JPH0238842A - Monitor of particle in liquid - Google Patents
Monitor of particle in liquidInfo
- Publication number
- JPH0238842A JPH0238842A JP63188919A JP18891988A JPH0238842A JP H0238842 A JPH0238842 A JP H0238842A JP 63188919 A JP63188919 A JP 63188919A JP 18891988 A JP18891988 A JP 18891988A JP H0238842 A JPH0238842 A JP H0238842A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dust
- particles
- liquid
- light
- scattered light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 62
- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims abstract description 48
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims description 12
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 50
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 18
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000011856 silicon-based particle Substances 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 206010011224 Cough Diseases 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000005315 distribution function Methods 0.000 description 1
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 1
- 239000012798 spherical particle Substances 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔目次〕
概要
産業上の利用分野
従来の技術
発明が解決しようとする課題
課題を解決するための手段
作用
実施例
本発明の第1実施例 (第1図)本発明の第2実
施例 (第2図)発明の効果
〔概要〕
液中粒子のモニタ装置に関し、塵埃と気泡とを正しく分
離識別して実際の塵埃の発生状況に基づいた正確な警報
を発生することを目的とし、波長の異なった少なくとも
2つの発光源からの光を液中に照射するレーザ発光手段
と、接液中からの散乱光を受光して波長毎の散乱光強度
の差を求める散乱光受光手段と、該波長毎の強度差が所
定の基準値よりも大きいか否かを比較する比較手段と、
を有し、液中の物質粒子の存在を識別するように構成し
ている。[Detailed Description of the Invention] [Table of Contents] Overview Industrial Application Fields Conventional Technology Problems to be Solved by the Invention Means for Solving the Problems Action Embodiment First Embodiment of the Present Invention (Figure 1) The Present Invention Second Embodiment (Figure 2) Effect of the invention [Summary] Regarding a monitoring device for particles in liquid, to correctly separate and identify dust and air bubbles and issue an accurate alarm based on the actual dust generation situation. A laser emitting means for irradiating a liquid with light from at least two light emitting sources with different wavelengths, and a scattered light means for receiving scattered light from the liquid in contact with the liquid to determine the difference in the intensity of the scattered light for each wavelength. a light receiving means; a comparing means for comparing whether the intensity difference for each wavelength is larger than a predetermined reference value;
and is configured to identify the presence of material particles in the liquid.
本発明は、液中粒子のモニタ装置に関し、例えば、半導
体製造工程で洗浄等に使用される液体中の塵埃粒子をモ
ニタする液中粒子のモニタ装置に係り、特に、気泡と塵
埃とを容易に識別して誤警報率の低減を意図した液中粒
子のモニタ装置に関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a monitoring device for particles in liquid, and more particularly, to a monitoring device for particles in liquid that monitors dust particles in a liquid used for cleaning etc. in a semiconductor manufacturing process. The present invention relates to a monitoring device for particles in liquid that is intended to identify and reduce the false alarm rate.
−Sに、半導体製造工程では洗浄液を使用したウェハー
等の洗浄作業が行われるが、この洗浄液中に塵埃が混入
していると、製品の歩留りに影響を与える。特に、近時
の微細化された大規模集積回路にあっては、わずかな塵
埃の混入でも致命的な欠陥を誘引するので、洗浄液には
塵埃のない極めて高純度のものが求められる。しかし、
塵埃の混入要因は多岐に亘り、例えば、洗浄液を圧送す
るポンプや洗浄液を導く管路の管壁あるいは各種シーリ
ング材など洗浄液に接触するもののほとんどがその塵埃
源となりうる。したがって、塵埃の発生を根絶すること
は実際上不可能である。このようなことから、液中の塵
埃をモニタして塵埃量が基準値を超えた場合に洗浄液系
統の清浄化処置を行うことは、製品歩留りを改善するう
えで必須である。-S. In the semiconductor manufacturing process, wafers and the like are cleaned using a cleaning liquid, but if dust is mixed into this cleaning liquid, it will affect the yield of the product. In particular, in the case of modern large-scale integrated circuits that have been miniaturized, even the slightest amount of dust can cause fatal defects, so the cleaning liquid is required to be dust-free and of extremely high purity. but,
There are a wide variety of factors that cause dust to be mixed in. For example, most of the things that come into contact with the cleaning liquid, such as the pump that pumps the cleaning liquid, the walls of the pipes that guide the cleaning liquid, and various sealing materials, can be the source of the dust. Therefore, it is practically impossible to eradicate dust generation. For this reason, in order to improve product yield, it is essential to monitor the dust in the liquid and take cleaning measures for the cleaning liquid system when the amount of dust exceeds a standard value.
従来の液中粒子のモニタ装置としては、例えば、液中に
レーザ光線を照射して塵埃粒子の散乱光を検出し、この
検出散乱光を電気信号に変換してカウントするものがあ
り、このものでは、カウント値が判定基準値を上回った
とき、無視しえない程度の塵埃粒子が液中に混入したと
して、必要な清浄化処置を実施するようにしている。Conventional monitoring devices for particles in liquid include, for example, devices that irradiate a laser beam into the liquid, detect the scattered light of dust particles, convert the detected scattered light into electrical signals, and count them. In this case, when the count value exceeds the determination reference value, it is assumed that a non-negligible amount of dust particles have been mixed into the liquid, and necessary cleaning measures are taken.
しかしながら、このような従来の液中粒子のモニタ装置
にあっては、単にレーザ光線の照射による散乱光の有無
に基づいて塵埃粒子を検知する構成となっていたため、
例えば、液中に気泡が混入していた場合には、この気泡
による散乱光を塵埃によるそれと誤認し、誤警報を発生
するといった問題点があった。However, such conventional monitoring devices for particles in liquid are configured to detect dust particles simply based on the presence or absence of scattered light due to laser beam irradiation.
For example, when air bubbles are mixed into the liquid, there is a problem in that the light scattered by the air bubbles is mistakenly recognized as that caused by dust, and a false alarm is generated.
すなわち、気泡は、圧送ポンプ等によって少なからず発
生するものであるが、この気泡自体は製品に悪影響を与
えるものではない。しがし、この気泡を塵埃として誤認
した場合には、不必要な清浄化処置が行われる結果、無
用に製造工程を休止させることとなり、製造コストの面
で問題となる。That is, although a considerable amount of bubbles are generated by the pressure pump and the like, the bubbles themselves do not have a negative effect on the product. However, if these air bubbles are mistakenly identified as dust, unnecessary cleaning procedures will be performed, resulting in an unnecessary stoppage of the manufacturing process, which poses a problem in terms of manufacturing costs.
このため、従来の液中粒子のモニタ装置では、洗浄液の
流路途中に気泡を消す脱泡装置を装着して誤警報の改善
に努めているが、脱泡装置には減圧ポンプが用いられて
いるので、この減圧ポンプが新たな塵埃発生源となり、
洗浄液等の清浄化の面で好ましくない。For this reason, conventional monitoring devices for particles in liquid are equipped with a defoaming device that eliminates air bubbles in the middle of the cleaning fluid flow path in an effort to improve false alarms, but the defoaming device uses a vacuum pump. This vacuum pump becomes a new source of dust,
This is unfavorable in terms of cleaning of cleaning fluids, etc.
そこで本発明は、気泡と塵埃とを正しく分離識別し実際
の塵埃の混入状況に基づいた正確な警報を発生させるこ
とを目的としている。Therefore, an object of the present invention is to correctly separate and identify air bubbles and dust, and to generate an accurate warning based on the actual state of dust contamination.
本発明では、上記目的を達成するために、波長の異なっ
た少なくとも2つの発光源からの光を液中に照射するレ
ーザ発光手段と、咳液中からの散乱光を受光して波長毎
の散乱光強度の差を求める散乱光受光手段と、該波長毎
の強度差が所定の基準値よりも大きいか否かを比較する
比較手段と、ををし、液中の物質粒子の存在を識別する
ように構成している。In order to achieve the above object, the present invention includes a laser emitting means that irradiates light from at least two light emitting sources with different wavelengths into a liquid, and a laser emitting means that receives scattered light from the cough liquid and scatters it at each wavelength. A scattered light receiving means for determining the difference in light intensity, and a comparison means for comparing whether the difference in intensity for each wavelength is larger than a predetermined reference value, and identifying the presence of material particles in the liquid. It is configured as follows.
本発明では、波長の異なった少なくとも2つの光が液中
に照射され、この異なった波長による気泡と物質粒子(
塵埃)との液層折率に対する比屈折率の差を要因とする
気泡/塵埃間の散乱光強度の差から塵埃のみが識別され
る。In the present invention, at least two lights with different wavelengths are irradiated into a liquid, and bubbles and material particles (
Only dust can be identified from the difference in scattered light intensity between bubbles and dust, which is caused by the difference in relative refractive index with respect to the liquid layer refractive index.
したがって、気泡による誤警報が回避されるので、無用
な清浄化処置が行われなくなり、製造コストの改善が図
られる。Therefore, false alarms due to air bubbles are avoided, unnecessary cleaning procedures are not performed, and manufacturing costs are improved.
また、あえて、気泡を消す必要がないので、脱泡装置が
不要となり、塵埃の発生要因を少なくすることができる
。In addition, since there is no need to purposely extinguish air bubbles, a defoaming device is not required, and the causes of dust generation can be reduced.
以下、本発明を図面に基づいて説明する。 Hereinafter, the present invention will be explained based on the drawings.
第1図は本発明に係る液中粒子のモニタ装置の第1実施
例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of a monitoring device for particles in liquid according to the present invention.
第1図において、lは光源(レーザ発光手段)であり、
光源1は異なった波長λのレーザ光を発射する2つのレ
ーザ発光器1a、lbを有している。レーザ発光器1a
は例えばNe−Neレーザであり、波長λ= 633r
vの単一波長レーザ光を発射し、また、レーザ発光器1
bは例えば)f e −Cdレーザであり、λ−441
,3nn+の単一波長レーザ光を発射する。光7!lX
1からの2つのレーザ光はハーフミラ−2で光軸を合わ
せられた後、集光レンズ3によって透明チューブ4の管
路内に集光される。透明チューブ4は、例えば半導体装
置等を洗浄するための液体を流すためのもので、その外
壁の全部若しくは一部は透光性の材質で形成され、集光
レンズ3からのレーザ光が透過しやすいようになってい
る。なお、透明チューブ4内を流れる液体中には、・印
で示す物質粒子(例えば、Si粒子からなる塵埃粒子)
およびO印で示す気泡粒子が含まれている。但し、図中
の塵埃粒子および気泡粒子は、実際の量よりも多く図示
されている。In FIG. 1, l is a light source (laser emitting means),
The light source 1 has two laser emitters 1a and lb that emit laser beams of different wavelengths λ. Laser emitter 1a
is, for example, a Ne-Ne laser, and the wavelength λ=633r
The laser emitter 1 emits a single wavelength laser beam of
b is, for example) f e -Cd laser, and λ-441
, 3nn+ single wavelength laser light is emitted. Light 7! lX
After the optical axes of the two laser beams from 1 are aligned by a half mirror 2, the beams are condensed into a conduit of a transparent tube 4 by a condenser lens 3. The transparent tube 4 is used to flow a liquid for cleaning semiconductor devices, etc., and its outer wall is made of a translucent material in whole or in part, so that the laser beam from the condenser lens 3 is not transmitted through the transparent tube 4. It's designed to be easy. It should be noted that in the liquid flowing inside the transparent tube 4, there are material particles (for example, dust particles made of Si particles) indicated by .
and bubble particles indicated by O are included. However, the dust particles and air bubble particles in the diagram are shown in larger numbers than their actual amounts.
塵埃粒子および気泡粒子に照射されたレーザ光は散乱光
となり、塵埃粒子および気泡粒子の周囲に所定の散乱光
強度で放射される。The laser light irradiated onto the dust particles and bubble particles becomes scattered light, which is emitted around the dust particles and bubble particles with a predetermined scattered light intensity.
ここで、上記塵埃粒子および気泡粒子を等方性均質球形
粒子と仮定すると、この粒子による散乱光強度は、マッ
クスウェルの電磁方程式の電磁波散乱の厳密解としてミ
ー(M ie)により求められており、散乱角度依存性
、粒径依存性および屈折率依存性のあることが知られて
いる。なかでも、屈折率依存性は、粒子の屈折率に依存
してその散乱光強度に差異が表れるというもので、屈折
率の値が大きくなるほど散乱光強度は強くなる性質を持
ち、しかも、その増大率は大略単調−様である。Here, assuming that the dust particles and bubble particles are isotropic homogeneous spherical particles, the intensity of light scattered by these particles is determined by Mie as an exact solution of electromagnetic wave scattering in Maxwell's electromagnetic equation. , scattering angle dependence, particle size dependence, and refractive index dependence. Among these, refractive index dependence is a phenomenon in which a difference appears in the intensity of scattered light depending on the refractive index of the particle.The larger the value of the refractive index, the stronger the intensity of scattered light. The rate is approximately monotonic.
今、塵埃粒子をSi粒子とし、このSi粒子と気泡粒子
(空気を物質と見たてた粒子と考える)との比屈折率依
存性の傾向をみてみると、液の屈折率が波長によらずほ
ぼ一定値1に近いと仮定するとSi粒子の屈折率mは、
λ= 633nmの場合m″。Now, assuming that the dust particles are Si particles, and looking at the tendency of the dependence of the relative refractive index of these Si particles and bubble particles (considered as particles that treat air as a substance), we can see that the refractive index of the liquid depends on the wavelength. Assuming that z is close to a constant value of 1, the refractive index m of Si particles is:
m'' for λ = 633 nm.
3.9であり、λ−441.6nmの場合mL:5.6
である。3.9, mL for λ-441.6nm: 5.6
It is.
一方、気泡粒子のmは、空気のmと同一であり、λ=
633nmおよびλ−441.6nmの双方でほぼm5
1である。したがって、Si粒子の散乱光強度は、λ=
633nmとλ=441.6nmといった異った波長間
でmLi3.9とm4=i5.6に相当すル差異カアリ
、方、気泡粒子にあっては、λ= 633nmとλ=4
41゜Gnmとの間にはほとんど差異がみられない。本
実施例では、このような照射光の波長に対するmの依存
性が、塵埃粒子および気泡粒子の各々について異なるこ
とに着目し、2つのレーザ光の散乱光強度の差が大きい
場合塵埃、小さい場合気泡として識別するものである。On the other hand, m of bubble particles is the same as m of air, and λ=
Approximately m5 at both 633nm and λ-441.6nm
It is 1. Therefore, the scattered light intensity of Si particles is λ=
The difference between different wavelengths such as 633 nm and λ = 441.6 nm corresponds to mLi 3.9 and m4 = i 5.6, while for bubble particles, λ = 633 nm and λ = 4
There is almost no difference between this and 41°Gnm. In this example, we focused on the fact that the dependence of m on the wavelength of the irradiated light is different for dust particles and air bubbles. It is identified as a bubble.
すなわち、集光レンズ5で集められた散乱光は、波長選
択フィルタFで波長分離され、例えば、λ=633r+
+++の散乱光P、は集光レンズ6を介して受光器7上
に集光され、また、λ−441,3nmの散乱光Pzは
集光レンズ8を介して受光器9上に集光される。受光器
7からのPlの強度に応じた太きさの電流信号11は、
電流/電圧変換器10で電流値に比例した大きさの電圧
信号E1に変換され、また、同様にして受光器9からの
電流信号+2は、電流/電圧変換器11で電圧信号E1
に変換される。That is, the scattered light collected by the condenser lens 5 is wavelength-separated by the wavelength selection filter F, and for example, λ=633r+
The +++ scattered light P is condensed onto the light receiver 7 via the condenser lens 6, and the λ-441,3 nm scattered light Pz is condensed onto the light receiver 9 via the condenser lens 8. Ru. The current signal 11 whose thickness corresponds to the intensity of Pl from the light receiver 7 is
The current/voltage converter 10 converts the current signal E1 into a voltage signal E1 proportional to the current value. Similarly, the current signal +2 from the light receiver 9 is converted into the voltage signal E1 by the current/voltage converter 11.
is converted to
これらのEl 、EZはそれぞれサンプリング回路12
.13に入力され、同一のサンプリングタイミングでサ
ンプリングされて、E + 、E zの電圧レベルをパ
ルス振幅として有するパルス信号S1.、S2に変換さ
れて出力される。これらのs、、S2は比較器(比較手
段) 14に入力され、振幅比較される。なお、上記集
光レンズ6.8、受光器7.9、電流/電圧変換器10
.11およびサンプリング回路12.13は全体として
散乱光受光手段を構成している。These El and EZ are each connected to the sampling circuit 12.
.. 13, sampled at the same sampling timing, and having the voltage levels of E + and E z as pulse amplitudes. , S2 and output. These signals s, , S2 are input to a comparator (comparison means) 14, and their amplitudes are compared. In addition, the above-mentioned condensing lens 6.8, light receiver 7.9, current/voltage converter 10
.. 11 and sampling circuits 12 and 13 collectively constitute a scattered light receiving means.
ここでS、、S2の大きさ(レベル)は前述のP+ 、
Pzの大きさに対応しているから、このP8、P2が塵
埃粒子によるものであれば、Pl〈P2なる関係があり
、しかも、その差は比較的に大きい。一方、P、、P、
が気泡粒子によるものであれば、P、#P、であり、若
しくはPI <P8であってもその差は小さい、すなわ
ち、比較器14の出力端子Aからの信号S、は、塵埃が
識別された際に出力され、また、出力端子Bからの信号
S4は、気泡が識別された際に出力される。パルスカウ
ンタ15は、S、をカウントし、このカウント値が所定
の判定基準値を上回ったとき、無視しえない量の塵埃が
液中に存在しているとして警報信号ALMを発生する。Here, the magnitude (level) of S, S2 is the above-mentioned P+,
Since it corresponds to the size of Pz, if P8 and P2 are caused by dust particles, there is a relationship such as Pl<P2, and the difference is relatively large. On the other hand, P,,P,
If it is caused by bubble particles, P, #P, or even if PI < P8, the difference is small. In other words, the signal S from the output terminal A of the comparator 14 indicates that dust is identified. A signal S4 from output terminal B is output when a bubble is identified. The pulse counter 15 counts S, and when this count value exceeds a predetermined determination reference value, it determines that a non-negligible amount of dust is present in the liquid and generates an alarm signal ALM.
このような構成において、透明チューブ4中を流れる塵
埃粒子の散乱光と気泡粒子の散乱光との間には、2つの
レーザ光の波長差および屈折率の差を特徴とする特異な
傾向が表れる。すなわち、ミー(Mie)の散乱理論に
よれば、粒子による散乱光強度■は次式■に従って表さ
れる。In such a configuration, a unique tendency appears between the scattered light of dust particles and the scattered light of bubble particles flowing in the transparent tube 4, characterized by a difference in wavelength and a difference in refractive index between the two laser beams. . That is, according to Mie's scattering theory, the intensity of light scattered by particles (2) is expressed according to the following equation (2).
2を
但し、Io :入射光強度
r :粒子中心からの距離
λ :波長
■式中(il+iよ)は、11およびiアをそれぞれ垂
直および水平偏光成分散乱光強度分布関数と呼ばれるも
ので、散乱角度θ、波長λ、粒子直径DP、屈折率mに
よって決まる関数である。今、塵埃粒子(例えば、St
粒子)に対して異なった波長の2つのレーザ光を照射し
た場合を考える。2, where Io : Incident light intensity r : Distance from the particle center λ : Wavelength ■ In the formula (il+i), 11 and ia are called the vertical and horizontal polarized component scattered light intensity distribution functions, respectively, and the scattered light It is a function determined by the angle θ, the wavelength λ, the particle diameter DP, and the refractive index m. Now dust particles (e.g. St
Consider a case in which a particle) is irradiated with two laser beams of different wavelengths.
この場合、散乱光の観測場所を同一とすると、θおよび
り、は変化しない。そして、λの値は例えば本実施例の
場合、λ= 663nm、λ= 441.6nmの2つ
の異なった値をとり、この2つの値を受けて、mもmζ
3.9とm:=i5.6の2つの値をとる。したがって
、上式■で求められたlは、λ= 663n11とλ−
441.6nmとの間にλおよびmに応じた差をもつこ
ととなる。一方、気泡粒子の場合は、λが変化したとし
ても、mはほぼ一定の1であり、この場合、上式■で求
められたIは、λの差に応した差をもつだけでmの影響
は受けない。したがって、電流/電圧変換器10.11
の伝達特性を、気泡粒子の場合に対応させて設定し、こ
の気泡粒子の場合に電流/電圧変換器10.11から出
力されるEl、E2をほぼ一致させておくことにより、
塵埃の場合には・、mζ3.9、m:5.9の差に対応
した差値をE、 、E、間に持たせることができる。そ
の結果、比較器14は、塵埃の場合にのみS、を出力す
るこ゛とができるようになり、パルスカウンタ15は正
しい塵埃の発生をカウントして気泡の影響を受けること
なくALMを発生することができる。In this case, if the scattered light is observed at the same location, θ and RI do not change. For example, in this example, the value of λ takes two different values, λ = 663 nm and λ = 441.6 nm, and based on these two values, m and mζ
It takes two values: 3.9 and m:=i5.6. Therefore, l calculated using the above formula (■) is λ=663n11 and λ-
441.6 nm, there is a difference depending on λ and m. On the other hand, in the case of bubble particles, m is almost constant 1 even if λ changes, and in this case, I calculated by the above equation Not affected. Therefore, the current/voltage converter 10.11
By setting the transfer characteristics corresponding to the case of bubble particles, and making El and E2 outputted from the current/voltage converter 10.11 almost the same in the case of bubble particles,
In the case of dust, a difference value corresponding to the difference of , mζ3.9 and m:5.9 can be provided between E, and E. As a result, the comparator 14 can output S only in the case of dust, and the pulse counter 15 can count the occurrence of correct dust and generate ALM without being affected by air bubbles. can.
このように本実施例では、異なった波長をもつ2つのレ
ーザ光を液中に照射し、このレーザ光による塵埃粒子お
よび気泡粒子の散乱光強度の違いから、塵埃粒子のみを
正確に識別している。したがって、気泡粒子による影響
を受けないので、正しい警報を発することができ、無用
な清浄化処置をとることが避けられる。また、気泡を発
生させたままでも塵埃粒子を検出できるので、特別に脱
泡装置を備える必要はなく、塵埃発生源を増やすことは
ない。しかも、液中にはレーザ光が照射されるのみで、
洗浄液等と直接に触れる部分はない。In this example, two laser beams with different wavelengths are irradiated into the liquid, and only the dust particles can be accurately identified from the difference in the intensity of the scattered light of the dust particles and bubble particles caused by the laser beams. There is. Therefore, since it is not affected by air bubble particles, a correct alarm can be issued and unnecessary cleaning measures can be avoided. Further, since dust particles can be detected even when air bubbles are generated, there is no need to provide a special defoaming device, and there is no need to increase the number of dust generation sources. Moreover, the liquid is only irradiated with laser light,
There are no parts that come into direct contact with cleaning liquid, etc.
このため、塵埃発生源を極限することもできる。Therefore, the sources of dust generation can also be minimized.
さらに、本実施例では、透明チューブ4中の液体を常時
モニタしているので、終始−環して塵埃発生状況を監視
でき、製品の歩留り改善に寄与するところ大である。Furthermore, in this embodiment, since the liquid in the transparent tube 4 is constantly monitored, the dust generation status can be monitored from beginning to end, which greatly contributes to improving the product yield.
第2図は本発明に係る液中粒子のモニタ装置の第2実施
例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a second embodiment of a monitoring device for particles in liquid according to the present invention.
第2図において、20は光源(レーザ発光手段)であり
、光源20は第1実施例と同様なN e −N eレー
ザ20aおよびHe−Cdレーザ20bを有している。In FIG. 2, 20 is a light source (laser emitting means), and the light source 20 has a Ne-Ne laser 20a and a He-Cd laser 20b similar to those in the first embodiment.
光源20からの2つのレーザ光は、光軸切換器21に入
力され、光軸切換器21はタイミング信号srによって
光路を切り換えて2つのレーザ光を交互に選択する。選
択されたレーザ光は集光レンズ22を介して透明チュー
ブ23内の液体中に集光される。液体中の塵埃粒子ある
いは気泡粒子による散乱光は、集光レンズ24を介して
受光器25上に集光され、この受光器25によって電流
信号I3に変換される。電流/電圧変換器26はゲイン
コントロール信号SGに従って伝達特性を変化(2つの
レーザ光の波長による気泡粒子の散乱光強度差を平衡さ
せるように)させなからIヨを電圧信号E。The two laser beams from the light source 20 are input to the optical axis switch 21, and the optical axis switch 21 switches the optical path according to the timing signal sr and alternately selects the two laser beams. The selected laser beam is focused into the liquid in the transparent tube 23 via the condensing lens 22 . Light scattered by dust particles or bubble particles in the liquid is focused onto a light receiver 25 via a condenser lens 24, and converted by the light receiver 25 into a current signal I3. The current/voltage converter 26 changes the transfer characteristic according to the gain control signal SG (so as to balance the difference in the intensity of scattered light of the bubble particles due to the wavelengths of the two laser beams), and converts I to the voltage signal E.
に変換して出力する。E、はサンプリング回路27でサ
ンプリング信号S、に従ってサンプリングされ、このサ
ンプリングされたパルス信号S、は、バッファ2日に保
持される。なお、上記集光レンズ24、受光器25、電
流/電圧変換器26、サンプリング回路27は全体とし
て散乱光受光手段を構成する。Convert and output. E is sampled by the sampling circuit 27 according to the sampling signal S, and this sampled pulse signal S is held in the buffer for two days. The condensing lens 24, the light receiver 25, the current/voltage converter 26, and the sampling circuit 27 collectively constitute a scattered light receiving means.
比較器(比較手段)29は、バッファ28に保持された
S、と、サンプリング回路27からの直接のS。A comparator (comparison means) 29 receives the S held in the buffer 28 and the S directly from the sampling circuit 27.
とを比較し、レベル不一致の場合、塵埃発生を示す信号
SAをパルスカウンタ30に出力してカウントさせる。If the levels do not match, a signal SA indicating the occurrence of dust is output to the pulse counter 30 and counted.
なお、31は基準信号発生回路であり、基準信号発生回
路31は等周期で連続するStと、このSTの半周期毎
に適当なゲイン値を電流/電圧変換器26に指示するS
6と、Sアに同期するクロック信号SCKとを発生する
。ScKは分周回路32によって1/2分周されてS、
となり、また、このS、に同期した信号S&は位相遅れ
回路33によって半周期遅らされてバッファ28を制御
する制御信号S、となる。Note that 31 is a reference signal generation circuit, and the reference signal generation circuit 31 generates St that continues at equal intervals and S that instructs the current/voltage converter 26 to an appropriate gain value every half cycle of this ST.
6 and a clock signal SCK synchronized with SA. ScK is divided by 1/2 by the frequency dividing circuit 32 and becomes S,
The signal S& synchronized with S is delayed by half a cycle by the phase delay circuit 33 to become the control signal S for controlling the buffer 28.
このような構成によっても、第1実施例と同様な作用効
果が得られるとともに、この第2実施例によれば、部品
点数の削減が図られる、光学系が一系統でよいので光学
系のバラツキが避けられる、といった特長を有している
。With this configuration, the same effects as in the first embodiment can be obtained, and according to the second embodiment, the number of parts can be reduced, and since only one optical system is required, variations in the optical system can be avoided. It has the advantage that it can be avoided.
なお、上記各実施例では、レーザ光を波長の異なった2
つのものとしているが、これに限らず、例えば3つ以上
であってもよい。要は各レーザ光の波長が被観測粒子の
屈折率を明らかに違える程度に異なっていればよい。Note that in each of the above embodiments, the laser light is
Although the number is three, the number is not limited to this, and the number may be three or more, for example. In short, it is sufficient that the wavelengths of the respective laser beams differ to such an extent that the refractive index of the observed particle is clearly different.
本発明によれば、気泡と塵埃とを正しく分離識別するこ
とができる。したがって、実際の塵埃の混入状況に基づ
いた正確な警報を発生することができる。According to the present invention, bubbles and dust can be correctly separated and identified. Therefore, it is possible to generate an accurate warning based on the actual dust contamination situation.
第1図は本発明に係る液中粒子のモニタ装置の第1実施
例を示すその構成図、
第2図は本発明に係る液中粒子のモニタ装置の第2実施
例を示すその構成図である。
l・・・・・・光*<レーザ発光手段)、14・・・・
・・比較器(比較手段)、20・・・・・・光m<レー
ザ発光手段)29・・・・・・比較器(比較手段)FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a particle-in-liquid monitoring device according to the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing a second embodiment of a particle-in-liquid monitoring device according to the present invention. be. l...Light*<laser emitting means), 14...
...Comparator (comparison means), 20...Light m<laser emitting means) 29...Comparator (comparison means)
Claims (1)
に照射するレーザ発光手段と、 該液中からの散乱光を受光して波長毎の散乱光強度の差
を求める散乱光受光手段と、 該波長毎の強度差が所定の基準値よりも大きいか否かを
比較する比較手段と、を有し、 液中の物質粒子の存在を識別することを特徴とする液中
粒子のモニタ装置。[Scope of Claims] Laser emitting means for irradiating light from at least two light emitting sources with different wavelengths into a liquid, and receiving scattered light from the liquid to determine the difference in the intensity of the scattered light for each wavelength. A liquid characterized in that it has a scattered light receiving means and a comparison means for comparing whether the intensity difference for each wavelength is larger than a predetermined reference value, and is characterized in that the presence of substance particles in the liquid is identified. Medium particle monitoring device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63188919A JPH0238842A (en) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Monitor of particle in liquid |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63188919A JPH0238842A (en) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Monitor of particle in liquid |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0238842A true JPH0238842A (en) | 1990-02-08 |
Family
ID=16232182
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63188919A Pending JPH0238842A (en) | 1988-07-28 | 1988-07-28 | Monitor of particle in liquid |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0238842A (en) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007225335A (en) * | 2006-02-21 | 2007-09-06 | Toribo Tex Kk | Fine particle counter, fine particle counting method using the same, lubrication objective part diagnostic system provided therewith |
WO2009047721A3 (en) * | 2007-10-11 | 2009-10-15 | Ecolab Inc. | Optical product detection sensor |
US7924424B2 (en) | 2007-10-11 | 2011-04-12 | Ecolab Usa Inc. | Optical product detection sensor |
JP2012502260A (en) * | 2008-09-05 | 2012-01-26 | エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド | Photodetection of particle characteristics |
US8228503B2 (en) | 2010-04-06 | 2012-07-24 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Apparatus for detecting particle |
JP2013142625A (en) * | 2012-01-11 | 2013-07-22 | Yamashin-Filter Corp | Particle detector and particle detection method |
CN105388097A (en) * | 2014-08-21 | 2016-03-09 | 雅玛信过滤器株式会社 | measurement device |
-
1988
- 1988-07-28 JP JP63188919A patent/JPH0238842A/en active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007225335A (en) * | 2006-02-21 | 2007-09-06 | Toribo Tex Kk | Fine particle counter, fine particle counting method using the same, lubrication objective part diagnostic system provided therewith |
JP4719587B2 (en) * | 2006-02-21 | 2011-07-06 | トライボテックス株式会社 | Fine particle counter, fine particle counting method using the same, and lubrication target part diagnosis system including the same |
WO2009047721A3 (en) * | 2007-10-11 | 2009-10-15 | Ecolab Inc. | Optical product detection sensor |
US7924424B2 (en) | 2007-10-11 | 2011-04-12 | Ecolab Usa Inc. | Optical product detection sensor |
US8004683B2 (en) | 2007-10-11 | 2011-08-23 | Ecolab Usa Inc. | Optical product detection sensor |
JP2012502260A (en) * | 2008-09-05 | 2012-01-26 | エックストラリス・テクノロジーズ・リミテッド | Photodetection of particle characteristics |
US8228503B2 (en) | 2010-04-06 | 2012-07-24 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Apparatus for detecting particle |
JP2013142625A (en) * | 2012-01-11 | 2013-07-22 | Yamashin-Filter Corp | Particle detector and particle detection method |
CN105388097A (en) * | 2014-08-21 | 2016-03-09 | 雅玛信过滤器株式会社 | measurement device |
CN105388097B (en) * | 2014-08-21 | 2019-09-27 | 雅玛信过滤器株式会社 | Measurement device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7255049B2 (en) | Automatic output control liquid particle counter with flow and bubble detection system | |
CN102282453B (en) | Monolithic optical flow cells and method of manufacture | |
US20180372609A1 (en) | Aerosol real time monitor | |
US5637881A (en) | Method to detect non-spherical particles using orthogonally polarized light | |
JPH0238842A (en) | Monitor of particle in liquid | |
JP2004085573A (en) | Particle counter equipped with strapped laser diode | |
CN104458540B (en) | Blood analyser flow chamber | |
KR102578808B1 (en) | Foreign matter detection device and foreign matter detection method | |
JP2020525800A (en) | Optical detection of black powder concentration in gas flow lines | |
CN108169428B (en) | Formaldehyde gas, humidity and temperature integrated monitoring equipment | |
CN102868445A (en) | Device and method for counting micro-particles based on micro-nanofiber | |
CN108931481A (en) | Wide dynamic pressure measurement instrument and its measurement method applied to SF6 high-voltage switch gear | |
US10801945B2 (en) | Inline particle sensor | |
US3511573A (en) | Flow cell structure for particle counting having improved wash | |
JPS62293143A (en) | Measuring instrument for corpuscle | |
JPH0564291B2 (en) | ||
JP2022535160A (en) | Curtain flow design of optical chamber | |
JP2001267288A (en) | Substrate treating apparatus | |
JPH0226176B2 (en) | ||
JPH01301146A (en) | Fine particulate characteristic measuring instrument | |
US11555776B2 (en) | Light scattering detection apparatus | |
JPH10281976A (en) | Particle measuring device | |
US20200049612A1 (en) | Airborne Particle Counting Method and Device | |
JP2523711B2 (en) | Particle detector | |
SU1395994A1 (en) | Photoelectric spectrometer of microparticles |