徴とするX線画像検知器を
、その要旨とするものである。
なお、このようなX線画像検知器においては、有利には
、前記光学系の光路中に反射鏡を配し、前記X線照射源
からのX線照射方向と結像系光軸とが直角となるように
構成されたり、また前記光学系の光路中に、X線を遮蔽
する一方、読出し光は透過せしめ得る媒質が配されたり
、されることとなる。
また、本発明に係るX線画像検知器の一つの態様におい
ては、前記画像変換素子の複数個が用いられる一方、X
線照射源によるX線画像の書込み位置と光源及び光学系
によるXwA画像の読出し位置とX線画像の消去位置と
が異ならしめられて、それら画像変換素子を移動させる
ことにより、該書込み位置、該読出し位置、消去位置に
順次配するようにした構戒が採用される。
q 10 さらに、本発明にあっては、光源として面発光光源が用
いられたり、前記光学系に、読出し画像の視野範囲を変
化させるレンズ手段を設けたりする構或も採用される。
更にまた、本発明にあっては、X線照射量を制御して、
最適な照射量を設定し、明瞭な画像を得ることの出来る
X線画像検知器とするために、有利には、(a)X線照
射源からのX線照則線量を測定するX線測定手段と、該
X線測定手段にて測定されたX,%I;!照射線量に基
づいて該X線照射源によるχ線照射時間を制御するX線
照射制御装置を、更に設けた構成や、(b)光源からの
読出し光の強度を測定する光測定手段と、該光測定手段
にて測定された読出し光強度に基づいて前記X線照射源
によるX線照射時間を制御するX線照射制御装置を、更
に設けた構或が、採用される。
(具体的構戒・実施例) 以下、図面に示す実施例に基づいて、本発明の構成を更
に具体的に明らかにすることとする。
先ず、第3図は、本発明に係るX線画像検知器?用いら
れるX線画像変換素子の一例を示すものであって、そこ
において、22は、電気光学効果と光伝導効果とを有す
る単結晶板であり、例えばビスマスシリコンオキザイド
(B i +zS i 020)やビスマスゲルマニウ
ムオキサイド(Bi,■GeOzo)等の公知の単結晶
材料から構成されている。
なお、この単結晶板22は、一般に、10μm〜5順程
度の厚さを有するものであって、その両面が公知の適宜
の手法に従って研磨されたものが用いられることとなる
そして、このような単結晶板22の一方の面に対して、
本発明に従う反射導電層としての金属薄膜電極23が、
所定厚さに、換言すれば光は反射するが、X線は透過し
得る厚さにおいて形威されている。なお、この金属薄膜
電極23の材料としては、金,銀,白金,アルミニウム
,金属ベリリウム等のX線透過率の優れた導電性のもの
が好適に用いられる。また、かかる金属薄膜電極23の
膜厚は、X線を透過し得る程に充分薄くされ、般に1μ
m程度以下とされており、これにより金11 l2 属薄膜電極23の側からX線画像を書き込むことが出来
るようになっている一方、この金属薄膜電極23の面に
て、読出し光が反射せしめられるところから、反射型の
読出し光学系を取ることが出来、読出し光光源と撮像部
分がX線画像変換素子を中心にして同し側に位置させら
れ得、以て書込み部分と読出し部分を完全に分離するこ
とが出来るのである。
なお、この読出し光学系の設けられる側となる単結晶板
22の他方の面には、従来のFROM素子と同様に、光
を透過し得る絶縁層24が設けられ、更にその上に、酸
化インジウム等の公知の透明な導電性材料からなる透明
電極(導電層)26が形威されている。そして、この透
明電極26と前記金属薄膜電極23との間に外部の電源
28からの電圧(例えば、0〜30KV程度)が印加さ
れることによって、単結晶板22と絶縁層24に所定の
電界が加えられ得るようになっている。
ところで、かかる単結晶板22上に設けられる絶縁層2
4は、公知のポリパラキシレンやポリスチレン等の有機
絶縁物やガラス、マイ力等の無機絶縁物にて形威され得
るものである。
また、単結晶板22と絶縁層24に、所定の電界を加え
る透明電極26の形或にあっては、従来と同様な手法が
採用され、例えば(イ)絶縁層24の表面に、目的とす
る透明電極を直接に形或する方法や、(口)ガラス等の
所定の板体上に透明電極層を設けてなる透明電極板を、
適当な光学接着剤を用いて、絶縁層24上に張り付ける
方法等が、適宜に採用される。
本発明は、このような構成のX線画像変換素子を用いて
、画像の書込み及び読出しを行なう装置(X線画像検知
器)を構或したものであって、そのような装置において
は、X線画像変換素子の一方の側にX線線源(X線照射
源)が、またX線画像変換素子の他方の側には読出し系
が、それぞれ配置せしめられることとなるのである。
すなわち、第4図に示されるように、X線画像変換素子
30の金属薄膜電極23が設けられた側にX線線源32
が配置され、このX線線源32か13 14 ら被検査物34に対してX線が照射され、それによって
、記録すべき画像情報を持つX線が形威され、そしてそ
れが、X線画像変換素子30の金属薄膜電極23の形戒
側の面に照射せしめられる。
これにより、画像変換素子30の単結晶板22には、目
的とするX線画像が書き込まれることとなる。
一方、読出し光学系は、かかるX線画像変換素子30の
他方の側、換言すれば透明電極26の設けられた側に配
置されており、そこでは、所定の読出し光、即ち光伝導
効果を持たない、従って書込み情報を破壊しない光、例
えば赤色光をX線画像変換素子30に照射ずるための光
源36と、偏光子38と、照射光をX線画像変換素子3
0に垂直に照射せしめ、且つ反射読出し光を結像せしめ
るための凸レンズ42と、照射光と反射光を分離するた
めのビームスプリック40と、読出し光の楕円偏光の楕
円率に応した光強度を得るための検光子44と、この検
光子44を透過した読出し光を受光する受光手段たる、
CCDカメラ46のCCD撮像素子48とが、配置され
ている。なお、ここで、ビームスプリンタ40は、ハー
フ旦ラーによって代用可能であり、また偏光子38、ビ
ームスプリンタ40及び検光子44は、PBS(ボーラ
ライズド・ビーム・スプリッタ)によって代用すること
も可能である。
従って、このような構戒のX線画像検知器においては、
X線画像の書込みがX線画像変換素子30の一方の側に
おいて行なわれる一方、該X線画像変換素子30に書き
込まれたX線画像は、該X線画像変換素子30の他方の
側において行なわれることとなるところから、書込み部
分と読出し部分とが完全に分離され、以てX線画像書込
み系と読出し光学系との構造的な干渉が効果的に回避さ
れ得るのであり、そしてそれによって、被検査物体(3
4)を可及的にX線画像変換素子30に近接せしめた状
態においてχ線を正面から照射して、そのX線画像を書
き込むことが出来るところから、鮮明なX線画像を有利
に得ることが出来、例えば25μm程度の微細な金属線
でも充分識別可能な、15 16 解像度の高いX線画像検知器を得ることが出来ることと
なったのである。
また、本発明に係るX線画像検知器の他の例を示す第5
図においては、読出し光学系の光路中に反射鏡50が配
置され、X線画像変換素子30の金属薄膜電極23によ
って反射された読出し光が、該反射鏡50によってX線
線源32からのX線の照射方向(図において上下方向)
に対して直角な方向に反射せしめられるようになってお
り、これによってX線照射方向と結像系光軸とが直角と
なるようにされて、撮像装置部分(46.48)にX線
が照射されないように、以てX線によるノイズのない、
良好な画像を有利に取り出し得るようになっている。
けだし、X線を電子部品に照射すると、高いエネルギー
を持ったX線ホトンによって、半導体内部に電荷が励起
され、部品に悪影響を及ぼし、最悪の場合には破壊に至
るようになるが、ここで対象とするX線画像検知器の場
合にあっても、その読出し画像の検知にCCDカメラや
撮像管等を用いた時は同様であって、カメラ等にX線が
照射されると、画像信号にノイズが乗り、モニター上の
画像が乱れてしまうようになるからである。
また、このようなX線照射によって読出し画像にノイズ
が入るのを更に良好に防止するには、図示の如く、鉛板
等の遮蔽板52をX線線源32と読出し光学系との間に
配置し、かかるX線線a32からのX線が、CCDカメ
ラ46や、その撮像素子48等に到達しないようにする
ことが望ましい。
なお、かかる第5図に示されるX線画像検知器において
は、読出し光は、紙面に対して垂直な方向に配置された
光源(36)から偏光子(38)を通じてビームスプリ
ック40に入射され、更にこのビームスプリンタ40か
ら、凸レンズ42、反射鏡50を介して、X線画像変換
素子30の透明電極26が設けられた側に入射せしめら
れるようになっている。また、X線画像変換素子30か
ら反射された読出し光は、先述の如く、反射鏡50にて
反射された後、凸レンズ42、ビームスプ17 18 リッタ40、検光子44を通って、CCDカメラ46の
CCD撮像素子48に受光せしめられるのである。
また、このようなX線照別による読出し画像へのノイズ
の混入の排除には、上例の如き反射鏡50を設けて、結
像系光軸をX線照射方向と一致しないようにする方式の
他、X線は遮蔽するが、読出し光は透過せしめ得る媒質
、例えば鉛ガラスを撮像装置部分(46.48)よりも
X線画像変換素子30側、例えば第4図において、検光
子44とCCD撮像素子48との間に配置するようにす
れば、χ線照射方向と結像系光軸とが一致する場合にあ
っても、χ線によるノイズのない、良好な画像を得るこ
とが可能である。
ところで、X線画像変換素子は、画像の書込み・読出し
を交互に行なうために、リアルタイムの画像出力は出来
ない。準リアルタイム動作に近づけるには、書込み・読
出し・消去の周期を短《すればよいのであるが、画像変
換素子への印加電圧は通常数KVと高く、容易には高速
化出来ない。
また、書込み速度、消去速度は、画像変換素子の結晶板
(BSO等)の物性値で決まってしまうので、或る限界
以上の高速化は不可能である。
このため、本発明に従うX線画像検知器においては、従
来に比べて画像の読出し周期を短くするために、第6図
に示される如く、複数のX線画像変換素子30を用い、
それらを回転テーブル54に配置して回転せしめること
により、各素子30に対して書込み・読出し・消去の各
々の動作を並行して行なうようにずる構戒が採用される
のである。要するに、X線画像変換素子30の複数個を
用いる一方、X線線m(32)によるX線画像の書込み
位置と、光源(36)及び光学系(3B40,42.4
4,46.48)によるX線画像の読出し位置を異なら
しめ、そして、それらX線画像変換素子30を順次移動
せしめて、該書込み位置及び該読出し位置に順次配置さ
れるようにするのである。また、読み出された後のX線
画像変換素子30に対しては、順次、青色光の全面照射
によって、記録された画像が消去せしめられるこ19 20 ととなる。
また、X線画像検知器においては、読出し画像をカメラ
(46)で検出し、モニタ画面上に表示する場合におい
て、最終的な像の解像度はモニタ画面の持つ画素数によ
って制限され、従って大有効面積、高解像度の画像変換
素子を作製しても、その全画素をモニタ画面で一度に観
察することは出来ないが、第7図及び第8図に示される
如く、読出し光学系に読出し画像の視野範囲を変化させ
るレンズ手段を設けることによって、画像全体像や一部
分の拡大像を目的に応じて読み出すことが可能となるの
である。なお、かかる第7図に示される例にあっては、
検光子44とCCD撮像素子48との間に視野レンズ5
6が配置され、この視野レンズ56と凸レンズ42から
なる二枚レンズによる結像系にて読出し画像が撮像され
るようになっており、視野レンズ56の焦点距離とその
位置を変更することによって、画像の読出し範囲と拡大
率が容易に変更され得るのである。この視野レンズ56
の焦点距離とその位置の変更は、例えば第8図に示され
るように、レンズホルダー58に各種の視野レンズ56
を取り付け、かかるレンズホルダー58を回転させるこ
とによって、行なうことが出来る。
さらに、第9図に示される本発明に従うX線函像検知器
においては、読出し光学系の光源として面発光光源60
が用いられており、これによって、かかる光学系が小型
,簡素とされ、以てX線画像検知器全体の小型化を可能
ならしめている。反射型の画像変換素子30においては
、読出し光はコリメートされ、そのために該画像変換素
子30に垂直に入射する状態が光強度に関して尤も効率
が高く、明るい像を形或することが出来るからである。
これに対して、画像の明るさのムラをなくすために、単
一光源を用いて大面積の照射を行なおうとすると、光源
と画像変換素子間の距離が大きくなり、X線画像検知器
の小型化を妨げる要因となるのである。なお、面発光光
源60としては、面発光LED、面発光蛍光灯、エレク
トロル5ネッセント素子(EL)発光体等が用いられる
21 22 また、被検査物体(34)のX線透過光量の差によって
X線画像を形戊ずるX線画像検知器には、画像の階調表
現が良好なことと、広いダイナ旦ツタ・レンジを持つこ
とが要求されるが、現状の画像変換素子のダイナくツタ
・レンジは15dB程度と比較的狭いところから、X線
照射条件によって、未露光、露光オーハーになり易く、
その管理が困難となるものであるが、第10図に示され
る如く、χ線照射量を制御する制御系を設けることによ
り、明瞭な画像を有利に得ることが出来るのである。
すなわち、第10図においては、読出し光の結像系光路
中に配したハーフミラー62によって分離した光を、凸
レンズ64によって集光させ、その光強度をフォトマル
チプライヤー、フォトダイオード等の光測定器66によ
って測定し、そしてこの光測定器66によって測定され
た読出し光強度に基づいて、X線照別制御装置68によ
って、書込み量を見積もり、最適X線照射条件を決定し
、X線線源32によるX線照射時間を制御せしめるので
ある。
また、このような読出し光強度測定に代えて、χ線線源
32からのX線照射線量を測定し、それに基づいてX線
照射時間を制御するようにすることも可能である。即ち
、X線画像変換素子30の側部に配された電離箱線量計
、シンチレーション検出器、半導体検出器等のX線線量
計70によって、X線線源32からのX線照射線量を測
定し、その測定値に基づいて、X線照射制御装置68に
おいてX線線源32によるX線照射時間を制御するよう
にするのである。
以上、本発明に従う幾つかの好ましい実施形態に基づい
て、本発明の具体的構成について詳細に説明してきたが
、本発明が、そのような実施形態や、それに基づく具体
的説明によって、何等の制限を受けるものでは決してな
く、本発明の趣旨を逸脱しない限りにおいて、当業者の
知識に基づいて種々なる変更、修正、改良等を加えた形
態において実施され得るものであり、本発明が、また、
そのような実施形態のものをも含むものであるこ23 24 とが、理解されるべきである。
(発明の効果) 以上の説明から明らかなように、本発明に従うX線画像
検知器においては、X線線源と読出し光学系が、X線画
像変換素子を挟んで互いに反対側に配置されているとこ
ろから、書込み部分と読出し部分を完全に分離すること
が出来、以て被検査物体を可及的に画像変換素子の記録
面に近接せしめて、X線を正面から照射することが出来
るために、解像度の高い画像を得ることが出来、25μ
m程度の微細な金属線も充分識別可能なX線画像検知器
とすることが出来るのである。
また、本発明にあっては、X線画像検知器の読出し光学
系の光路中に、反射鏡を介して、X線照則方向と結像系
光軸とが直角となるように構成したり、χ線を遮蔽する
媒質を配して、撮像装置部分をX線から遮蔽するように
することによって、X線によるノイズの少ない良好な画
像を得ることも出来る。
さらに、本発明に従うX線画像検知器において、複数個
の画像変換素子を用い、それら画像変換素子を順次移動
させて、各々の素子に対して書込みや読出し等の動作を
並行して行なうようにすれば、画面一枚の書込み・読出
し時間を短くし、出来るだけリアルタイム動作に近づけ
て、連続した画像を得ることが出来る利点があり、また
読出し光学系に読出し画像の視野範囲を変化させるレン
ズ手段を設けることによって、画像の読出し範囲を切り
換え、全体像と拡大像の両方を任意に読み出し得て、目
的に応して、画像変換素子の有効面積と解像度の両方の
性能を生かすことの出来るX線画像検知器と為すことも
可能となったのである。
更にまた、読出し光学系の光源を面発光光源とすれば、
読出し光の光学系が簡素化され、X線画像検知器として
も、その小型化が有利に達威され得るようになるのであ
り、更にはχ線照射量を制御する制御系を設けることに
よって、その最適なX線照射量を設定し、明瞭な画像を
容易に得ることが出来ることとなるのである。
【図面の簡単な説明】
25 26 第1図は、従来のX線画像変換素子の概略説明図であり
、また第2図は、そのような画像変換素子を用いた従来
のX線画像検知器の概略説明図である。第3図は、本発
明にて用いられるX線画像変換素子の一例を示す概略説
明図であり、第4図は、そのようなX線画像変換素子を
用いた本発明に従うX線画像検知器の一例を示す配置形
態説明図である。また、第5図5第7図,第9図及び第
10図は、それぞれ、本発明に従うX線画像検知器の他
の異なる例を示す配置形態説明図であり、更に第6図は
、回転テーブルに設けた複数のX線画像変換素子に対す
る書込み・読出し・消去動作を示す説明図であり、第8
図は、複数の視野レンズを取り付けたレンズホルダーを
示す説明図である。 22:単結晶板   23:金属薄膜電極24:絶縁層
    26:透明電極 28:電源 30:X線画像変換素子 27 :X線線源 ;光源 :ビームスプリ :凸レンズ 二CCDカメラ 二反射鏡 二回転テーブル :レンズホルダ :ハーフミラー :光測定器 =X線線量計 34:被検査物体 38;偏光子 ツタ 44: 48: 52: 56; 60: 64: 68: 検光子 CCD撮像素子 遮蔽板 視野レンズ 面発光光源 凸レンズ X線照射制御装置

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)電気光学効果と光伝導効果を有する単結晶板と、
    該単結晶板の一方の面に設けられた、光は反射するが、
    X線は透過し得る反射導電層と、前記単結晶板の他方の
    面に設けられた、光を透過し得る絶縁層と、該絶縁層上
    に設けられて、該絶縁層及び前記単結晶板に、前記反射
    導電層と協働して所定の電界を加える透明導電層とを有
    するX線画像変換素子を用いたX線画像検知器にして、 該画像変換素子の前記反射導電層が設けられた側に、X
    線照射源を配して、該X線照射源からのX線照射によっ
    て該画像変換素子にX線画像が書き込まれるようにする
    一方、該画像変換素子の前記透明導電層が設けられた側
    に、該画像変換素子に対して所定の読出し光を照射する
    光源と、該画像変換素子から反射される該読出し光を結
    像させるための光学系とを配して、該画像変換素子に書
    き込まれた前記X線画像を、それら光源及び光学系によ
    って読み出すようにしたことを特徴とするX線画像検知
    器。
  2. (2)前記光学系の光路中に反射鏡を配し、前記X線照
    射源からのX線照射方向と結像系光軸とが直角となるよ
    うに構成したことを特徴とする請求項(1)記載のX線
    画像検知器。
  3. (3)前記光学系の光路中に、X線を遮蔽する一方、読
    出し光は透過せしめ得る媒質を配したことを特徴とする
    請求項(1)記載のX線画像検知器。
  4. (4)前記画像変換素子の複数個を用いる一方、前記X
    線照射源によるX線画像の書込み位置と前記光源及び光
    学系によるX線画像の読出し位置とX線画像の消去位置
    とを異ならしめ、それら画像変換素子を移動せしめて、
    該書込み位置、該読出し位置及び該消去位置に順次配す
    るようにしたことを特徴とする請求項(1)乃至(3)
    の何れかに記載のX線画像検知器。
  5. (5)前記光学系に、読出し画像の視野範囲を変化させ
    るレンズ手段を設けたことを特徴とする請求項(1)乃
    至(4)の何れかに記載のX線画像検知器。
  6. (6)前記光源が面発光光源である請求項(1)乃至(
    5)の何れかに記載のX線画像検知器。
  7. (7)前記X線照射源からのX線照射線量を測定するX
    線測定手段と、該X線測定手段にて測定されたX線照射
    線量に基づいて該X線照射源によるX線照射時間を制御
    するX線照射制御装置とを、更に設けたことを特徴とす
    る請求項(1)乃至(6)の何れかに記載のX線画像検
    知器。
  8. (8)前記光源からの読出し光の強度を測定する光測定
    手段と、該光測定手段にて測定された読出し光強度に基
    づいて前記X線照射源によるX線照射時間を制御するX
    線照射制御装置とを、更に設けたことを特徴とする請求
    項(1)乃至(6)の何れかに記載のX線画像検知器。
JP1234374A 1989-09-08 1989-09-08 X線画像検知器 Expired - Lifetime JPH0769480B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1234374A JPH0769480B2 (ja) 1989-09-08 1989-09-08 X線画像検知器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1234374A JPH0769480B2 (ja) 1989-09-08 1989-09-08 X線画像検知器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0396898A true JPH0396898A (ja) 1991-04-22
JPH0769480B2 JPH0769480B2 (ja) 1995-07-31

Family

ID=16970004

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1234374A Expired - Lifetime JPH0769480B2 (ja) 1989-09-08 1989-09-08 X線画像検知器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0769480B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007183186A (ja) * 2006-01-06 2007-07-19 Hiroshima Univ 荷電粒子検出方法、これを用いる荷電粒子制御方法
JP2022506509A (ja) * 2018-11-05 2022-01-17 カール・ツァイス・エックス-レイ・マイクロスコピー・インコーポレイテッド X線を検出するための高分解能ライトバルブ検出器

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS619085A (ja) * 1984-06-23 1986-01-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像情報変換方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS619085A (ja) * 1984-06-23 1986-01-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 画像情報変換方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007183186A (ja) * 2006-01-06 2007-07-19 Hiroshima Univ 荷電粒子検出方法、これを用いる荷電粒子制御方法
JP2022506509A (ja) * 2018-11-05 2022-01-17 カール・ツァイス・エックス-レイ・マイクロスコピー・インコーポレイテッド X線を検出するための高分解能ライトバルブ検出器
US12130392B2 (en) 2018-11-05 2024-10-29 Carl Zeiss X-Ray Microscopy Inc. High resolution light valve detector for detecting x-ray

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0769480B2 (ja) 1995-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7687792B2 (en) X-ray light valve based digital radiographic imaging systems
US3975637A (en) Device for storage and display of a radiation image
NL7909037A (nl) Inrichting voor radiografie.
JP7545965B2 (ja) X線を検出するための高分解能ライトバルブ検出器
US4933558A (en) X-ray sensitive area detection device
US5847499A (en) Apparatus for generating multiple X-ray images of an object from a single X-ray exposure
KR100721754B1 (ko) 광학적으로 투명한 형광체를 사용한 고 해상도 이미징시스템 및 그 방법
JPH0396898A (ja) X線画像検知器
JPS62221337A (ja) 記憶表示装置
CN115668000A (zh) 光谱和空间分辨x射线和粒子检测系统
US4597017A (en) Scanner system for X-ray plate readout
JPH05345041A (ja) 高エネルギー放射線検出装置
JPH0478940B2 (ja)
EP1000581B1 (en) High resolution real-time x-ray image apparatus
JP2784260B2 (ja) テレセントリック光学系を用いた透明蓄積蛍光体走査
Arndt et al. Television Recording and Analysis of X-Ray Diffraction Patterns
SU835243A1 (ru) Устройство с переменным светопропусканием
JPS63259500A (ja) 放射線画像変換パネル及び放射線画像読取方法
JPH08327798A (ja) 蓄積性蛍光体の読取り方法及びその装置
Dillon et al. X-ray imaging characteristics of the vacuum-demountable microchannel spatial light modulator
JPH0558213B2 (ja)
JPH02245721A (ja) 画像変換素子及びそれを用いたx線画像検知方法
JPH09138203A (ja) X線蛍光画像検査装置
SU1201793A1 (ru) Устройство дл преобразовани изображени ,преимущественно рентгеновского,в видеосигнал
JPH04152289A (ja) イメージ型x線検出器