[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JPH0344890A - 半導体記憶装置のデータ出力制御回路 - Google Patents

半導体記憶装置のデータ出力制御回路

Info

Publication number
JPH0344890A
JPH0344890A JP1179814A JP17981489A JPH0344890A JP H0344890 A JPH0344890 A JP H0344890A JP 1179814 A JP1179814 A JP 1179814A JP 17981489 A JP17981489 A JP 17981489A JP H0344890 A JPH0344890 A JP H0344890A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
output
clock pulse
latch
output control
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1179814A
Other languages
English (en)
Inventor
Masami Masuda
正美 増田
Kenichi Nakamura
健一 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP1179814A priority Critical patent/JPH0344890A/ja
Priority to KR1019900010475A priority patent/KR930002255B1/ko
Priority to EP90113339A priority patent/EP0408032B1/en
Priority to US07/551,303 priority patent/US5073872A/en
Priority to DE69022644T priority patent/DE69022644T2/de
Publication of JPH0344890A publication Critical patent/JPH0344890A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1057Data output buffers, e.g. comprising level conversion circuits, circuits for adapting load
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1048Data bus control circuits, e.g. precharging, presetting, equalising
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/106Data output latches

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、半導体記憶装置のデータ出力制御1すj路に
関し、特に、ATD (アドレス遷移検出器)のクロッ
クを用いていわゆるデータイコライズを行う製品に適用
して好適な半導体記憶装置のデータ出力制御回路に関す
る。
(従来の技術) 第6図は従来のデータ出力制御回路の構成図である。図
において示すように、点線で囲んで示される出力回路部
OCには、データ線dおよびaからデータが入力される
。このデータはノアゲートG1およびG2に入力される
。この場合、アクセスを高速にするためにデータ線dお
よびaをイコライズする必要がある。このために、AT
D (アドレス遷移検出器)がアドレス信号の変化を検
出して出力するタロツクパルスΦ(ATDパルス)が用
いられる。そして、このクロックパルスΦは、ノアゲー
トGl、G2と、データ線d、dt[続するトランジス
タM3のゲートとに人力される。
ノアゲートG1の出力点N4およびノアゲートG2の出
力点N5は、それぞれ、出力トランジスタM1と出力ト
ランジスタM2のゲートに接続されている。出力トラン
ジスタMl、M2は直列に接続され、それらのトランジ
スタMl、M2の出力は出力点N1から導出される。−
h゛、直流電源Eから点線で囲んで示した出力回路部O
Cに電源電位V と接地電位V が与えられる。この電
源ec              SSEには等価的
にコンデンサC2が並列接続されている。さらに、電源
Eの電源電位V 側にはリアC クタンスL2と抵抗R2が直列に、接地電位V 側には
りアクタンスL3と抵抗R3が直列接S 続されている。そして、出力回路部OCにおいても、電
源系には、等価的に、電源電位V 側の人C 力点N2以降に抵抗R4が、接地電位V 側の人S 力点N3以降に抵抗R5が介在する。また、出力回路部
OCの出力側にも等価的に抵抗R1、リアクタンスL1
、コンデンサC1の直列回路が存在する。
以上のような構成において、次にその動作を第7図のタ
イミングチャートに基づいて説明する。
ちなみに、同図(a)は電源電位V の人力点C N2の状態、(b)はアドレス信号の変化、(c)はク
ロックパルスΦ、(d)はデータnHの状態、(e)は
データ線dの状態、(f)はノアゲートG1の出力点N
4の状態、(g)はノアゲートG2の出力点N5の状態
、(h)は出力トランジスタMl、M2の出力点N1の
状態、(i)は接地電位V の入力点N3の状態をそれ
ぞれ示すもS のである。
第7図(b)に示すように、アドレス信号は時刻11 
 (1,)において変化する。これに合わせて第7図(
C)に示すように、クロックパルスΦはt2からt3の
間にハイレベル(ψl)になる信号として得られる。こ
のクロックパルスΦは、第6図かられかるように、トラ
ンジスタM3のゲートに人力されてそれをオンする。こ
れにより、データ線d、aの電位がt2〜t3の間、第
7図(d)、(e)に示すように中間電位となる。−方
、クロックパルスΦは、′ノアゲートGl、G2にも与
えられる。これにより、ノアゲートGl。
G2の出力点N4.N5は、t2〜t3の間、第7図(
f)、(g)に示すように、ロウレベルとなる。そして
、ノアゲートGl、G2の出力は出力トランジスタM1
.M2のゲートに人力される。
それらのトランジスタMl、M2の出力点N1には、第
7図(h)に示すように、データの出力波形が得られる
。ちなみに、クロック、パルスΦによるイコライズのレ
ベルは、直流電源Eから与えられる電源電位V と接地
電位■ の中間電位であcc            
 ss る。そして、その中間電位のレベルによって、出力トラ
ンジスタM1と出力トランジスタM2が回路にオンしな
いようにして、電源電位V 側からC 出力トランジスタM1、出力トランジスタM2、接地電
位V 側に至る貫通電流が流れないようにS している。
なお、イコライズ時に出力トランジスタM1とM2に貫
通電流が流れないようにするために、第8図のように構
成した回路がある。この回路は、ノアゲートG1と62
とでラッチ回路を形成して、イコライズ時には前のデー
タを保持するようにしたものである。しかしながら、こ
の回路は、データアクセス時のゲート段数が一段増える
。このため、高速アクセスが行えなくなる。
(発明が解決しようとする課題) 従来のデータ出力制御装置は上記のように構成されてい
る。このため、データを出力する時に出刃側の負荷にあ
るコンデンサC1が高速で急速充放電される。しかし、
これによる電源電位V とC 接地電位V の変動が避けられない。つまり、第S 6図に示すように、直流電源Eには並列にコンデンサC
2が等価的に介在し、電源電位V 側にはC リアクタンスL2、抵抗R2が等価的に直列に介在し、
接地電位V 側にはりアクタンスL3、抵S 抗R3が等価的に直列に介在している。一方、出力回路
部OC側の電源電位V には抵抗R4が、C 接地電位V 側には抵抗R5が等価的に存在する。
S このため、負荷側を高速でアクセスしようとすると電源
電位V の人力点N2および接地電位V8SC の人力点N3では当然レベルの変動を伴う。この電位v
ee”88の変動は信号出力のノイズとなり、半導体回
路の誤動作を引き起こす原因となる。つまり、第9図に
示すように、電源電位V と接地C 電位V に変動があると、本来人力信号にノイズS がなくても相対的に人力信号にノイズがあるのと等価な
動作となる。このため、ATDの誤動作を引キ起コして
、クロックパルスΦなどの誤人力を起こす可能性が高い
第6図に示した従来のデータ出力制御装置の場合、第7
図(a)、(i)に示すように、電源電位V と接地電
位Vssにt4〜t5の間にノイズC が発生するとする。すると、ATDが誤動作して、クロ
ックパルスΦが、第7図(C)に点線で示すように、t
4〜t5の間に誤ってハイレベル(ψ2)となることが
ある。この場合、t4とt5の間のクロックパルスΦ(
ハイレベルψ2)により、出力トランジスタMl、M2
による出力はハイインピーダンスになってしまう。これ
により、アクセスされかかった出力点N1の電位変化が
、第7図(h)に点線で示すように(t4とt5の間)
、止まってしまう。そして、t5の時点でクロックパル
スΦがLレベルに戻ると、この出力のハイインピーダン
ス状態は解除され、引き続き出力のアクセスが行なわれ
る。つまり、t5以後に、第7図(h)に示すように、
点N1の電位が上昇する。この場合、アクセスの遅れが
発生することになる。これは、高速アクセスを要する系
では大きな問題となる。
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的は、
電源ノイズによりATDが誤動作してクロックパルスを
出力しても、データ出力に影響が無く、高速アクセス性
を損なわないデータ出力制御回路を提供することにある
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明の第1の半導体記憶装置のデータ出力制御回路は
、アドレス遷移検出器からのクロックパルスに基づいて
、データ線をイコライズ手段によってイコライズし、そ
の後遷移後の新たなアドレスによって選択される新たな
メモリセルが記憶するデータをデータ線に出力させ、そ
のデータを出力端から出力する半導体記憶装置のデータ
出力制御回路において、前記データ線のうちの、前記イ
コライズ手段と前記出力端との間の部分に直列に挿入接
続され、常時導通しておりnつ前記クロックパルスによ
ってオフするスイッチ手段と、前記データ線のうちの、
前記スイッチ手段と前記出力端との間の部分に挿入接続
され、前記データ線の電位をラッチするラッチ手段と、
を備えたものとして構成される。
本発明の第2の半導体記憶装置のデータ出力制御回路は
、前記第1の半導体記憶装置のデータ出力制御回路にお
いて、前記データ線は、前記メモリセルから出力される
相補の一対のデータが供給される一対の相補のデータ線
を備えるものであるものとして構成される。
本発明の第3の半導体記憶装置のデータ出力制御回路は
、前記第2の半導体記憶装置のデータ出力制御回路にお
いて、前記スイッチ手段と前記ラッチ手段は、前記相補
の一対のデータ線のうちの少なくとも一方に設けられて
いるものとして構成される。
(作 用) ATDからのクロックパルスによるデータ線のイコライ
ズ中は、スイッチ手段がオフする。これにより、貫通電
流が流れるのは阻止される。この後、スイッチ手段がオ
ンしてラッチ手段がデータ線の電位をラッチする。即ち
、ラッチ手段が選択されたメモリセルのデータをラッチ
する。このラッチデータに基づいて出力が行われる。こ
の出力中にノイズによってATDがクロックパルスを誤
出力したとする。しかしながら、このクロックパルスに
よって上記スイッチ手段がオフしても、上記ラッチ手段
によってデータは中断することなく連続的に出力される
。これにより、高速なデータ読み出しが行われる。
(実施例) 以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例に係るデータ出力制御装置の
回路構成図を示すものである。
第1図において示すように、データ線d、汗には複数の
メモリセルが接続されている。そして、出力トランジス
タM1のゲートと出力トランジスタM2のゲート前段に
、データ線d、aを人力とするバッファ(スイッチ手段
)Blと82をそれぞれ設ける。これらのバッファB1
と82をトライステート構造としである。それにより、
クロックパルスΦによって、これらのバッファBl。
B2の出力をハイインピーダンス状態にすることができ
る。なお、データ線d、=はクロックパルスΦを人力さ
れるトランジスタM3によってイコライズされる。また
、出力トランジスタMlとM2のゲートには、インバー
タを組み合わせて構成されるラッチ(ラッチ手段)Fl
、F2が配置されている。これにより、バッファBl、
B2の出力がハイインピーダンスの時に、ハイインピー
ダンスになる直前の状態が保持される。
以上のような構成において、次にその動作を第2図のタ
イミングチャートに基づいて説明する。
ちなみに、同図(a)はアドレス信号の変化、(b)は
クロックパルスΦ、(C)はデータ線a。
dの状態、(d)はバッファB1の出力点N4並びにバ
ッファB2の出力点N5の状態、(e)は出力トランジ
スタMl、M2の出力点N1の状態、(f)は電源電位
■ の入力点N2の状態、(g)C は接地電位V の入力点N3の状態をそれぞれ示S すものである。
第2図(a)に示すように、アドレス信号は11  (
16)の時刻で変化する。これに合わせて第2図(b)
に示すように、クロックパルスΦはt からt3の間に
ハイレベル(ψI)となる。
このクロックパルスΦはトランジスタM3のゲートに入
力されて、データ線d、Jの電位をt2〜t3の間、第
2図(c)に示すように、中間電位にする。一方、クロ
ックパルスΦはさらにバッファBl、B2にも与えられ
る。これにより、バッファBl、B2の出力点N4.N
5は、t2〜t3の間は、ハイインピーダンスとなる。
ところが、バッファBl、B2の出力点N4.N5には
ラッチFl、F2が接続されている。このため、バッフ
ァBl、B2がハイインピーダンスの場合は、出力点N
4.N5の電位はラッチFl、F2によって、第2図(
d)に示すように、前の状態に保持される。そして、ク
ロックパルスΦが、t3の時点で、ロウレベルになると
、トランジスタM3によるデータ線d、aのイコライズ
が解除される。これにより、データ線d、aのレベルが
確定し且つバッファBl、B2のハイインピーダンス状
態が解除される。これにより、バッファBl、B2の出
力点N4.N5の状態は、第2図(d)に示すように、
第2図(C)に示したデータ線d、aに基づくレベルに
なる。その結果、出力トランジスタMl、M2の出力点
N1には、第2図(e)に示すように、データの出力波
形が得られる。
さて、この後、第2図(f)と(g)に示すように、電
源電位V と接地電位vS、に【4〜t5C の間にノイズが発生したとする。これにより、ATDが
誤動作して、クロックパルスΦが第2図(b)示すよう
に、【4〜t5の間にハイレベル(ψ2)となることが
ある。この場合、クロックパルスΦのハイレベル(ψ2
)によりバッファBl、B2の出力はハイインピーダン
スになってしまう。しかし、その出力点N4.N5は、
第2図(d)に示すように、ラッチFl、F2によりハ
イインピーダンスになる前の状態を保持されている。従
って、第2図(e)に示すように、出力トランジスタM
l、M2のゲート人力の状態は変化せず、その出力点N
1はクロックパルスΦのノイズに無関係に中断されるこ
となく上昇変化してゆく。そして、t5の時点でクロッ
クパルスΦがロウレベルに戻ると、バッファBl、B2
の出力のハイインピーダンス状態が解除される。この時
点で、データ線d、  Hのレベルも、第2図(c)の
t5以後に示されるように、イコライズの解除に伴い確
定する。これにより、引き続き出力のアクセスが行なわ
れることになる。この場合も、第2図(d)に示すよう
に、バッファBl、B2の出力点N4.N5のレベルは
変わらない。従って、出力トランジスタMl、M2の出
力点N1はクロックパルスΦのノイズに無関係に、中断
されることなく変化してゆく。
第3図は本発明の他の実施例に係るデータ出力制御装置
の回路構成図である。本実施例は、出力の制御信号OE
がある場合の構成を例示するものである。バッファBl
、B2に、この制御信号0EをクロックパルスΦに重畳
して人力している。
さらに、バッファBl、B2の各出力端(N4゜N5)
とアース(接地電位V )との間にトランS ジスタTl、T2が接続され、それらのトランジスタの
ゲートにはこの制御信号OEがゲート人力されている。
本実施例においては、制御信号OEがロウレベルの時に
は、第3図の回路と第1図の回路とは全く同様の動作を
行なう。ただし、制御信号OEがハイレベルの時は、他
の信号の状態に無関係に、出力トランジスタMl、M2
の出力点N1の状態をハイレベルにする。
第4図は本発明の更に他の実施例に係るデータ出力制御
装置の回路構成図である。同図の回路が第3図の回路と
異なる点は、ラッチFl、F2に、クロックパルスΦで
動作する制御ゲートCGI。
CG2を設けたことにある。
本実施例では、バッファBl、B2がハイインピーダン
ス状態の時だけ、ラッチFl、F2によるデータのラッ
チ動作が行なわれる。
第5図は本発明の別の実施例に係るデータ出力制御装置
の回路構成図である。同図の回路が第3図の回路と異な
る点は、出力トランジスタM1については、第6図の従
来のものと同様に、ノアゲートG1によるゲート制御を
行なわせるようにしたことにある。
本実施例では、データ出力のハイレベルをアクセスする
時に、ノイズのアドレス人力に対する影響によるATD
の誤動作でクロックパルスΦが発生すると、アクセス時
間の遅延をおこしてしまう。
しかしながら、データ出力のロウレベルをアクセスする
場合は、第3図の回路と同様に、ノイズによるアクセス
時間の遅延を伴わずに、データ出力のアクセスができる
。つまり、第5図の回路は、データ出力のロウレベルの
アクセスの時のみノイズが問題になるような場合に効果
的な構成である。
一方、データ出力のハイレベルへのアクセス時のみノイ
ズが問題になるような場合には、例えば、第3図におい
て、バッファB2、トランジスタT2及びラッチF2の
代わりにノアゲートG2を用いればよい。
以上の各実施例の構成においては、出力トランジスタの
入力側にデータを保持するラッチが設けられている。そ
のため、その前段にあるバッファがデータ出力のアクセ
ス中に誤ってハイインピーダンスになっても、出力トラ
ンジスタの入力側は状態変化を起さず、出力アクセスの
遅延が生じることはない。従って、高速アクセスが維持
される。・〔発明の効果〕 以上のように、本発明によれば出力アクセス中に電源ラ
インのノイズによりATDが誤動作してイコライズ用の
クロックパルスが誤人力されても、データ出力のアクセ
スは中断されず、従って高速アクセスに適したデータ出
力制御回路を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係るデータ出力制御回路の
構成図、第2図は第1図の構成の動作を説明するための
タイミングチャート、第3図、第4図、第5図はそれぞ
れ本発明の他の、更に他のおよび別の実施例に係るデー
タ出力制御回路の構成図、第6図は従来のデータ出力制
御回路の構成図、第7図は第6図の動作を説明するため
のタイミングチャート、第8図は出力トランジスタの貫
通電流を防止するための別の溝底を例示する部分回路構
成図、第9図はノイズの発生を説明するための波形図で
ある。 Ml、〜2・・・出力トランジスタ、Bl、B2・・・
バッファ、Fl、F2・・・ラッチ、〜3・・・トラン
ジスタ、Gl、G2・・・ノアゲート、CGI、CG2
・・・ゲート。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、アドレス遷移検出器からのクロックパルスに基づい
    て、データ線をイコライズ手段によってイコライズし、
    その後遷移後の新たなアドレスによって選択される新た
    なメモリセルが記憶するデータをデータ線に出力させ、
    そのデータを出力端から出力する半導体記憶装置のデー
    タ出力制御回路において、 前記データ線のうちの、前記イコライズ手段と前記出力
    端との間の部分に直列に挿入接続され、常時導通してお
    り且つ前記クロックパルスによつてオフするスイッチ手
    段と、 前記データ線のうちの、前記スイッチ手段と前記出力端
    との間の部分に挿入接続され、前記データ線の電位をラ
    ッチするラッチ手段と、 を備えたことを特徴とする半導体記憶装置のデータ出力
    制御回路。 2、前記データ線は、前記メモリセルから出力される相
    補の一対のデータが供給される一対の相補のデータ線を
    備えるものである請求項1記載の半導体記憶装置のデー
    タ出力制御回路。 3、前記スイッチ手段と前記ラッチ手段は、前記相補の
    一対のデータ線のうちの少なくとも一方に設けられてい
    る請求項2記載の半導体記憶装置のデータ出力制御回路
JP1179814A 1989-07-12 1989-07-12 半導体記憶装置のデータ出力制御回路 Pending JPH0344890A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1179814A JPH0344890A (ja) 1989-07-12 1989-07-12 半導体記憶装置のデータ出力制御回路
KR1019900010475A KR930002255B1 (ko) 1989-07-12 1990-07-11 반도체 기억장치의 데이터출력 제어회로
EP90113339A EP0408032B1 (en) 1989-07-12 1990-07-12 Data output control circuit for semiconductor storage device
US07/551,303 US5073872A (en) 1989-07-12 1990-07-12 Data output control circuit for semiconductor storage device
DE69022644T DE69022644T2 (de) 1989-07-12 1990-07-12 Steuerschaltung für den Datenausgang für eine Halbleiterspeicheranordnung.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1179814A JPH0344890A (ja) 1989-07-12 1989-07-12 半導体記憶装置のデータ出力制御回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0344890A true JPH0344890A (ja) 1991-02-26

Family

ID=16072356

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1179814A Pending JPH0344890A (ja) 1989-07-12 1989-07-12 半導体記憶装置のデータ出力制御回路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5073872A (ja)
EP (1) EP0408032B1 (ja)
JP (1) JPH0344890A (ja)
KR (1) KR930002255B1 (ja)
DE (1) DE69022644T2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09204768A (ja) * 1996-01-30 1997-08-05 Nec Corp 半導体記憶装置

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5311471A (en) * 1989-11-27 1994-05-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device
JP2573392B2 (ja) * 1990-03-30 1997-01-22 株式会社東芝 半導体記憶装置
JPH0834060B2 (ja) * 1990-06-22 1996-03-29 株式会社東芝 半導体記憶装置
US5255222A (en) * 1991-01-23 1993-10-19 Ramtron International Corporation Output control circuit having continuously variable drive current
US5239506A (en) * 1991-02-04 1993-08-24 International Business Machines Corporation Latch and data out driver for memory arrays
US5278803A (en) * 1991-09-11 1994-01-11 Compaq Computer Corporation Memory column address strobe buffer and synchronization and data latch interlock
EP0547892B1 (en) * 1991-12-17 1998-10-28 STMicroelectronics, Inc. An integrated circuit with self-biased differential data lines
JPH05250872A (ja) * 1992-03-09 1993-09-28 Oki Electric Ind Co Ltd ランダム・アクセス・メモリ
JP2803466B2 (ja) * 1992-04-28 1998-09-24 日本電気株式会社 半導体記憶装置の救済方法
US5306963A (en) * 1992-06-19 1994-04-26 Intel Corporation Address transition detection noise filter in pulse summation circuit for nonvolatile semiconductor memory
US5418479A (en) * 1993-12-27 1995-05-23 Intel Corporation Method and circuitry for generating a safe address transition pulse in a memory device
US5471157A (en) * 1994-03-31 1995-11-28 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Integrated circuit with centralized control of edge transition detection pulse generation
KR0172798B1 (ko) * 1995-06-30 1999-03-30 김주용 모드 적응형 데이타 출력 버퍼
US5689462A (en) * 1995-12-22 1997-11-18 Townsend And Townsend And Crew, Llp Parallel output buffers in memory circuits
KR100278988B1 (ko) * 1998-02-25 2001-02-01 김영환 어드레스 천이 검출회로
US6285627B1 (en) * 2000-04-25 2001-09-04 Advanced Micro Devices, Inc. Address transition detector architecture for a high density flash memory device
JP2005032020A (ja) * 2003-07-07 2005-02-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 記憶装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61165884A (ja) * 1986-01-22 1986-07-26 Hitachi Ltd 半導体メモリ装置
JPS61172294A (ja) * 1985-01-28 1986-08-02 Seiko Epson Corp 半導体記憶装置
JPS63102093A (ja) * 1986-10-17 1988-05-06 Nec Corp 半導体メモリ
JPS63213193A (ja) * 1987-02-27 1988-09-06 Nec Corp メモリ回路
JPS6489097A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Toshiba Corp Semiconductor integrated circuit
JPH01173387A (ja) * 1987-12-28 1989-07-10 Toshiba Corp 半導体集積回路

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0799639B2 (ja) * 1987-07-31 1995-10-25 株式会社東芝 半導体集積回路
US4959816A (en) * 1987-12-28 1990-09-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit
JPH02226589A (ja) * 1989-02-27 1990-09-10 Nec Corp 半導体記憶装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61172294A (ja) * 1985-01-28 1986-08-02 Seiko Epson Corp 半導体記憶装置
JPS61165884A (ja) * 1986-01-22 1986-07-26 Hitachi Ltd 半導体メモリ装置
JPS63102093A (ja) * 1986-10-17 1988-05-06 Nec Corp 半導体メモリ
JPS63213193A (ja) * 1987-02-27 1988-09-06 Nec Corp メモリ回路
JPS6489097A (en) * 1987-09-30 1989-04-03 Toshiba Corp Semiconductor integrated circuit
JPH01173387A (ja) * 1987-12-28 1989-07-10 Toshiba Corp 半導体集積回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09204768A (ja) * 1996-01-30 1997-08-05 Nec Corp 半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5073872A (en) 1991-12-17
EP0408032B1 (en) 1995-09-27
DE69022644D1 (de) 1995-11-02
KR910003666A (ko) 1991-02-28
KR930002255B1 (ko) 1993-03-27
DE69022644T2 (de) 1996-04-11
EP0408032A3 (en) 1992-08-05
EP0408032A2 (en) 1991-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0344890A (ja) 半導体記憶装置のデータ出力制御回路
NL192646C (nl) Differentieelaftastversterker.
US5068831A (en) Data read circuit for semiconductor storage device
US5043944A (en) Semiconductor memory device with improved output to differential data lines
US5146427A (en) High speed semiconductor memory having a direct-bypass signal path
KR100328161B1 (ko) 집적 회로 메모리
KR940004520B1 (ko) 반도체기억장치
JP2743878B2 (ja) 入力バッファ回路
US5237536A (en) Semiconductor memory device having split operation and capable of reducing power supply noise
JP2575449B2 (ja) 半導体メモリ装置
US5715204A (en) Sense amplifier with hysteresis
JPS6366786A (ja) メモリ回路
JP3805802B2 (ja) 半導体メモリ装置のデータ出力回路
US4594519A (en) Low power consumption, high speed CMOS signal input circuit
US6005430A (en) Clock skew circuit
JPH10255472A (ja) 同期atd信号を発生する方法及び対応する回路
US3936810A (en) Sense line balancing circuit
US5675266A (en) Signal amplifying device
JP3109986B2 (ja) 信号遷移検出回路
US4841279A (en) CMOS RAM data compare circuit
JPS6286599A (ja) 半導体記憶装置
US6603338B1 (en) Device and method for address input buffering
US4958319A (en) Address amplifier circuit having automatic interlock and protection against multiple addressing for use in static GaAs RAMs
US6421264B1 (en) CAM Cell Circuit having decision circuit
JP2935605B2 (ja) 半導体集積回路装置