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JPH0273234A - Active matrix substrate - Google Patents

Active matrix substrate

Info

Publication number
JPH0273234A
JPH0273234A JP63225353A JP22535388A JPH0273234A JP H0273234 A JPH0273234 A JP H0273234A JP 63225353 A JP63225353 A JP 63225353A JP 22535388 A JP22535388 A JP 22535388A JP H0273234 A JPH0273234 A JP H0273234A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
picture element
element electrode
electrode
defect
wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63225353A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisafumi Saito
尚史 斉藤
Hirohisa Tanaka
田仲 広久
Hiroshi Morimoto
弘 森本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP63225353A priority Critical patent/JPH0273234A/en
Publication of JPH0273234A publication Critical patent/JPH0273234A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce the ratio of generation of a display defect based on a defect of a picture element electrode by constituting plural picture element electrode parts by dividing one piece of picture element electrodes into plural electrodes, and also, connecting plural switching elements to each picture element electrode part. CONSTITUTION:In the X direction and the Y direction of intersections of gate wirings 15a, 15b,... and source wirings 16a, 16b,..., two pairs of thin film transistors (TFT) 11a and 11b are connected to one intersection. To one pair of TFTs 11a, a picture element electrode part 13a is connected, and to the other pair of TFTs 11b, a picture element electrode part 13b is connected. By these two pieces of electrode parts 13a, 13b, one piece of picture element electrode 13 is constituted. That is, the electrode 13 is divided into two in the Y direction. In such a manner, even when a defect is generated in one piece of TFT or one of the electrode parts 13a, 13b, it does not cause a defect of the whole picture element electrode. Accordingly, the ratio of generation of a display defect based on a defect of the picture element electrode containing a defect of the gate wiring, the source wiring or the TFT can be reduced remarkably.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、液晶等を用いて絵素をマトリクス状に配置し
たマトリクス表示装置のための基板に関し、特に各絵素
を駆動するためにスイッチング素子が備えられているア
クティブマトリクス基板に関する。
Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a substrate for a matrix display device in which picture elements are arranged in a matrix using liquid crystal, etc. The present invention relates to an active matrix substrate provided with elements.

(従来の技術) 第3図は、液晶表示装置に用いられる従来のアクティブ
マトリクス基板の等価回路を示す図である。ここでは、
行方向の配線(ゲート配線)R1、R2、R3が等間隔
にほぼ並行に形成されており、これらの配線と略直交す
るように列方向の配線(ソース配線)C1、C2、C3
が等間隔に並行に形成されている。これらの配線R1・
・・及びC1・・・により配線で囲まれた各領域に絵素
が配置される。
(Prior Art) FIG. 3 is a diagram showing an equivalent circuit of a conventional active matrix substrate used in a liquid crystal display device. here,
Wirings in the row direction (gate wirings) R1, R2, and R3 are formed approximately parallel to each other at equal intervals, and wirings in the column direction (source wirings) C1, C2, and C3 are formed approximately perpendicularly to these wirings.
are formed in parallel at equal intervals. These wiring R1・
. . . and C1 . . . A picture element is arranged in each area surrounded by wiring.

また、配線R1・・・及びC1・・・の各交差位置に於
いて、スイッチング素子として薄膜トランジスタ(以下
、rTFTJと称する)1が形成され、各TFTIは、
そのゲートが配線R1、R2又はR3に、ソースが配線
CI、C2又はC3にそれぞれ接続されている。また、
各TFTIのドレインは絵素型8i+2に接続されてい
る。
Further, at each intersection of the wirings R1... and C1..., a thin film transistor (hereinafter referred to as rTFTJ) 1 is formed as a switching element, and each TFTI is
Its gate is connected to wiring R1, R2, or R3, and its source is connected to wiring CI, C2, or C3, respectively. Also,
The drain of each TFTI is connected to picture element type 8i+2.

行方向の配線R1・・・及び列方向の配線C1・・・の
各一つを選択し、電圧を印加することにより、選択され
た配線の交差点のTFTIがオン状態とされ、該TFT
1に接続されている絵素t8i2に電圧が印加され、絵
素が選択的に表示される。このようにして、液晶表示装
置内のすべての絵素を選択的に表示することが可能とさ
れている。
By selecting each one of the row direction wiring R1... and the column direction wiring C1... and applying a voltage, the TFTI at the intersection of the selected wiring is turned on, and the TFT
A voltage is applied to the picture element t8i2 connected to the picture element t8i2, and the picture element is selectively displayed. In this way, it is possible to selectively display all picture elements in the liquid crystal display device.

第4図は、上述のような従来のアクティブマトリクス基
板のより具体的な構成を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a more specific configuration of the conventional active matrix substrate as described above.

ここでは、各絵素の絵素を極3は、TFTIを介してゲ
ート配置5a、5b・・・の1本と、ソース配線6a、
6b・・・の1本と接続されている。第4図に、右上が
りの斜線が施された絵素電極3は、ゲート配!!5aと
ソース配線6aとにより駆動され、右下がりの斜線が施
された絵素tVi3はゲート配415bとソース配線6
bとにより駆動される。また、絵素電Vi3の配列は単
純なXYマトリクス配列である。
Here, each picture element is connected to one of the gate lines 5a, 5b, . . . via the TFTI, and the source wiring 6a,
It is connected to one of 6b... In FIG. 4, the picture element electrodes 3 marked with diagonal lines upward to the right are gate electrodes! ! The picture element tVi3, which is driven by the gate wiring 415b and the source wiring 6a and is shaded diagonally downward to the right, is driven by the gate wiring 415b and the source wiring 6a.
b. Further, the arrangement of the picture element electrodes Vi3 is a simple XY matrix arrangement.

(発明が解決しようとする課M) 上述のような従来のアクティブマトリクス基板では、各
絵素に対応して、1個の絵素tf!3と、1個のTFT
lと、各1本のゲート配線及びソース配線とが配されて
いる。従って、絵素′:4極3やT F T 1に不良
が生じたり、ゲート配線やソース配線に断線が生じた場
合には、絵素の欠陥として現れるという問題があった。
(Problem M to be solved by the invention) In the conventional active matrix substrate as described above, one picture element tf! corresponds to each picture element. 3 and 1 TFT
1, one gate wiring, and one source wiring. Therefore, if a defect occurs in the picture element': quadrupole 3 or T F T 1, or if a disconnection occurs in the gate wiring or source wiring, there is a problem that it appears as a defect in the picture element.

表示装置の大容量表示化に伴って、配線の微細化及び絵
素数の増加が予想されるが、このような場合、全ての絵
素tVMを上述のような欠陥の発生を完全に無くした状
態で製作することは極めて困難である。
As display devices become larger in capacity, it is expected that wiring will become finer and the number of picture elements will increase. It is extremely difficult to manufacture.

才な、絵素を極の配列は単純なXYマトリクス配列であ
るため、曲線等をより自然に表示することが困難である
という問題もあり、曲線等のより自然な表示を可能とす
るアクティブマトリクス基板の登場が望まれている。
Since the arrangement of the pixel poles is a simple XY matrix arrangement, there is a problem that it is difficult to display curves, etc. more naturally. The appearance of printed circuit boards is expected.

よって、本発明の目的は、絵素欠陥を容易に救済するこ
とができ、従って高い歩留りで製造することができるア
クティブマトリクス基板を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide an active matrix substrate in which pixel defects can be easily repaired and, therefore, can be manufactured with a high yield.

また、本発明の他の目的は、曲線等をより自然に表示す
ることが可能なアクティブマトリクス基板を提供するこ
とにある。
Another object of the present invention is to provide an active matrix substrate that can display curves and the like more naturally.

(課題を解決するための手段) 本発明のアクティブマトリクス基板は、XYママトリク
ス状配置された複数個の絵素を極と、各絵素t8ilを
駆動するスイッチング素子とを備えるアクティブマトリ
クス基板であって、該絵素電極が、X方向又はY方向の
うち少なくとも一方向において複数の絵素電極部に分割
されており、該絵素電極部に複数のスイッチング素子が
接続されており、そのことにより上記目的が達成される
(Means for Solving the Problems) The active matrix substrate of the present invention is an active matrix substrate including a plurality of picture elements arranged in an XY matrix as poles and a switching element for driving each picture element t8il. The picture element electrode is divided into a plurality of picture element electrode parts in at least one of the X direction and the Y direction, and a plurality of switching elements are connected to the picture element electrode part. The above objectives are achieved.

また、前記絵素電極は、X方向又はY方向のどちらかの
方向に於いて、該方向に直交する方向に隣接する絵素電
極と1/2絵素分だけずらされて配置されているのが好
ましい。
Further, the picture element electrode is arranged to be shifted by 1/2 picture element in either the X direction or the Y direction from an adjacent picture element electrode in a direction perpendicular to the direction. is preferred.

(実施例) 本発明を実施例について以下に説明する。(Example) The invention will now be described with reference to examples.

第1図は、本発明の第1の実施例を説明するための略図
的平面図である0本実施例では、X方向に延びるゲート
配線15a、15b・・・と、Y方向に延びるソース配
線16a、16b・・・とが形成されている0本実施例
では、ゲート配線15a、15b・・・とソース配線1
6a、16b・・・との交差点のX方向及びY方向に於
いて1つおきに2組のTPT対11a及びllbが接続
されている。一方のTFTNllaには絵素t8ii部
13aが接続され、他方のTPT対11bには絵素電極
部13bが接続されている。これらの2個の絵素ti部
13a及び13bによって1個の絵素電極13が構成さ
れている。即ち、1個の絵素電極13がY方向に於いて
2分割されている。各TPT対11a、11bの構成の
IPAの詳細は第9図に示されている。各TPT対11
a、llbは、2個のTFTlll及び112、又はT
FT113.114によりそれぞれ構成されている。
FIG. 1 is a schematic plan view for explaining a first embodiment of the present invention. In this embodiment, gate wirings 15a, 15b, . . . extending in the X direction, and source wirings extending in the Y direction. 16a, 16b... are formed. In this embodiment, the gate wirings 15a, 15b... and the source wirings 1
Two TPT pairs 11a and llb are connected every other pair in the X direction and the Y direction at the intersections with 6a, 16b, . . . . A picture element t8ii section 13a is connected to one TFTNlla, and a picture element electrode section 13b is connected to the other TPT pair 11b. One picture element electrode 13 is constituted by these two picture element ti parts 13a and 13b. That is, one picture element electrode 13 is divided into two in the Y direction. Details of the IPA configuration of each TPT pair 11a, 11b are shown in FIG. Each TPT vs. 11
a, llb are two TFTll and 112, or TFT
FT113 and FT114 respectively.

このように、各絵素電極13が2個の絵素を極部13a
、13bによりされており、しかも各絵素電極部に2個
のTPTが接続されているので、TFTI 11〜11
4の一個又は絵素ti部13a−13bの一方に欠陥が
あった場合でも絵素電極全体としての欠陥には至らない
、従って、ゲート配線、ソース配線又はTPTの欠陥を
含む絵素電極の欠陥に基づく表示欠陥の発生の割合を従
来例に比べて飛躍的に改善することができる。
In this way, each picture element electrode 13 connects two picture elements to the pole part 13a.
, 13b, and since two TPTs are connected to each picture element electrode section, TFTIs 11 to 11
Even if there is a defect in one of the pixel electrodes 13a-13b, the defect in the pixel electrode as a whole does not result in a defect in the pixel electrode, including defects in the gate wiring, source wiring, or TPT. The rate of occurrence of display defects based on this can be dramatically improved compared to the conventional example.

更に、本実施例では、各絵素電極が、絵素電極が分割さ
れた方向(Y方向)と直交する方向(X方向)に隣接す
る絵素電極と1/2絵素分だけずらされて配置されてい
る。第1図中の右上がり斜線のハツチングが施された絵
素型[13Aと、右下がり斜線のハツチングが施された
絵素電極13Bとを比較されたい、絵素を極13Aは、
ゲート配線15cとソース配!! 16 aとにより駆
動される。一方、絵素電極13Bは、ゲート配線15b
とソース配線16bとにより駆動される。このように、
各絵素電極が、分割された方向と直交する方向に隣接す
る絵素t8iiに対して1/2絵素分だけずらされてい
るので、曲線等の表示をより自然に行うことが可能とな
る。
Furthermore, in this embodiment, each picture element electrode is shifted by 1/2 picture element from the neighboring picture element electrode in the direction (X direction) perpendicular to the direction in which the picture element electrode is divided (Y direction). It is located. In FIG. 1, compare the picture element type [13A] with hatching upward to the right and the pixel electrode 13B with hatching downward to the right.
Gate wiring 15c and source wiring! ! 16a. On the other hand, the picture element electrode 13B is connected to the gate wiring 15b.
and the source wiring 16b. in this way,
Since each picture element electrode is shifted by 1/2 picture element with respect to the adjacent picture element t8ii in the direction perpendicular to the direction in which it was divided, it is possible to display curves, etc. more naturally. .

第2図は、本発明の第2の実施例を示す略図的平面図で
ある。ここでは、1個の絵素13がX方向に2分割され
、絵素電極部13aと絵素を極部13bとにより構成さ
れている。そして、右上がりの斜線のハツチングが施さ
れた絵素電極13Aと、右下がりの斜線のハツチングが
施された絵素型m13Bとを比較すれば明らかなように
、2分割された方向と直交する方向(Y方向)に於いて
、隣接する絵素電極が1/2絵素分だけずらされている
。この第2の実施例では、絵素tai13Aはゲート配
線15aとソース配置116 cとにより駆動され、絵
素を極13Bはゲート配線15bとソース配線16dと
により駆動される。
FIG. 2 is a schematic plan view showing a second embodiment of the invention. Here, one picture element 13 is divided into two in the X direction, and is composed of a picture element electrode part 13a and a picture element pole part 13b. As is clear from comparing the pixel electrode 13A with hatching with diagonal lines going upward to the right and the pixel electrode m13B with hatching with diagonal lines going downward to the right, the direction is perpendicular to the two-divided direction. Adjacent picture element electrodes are shifted by 1/2 picture element in the direction (Y direction). In this second embodiment, the picture element tai13A is driven by the gate wiring 15a and the source arrangement 116c, and the picture element pole 13B is driven by the gate wiring 15b and the source wiring 16d.

上述の第1及び第2の実施例では、1個の絵素電極は2
分割されているが、マトリクスを構成するX方向及びY
方向の両方向に於いて2分割し、各絵素を極が4個の絵
素tfi部により構成されるようにしてもよい、このよ
うな4分割された絵素電極を有する実施例を第5図及び
第6図に示す。
In the first and second embodiments described above, one picture element electrode has two
Although it is divided, the X direction and Y direction that make up the matrix
The fifth embodiment has a picture element electrode divided into four parts, which may be divided into two parts in both directions so that each picture element has a pole made up of four picture element tfi parts. As shown in FIG.

第5図に示す第3の実施例では、ゲート配線15a、1
5 b−・・とソース配H16a、16 b−・・との
交差点のX方向及びY方向に於いて1つおきに4組のT
PT対11a〜lldが接続されている。
In the third embodiment shown in FIG.
5 b-... and source wiring H16a, 16 b-... in the X direction and Y direction of the intersection, every other four sets of T
PT pairs 11a to lld are connected.

1個の絵素電極13は、X方向及びY方向の両方向に於
いて分割形成された4個の絵素電極部13a〜13dに
よって構成されている。各TPT対11a〜11dは絵
素電極部13a〜13dにそれぞれ接続されている。こ
のように第3の実施例では、1個の絵素tf!が4個の
絵素電極部13a〜13dによって構成されているので
、TFT対11a〜11dを構成するTPTの何れか又
は絵素tf!部13a〜13dの何れかに欠陥が生じた
としても、絵素を極全体としての欠陥とはならない 尚、第3の実施例に於いても、右上がりの斜線のハツチ
ングが施された絵素電極13Aと、右下がりの斜線のハ
ツチングが施された絵素型113Bとの比較から明らか
なように、各絵素を極は、Y方向に於いて1/2絵素分
だけずらされて配置されている。従って、第1、第2の
実施例と同様に、より自然な曲線を表示することが可能
である。
One picture element electrode 13 is constituted by four picture element electrode parts 13a to 13d that are divided and formed in both the X direction and the Y direction. Each TPT pair 11a to 11d is connected to a picture element electrode portion 13a to 13d, respectively. In this way, in the third embodiment, one picture element tf! is constituted by four picture element electrode parts 13a to 13d, so any one of the TPTs constituting the TFT pairs 11a to 11d or the picture element tf! Even if a defect occurs in any of the parts 13a to 13d, the picture element as a whole will not be defective.In the third embodiment as well, the picture element with diagonal hatching upward to the right As is clear from the comparison between the electrode 13A and the picture element type 113B, which is hatched with diagonal lines downward to the right, the poles of each picture element are shifted by 1/2 picture element in the Y direction. has been done. Therefore, similar to the first and second embodiments, it is possible to display more natural curves.

第6図に示す第4の実施例は、第3の実施例の変形であ
り、各絵素t8iiがX方向に1/2絵素だけずらされ
て配置されている点が第3の実施例(第5図)とは異な
っている。
The fourth embodiment shown in FIG. 6 is a modification of the third embodiment, and is different from the third embodiment in that each picture element t8ii is shifted by 1/2 picture element in the X direction. (Figure 5) is different.

上述の第1〜第4の実施例では、ゲート配It5a、1
5 b−・・及びソース配線16a、16b−・はそれ
ぞれ、直線状に延伸しており、且つ互いに直交するよう
に配置されていた。しかしながら、絵素電極13A、1
3Bを用いて説明したように、各絵素電極1/2絵素分
だけずらして位置するようにされているため、ゲート配
線の数又はソース配線の数が増大する。その結果、開口
率の減少やゲート配線とソース配線との交差部分に於け
る不良の発生等を生じる恐れがある。これを解決するた
めに、第7図及び第8図に示す第5及び第6の実施例で
は、ゲート配線又はソース配線のどちらかを矩形波状に
形成されている。
In the first to fourth embodiments described above, the gate wiring It5a, 1
5b-.. and the source wirings 16a, 16b-.. each extended linearly and were arranged so as to be orthogonal to each other. However, the picture element electrodes 13A, 1
As explained using 3B, since each picture element electrode is shifted by 1/2 picture element, the number of gate wirings or the number of source wirings increases. As a result, there is a possibility that the aperture ratio may decrease or a defect may occur at the intersection between the gate wiring and the source wiring. To solve this problem, in the fifth and sixth embodiments shown in FIGS. 7 and 8, either the gate wiring or the source wiring is formed into a rectangular wave shape.

第7図に示す第5の実施例に於いては、ゲート配線15
a、15b・・・が矩形波状に形成されている。また、
第8図に示した第6の実施例では、ソース配線16a、
16b・・・が矩形波状に形成されている、これらの実
施例に於いては、ソース配線又はゲート・配線の数を低
減し得ることがわかる。
In the fifth embodiment shown in FIG.
a, 15b, . . . are formed in a rectangular wave shape. Also,
In the sixth embodiment shown in FIG. 8, the source wiring 16a,
It can be seen that in these embodiments in which the lines 16b... are formed in a rectangular wave shape, the number of source wirings or gate wirings can be reduced.

第9図に第7の実施例(第8図)の一部を拡大して示す
、ゲート配線15a、15b・・・には、ソース配41
16 a、16b・・・との各交差点近傍でY方向及び
−Y方向に約1/2絵素分だけ突出している突出部15
1及び152が設けられている。
FIG. 9 shows a part of the seventh embodiment (FIG. 8) in an enlarged manner. The gate wirings 15a, 15b, .
16a, 16b, . . . protrusion portions 15 protruding in the Y direction and −Y direction by approximately 1/2 picture element.
1 and 152 are provided.

絵S電極部13aには突出部151をゲート電極とする
TFT対11a(TFTIll及びTFT112)が、
絵素tffi部13bには突出部152をゲートtf!
とするTPT対1 l b (TFTI 13及びTF
T114)が接続されている。
In the picture S electrode part 13a, there is a TFT pair 11a (TFTIll and TFT112) with the protruding part 151 as a gate electrode.
The protruding portion 152 is connected to the gate tf! in the picture element tffi portion 13b.
TPT vs. 1 l b (TFTI 13 and TF
T114) is connected.

本発明に於いては、各絵素t8i!部に接続されるTP
Tの数は上述の2個に限らず、3個以上であってもよい
、また、絵素を極を複数の絵素′4電極に分割する!I
3様は、上述の各実施例に於けるものに限らないことは
いう丈でもない。
In the present invention, each picture element t8i! TP connected to
The number of T's is not limited to the above-mentioned two, but may be three or more.Also, the poles of the picture element are divided into a plurality of picture element '4 electrodes! I
It is needless to say that the third embodiment is not limited to the embodiments described above.

(発明の効果) 以上のように、本発明によれば、1個の絵素電極が複数
に分割され、複数の絵素電極部で構成されでおり、しか
も各絵素電極部には複数のスイッチング素子が接続され
ているので、1個の絵素電極としての欠陥の発生の割合
が従来例に比べて著しく低減される。従って、本発明の
アクティブマトリクス基板は高い歩留まりで製造し得る
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, one picture element electrode is divided into a plurality of parts and is composed of a plurality of picture element electrode parts, and each picture element electrode part has a plurality of parts. Since the switching elements are connected, the rate of occurrence of defects in one picture element electrode is significantly reduced compared to the conventional example. Therefore, the active matrix substrate of the present invention can be manufactured with high yield.

また、絵素電極配列を1/2絵素分だけずらした構成と
することにより、曲線等をより自然に表示することが可
能となり、表示の高精細化が可能となる。
Furthermore, by configuring the pixel electrode arrangement to be shifted by 1/2 pixel, it becomes possible to display curves and the like more naturally, and it becomes possible to achieve high definition display.

、    の   t; 日 第1図は本発明の第1の実施例を示す平面図、第2図は
第2の実施例を示す平面図、第3図は従来例の回路図、
第4図は従来例の平面図、第5図〜第8図は本発明の第
3の実施例〜第6の実施例をそれぞれ示す平面図、第9
図は第6の実施例の要部を拡大して示す平面図である。
, t; 1. FIG. 1 is a plan view showing the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view showing the second embodiment, and FIG. 3 is a circuit diagram of the conventional example.
FIG. 4 is a plan view of the conventional example, FIGS. 5 to 8 are plan views showing third to sixth embodiments of the present invention, respectively, and FIG.
The figure is a plan view showing an enlarged main part of the sixth embodiment.

11 a〜l 1 d−TPT対、 13.13A、13B・・・絵素電極、13a〜13d
〜絵素ti部、 15a〜15c・・・ゲート配線、 16a 〜16d−・−ソース配線、 111〜114・・・TPT。
11 a to l 1 d-TPT pair, 13.13A, 13B... picture element electrode, 13a to 13d
-Picture element ti portion, 15a-15c...gate wiring, 16a-16d--source wiring, 111-114...TPT.

以上that's all

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、XYマトリクス状に配置された複数個の絵素電極と
、各絵素電極を駆動するスイッチング素子とを備えるア
クティブマトリクス基板であって、該絵素電極が、X方
向又はY方向のうち少なくとも一方向において複数の絵
素電極部に分割されており、該絵素電極部に複数のスイ
ッチング素子が接続されているアクティブマトリクス基
板。 2、前記絵素電極は、X方向又はY方向のどちらかの方
向に於いて、該方向に直交する方向に隣接する絵素電極
と1/2絵素分だけずらされて配置されている請求項1
に記載のアクティブマトリクス基板。
[Claims] 1. An active matrix substrate comprising a plurality of picture element electrodes arranged in an XY matrix and a switching element for driving each picture element electrode, wherein the picture element electrodes are arranged in the X direction. Alternatively, an active matrix substrate is divided into a plurality of picture element electrode parts in at least one direction in the Y direction, and a plurality of switching elements are connected to the picture element electrode part. 2. The picture element electrode is arranged to be shifted in either the X direction or the Y direction by 1/2 picture element from an adjacent picture element electrode in a direction perpendicular to the direction. Item 1
The active matrix substrate described in .
JP63225353A 1988-09-08 1988-09-08 Active matrix substrate Pending JPH0273234A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63225353A JPH0273234A (en) 1988-09-08 1988-09-08 Active matrix substrate

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