JPH03214088A - Radiation monitor - Google Patents
Radiation monitorInfo
- Publication number
- JPH03214088A JPH03214088A JP707590A JP707590A JPH03214088A JP H03214088 A JPH03214088 A JP H03214088A JP 707590 A JP707590 A JP 707590A JP 707590 A JP707590 A JP 707590A JP H03214088 A JPH03214088 A JP H03214088A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- counting rate
- time
- circuit
- count value
- counting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 43
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 3
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 101100311260 Caenorhabditis elegans sti-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
〔発明の1−1的〕
(産業上の利用分野)
本発明は放射線をモニタする放射線モニタ装置に関する
。
(従来の技術)
周知のように、従来の放射線モニタ装置においては、パ
ルス式放射線検出器の出力(放射線の7ti荷を示す信
号)をダイオードポンプ回路に供給し、このダイオード
ポンプ回路を構成するCRH路の時定数により指示値の
バラツキを一定範囲内に押さえながら前記パルス式放射
線検出器の出力を電圧値に変換した後、このミル値に基
づいて前記放射線の強度を表示する。
しかしながらこのようなダイオードポンプ回路の指示値
は、
で示される相対標準偏差に比例して指示値のノ・ラツキ
が大きくなるため、計数率が大きいところで指示値のバ
ラツキを小さくすることができるものの、計数率が小さ
いところでは指示値のバラツキが大きくなってしまうと
いう問題があった。
そこでこのような問題を解決する方法として、時定数の
異なる複数のダイオードポンプ回路を設け、出力レベル
に応じてダイオードポンプ回路を切り替えて指示値のバ
ラツキを一定範囲に納める方法が開発されている。
しかしながら、このような方法では、部品数が多くなり
その分だけ実装スペースが余分に必要になるという問題
があり、また時定数の切替が段階的に行オ〕れるため、
人力が変化したとき、出力が折れ線になるという問題が
ある。さらに、コンピュータ等とのデータ授受がアナロ
グになり、また精度の向上に限界がある等の問題がある
。
このため、最近では、第5図に示す如くパルス式放射線
検出器101の出力を計数回路102によってJ数した
後、この計数結果を演算回路1()3に供給してサンプ
リング時間で計数値を除算させて計数率を求める方法を
採用することが多い。
この場合、ダイオードポンプ回路のときと同様に、演算
回路103に多段のダイオードポンプ回路を模擬した演
算、例えば次式に示す如く出力の前回の計数率R1−1
に応じて時定数を変化させる演算を行なわせてアナログ
処理のときと同程度の精度を得ている。
但し、R++−1:前回出力した計数率(CPS)R7
:今回出力した計数率(CPS)
ΔC:今回収集した計数値(カウント)Δ[Object 1-1 of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a radiation monitoring device for monitoring radiation. (Prior Art) As is well known, in a conventional radiation monitoring device, the output of a pulsed radiation detector (signal indicating the 7ti charge of radiation) is supplied to a diode pump circuit, and the CRH constituting this diode pump circuit After converting the output of the pulse type radiation detector into a voltage value while suppressing the variation in the indicated value within a certain range using the time constant of the pulse, the intensity of the radiation is displayed based on this mil value. However, the fluctuation of the indicated value of such a diode pump circuit increases in proportion to the relative standard deviation, which is expressed by There is a problem in that the variation in indicated values becomes large when the counting rate is small. Therefore, as a method to solve this problem, a method has been developed in which multiple diode pump circuits with different time constants are provided and the diode pump circuits are switched depending on the output level to keep the variation in indicated values within a certain range. However, with this method, there is a problem that the number of components increases, which requires extra mounting space, and the time constant is switched in stages.
There is a problem that when the human power changes, the output becomes a polygonal line. Furthermore, there are problems such as data exchange with a computer or the like becoming analogue, and there being a limit to improvement in accuracy. For this reason, recently, as shown in FIG. 5, after the output of the pulse type radiation detector 101 is multiplied by J numbers by the counting circuit 102, this counting result is supplied to the arithmetic circuit 1()3 and the counted value is calculated at the sampling time. A method of calculating the counting rate by dividing is often adopted. In this case, as in the case of the diode pump circuit, the calculation circuit 103 performs a calculation simulating a multi-stage diode pump circuit, for example, calculates the previous counting rate R1-1 of the output as shown in the following equation.
By performing calculations that change the time constant in accordance with However, R++-1: Counting rate (CPS) output last time R7
: Counting rate (CPS) output this time ΔC: Count value (count) Δ collected this time
【 :サンプ
リング時間(秒)
T 二時定数(秒)
そして、この(2)式中の時定数Tは、R,−1儂 σ
2
但し、σ:相対的な標準偏差(出力を1にしたときにお
けるバラツキを示す値)
で表わすことができるので、m*偏差σに対応する特性
で計数値ΔCをフィルタリングすることができる。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら上述した従来の各方法においては、次に述
べるような問題があった。
すなわち、時定数を固定したダイオードポンプ回路を使
用した場合には、計数率が変化すると、標準偏差(出力
指示値のバラツキの度合)σが変化して計数率R7がバ
ラついてしまうという問題がある。
また、異なる時定数を持つダイオードポンプ回路を並列
に並べた回路を使用した場合には、計数率R9,に応し
て時定数Tが変化させることができるので、標準偏差σ
をほぼ一定に保つことができるものの、時定数Tが段階
的に変化するため、出力変化が折れ線的になり、また部
品数が多いためコスト、実装スペース等の問題が発生す
る。またこの方法では、出力がアカログ値であるため、
コンピュータ等とのデータ授受が難しく、また必要な精
度を確保するのが難しいという問題がある。
また、演算回路103を使用してデジタル処理によって
#1数値八〇から計数率R0を演算する方法では、時定
数Tを連続的に変化させることができるので、出力変化
をなめらかにすることができ、また部品数を少なくする
ことができ、さらにコンピュータ等とのデータ授受をデ
ジタル値で行なうことができるという利点がある。しか
しながら、この方法では、前記(2)式を使用している
関係上、この(2)式で使用されている指数関数演算を
行なわなければならないので、計算時m1が長くなり計
数値ΔCから計数率R1を算出する処理を高速で行なう
ことができないという問題がある。
また、この方法では、前記(3)式によって時定数Tを
求めると、計数率R7が低い状態から高い状態に急激に
変化したとき、低い計数率に対応する時定数Tが使用さ
れるため、計数率R,が大きくなるのが遅れて応答が遅
くなってしまうという問題がある。
本発明は上記の事情に鑑み、デジタル処理によって計数
率を求めることができ、これによって計測の高精度化お
よび装置の低コスト化、省スペース化等を図ることがで
きるとともに、出力を清らかにすることができ、さらに
応答速度を大幅に向上させることができる放射線モニタ
装置を提供することを目的としている。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段)
上記の目的を達成するために本発明による放射線モニタ
装置は、パルス式放射線検出器から出力されるパルス信
号を計数して、その計数値を一次遅れフィルタによって
処理して計数率を求める放射線モニタ装置において、前
記パルス式放射線検出器から出力されるパルス信号の計
数値に基づいて今回のAI数率を算出する51数率算出
部と、この計数率算出部によって得られた今回の舅1数
率と前回の計数率とを比較して所定条件を満たしている
方を選択する選択部と、この選択部によって選択された
計数率に基づいて時定数を求めて前記一次遅れフィルタ
の特性を変更するフィルタ特性変更部とを備えたことを
特徴としている。
(作用)
上記の構成において、計数率算出部によってパルス式放
射線検出器から出力されるパルス信号の計数値に対応す
る今回の計数率が算出されれば、選択部によって前記計
数率算出部で得られた今回の計数率と前回の計数率とが
比較されて所定条件を満たしている方が選択されるとと
もに、フィルタ特性変更部によって前記選択部で選択さ
れた計数率に基づいて時定数が求られて一次遅れフィル
タの特性が変更され前記計数値に対応する計数率が演算
される。
(実施例)
第1図は本発明による放射線モニタ装置の一実施例を示
すブロック図である。
この図に示す放射線モニタ装置は放射線を検出して電気
パルスに変換して出力するパルス式放射線検出器1と、
このパルス式放射線検出器1から出力される出力パルス
を増幅する増幅回路2と、この増幅回路2から出力され
る出力パルスをレベル弁別して計数する計数回路3と、
この計数回路3から出力される計数値を演算処理して計
数率を求めて出力する演算回路4とを備えている。
次に、第2図に示すフローチャートを参照しながらこの
実施例の動作を説明する。
まず、パルス式放射線検出器1に放射線が入射したとき
、このパルス式放射線検出器1から前記放射線の強度に
応じた出力パルスが出力され、これが増幅回路2によっ
て増幅された後、計数回路3に人力される。
計数回路3は前記増幅回路2から供給される出力パルス
の波高値(この波高値は放射線のエネルギーに比例する
)に応じたレベルでレベル弁別してノイズを除去した後
、これを計数してその計数値ΔCを演算回路4に供給す
る。
演算回路4は前記計数回路3から計数値ΔCが供給され
る毎に、これを収集するとともに(ステップ5T1)、
前回の計数値ΔCが供給されたときから今回の計数値Δ
Cが供給されるまでの時間(サンプリング時間Δt)と
今回供給された計数値ΔCとに基づいて今回の計数率Δ
C/Δtを求めた後、この計数率ΔC/Δtと前回出力
した計数率λ、−1とを比較する(ステップ5T2)。
そして、ΔC/Δt≧Ra−1であるとき、演算回路4
は計数率が増加または変化していないと判定して次式に
示す演算を行なって時定数Tを求める(ステップ5T3
)。
T ・・・(4)ΔC/
Δt
また、ΔC/Δj < Rs−1であるとき、演算回路
4は計数率が減少していると判定して次式に示す演算を
行なって時定数Tを求める(ステップ574)。
T
・・・ (5)R1
この後、演算回路4は次式に示す演算を行なって今回供
給された計数値ΔCから今回出力する計数率R7を求め
(ステップ5T5)、これを出力する(ステップ5T6
)。
T + Δ t
このようにこの実施例においては、前回の計数率R1−
1より今回の計数率ΔC/Δtが同じか、増加している
とき、今回の計数率ΔC/Δtに応じて時定数Tを変更
し、また前回の計数率R7より今回の計数率ΔC/Δt
が減少しているとき前回の計数率R,−1に応じて時定
数Tを変更した後、変更後の時定数Tに応じて今回の計
数値ΔCに一次遅れのフィルタリング処理を行なうよう
にしたので、従来から用いられているダイオードポンプ
回路を用いたアナログ回路と同様の積分効果を得ること
ができるとともに、計数率R1を急激に増加させるとき
、時定数Tを即座に麦史することができる。
また、放射線の計数率R7の相対標準偏差σは次式でj
gえられることが知られている。
そして、時定数Tはこの(7)式の測定時間とほぼ等価
なものとして扱うことができ、またこの実施例において
は、前記(4)式、(5)式にょって時定数Tを求めて
いるので、計数率と時定数Tの積が一定になるように時
定数Tを決めるたけで、計数率の相対標準偏差σを一定
にすることができ、これによって計数率R7が変化して
も相対標準偏差σを一定値に保つことができ、指示値の
バラツキをほぼ一定にすることができる。
第3図は本発明による放射線モニタ装置の他の実施例を
示すブロック図である。
この図に示す放射線モニタ装置はシンチレータ10とフ
ォトマルチプライヤ11とによって構成される放射線検
出器12と、前記フォトマルチプライヤ11をバイアス
する高圧電源13と、前記放射線検出器12から出力さ
れる信号の直流分をカットしてパルス信号を抽出するコ
ンデンサ14と、このコンデンサ14を通過したパルス
信号を増幅するプリアンプ15と、演算増幅器16を備
え前記プリアンプ15によって増幅されたパルス信号を
レベル弁別してノイズ成分を除去するコンパレータ17
と、このコンパレータ17から出力されるパルス信号を
計数して計数率R0を求める演算回路18とを備えてお
り、前記放射線検出器12から出力されるパルス信号を
デジタル処理して計数率R1を算出しこれを出力する。
演算回路18は前記コンパレータ17から出力されるパ
ルス信号を計数するカウンタ回路19と、種々の演算を
行なうCPU20と、このCPU20の作業エリアおよ
び定数やプログラムの格納エリアとして使用されるメモ
リ回路21と、計時動作を行ない31時結果を前記CP
U20に供給するタイマ回路22と、前記CPU20の
演算結果を外部機器(図示は省略する)に出力する入出
力回路23と、これらカウンタ回路1つないし入出力回
路23を接続するバス24とを備えている。
次に、第4図に示すフローチャートを参照しながらこの
実施例の動作を説明する。
まず、放射線検出器12からパルス信号が出力されれば
、コンデンサ】4によって前記パルス信号の直流分が除
去されてプリアンプ15に人力され、ここで増幅される
。この後、コンパレーク17に人力されて、ここでレベ
ル弁別された後、カウンタ回路】9にl供給されて計数
される。
またこの動作と並行して、タイマfijJ路22がら一
定時間が経過したことを示す信号が出力されれば、CP
U20は前記カウンタ回路19がら計数値ΔCを読出し
た後、このカウンタ回路19をリセットして計数動作を
再開させる(ステップST]0)。
この後、CPU20は今回取り込んだ計数値ΔCが最初
の計数値かどうかをチエツクしくステップSTI 1)
、これが最初の計数値であれば、次式に示す演算を行
なって計数率R++−1を求め、これを前回の計数率と
して記憶する(ステップ5T12)。
Δ を
但し、Δt:カウンタ回路19の計数時間(サンプリン
グ時間)
次いで、CPU2Qは前回の計数率R7−1と、今回の
計数率ΔC/Δtとを比較しくステップS713) 、
R,、>Δc/Δtであれば、次式に示す演算を行なっ
て時定数Tを求め(ステップ5T15)、
Ro
また、R,−、>ΔC/Δtでなければ、次式に示す演
算を行なって時定数Tを求める(ステップ5T14)。
ΔC/Δ t
この後、CPU20は次式に示す演算に基づいて計数値
ΔCのフィルタリング処理を行ない計数率R7を求め(
ステップ5T16)、これを入出力回路23に供給して
外部に出力させる(ステップ5T17)。
T + Δ を
以下、CPU20はタイマ回路22がタイムアツプする
毎に上述した動作を繰り返して計数率Rを求め、これを
外部に出力する。
このようにこの実施例においては、上述した実施例と同
様に前回の計数率R*−1より今回の計数率ΔC/Δ【
が同しか、増加しているとき、今回の31数字ΔC/Δ
【に応じて時定数Tを変更し、また前回の計数率R@−
1より今回の計数率ΔC/Δtが減少しているときには
前回の計数率R0に応じて時定数Tを変更するようにし
たので、従来から用いられているダイオードポンプ回路
を用いたアナログ回路と同様の積分効果を得ることがで
きるとともに、計数率R7を急激に増加させるとき、時
定数Tを即座に変更することができる。
またこの実施例においては、相対的な標準偏差σを決め
ることにより時定数Tを決定することができるので、T
−10000/R,、とすれば、標準偏差σをほぼ1%
にすることができる。
また、上述した実施例においては、時定数Tの範囲を規
制しないようにしているが、現実的な放射線モニタ装置
では計数率Rs −1が充分に小さくなったとき、時定
数Tが大きくなり過ぎるため、適切な値、例えば40秒
で打ち切るようにしても良い。
また、計数率Roヨ ΔC/Δtが充分に大きいと、時
定数Tが小さくなり、またTくΔtのときには、フィル
タリングの必要性がほとんどないため、次式に示す演算
式を用いて計数率R,を求めても良い。
Δ t
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、デジタル処理によ
って計数率を求めることができ、これによって計測の高
精度化および装置の低コスト化、省スペース化等を図る
ことができるとともに、出力を滑らかにすることができ
、さらに応答速度を大幅に向上させることができる。[ : Sampling time (seconds) T Two time constants (seconds) And the time constant T in this formula (2) is R, -1 σ
2 However, since it can be expressed as σ: relative standard deviation (a value indicating the variation when the output is set to 1), the count value ΔC can be filtered with the characteristic corresponding to m*deviation σ. (Problems to be Solved by the Invention) However, each of the conventional methods described above has the following problems. In other words, when a diode pump circuit with a fixed time constant is used, there is a problem in that when the counting rate changes, the standard deviation (degree of variation in output instruction values) σ changes, causing the counting rate R7 to vary. . Furthermore, when using a circuit in which diode pump circuits with different time constants are arranged in parallel, the time constant T can be changed according to the counting rate R9, so that the standard deviation σ
Although it is possible to keep T approximately constant, since the time constant T changes stepwise, the output change becomes linear, and the large number of parts causes problems such as cost and mounting space. Also, with this method, since the output is an analog value,
There are problems in that it is difficult to exchange data with computers, etc., and it is difficult to ensure the necessary accuracy. In addition, in the method of calculating the counting rate R0 from the #1 value 80 by digital processing using the arithmetic circuit 103, the time constant T can be changed continuously, so the output change can be made smooth. Furthermore, there are advantages in that the number of parts can be reduced, and data can be exchanged with a computer or the like in digital values. However, in this method, since the above-mentioned equation (2) is used, it is necessary to perform the exponential function operation used in this equation (2), so m1 becomes long during calculation, and it is necessary to calculate from the count value ΔC. There is a problem in that the process of calculating the rate R1 cannot be performed at high speed. In addition, in this method, when the time constant T is determined by the above equation (3), when the counting rate R7 suddenly changes from a low state to a high state, the time constant T corresponding to the low counting rate is used. There is a problem in that the increase in the counting rate R is delayed and the response becomes slow. In view of the above circumstances, the present invention enables counting rates to be determined through digital processing, thereby making it possible to improve measurement precision, reduce device costs, save space, etc., and improve output clarity. It is an object of the present invention to provide a radiation monitoring device that can further improve the response speed significantly. [Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, a radiation monitoring device according to the present invention counts pulse signals output from a pulse type radiation detector and calculates the counted value. In a radiation monitoring device that calculates a count rate by processing with a first-order lag filter, a 51 count rate calculation unit that calculates a current AI count rate based on the count value of a pulse signal output from the pulse type radiation detector; A selection section that compares the current count rate obtained by the count rate calculation section with the previous count rate and selects the one that satisfies a predetermined condition, and a selection section that selects the one that satisfies predetermined conditions. The present invention is characterized by comprising a filter characteristic changing section that changes the characteristics of the first-order lag filter by determining a time constant. (Function) In the above configuration, if the current count rate corresponding to the count value of the pulse signal output from the pulse radiation detector is calculated by the count rate calculation unit, the selection unit The current counting rate and the previous counting rate are compared, and the one that satisfies a predetermined condition is selected, and a time constant is calculated by the filter characteristic changing unit based on the counting rate selected by the selecting unit. The characteristics of the first-order lag filter are changed, and the counting rate corresponding to the counted value is calculated. (Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a radiation monitoring device according to the present invention. The radiation monitoring device shown in this figure includes a pulse type radiation detector 1 that detects radiation, converts it into electric pulses, and outputs the electric pulses.
an amplifier circuit 2 that amplifies the output pulses output from the pulse radiation detector 1; a counting circuit 3 that discriminates the levels of the output pulses output from the amplifier circuit 2 and counts the output pulses;
It is provided with an arithmetic circuit 4 that arithmetic processes the count value outputted from the counting circuit 3 to obtain and output a counting rate. Next, the operation of this embodiment will be explained with reference to the flowchart shown in FIG. First, when radiation enters the pulsed radiation detector 1, the pulsed radiation detector 1 outputs an output pulse corresponding to the intensity of the radiation, which is amplified by the amplifier circuit 2 and then sent to the counting circuit 3. Man-powered. The counting circuit 3 performs level discrimination at a level corresponding to the peak value of the output pulse supplied from the amplifier circuit 2 (this peak value is proportional to the energy of the radiation), removes noise, and then counts and calculates the noise. The numerical value ΔC is supplied to the arithmetic circuit 4. The arithmetic circuit 4 collects the count value ΔC every time it is supplied from the counting circuit 3 (step 5T1),
The current count value Δ since the previous count value ΔC was supplied
The current counting rate Δ is based on the time until C is supplied (sampling time Δt) and the currently supplied count value ΔC.
After determining C/Δt, this counting rate ΔC/Δt is compared with the previously output counting rate λ, -1 (step 5T2). When ΔC/Δt≧Ra−1, the arithmetic circuit 4
determines that the counting rate has not increased or changed, and calculates the time constant T by performing the calculation shown in the following equation (step 5T3).
). T...(4)ΔC/
Δt Further, when ΔC/Δj<Rs-1, the arithmetic circuit 4 determines that the counting rate is decreasing and calculates the time constant T by performing the computation shown in the following equation (step 574). T
... (5) R1 After this, the arithmetic circuit 4 performs the calculation shown in the following equation to obtain the count rate R7 to be output this time from the count value ΔC supplied this time (step 5T5), and outputs it (step 5T6).
). T + Δt Thus, in this example, the previous counting rate R1-
1, when the current counting rate ΔC/Δt is the same or increasing, the time constant T is changed according to the current counting rate ΔC/Δt, and the current counting rate ΔC/Δt is changed from the previous counting rate R7.
When is decreasing, the time constant T is changed according to the previous counting rate R, -1, and then the current count value ΔC is subjected to first-order lag filtering processing according to the changed time constant T. Therefore, it is possible to obtain the same integration effect as an analog circuit using a conventionally used diode pump circuit, and when the counting rate R1 is rapidly increased, the time constant T can be immediately changed. . In addition, the relative standard deviation σ of the radiation count rate R7 is expressed as j
It is known that it can be obtained. The time constant T can be treated as approximately equivalent to the measurement time in equation (7), and in this example, the time constant T is calculated using equations (4) and (5). Therefore, by simply determining the time constant T so that the product of the counting rate and the time constant T is constant, the relative standard deviation σ of the counting rate can be made constant, and as a result, the counting rate R7 changes. Also, the relative standard deviation σ can be kept at a constant value, and the variation in indicated values can be made almost constant. FIG. 3 is a block diagram showing another embodiment of the radiation monitoring device according to the present invention. The radiation monitoring device shown in this figure includes a radiation detector 12 composed of a scintillator 10 and a photomultiplier 11, a high-voltage power supply 13 that biases the photomultiplier 11, and a signal output from the radiation detector 12. It includes a capacitor 14 that cuts the DC component and extracts the pulse signal, a preamplifier 15 that amplifies the pulse signal that has passed through the capacitor 14, and an operational amplifier 16. The level of the pulse signal amplified by the preamplifier 15 is discriminated and the noise component is extracted. Comparator 17 that removes
and an arithmetic circuit 18 that counts the pulse signals output from the comparator 17 to calculate the counting rate R0, and digitally processes the pulse signals output from the radiation detector 12 to calculate the counting rate R1. and output this. The arithmetic circuit 18 includes a counter circuit 19 that counts pulse signals output from the comparator 17, a CPU 20 that performs various operations, and a memory circuit 21 that is used as a work area for the CPU 20 and a storage area for constants and programs. Perform the time measurement operation and send the result at 31 o'clock to the CP.
It includes a timer circuit 22 that supplies the U20, an input/output circuit 23 that outputs the calculation result of the CPU 20 to an external device (not shown), and a bus 24 that connects one of these counter circuits or the input/output circuit 23. ing. Next, the operation of this embodiment will be explained with reference to the flowchart shown in FIG. First, when a pulse signal is output from the radiation detector 12, the DC component of the pulse signal is removed by the capacitor 4, and is input to the preamplifier 15, where it is amplified. Thereafter, the signal is input to a comparator 17, where the level is discriminated, and then supplied to a counter circuit 9 for counting. In addition, in parallel with this operation, if the timer fijJ path 22 outputs a signal indicating that a certain period of time has elapsed, the CP
After reading the count value ΔC from the counter circuit 19, U20 resets the counter circuit 19 to restart the counting operation (step ST] 0). After this, the CPU 20 checks whether the count value ΔC that has been imported this time is the first count value or not (Step STI 1)
, if this is the first count value, calculate the count rate R++-1 by performing the calculation shown in the following equation, and store this as the previous count rate (step 5T12). Δ, where Δt: counting time (sampling time) of the counter circuit 19 Next, the CPU 2Q compares the previous counting rate R7-1 and the current counting rate ΔC/Δt (step S713),
If R,,>Δc/Δt, calculate the time constant T by performing the calculation shown in the following equation (step 5T15); Then, the time constant T is obtained (step 5T14). ΔC/Δt After this, the CPU 20 performs filtering processing on the count value ΔC based on the calculation shown in the following formula to obtain the counting rate R7 (
Step 5T16), and supplies this to the input/output circuit 23 to output it to the outside (Step 5T17). After T + Δ, the CPU 20 repeats the above-described operation every time the timer circuit 22 times up to obtain the counting rate R and outputs it to the outside. As described above, in this embodiment, the current counting rate ΔC/Δ[
is the same or increasing, the current 31 numbers ΔC/Δ
[Change the time constant T according to [, and change the previous counting rate R@-
When the current counting rate ΔC/Δt is decreasing from 1, the time constant T is changed according to the previous counting rate R0, so it is similar to the conventional analog circuit using a diode pump circuit. In addition, when the counting rate R7 is rapidly increased, the time constant T can be changed immediately. Furthermore, in this embodiment, the time constant T can be determined by determining the relative standard deviation σ, so T
-10000/R, , the standard deviation σ is approximately 1%
It can be done. Furthermore, in the above embodiment, the range of the time constant T is not restricted, but in a practical radiation monitor device, when the counting rate Rs -1 becomes sufficiently small, the time constant T becomes too large. Therefore, it may be aborted at an appropriate value, for example, 40 seconds. In addition, when the counting rate Ro and ΔC/Δt are sufficiently large, the time constant T becomes small, and when T is less than Δt, there is almost no need for filtering, so the counting rate R You can also ask for . Δ t [Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, the counting rate can be determined by digital processing, thereby achieving higher measurement accuracy, lower cost of the device, and space saving. In addition to this, the output can be made smoother, and the response speed can be greatly improved.
第1図は本発明による放射線モニタ装置の一実施例を示
すブロック図、第2図は第1図に示す実施例の動作例を
示すフローチャート、第3図は本発明による放射線モニ
タ装置の他の実施例を示すブロック図、第4図は第3図
に示す実施例の動作例を示すフローチャート、第5図は
従来から知られている放射線モニタ装置の一例を示すブ
ロック図である。
1・・・パルス式放射線検出器
3・・・計数回路
4・・・一次遅れフィルタ、計数率算出部、選択部、フ
ィルタ特性麦更部(演算回路)FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the radiation monitoring device according to the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing an example of the operation of the embodiment shown in FIG. FIG. 4 is a block diagram showing an example of the embodiment, FIG. 4 is a flowchart showing an example of the operation of the embodiment shown in FIG. 3, and FIG. 5 is a block diagram showing an example of a conventionally known radiation monitoring device. 1... Pulse type radiation detector 3... Counting circuit 4... First-order lag filter, counting rate calculation section, selection section, filter characteristic Mugisara section (arithmetic circuit)
Claims (1)
を計数して、その計数値を一次遅れフィルタによって処
理して計数率を求める放射線モニタ装置において、 前記パルス式放射線検出器から出力されるパルス信号の
計数値に基づいて今回の計数率を算出する計数率算出部
と、 この計数率算出部によって得られた今回の計数率と前回
の計数率とを比較して所定条件を満たしている方を選択
する選択部と、 この選択部によって選択された計数率に基づいて時定数
を求めて前記一次遅れフィルタの特性を変更するフィル
タ特性変更部と、 を備えたことを特徴とする放射線モニタ装置。(1) In a radiation monitoring device that counts pulse signals output from a pulse-type radiation detector and processes the counted value with a first-order lag filter to obtain a counting rate, the pulses output from the pulse-type radiation detector A counting rate calculation unit that calculates the current counting rate based on the count value of the signal, and a unit that satisfies a predetermined condition by comparing the current counting rate obtained by this counting rate calculation unit and the previous counting rate. A radiation monitoring device comprising: a selection section that selects a count rate; and a filter characteristic change section that changes the characteristics of the first-order lag filter by determining a time constant based on the counting rate selected by the selection section. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP707590A JPH03214088A (en) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | Radiation monitor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP707590A JPH03214088A (en) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | Radiation monitor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03214088A true JPH03214088A (en) | 1991-09-19 |
Family
ID=11655963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP707590A Pending JPH03214088A (en) | 1990-01-18 | 1990-01-18 | Radiation monitor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03214088A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013072675A (en) * | 2011-09-27 | 2013-04-22 | Mitsubishi Electric Corp | Radiation monitor |
JP2016217891A (en) * | 2015-05-21 | 2016-12-22 | 三菱電機株式会社 | Radioactive gas monitoring device |
-
1990
- 1990-01-18 JP JP707590A patent/JPH03214088A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013072675A (en) * | 2011-09-27 | 2013-04-22 | Mitsubishi Electric Corp | Radiation monitor |
JP2016217891A (en) * | 2015-05-21 | 2016-12-22 | 三菱電機株式会社 | Radioactive gas monitoring device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1602933A1 (en) | Statistical method and apparatus for monitoring parameters in an electric power distribution system | |
JPH10511177A (en) | Plant parameter detection by power spectral density monitoring | |
JPS6153728A (en) | Etching end point judging method | |
RU2744995C1 (en) | Method of protection against single-phase earth faults | |
JPH03214088A (en) | Radiation monitor | |
CN111291328A (en) | Transient event identification method, system and equipment based on fine slope | |
CN115684711A (en) | Electric energy metering method and device, computer equipment and storage medium | |
JP2008286561A (en) | Noise removal circuit and its noise removal method | |
JPH03132899A (en) | Service life predicting method for on-line equipment | |
JP2003057077A (en) | Data collecting apparatus | |
Tsao et al. | An algorithm for determining global parameters of minimum-phase systems with fractional power spectra | |
JP2575323B2 (en) | Cutting load monitoring method by data extraction averaging method | |
JPH10239440A (en) | Digital counting rate meter | |
CN105222912B (en) | A kind of generating set system for detecting temperature based on combined type digital filtering | |
JP3419429B2 (en) | Signal detection method and apparatus using chaotic neuron model | |
CN113267679B (en) | Phase signal detection/control method, circuit, control device and medium | |
JPS6148164B2 (en) | ||
JP3282744B2 (en) | Chromatographic data processing method | |
SU1748087A1 (en) | Multicomponent two-pole network parameter transducer | |
JPH02202602A (en) | Computing element for change rate | |
Oprzędkiewicz et al. | The Microcontroller Implementation of the Basic Fractional-Order Element | |
KR20230092573A (en) | Noise canceling device | |
KR0118990B1 (en) | Method and device for the control of sheet thickness | |
JPH06281678A (en) | Sampling type measuring device | |
JPH11337378A (en) | Pulse signal integrating value monitoring equipment and method therefor |