JPH0365605A - ディジタル画像におけるエッジ長さ計測方法 - Google Patents
ディジタル画像におけるエッジ長さ計測方法Info
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- JPH0365605A JPH0365605A JP1200204A JP20020489A JPH0365605A JP H0365605 A JPH0365605 A JP H0365605A JP 1200204 A JP1200204 A JP 1200204A JP 20020489 A JP20020489 A JP 20020489A JP H0365605 A JPH0365605 A JP H0365605A
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- NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N (2s)-2-[[4-[2-(2,4-diaminoquinazolin-6-yl)ethyl]benzoyl]amino]-4-methylidenepentanedioic acid Chemical compound C1=CC2=NC(N)=NC(N)=C2C=C1CCC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CC(=C)C(O)=O)C(O)=O)C=C1 NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N 0.000 description 1
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の属する技術分野)
本発明は、アナログ画像信号をA/D変換器により複数
の画素に標本化し、かつ複数階調のうちのある階調に量
子化して計算機のメモリに入力して得たディジタル画像
において、エツジ長さを高精度に計測する方法に関する
ものである。
の画素に標本化し、かつ複数階調のうちのある階調に量
子化して計算機のメモリに入力して得たディジタル画像
において、エツジ長さを高精度に計測する方法に関する
ものである。
本発明は、具体的には、ディジタル画像による物体認識
処理に使うエツジ曲率の計測、物体の周囲長の計測に用
いられる。
処理に使うエツジ曲率の計測、物体の周囲長の計測に用
いられる。
(従来の技術)
はじめに、ディジタル画像におけるエツジの表現方法と
従来のエツジ長さの計測方法について説明し、次に具体
例を用いながら従来技術の精度および問題点を述べる。
従来のエツジ長さの計測方法について説明し、次に具体
例を用いながら従来技術の精度および問題点を述べる。
(ア)従来のエツジ長さ計測方法
第2図、第3図を用いてディジタル画像におけるエツジ
表現方法を説明する。
表現方法を説明する。
第2図はディジタル化する前の画像であり、物体1と物
体2とがエツジ3を境界として重なり合っている様子を
示している。この場合、エツジ3は連続した座標(u、
v)を用いて、例えばV=f (u)として表現される
。ここで、fはエツジ3の境界を示す連続関数である。
体2とがエツジ3を境界として重なり合っている様子を
示している。この場合、エツジ3は連続した座標(u、
v)を用いて、例えばV=f (u)として表現される
。ここで、fはエツジ3の境界を示す連続関数である。
この第2図をディジタル化したものが第3図である。デ
ィジタル化によって、画像は第3図の黒丸印・で示す離
散的な画素の標本点P+の集合として表現される。その
結果、エツジは、第3図の正方形内に斜線で示すように
エツジが内在する画素の連なりとして表現されることに
なる。すなわち、標本化された座標P+(11+t v
i)の点列として表現されることになる。
ィジタル化によって、画像は第3図の黒丸印・で示す離
散的な画素の標本点P+の集合として表現される。その
結果、エツジは、第3図の正方形内に斜線で示すように
エツジが内在する画素の連なりとして表現されることに
なる。すなわち、標本化された座標P+(11+t v
i)の点列として表現されることになる。
このエツジ内在画素は次のようにして求められる。エツ
ジの部分では画像の濃度変化が大きいことから、濃度勾
配Δg (u + t v t ) /ΔU。
ジの部分では画像の濃度変化が大きいことから、濃度勾
配Δg (u + t v t ) /ΔU。
Δg(uit vi)/ΔVを例えば
ΔgCut+ vi)/ΔU
・・・・・・(1)
Δg(uty vi)/ΔV
・・・・・・(2)
として求め、その大きさ
(Δg(uit vi)/Δu )” +(Δg(ui
t vi)/Δv )2がしきい値より大きい画素をエ
ツジ内在画素として検出する。ここで、Δg(uty
V+)は、標本点P+の座標が(u+*’V+)で表さ
れる画素の濃度であり、しきい値は予備実験などによっ
て適当な値を定めておくものとする。
t vi)/Δv )2がしきい値より大きい画素をエ
ツジ内在画素として検出する。ここで、Δg(uty
V+)は、標本点P+の座標が(u+*’V+)で表さ
れる画素の濃度であり、しきい値は予備実験などによっ
て適当な値を定めておくものとする。
このようなディジタル画像に対し、従来の技術では、2
標本点P +(u It vt)t P j(u rt
VJ)に対応するエツジ長さΔSl、Jを、線分P、
P、の長さ、すなわち、 ΔS1.J= (uJu+)”+(”/l V+)
” −−(3)と計測していた。
標本点P +(u It vt)t P j(u rt
VJ)に対応するエツジ長さΔSl、Jを、線分P、
P、の長さ、すなわち、 ΔS1.J= (uJu+)”+(”/l V+)
” −−(3)と計測していた。
(イ)従来技術の問題点
従来技術を用いてディジタル画像における2標本点に対
応するエツジ長さを実際に計測し、その精度と問題点と
をのべる。
応するエツジ長さを実際に計測し、その精度と問題点と
をのべる。
ここでは計測対象の一例として、第4図に示すような半
径5画素、中心0゜(1/4.−1/4)の円を用いる
。第4図に対し従来の方法を用いて2II11本点に対
応するエツジ長さを求めた結果を第5図の(A)に示す
、横軸は第4図にエツジ内在画素の番号P+であり、i
番目の座標は標本点P+に対応している。図中の正方形
内に丸印口は、2IllI本点P、、P、や、(j =
i + 1)の長さPIPI+1を真の弧の長さ(縦
軸)、すなわち円の中心Ocと点P i pp、とを結
んだ線分ocp、、OcP、がつくる中心角に対応する
弧の長さで除した結果を示したものである。
径5画素、中心0゜(1/4.−1/4)の円を用いる
。第4図に対し従来の方法を用いて2II11本点に対
応するエツジ長さを求めた結果を第5図の(A)に示す
、横軸は第4図にエツジ内在画素の番号P+であり、i
番目の座標は標本点P+に対応している。図中の正方形
内に丸印口は、2IllI本点P、、P、や、(j =
i + 1)の長さPIPI+1を真の弧の長さ(縦
軸)、すなわち円の中心Ocと点P i pp、とを結
んだ線分ocp、、OcP、がつくる中心角に対応する
弧の長さで除した結果を示したものである。
本例に対して計測を行った結果、エツジの長さは真の値
に対し0.96〜1.31倍にばらついており、P2□
P、sにおいて最大の約30%の誤差を生じていること
がわかった。なお、計測値の平均は、1.081. m
M準偏差は0.090である。
に対し0.96〜1.31倍にばらついており、P2□
P、sにおいて最大の約30%の誤差を生じていること
がわかった。なお、計測値の平均は、1.081. m
M準偏差は0.090である。
また、第6図に示すような直線的エツジの場合について
も調べてみる。技術の従来では、2標本点に対応するエ
ツジの長さは、P、P、のv’T以外は全てlと計測さ
れる。しかし、実際には全て1.02(= 1 /co
s(115))であり、計測誤差が生じている。
も調べてみる。技術の従来では、2標本点に対応するエ
ツジの長さは、P、P、のv’T以外は全てlと計測さ
れる。しかし、実際には全て1.02(= 1 /co
s(115))であり、計測誤差が生じている。
以上述べたように従来の方法では、ディジタル画像にお
けるエツジ長さを精度良く計測することができないとい
う問題がある。その原因は、エツジ長さを求める211
1本点の相対的位置関係や各標本点におけるエツジ勾配
方向を考慮していないことにある。より具体的には、線
分Oc P l y Oc P Jがつくる、すなわち
、エツジ勾配方向の差分として得られる中心角Δθ@
、 s (= l P t Oc P s )に対応す
る弧の長さを、単に2標本点PItPjの長さP、P、
としてΔS1.jを式(3)より求めていることにある
。その結果、ΔS1.Jの計測精度が悪かった。
けるエツジ長さを精度良く計測することができないとい
う問題がある。その原因は、エツジ長さを求める211
1本点の相対的位置関係や各標本点におけるエツジ勾配
方向を考慮していないことにある。より具体的には、線
分Oc P l y Oc P Jがつくる、すなわち
、エツジ勾配方向の差分として得られる中心角Δθ@
、 s (= l P t Oc P s )に対応す
る弧の長さを、単に2標本点PItPjの長さP、P、
としてΔS1.jを式(3)より求めていることにある
。その結果、ΔS1.Jの計測精度が悪かった。
ただし、エツジ勾配方向とは、第7図に示すように、標
本点PLにおけるエツジの法線方向のことである。この
標本点P L (u I y ’/ I )におけるエ
ツジ勾配方向θ1は、標本点p、における濃度勾配の比
、すなわち、 一1Δg(utt ’i’+)/ΔV θ’ =”” mm ””” (4)によって算出さ
れる。上記(ア)で述べたエツジ内在画素の検出方法お
よび上述のエツジ勾配方向の算出方法は一例であり、尾
上守夫、′画像処理ハンドブック”、昭晃堂(昭62)
などに他の方法も記載されている。
本点PLにおけるエツジの法線方向のことである。この
標本点P L (u I y ’/ I )におけるエ
ツジ勾配方向θ1は、標本点p、における濃度勾配の比
、すなわち、 一1Δg(utt ’i’+)/ΔV θ’ =”” mm ””” (4)によって算出さ
れる。上記(ア)で述べたエツジ内在画素の検出方法お
よび上述のエツジ勾配方向の算出方法は一例であり、尾
上守夫、′画像処理ハンドブック”、昭晃堂(昭62)
などに他の方法も記載されている。
(発明の目的)
本発明の目的は、エツジ勾配方向の差分として得られる
中心角に対する弧の長さを、画素の相対的位置関係や各
標本点におけるエツジ勾配方向を用いて精度良く求める
ことにより、ディジタル画像におけるエツジ長さを高精
度に計測することにある。
中心角に対する弧の長さを、画素の相対的位置関係や各
標本点におけるエツジ勾配方向を用いて精度良く求める
ことにより、ディジタル画像におけるエツジ長さを高精
度に計測することにある。
(発明の構成)
(発明の特徴と従来の技術との差異)
本発明は、弧の中心と2I11本点とを通る2本の直線
で切り取るエツジの長さすなわち弧の長さとして、ディ
ジタル画像におけるエツジ長さを計測することを最も主
な特徴とする。
で切り取るエツジの長さすなわち弧の長さとして、ディ
ジタル画像におけるエツジ長さを計測することを最も主
な特徴とする。
従来の技術では、弧の2標本点間の距離として算出して
いる。これに対し本発明では、弧を2標本点間の位置関
係とエツジ勾配方向を用いてエツジ長さを精度良く求め
ていることが従来技術とは異なる。
いる。これに対し本発明では、弧を2標本点間の位置関
係とエツジ勾配方向を用いてエツジ長さを精度良く求め
ていることが従来技術とは異なる。
(実施例)
まず、2つの画素が垂直、水平、斜方向に隣接している
場合について、次いでこれらを含めた一般の場合につい
て本発明の詳細な説明する。この後で、エツジ曲率と周
囲長の計測に本発明を適用した場合について説明する。
場合について、次いでこれらを含めた一般の場合につい
て本発明の詳細な説明する。この後で、エツジ曲率と周
囲長の計測に本発明を適用した場合について説明する。
まず、ディジタル画像に対して、エツジ内在画素を検出
し、その画素のエツジ勾配方向を算出する0次に、本発
明を実施する。ただし、エツジ内在画素の検出、エツジ
勾配方向の算出は従来技術を用いる。以下1本発明の詳
細な説明する。
し、その画素のエツジ勾配方向を算出する0次に、本発
明を実施する。ただし、エツジ内在画素の検出、エツジ
勾配方向の算出は従来技術を用いる。以下1本発明の詳
細な説明する。
(i)エツジ内在画素が垂直方向に隣接している場合
エツジ内在画素が垂直方向に隣接している様子を第1図
(a)に示す0円の中心Ocとエツジ内在画素の標本点
とを結んだ線分0゜p、、ocp、あるいはその延長線
と、円との交点をC□、C8とする。
(a)に示す0円の中心Ocとエツジ内在画素の標本点
とを結んだ線分0゜p、、ocp、あるいはその延長線
と、円との交点をC□、C8とする。
第1図Ca)から明らかなように、エツジ勾配方向の差
分、すなわち偏角Δθ1+1(”θ8−01)を与/−
\ えるのは弧の長さC,C,である、以下Δθ、、=θj
−〇、と表す。
分、すなわち偏角Δθ1+1(”θ8−01)を与/−
\ えるのは弧の長さC,C,である、以下Δθ、、=θj
−〇、と表す。
この弧の長さの計測を高精度化することによって、ディ
ジタル画像において2標本点に対応するエツジ長さを精
度良く求める。ところが、円に関/−−\ C工C3をocp、、oep、を半径とする弧の長さの
平均で近似する。
ジタル画像において2標本点に対応するエツジ長さを精
度良く求める。ところが、円に関/−−\ C工C3をocp、、oep、を半径とする弧の長さの
平均で近似する。
ΔOcP、P、に正弦定理を適用すれば、・・・・・・
(5) が成り立つ、一方、Δ0ePiPオの幾何学的関係から 丁コ覇=1. Zo6P□P、=θ1+π/2゜10
cP z P > ”−θ2+π/2 ・’−(6)
であるから。
(5) が成り立つ、一方、Δ0ePiPオの幾何学的関係から 丁コ覇=1. Zo6P□P、=θ1+π/2゜10
cP z P > ”−θ2+π/2 ・’−(6)
であるから。
万フ町=丁コクsin (−θ8+π/2)/5in(
θj−01)= cosθ、/sinΔθx、−””・
・(7)となる、また。
θj−01)= cosθ、/sinΔθx、−””・
・(7)となる、また。
o、p、== Cogθ1/sinΔθx 、z ”
””(s)となる、したがって、弧の長さΔS1,2は
と求められる0式(9)をさらに変形すると・・・・・
・(10) となるので、エツジ内在画素が隣接しているような場合
には、Δθ□、3が小さいので、式(10)を%式%(
11) と簡略化しても良い、なお、エツジ勾配方向はU軸圧方
向から反時計回り方向を正にとっている。
””(s)となる、したがって、弧の長さΔS1,2は
と求められる0式(9)をさらに変形すると・・・・・
・(10) となるので、エツジ内在画素が隣接しているような場合
には、Δθ□、3が小さいので、式(10)を%式%(
11) と簡略化しても良い、なお、エツジ勾配方向はU軸圧方
向から反時計回り方向を正にとっている。
また、
θ1.J=(θ、十〇J)/2 ・・・・・・(12
)とする。
)とする。
(it)エツジ内在画素が水平方向に隣接している場合
エツジ内在画素が水平方向に隣接している様子を第1図
(b)に示す、上記(i)の場合と同様に、/″\ 弧の長さC3C4をocp、、ocp4を半径とする弧
の長さの平均値で近似する。Δocp、p4に正弦定理
を適用すると ・・・・・・(13) が成り立つ、一方。
(b)に示す、上記(i)の場合と同様に、/″\ 弧の長さC3C4をocp、、ocp4を半径とする弧
の長さの平均値で近似する。Δocp、p4に正弦定理
を適用すると ・・・・・・(13) が成り立つ、一方。
p、p、=i、 1ocp、p、=θat Zocp4
p、=π−θ。
p、=π−θ。
・・・・・・(14)
であることから、
・・・・・・(15)
あるいは
ΔS、、4=cos(e、、4−π/2) −=(
16)と求められる。
16)と求められる。
(団)エツジ内在画素が斜め方向に隣接している場合
エツジ内在画素が斜め方向に隣接している様子を第1図
(c)に示す、弧の長さC,C,を、ocp、。
(c)に示す、弧の長さC,C,を、ocp、。
oep、を半径とする弧の長さの平均値で近似する。
ps ps =fΣ、1Ocps pg =θ、+π/
4゜1ocp、p、=−θ、 + 3 x / 4であ
ることから、前と同様に考えれば ΔS、、、= ・・・・・・(17) ・・・・・・(18) あるいは ΔS、、、=IIcos(8,、、−π/4) −
・(19)と求められる。
4゜1ocp、p、=−θ、 + 3 x / 4であ
ることから、前と同様に考えれば ΔS、、、= ・・・・・・(17) ・・・・・・(18) あるいは ΔS、、、=IIcos(8,、、−π/4) −
・(19)と求められる。
(汁)一般の場合
物体のコントラストが小さいような場合には。
エツジ内在画素は必ずしも隣接してはおらず、とびとび
になることが多い、エツジ内在画素がこのような一般的
な位置関係にある様子を第1図(d)に示す。
になることが多い、エツジ内在画素がこのような一般的
な位置関係にある様子を第1図(d)に示す。
OcP、を半径とする弧の長さの平均値で近似する。
ところで、V軸から線分P、P、の傾きγを’I =
tan−’ ”工”i−−−−・−・(20)j−VJ として算出する。ただし、反時計回りを正とし、O≦γ
く2π とする、このようにγをとると、2標本点PlyP、に
おけるθ5.θj、γの幾何学的関係は第1図(e)の
ようになる、した°がって、ΔOcP、P、の各頂点の
角度は第1図(f)に示すようになる。前と同様に、Δ
ocp、p、に正弦定理を適用すると、2つの曲率半径
はそれぞれ 百]可=百1可cos(θ1−γ)/sinΔθ1,1
・・・・・・(21)百フ町=丁冒町eos (
θ、−γ)/sinΔθ1.J ・・・・・・(2
2)となる。したがって。
tan−’ ”工”i−−−−・−・(20)j−VJ として算出する。ただし、反時計回りを正とし、O≦γ
く2π とする、このようにγをとると、2標本点PlyP、に
おけるθ5.θj、γの幾何学的関係は第1図(e)の
ようになる、した°がって、ΔOcP、P、の各頂点の
角度は第1図(f)に示すようになる。前と同様に、Δ
ocp、p、に正弦定理を適用すると、2つの曲率半径
はそれぞれ 百]可=百1可cos(θ1−γ)/sinΔθ1,1
・・・・・・(21)百フ町=丁冒町eos (
θ、−γ)/sinΔθ1.J ・・・・・・(2
2)となる。したがって。
・・・・・・(23)
あるいは
ΔS (、1= P (P 3 cos(θt、t−y
) −−(24)と求められる。
) −−(24)と求められる。
なお、上記(i)、 (ti)、 (狙)の場合は、式
(23) 。
(23) 。
%式%
また、γがO,x/2. 寓/4の場合である。
(v)精度
本発明の2標本点に対応するエツジ長さ計測方法の精度
を第4図に示したデータを用いて調べる。
を第4図に示したデータを用いて調べる。
式(24)によって求められたエツジ長さΔSiJを真
のエツジ長さで除した結果を第5図に黒色の正方形■で
示す曲線(B)となる0本発明によって得られたエツジ
長さは真の値の0.95〜1.06倍の範囲に計測され
ている0両者はよく一致しばらつきも小さい、実際、計
測値の平均は1,004.標準偏差0.033である。
のエツジ長さで除した結果を第5図に黒色の正方形■で
示す曲線(B)となる0本発明によって得られたエツジ
長さは真の値の0.95〜1.06倍の範囲に計測され
ている0両者はよく一致しばらつきも小さい、実際、計
測値の平均は1,004.標準偏差0.033である。
この結果を従来の方法(第5図の(A))を用いて求め
たものと比較する。従来の方法では、計測値の平均が1
.081であったことから5本発明では従来の方法に比
べ精度が約20倍(=(1,081−工)/(1,0O
4−1))向上している。
たものと比較する。従来の方法では、計測値の平均が1
.081であったことから5本発明では従来の方法に比
べ精度が約20倍(=(1,081−工)/(1,0O
4−1))向上している。
次に、第6図に示した直線的エツジについて調べてみる
。第1図(d)において、θ、とθjが等しくなる。す
なわちエツジが直線的になるにつれて。
。第1図(d)において、θ、とθjが等しくなる。す
なわちエツジが直線的になるにつれて。
弧すなわち2標本点PIyPJに対応するエツジの長さ
はPIあるいはPJからo、p、あるいは0cPJに引
いた垂直の長さに近づいていき、θ1=θ」で一致する
。この場合、式(23)は式(24)になる。
はPIあるいはPJからo、p、あるいは0cPJに引
いた垂直の長さに近づいていき、θ1=θ」で一致する
。この場合、式(23)は式(24)になる。
第6図において、全ての点におけるエツジの勾配方向は
1.768 (= tan−”(−5))であるから、
2標本点に対応するエツジの長さP、P、以外は1−c
os (1,768−yc / 2 ) =0.981
. P、 P、はsr”j−cos (1,768−3
g / 4 ) = 1.177と求められる。これら
の値は各点間の真のエツジ長さそのものである。
1.768 (= tan−”(−5))であるから、
2標本点に対応するエツジの長さP、P、以外は1−c
os (1,768−yc / 2 ) =0.981
. P、 P、はsr”j−cos (1,768−3
g / 4 ) = 1.177と求められる。これら
の値は各点間の真のエツジ長さそのものである。
(つ)本発明の適用例
本発明は、物体の周囲長の計測、エツジ曲率の計測に適
用できる0周囲長、エツジ曲率は、ディジタル画像から
計測できる重要な物体についての情報であり、物体の認
識処理に用いられる。
用できる0周囲長、エツジ曲率は、ディジタル画像から
計測できる重要な物体についての情報であり、物体の認
識処理に用いられる。
従来、周囲長2は、隣接する画素に対して式(1)によ
り2s本点の長さを計測し、それを合計していた。すな
わち、 α= Σ P I P l*x ・・・・・・(2
5)−0 と求めていた。ここで、nは終点の番号である。
り2s本点の長さを計測し、それを合計していた。すな
わち、 α= Σ P I P l*x ・・・・・・(2
5)−0 と求めていた。ここで、nは終点の番号である。
従来の方法では水平、垂直方向に隣接している場合には
1.斜め方向の隣接している場合には1丁であり、それ
以外の値はとり得なかった。その結果、周囲長を精度良
く計測できなかった0本発明では、2標本点に対応する
エツジ長さを精度良く計測できるので、本発明を周囲長
の計測に適用することにより、この計測精度を向上する
ことができる。
1.斜め方向の隣接している場合には1丁であり、それ
以外の値はとり得なかった。その結果、周囲長を精度良
く計測できなかった0本発明では、2標本点に対応する
エツジ長さを精度良く計測できるので、本発明を周囲長
の計測に適用することにより、この計測精度を向上する
ことができる。
一方、ディジタル画像におけるエツジ曲率PI、Jは2
111本点P I t P Jのエツジ勾配方向の差分
Δθ1.Jとその長さΔS1.jを用いて、PI、J=
lΔθ1.J/ΔS1.Jlと定義される。したがって
、p、、、の計測精度とΔS1.Jの計測精度とは1対
1に対応している。
111本点P I t P Jのエツジ勾配方向の差分
Δθ1.Jとその長さΔS1.jを用いて、PI、J=
lΔθ1.J/ΔS1.Jlと定義される。したがって
、p、、、の計測精度とΔS1.Jの計測精度とは1対
1に対応している。
本発明により、ΔS1.Jの計測精度を向上することで
、Pl、jの計測精度を向上できる。
、Pl、jの計測精度を向上できる。
(発明の効果)
以上説明したように1本発明は、2標本点のエツジ勾配
方向や相対的位置関係を考慮することにより、ディジタ
ル画像におけるエツジ長を精度良く計測できる利点があ
る。本実施例では、約20倍精度が向上していることが
確認された。
方向や相対的位置関係を考慮することにより、ディジタ
ル画像におけるエツジ長を精度良く計測できる利点があ
る。本実施例では、約20倍精度が向上していることが
確認された。
第1図は本発明によるディジタル画像におけるエツジ長
さの計測方法を説明するための図、第2図はディジタル
化する前の画像内のエツジを説明するための図、第3図
はディジタル化した後の画像内のエツジを説明するため
の図、第4図はディジタル画像上に円を示した図、第5
図は2標本点に対応するエツジ長さを真のエツジ長さで
除した結果を示した図、第6図はディジタル画像上に直
線エツジを示した図、第7図はエツジ勾配方向を説明す
るための図である。 1.2 ・・・物体、 3・・・エツジ。 ■ 第 図 (0) (b) (d) 第 図 第 図 (e) 歯学中心 (f) 第 図 第 5 図 工、・ノ内右I邑乗り務ろPi 第 図 ■ V、、 = 1/)LJIJ+1 第 ア 図
さの計測方法を説明するための図、第2図はディジタル
化する前の画像内のエツジを説明するための図、第3図
はディジタル化した後の画像内のエツジを説明するため
の図、第4図はディジタル画像上に円を示した図、第5
図は2標本点に対応するエツジ長さを真のエツジ長さで
除した結果を示した図、第6図はディジタル画像上に直
線エツジを示した図、第7図はエツジ勾配方向を説明す
るための図である。 1.2 ・・・物体、 3・・・エツジ。 ■ 第 図 (0) (b) (d) 第 図 第 図 (e) 歯学中心 (f) 第 図 第 5 図 工、・ノ内右I邑乗り務ろPi 第 図 ■ V、、 = 1/)LJIJ+1 第 ア 図
Claims (2)
- (1)ディジタル画像におけるエッジ長さ計測方法にお
いて、 内部にエッジを含む2画素の標本点P_i、P_jと、
該2画素の標本点においてエッジ勾配方向θ_i、θ_
jに引いた2直線の交点をO_cと、これらP_i、P
_j、O_cの3点によって定めた三角形O_cP_i
P_jについて、線分@O_cP_i@または@O_c
P_j@、あるいは両者の平均値により上記2画素の曲
率半径を求め、更に、上記2画素間のエッジ勾配方向の
差と、該曲率半径との積を上記2画素から前記エッジに
引いた2法線で切り取られる長さをエッジの長さとする
ことを特徴とするディジタル画像におけるエッジ長さ計
測方法。 - (2)ディジタル画像におけるエッジ長さ計測方法にお
いて、 内部にエッジを含む2画素の標本点P_i、P_jと、
該2画素の標本点のエッジ勾配力向θ_i、θ_jとか
ら @P_iP_j@cos(θ_i−γ)+cos(θ_
j−γ)/2sin(θ_i−θ_j)ただし、γは@
P_iP_j@とv軸正方向のなす角度 により、該2画素の曲率半径を求め、更に2画素間のエ
ッジ勾配方向の差と、上記曲率半径との積@P_iP_
j@cos(θ_i−γ)+cos(θ_j−γ)/2
sin(θ_j−θ_i)(θ_j−θ_i)あるいは
、上式を近似した @P_iP_j@cos(θi−γ)+cos(θ_j
−γ)/2更に、θ_i、θ_jの何れか一方で置換し
た@P_iP_j@cos(θ_i−γ)または@P_
iP_j@cos(θ_j−γ)を、前記2画素から前
記エッジに引いた2法線で切り取られる長さをエッジの
長さにすることを特徴とするディジタル画像におけるエ
ッジ長さ計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1200204A JPH0365605A (ja) | 1989-08-03 | 1989-08-03 | ディジタル画像におけるエッジ長さ計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1200204A JPH0365605A (ja) | 1989-08-03 | 1989-08-03 | ディジタル画像におけるエッジ長さ計測方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0365605A true JPH0365605A (ja) | 1991-03-20 |
Family
ID=16420535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1200204A Pending JPH0365605A (ja) | 1989-08-03 | 1989-08-03 | ディジタル画像におけるエッジ長さ計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0365605A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002320670A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-05 | Jms Co Ltd | 腹膜透析用保護具 |
WO2009038073A1 (ja) | 2007-09-19 | 2009-03-26 | Keiji Okamoto | 腹巻 |
CN102294488A (zh) * | 2011-08-23 | 2011-12-28 | 浙江锐利硬质合金有限公司 | 一种钨钴硬质合金回收工艺 |
JP2014509908A (ja) * | 2011-03-21 | 2014-04-24 | ケアストリーム ヘルス インク | 歯の表面の分類のための方法 |
-
1989
- 1989-08-03 JP JP1200204A patent/JPH0365605A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002320670A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-05 | Jms Co Ltd | 腹膜透析用保護具 |
WO2009038073A1 (ja) | 2007-09-19 | 2009-03-26 | Keiji Okamoto | 腹巻 |
JP2014509908A (ja) * | 2011-03-21 | 2014-04-24 | ケアストリーム ヘルス インク | 歯の表面の分類のための方法 |
CN102294488A (zh) * | 2011-08-23 | 2011-12-28 | 浙江锐利硬质合金有限公司 | 一种钨钴硬质合金回收工艺 |
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