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JPH02302640A - 半導体圧力センサの抵抗測定装置 - Google Patents

半導体圧力センサの抵抗測定装置

Info

Publication number
JPH02302640A
JPH02302640A JP12314789A JP12314789A JPH02302640A JP H02302640 A JPH02302640 A JP H02302640A JP 12314789 A JP12314789 A JP 12314789A JP 12314789 A JP12314789 A JP 12314789A JP H02302640 A JPH02302640 A JP H02302640A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistance
pressure sensor
semiconductor pressure
switches
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12314789A
Other languages
English (en)
Inventor
Ihei Sugimoto
杉本 維平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP12314789A priority Critical patent/JPH02302640A/ja
Publication of JPH02302640A publication Critical patent/JPH02302640A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、半導体基板上に4つの抵抗素子からなるブリ
ッジ回路を形成した半導体圧力センサについて、各抵抗
素子の値をそれぞれ測定できるようにした抵抗測定装置
に関する。
〈従来の技術〉 半導体圧力センサは、半導体基板上に4つの抵抗素子か
らなるブリッジ回路を形成して構成されており、半導体
基板に加わる機械的圧力によるピエゾ効果を利用して外
部からの圧力を電気信号に変換する。
この半導体圧力センサは、半導体基板に外圧が加わらな
いときには、4つの抵抗素子が等しクツ(ランスしてい
ることが素子形成上の重要な要素となっており、このた
め、従来は、各抵抗素子の個々の抵抗値よりも全体とし
てのバランスがとれているか否かが重要視されていた。
しかも、各抵抗素子は半導体基板上に拡散処理等によっ
て形成されているので、個々の抵抗素子を分離して測定
することができず、したがって、従来は、ブリッジ回路
を流れる全電流を測定することによって4つの抵抗素子
の合成抵抗を測定するのに留どまりでいる。
第2図は従来の半導体圧力センサのブリッジ回路を構成
する各抵抗素子の合成抵抗を測定するための装置の構成
図である。同図において、Lは半導体圧力センサで、M
 a −M dの4つの抵抗素子を岨み合わせてブリッ
ジ回路が構成されており、各抵抗素子M a −M d
の接続点に入力端子Na、Nbと出力端子Pa5Pbが
それぞれ設けられている。Eは抵抗測定用の直流電源、
■は直流電圧計、Iは直流電流計である。この回路にお
いて、半導体圧力センサLの各抵抗素子M a −M 
dの合成抵抗値をRpsとし、直流電流計Vで検出され
る直流電源Eの出力電圧を符号Eで、直流電流計■で検
出される半導体圧力センサLを流れる全電流を符号■で
表すと、 Rsp= E /夏 となり、この関係式に基づいて合成抵抗Rspの値が算
出される。
〈発明が解決しようとする課題〉 このように、従来技術では、ブリッジ回路を構成する各
抵抗素子M a −M dの全体的な合成抵抗Rspを
求めることができても、個々の抵抗素子Ma〜Mdの抵
抗値をそれぞれ個別に測定することは極めて困難であっ
た。
しかしながら、近年は、上述のような合成抵抗Rspを
求めるだけでは足りず、ブリツノ回路りを構成する各抵
抗素子Ma−Mdの個々の抵抗値を正確に測定すること
が必要となってきた。すなわち、半導体基板に外圧が加
わらない場合にブリツノ回路が平衡するように調整され
ていても、各抵抗素子の個々の抵抗値の差が大きい場合
には、半導体圧力センサに外圧が加わった場合の出力電
圧の絶対値が異なってくる。したがって、この半導体圧
力センサの出力電圧に基づいて各種の機器をフィードバ
ック制御するような場合には、出力電圧の値が個々の半
導体圧力センサごとに相違すると、フィードバック制御
を精度良く行えない事態を生じる。このため、半導体圧
力センサを機器に取り付けるに先立って、予め各抵抗素
子の抵抗値を正確に求めて出力電圧の補正ができるよう
にする必要がある。
〈課題を解決するための手段〉 本発明は、このような事情に鑑みてなされたしのであっ
て、半導体圧力センサのブリッジ回路を構成する4つの
抵抗素子の個々の抵抗値を簡単に測定できるようにする
ものである。
そのため、本発明は、ブリッジ回路の入力部に接続され
る2つの入力端子と、前記ブリッジ回路の出力部に接続
された2つの出力端子と、前記両入力端子に接続される
基準電源と、前記両出力端子に接続されて該ブリッジ回
路の出力電圧を検出する電圧検出器と、この電圧検出器
と前記両出力端子との間に介在されたスイッチ回路とを
備え、このスイッチ回路は、第1〜第4スイッチを有し
、第1〜第4スイッチのそれぞれの一方端が前記2つの
出力端子に交互に接続される一方、前記第1、第2スイ
ッチの各他方端は直接に、第3、第4スイッチの各他方
端はオフセット抵抗を介してそれぞれ前記入力端子の一
方側に共通に接続されていることを特徴としている。
く作用〉 上記構成において、半導体圧力センサの各抵抗素子の抵
抗値を求めるには、スイッチ回路を構成する各第1〜第
4スイッチを一つずつオンにして、出力端子からスイッ
チをオンするごとに得られる出力電圧を電圧検出器で検
出する。
これにより、ブリッジ回路の各抵抗素子の抵抗値(未知
)、電圧検出器で検出された出力電圧(既知)、オフセ
ット抵抗の抵抗値(既知)および基準電源の電源電圧(
既知)を互いに関係付ける4つの連立方程式が得られる
。したがって、この連立方程式を解くことにより、ブリ
ツノ回路の各抵抗素子の抵抗値が個別に算出されること
になる。
〈実施例〉 第1図は本発明の実施例に係る半導体圧力センサの抵抗
測定装置の構成図である。同図において、符号lは抵抗
測定装置の全体を示し、2は半導体圧力センサであって
、半導体基板上に4つの抵抗素子3a〜3dからなるブ
リッジ回路が構成されている。また、4a、4bはブリ
ッジ回路の入力部に接続される2つの入力端子、5a、
5bはブリッジ回路の出力部に接続される2つの出力端
子でる。
6は入力端子4a、4bに接続された基準電源、7は両
出力端子5a、5bに接続されて該ブリッジ回路の出力
電圧を検出する電圧検出器(本例ではデジタル電圧計)
、8はデジタル電圧計7と両出力端子5a、5bとの間
に介在されるスイッチ回路である。
上記のスイッチ回路8は、第1〜第4スイッチS、〜s
4を有する。そして、第1〜第4スイッチ81〜s4の
それぞれの一方端が2つの出力端子5a。
5bに交互に接続される一方、第11第2スイッチS1
% stの各他方端は直接に一方の入力端子4bに、ま
た、第3、第4スイッチ33S84の各他方端はオフセ
ット抵抗lOを介してそれぞれ上記と同じ入力端子4b
に共通に接続されている。
11は基準電源6の電源電圧とオフセット抵抗10の抵
抗値をそれぞれ設定入力する設定器、12はスイッチ回
路8の第1〜第4スイッチ5t−s4を順次切り換える
とともに、デジタル電圧計7で検出された出力電圧と設
定器11で設定された各値とに基づいて半導体圧力セン
サ2の各抵抗素子3a〜3dの抵抗値を算出する演算制
御部(CPU)、14は演算制側12で算出された各抵
抗素子3a〜3dの抵抗値を記録する記録計である。
次に、上記構成の抵抗測定装置1の作用について説明す
る。
半導体圧力センサ2の各抵抗素子3a〜3dの抵抗値R
a−Rdを個々に求めるには、予め、設定器11を用い
て基準電源6の電源電圧Eとオフセット抵抗10の抵抗
値Rとをそれぞれ演算制御部12に設定入力しておく。
測定が開始されると、演算制御部12はスイッチ回路8
を構成する第1〜第4スイッチ81〜s4を一つずつ順
にオンにするので、そのたびに半導体圧力センサ2のブ
リッジ回路に接続された出力端子5a、5bから得られ
る出力電圧eI、 es、eol、e。3がデジタル電
圧計7で検出される。そして、各出力電圧e3、e8、
eaIs eosの値が次段の演算制御部12に転送さ
れる。
ところで、いま、第1スイッチS1をオンにして符号3
bの抵抗素子を短絡させた場合の出力電圧をel、第2
スイッチS、をオンにして符号3dの抵抗素子を短絡さ
せた場合の出力電圧をel、第3スイッチS、をオンに
して符号3dの抵抗素子に並列にオフセット抵抗!0を
挿入した場合の出力電圧をe。3、第4スイッチS4を
オンして符号3dの抵抗素子に並列にオフセット抵抗1
0を挿入した場合の出力電圧をe。3とすると、それぞ
れ次の関係式%式% ここに・、電圧検出器7で検出される出力電圧else
8、eat、e03、オフセット抵抗10の抵抗値Rお
よび基準電源6の電源電圧Eは全て既知であるから、上
記(1)式〜(4)式を4つの連立方程式として各抵抗
値Ra−Rdに関して解けば、次の関係式%式% 演算制御部12には、これらの演算式((5)弐〜(8
)式)が予め記憶されており、したがって、演算制御部
12は、デジタル電圧計7で検出された各出力電圧e1
、e3、eolq eos、設定器11で設定されたオ
フセット抵抗10の抵抗値Rおよび基準電源6の電源電
圧Eに基づいて上記の各演算式に従って半導体圧力セン
サ2の各抵抗素子3a〜3dの抵抗値Ra−Rdを算出
する。そして、演算制御部12で算出された各抵抗値R
a−Rdのデータが記録計14に出力されて記録される
。これにより、測定者は、ブリッジ回路の各抵抗素子3
a〜3dの抵抗値Ra−Rdを個別に知ることができる
〈発明の効果〉 本発明によれば、スイッチ回路の各スイッチを切り換え
て出力電圧を測定するだけで各抵抗素子の値を個別に求
めることができる。しかも、直流電流計は不要であり、
また、個々の抵抗素子の測定のために結線をし直す必要
もないので、測定操作が簡単になる等の優れた効果が発
揮される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係る半導体圧力センサの抵抗
測定装置の構成図、第2図は従来の半導体圧力センサの
抵抗測定装置の構成図である。 1・・・抵抗測定装置、2・・・半導体圧力センサ、3
a〜3d・・・抵抗素子、4a、4b・・・入力端子、
5a。 5b・・・出力端子、6・・・基準電源、7・・・電圧
検出器、8・・・スイッチ回路、S、〜S、a・・・第
1〜第4スイッチ、10・・・オフセット抵抗、11・
・・設定器、12・・・演算制御I!B(CP U)。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体圧力センサのブリッジ回路を構成する各抵
    抗素子の抵抗値を測定する装置であって、前記ブリッジ
    回路の入力部に接続される2つの入力端子と、前記ブリ
    ッジ回路の出力部に接続される2つの出力端子と、前記
    両入力端子に接続された基準電源と、前記両出力端子に
    接続されて該ブリッジ回路の出力電圧を検出する電圧検
    出器と、この電圧検出器と前記両出力端子との間に介在
    されたスイッチ回路とを備え、 前記スイッチ回路は、第1〜第4スイッチを有し、第1
    〜第4スイッチのそれぞれの一方端が前記2つの出力端
    子に交互に接続される一方、前記第1、第2スイッチの
    各他方端は直接に、第3、第4スイッチの各他方端はオ
    フセット抵抗を介してそれぞれ前記入力端子の一方側に
    共通に接続されていることを特徴とする半導体圧力セン
    サの抵抗測定装置。
JP12314789A 1989-05-16 1989-05-16 半導体圧力センサの抵抗測定装置 Pending JPH02302640A (ja)

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JP (1) JPH02302640A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007147575A (ja) * 2005-11-30 2007-06-14 Tokyo Electron Ltd ホイートストンブリッジの抵抗測定システム、抵抗測定回路、抵抗測定方法及びコンピュータプログラム
JP2009541752A (ja) * 2006-06-29 2009-11-26 ヴェルトシュツキー,ローラント 少なくとも1つの力成分を検出する力センサおよび方法

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